JPH057019B2 - - Google Patents
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- JPH057019B2 JPH057019B2 JP59192439A JP19243984A JPH057019B2 JP H057019 B2 JPH057019 B2 JP H057019B2 JP 59192439 A JP59192439 A JP 59192439A JP 19243984 A JP19243984 A JP 19243984A JP H057019 B2 JPH057019 B2 JP H057019B2
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- rays
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/44—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
- A61B6/4476—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to motor-assisted motion of the source unit
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/06—Diaphragms
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/58—Switching arrangements for changing-over from one mode of operation to another, e.g. from radioscopy to radiography, from radioscopy to irradiation or from one tube voltage to another
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
- A61B6/548—Remote control of the apparatus or devices
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Veterinary Medicine (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、スリツト走査Ｘ線写真装置に関する
ものである。
ものである。
類似な装置がエレクトロメデア１／81に発表さ
れたＲ・モーアおよびＫ・アンプラロツの論文
「移動放射線装置によるスリツト映像方法」で開
示されている。この論文で開示された装置は、Ｘ
線源からのＸ線を、第１のスリツトダイヤフラム
を通つて患者に照射でき、患者の他の側に第２ス
リツトダイヤフラムが配置され、この第２スリツ
トダイヤフラムは患者を透過したＸ線をＸ線スク
リーン・フイルム組み合わせに導く。操作時にＸ
線源は、第１スリツトダイヤフラムおよび第２ス
リツトダイヤフラムとともに角変位し、患者はス
トリツプ状に走査され、得られる像はストリツプ
に形成される。
れたＲ・モーアおよびＫ・アンプラロツの論文
「移動放射線装置によるスリツト映像方法」で開
示されている。この論文で開示された装置は、Ｘ
線源からのＸ線を、第１のスリツトダイヤフラム
を通つて患者に照射でき、患者の他の側に第２ス
リツトダイヤフラムが配置され、この第２スリツ
トダイヤフラムは患者を透過したＸ線をＸ線スク
リーン・フイルム組み合わせに導く。操作時にＸ
線源は、第１スリツトダイヤフラムおよび第２ス
リツトダイヤフラムとともに角変位し、患者はス
トリツプ状に走査され、得られる像はストリツプ
に形成される。
従来の技法に比較したスリツト走査技法の利点
は、低放射線を利用でき、患者に対するＸ線負荷
が小さく、散乱Ｘ線効果を効果的に防止でき、よ
り鮮明なＸ線像が得られることである。この公知
のスリツト走査技法の欠点は、第２スリツトダイ
ヤフラムが必要なことである。
は、低放射線を利用でき、患者に対するＸ線負荷
が小さく、散乱Ｘ線効果を効果的に防止でき、よ
り鮮明なＸ線像が得られることである。この公知
のスリツト走査技法の欠点は、第２スリツトダイ
ヤフラムが必要なことである。
本発明の目的は、上記の論文に開示された装置
を改良することであり、すなわち機械的構成の簡
略化を図り、さらに、個別的な対象物毎に最適な
Ｘ線線量を照射することができるようにしたスリ
ツト走査Ｘ線写真装置を提供することである。
を改良することであり、すなわち機械的構成の簡
略化を図り、さらに、個別的な対象物毎に最適な
Ｘ線線量を照射することができるようにしたスリ
ツト走査Ｘ線写真装置を提供することである。
本発明は、
(a) 第１方向にＸ線を放射し、この第１方向に垂
直な第２方向に延びる軸線まわりに往復角変位
可能に設けられ、前記軸線はＸ線発生点付近を
通るＸ線源１と、 (b) Ｘ線源１からのＸ線を前記第２方向に細長い
スリツト状に透過して対象物６に照射して、Ｘ
線源１の角変位に伴つて第１および第２方向に
それぞれ垂直な走査方向３に往復走査するスリ
ツトダイヤフラム２と、 (c) 対象物６に関してＸ線源１およびスリツトダ
イヤフラム２とは反対側に設けられ、対象物６
を透過したＸ線の強度を表わす電気信号を導出
するＸ線検出手段５，１０と、 (d) Ｘ線を放射するようにＸ線源１を動作させて
スリツト状Ｘ線の第１回目の走査を、一方の走
査方向に行なわせ、その第１回目の走査時のＸ
線検出手段５，１０の出力をストアしておき、
このストア内容に基づき、第１回目の走査時よ
りも高強度のＸ線を対象物６に照射するように
スリツト状Ｘ線の第２回目の走査を、前記一方
の走査方向とは逆である他方の走査方向に行な
わせる制御手段１８と、 (e) 対象物６に関してＸ線源１およびスリツトダ
イヤフラム２とは反対側に設けられ、前記第２
回目の走査時に対象物６を透過したＸ線によつ
て対象物６の映像を形成する手段８，９とを含
むことを特徴とするスリツト走査Ｘ線写真装置
である。
直な第２方向に延びる軸線まわりに往復角変位
可能に設けられ、前記軸線はＸ線発生点付近を
通るＸ線源１と、 (b) Ｘ線源１からのＸ線を前記第２方向に細長い
スリツト状に透過して対象物６に照射して、Ｘ
線源１の角変位に伴つて第１および第２方向に
それぞれ垂直な走査方向３に往復走査するスリ
ツトダイヤフラム２と、 (c) 対象物６に関してＸ線源１およびスリツトダ
イヤフラム２とは反対側に設けられ、対象物６
を透過したＸ線の強度を表わす電気信号を導出
するＸ線検出手段５，１０と、 (d) Ｘ線を放射するようにＸ線源１を動作させて
スリツト状Ｘ線の第１回目の走査を、一方の走
査方向に行なわせ、その第１回目の走査時のＸ
線検出手段５，１０の出力をストアしておき、
このストア内容に基づき、第１回目の走査時よ
