JPH0563090A - ヒユーズトリミング回路の調整方法 - Google Patents
ヒユーズトリミング回路の調整方法Info
- Publication number
- JPH0563090A JPH0563090A JP22172691A JP22172691A JPH0563090A JP H0563090 A JPH0563090 A JP H0563090A JP 22172691 A JP22172691 A JP 22172691A JP 22172691 A JP22172691 A JP 22172691A JP H0563090 A JPH0563090 A JP H0563090A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- trimming
- fuse
- data
- input
- selector
- Prior art date
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- Pending
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- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 トリミングヒューズをカットする前に、ヒュ
ーズをカットしたのと同じ状態をＩＣ内部に作り、トリ
ミングの前後で発生するパラメータの変化によるトリミ
ング不良を防止し、またトリミング情報を得るために、
電源電圧等を変えた場合に、ＩＣの動作電圧範囲から出
てしまい、動作不良になることから、トリミング情報が
得られなくなり、トリミングできなくなることを防止す
る。 【構成】 トリミングクロック入力パッド２とトリミン
グデータ入力パッド１及びトリミングクロックに同期し
てＩＣ内部に取り入れられたトリミングデータを格納す
るシフトレジスタ１６、１７、１８、トリミングヒュー
ズ２６、２７、２８からのデータと前記シフトレジスタ
１６、１７、１８からのデータをトリミングクロックの
入力レベルによって切り換えるセレクタ２５をヒューズ
トリミング回路に付加し、ヒューズをカットする前にヒ
ューズカット後の状態を確認した後ヒューズをカットす
る。
ーズをカットしたのと同じ状態をＩＣ内部に作り、トリ
ミングの前後で発生するパラメータの変化によるトリミ
ング不良を防止し、またトリミング情報を得るために、
電源電圧等を変えた場合に、ＩＣの動作電圧範囲から出
てしまい、動作不良になることから、トリミング情報が
得られなくなり、トリミングできなくなることを防止す
る。 【構成】 トリミングクロック入力パッド２とトリミン
グデータ入力パッド１及びトリミングクロックに同期し
てＩＣ内部に取り入れられたトリミングデータを格納す
るシフトレジスタ１６、１７、１８、トリミングヒュー
ズ２６、２７、２８からのデータと前記シフトレジスタ
１６、１７、１８からのデータをトリミングクロックの
入力レベルによって切り換えるセレクタ２５をヒューズ
トリミング回路に付加し、ヒューズをカットする前にヒ
ューズカット後の状態を確認した後ヒューズをカットす
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、パラメータのばらつ
きによるＩＣの特性のばらつきを、ヒューズを用いたト
リミングによって、規格内に納めようとするヒューズト
リミング回路の調整方法に関する。
きによるＩＣの特性のばらつきを、ヒューズを用いたト
リミングによって、規格内に納めようとするヒューズト
リミング回路の調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のヒューズトリミング回路では、ま
ず、ヒューズをカットする前にトリミングをしようとす
る特性を測定し、その結果からヒューズをカットする組
合わせを決めていた。
ず、ヒューズをカットする前にトリミングをしようとす
る特性を測定し、その結果からヒューズをカットする組
合わせを決めていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のヒュー
ズトリミング回路では、ヒューズをカットする前の特性
を測定するＩＣの状態と、ヒューズカット後のＩＣの実
使用の状態が変化した場合、ＩＣ内部のパラメータの変
化により、トリミング後の特性が規格からずれることが
あり、特に精度を要求される場合には不都合であった。
ズトリミング回路では、ヒューズをカットする前の特性
を測定するＩＣの状態と、ヒューズカット後のＩＣの実
使用の状態が変化した場合、ＩＣ内部のパラメータの変
化により、トリミング後の特性が規格からずれることが
あり、特に精度を要求される場合には不都合であった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、この発明は実際にヒューズをカットする前にトリミ
ングに際しＩＣ内部に読み込まれたデータによって仮ト
リミングを行い、所望の特性が得られるようなヒューズ
カットの組合わせを見つけてからヒューズをカットす
る。
に、この発明は実際にヒューズをカットする前にトリミ
ングに際しＩＣ内部に読み込まれたデータによって仮ト
リミングを行い、所望の特性が得られるようなヒューズ
カットの組合わせを見つけてからヒューズをカットす
