JPH0566192A - 液体または気体中の粒子状物質の粒径測定方法および粒径測定装置 - Google Patents
液体または気体中の粒子状物質の粒径測定方法および粒径測定装置Info
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- JPH0566192A JPH0566192A JP3254716A JP25471691A JPH0566192A JP H0566192 A JPH0566192 A JP H0566192A JP 3254716 A JP3254716 A JP 3254716A JP 25471691 A JP25471691 A JP 25471691A JP H0566192 A JPH0566192 A JP H0566192A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 レ−ザ−ブレ−クダウン音響波計測法による
液体または気体中の粒子状物質の粒径測定において、そ
の分解能、測定精度を向上させる粒子状物質の粒径の測
定方法およびその測定装置を提供する。 【構成】 粒子状物質のブレ−クダウンによって発生す
る音響波を二個所以上の地点で検出してその到達時間差
から粒子状物質のブレ−クダウン位置を測定し、同時に
発生するプラズマ光が受け取った光エネルギ−によって
検出した音響波の振幅を補正して粒子状物質の粒径測定
の精度を向上する。
液体または気体中の粒子状物質の粒径測定において、そ
の分解能、測定精度を向上させる粒子状物質の粒径の測
定方法およびその測定装置を提供する。 【構成】 粒子状物質のブレ−クダウンによって発生す
る音響波を二個所以上の地点で検出してその到達時間差
から粒子状物質のブレ−クダウン位置を測定し、同時に
発生するプラズマ光が受け取った光エネルギ−によって
検出した音響波の振幅を補正して粒子状物質の粒径測定
の精度を向上する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レ−ザ−ブレ−クダウ
ン音響波計測法による液体または気体中の粒子状物質
(固体または液体)の粒径測定方法およびその測定装置
に関するものである。
ン音響波計測法による液体または気体中の粒子状物質
(固体または液体)の粒径測定方法およびその測定装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、液体または気体中の粒子状物質計
測法として、例えば特開平1-259240号公報に開示されて
いるレ−ザ−ブレ−クダウン計測法がしられている。粒
径が0.1 μmのオ−ダ−の粒子の計測には、粒子状物質
からのミ−散乱を用いたレ−ザ−光散乱法が実用化され
たのみで現在に至っている。ところが、粒子状物質の粒
径が小さくなるにつれて、粒子状物質からの散乱光強度
に比べて媒質(水など) からの散乱光強度や、散乱光に
乗る雑音信号 (液体を入れる容器の表面からの迷光な
ど)が無視できなくなる。このため、光散乱法による計
測も困難になる。そこで、こうした雑音を減らすため、
様々な技術的工夫が行われている。また、この間のレ−
ザ−技術の進歩とあいまって、現在では、超純水中の粒
子状物質については、粒径が0.07μm程度のものまで測
定可能な光散乱式計測機器が実用化されている。しか
し、光散乱法では、液体中に気泡が存在する場合、その
気泡を粒子と誤計測することが避けられない。また、測
定セルの壁面が光を透過する必要があり、かつ薬液にた
いしても腐食に耐えられる材料とする必要から使用可能
な材料にも限りがある。それゆえ、洗浄薬液中の粒子状
物質については、最小可測粒径が0.2 μmまでの測定器
しか実用化されていない。
測法として、例えば特開平1-259240号公報に開示されて
いるレ−ザ−ブレ−クダウン計測法がしられている。粒
径が0.1 μmのオ−ダ−の粒子の計測には、粒子状物質
からのミ−散乱を用いたレ−ザ−光散乱法が実用化され
たのみで現在に至っている。ところが、粒子状物質の粒
径が小さくなるにつれて、粒子状物質からの散乱光強度
に比べて媒質(水など) からの散乱光強度や、散乱光に
乗る雑音信号 (液体を入れる容器の表面からの迷光な
ど)が無視できなくなる。このため、光散乱法による計
測も困難になる。そこで、こうした雑音を減らすため、
様々な技術的工夫が行われている。また、この間のレ−
ザ−技術の進歩とあいまって、現在では、超純水中の粒
子状物質については、粒径が0.07μm程度のものまで測
定可能な光散乱式計測機器が実用化されている。しか
し、光散乱法では、液体中に気泡が存在する場合、その
気泡を粒子と誤計測することが避けられない。また、測
定セルの壁面が光を透過する必要があり、かつ薬液にた
いしても腐食に耐えられる材料とする必要から使用可能
な材料にも限りがある。それゆえ、洗浄薬液中の粒子状
