JPH0572965U - るつぼ - Google Patents
るつぼInfo
- Publication number
- JPH0572965U JPH0572965U JP1190092U JP1190092U JPH0572965U JP H0572965 U JPH0572965 U JP H0572965U JP 1190092 U JP1190092 U JP 1190092U JP 1190092 U JP1190092 U JP 1190092U JP H0572965 U JPH0572965 U JP H0572965U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crucible
- thin film
- inlet
- forming
- deposition method
- Prior art date
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- Pending
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体基板等の表面に真空蒸着法により昇華
する材料の薄膜を形成するためのるつぼに関する。 【構成】 るつぼの入口を内部より狭く構成し(d<
D)、または、入口につば3、あるいは突起4を設けて
いるので、このるつぼを昇華する材料の蒸着に適用して
も材料が飛出すことがなく、安定に蒸着することができ
る。
する材料の薄膜を形成するためのるつぼに関する。 【構成】 るつぼの入口を内部より狭く構成し(d<
D)、または、入口につば3、あるいは突起4を設けて
いるので、このるつぼを昇華する材料の蒸着に適用して
も材料が飛出すことがなく、安定に蒸着することができ
る。
Description
【0001】
本考案は、半導体基板等の表面上に真空蒸着法により昇華する材料の薄膜を形 成するためのるつぼに関する。
【0002】
半導体基板上に薄膜を形成し、所望の回路を作成するに際し、CVD法、蒸着 法、フォトエッチング法等の手段が適用される。この中、Cr−SiOの如く、 加熱しても融解せずに固体から直接蒸発するいわゆる昇華する材料を蒸着法によ って形成し、抵抗素子を作る場合がある。このとき、図4に示す如く、タングス テンヒータ1を内蔵した逆円錐台形のるつぼに一定量の粉末状のCr−SiOを 入れ、真空容器内で加熱し、全部蒸発させて基板上に付着させ、薄膜の厚さ、成 分を調整している。ところで、るつぼの中の材料は加熱すると粉末が固形化し蒸 発する。蒸発はるつぼの上面だけでなく側面あるいは底面に向っても起るので固 体の材料は振動し、押上げられるつぼから飛出る場合もある。
【0003】
上述の従来のるつぼは、るつぼの中で固体の材料が振動を起こすと蒸着膜が不 安定になったり、るつぼから飛出し蒸着を中断しなければならぬ場合があった。
【0004】
本考案はこれらの問題を解決するためのるつぼを提供するものであり、その特 徴とするところは、半導体基板の表面に真空蒸着法により昇華する材料の薄膜を 形成するためのるつぼにおいて、るつぼの入口の内周面につば、または突起を設 けて構成されたるつぼである。また、半導体基板の表面に真空蒸着法により昇華 する材料の薄膜を形成するためのるつぼにおいて、るつぼの入口がほぼ円形をな し、該入口の内径がるつぼ内の最大径に対し狭めて構成されたるつぼである。上 記のるつぼは、内部に線条のタングステンヒータ、その周囲に酸化アルミニウム を被覆することが好ましい構成である。
【0005】
図1に示す本考案のるつぼは、その形状が同図(イ)、(ロ)の如く入口につ ば3あるいは突起4を設けるか、同図(ハ)の如く入口が内部より狭くなってい る(d<D)ので固体となった材料が蒸発を始め、振動をしたとしてもるつぼの 外に飛出ることはない。従って、秤量してるつぼに入れた粉末材料は加熱して最 後まで蒸発させることができるので、所定の厚さと所定の組成の薄膜を得ること ができる。以下、実施例をあげて本考案のるつぼをより具体的に説明するが、以 下の開示は本考案の実施例にすぎず、本考案の技術的範囲を限定するものでない 。
【0006】
図1は本考案のるつぼに係わる実施例の断面図であり、1はタングステンの線 条体を図2に示す如く所定の型に成形してるつぼに内蔵したヒータ、2はその上 に施した高温に安定な酸化アルミニウムからなる被覆である。同図(イ)は入口 につば3を設けた逆円錐台形のるつぼ、同図(ロ)は入口に突起4を設けた円柱 状のるつぼ、同図(ハ)は入口の内径dが底部の内径Dより狭く作られた円錐台 形のるつぼを示す。図3は真空蒸着法により薄膜を形成する方法の説明図である 。基板6を保持する基板ホールダ9、蒸気の通路を開閉するシャッタ8およびる つぼ5は真空容器1の中に設置され、排気は図示していないロータリーポンプお よび油拡散ポンプによって行う。
