JPH0415515B2 - - Google Patents
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- JPH0415515B2 JPH0415515B2 JP58100955A JP10095583A JPH0415515B2 JP H0415515 B2 JPH0415515 B2 JP H0415515B2 JP 58100955 A JP58100955 A JP 58100955A JP 10095583 A JP10095583 A JP 10095583A JP H0415515 B2 JPH0415515 B2 JP H0415515B2
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- JP
- Japan
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- measurement
- detection element
- physical quantity
- control section
- measurement circuit
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 11
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 18
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 7
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
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Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、温度、湿度等の物理量を計測する装
置へ適用される計測方法に関するものである。
置へ適用される計測方法に関するものである。
近来、中央装置と共通の伝送路により接続され
ると共に、データの送受信機能を有する物理量計
測装置が開発され、中央装置との布線量節減上有
効となつているが、計測装置の数が増大するに伴
ない、これらの所要電源電力量が増大すると共
に、計測装置内の各部を常時動作状態としておく
ことにより、電源電力の消費に応ずる内部発熱量
が大となり、これによつて装置内の温度上昇を招
来し、計測値に誤差を生ずる等の欠点を有するも
のとなつている。
ると共に、データの送受信機能を有する物理量計
測装置が開発され、中央装置との布線量節減上有
効となつているが、計測装置の数が増大するに伴
ない、これらの所要電源電力量が増大すると共
に、計測装置内の各部を常時動作状態としておく
ことにより、電源電力の消費に応ずる内部発熱量
が大となり、これによつて装置内の温度上昇を招
来し、計測値に誤差を生ずる等の欠点を有するも
のとなつている。
本発明は、かかる従来の欠点を根本的に排除す
る目的を有し、検出素子の固有の特性偏差の補正
を可能とする補正器と、検出素子に近接して配置
されかつ物理量の測定誤差を排除するための制御
部の動作の規正を可能とするクロツクパルスを発
生するパルス発生器とを設けたうえ、ポーリング
信号を受信したときにのみ制御部の制御により計
測回路を動作状態とし、検出素子の電気的出力に
対し補正器およびパルス発生器の出力に基づく補
正演算を行い、計測データを中央装置へ送出する
ようにしたものである。
る目的を有し、検出素子の固有の特性偏差の補正
を可能とする補正器と、検出素子に近接して配置
されかつ物理量の測定誤差を排除するための制御
部の動作の規正を可能とするクロツクパルスを発
生するパルス発生器とを設けたうえ、ポーリング
信号を受信したときにのみ制御部の制御により計
測回路を動作状態とし、検出素子の電気的出力に
対し補正器およびパルス発生器の出力に基づく補
正演算を行い、計測データを中央装置へ送出する
ようにしたものである。
以下、実施例を示す図によつて本発明の詳細を
説明する。
説明する。
第１図は、構成を示すブロツク図であり、LC
カツト等の特定な温度・周波数特性を有する水晶
発振子Ｘを発振回路OSCへ接続し、測定温度に
応じた周波数の発振出力を取り出している。
カツト等の特定な温度・周波数特性を有する水晶
発振子Ｘを発振回路OSCへ接続し、測定温度に
応じた周波数の発振出力を取り出している。
発振器OSCの出力は、増幅器AMPによりロジ
ツクレベルまで増幅されたうえ、カウンタCUT
へ与えられており、こゝにおいて所定の基準時間