物質については、最小可測粒径が0.2 μmまでの測定器
しか実用化されていない。
【0003】こうした状況のなかで、新しい液体または
気体中の粒子状物質の計測法の一つとしてレ−ザ−ブレ
−クダウン音響波計測法が最も実用化に近いものとして
注目され、研究が進められている。レ−ザ−ブレ−クダ
ウンとは、高光密度をもつレ−ザ−光の集光による強い
熱エネルギ−によって物質がプラズマ化する現象であ
る。このとき発生する音響波信号から、粒子状物質の情
報が得られる。レ−ザ−ブレ−クダウン法は、この現象
を利用した液体または気体中の粒子状物質の計測法であ
る。このレ−ザ−ブレ−クダウン法による粒子状物質の
計測では、レンズ系により集光されたレ−ザ−ビ−ム
は、焦点付近に、液体および気体中の粒子がブレ−クダ
ウンを起こす領域 (ビ−ムウエストという)を形成する
(図3参照) 。このビ−ムウエスト中で粒子状物質がブ
レ−クダウンを起こす。このときに発生する音響波の振
幅の分布を求めることによって試料液体または気体中の
粒子状物質の粒径を測定することができる。
気体中の粒子状物質の計測法の一つとしてレ−ザ−ブレ
−クダウン音響波計測法が最も実用化に近いものとして
注目され、研究が進められている。レ−ザ−ブレ−クダ
ウンとは、高光密度をもつレ−ザ−光の集光による強い
熱エネルギ−によって物質がプラズマ化する現象であ
る。このとき発生する音響波信号から、粒子状物質の情
報が得られる。レ−ザ−ブレ−クダウン法は、この現象
を利用した液体または気体中の粒子状物質の計測法であ
る。このレ−ザ−ブレ−クダウン法による粒子状物質の
計測では、レンズ系により集光されたレ−ザ−ビ−ム
は、焦点付近に、液体および気体中の粒子がブレ−クダ
ウンを起こす領域 (ビ−ムウエストという)を形成する
(図3参照) 。このビ−ムウエスト中で粒子状物質がブ
レ−クダウンを起こす。このときに発生する音響波の振
幅の分布を求めることによって試料液体または気体中の
粒子状物質の粒径を測定することができる。
【0004】しかし、この方法では、発生する音響波の
振幅の分布幅が大きく、このため、発生する音響波から
粒径を測定する際は、分解能が著しく悪いという問題点
があった。これは以下に述べるような理由によるものと
思われる。すなわち、液体または気体中の粒子状物質の
ブレ−クダウンにより発生するプラズマの直径は、約1
00μm前後であることが実験によって知られている。
このプラズマが吸収する光エネルギ−量は、プラズマ光
が受ける光エネルギ−の総量に比例する。それは、ビ−
ムウエストと粒子状物質のブレ−クダウン位置との相対
的位置関係によって異なる。一方、発生音響波の振幅
は、この吸収する光エネルギ−量と相関関係にある。以
上をまとめれば、発生音響波の振幅は、粒子状物質のブ
レ−クダウンした位置に大きく依存することがわかる。
従来の粒子状物質のブレ−クダウンによる発生音響波の
測定の際は位置による上記の効果が考慮されていなかっ
た。このために分解能が著しく悪化するという問題を生
ずる。
振幅の分布幅が大きく、このため、発生する音響波から
粒径を測定する際は、分解能が著しく悪いという問題点
があった。これは以下に述べるような理由によるものと
思われる。すなわち、液体または気体中の粒子状物質の
ブレ−クダウンにより発生するプラズマの直径は、約1
00μm前後であることが実験によって知られている。
このプラズマが吸収する光エネルギ−量は、プラズマ光
が受ける光エネルギ−の総量に比例する。それは、ビ−
ムウエストと粒子状物質のブレ−クダウン位置との相対
的位置関係によって異なる。一方、発生音響波の振幅
は、この吸収する光エネルギ−量と相関関係にある。以
上をまとめれば、発生音響波の振幅は、粒子状物質のブ
レ−クダウンした位置に大きく依存することがわかる。
従来の粒子状物質のブレ−クダウンによる発生音響波の
測定の際は位置による上記の効果が考慮されていなかっ
た。このために分解能が著しく悪化するという問題を生
ずる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、液体または
気体中の粒子状物質のレ−ザ−ブレ−クダウン音響波計
測法による粒径測定において、位置による効果を取り入
れて振幅の揺らぎを補正し、分解能を大きく向上させる
ことによって、精度を高めた粒径測定方法およびその装
置を提供するためになされたものである。
気体中の粒子状物質のレ−ザ−ブレ−クダウン音響波計
測法による粒径測定において、位置による効果を取り入
れて振幅の揺らぎを補正し、分解能を大きく向上させる
ことによって、精度を高めた粒径測定方法およびその装
置を提供するためになされたものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は 液体または気体中の粒子状物質を高光密度のレ−ザ−
