JPH0567895B2 - - Google Patents
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- JPH0567895B2 JPH0567895B2 JP14761588A JP14761588A JPH0567895B2 JP H0567895 B2 JPH0567895 B2 JP H0567895B2 JP 14761588 A JP14761588 A JP 14761588A JP 14761588 A JP14761588 A JP 14761588A JP H0567895 B2 JPH0567895 B2 JP H0567895B2
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Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、弁やトラツプなどのリーク試験に
用いられるトレーサガス、主にフロンガスを、試
験用の回路内で使用した後に回収して再使用する
ようにした試験用ガス回収装置の改良に関する。
用いられるトレーサガス、主にフロンガスを、試
験用の回路内で使用した後に回収して再使用する
ようにした試験用ガス回収装置の改良に関する。
〈従来の技術〉
従来この種の装置として、第２図に示すような
ものがある。この装置は、弁やトラツプなどの各
部の気密度を試験するために用いられるもので、
例えば、試験する弁１を装置にセツトして、第１
開閉弁V1を開き、第２開閉弁V2を閉じ、第３開
閉弁V3を開いた状態で、圧力タンク２に収容さ
れているフロンガス及び空気からなる所定圧力の
試験ガスを弁１をセツトした試験回路に導入し、
リークテスタ３で洩れ量を測定するようになつて
いる。そして、試験終了後は第１，第３開閉弁
V1，V3を閉じ、第２開閉弁V2を開いて、試験回
路内の試験ガスを真空ポンプ４、中間タンク５、
コンプレツサ６を介して圧力タンク５に回収する
ようになつている。なお、リークテスタ３はハロ
ゲンガスに敏感な電極を有するもので、トレーサ
ガスとしてはフロン−12として知られるジクロロ
ジフロロメタンがよく使用されているようである
が、他のハロゲンガスも使用できる。
ものがある。この装置は、弁やトラツプなどの各
部の気密度を試験するために用いられるもので、
例えば、試験する弁１を装置にセツトして、第１
開閉弁V1を開き、第２開閉弁V2を閉じ、第３開
閉弁V3を開いた状態で、圧力タンク２に収容さ
れているフロンガス及び空気からなる所定圧力の
試験ガスを弁１をセツトした試験回路に導入し、
リークテスタ３で洩れ量を測定するようになつて
いる。そして、試験終了後は第１，第３開閉弁
V1，V3を閉じ、第２開閉弁V2を開いて、試験回
路内の試験ガスを真空ポンプ４、中間タンク５、
コンプレツサ６を介して圧力タンク５に回収する
ようになつている。なお、リークテスタ３はハロ
ゲンガスに敏感な電極を有するもので、トレーサ
ガスとしてはフロン−12として知られるジクロロ
ジフロロメタンがよく使用されているようである
が、他のハロゲンガスも使用できる。
〈発明が解決しようとする課題〉
前記従来のリーク試験に使用した試験用ガスの
回収装置は、試験される弁やトラツプなどの容積
の相違により、１回の試験に試験回路に導入され
る試験用ガスの量が大幅に異なる。このため、試
験ガスの回収に長時間を要する問題があり、多数
の被試験物を流れ作業で処理する場合に不都合が
多い。その原因は、一定の能力を有する真空ポン
プ４及びコンプレツサ６と、一定容積の中間タン
ク５との組合せであるから、例えば小容積の弁の
試験後の回収においては中間タンク５内は低圧で
あり、コンプレツサ６で加圧するのに時間がかか
り、逆に大容積の弁の試験後の回収においては中
間タンク５内の圧力が高くなり、真空ポンプで吸
引するのに時間がかかることにある。そして、試
験ガス供給時の圧力タンク２内の圧力は、試験回
路の試験圧力となるものであり、試験ガスの回収
が十分に行われることによつて安定を保たれるか
ら、不用意に試験ガス回収時間を短縮すると、試
験圧力が変動して測定誤差が大きくなり、また試
験回路内に試験ガスが残存したままでは、最近オ
ゾン層の破壊原因となることで問題となつている
フロンガスが大気中に排出されることになるので
好ましくない。
回収装置は、試験される弁やトラツプなどの容積
の相違により、１回の試験に試験回路に導入され
る試験用ガスの量が大幅に異なる。このため、試
験ガスの回収に長時間を要する問題があり、多数
の被試験物を流れ作業で処理する場合に不都合が
多い。その原因は、一定の能力を有する真空ポン