りも高強度のＸ線を対象物６に照射するように
スリツト状Ｘ線の第２回目の走査を、前記一方
の走査方向とは逆である他方の走査方向に行な
わせる制御手段１８と、 (e) 対象物６に関してＸ線源１およびスリツトダ
イヤフラム２とは反対側に設けられ、前記第２
回目の走査時に対象物６を透過したＸ線によつ
て対象物６の映像を形成する手段８，９とを含
むことを特徴とするスリツト走査Ｘ線写真装置
である。
本発明は添付図面を参照して、より詳細に説明
される。
される。
本発明に従う装置のひとつの実施態様が第１図
に略示されている。
に略示されている。
Ｘ線源１は、第１図の図面の面に対して横方向
（すなわち紙面に垂直方向）に延びたシヤフトの
まわりにスリツトダイヤフラム２とともに、角変
位可能であり、そのシヤフトの軸線は望ましくは
図に示されていないフレームに取り付けられたＸ
線発生点と交わる。Ｘ線源１とスリツトダイヤフ
ラム２の角変位方向が矢印３により図示されてい
る。さらに固定されたフイールドダイヤフラム４
が設けられている。Ｘ線源１は、第１図の左方か
ら右方に向う第１方向にＸ線を放射し、そのシヤ
フトの前記軸線は、前記第１方向に垂直な第２方
向（すなわち第１図の紙面に垂直な方向）に延
び、その軸線まわりに往復角変位可能である。ス
リツトダイヤフラム２は、Ｘ線源１からのＸ線
を、前記第２方向（すなわち前述のように第１図
の紙面に垂直方向）に細長いスリツト状に透過し
て対象物６に照射する。このスリツトダイヤフラ
ム２は、Ｘ線源１の角変位に伴つて前記第１およ
び第２方向にそれぞれ垂直な走査方向３（第１図
の上下方向）に対象物６をＸ線で往復走査する。
（すなわち紙面に垂直方向）に延びたシヤフトの
まわりにスリツトダイヤフラム２とともに、角変
位可能であり、そのシヤフトの軸線は望ましくは
図に示されていないフレームに取り付けられたＸ
線発生点と交わる。Ｘ線源１とスリツトダイヤフ
ラム２の角変位方向が矢印３により図示されてい
る。さらに固定されたフイールドダイヤフラム４
が設けられている。Ｘ線源１は、第１図の左方か
ら右方に向う第１方向にＸ線を放射し、そのシヤ
フトの前記軸線は、前記第１方向に垂直な第２方
向（すなわち第１図の紙面に垂直な方向）に延
び、その軸線まわりに往復角変位可能である。ス
リツトダイヤフラム２は、Ｘ線源１からのＸ線
を、前記第２方向（すなわち前述のように第１図
の紙面に垂直方向）に細長いスリツト状に透過し
て対象物６に照射する。このスリツトダイヤフラ
ム２は、Ｘ線源１の角変位に伴つて前記第１およ
び第２方向にそれぞれ垂直な走査方向３（第１図
の上下方向）に対象物６をＸ線で往復走査する。
ケースは、Ｘ線を透過するが光不透過性の材料
から成り、その内部にＸ線検出装置５が設けら
れ、このケースは図示されていない。このケース
の反対方向（第１図の左方）に、Ｘ線源１が配置
されている。
から成り、その内部にＸ線検出装置５が設けら
れ、このケースは図示されていない。このケース
の反対方向（第１図の左方）に、Ｘ線源１が配置
されている。
ケースとＸ線源１の間に、患者などの対象物、
あるいはその他の対象物６を配置できる開放され
た空間がある。
あるいはその他の対象物６を配置できる開放され
た空間がある。
Ｘ線検出装置５は、第１図の紙面に対して横方
向（すなわち紙面に垂直方向）に延びた長手ハウ
ジングを有し、このハウジングの内部は真空であ
り、長手カソードＫと、長手アノードＡが互いに
平行に配置されている。スリツトダイヤフラム２
は、通過した直後のＸ線ビーム７がカソードＫを
照射するようにスリツト寸法を有する。
向（すなわち紙面に垂直方向）に延びた長手ハウ
ジングを有し、このハウジングの内部は真空であ
り、長手カソードＫと、長手アノードＡが互いに
平行に配置されている。スリツトダイヤフラム２
は、通過した直後のＸ線ビーム７がカソードＫを
照射するようにスリツト寸法を有する。
このカソードＫは、入射するＸ線を光に変換す
る材料の層と、光の作用を受けて電子を放出する
材料の層とを含んでいる。放出された電子は、カ
ソードＫとアノードＡの間にできる電場の影響を
受けて加速されてアノードＡに至り、アノードＡ
はこれら電子の影響を受けて光像を形成する。Ｘ
線検出装置５のハウジングは、ガラスでもよく、
あるいはカソードＫにＸ線が到達できれば、他の
材料で構成してもよく、アノードＡの上には光透
過性の窓を設ける。いわゆるCCD格子を用いて
アノードを構成し、後でさらに処理するためにメ
モリに記憶することのできる電気信号である映像
情報をアノードＡから出力する。
る材料の層と、光の作用を受けて電子を放出する
材料の層とを含んでいる。放出された電子は、カ
ソードＫとアノードＡの間にできる電場の影響を
受けて加速されてアノードＡに至り、アノードＡ
はこれら電子の影響を受けて光像を形成する。Ｘ
線検出装置５のハウジングは、ガラスでもよく、
あるいはカソードＫにＸ線が到達できれば、他の
材料で構成してもよく、アノードＡの上には光透
過性の窓を設ける。いわゆるCCD格子を用いて
アノードを構成し、後でさらに処理するためにメ
モリに記憶することのできる電気信号である映像
情報をアノードＡから出力する。
以下言及されるＸ線検出装置５の原理は、オラ
ンダ特許出願7900878に説明されている。
ンダ特許出願7900878に説明されている。
動作中、Ｘ線検出装置５はＸ線源１の掃引すな
わち走査と同期して移動し、そのためＸ線ビーム
は常にカソードＫに入射する。
わち走査と同期して移動し、そのためＸ線ビーム
は常にカソードＫに入射する。
Ｘ線源１とＸ線検出装置５は、第１図では、撮
影の際に占められる中間位置のひとつに示されて
いる。撮影動作すなわち走査しない位置では、Ｘ
線源１は斜め下方向、あるいは斜め上方向に向け
られ、Ｘ線検出装置５はこれと対応する位置にあ
る。
影の際に占められる中間位置のひとつに示されて
いる。撮影動作すなわち走査しない位置では、Ｘ
線源１は斜め下方向、あるいは斜め上方向に向け
られ、Ｘ線検出装置５はこれと対応する位置にあ
る。
動作中にアノードＡにより形成される光像は、
光学システム８によつてフイルム９の上に形成さ
れる。走査時には、光学システム８は静止するよ
うに配置され、フイルム９も静止している。
光学システム８によつてフイルム９の上に形成さ
れる。走査時には、光学システム８は静止するよ
うに配置され、フイルム９も静止している。
移動する長手Ｘ線検出装置５を使用すること
は、もし望むなら像増強をしてもよいのである
が、いくつかの利点をもたらす。この場合には、
Ｘ線源１とともに移動するサイズの大きい第２ス
リツトダイヤフラムはもはや必要でなくなり、し
たがつて機械的構成が簡単になる。また比較的小
さいフイルム面積（たとえば10×10cm）があれば
充分である。フイルム９の露出は２種類の方法、
すなわちＸ線源１自体の励起電流の制御およびＸ
線検出装置５のカソードＫ、アノードＡ間電圧の
制御により調節できる。さらにＸ線検出装置５の
アノードＡの光像を像増強することによつて、極
めて低いＸ線線量の使用ですむことになる。