光で瞬時にプラズマ化(ブレ−クダウン)させたときに
発生する音響波を計測することによって、該粒子状物質
の粒径を測定するレ−ザ−ブレ−クダウン音響波計測法
において、前記ブレ−クダウンにより発生した音響波を
二個所以上の地点で検出してブレ−クダウンの位置を測
定することによって、該音響波の振幅の揺らぎを補正
し、粒径測定の分解能をあげることを特徴とする液体ま
たは気体中の粒子状物質の粒径測定方法であり、また
光で瞬時にプラズマ化(ブレ−クダウン)させたときに
発生する音響波を計測することによって、該粒子状物質
の粒径を測定するレ−ザ−ブレ−クダウン音響波計測法
において、前記ブレ−クダウンにより発生した音響波を
二個所以上の地点で検出してブレ−クダウンの位置を測
定することによって、該音響波の振幅の揺らぎを補正
し、粒径測定の分解能をあげることを特徴とする液体ま
たは気体中の粒子状物質の粒径測定方法であり、また
【0007】粒子状物質の高光密度のレ−ザ−光によ
るブレ−クダウンによって発生した音響波の振幅を検出
する装置、該音響波を二個所以上の地点で検出する装
置、該音響波の到達時間差から粒子状物質のブレ−クダ
ウン位置を計算する装置、ビ−ムウエストの形とエネル
ギ−分布を計算する装置、ビ−ムウエスト中における粒
子状物質のブレ−クダウン位置を計算する装置、粒子状
物質のブレ−クダウンにより発生したプラズマ光がレ−
ザ−光から受け取った光エネルギ−を計算する装置、前
記計算を基にして音響波の振幅の検出値を補正する装置
および前記補正された音響波の振幅分布から粒子状物質
の粒径を測定する装置とを、従来のレ−ザ−ブレ−クダ
ウン音響波計測装置に備えていることを特徴とするレ−
ザ−ブレ−クダウン音響波計測法による液体または気体
中の粒子状物質の粒径測定装置である。
るブレ−クダウンによって発生した音響波の振幅を検出
する装置、該音響波を二個所以上の地点で検出する装
置、該音響波の到達時間差から粒子状物質のブレ−クダ
ウン位置を計算する装置、ビ−ムウエストの形とエネル
ギ−分布を計算する装置、ビ−ムウエスト中における粒
子状物質のブレ−クダウン位置を計算する装置、粒子状
物質のブレ−クダウンにより発生したプラズマ光がレ−
ザ−光から受け取った光エネルギ−を計算する装置、前
記計算を基にして音響波の振幅の検出値を補正する装置
および前記補正された音響波の振幅分布から粒子状物質
の粒径を測定する装置とを、従来のレ−ザ−ブレ−クダ
ウン音響波計測装置に備えていることを特徴とするレ−
ザ−ブレ−クダウン音響波計測法による液体または気体
中の粒子状物質の粒径測定装置である。
【0008】
【作用】まず、粒子状物質の測定セルに音響波検出セン
サ−を二個所以上に装着し、該センサ−にブレ−クダウ
ンによる音響波が到達する時間の差を測定することによ
ってレ−ザ−光によりブレ−クダウンした粒子状物質の
位置を検出する。音響波検出センサ−6および6′に粒
子状物質のブレ−クダウンによる発生音響波信号が到達
する時間t1 、t2は次式で表される。 t1 −t2 =(2X−l)/c ただし、cは試料液体または気体中の音速、Xは音響波
信号検出センサ−6および6′からブレ−クダウンした
粒子状物質までの距離、lは音響波信号検出センサ−6
および6′間の距離である。この式からXは、2つの音
響波信号検出センサ−6および6′のブレ−クダウンに
よる発生音響波信号が到達する時間差から次式によって
求めることができる。 X=〔c(t1 −t2 )+l〕/2 こうして、ブレ−クダウンによる発生音響波信号が到達
する時間差から求めたXの値から、レ−ザ−光によって
ブレ−クダウンした粒子状物質のビ−ムウエストに対す
る相対位置を求める。
サ−を二個所以上に装着し、該センサ−にブレ−クダウ
ンによる音響波が到達する時間の差を測定することによ
ってレ−ザ−光によりブレ−クダウンした粒子状物質の
位置を検出する。音響波検出センサ−6および6′に粒
子状物質のブレ−クダウンによる発生音響波信号が到達
する時間t1 、t2は次式で表される。 t1 −t2 =(2X−l)/c ただし、cは試料液体または気体中の音速、Xは音響波
信号検出センサ−6および6′からブレ−クダウンした
粒子状物質までの距離、lは音響波信号検出センサ−6
および6′間の距離である。この式からXは、2つの音
響波信号検出センサ−6および6′のブレ−クダウンに
よる発生音響波信号が到達する時間差から次式によって
求めることができる。 X=〔c(t1 −t2 )+l〕/2 こうして、ブレ−クダウンによる発生音響波信号が到達
する時間差から求めたXの値から、レ−ザ−光によって
ブレ−クダウンした粒子状物質のビ−ムウエストに対す
る相対位置を求める。
【0009】ビームウエストの形はレ−ザ−ビ−ムの直
径、集光レンズの焦点距離、レ−ザ−ビ−ムの波長によ
り決定される。このようにして決定されたビ−ムウエス