プ４及びコンプレツサ６と、一定容積の中間タン
ク５との組合せであるから、例えば小容積の弁の
試験後の回収においては中間タンク５内は低圧で
あり、コンプレツサ６で加圧するのに時間がかか
り、逆に大容積の弁の試験後の回収においては中
間タンク５内の圧力が高くなり、真空ポンプで吸
引するのに時間がかかることにある。そして、試
験ガス供給時の圧力タンク２内の圧力は、試験回
路の試験圧力となるものであり、試験ガスの回収
が十分に行われることによつて安定を保たれるか
ら、不用意に試験ガス回収時間を短縮すると、試
験圧力が変動して測定誤差が大きくなり、また試
験回路内に試験ガスが残存したままでは、最近オ
ゾン層の破壊原因となることで問題となつている
フロンガスが大気中に排出されることになるので
好ましくない。
そこで、この発明は被試験物の容積の大小にか
かわらず、常に真空ポンプ並びにコンプレツサが
高効率で稼動できるようにすることを課題とす
る。
かわらず、常に真空ポンプ並びにコンプレツサが
高効率で稼動できるようにすることを課題とす
る。
〈課題を解決するための手段〉
この発明の手段は、前記試験用ガス回収装置に
おいて、中間タンクの壁面の一部を外面に大気圧
の作用するダイヤフラムで形成したことを特徴と
する。
おいて、中間タンクの壁面の一部を外面に大気圧
の作用するダイヤフラムで形成したことを特徴と
する。
〈作用〉
中間タンクがダイヤフラムを有していることか
ら、中間タンクは内部のガス量が変化してもダイ
ヤフラムの変位により圧力は略大気圧に等しい一
定圧力に維持される。これによつて真空ポンプは
吐出側の圧力が略大気圧に等しい一定の圧力とな
るから、試験回路内のガス量の大小にかかわらず
効率良く稼動し、コンプレツサも吸込側の圧力が
略大気圧に等しい一定の圧力であるから、効率良
く稼動する。従つて、試験ガスの回収が速やかに
行われる。
ら、中間タンクは内部のガス量が変化してもダイ
ヤフラムの変位により圧力は略大気圧に等しい一
定圧力に維持される。これによつて真空ポンプは
吐出側の圧力が略大気圧に等しい一定の圧力とな
るから、試験回路内のガス量の大小にかかわらず
効率良く稼動し、コンプレツサも吸込側の圧力が
略大気圧に等しい一定の圧力であるから、効率良
く稼動する。従つて、試験ガスの回収が速やかに
行われる。
〈実施例〉
第１図にこの発明の１実施例の主要部を示す。
この実施例は第２図に示した従来の装置における
中間タンク５を第１図に示す中間タンク５ａと置
換えた点が相違しており、他は同じである。
この実施例は第２図に示した従来の装置における
中間タンク５を第１図に示す中間タンク５ａと置
換えた点が相違しており、他は同じである。
中間タンク５ａは、金属製の上半部１０及び下
半部１１とをそれぞれのフランジ部１２，１３の
間にダイヤフラム１４の外周縁部を挟んで結合
し、下半部１１とダイヤフラム１４で形成される
空間が実質的なタンクとなつている。図中１５は
真空ポンプ４の吐出側を接続された流入口、１６
はコンプレツサ６の吸込側を接続された流出口で
あり、１７は大気に開放された連通孔である。
半部１１とをそれぞれのフランジ部１２，１３の
間にダイヤフラム１４の外周縁部を挟んで結合
し、下半部１１とダイヤフラム１４で形成される
空間が実質的なタンクとなつている。図中１５は
真空ポンプ４の吐出側を接続された流入口、１６
はコンプレツサ６の吸込側を接続された流出口で
あり、１７は大気に開放された連通孔である。
この中間タンク５ａを有する試験用ガス回収装
置は、第２図に示した装置と同様に使用でき、そ
の場合に、中間タンク５ａがダイヤフラム１４に
より大気圧に維持されるから、真空ポンプ４及び
コンプレツサ６が効率良く稼動する。従つて、試
験回路に導入されるガス量に変動があつても、従
来より短時間で圧力タンク２側へ回収できる。こ
れによつて圧力タンク２の圧力が変動しないか
ら、リーク試験を高精度で行うことができると共
にリーク試験工程に要する時間を短縮できる。
置は、第２図に示した装置と同様に使用でき、そ
の場合に、中間タンク５ａがダイヤフラム１４に
より大気圧に維持されるから、真空ポンプ４及び
コンプレツサ６が効率良く稼動する。従つて、試
験回路に導入されるガス量に変動があつても、従
来より短時間で圧力タンク２側へ回収できる。こ
れによつて圧力タンク２の圧力が変動しないか
ら、リーク試験を高精度で行うことができると共
にリーク試験工程に要する時間を短縮できる。
〈発明の効果〉
この発明によれば、試験回路に導入される試験
ガスの容積が変動しても、真空ポンプとコンプレ
ツサの効率を高く維持できるから、試験回路から
の試験ガスの回収を速やかに行うことができ、試