毎に増幅出力のカウントがなされ、このカウント
値が制御部CNTへ与えられ、こゝにおいて、カ
ウント値が温度値へ変換されてから、伝送回路
SRへ送出され、図上省略した中央装置からのポ
ーリング信号に応じ、温度値のデータが伝送回路
SRおよび伝送路Ｌを介し、中央装置へ送信され
るものとなつている。
ツクレベルまで増幅されたうえ、カウンタCUT
へ与えられており、こゝにおいて所定の基準時間
毎に増幅出力のカウントがなされ、このカウント
値が制御部CNTへ与えられ、こゝにおいて、カ
ウント値が温度値へ変換されてから、伝送回路
SRへ送出され、図上省略した中央装置からのポ
ーリング信号に応じ、温度値のデータが伝送回路
SRおよび伝送路Ｌを介し、中央装置へ送信され
るものとなつている。
なお、マイクロプロセツサ、メモリおよび入出
力回路等により構成された制御部CNTは、デー
タの送受信制御機能も備えており、伝送路Ｌおよ
び伝送回路SRを介して与えられるポーリング信
号によつて指定されたアドレスと、アドレス設定
器ASにより設定された自己に個有のアドレスと
を比較し、両者の一致に応じて温度値のデータを
送信するものとなつている。
力回路等により構成された制御部CNTは、デー
タの送受信制御機能も備えており、伝送路Ｌおよ
び伝送回路SRを介して与えられるポーリング信
号によつて指定されたアドレスと、アドレス設定
器ASにより設定された自己に個有のアドレスと
を比較し、両者の一致に応じて温度値のデータを
送信するものとなつている。
また、制御部CNTは、高密度集積回路化等に
よる共用化を図るため、メモリ内に種々のセンサ
機能に応じたプログラムが格納されており、モー
ド設定器MSによりメモリのアドレスが指定さ
れ、この場合は、モード設定器MSにより温度セ
ンサとしての動作モードが設定される。
よる共用化を図るため、メモリ内に種々のセンサ
機能に応じたプログラムが格納されており、モー
ド設定器MSによりメモリのアドレスが指定さ
れ、この場合は、モード設定器MSにより温度セ
ンサとしての動作モードが設定される。
このほか、水晶発振子Ｘには、個有の特性偏差
があり、これを補正するため零設定器ZAが設け
てあると共に、制御部CNTの動作を規正するた
め、クロツクパルスを発生するパルス発生器PG
が測定誤差を排除する目的上水晶発振子Ｘと同一
のプロープ内に設けてあり、更に、制御部CNT
により求めた温度差を指示する目的上、表示部
DPが設けてある。
があり、これを補正するため零設定器ZAが設け
てあると共に、制御部CNTの動作を規正するた
め、クロツクパルスを発生するパルス発生器PG
が測定誤差を排除する目的上水晶発振子Ｘと同一
のプロープ内に設けてあり、更に、制御部CNT
により求めた温度差を指示する目的上、表示部
DPが設けてある。
一方、伝送路Ｌは、この場合３線式のものが用
いられ、線路L1が信号用、線路L2が電源用、線
路L3が共通用となつており、線路L2，L3を介し
て中央装置から供給される電源を電源回路PSに
より安定化のうえ、局部電源Ｅとして各部へ供給
している。
いられ、線路L1が信号用、線路L2が電源用、線
路L3が共通用となつており、線路L2，L3を介し
て中央装置から供給される電源を電源回路PSに
より安定化のうえ、局部電源Ｅとして各部へ供給
している。
ただし、増巾器AMPは、ポーリング信号の受
信に応じて制御部CNTがスタート信号SSを生じ
たときにのみ動作状態になるものとなつていると
共に、増巾器AMPとカウンタCUTとの間の
ANDゲートＧがスタート信号SSに応じてオンへ
転ずるものとなつている。
信に応じて制御部CNTがスタート信号SSを生じ
たときにのみ動作状態になるものとなつていると
共に、増巾器AMPとカウンタCUTとの間の
ANDゲートＧがスタート信号SSに応じてオンへ
転ずるものとなつている。
すなわち、スタート信号SSが高レベルとして生
ずれば、これがANDゲートＧの一方の入力へ与
えられ、これによつて他方の入力へ与えられてい
る増巾器AMPの出力が通過し、カウンタCUTが
カウント動作を行なうと共に、増巾器AMPのチ
ツプイネーブル端子CEへスタート信号SSが与え
られるため、これに応じて増巾器AMPが動作状
態に入るものとなつている。
ずれば、これがANDゲートＧの一方の入力へ与
えられ、これによつて他方の入力へ与えられてい
る増巾器AMPの出力が通過し、カウンタCUTが
カウント動作を行なうと共に、増巾器AMPのチ
ツプイネーブル端子CEへスタート信号SSが与え
られるため、これに応じて増巾器AMPが動作状
態に入るものとなつている。
したがつて、ポーリング信号の受信に応じ、ス
