JPH0557533B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0557533B2
JPH0557533B2 JP59073881A JP7388184A JPH0557533B2 JP H0557533 B2 JPH0557533 B2 JP H0557533B2 JP 59073881 A JP59073881 A JP 59073881A JP 7388184 A JP7388184 A JP 7388184A JP H0557533 B2 JPH0557533 B2 JP H0557533B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
irradiation
light receiver
light distribution
screen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59073881A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60218048A (ja
Inventor
Shoichi Sakamoto
Kimiharu Minagawa
Juetsu Niseki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Raito Kogyo Co Ltd
Anzen Motor Car Co Ltd
Original Assignee
Raito Kogyo Co Ltd
Anzen Motor Car Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Raito Kogyo Co Ltd, Anzen Motor Car Co Ltd filed Critical Raito Kogyo Co Ltd
Priority to JP7388184A priority Critical patent/JPS60218048A/ja
Publication of JPS60218048A publication Critical patent/JPS60218048A/ja
Publication of JPH0557533B2 publication Critical patent/JPH0557533B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/06Testing the alignment of vehicle headlight devices

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光の照射配光測定装置に関し、より
詳細には、自動車用ヘツドランプから投射される
照射光の中心照度やカツトライン等の各種照射配
光の測定装置に関するものである。
自動車のヘツドランプに関しては、対向車両の
運転者に眩惑を与えない様に、その各種照射配光
を正確に設定することが要求される。その照射配
光としては、例えば、対向車両のない場合の走行
ビームにおける照射軸位置やその中心照度、或い
は、すれ違いビームとした場合の照射領域の臨界
線であるカツトライン等があり、これら照射配光
を正確に且つ一括して容易に測定できる装置の供
給が要望されている。
本発明は、以上の点に鑑みなされたものであつ
て、各種照射光を一括して正確且つ容易に測定可
能な照射配光測定装置を提供することを目的とす
る。
上記目的を達成するためには、先ずヘツドラン
プから照射されるビームの配光パターンをスクリ
ーン上に明確に表現させる必要がある。本発明に
おいては受光器の集光レンズを使用するが、該レ
ンズの特性としてヘツドランプを点灯した時の配
光パターンがヘツドランプの倒立像と別個に得ら
れることから、この双方の特性を利用することに
より既存のヘツドランプテスタに比して精度、操
作性の改良に寄与することから本発明はなされた
ものである。
以下、本発明の構成について、具体的な実施例
に基づき詳細に説明する。
第1a図及び第1b図は本発明が実施される状
態の一例を示した説明図で、第2a図および第2
b図は本発明の1実施例としてのヘツドランプテ
スタを示した模式的立面図とその模式的平面図で
ある。第1a図において、測定すべき自動車Mの
正規の進入方向Nに直交する様に2本のレールR
が敷設されている。そして、このレールR上に、
本例のヘツドランプテスタTが走行自在に設置さ
れている。このヘツドランプテスタTは、次の様
に構成されている。
第2a図において、レールR上にコロ1aを介
して走行自在に設置されたベース1上に主柱2と
補助柱3が立設されている。これら主柱2及び補
助柱3には、上下に昇降自在に昇降台4が外挿さ
れており、ハンドル5(第1a図参照)を廻すこ
とにより周知の変速機構を介して昇降台4が自在
に昇降する構成となつている。昇降台4上には保
持具6が固設され、この保持具6によりヘツドラ