は、もし望むなら像増強をしてもよいのである
が、いくつかの利点をもたらす。この場合には、
Ｘ線源１とともに移動するサイズの大きい第２ス
リツトダイヤフラムはもはや必要でなくなり、し
たがつて機械的構成が簡単になる。また比較的小
さいフイルム面積（たとえば10×10cm）があれば
充分である。フイルム９の露出は２種類の方法、
すなわちＸ線源１自体の励起電流の制御およびＸ
線検出装置５のカソードＫ、アノードＡ間電圧の
制御により調節できる。さらにＸ線検出装置５の
アノードＡの光像を像増強することによつて、極
めて低いＸ線線量の使用ですむことになる。
各患者のＸ線写真に最適なＸ線線量が選択でき
るように、本発明に従つてまず、測定露出、すな
わち第１回目の走査が行なわれる。
るように、本発明に従つてまず、測定露出、すな
わち第１回目の走査が行なわれる。
Ｘ線撮影される患者などの対象物６が位置決め
された後、通常の露出、すなわち後述の第２回目
の走査に使用される平均強度より約1/10だけ低い
Ｘ線を放射するようにＸ線源１が励起される。Ｘ
線源１およびスリツトダイヤフラム２によるＸ線
ビームは、たとえば下限角度位置から上限角度位
置へ（すなわち下から上へ）、一方向に移動し、
Ｘ線検出装置５も対応してこれとともに移動す
る。Ｘ線検出装置５の経路（測定フイールド）の
ある部分の間、Ｘ線検出装置５のアノードＡから
発生する光の平均レベルが光量計１０により測定
される。電気信号を発生するアノードＡが使用さ
れるならば、その電気信号の平均強度を示す装置
が光量計１０の代りに使用できる。測定フイール
ドのサイズは希望に合わせて選択できる。実験で
は10×20cmの測定フイールドで充分なことが実証
されている。たとえば胸部露出では、Ｘ線検出装
置５は少なくとも40cmの長さでなければならず、
したがつて、測定フイールドは、Ｘ線検出装置５
でカバーできる広いフイールドに比べて、狭い。
された後、通常の露出、すなわち後述の第２回目
の走査に使用される平均強度より約1/10だけ低い
Ｘ線を放射するようにＸ線源１が励起される。Ｘ
線源１およびスリツトダイヤフラム２によるＸ線
ビームは、たとえば下限角度位置から上限角度位
置へ（すなわち下から上へ）、一方向に移動し、
Ｘ線検出装置５も対応してこれとともに移動す
る。Ｘ線検出装置５の経路（測定フイールド）の
ある部分の間、Ｘ線検出装置５のアノードＡから
発生する光の平均レベルが光量計１０により測定
される。電気信号を発生するアノードＡが使用さ
れるならば、その電気信号の平均強度を示す装置
が光量計１０の代りに使用できる。測定フイール
ドのサイズは希望に合わせて選択できる。実験で
は10×20cmの測定フイールドで充分なことが実証
されている。たとえば胸部露出では、Ｘ線検出装
置５は少なくとも40cmの長さでなければならず、
したがつて、測定フイールドは、Ｘ線検出装置５
でカバーできる広いフイールドに比べて、狭い。
光量計１０の前方に、レンズシステム１１とダ
イヤフラム１２が配置される。光量計１０は読み
取りのため計器１３に接続される。第１回目の走
査で測定された光量値を表す光量計１０の出力信
号は、制御ユニツト１８に与えられ、この測定さ
れた光量値に応じて、第２回目の走査時の実際の
露出に必要なＸ線線量は自動的に最適値に設定で
きることになる。光量計１０の出力信号は、上述
のように制御ユニツト１８に与えられ、これによ
つて第２回目の走査時のＸ線源１を通る電流を制
御する。すなわち第１回目の走査時に光量計１０
で測定された光量値を制御ユニツト１８はストア
しておき、その値に基づいて第２回目の走査時に
Ｘ線源１を通る電流を制御する。あるいはまた、
Ｘ線検出装置５において前述のCCD格子を用い
てアノードＡを構成しているので、制御ユニツト
１８は、第１回目の走査時に前述のメモリに、ア
ノードＡからの映像情報をストアしておき、第２
回目の走査時に、そのストア内容に基づいてＸ線
源１を通る電流を制御するようにしてもよい。こ
のような光量計１０およびＸ線検出装置５は、Ｘ
線検出手段を構成する。実際の露出のための第２
回目の走査時には、Ｘ線線量を設定するためにさ
らに他の実施例として、Ｘ線源１のＸ線強度を一
定のままとして、ダイヤフラム２の第１図におけ
る上下方向のスリツト幅を変えるようにしてもよ
い。このスリツト幅は、Ｘ線放射方向（第１図の
左右方向）と走査方向３（第１図の上下方向）と
に垂直な方向（第１図の紙面に垂直な方向）に、
多数に分割された各領域毎に、変化されてもよ
い。前述のＸ線検出装置５は、細長く構成された
けれども、他の実施例として、面状に形成されて
固定位置に設けられていてもよい。
イヤフラム１２が配置される。光量計１０は読み
取りのため計器１３に接続される。第１回目の走
査で測定された光量値を表す光量計１０の出力信
号は、制御ユニツト１８に与えられ、この測定さ
れた光量値に応じて、第２回目の走査時の実際の
露出に必要なＸ線線量は自動的に最適値に設定で
きることになる。光量計１０の出力信号は、上述
のように制御ユニツト１８に与えられ、これによ
つて第２回目の走査時のＸ線源１を通る電流を制
御する。すなわち第１回目の走査時に光量計１０
で測定された光量値を制御ユニツト１８はストア
しておき、その値に基づいて第２回目の走査時に
Ｘ線源１を通る電流を制御する。あるいはまた、
Ｘ線検出装置５において前述のCCD格子を用い
てアノードＡを構成しているので、制御ユニツト
１８は、第１回目の走査時に前述のメモリに、ア
ノードＡからの映像情報をストアしておき、第２
回目の走査時に、そのストア内容に基づいてＸ線
源１を通る電流を制御するようにしてもよい。こ
のような光量計１０およびＸ線検出装置５は、Ｘ
線検出手段を構成する。実際の露出のための第２
回目の走査時には、Ｘ線線量を設定するためにさ
らに他の実施例として、Ｘ線源１のＸ線強度を一
定のままとして、ダイヤフラム２の第１図におけ
る上下方向のスリツト幅を変えるようにしてもよ
い。このスリツト幅は、Ｘ線放射方向（第１図の
左右方向）と走査方向３（第１図の上下方向）と
に垂直な方向（第１図の紙面に垂直な方向）に、
多数に分割された各領域毎に、変化されてもよ
い。前述のＸ線検出装置５は、細長く構成された
けれども、他の実施例として、面状に形成されて
固定位置に設けられていてもよい。
この読み取り可能な計器１３は、監視目的だけ
に役立つものであり、希望があれば省略できる。
測定露出、すなわち第１回目の走査時には、フイ
ルム９なしに走査が行なわれることに注意された
い。フイルム９は、実際の露出まで、すなわち第
２回目の走査よりも前には、供給されない。Ｘ線
源１が適切にセツトされると、Ｘ線源１は実際の
Ｘ線写真を撮影するために移動するＸ線検出装置
５とともに反対の方向へ（すなわち上から下へ）、
角変位する。
に役立つものであり、希望があれば省略できる。
測定露出、すなわち第１回目の走査時には、フイ
ルム９なしに走査が行なわれることに注意された
い。フイルム９は、実際の露出まで、すなわち第