る。
【０００５】
【作用】上記のように構成されたヒューズトリミング回
路において、仮トリミングを行うことによりトリミング
後の特性を知ることができるので、ヒューズトリミング
を行った時の所望の特性からのずれを防止できるのであ
る。
路において、仮トリミングを行うことによりトリミング
後の特性を知ることができるので、ヒューズトリミング
を行った時の所望の特性からのずれを防止できるのであ
る。
【０００６】
【実施例】以下に、この発明を３ビットのヒューズトリ
ミングに適応した実施例について図面に基づいて説明す
る。トリミングデータ信号Ａが入力されるトリミングデ
ータ入力パッド１はプルダウン抵抗６が接続され、バッ
ファ１１を通してシフトレジスタ２４のデータ入力に接
続される。トリミングクロックＢが入力されるトリミン
グクロック入力パッド２は、プルダウン抵抗７が接続さ
れ、バッファ１２を通して、シフトレジスタ２４のクロ
ック入力に接続され、さらに、セレクタ２５のコントロ
ール信号となる。トリミングパッド３〜５には、プルア
ップ抵抗８〜１０とトリミングヒューズ２６〜２８が接
続され、インバータ１３〜１５の出力信号Ｃ，Ｄ，Ｅは
セレクタ２５のデータ入力となる。シフトレジスタ２４
の出力端子Ｑの反転出力信号Ｆは、前記セレクタ２５の
データ入力となる。トリミングクロック信号Ｂによっ
て、インバータ１３〜１５のそれぞれの出力信号Ｃ，
Ｄ，Ｅか出力信号Ｆのどちらかが選ばれてトリミング対
象２３に送られる。なお、トリミングヒューズ２６〜２
８の他端は、ＶＳＳに接続される。
ミングに適応した実施例について図面に基づいて説明す
る。トリミングデータ信号Ａが入力されるトリミングデ
ータ入力パッド１はプルダウン抵抗６が接続され、バッ
ファ１１を通してシフトレジスタ２４のデータ入力に接
続される。トリミングクロックＢが入力されるトリミン
グクロック入力パッド２は、プルダウン抵抗７が接続さ
れ、バッファ１２を通して、シフトレジスタ２４のクロ
ック入力に接続され、さらに、セレクタ２５のコントロ
ール信号となる。トリミングパッド３〜５には、プルア
ップ抵抗８〜１０とトリミングヒューズ２６〜２８が接
続され、インバータ１３〜１５の出力信号Ｃ，Ｄ，Ｅは
セレクタ２５のデータ入力となる。シフトレジスタ２４
の出力端子Ｑの反転出力信号Ｆは、前記セレクタ２５の
データ入力となる。トリミングクロック信号Ｂによっ
て、インバータ１３〜１５のそれぞれの出力信号Ｃ，
Ｄ，Ｅか出力信号Ｆのどちらかが選ばれてトリミング対
象２３に送られる。なお、トリミングヒューズ２６〜２
８の他端は、ＶＳＳに接続される。
【０００７】以上のような実施例において、シフトレジ
スタに蓄えられたデータによって仮トリミングを行う
と、ヒューズカット後の特性が、所望の規格からずれる
のを防げるのである。図２は、本発明にかかるヒューズ
トリミング回路を使用する際のタイミングチャートであ
る。
スタに蓄えられたデータによって仮トリミングを行う
と、ヒューズカット後の特性が、所望の規格からずれる
のを防げるのである。図２は、本発明にかかるヒューズ
トリミング回路を使用する際のタイミングチャートであ
る。
【０００８】
【発明の効果】この発明は、以上説明したようにヒュー
ズをカットする前に仮トリミングを行うため、ヒューズ
カット後の特性が、期待からはずれないという効果を有
し、特に精度を必要とする場合に有効である。
ズをカットする前に仮トリミングを行うため、ヒューズ
カット後の特性が、期待からはずれないという効果を有
し、特に精度を必要とする場合に有効である。
【図１】本発明の調整方法に使われているヒューズトリ
ミング回路の回路図である。
ミング回路の回路図である。
【図２】図１に示すヒューズトリミング回路を使用する
際のタイミングチャートである。
際のタイミングチャートである。
１ トリミングデータ入力パッド ２ トリミングクロック入力パッド ３〜５ ヒューズパッド ６〜７ プルダウン抵抗 ８〜１０ プルアップ抵抗 ２３ トリミング対象 ２４ シフトレジスタ ２５ セレクタ ２６〜２８ ヒューズ Ａ、Ｂ トリミングデータ
Claims (1)
- 【請求項１】 トリミングクロック入力パッドと、トリ
ミングデータ入力パッド及び、トリミングクロックに同
期してＩＣ内部に読み込まれたトリミングデータを格納
するシフトレジスタと、トリミングヒューズからのデー
タと前記シフトレジスタからのデータとを前記トリミン
グクロック入力レベルによって切り換えるセレクタとか
らなって、ヒューズをカットする前に前記読み込まれた
トリミングデータにより、仮トリミングを行い、トリミ
ング対象から所望の特性が得られるトリミングの組み合
わせを見つけた後に、ヒューズカットを行うことを特徴
とするヒューズトリミング回路の調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22172691A JPH0563090A (ja) | 1991-09-02 | 1991-09-02 | ヒユーズトリミング回路の調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22172691A JPH0563090A (ja) | 1991-09-02 | 1991-09-02 | ヒユーズトリミング回路の調整方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0563090A true JPH0563090A (ja) | 1993-03-12 |
