JPH0575058B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0575058B2 JPH0575058B2 JP6264885A JP6264885A JPH0575058B2 JP H0575058 B2 JPH0575058 B2 JP H0575058B2 JP 6264885 A JP6264885 A JP 6264885A JP 6264885 A JP6264885 A JP 6264885A JP H0575058 B2 JPH0575058 B2 JP H0575058B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- elongation
- detection means
- extensometer
- strain
- range
- Prior art date
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 31
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 238000004154 testing of material Methods 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 10
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000009864 tensile test Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/02—Details
- G01N3/06—Special adaptations of indicating or recording means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、材料試験における伸びひずみ測定方
法に関する。
法に関する。
（従来の技術）
引張試験における試験片の伸び測定は、伸び検
出装置を試験片に取り付けて行なうことが多い。
試験片の伸びひずみ値は、伸び検出装置によつて
検出される伸び値と検出装置の試験長から材料試
験機用データ処理装置によつて求められる。
出装置を試験片に取り付けて行なうことが多い。
試験片の伸びひずみ値は、伸び検出装置によつて
検出される伸び値と検出装置の試験長から材料試
験機用データ処理装置によつて求められる。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、上記従来の方法では、伸び検出
装置の測定範囲以上の伸びが生じたときはデータ
処理を行なうことができず、伸び測定が不能とな
るという問題点があつた。
装置の測定範囲以上の伸びが生じたときはデータ
処理を行なうことができず、伸び測定が不能とな
るという問題点があつた。
（問題点を解決するための手段）
本発明は、前記従来の伸び検出装置に加えて、
より大きな測定範囲で伸び検出を行なうことので
きる第２の検出手段を設けることによつて、上記
問題点を解決するものである。
より大きな測定範囲で伸び検出を行なうことので
きる第２の検出手段を設けることによつて、上記
問題点を解決するものである。
すなわち、本発明にかかる伸びひずみ測定方法
は、材料試験機を用いて試験片の伸びひずみを測
定する方法であつて、所定の試験長における試験
片の伸びを検出する第１の伸び検出手段と、該第
１の伸びを検出手段よりも大きな伸び測定範囲を
もち、材料試験機のクロスヘツドの移動量からそ
の伸びを検出する第２の検出手段とを設け、前記
第１の伸び検出手段の測定範囲内では該第１の検
出手段によつて検出される伸びから伸びひずみを
求め、該第１の検出手段の測定範囲以上の伸びが
生じたときは、前記第２の検出手段によつて検出
される伸びから伸びひずみを求めることを特徴と
している。
は、材料試験機を用いて試験片の伸びひずみを測
定する方法であつて、所定の試験長における試験
片の伸びを検出する第１の伸び検出手段と、該第
１の伸びを検出手段よりも大きな伸び測定範囲を
もち、材料試験機のクロスヘツドの移動量からそ
の伸びを検出する第２の検出手段とを設け、前記
第１の伸び検出手段の測定範囲内では該第１の検
出手段によつて検出される伸びから伸びひずみを
求め、該第１の検出手段の測定範囲以上の伸びが
生じたときは、前記第２の検出手段によつて検出
される伸びから伸びひずみを求めることを特徴と
している。
（作用）
伸びがそれほど大きくない範囲では、伸び検出
装置によつて高精度の伸び検出を行ない、該伸び
検出装置の測定範囲を超える伸びの大きな範囲で
の測定は、測定範囲の大きな第２の伸び検出手段
で行なう。
装置によつて高精度の伸び検出を行ない、該伸び
検出装置の測定範囲を超える伸びの大きな範囲で
の測定は、測定範囲の大きな第２の伸び検出手段
で行なう。
（実施例）
第１図は本発明の１実施例をあらわすもので、
材料試験機１のクロスヘツド２に取り付けられた
上方つかみ具３と、テーブル４に取り付けられた
下方つかみ具５によつて試験片７が垂直状態に保
持されている。試験片７の中間部に設けられた上
下の標点Ａ，Ｂには伸び検出装置（以下「伸び
計」と呼ぶ）１０が上下のアーム１０ａ，１０ｂ