トの形と、セルに照射されたレ−ザ−ビ−ムの光エネル
ギ−からビ−ムウエストの範囲が決定される。こうし
て、粒子状物質のブレ−クダウンによって発生したプラ
ズマ光がレ−ザ−光から受け取った光エネルギ−が計算
される。これによって、粒子状物質のブレ−クダウンに
よって発生する音響波の振幅の揺らぎを補正することが
できる。レ−ザ−ビ−ムの伝播する方向をz軸とする。
また、ビ−ムウエストの中心をz=0とする。z=0で
ブレ−クダウンした粒子状物質からの音響波の振幅は、
ビ−ムウエストの中心点z=0でのその最大値と比べて 〔1+(λz/nπw0 2)2 〕-1 倍になっていることが予想される。これが音響波の振幅
の最大値の補正係数となる。ただし、λはレ−ザ−光波
長、nは標準液の媒質の屈折率、πは円周率である。ま
た、w0 は、レ−ザ−ビ−ムが集光レンズで集光された
際におきる光の回拆限界により決定されるビ−ムウエス
トの最小半径で次式で表される。 w0 =1.2(F/D)(λ/n) ただし、Fは集光レンズの焦点距離、Dはレ−ザ−ビ−
ムの直径である。
径、集光レンズの焦点距離、レ−ザ−ビ−ムの波長によ
り決定される。このようにして決定されたビ−ムウエス
トの形と、セルに照射されたレ−ザ−ビ−ムの光エネル
ギ−からビ−ムウエストの範囲が決定される。こうし
て、粒子状物質のブレ−クダウンによって発生したプラ
ズマ光がレ−ザ−光から受け取った光エネルギ−が計算
される。これによって、粒子状物質のブレ−クダウンに
よって発生する音響波の振幅の揺らぎを補正することが
できる。レ−ザ−ビ−ムの伝播する方向をz軸とする。
また、ビ−ムウエストの中心をz=0とする。z=0で
ブレ−クダウンした粒子状物質からの音響波の振幅は、
ビ−ムウエストの中心点z=0でのその最大値と比べて 〔1+(λz/nπw0 2)2 〕-1 倍になっていることが予想される。これが音響波の振幅
の最大値の補正係数となる。ただし、λはレ−ザ−光波
長、nは標準液の媒質の屈折率、πは円周率である。ま
た、w0 は、レ−ザ−ビ−ムが集光レンズで集光された
際におきる光の回拆限界により決定されるビ−ムウエス
トの最小半径で次式で表される。 w0 =1.2(F/D)(λ/n) ただし、Fは集光レンズの焦点距離、Dはレ−ザ−ビ−
ムの直径である。
【0010】以上により、ブレ−クダウン位置の測定
を、発生する音響波の振幅の測定と同時におこなうこと
により、粒子状物質のブレ−クダウンの位置による、音
響波の振幅の揺らぎを補正し、粒子状物質の粒径を求め
る際の分解能を著しく向上することができる。本発明に
よると、粒子状物質のブレ−クダウンの際に発生するプ
ラスマ光の位置を発生音響波と同時に測定する機能をも
ち、さらに発生音響波の振幅の揺らぎを補正する機能を
持つことにより、レ−ザ−ブレ−クダウン法による粒子
状物質の計測における粒径測定の精度を著しく向上する
ことができる。
を、発生する音響波の振幅の測定と同時におこなうこと
により、粒子状物質のブレ−クダウンの位置による、音
響波の振幅の揺らぎを補正し、粒子状物質の粒径を求め
る際の分解能を著しく向上することができる。本発明に
よると、粒子状物質のブレ−クダウンの際に発生するプ
ラスマ光の位置を発生音響波と同時に測定する機能をも
ち、さらに発生音響波の振幅の揺らぎを補正する機能を
持つことにより、レ−ザ−ブレ−クダウン法による粒子
状物質の計測における粒径測定の精度を著しく向上する
ことができる。
【0011】
【実施例】本発明の実施例を図1および図2にしたがっ
て説明する。図1において、1はレ−ザ−ビームの光
路、2は集光レンズ、6および6′は音響波信号検出セ
ンサー、7および7′は音響波信号取り出しケ−ブルで
ある。8は粒子状物質測定セル、9はQスイッチYAG
パルスレ−ザ−、10は測定試料供給装置であり、測定
する液体または気体流路へ接続されており、測定試料排
出装置10′を通して排出する。11は偏光フィルタ
で、フィルタを回転させることによりレ−ザ−光密度を
調整する。
て説明する。図1において、1はレ−ザ−ビームの光
路、2は集光レンズ、6および6′は音響波信号検出セ
ンサー、7および7′は音響波信号取り出しケ−ブルで
ある。8は粒子状物質測定セル、9はQスイッチYAG
パルスレ−ザ−、10は測定試料供給装置であり、測定
する液体または気体流路へ接続されており、測定試料排
出装置10′を通して排出する。11は偏光フィルタ
で、フィルタを回転させることによりレ−ザ−光密度を
調整する。
【0012】12はレ−ザ−ビ−ムの直径調整用絞りで
ある。13は集光レンズ位置検出器、14は集光レンズ
位置制御器、15は集光レンズ位置検出線、16は集光
レンズ位置制御線、17は絞り度検出器、18は絞り度
制御器、19は絞り度検出線、20は絞り度制御線であ
る。21は偏光フィルタ回転制御器、22は偏光フィル