タート信号SSが一定期間生ずるものとしておけば
ポーリング信号を受信したときにのみ、増巾器
AMP乃至カウンタCUTの計測回路が動作状態と
なるため、これらを常時動作状態としておく場合
に比し、電源電力の消費量が低減されると共に、
計測回路から生ずる発熱量が減少する。
タート信号SSが一定期間生ずるものとしておけば
ポーリング信号を受信したときにのみ、増巾器
AMP乃至カウンタCUTの計測回路が動作状態と
なるため、これらを常時動作状態としておく場合
に比し、電源電力の消費量が低減されると共に、
計測回路から生ずる発熱量が減少する。
なお、この場合、電力消費の大部分は増巾器
AMPによるものであり、他の部分をCMOS等に
より構成可能であるため、非動作時の消費電力は
極めてわずかである。
AMPによるものであり、他の部分をCMOS等に
より構成可能であるため、非動作時の消費電力は
極めてわずかである。
第２図は、制御部CNTの動作を示す総合的な
フローチヤートであり、電源投入による
“START”につぎ、各部に初期状態を設定する
“イニシヤル処理”を行なつてから、カウンタ
CUTのカウント値を取り込み、メモリへ格納す
る等の“計測処理”を行なつたうえ、この結果に
応じて伝送処理を行ない、これを反復するものと
なつている。
フローチヤートであり、電源投入による
“START”につぎ、各部に初期状態を設定する
“イニシヤル処理”を行なつてから、カウンタ
CUTのカウント値を取り込み、メモリへ格納す
る等の“計測処理”を行なつたうえ、この結果に
応じて伝送処理を行ない、これを反復するものと
なつている。
第３図は、“計測処理”の詳細を示すフローチ
ヤートであり、まず、カウンタCUTのリセツト
端子Ｒへ信号を与え、“カウンタ・クリヤ”を行
なつてから、カウンタCUTのインヒビツト端子
INHへ与える信号を消滅させ、“カウンタ・スタ
ート”を行なわせ、発振周波数に応じて定められ
る基準時間が経過したか否かを“基準時間経
過？”により判断し、これがYESとなれば、イ
ンヒビツト端子INHへ信号を与え、“カウンタ・
ストツプ”を行なわせる。
ヤートであり、まず、カウンタCUTのリセツト
端子Ｒへ信号を与え、“カウンタ・クリヤ”を行
なつてから、カウンタCUTのインヒビツト端子
INHへ与える信号を消滅させ、“カウンタ・スタ
ート”を行なわせ、発振周波数に応じて定められ
る基準時間が経過したか否かを“基準時間経
過？”により判断し、これがYESとなれば、イ
ンヒビツト端子INHへ信号を与え、“カウンタ・
ストツプ”を行なわせる。
これについて、“カウント値取込”により、カ
ウンタCUTのカウント出力中例えば下位12ビツ
トを取込み、更に、カウンタCUTのカウント出
力中例えば上位４ビツトをチエツクし、“上位４
ビツト・カウント？”においてカウント値が異常
であればNOとなり、実測値が測定レンジをオー
バしたものとし、“レンジオーバ”と判断する。
ウンタCUTのカウント出力中例えば下位12ビツ
トを取込み、更に、カウンタCUTのカウント出
力中例えば上位４ビツトをチエツクし、“上位４
ビツト・カウント？”においてカウント値が異常
であればNOとなり、実測値が測定レンジをオー
バしたものとし、“レンジオーバ”と判断する。
“上位４ビツト・カウント？”においてカウン
ト値の内容が正常でありYESとなれば、所定の
“補正演算”により補正量を定めたうえ、“カウン
ト値取込”により取り込んだカウント値を補正量
によつて補正してから、所定の演算により“カウ
ント値を温度Ｔへ変換”し、この結果が“−50℃
＜Ｔ”のYESであれば、更に“150℃＞Ｔ”によ
り実測値が測定レンジ内か否かを判断する。
ト値の内容が正常でありYESとなれば、所定の
“補正演算”により補正量を定めたうえ、“カウン
ト値取込”により取り込んだカウント値を補正量
によつて補正してから、所定の演算により“カウ
ント値を温度Ｔへ変換”し、この結果が“−50℃
＜Ｔ”のYESであれば、更に“150℃＞Ｔ”によ
り実測値が測定レンジ内か否かを判断する。
なお、“−50℃＜Ｔ”および“150℃＞Ｔ”の
NOでは、“レンジオーバ”へ移行する。
NOでは、“レンジオーバ”へ移行する。
第４図は、“伝送処理”の詳細を示すフローチ
ヤートであり、まず、第３図によつて得られた
“データを送信レジスタへセツト”してから、中
央装置からの信号を受信する待機状態へ入り、
“信号受信”が行なわれゝば、コードの判別によ
り“ポーリング信号？”を判断し、これのYES
に応じ、アドレス設定器ASにより設定されたア
ドレスとポーリング信号によつて示されるアドレ
スとを“アドレス一致？”により比較のうえ、こ
れがYESであれば、“送信準備”を行なつた後、