によつて取り付けられている。伸び計１０は第１
の伸び検出手段であつて、例えば差動トランス式
伸び計、ストレンゲージ式伸び計等公知の伸び計
を使用することができる。
材料試験機１のクロスヘツド２に取り付けられた
上方つかみ具３と、テーブル４に取り付けられた
下方つかみ具５によつて試験片７が垂直状態に保
持されている。試験片７の中間部に設けられた上
下の標点Ａ，Ｂには伸び検出装置（以下「伸び
計」と呼ぶ）１０が上下のアーム１０ａ，１０ｂ
によつて取り付けられている。伸び計１０は第１
の伸び検出手段であつて、例えば差動トランス式
伸び計、ストレンゲージ式伸び計等公知の伸び計
を使用することができる。
クロスヘツド２の上部には荷重検出部（ロード
セル）１１が取り付けられている。ロードセル１
１は荷重増幅器１３に、また前記伸び計１０は伸
び増幅器１４にそれぞれ電気的に接続され、これ
ら荷重増幅器１３と伸び増幅器１４はデータ処理
装置１５に接続されている。なお、クロスヘツド
移動検出装置１８によつて検出されるクロスヘツ
ド２の位置と移動量は、ケーブル１６を通つて同
様にデータ処理装置１５に入力されるようになつ
ている。上記クロスヘツド移動検出装置１８は、
両つかみ具３，５間の距離変化を検出する第２の
検出手段となつている。伸び計１０の試験長L1
と、上下両つかみ具３，５間の距離（第２の試験
長）L2、および伸び計１０の測定範囲が予めデ
ータ処理装置１５に登録される。
セル）１１が取り付けられている。ロードセル１
１は荷重増幅器１３に、また前記伸び計１０は伸
び増幅器１４にそれぞれ電気的に接続され、これ
ら荷重増幅器１３と伸び増幅器１４はデータ処理
装置１５に接続されている。なお、クロスヘツド
移動検出装置１８によつて検出されるクロスヘツ
ド２の位置と移動量は、ケーブル１６を通つて同
様にデータ処理装置１５に入力されるようになつ
ている。上記クロスヘツド移動検出装置１８は、
両つかみ具３，５間の距離変化を検出する第２の
検出手段となつている。伸び計１０の試験長L1
と、上下両つかみ具３，５間の距離（第２の試験
長）L2、および伸び計１０の測定範囲が予めデ
ータ処理装置１５に登録される。
この状態で試験片７に引張荷重を負荷すると、
試験片７が伸び始める。そして、伸び計１０によ
る伸び検出結果と、クロスヘツド２の移動量とし
ての両つかみ具３，５間の距離変化がそれぞれ電
気信号としてデータ処理装置１５に供給され、こ
のデータ処理装置１５によつて処理されて、レコ
ーダ１７等の出力される。この場合、伸び計１０
の測定範囲では、該伸び計からデータにもとづい
て伸びひずみの計算が行なわれ、伸び計１０の測
定範囲を超えた範囲では、両つかみ具３，５間の
距離変化をあらわすクロスヘツド２の移動量のデ
ータにもとづいて伸びひずみの計算が行なわれ
る。すなわち、このデータ処理装置１５は、予め
登録されている伸び計１０の測定範囲の上限を境
として、採用するデータを選択的に切り換える選
択機能をそなえている。このデータ処理装置１５
からの出力によつて、レコーダ１７が例えば第２
図に示すような荷重−伸び曲線を描く。同図にお
いて、破線Ｃよりも左側が伸び計１０で測定され
る範囲であり、右側がつかみ具３，５間の距離変
化によつて求められる範囲である。伸びひずみε
は、伸び値を元の試験長Ｌで除した値であり、
例えば第２図のｍ点とｎ点の伸びひずみ値εm、
εnは次式によつて求められる。
試験片７が伸び始める。そして、伸び計１０によ
る伸び検出結果と、クロスヘツド２の移動量とし
ての両つかみ具３，５間の距離変化がそれぞれ電
気信号としてデータ処理装置１５に供給され、こ
のデータ処理装置１５によつて処理されて、レコ
ーダ１７等の出力される。この場合、伸び計１０
の測定範囲では、該伸び計からデータにもとづい
て伸びひずみの計算が行なわれ、伸び計１０の測
定範囲を超えた範囲では、両つかみ具３，５間の
距離変化をあらわすクロスヘツド２の移動量のデ
ータにもとづいて伸びひずみの計算が行なわれ
る。すなわち、このデータ処理装置１５は、予め
登録されている伸び計１０の測定範囲の上限を境
として、採用するデータを選択的に切り換える選
択機能をそなえている。このデータ処理装置１５
からの出力によつて、レコーダ１７が例えば第２
図に示すような荷重−伸び曲線を描く。同図にお
いて、破線Ｃよりも左側が伸び計１０で測定され
る範囲であり、右側がつかみ具３，５間の距離変
化によつて求められる範囲である。伸びひずみε
は、伸び値を元の試験長Ｌで除した値であり、
例えば第２図のｍ点とｎ点の伸びひずみ値εm、
εnは次式によつて求められる。
εm＝ｍ／L1×100（％）……（式１）
εn＝ｎ／L2×100（％）……（式２）
なお、レコーダ１７を設けるかわりに、例えば計
算された伸びひずみ値をデイジタル表示するよう
な表示装置を設けておいてもよい。
算された伸びひずみ値をデイジタル表示するよう
な表示装置を設けておいてもよい。
この伸びひずみ測定方法は、伸びが所定の範囲
内にあるときは、検出精度の高い伸び計の検出デ
ータを用いて伸びひずみ値を求め、該伸び計の測
定範囲外の大きな伸びに対しては、感度の異なる
第２の検出手段による検出データを用いて伸びひ
ずみ値を求めるものであるから、広範囲な伸び測
定を一度に行なうことができるのである。
内にあるときは、検出精度の高い伸び計の検出デ
ータを用いて伸びひずみ値を求め、該伸び計の測