２回目の走査よりも前には、供給されない。Ｘ線
源１が適切にセツトされると、Ｘ線源１は実際の
Ｘ線写真を撮影するために移動するＸ線検出装置
５とともに反対の方向へ（すなわち上から下へ）、
角変位する。
監視目的で、光量計１０は実際の露出中に再び
スイツチを入れることができる。このため測定露
出後、光量計１０がまずゼロ位置に設定され、ま
た感度の低いモードにも設定できる。実際の露出
後、すなわち次の測定露出前にも、光量計１０は
ゼロ位置に再設定される。
スイツチを入れることができる。このため測定露
出後、光量計１０がまずゼロ位置に設定され、ま
た感度の低いモードにも設定できる。実際の露出
後、すなわち次の測定露出前にも、光量計１０は
ゼロ位置に再設定される。
実験によると、測定露出を含めて露出は約10秒
かかることが判つている。
かかることが判つている。
図示された配置では、Ｘ線検出装置５は、第２
図のように電気モータ１４で駆動される鉛直ねじ
棒１５によつて鉛直面内を移動する。ねじ棒１５
はＸ線検出装置５用の図示されていないホルダに
接続され、ホルダにはねじ棒１５と連動する部分
が設けられている。
図のように電気モータ１４で駆動される鉛直ねじ
棒１５によつて鉛直面内を移動する。ねじ棒１５
はＸ線検出装置５用の図示されていないホルダに
接続され、ホルダにはねじ棒１５と連動する部分
が設けられている。
走査が行なわれると、Ｘ線検出装置５、したが
つてモータ１４は確実に一定な速度でなければな
らない。さらに起動後、モータ１４は速やかに一
定の動作速度に達しなければならないが、走査後
は速やかに停止しなければならない。したがつて
モータ１４の初期トルクは大きく、停止に要する
距離が短くなければならない。
つてモータ１４は確実に一定な速度でなければな
らない。さらに起動後、モータ１４は速やかに一
定の動作速度に達しなければならないが、走査後
は速やかに停止しなければならない。したがつて
モータ１４の初期トルクは大きく、停止に要する
距離が短くなければならない。
これらの要件事項を満たすために、起動、停止
時間が約150msec、動作速度約2500rpmのデイス
クアーマチヤ型モータが使用される。さらにモー
タ１４の回転は２方向であり、ねじ棒１５はモー
タ軸に固着されている。
時間が約150msec、動作速度約2500rpmのデイス
クアーマチヤ型モータが使用される。さらにモー
タ１４の回転は２方向であり、ねじ棒１５はモー
タ軸に固着されている。
ねじ棒１５はさらに、第１図には示されていな
いねじ部分のあるロツドでＸ線源１が所要の掃引
（すなわち走査）動作を実行できるように、Ｘ線
源１と連結されている。
いねじ部分のあるロツドでＸ線源１が所要の掃引
（すなわち走査）動作を実行できるように、Ｘ線
源１と連結されている。
Ｘ線検出装置５が辿る経路の２つの端の近く
に、参照符１６，１７で示されたマイクロスイツ
チが設けてある。両方のマイクロスイツチ１６お
よび１７に、１以上のスイツチ（それぞれＳ１，
Ｓ４およびＳ２，Ｓ３）を設けることができる。
これらのスイツチは制御ユニツト１８に接続さ
れ、この制御ユニツト１８は、操作ノブ１９と、
Ｘ線源１を励起する回路のための調整装置２０に
接続される。
に、参照符１６，１７で示されたマイクロスイツ
チが設けてある。両方のマイクロスイツチ１６お
よび１７に、１以上のスイツチ（それぞれＳ１，
Ｓ４およびＳ２，Ｓ３）を設けることができる。
これらのスイツチは制御ユニツト１８に接続さ
れ、この制御ユニツト１８は、操作ノブ１９と、
Ｘ線源１を励起する回路のための調整装置２０に
接続される。
その他の目的もあるが、スイツチＳ１，Ｓ４お
よびＳ２，Ｓ３は、個別的にＸ線検出装置５の下
および上方向の走査後に、制御ユニツト１８を介
してＸ線源１のスイツチを切り、モータ励起回路
２１により行なわれるモータ起動のスイツチを切
り、モータ励起回路２１をＸ線検出装置５の次の
掃引中にモータ１４が正しい方向に回転するよう
な状態におく役割を果たす。
よびＳ２，Ｓ３は、個別的にＸ線検出装置５の下
および上方向の走査後に、制御ユニツト１８を介
してＸ線源１のスイツチを切り、モータ励起回路
２１により行なわれるモータ起動のスイツチを切
り、モータ励起回路２１をＸ線検出装置５の次の
掃引中にモータ１４が正しい方向に回転するよう
な状態におく役割を果たす。
さらにマイクロスイツチ１６，１７と、フイル
ム９の移送制御装置２２によつて、第１回目の走
査後に、すなわち測定露出後に、新しいフイルム
が供給される。
ム９の移送制御装置２２によつて、第１回目の走
査後に、すなわち測定露出後に、新しいフイルム
が供給される。
Ｘ線撮影装置の通例のように、この制御ユニツ
ト１８には、図示されていない各種の表示ランプ
が設けられ、たとえばフイルム９が実際に供給さ
れたかどうか、フイルムマガジンが空かどうか、
光量計１０の位置はどうか、撮影される患者識別
カードが所定のホルダに収められているかどうか
などが表示される。
ト１８には、図示されていない各種の表示ランプ
が設けられ、たとえばフイルム９が実際に供給さ
れたかどうか、フイルムマガジンが空かどうか、
光量計１０の位置はどうか、撮影される患者識別
カードが所定のホルダに収められているかどうか
などが表示される。
モータ１４は、取り付けブラケツト３０に配置
され、ブラケツト３０には、この制御ユニツト１
８とモータ励起回路２１も収容できる。モータ１
４に接続されたねじ棒１５は、鉛直方向に延びて
おり、モータ１４が回転すると、矢印３２の示す
とおり上下に移動するナツト要素３１と協働す
る。このねじ棒１５は偏平なケース３３に沿つて
縦に延び、軸受３４によつて支持され、このケー
ス３３内には、Ｘ線検出装置５が第２図の紙面に
垂直にかつ水平に延びて設けられている。Ｘ線検
出装置５はナツト要素３１に連結されている。
され、ブラケツト３０には、この制御ユニツト１
８とモータ励起回路２１も収容できる。モータ１
４に接続されたねじ棒１５は、鉛直方向に延びて
おり、モータ１４が回転すると、矢印３２の示す
とおり上下に移動するナツト要素３１と協働す
る。このねじ棒１５は偏平なケース３３に沿つて
縦に延び、軸受３４によつて支持され、このケー
ス３３内には、Ｘ線検出装置５が第２図の紙面に
垂直にかつ水平に延びて設けられている。Ｘ線検
出装置５はナツト要素３１に連結されている。
ナツト要素３１はさらにヒンジ３５によつて、
２つのテレスコープ部分３６，３７から成るリン
クの一端に接続される。このリンクの他端は、Ｘ
線源１およびスリツトダイヤフラム２を収容する
ハウジング３８に固着されている。
２つのテレスコープ部分３６，３７から成るリン
クの一端に接続される。このリンクの他端は、Ｘ
線源１およびスリツトダイヤフラム２を収容する
ハウジング３８に固着されている。
Ｘ線源１に対向するブラケツト３０の側面寄り
に、上下に移動して患者などの対象物６を偏平な
ケース３３の前面の希望の高さに維持するプラツ
トホーム３９が配置される。
に、上下に移動して患者などの対象物６を偏平な