送信レジスタの内容を伝送回路SRへ送出して
“データ送信”を行ない、“送信終了？”のYES
にしたがつて、データの送信を終了する。
ヤートであり、まず、第３図によつて得られた
“データを送信レジスタへセツト”してから、中
央装置からの信号を受信する待機状態へ入り、
“信号受信”が行なわれゝば、コードの判別によ
り“ポーリング信号？”を判断し、これのYES
に応じ、アドレス設定器ASにより設定されたア
ドレスとポーリング信号によつて示されるアドレ
スとを“アドレス一致？”により比較のうえ、こ
れがYESであれば、“送信準備”を行なつた後、
送信レジスタの内容を伝送回路SRへ送出して
“データ送信”を行ない、“送信終了？”のYES
にしたがつて、データの送信を終了する。
なお、“補正演算”の詳細は、本出願人の別途
出願による「測定温度の補正方法」（特開昭58−
178232）により開示されているため、詳細を省略
するが、基本的には、零設定器ZAからの設定値
およびパルス発生器PGからのクロツクパルスに
基づき、その補正演算を施す。零設定器ZAから
の設定値に基づく補正により、水晶発振子Ｘの固
有の特性偏差による測定誤差が排除される。ま
た、パルス発生器PGからのクロツクパルスに基
づく補正により、水晶発振子Ｘと制御部CNTと
の間での温度差による測定誤差が排除される。
出願による「測定温度の補正方法」（特開昭58−
178232）により開示されているため、詳細を省略
するが、基本的には、零設定器ZAからの設定値
およびパルス発生器PGからのクロツクパルスに
基づき、その補正演算を施す。零設定器ZAから
の設定値に基づく補正により、水晶発振子Ｘの固
有の特性偏差による測定誤差が排除される。ま
た、パルス発生器PGからのクロツクパルスに基
づく補正により、水晶発振子Ｘと制御部CNTと
の間での温度差による測定誤差が排除される。
このほか、第１図における各設定器MS，AS，
ZA等は、ダイオードマトリクス回路を用い、所
定のダイオードをカツトして所望のコードを発生
するものとすれば好適であるが、デイジタルスイ
ツチ、ストラツプ端子等を用いても同様である。
ZA等は、ダイオードマトリクス回路を用い、所
定のダイオードをカツトして所望のコードを発生
するものとすれば好適であるが、デイジタルスイ
ツチ、ストラツプ端子等を用いても同様である。
ただし、以上の説明においては、検出素子とし
て水晶発振子Ｘを用いたが、計測する物理量およ
び設計条件に応じ、種々のものを検出素子として
用いることができると共に、計測回路の構成も、
検出素子の種別にしたがい任意に選定することが
できるうえ、スタート信号SSにより計測回路を動
作状態とする手段も、状況に応じた選定が可能で
ある。
て水晶発振子Ｘを用いたが、計測する物理量およ
び設計条件に応じ、種々のものを検出素子として
用いることができると共に、計測回路の構成も、
検出素子の種別にしたがい任意に選定することが
できるうえ、スタート信号SSにより計測回路を動
作状態とする手段も、状況に応じた選定が可能で
ある。
また、線路L2，L3による電源の供給は、伝送
路Ｌを２線式としたうえ、フアントム給電として
も同様であり、あるいは、別途の電源を用いるも
のとしてもよい等、本発明は種々の変形が自在で
ある。
路Ｌを２線式としたうえ、フアントム給電として
も同様であり、あるいは、別途の電源を用いるも
のとしてもよい等、本発明は種々の変形が自在で
ある。
以上の説明により明らかなとおり本発明によれ
ば、ポーリング信号を受信したときのみ制御部の
制御により計測回路を動作状態とすることによ
り、電源電力の消費が節減されると共に、計測回
路から生ずる発熱量が減少し、温度上昇による測
定誤差が極力抑制され、精度の高い測定値（物理
量）を得ることが可能となる。
ば、ポーリング信号を受信したときのみ制御部の
制御により計測回路を動作状態とすることによ
り、電源電力の消費が節減されると共に、計測回
路から生ずる発熱量が減少し、温度上昇による測
定誤差が極力抑制され、精度の高い測定値（物理
量）を得ることが可能となる。
また、本発明によれば、検出素子の電気的出力
に対し補正器およびパルス発生器の出力に基づく
補正演算を行うことにより、上記効果に加えて、
検出素子の固有の特性偏差や検出素子と制御部と
の間での温度差による測定誤差を排除し、さらに
精度の高い測定値を得ることが可能となる。
に対し補正器およびパルス発生器の出力に基づく
補正演算を行うことにより、上記効果に加えて、
検出素子の固有の特性偏差や検出素子と制御部と
の間での温度差による測定誤差を排除し、さらに
精度の高い測定値を得ることが可能となる。