ンプHLから投射された照射ビームBを受け入れ
る受光器7が保持されている。この受光器7の構
成は次の通りである。
略直方体状のケーシング7aのヘツドランプ
HLに対向させる前部には、集光レンズ7bが装
着されている。この集光レンズ7bの直径は少な
くともヘツドランプHLの上下方向の外形寸法よ
りも大きいことが望ましい。ケーシング7aの後
部には、集光レンズ7bを介して入射するビーム
Bの一部を所定方向に反射すべく、ハーフミラー
7cがレンズ7bの光軸に対して適度に傾斜させ
て配設されている。集光レンズ7bの上方には、
ハーフミラー7cからの反射ビームBによるヘツ
ドランプHLの配光パターンが投射されるスクリ
ーン7dが配設されている。このスクリーン7d
上には、本例では7個の光電センサa,b,c,
d,e,f,gが、第5図に示す如く配置されて
いる。即ち、図中上下方向に基準垂直線Vs、左
右方向に基準水平線Hsが夫々設けられ、その交
点には中心照度測定用光電センサaが配設されて
いる。そして、各基準Vs、Hs上には、スクリー
ン7dに投射される反射ビームBに正対させる為
の同一性能の光電センサから成る2組の光電セン
サ対b,c及びd,eが、中央のセンサaに関し
て対称に配設されている。そして、本例では、基
準水平線Hsを挾んで、1組のカツトライン検出
用光電センサ対f,gが配設されている。この場
合、センサf,gの受光面が基準水平線Hsに沿
つて延在する形状が望ましい。尚、光量センサと
しては、光起電力素子やを導電素子を使用すると
よく、本例では光起電力素子を用いてある。尚、
上述したハーフミラー7cとフアインダー用レン
ズは省略することも可能であり、その場合は照射
ビームBを直接スクリーン7d上に投射させる構
成とすればよい。
第2a図に戻つて、上述した各光電センサは
夫々適切な計器8に接続されており、これにより
所望の表示が得られる。即ち、中央のセンサaは
単独の光電流計に接続され、その部分の照度を直
接表示する。センサ対b,c及びd,eは、第6
図に示す如く、夫々増幅器8a,8bを介して光
電流差計8c,8dに接続されている。これによ
り、センサ対b,c及びd,eにおける各センサ
が受けた光量の差が光電流の差に変換された後増
幅されて、夫々の光電流差計8c,8dに表示さ
れる。又、カツトライン検出用センサ対f,g
は、第7図に示される如く、各センサの同極性同
士を接続し他方の同極性端子を夫々光電流差計8
eの対応する端子に接続してある。これにより、
同様に各センサf,gが受ける光量の差が光電流
差として電流差計8eに表示される。尚、光電セ
ンサb,c及びd,eもこれと同様に接続しても
よい。
受光器7には、その外側後部と上部に、ヘツド
ランプンHLと受光器7と正対させるランプ正対
用フアインダ9と測定対象の自動車と受光器7を
正対させる車両正対用フアインダ10が夫々付設
されている。
而して、本発明においては、受光器7が上下及
び左右に回動可能となる様に、以下に示す如き機
構が具備されている。
左右回動機構は、第4図に示す如く構成されて
いる。第4図において、昇降台4の一部に例えば
矩形状の中空部4a(第2b図参照)が形成され
ており、この中空部4a内に補助柱3が挿通せし
められている。そして、この補助柱3に対して、
反対方向から夫々ピン4bとネジ4cを突出させ
その各先端を当接させてある。ピン4bは昇降台
4に固着されたスリーブ4dに摺動自在に収容さ
れている。ピン4b先端とスリーブ4d間には、
バネ4eが介装されている。従つて、その弾発力
によりスリーブ4dを介して昇降台4を図中左方
向に、即ち、第2b図において昇降第4を主柱2
を中心として時計回り方向に回動させるべく付勢
している。一方、ネジ4cは、昇降台4に固着さ
れたリテイナ4fのネジ穴に螺合せしめられてい
る。ネジ4cの頭部には、左右調節ダイヤルgが
固着されている。このダイヤル4gには、周面に
受光器7の回動量を表わす角度目盛が刻まれた目
盛ダイヤル4hが回転可能に外挿されている。従
つて、調節ダイヤル4gを例えば右回りに廻せ
ば、リナテイ4fがダイヤル4gに設けられた凹
部4j内に収容されると共にネジ4cの先端が突
出して補助棒3を押圧し、昇降台4をバネ4eの
付勢力に抗して第2b図で反時計回り方向に回動
させる。又、逆方向にネジ4cを廻せば、昇降台
4が時計回り方向に回動される。
次に、上下回動機構について説明する。第2a
図に示される如く、受光器7は回転軸6aを介し
て保持具6により回動自在に支承されている。そ
して、受光面7のケーシング7aの前方下部と保
持具6の間には、回転自在に支承された等速度カ
ム6bが介設されている。等速度カム6bは、第
3図に示される如く、保持具6に回転自在に支承
されたシヤフト6cの一端側に固着されている。
シヤフト6cの他端には周面に上下方向回動量を
示す角度目盛が刻まれた上下回動用ダイヤル6d
が固着されている。従つて、ダイヤル6dを廻す
ことにより、カム6bが回転され、受光器7を回
転軸6aを中心として上下方向に自在に回動させ