験工程に要する時間を従来よりも短縮できる。そ
して試験ガスの十分な回収により圧力タンクの試
験圧力が安定に保たれるから、リーク量測定によ
る合否の判定精度が向上する。
ガスの容積が変動しても、真空ポンプとコンプレ
ツサの効率を高く維持できるから、試験回路から
の試験ガスの回収を速やかに行うことができ、試
験工程に要する時間を従来よりも短縮できる。そ
して試験ガスの十分な回収により圧力タンクの試
験圧力が安定に保たれるから、リーク量測定によ
る合否の判定精度が向上する。
第１図はこの発明の試験用ガス回収装置の主要
部の概略の構造を示す縦断面図、第２図は従来の
試験用ガス回収装置の流体回路の概略を示す回路
図である。 １……試験する弁、V1……第１開閉弁、V2…
…第２開閉弁、２……圧力タンク、３……リーク
テスタ、４……真空ポンプ、５ａ……中間タン
ク、６……コンプレツサ。
部の概略の構造を示す縦断面図、第２図は従来の
試験用ガス回収装置の流体回路の概略を示す回路
図である。 １……試験する弁、V1……第１開閉弁、V2…
…第２開閉弁、２……圧力タンク、３……リーク
テスタ、４……真空ポンプ、５ａ……中間タン
ク、６……コンプレツサ。
Claims (1)
- １ 圧力タンク内の試験ガスをその圧力タンクに
第１開閉弁を介して接続した回路内で使用した後
その回路内の試験ガスを第２開閉弁を介して順次
接続する真空ポンプ、中間タンク、コンプレツサ
により回収して前記圧力タンクへ戻す試験用ガス
回収装置において、前記中間タンクの壁面の一部
を外面に大気圧の作用するダイヤフラムで形成し
たことを特徴とする試験用ガス回収装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14761588A JPH01314934A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 試験用ガス回収装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14761588A JPH01314934A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 試験用ガス回収装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01314934A JPH01314934A (ja) | 1989-12-20 |
| JPH0567895B2 true JPH0567895B2 (ja) | 1993-09-27 |
Family
ID=15434329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14761588A Granted JPH01314934A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | 試験用ガス回収装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01314934A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0583497U (ja) * | 1991-05-07 | 1993-11-12 | サンデン株式会社 | 制振装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100590038B1 (ko) | 2004-09-07 | 2006-06-14 | 삼성에스디아이 주식회사 | 연료 전지 시스템 및 연료 공급장치 |
| KR101951912B1 (ko) * | 2017-11-28 | 2019-03-07 | 고등기술연구원연구조합 | 분체 밸브용 복합 성능 시험장치 및 시험방법 |
-
1988
- 1988-06-15 JP JP14761588A patent/JPH01314934A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0583497U (ja) * | 1991-05-07 | 1993-11-12 | サンデン株式会社 | 制振装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01314934A (ja) | 1989-12-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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