図は本発明の実施例を示し、第１図は構成を示
すブロツク図、第２図は制御部の動作を示す総合
的なフローチヤート、第３図は計測処理の詳細を
示すフローチヤート、第４図は伝送処理の詳細を
示すフローチヤートである。 Ｘ……水晶発振子（検出素子）、OSC……発振
回路、AMP……増巾器、Ｇ……ANDゲート、
CUT……カウンタ、CNT……制御部、Ｅ……局
部電源。
すブロツク図、第２図は制御部の動作を示す総合
的なフローチヤート、第３図は計測処理の詳細を
示すフローチヤート、第４図は伝送処理の詳細を
示すフローチヤートである。 Ｘ……水晶発振子（検出素子）、OSC……発振
回路、AMP……増巾器、Ｇ……ANDゲート、
CUT……カウンタ、CNT……制御部、Ｅ……局
部電源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 物理量を検出する検出素子と、この検出素子
の電気的出力を処理する計測回路と、中央装置か
らのポーリング信号に応じて前記計測回路の出力
を計測データとして前記中央装置へ送出する制御
部とからなる物理量計測装置において、 前記検出素子の固有の特性偏差の補正を可能と
する補正器と、前記検出素子に近接して配置され
かつ物理量の測定誤差を排除するため前記制御部
の動作の規正を可能とするクロツクパルスを発生
するパルス発生器とを設けたうえ、前記ポーリン
グ信号を受信したときにのみ前記制御部の制御に
より前記計測回路を動作状態とし、前記検出素子
の電気的出力に対し前記補正器および前記パルス
発生器の出力に基づく補正演算を行い、計測デー
タを前記中央装置へ送出することを特徴とした物
理量の計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58100955A JPS59226996A (ja) | 1983-06-08 | 1983-06-08 | 物理量の計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58100955A JPS59226996A (ja) | 1983-06-08 | 1983-06-08 | 物理量の計測方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59226996A JPS59226996A (ja) | 1984-12-20 |
| JPH0415515B2 true JPH0415515B2 (ja) | 1992-03-18 |
Family
ID=14287774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58100955A Granted JPS59226996A (ja) | 1983-06-08 | 1983-06-08 | 物理量の計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59226996A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2706849B2 (ja) * | 1990-11-21 | 1998-01-28 | シャープ株式会社 | 光結合装置及びこれを利用した情報機器 |
| JP2706848B2 (ja) * | 1990-11-21 | 1998-01-28 | シャープ株式会社 | 受光素子及びこれを利用した情報機器 |
| JP2706847B2 (ja) * | 1990-11-21 | 1998-01-28 | シャープ株式会社 | 光結合装置およびこれを利用した情報機器 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57115051A (en) * | 1981-01-07 | 1982-07-17 | Nec Corp | Telemeter device |
-
1983
- 1983-06-08 JP JP58100955A patent/JPS59226996A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57115051A (en) * | 1981-01-07 | 1982-07-17 | Nec Corp | Telemeter device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59226996A (ja) | 1984-12-20 |
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