【0007】 入口の内径を60%まで狭めたつば3を設けた図1(イ)に示するつぼ5にC r−SiO(Cr:SiO=50wt%:50wt%)の粉末0.1grを入れ 、表面に絶縁層を施した直径3インチのSi基板6をホールダ9に設置し、容器 内は1×10-6Torrまで排気した。シャッタ8は開放してるつぼに内蔵した タングステンヒータ1に通電して加熱しCr−SiOを蒸発した。このとき粉末 の原料は凝縮し、固形物となって振動したがつば3によって大きく振動したり、 るつぼの外に飛出ることはなかった。全てのCr−SiOが蒸発し、基板上に形 成した薄膜の厚さは5000Åであった。同様の実験を5回続けて行ったが原料 が飛出すことはなく、夫々所定の薄膜を得ることができた。これに対して、つば のない図4に示す従来のるつぼを用いて上述の実験を行ったところ、3回にうち 2回は原料が飛出し失敗した。
【0008】
本考案のるつぼは、その入口を内部より狭く構成し、または、入口につばある いは突起を設けているので、このるつぼを昇華する材料の蒸着に適用してもるつ ぼの中の材料が飛出すことがなく最後まで蒸着することができる。また、タング ステンヒータを内蔵し、その周囲に熱的に安定な酸化アルミニウムで被覆してい るので不純物が混入することがない。
【図1】本考案のるつぼに係わる実施例の断面図であ
る。
る。
【図2】所定の型に成形しるつぼに内蔵するヒータを示
す図である。
す図である。
【図3】真空蒸着法により薄膜を形成する方法の説明図
である。
である。
【図4】従来のるつぼの断面図である。
1:ヒータ 2:被覆 3:つば 4:突起 5:るつぼ 6:基板 7:真空容器 8:シャッタ 9:基板ホールダ
Claims (3)
- 【請求項1】 半導体基板の表面に真空蒸着法により昇
華する材料の薄膜を形成するためのるつぼにおいて、る
つぼの入口の内周面につば、または突起を設けて構成さ
れたことを特徴とするるつぼ。 - 【請求項2】 半導体基板の表面に真空蒸着法により昇
華する材料の薄膜を形成するためのるつぼにおいて、る
つぼの入口がほぼ円形をなし、該入口の内径がるつぼ内
の最大径に対し狭めて構成されたことを特徴とするるつ
ぼ。 - 【請求項3】 内部に線条のタングステンヒータ、その
周囲に酸化アルミニウムを被覆して構成されたことを特
徴とする請求項1または2記載のるつぼ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1190092U JPH0572965U (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | るつぼ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1190092U JPH0572965U (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | るつぼ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0572965U true JPH0572965U (ja) | 1993-10-05 |
Family
ID=11790612
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1190092U Pending JPH0572965U (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | るつぼ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0572965U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007123285A (ja) * | 2002-07-19 | 2007-05-17 | Lg Electron Inc | 有機電界発光膜蒸着用蒸着源 |
JP2013515862A (ja) * | 2009-12-31 | 2013-05-09 | エスエヌユー プレシジョン カンパニー リミテッド | 気化装置及びこの制御方法 |
-
1992
- 1992-03-11 JP JP1190092U patent/JPH0572965U/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007123285A (ja) * | 2002-07-19 | 2007-05-17 | Lg Electron Inc | 有機電界発光膜蒸着用蒸着源 |
JP2013515862A (ja) * | 2009-12-31 | 2013-05-09 | エスエヌユー プレシジョン カンパニー リミテッド | 気化装置及びこの制御方法 |
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