タ位置検出器、23は偏光フィルタ回転制御線、24は
偏光フィルタ回転計算線である。25および25′は音
響波信号検出回路、26は検出信号処理と光学系(集光
レンズ、偏光フィルタ、絞り等からなる)の位置の検出
制御用の計算機である。
ある。13は集光レンズ位置検出器、14は集光レンズ
位置制御器、15は集光レンズ位置検出線、16は集光
レンズ位置制御線、17は絞り度検出器、18は絞り度
制御器、19は絞り度検出線、20は絞り度制御線であ
る。21は偏光フィルタ回転制御器、22は偏光フィル
タ位置検出器、23は偏光フィルタ回転制御線、24は
偏光フィルタ回転計算線である。25および25′は音
響波信号検出回路、26は検出信号処理と光学系(集光
レンズ、偏光フィルタ、絞り等からなる)の位置の検出
制御用の計算機である。
【0013】以下、計算機26の詳細について図2によ
って説明する。27および27′は音響波発生時間計算
機、28は音響波の振幅検出器、29は音響波の到達時
間差計算機、30はブレ−クダウン粒子の位置計算機、
31はブレ−クダウンした粒子状物質のビ−ムウエスト
に対する相対位置計算機である。32はレ−ザ−ビ−ム
の光エネルギ−設定器であり、33は集光レンズの焦点
距離設定器、34はレ−ザ−ビ−ムの波長設定器、35
は集光レンズの位置計算機、36は集光レンズの位置設
定器、37は絞り度計算機、38は絞り度設定器であ
る。39は偏光フィルタ位置設定器、40は偏光フィル
タ位置計算機である。41はビ−ムウエストの形、エネ
ルギ−分布計算機、42はビ−ムウエストの形、エネル
ギ−分布設定器、43はビ−ムウエストの中心位置計算
機、44はプラズマ光の受け取った光エネルギ−計算機
である。45は音響波の振幅補正器、46は音響波デ−
タのメモリ−装置であり、47は信号ケ−ブルである。
以上の機器によって得られたデ−タはデ−タ出力装置4
8(図1)を通して出力される。
って説明する。27および27′は音響波発生時間計算
機、28は音響波の振幅検出器、29は音響波の到達時
間差計算機、30はブレ−クダウン粒子の位置計算機、
31はブレ−クダウンした粒子状物質のビ−ムウエスト
に対する相対位置計算機である。32はレ−ザ−ビ−ム
の光エネルギ−設定器であり、33は集光レンズの焦点
距離設定器、34はレ−ザ−ビ−ムの波長設定器、35
は集光レンズの位置計算機、36は集光レンズの位置設
定器、37は絞り度計算機、38は絞り度設定器であ
る。39は偏光フィルタ位置設定器、40は偏光フィル
タ位置計算機である。41はビ−ムウエストの形、エネ
ルギ−分布計算機、42はビ−ムウエストの形、エネル
ギ−分布設定器、43はビ−ムウエストの中心位置計算
機、44はプラズマ光の受け取った光エネルギ−計算機
である。45は音響波の振幅補正器、46は音響波デ−
タのメモリ−装置であり、47は信号ケ−ブルである。
以上の機器によって得られたデ−タはデ−タ出力装置4
8(図1)を通して出力される。
【0014】測定操作にあたっては、まず、ビ−ムウエ
スト4の位置とエネルギ−分布の初期調整のために、パ
ルスレ−ザ−9からレ−ザ−ビ−ム1を粒子状物質測定
セル8に照射しながら、測定試料供給装置10から試料
を粒子状物質測定セル8に向けて流す。このとき、ビ−
ムウエストの形、エネルギ−分布設定器42によりビ−
ムウエストの形とエネルギ−分布を設定する。それを基
に、集光レンズの位置設定器36で集光レンズ2の位置
を決定し、集光レンズ位置制御線16を通して、集光レ
ンズ位置制御器14で集光レンズ2の位置を調整する。
また、絞り度設定器38によってレ−ザ−ビ−ム1の直
径を設定し、絞り度制御線20を通して、絞り度制御器
18で絞り度を調整する。
スト4の位置とエネルギ−分布の初期調整のために、パ
ルスレ−ザ−9からレ−ザ−ビ−ム1を粒子状物質測定
セル8に照射しながら、測定試料供給装置10から試料
を粒子状物質測定セル8に向けて流す。このとき、ビ−
ムウエストの形、エネルギ−分布設定器42によりビ−
ムウエストの形とエネルギ−分布を設定する。それを基
に、集光レンズの位置設定器36で集光レンズ2の位置
を決定し、集光レンズ位置制御線16を通して、集光レ
ンズ位置制御器14で集光レンズ2の位置を調整する。
また、絞り度設定器38によってレ−ザ−ビ−ム1の直
径を設定し、絞り度制御線20を通して、絞り度制御器
18で絞り度を調整する。
【0015】さらに、偏光フィルタ位置設定器39で、
偏光フィルタ11の回転位置を設定し、偏光フィルタ回
転制御線23を通して、偏光フィルタ回転制御器21で
偏光フィルタ11の回転位置を調整する。ビ−ムウエス
トの実際の形とエネルギ−分布は、ビ−ムウエストの
形、エネルギ−分布計算機41で計算される。この計算
に必要な集光レンズ2の位置デ−タは、集光レンズ位置
検出器13から得られたデ−タを基に、集光レンズ位置