定範囲外の大きな伸びに対しては、感度の異なる
第２の検出手段による検出データを用いて伸びひ
ずみ値を求めるものであるから、広範囲な伸び測
定を一度に行なうことができるのである。
（発明の効果）
以上に説明した如く、本発明にかかる伸びひず
み測定方法は、一つの伸び計の測定範囲を越える
ような伸びが生じた場合にも、うまく伸びひずみ
値を求めることのできるすぐれたものとなつた。
み測定方法は、一つの伸び計の測定範囲を越える
ような伸びが生じた場合にも、うまく伸びひずみ
値を求めることのできるすぐれたものとなつた。
特に本発明では、第２の伸び検出手段として、
材料試験機のクロスヘツド自体の移動量を利用す
るので、特別な伸び計を別途用意する必要がな
く、経済的でコンパクトな構成とすることができ
る。
材料試験機のクロスヘツド自体の移動量を利用す
るので、特別な伸び計を別途用意する必要がな
く、経済的でコンパクトな構成とすることができ
る。
第１図は本発明の１実施例をあらわす説明図、
第２図は荷重−伸び曲線をあらわすグラフであ
る。 １……材料試験機、２……クロスヘツド、３，
５……つかみ具、７……試験片、１０……伸び
計、１１……ロードセル、１５……データ処理装
置。
第２図は荷重−伸び曲線をあらわすグラフであ
る。 １……材料試験機、２……クロスヘツド、３，
５……つかみ具、７……試験片、１０……伸び
計、１１……ロードセル、１５……データ処理装
置。
Claims (1)
- １ 材料試験機を用いて試験片の伸びひずみを測
定する方法であつて、所定の試験長における試験
片の伸びを検出する第１の伸び検出手段と、該第
１の伸び検出手段よりも大きな伸び測定範囲をも
ち、材料試験機のクロスヘツドの移動量からその
伸びを検出する第２の検出手段とを設け、前記第
１の伸び検出手段の測定範囲内では該第１の検出
手段によつて検出される伸びから伸びひずみを求
め、該第１の検出手段の測定範囲以上の伸びが生
じたときは、前記第２の検出手段によつて検出さ
れる伸びから伸びひずみを求めることを特徴とす
る伸びひずみ測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6264885A JPS61219850A (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 伸びひずみ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6264885A JPS61219850A (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 伸びひずみ測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61219850A JPS61219850A (ja) | 1986-09-30 |
| JPH0575058B2 true JPH0575058B2 (ja) | 1993-10-19 |
Family
ID=13206357
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6264885A Granted JPS61219850A (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 伸びひずみ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61219850A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0726898B2 (ja) * | 1987-06-22 | 1995-03-29 | 横浜ゴム株式会社 | ゴム状試料の引張試験装置 |
| JP2532272B2 (ja) * | 1988-03-30 | 1996-09-11 | 横浜ゴム株式会社 | 引張試験装置 |
| JPH0781939B2 (ja) * | 1987-04-27 | 1995-09-06 | 横浜ゴム株式会社 | ゴム状試料の引張試験装置 |
| JPH01163846U (ja) * | 1988-05-06 | 1989-11-15 | ||
| JPH01314941A (ja) * | 1988-06-16 | 1989-12-20 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | 引張試験装置 |
| US5379647A (en) * | 1992-05-08 | 1995-01-10 | Avco Corporation | Hole elongation testing system |
| CN106404539B (zh) * | 2016-11-15 | 2019-01-11 | 北方工业大学 | 一种实现均匀单向拉伸的试验方法 |
-
1985
- 1985-03-26 JP JP6264885A patent/JPS61219850A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61219850A (ja) | 1986-09-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |