JPH0568094A - 導通試験装置 - Google Patents

導通試験装置

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JPH0568094A
JPH0568094A JP25282991A JP25282991A JPH0568094A JP H0568094 A JPH0568094 A JP H0568094A JP 25282991 A JP25282991 A JP 25282991A JP 25282991 A JP25282991 A JP 25282991A JP H0568094 A JPH0568094 A JP H0568094A
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JP
Japan
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JP25282991A
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English (en)
Inventor
Kouji Takahashi
攻司 高橋
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 通信ケーブルやジャンパー線の導通試験装置
として、被試験線の両端間にリード線、電池、ブザーを
直列に接続するという従来のやりかたでなく、リード線
不要、従って被試験線の両端間の距離の制限がなく、ま
た両端で導通試験の確認ができ、手軽で実用的な導通試
験を行える装置を提供する。 【構成】 被試験線Lの一端側に発振部1と受信部2、
他端側にも発振部7と受信部6、を設け、一端側の発振
部1から被試験線Lを介して他端側の受信部6へ、或い
はその逆に信号を送出して導通を確認する。信号の帰路
として既設の電灯線Mを利用する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電話局の局舎内などに
おいて、通信ケーブルやジャンパー線を端子に取り付け
た後、それが付け違いでなく正しく取り付けられている
か否かをチエックするために、当該通信ケーブルやジャ
ンパー線を被試験線として行う導通試験装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】この種の導通試験装置として、従来は、
被試験線の一端にリード線の一端を接続すると共に、該
リード線の他端と被試験線の他端との間に、電池とブザ
ーを直列に接続し、被試験線とリード線と電池とブザー
から成るループ回路を形成し、ブザーの鳴動の有無によ
り被試験線の導通を試験する装置が用いられていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の導通試
験装置では、被試験線の一端(端子)から他端(端子)
までの、導通試験可能な距離範囲は、リード線の長さに
より制限を受けるという問題があった。リード線の長さ
を余り長くすると、それの取り扱いが煩雑になり、作業
性が悪くなるので、リード線の長さには自ずと限界があ
り、導通試験可能な距離範囲もそれによって制限を受け
るという不都合があったわけである。またリード線の長
さが長くなると、そこに流す直流電流も大きくなること
から、電池の容量による制限も加わることになる。
【0004】試験の対象となる通信ケーブルやジャンパ
ー線は、普通は2本の線で1回線が構成されているが、
この2本の線の他端同士を短絡接続してループを構成し
て導通試験を行ったのでは、2本の線の端子への付け違
いを検出できない。そこで1本の線毎に導通試験するわ
けであるが、その際、例えば局内アース線のような共通
帰線、又は特定線番線を使ってループを構成して導通試
験を行う方法も行われているが、手軽で実用的な装置と
しては開発されていなかった。
【0005】またループを構成し、導通する場合にはブ
ザーを鳴動させるという方法では、被試験線の一端(端
子)から他端(端子)までの距離が長い場合には、ブザ
ーの鳴動音がどちらかの一端には到達せず、ブザーの鳴
動音の届かない側の作業員は、導通を確認できないとい
う不都合もあった。
【0006】本発明の目的は、通信ケーブルやジャンパ
ー線を被試験線として行う導通試験装置として、従来必
要としたリード線を不要とし、従ってリード線の長さに
よる制限を受けることがなく、直流の大電流を流す必要
もなく、被試験線の両端側で導通の有無を確認でき、か
つ手軽で実用的に試験を行うことのできる導通試験装置
を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的達成のため、本
発明では、被試験線の一端と他端との間の導通を試験す
る導通試験装置において、発振部と、受信部と、前記被
試験線の一端を前記発振部へ接続したり前記受信部へ接
続したり、交互に切り替え接続する切り替え接続部と、
前記発振部及び受信部のそれぞれを各自のアースを介し
て既設の商用交流電源線へ接続する電源線接続部と、か
ら成る試験装置Aを前記被試験線の一端側に設けると共
に、
【0008】発振部と、受信部と、前記被試験線の他端
を前記発振部へ接続したり前記受信部へ接続したり、交
互に切り替え接続する切り替え接続部と、前記発振部及
び受信部のそれぞれを各自のアースを介して前記既設の
商用交流電源線へ接続する電源線接続部と、から成る試
験装置Bを前記被試験線の他端側に設け、かつ
【0009】試験装置Aにおいて、発振部が前記被試験
線の一端に接続されているときには、試験装置Bにおい
て、受信部が前記被試験線の他端に接続され、試験装置
Aにおいて、受信部が前記被試験線の一端に接続されて
いるときには、試験装置Bにおいて、発振部が前記被試
験線の他端に接続されるように、試験装置AとBにおけ
る各切り替え接続部を制御する切り替え制御手段を備
え、
【0010】試験装置Aから被試験線を通って試験装置
Bに至り、さらにアースを介して既設の商用交流電源線
を通って試験装置Aに戻るループと、その逆のループを
交互に形成して前記被試験線の導通を試験するようにし
た。
【0011】
【作用】上述の装置A,Bにおける発振部としては、数
kHzの低周波、例えば4kHzの矩形搬送波を送出す
ることのできる発振部を用い、受信部では、該4kHz
の矩形搬送波を復調したパルスによりブザーを鳴動させ
る。試験装置AとBにおける発振部と受信部との間の切
り替えは、例えば0.2秒間隔とする。このようにし
て、リード線を不要とし、従ってリード線の長さによる
制限を受けることがなく、直流の大電流を流す必要もな
く、被試験線の両端側で導通の有無を確認でき、かつ手
軽で実用的に試験を行うことのできる導通試験装置を提
供することができる。
【0012】
【実施例】次に図を参照して本発明の実施例を説明す
る。図1は、本発明の一実施例を示すブロック図であ
る。同図において、Lが被試験線、Mは既設のAC10
0Vライン(本発明を実施する際に利用するもの)、装
置Aは被試験線の一端側に設けられ、装置Bは被試験線
の他端側に設けられる。
【0013】装置Aにおいて、11は測定チップ、1は
4kHzの矩形搬送波の発振部、2は受信した4kHz
の矩形搬送波の復調パルスによりブザーを鳴動させる受
信部、3は発振部1と受信部2との間を切り替える切替
部、4は切替部3を制御して例えば0.2秒間隔で切替
部3を切り替え動作させるための信号を送出する切替ク
ロック部、5は電灯線結合部で、発振部1のアース、受
信部2のアース、電灯線結合部5のアースを介して既設
のAC100VラインMに発振部1及び受信部2を接続
するためのもの、である。
【0014】装置Bにおいて、12は測定チップ、7は
4kHzの矩形搬送波の発振部、6は受信した4kHz
の矩形搬送波の復調パルスによりブザーを鳴動させる受
信部、8は発振部7と受信部6との間を切り替える切替
部、9は位相遅延部で、受信部6で復調したパルスの位
相を0.2秒遅延させた後、切替部8を制御して0.2
秒間隔で切替部8を切り替え動作させるための信号とし
て、送出する位相遅延部、10は電灯線結合部で、発振
部7のアース、受信部6のアース、電灯線結合部10の
アースを介して既設のAC100VラインMに発振部7
及び受信部6を接続するためのもの、である。
【0015】次に回路動作を説明する。装置Aでは、切
替部3は、切替クロック部4からの信号により0.2秒
間隔で切り替え動作を繰り返している。装置B側の切替
部8は、受信部6に接続した状態で待機している。そこ
で、測定チップ11により被試験線Lの一端を装置A側
の切替部3に接続し、また測定チップ12により被試験
線Lの他端を装置B側の切替部8に接続する。
【0016】すると、装置A側の発振部1からの矩形波
が、切替クロック部4の切替制御により、0.2秒の周
期で測定チップ11を通し、被試験線Lに送出される。
この矩形波信号を装置B側の受信部6で受信し、0.2
秒間隔のパルスに復調し、ブザーを鳴動させると同時
に、このパルスを位相遅延部9に供給する。位相遅延部
9では、供給されたこのパルスを0.2秒遅延させた
後、切替部8へ切り替え制御クロックとして供給する。
【0017】その結果、装置B側の発振部7からの矩形
波は、装置A側の発振部1からの矩形波に比較して0.
2秒遅延した位相となるため、装置B側の発振部7から
の矩形波を装置A側の受信部2で受信することが可能と
なり、ここでも0.2秒間隔のパルスに復調し、ブザー
を鳴動させて被試験線Lの導通を確認することができ
る。
【0018】ここで装置A側の発振部1からの矩形波
は、切替部3、測定チップ11、被試験線L、測定チッ
プ12、装置B側の切替部8、受信部7、そのアースを
介して電灯線結合部10、AC100VラインM、装置
A側の電灯線結合部5、そのアースを介して発振部1に
戻るわけである。
【0019】同様に、装置B側の発振部7からの矩形波
は、切替部8、測定チップ12、被試験線L、測定チッ
プ11、装置A側の切替部3、受信部2、そのアースを
介して電灯線結合部5、AC100VラインM、装置B
側の電灯線結合部10、そのアースを介して発振部7に
戻るわけである。AC100VラインMは、装置AとB
の間にわたって張り巡らされた既設の線路として利用さ
れていることが理解されるであろう。
【0020】装置A,Bのどちらかの測定チップを被試
験線Lから切り離すことにより、一連の試験動作は停止
し、ブザーの鳴動も停止する。このようにして、リード
線を不要とし、従ってリード線の長さによる制限を受け
ることがなく、直流の大電流を流す必要もなく、被試験
線の両端側で導通の有無を確認することができる。
【0021】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明の導通試
験装置によれば、従来必要としたリード線を不要にした
ことにより、試験作業が簡素化され、効率化も図られ、
更に被試験線の長さの制限も無くなり、局舎のフロアに
またがる通信ケーブルの導通試験も容易に行えるように
なった。
【0022】また被試験線へ流す信号も、低レベルの搬
送信号でよいので、被試験線へ接続されている装置に影
響が及ばないため、本試験装置の適用範囲が制限されな
いという利点もある。また被試験線へ流す信号として、
広帯域の信号スペクトラムからなる矩形波搬送波を使え
ば、商用の電灯線等に誘導発生する雑音の影響も受け難
くなり、信号受信側で同期信号を取り出せるという利点
も生じる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【符号の説明】 1,7…発振部、2,6…受信部、3,8…切替部、4
…切替クロック部、5,10…電灯線結合部、9…位相
遅延部、11,12…測定チップ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被試験線の一端と他端との間の導通を試
    験する導通試験装置において、 発振部と、受信部と、前記被試験線の一端を前記発振部
    へ接続したり前記受信部へ接続したり、交互に切り替え
    接続する切り替え接続部と、前記発振部及び受信部のそ
    れぞれを各自のアースを介して既設の商用交流電源線へ
    接続する電源線接続部と、から成る試験装置Aを前記被
    試験線の一端側に設けると共に、 発振部と、受信部と、前記被試験線の他端を前記発振部
    へ接続したり前記受信部へ接続したり、交互に切り替え
    接続する切り替え接続部と、前記発振部及び受信部のそ
    れぞれを各自のアースを介して前記既設の商用交流電源
    線へ接続する電源線接続部と、から成る試験装置Bを前
    記被試験線の他端側に設け、かつ試験装置Aにおいて、
    発振部が前記被試験線の一端に接続されているときに
    は、試験装置Bにおいて、受信部が前記被試験線の他端
    に接続され、試験装置Aにおいて、受信部が前記被試験
    線の一端に接続されているときには、試験装置Bにおい
    て、発振部が前記被試験線の他端に接続されるように、
    試験装置AとBにおける各切り替え接続部を制御する切
    り替え制御手段を備え、 試験装置Aから被試験線を通って試験装置Bに至り、さ
    らにアースを介して既設の商用交流電源線を通って試験
    装置Aに戻るループと、その逆のループを交互に形成し
    て前記被試験線の導通を試験することを特徴とする導通
    試験装置。
JP25282991A 1991-09-05 1991-09-05 導通試験装置 Pending JPH0568094A (ja)

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