検出線15を通して、集光レンズの位置計算機35で計
算して得る。また、レ−ザ−ビ−ム1の直径のデ−タは
絞り度検出器17から得たデ−タを基に、絞り度検出線
19を通して、絞り度計算機37で計算して得る。さら
に、粒子状物質測定セル8に照射されるレ−ザ−ビ−ム
1のエネルギ−デ−タは偏光フィルタ位置検出器22か
ら得たデ−タを基に偏光フィルタ回転計算線24を通し
て偏光フィルタ位置計算機40で偏光フィルタ11の位
置を計算し、レ−ザ−ビ−ムの光エネルギ−設定器32
の値とあわせて計算して得る。この際、レ−ザ−ビ−ム
の波長設定器34、集光レンズの焦点器距離設定器33
での値も計算の際に考慮される。
偏光フィルタ11の回転位置を設定し、偏光フィルタ回
転制御線23を通して、偏光フィルタ回転制御器21で
偏光フィルタ11の回転位置を調整する。ビ−ムウエス
トの実際の形とエネルギ−分布は、ビ−ムウエストの
形、エネルギ−分布計算機41で計算される。この計算
に必要な集光レンズ2の位置デ−タは、集光レンズ位置
検出器13から得られたデ−タを基に、集光レンズ位置
検出線15を通して、集光レンズの位置計算機35で計
算して得る。また、レ−ザ−ビ−ム1の直径のデ−タは
絞り度検出器17から得たデ−タを基に、絞り度検出線
19を通して、絞り度計算機37で計算して得る。さら
に、粒子状物質測定セル8に照射されるレ−ザ−ビ−ム
1のエネルギ−デ−タは偏光フィルタ位置検出器22か
ら得たデ−タを基に偏光フィルタ回転計算線24を通し
て偏光フィルタ位置計算機40で偏光フィルタ11の位
置を計算し、レ−ザ−ビ−ムの光エネルギ−設定器32
の値とあわせて計算して得る。この際、レ−ザ−ビ−ム
の波長設定器34、集光レンズの焦点器距離設定器33
での値も計算の際に考慮される。
【0016】こうして得られたビームウエストの実際の
形とエネルギ−分布を基に、ビームウエストの中心位置
計算機43でビ−ムウエスト4の中心位置を計算する。
この位置が粒子状物質測定セル8の範囲外になるようで
あったら、ビ−ムウエストの形とエネルギ−分布の設定
をやり直す指令をビ−ムウエストの形、エネルギ−分布
設定器42に送り、ビ−ムウエストの形、エネルギ−分
布の設定をやりなおす。一方、音響波信号検出回路25
および25′によって検出された二個所のセンサ−6お
よび6′からの粒子状物質のブレ−クダウンによる音響
波信号を用いて、音響波発生時間計算機27および2
7′によって音響波信号の時間差を計算し、これを基に
ブレ−クダウン粒子の位置計算機30を用いて粒子状物
質のブレ−クダウンの位置を計算する。
形とエネルギ−分布を基に、ビームウエストの中心位置
計算機43でビ−ムウエスト4の中心位置を計算する。
この位置が粒子状物質測定セル8の範囲外になるようで
あったら、ビ−ムウエストの形とエネルギ−分布の設定
をやり直す指令をビ−ムウエストの形、エネルギ−分布
設定器42に送り、ビ−ムウエストの形、エネルギ−分
布の設定をやりなおす。一方、音響波信号検出回路25
および25′によって検出された二個所のセンサ−6お
よび6′からの粒子状物質のブレ−クダウンによる音響
波信号を用いて、音響波発生時間計算機27および2
7′によって音響波信号の時間差を計算し、これを基に
ブレ−クダウン粒子の位置計算機30を用いて粒子状物
質のブレ−クダウンの位置を計算する。
【0017】この、ブレ−クダウンの位置デ−タと、粒
子状物質のビ−ムウエストに対する相対位置計算機31
によってビ−ムウエストに対するプラスマ光の相対位置
を計算する。同時にプラズマ光の受け取った光エネルギ
−計算機44でプラズマ光の受け取った光エネルギ−を
計算する。また、粒子状物質のブレ−クダウンによって
発生した音響波は、音響波信号検出回路25および2
5′によって検出した後、音響波の振幅検出器28でそ
の振幅を検出する。ここで、粒子状物質のブレ−クダウ
ンによって発生したプラズマ光の受け取った光エネルギ
−によって、検出した音響波の振幅を音響波の振幅補正
器45で補正する。このデ−タを音響波デ−タメモリ−
装置46に記憶させ、信号ケ−ブル47を通してデ−タ
出力装置48を通して出力する。
子状物質のビ−ムウエストに対する相対位置計算機31
によってビ−ムウエストに対するプラスマ光の相対位置
を計算する。同時にプラズマ光の受け取った光エネルギ
−計算機44でプラズマ光の受け取った光エネルギ−を
計算する。また、粒子状物質のブレ−クダウンによって
発生した音響波は、音響波信号検出回路25および2
5′によって検出した後、音響波の振幅検出器28でそ
の振幅を検出する。ここで、粒子状物質のブレ−クダウ
ンによって発生したプラズマ光の受け取った光エネルギ
−によって、検出した音響波の振幅を音響波の振幅補正
器45で補正する。このデ−タを音響波デ−タメモリ−
装置46に記憶させ、信号ケ−ブル47を通してデ−タ
出力装置48を通して出力する。
【0018】このデ−タを、音響波の振幅分布と粒子状
物質の粒径の間の検量線と比較して試料液体または気体
中の粒子状物質の粒径を測定する。一定の粒径の粒子状
物質を含む媒質について、音響波の振幅分布を測定した
結果、従来法では、図5に示すように振幅の分布幅が広
くなる。このため粒径測定の分解能は著しく低かった。
他方、本発明によると、図4に示すように振幅の分布幅
が狭くなり、粒径測定の分解能は著しく向上することが
できる。
物質の粒径の間の検量線と比較して試料液体または気体
中の粒子状物質の粒径を測定する。一定の粒径の粒子状
物質を含む媒質について、音響波の振幅分布を測定した
結果、従来法では、図5に示すように振幅の分布幅が広
くなる。このため粒径測定の分解能は著しく低かった。
他方、本発明によると、図4に示すように振幅の分布幅
が狭くなり、粒径測定の分解能は著しく向上することが
できる。
【0019】
【発明の効果】本発明によると、レ−ザ−ブレ−クダウ
ン音響波計測法による液体または気体中の粒子状物質
(固体または液体)の粒径を測定するとき、粒子状物質
のブレ−クダウンの位置を、二個所以上の異なる点に設
置した二個以上の音響波信号検出センサ−からの音響波
信号の時間差を測定して、音響波の振幅の揺らぎを補正
する機能を備えているため、効率と精度の高い粒径測定
ができるようになる。なお、本発明にかかる液体または
気体中の粒子状物質の粒径測定の方法および装置は粒子
状物質の他の特性の測定、例えば濃度等の測定について
も、ほぼ同様の効果をあけることができる。
ン音響波計測法による液体または気体中の粒子状物質
(固体または液体)の粒径を測定するとき、粒子状物質
のブレ−クダウンの位置を、二個所以上の異なる点に設
置した二個以上の音響波信号検出センサ−からの音響波
信号の時間差を測定して、音響波の振幅の揺らぎを補正
する機能を備えているため、効率と精度の高い粒径測定
ができるようになる。なお、本発明にかかる液体または
気体中の粒子状物質の粒径測定の方法および装置は粒子
状物質の他の特性の測定、例えば濃度等の測定について
も、ほぼ同様の効果をあけることができる。
【図1】実施例の機器の配置を示す概略説明図である。
【図2】実施例の計算機の内部の詳細図である。
【図3】レ−ザ−ブレ−クダウン法におけるビ−ムウエ
ストの位置の説明図である。
ストの位置の説明図である。
【図4】単一粒径の粒子状物質を含む媒質を対象とした
本発明方法による発生音響波の振幅分布の測定結果を示
す特性図である。
本発明方法による発生音響波の振幅分布の測定結果を示
す特性図である。
【図5】同じ媒質を対象とした従来法による発生音響波
の振幅分布の測定結果を示す特性図である。
の振幅分布の測定結果を示す特性図である。
1.レ−ザ−ビ−ムの光路 2.集光レンズ 3.粒子状物質 4.ビ−ムウエスト 5.発生音響波 6.音響波信号検出センサ− 6′.音響波信号検出センサ− 7.音響波信号取り出しケ−ブル 7′.音響波信号取り出しケ−ブル 8.粒子状物質測定セル 9.QスイッチYAGパルスレ−ザ− 10.測定試料供給装置 10′.測定試料排出装置 11.偏光フィルタ 12.レ−ザ−ビ−ムの直径調整用絞り 13.集光レンズ位置検出器 14.集光レンズ位置制御器 15.集光レンズ位置検出線 16.集光レンズ位置制御線 17.絞り度検出器 18.絞り度制御器 19.絞り度検出線 20.絞り度制御線 21.偏光フィルタ回転制御器 22.偏光フィルタ位置検出器 23.偏光フィルタ回転制御線 24.偏光フィルタ回転計算線 25.音響波信号検出回路 25′.音響波信号検出回路 26.計算機 27.音響波発生時間計算機 27′.音響波発生時間計算機 28.音響波の振幅検出器 29.音響波の到達時間差計算機 30.ブレ−クダウン粒子の位置計算機 31.粒子状物質のビ−ムウエストに対する相対位置計
算機 32.レ−ザ−ビ−ムの光エネルギ−設定器 33.集光レンズの焦点距離設定器 34.レ−ザ−ビ−ムの波長設定器 35.集光レンズの位置計算機 36.集光レンズの位置設定器 37.絞り度計算機 38.絞り度設定器 39.偏光フィルタ位置設定器 40.偏光フィルタ位置計算機 41.ビ−ムウエストの形、エネルギ−分布計算機 42.ビ−ムウエストの形、エネルギ−分布設定器 43.ビ−ムウエストの中心位置計算機 44.プラズマ光の受け取った光エネルギ−計算機 45.音響波の振幅補正器 46.音響波デ−タメモリ−装置 47.信号ケ−ブル 48.デ−タ出力装置
算機 32.レ−ザ−ビ−ムの光エネルギ−設定器 33.集光レンズの焦点距離設定器 34.レ−ザ−ビ−ムの波長設定器 35.集光レンズの位置計算機 36.集光レンズの位置設定器 37.絞り度計算機 38.絞り度設定器 39.偏光フィルタ位置設定器 40.偏光フィルタ位置計算機 41.ビ−ムウエストの形、エネルギ−分布計算機 42.ビ−ムウエストの形、エネルギ−分布設定器 43.ビ−ムウエストの中心位置計算機 44.プラズマ光の受け取った光エネルギ−計算機 45.音響波の振幅補正器 46.音響波デ−タメモリ−装置 47.信号ケ−ブル 48.デ−タ出力装置
Claims (2)
- 【請求項1】 液体または気体中の粒子状物質を高光密
度のレ−ザ−光で瞬時にプラズマ化(ブレ−クダウン)
させたときに発生する音響波を計測することによって、
該粒子状物質の粒径を測定するレ−ザ−ブレ−クダウン
音響波計測法において、前記ブレ−クダウンにより発生
した音響波を二個所以上の地点で検出してブレ−クダウ
ンの位置を測定することによって、該音響波の振幅の揺
らぎを補正し、粒径測定の分解能をあげることを特徴と
する液体または気体中の粒子状物質の粒径測定方法。 - 【請求項2】 粒子状物質の高光密度のレ−ザ−光によ
るブレ−クダウンによって発生した音響波の振幅を検出
する装置、該音響波を二個所以上の地点で検出する装
置、該音響波の到達時間差から粒子状物質のブレ−クダ
ウン位置を計算する装置、ビ−ムウエストの形とエネル
ギ−分布を計算する装置、ビ−ムウエスト中における粒
子状物質のブレ−クダウン位置を計算する装置、粒子状
物質のブレ−クダウンにより発生したプラズマ光がレ−
ザ−光から受け取った光エネルギ−を計算する装置、前
記計算を基にして該音響波の振幅の検出値を補正する装
置および前記補正された音響波の振幅分布から粒子状物
質の粒径を測定する装置とを、従来のレ−ザ−ブレ−ク
ダウン音響波計測装置に備えていることを特徴とするレ
−ザ−ブレ−クダウン音響波計測法による液体または気
体中の粒子状物質の粒径測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3254716A JPH0566192A (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 液体または気体中の粒子状物質の粒径測定方法および粒径測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3254716A JPH0566192A (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 液体または気体中の粒子状物質の粒径測定方法および粒径測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0566192A true JPH0566192A (ja) | 1993-03-19 |
Family
ID=17268858
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3254716A Pending JPH0566192A (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 液体または気体中の粒子状物質の粒径測定方法および粒径測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0566192A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022067652A (ja) * | 2020-10-20 | 2022-05-06 | 東友ファインケム株式会社 | 流動ナノ粒子の測定装置及びそれを用いたナノ粒子の判断方法 |
JP2022067655A (ja) * | 2020-10-20 | 2022-05-06 | 東友ファインケム株式会社 | 流動ナノ粒子の測定装置及びそれを用いたナノ粒子の判断方法 |
-
1991
- 1991-09-05 JP JP3254716A patent/JPH0566192A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022067652A (ja) * | 2020-10-20 | 2022-05-06 | 東友ファインケム株式会社 | 流動ナノ粒子の測定装置及びそれを用いたナノ粒子の判断方法 |
JP2022067655A (ja) * | 2020-10-20 | 2022-05-06 | 東友ファインケム株式会社 | 流動ナノ粒子の測定装置及びそれを用いたナノ粒子の判断方法 |
US11714041B2 (en) | 2020-10-20 | 2023-08-01 | Dongwoo Fine-Chem Co., Ltd. | Flow nanoparticle measurement device and method of determining nanoparticle using the same |
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