Family
ID=16771299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22172691A Pending JPH0563090A (ja) | 1991-09-02 | 1991-09-02 | ヒユーズトリミング回路の調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0563090A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0978726A2 (en) * | 1998-07-30 | 2000-02-09 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having a test circuit |
| JP2005294713A (ja) * | 2004-04-05 | 2005-10-20 | Seiko Instruments Inc | 半導体集積回路 |
| JP2008305517A (ja) * | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Hitachi Ulsi Systems Co Ltd | 半導体集積回路装置 |
| JP2010267922A (ja) * | 2009-05-18 | 2010-11-25 | New Japan Radio Co Ltd | トリミング回路 |
| JP2018056322A (ja) * | 2016-09-28 | 2018-04-05 | ミツミ電機株式会社 | 半導体集積回路 |
| US10147678B2 (en) | 2016-09-15 | 2018-12-04 | Fuji Electric Co., Ltd. | Trimming device |
| US10304645B2 (en) | 2015-12-09 | 2019-05-28 | Fuji Electric Co., Ltd. | Trimming apparatus |
| US20200076394A1 (en) * | 2018-08-28 | 2020-03-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ic chip and method of determining a fuse to be cut off |
-
1991
- 1991-09-02 JP JP22172691A patent/JPH0563090A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0978726A2 (en) * | 1998-07-30 | 2000-02-09 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having a test circuit |
| EP0978726A3 (en) * | 1998-07-30 | 2003-11-19 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having a test circuit |
| JP2005294713A (ja) * | 2004-04-05 | 2005-10-20 | Seiko Instruments Inc | 半導体集積回路 |
| JP4510498B2 (ja) * | 2004-04-05 | 2010-07-21 | セイコーインスツル株式会社 | 半導体集積回路 |
| JP2008305517A (ja) * | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Hitachi Ulsi Systems Co Ltd | 半導体集積回路装置 |
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| US10147678B2 (en) | 2016-09-15 | 2018-12-04 | Fuji Electric Co., Ltd. | Trimming device |
| JP2018056322A (ja) * | 2016-09-28 | 2018-04-05 | ミツミ電機株式会社 | 半導体集積回路 |
| US20200076394A1 (en) * | 2018-08-28 | 2020-03-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ic chip and method of determining a fuse to be cut off |
| US10763815B2 (en) | 2018-08-28 | 2020-09-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | IC chip and method of determining a fuse to be cut off |
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