ケース３３の前面の希望の高さに維持するプラツ
トホーム３９が配置される。
Ｘ線源１から離れているケース３３の側面に
は、光学システム８、光量計１０、フイルムマガ
ジン、フイルム移送機構、患者識別カードなどを
収容するハウジング４０が固着される。
は、光学システム８、光量計１０、フイルムマガ
ジン、フイルム移送機構、患者識別カードなどを
収容するハウジング４０が固着される。
第２図に示された配置の様々な修正が可能であ
る。たとえば患者を横に寝かせるような配置にし
てもよい。またねじ棒１５と、Ｘ線源１のハウジ
ング３８との連結を全く異なつた構成で実現でき
る。
る。たとえば患者を横に寝かせるような配置にし
てもよい。またねじ棒１５と、Ｘ線源１のハウジ
ング３８との連結を全く異なつた構成で実現でき
る。
たとえば例として説明されたリンクの部分３
６，３７は、Ｘ線ビームが移動中に長手Ｘ線検出
装置５の上に照射し続けるように駆動される独立
したモータによつて、Ｘ線源１の走査が実行され
る場合には省略できる。この場合、２つのモータ
の同期はサーボ機構あるいはマイクロプロセツサ
により実行され、これらに露出時間およびＸ線発
生点とＸ線検出装置５の間隔の情報が与えられ
る。
６，３７は、Ｘ線ビームが移動中に長手Ｘ線検出
装置５の上に照射し続けるように駆動される独立
したモータによつて、Ｘ線源１の走査が実行され
る場合には省略できる。この場合、２つのモータ
の同期はサーボ機構あるいはマイクロプロセツサ
により実行され、これらに露出時間およびＸ線発
生点とＸ線検出装置５の間隔の情報が与えられ
る。
さらにマイクロスイツチ１６，１７がＸ線源１
のハウジングの近くに配置され、Ｘ線源１の走査
によつて操作することもできる。
のハウジングの近くに配置され、Ｘ線源１の走査
によつて操作することもできる。
これらおよび他の修正は上記内容を読めば、発
明の範囲を逸脱することなく当業者には簡単に行
える。
明の範囲を逸脱することなく当業者には簡単に行
える。
以上のように本発明によれば、まず第１回目の
スリツト状Ｘ線の走査によつて、対象物６を透過
したＸ線の強度をＸ線検出手段５，１０によつて
検出し、これによつて個別的な対象物６毎のＸ線
透過の状況を調べてストアしておき、このストア
内容に基づいて、第２回目の走査を行ない、こう
して対象物毎に最適なＸ線量を、その対象物６に
照射し、この第２回目の走査時のＸ線の強度を、
第１回目の走査時よりも高強度とする。これによ
つて第１回目の走査時には、対象物６のＸ線量は
わずかですみ、したがつて２回走査を行なつて
も、対象物６に、Ｘ線による悪影響が生じるとい
う問題はない。
スリツト状Ｘ線の走査によつて、対象物６を透過
したＸ線の強度をＸ線検出手段５，１０によつて
検出し、これによつて個別的な対象物６毎のＸ線
透過の状況を調べてストアしておき、このストア
内容に基づいて、第２回目の走査を行ない、こう
して対象物毎に最適なＸ線量を、その対象物６に
照射し、この第２回目の走査時のＸ線の強度を、
第１回目の走査時よりも高強度とする。これによ
つて第１回目の走査時には、対象物６のＸ線量は
わずかですみ、したがつて２回走査を行なつて
も、対象物６に、Ｘ線による悪影響が生じるとい
う問題はない。
しかもこのような第１回目の低強度のＸ線の走
査によつて、第２回目の走査のための最適なＸ線
量を設定して鮮明なＸ線映像を得ることができ、
あるいはまた対象物６に照射すべきＸ線の照射領
域の選択などのために、第１回目の走査結果を用
いることもまた可能である。
査によつて、第２回目の走査のための最適なＸ線
量を設定して鮮明なＸ線映像を得ることができ、
あるいはまた対象物６に照射すべきＸ線の照射領
域の選択などのために、第１回目の走査結果を用
いることもまた可能である。
さらに本発明によれば、Ｘ線源１は、Ｘ線を放
射する第１方向に垂直な第２方向に延びる軸線ま
わりに往復角変位可能に設けられており、スリツ
トダイヤフラム２は、Ｘ線源１からのＸ線を前記
第２方向に細長いスリツト状に透過して対象物６
に照射し、Ｘ線源１の角変位に伴つて第１および
第２方向にそれぞれ垂直な走査方向３に往復走査
するように構成されているので、対象物６を静止
したままで、対象物６にＸ線を走査させることが
でき、このような対象物６は、たとえば人体など
であつてＸ線源１およびスリツトダイヤフラム２
などに比べて大きいので、そのような大きな対象
物６を静止したままでＸ線の走査を行なうことが
できることは、構成を簡略化するために好都合な
ことであるとともに、Ｘ線走査を、振動などの悪
影響なしに、正確に行なうことができるという優
れた効果が達成される。
射する第１方向に垂直な第２方向に延びる軸線ま
わりに往復角変位可能に設けられており、スリツ
トダイヤフラム２は、Ｘ線源１からのＸ線を前記
第２方向に細長いスリツト状に透過して対象物６
に照射し、Ｘ線源１の角変位に伴つて第１および
第２方向にそれぞれ垂直な走査方向３に往復走査
するように構成されているので、対象物６を静止
したままで、対象物６にＸ線を走査させることが
でき、このような対象物６は、たとえば人体など
であつてＸ線源１およびスリツトダイヤフラム２
などに比べて大きいので、そのような大きな対象
物６を静止したままでＸ線の走査を行なうことが
できることは、構成を簡略化するために好都合な
ことであるとともに、Ｘ線走査を、振動などの悪
影響なしに、正確に行なうことができるという優
れた効果が達成される。
さらに本発明によれば、制御手段１８によつ
て、第１回目の走査は、Ｘ線源１およびさらにス
リツトダイヤフラム２を、往復走査方向３の一方
の走査方向（たとえば第１図の下から上）に走査
して行ない、第２回目の走査は、その一方の走査
方向とは逆である他方の走査方向（たとえば第１
図の上から下）で行ない、このようにして１往復
走査によつて、第１回目と第２回目のＸ線の走査
を完了することができ、これによつて短時間で第
１回目と第２回目の走査を完了することができる
という優れた効果が達成される。
て、第１回目の走査は、Ｘ線源１およびさらにス
リツトダイヤフラム２を、往復走査方向３の一方
の走査方向（たとえば第１図の下から上）に走査
して行ない、第２回目の走査は、その一方の走査
方向とは逆である他方の走査方向（たとえば第１
図の上から下）で行ない、このようにして１往復
走査によつて、第１回目と第２回目のＸ線の走査
を完了することができ、これによつて短時間で第
１回目と第２回目の走査を完了することができる
という優れた効果が達成される。
第１図は本発明に従う装置の一実施例の概略
図、第２図は第１図の一実施例の一部の構成を示
す側面図である。 １……Ｘ線源、２……スリツトダイヤフラム、
５……Ｘ線検出装置、８……光学システム、９…
…フイルム、１０……光量計、１１……レンズシ
ステム、１２……ダイヤフラム、１３……計器、
１４……モータ、１８……制御ユニツト、２０…
…調整回路、２１……モータ励起回路。
図、第２図は第１図の一実施例の一部の構成を示
す側面図である。 １……Ｘ線源、２……スリツトダイヤフラム、
５……Ｘ線検出装置、８……光学システム、９…
…フイルム、１０……光量計、１１……レンズシ
ステム、１２……ダイヤフラム、１３……計器、
１４……モータ、１８……制御ユニツト、２０…
…調整回路、２１……モータ励起回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ (a) 第１方向にＸ線を放射し、この第１方向
に垂直な第２方向に延びる軸線まわりに往復角
変位可能に設けられ、前記軸線はＸ線発生点付
近を通るＸ線源１と、 (b) Ｘ線源１からのＸ線を前記第２方向に細長い
スリツト状に透過して対象物６に照射して、Ｘ
線源１の角変位に伴つて第１および第２方向に
それぞれ垂直な走査方向３に往復走査するスリ
ツトダイヤフラム２と、 (c) 対象物６に関してＸ線源１およびスリツトダ
イヤフラム２とは反対側に設けられ、対象物６
を透過したＸ線の強度を表わす電気信号を導出
するＸ線検出手段５，１０と、 (d) Ｘ線を放射するようにＸ線源１を動作させて
スリツト状Ｘ線の第１回目の走査を、一方の走
査方向に行なわせ、その第１回目の走査時のＸ
線検出手段５，１０の出力をストアしておき、
このストア内容に基づき、第１回目の走査時よ
りも高強度のＸ線を対象物６に照射するように
スリツト状Ｘ線の第２回目の走査を、前記一方
の走査方向とは逆である他方の走査方向に行な
わせる制御手段１８と、 (e) 対象物６に関してＸ線源１およびスリツトダ
イヤフラム２とは反対側に設けられ、前記第２
回目の走査時に対象物６を透過したＸ線によつ
て対象物６の映像を形成する手段８，９とを含
むことを特徴とするスリツト走査Ｘ線写真装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8303156A NL8303156A (nl) | 1983-09-13 | 1983-09-13 | Roentgenopnameinrichting met spleetaftasting. |
| NL8303156 | 1983-09-13 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6090538A JPS6090538A (ja) | 1985-05-21 |
| JPH057019B2 true JPH057019B2 (ja) | 1993-01-27 |
Family
ID=19842390
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59192439A Granted JPS6090538A (ja) | 1983-09-13 | 1984-09-13 | スリツト走査ｘ線写真装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US4803714A (ja) |
| EP (1) | EP0141448B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6090538A (ja) |
| CA (1) | CA1234430A (ja) |
| DE (1) | DE3471871D1 (ja) |
| IL (1) | IL72921A (ja) |
| NL (1) | NL8303156A (ja) |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5164977A (en) * | 1983-09-13 | 1992-11-17 | B.V. Optische Industrie, "De Oude Delft" | Process and apparatus for effecting slit radiography |
| NL8303156A (nl) * | 1983-09-13 | 1985-04-01 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Roentgenopnameinrichting met spleetaftasting. |
| US4953189A (en) * | 1985-11-14 | 1990-08-28 | Hologic, Inc. | X-ray radiography method and system |
| US4953192A (en) * | 1986-04-14 | 1990-08-28 | The University Of Rochester | Scanning equalization radiography |
| JPH02204738A (ja) * | 1989-02-02 | 1990-08-14 | Konica Corp | Ｘ線ラジオグラフィシステム |
| US5067144A (en) * | 1990-05-18 | 1991-11-19 | Hologic, Inc. | Equalized radiography using special modulator pins |
| US5216250A (en) * | 1991-11-27 | 1993-06-01 | Lorad Corporation | Digital imaging system using CCD array |
| DE4435105C2 (de) * | 1994-09-30 | 2003-07-24 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung mit einem Festkörperbildwandler und Verfahren zu deren Betrieb |
| US5471516A (en) * | 1994-10-06 | 1995-11-28 | Varian Associates, Inc. | Radiotherapy apparatus equipped with low dose localizing and portal imaging X-ray source |
| DE4446960A1 (de) * | 1994-10-17 | 1996-04-18 | Sandor Kovacs | Röntgenaufnahmegerät |
| JP3307519B2 (ja) * | 1995-03-24 | 2002-07-24 | 株式会社モリタ製作所 | 医療用ｘ線撮影装置 |
| NL1002466C2 (nl) * | 1996-02-27 | 1997-08-28 | Optische Ind Oede Oude Delftoe | Röntgenbeeldinrichting. |
| EP1452137B1 (de) * | 1997-02-17 | 2005-11-30 | Sirona Dental Systems GmbH | Verfahren und Einrichtung zur Erstellung von Röntgenaufnahmen von Körperteilen eines Menschen |
| JPH11311673A (ja) * | 1998-04-28 | 1999-11-09 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
| US6637649B2 (en) * | 1999-12-28 | 2003-10-28 | Christopher S. Walsh | Record and verification method, apparatus and system |
| US6459765B1 (en) * | 2000-12-28 | 2002-10-01 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Automatic exposure control and optimization in digital x-ray radiography |
| US6507639B1 (en) * | 2001-08-30 | 2003-01-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and apparatus for modulating the radiation dose from x-ray tube |
| EP1474040B1 (en) * | 2002-02-15 | 2007-10-24 | Breakaway Imaging, Llc | Gantry ring with detachable segment for multidimensional x-ray-imaging |
| CN100398066C (zh) * | 2002-03-13 | 2008-07-02 | 分离成像有限责任公司 | 准同步多平面x射线成像的系统和方法 |
| EP2345370A3 (en) | 2002-03-19 | 2012-05-09 | Breakaway Imaging, Llc | Computer tomography with a detector following the movement of a pivotable x-ray source |
| AU2003245439A1 (en) * | 2002-06-11 | 2003-12-22 | Breakaway Imaging, Llc | Cantilevered gantry apparatus for x-ray imaging |
| US7106825B2 (en) * | 2002-08-21 | 2006-09-12 | Breakaway Imaging, Llc | Apparatus and method for reconstruction of volumetric images in a divergent scanning computed tomography system |
| WO2004017832A2 (en) * | 2002-08-21 | 2004-03-04 | Breakaway Imaging, Llc | Gantry positioning apparatus for x-ray imaging |
| DE102009043423A1 (de) | 2009-09-29 | 2011-04-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenaufnahmeverfahren und Röntgenaufnahmesystem |
| US20130114787A1 (en) * | 2011-05-04 | 2013-05-09 | WMDTech Services LLC | Portable x-ray system and remote control |
| CN102793559A (zh) * | 2011-05-24 | 2012-11-28 | 上海世鹏实验室科技发展有限公司 | 一种人体安全探测扫描装置 |
| WO2018039038A1 (en) * | 2016-08-26 | 2018-03-01 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Measuring contact angles beteween a solid-fluid pair using x-ray imaging of the solid-fluid-fluid interface inside a capillary |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5588745A (en) * | 1978-12-26 | 1980-07-04 | Tokyo Shibaura Electric Co | Method of controlling computerrtomography device |
| JPS565139B2 (ja) * | 1977-06-03 | 1981-02-03 | ||
| JPS5648097A (en) * | 1979-09-25 | 1981-05-01 | Toshiba Corp | X-ray diagnostic apparatus |
| JPS5685328A (en) * | 1979-12-17 | 1981-07-11 | Uni Pitsutsubaagu | Radioactive photographing apparatus |
| JPS5731842A (en) * | 1980-06-23 | 1982-02-20 | Siemens Ag | X-ray diagnostic device |
| JPS5734041A (en) * | 1980-07-30 | 1982-02-24 | Fujitsu Ltd | Glass fiber for light transmission |
| JPS58223083A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-12-24 | ザ・ボ−ド・オブ・トラステイ−ズ・オブ・ザ・リ−ランド・スタンフオ−ド・ジユニア・ユニバ−シテイ | 線走査式放射線システム |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2837657A (en) * | 1954-11-19 | 1958-06-03 | Logetronics Inc | Radiographic method and apparatus |
| DE2042009C3 (de) * | 1970-08-25 | 1975-02-27 | Siemens Ag, 1000 Berlin U. 8000 Muenchen | Anordnung zur zerstörungsfreien Dichtemessung von Stoffen lebender Objekte mittels durchdringender Strahlen |
| US3832546A (en) * | 1972-04-14 | 1974-08-27 | Xonics Inc | X-ray system with aligned source and slits |
| US3766387A (en) * | 1972-07-11 | 1973-10-16 | Us Navy | Nondestructive test device using radiation to detect flaws in materials |
| US4058833A (en) * | 1974-12-31 | 1977-11-15 | Picker Corporation | Radiation imaging apparatus and method |
| US4179100A (en) * | 1977-08-01 | 1979-12-18 | University Of Pittsburgh | Radiography apparatus |
| US4203037A (en) * | 1977-08-01 | 1980-05-13 | University Of Pittsburgh | Collimated radiation apparatus |
| NL183914C (nl) * | 1979-02-02 | 1989-02-16 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Roentgenbeeldversterker. |
| JPS5747792Y2 (ja) * | 1979-06-22 | 1982-10-20 | ||
| FR2490479B1 (fr) * | 1980-09-19 | 1985-06-07 | Thomson Csf | Appareil de radiologie comportant un tube intensificateur d'image radiologique |
| US4426721A (en) * | 1980-10-07 | 1984-01-17 | Diagnostic Information, Inc. | X-ray intensifier detector system for x-ray electronic radiography |
| DD158307A1 (de) * | 1981-04-23 | 1983-01-05 | Guenther Orth | Verfahren zur herstellung von roentgenaufnahmen |
| DE3121176A1 (de) * | 1981-05-27 | 1982-12-16 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Geraet zur bereichsweisen aufnahme von roentgenbildern |
| DE3138730A1 (de) * | 1981-09-29 | 1983-04-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roengtenuntersuchungsgeraet |
| NL8303156A (nl) * | 1983-09-13 | 1985-04-01 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Roentgenopnameinrichting met spleetaftasting. |
| NL8400845A (nl) * | 1984-03-16 | 1985-10-16 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Inrichting voor spleetradiografie. |
-
1983
- 1983-09-13 NL NL8303156A patent/NL8303156A/nl not_active Application Discontinuation
-
1984
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- 1984-09-12 IL IL8472921A patent/IL72921A/xx not_active IP Right Cessation
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- 1984-09-12 DE DE8484201325T patent/DE3471871D1/de not_active Expired
- 1984-09-13 JP JP59192439A patent/JPS6090538A/ja active Granted
-
1989
- 1989-02-03 US US07/306,348 patent/US5008915A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS565139B2 (ja) * | 1977-06-03 | 1981-02-03 | ||
| JPS5588745A (en) * | 1978-12-26 | 1980-07-04 | Tokyo Shibaura Electric Co | Method of controlling computerrtomography device |
| JPS5648097A (en) * | 1979-09-25 | 1981-05-01 | Toshiba Corp | X-ray diagnostic apparatus |
| JPS5685328A (en) * | 1979-12-17 | 1981-07-11 | Uni Pitsutsubaagu | Radioactive photographing apparatus |
| JPS5731842A (en) * | 1980-06-23 | 1982-02-20 | Siemens Ag | X-ray diagnostic device |
| JPS5734041A (en) * | 1980-07-30 | 1982-02-24 | Fujitsu Ltd | Glass fiber for light transmission |
| JPS58223083A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-12-24 | ザ・ボ−ド・オブ・トラステイ−ズ・オブ・ザ・リ−ランド・スタンフオ−ド・ジユニア・ユニバ−シテイ | 線走査式放射線システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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