ることができる。そして、この目盛の指示値か
ら、受光器7に正対させた測定対象のヘツドラン
プHLの水平方向に対する下向き角度を直接読み
取れる構成となつている。
叙上の如く構成されたヘツドランプステタによ
つて実施される本発明方法の1実施例について、
以下に説明する。
まず、第1a図に示される如く、自動車を測定
場に進入させる。この場合、第1b図に示される
如く正規の進入方向Nに対して斜めに入ることが
多い。従つて、テスタT全体をレールRにそつて
移動させ、自動車Mの略正面に位置させた後、車
正対用フアインダ10を通して自動車Mを視なが
ら左右回動用ダイヤル4gを廻し、受光器7を自
動車Mに正対させる。具体的には、自動車の車両
中心線C1上に位置する例えばシンボルマークS
等の大体の中心目安をフアインダ10のセンター
マークに合せる様にすればよい。ここで、目盛ダ
イヤル4hを回転させその零位置に例えばリナイ
ナ4f周面に刻まれた基準線に合わせておく。
尚、受光器7の高さは、予めハンドル5を操作
し、測定すべき自動車のヘツドランプ基準高さに
一致させてある。
次に、この状態のままテスタTを再び移動さ
せ、ヘツドランプHLの中心線C2に沿つた略正面
に位置させる。そして、まず先行ビームを点灯さ
せ、集光レンズ7b乃びハーフミラー7cを介し
て入射されるビームBをランプ正対用フアインダ
9を通じて視ながら受光器を左右又は上下に移動
して、受光器7とヘツドランプHLを正対させ
る。
この状態下において、受光器7に向けて照射さ
れた走行ビームは、集光レンズ7bに入射して集
束された後ハーフミラー7cによりその一部が発
射されてスクリーン7d上に投射されている。第
8図に、スクリーン7d上に投射された走行ビー
ムBuの等照度曲線で表わされた配光パターンが
示されている。スクリーン7d上に配設されてい
る。各光電センサa〜gに走行ビームBuが照射
され、夫々のセンサから受ける光量に応じて光電
流が出力される。センサb,cからは、増幅器8
aに電流が出力され、ここで双方の光電流差が増
幅されて光電流差計8cに出力される。ここで、
操作者が光電流差計8の表示を視ながら、上下用
ダイヤル6dを廻して適宜受光器7を上下方向に
回動させる。これにより、スクリーン7dに対し
て走行ビームを上下方向に自在に走査させること
ができ、この走査中における光電流差計の表示値
が零となる位置を決め、その位置をダイヤル6d
の角度目盛から読み取る。この位置で、スクリー
ン7dの基準水平線Hsとビームの水平光軸Avが
略整合されている。この場合、この後、同様に今
度は左右用ダイヤル4gを適宜廻してビームBu
を左右方向に走査させ、光電流差計8dの表示値
が零となる位置をダイヤル4gの角度目盛ダイヤ
ル4hから読み取る。これにより、ビームの垂直
光軸Avとスクリーン7dの基準垂直線Vsとが整
合せしめられると共にその垂直光軸の位置を知る
ことができる。この時点で、走行ビームBuの中
心点と中央光電センサaとが整合せしめられてお
り、従つて、センサaに接続された光電流計から
走行ビームBuの中心照度を読み取ることができ
ると共に、夫々のダイヤルの角度目盛から垂直、
水平両光軸の交点として照射軸位置を得ることが
できる。
次いで、ヘツドランプHLの照射ビームをすれ
違いビームに切換える。本例のすれ違いビーム
は、第9図に配光パターン図に示される如く、カ
ツトラインCLを有している。今、そのカツトラ
イン位置を求める為、上下用ダイヤル6dを廻し
てビームBdをスクリーン7d上の垂直軸Vsに沿
つて走査させる。ビームを走査させながら、光電
流差計8eを視て、その指示値が最大となる位置
を決め、その位置をダイヤル6dの角度目盛から
読み取る。この位置が、ヘツドランプHLの下向
き角度を表すカツトライン位置であり、これを基
にヘツドランプの合否を判定すれば良い。以上の
如く、本例のヘツドランプテスタによれば、受光
器の回動機構を測定光源との正対操作用と照射ビ
ームの操作用とに兼用するという簡単な構造で、
ビームの中心照度及びカツトラインを正確且つ簡
単に測定することができる。
次に、本発明の他の実施例について説明する。
尚、上記実施例と同一の構成要素については同一
符号を付し、その説明を省略する。本例のヘツド
ランプテスタは、第10図に示される如く、カツ
トライン検出用として単一の光電センサf′が配設
され、このセンサf′から出力される光電流値の変
化率が最大と成る位置カツトライン位置として求
める構成となつている。この場合の光電センサ
f′から出力される光電電流値の処理回路のマイク
ロコンピユータを用いた一例を示すと、第11図
の如くなる。
第11図において、上下用ダイヤル6dには、
受光器7の上下方向の位置信号を出力する位置信
号発生器11が接続され、この発生器11と光電
センサf′は入力ゲート12を介してA/Dコンバ
ータ13に接続され、ここでまずアナログ信号が
デジタル信号に変換される。A/Dコンバート1
3は、8ビツトデータバスにより検出端制御部1
5に接続されている。A/Dコンバータ13と検
出端制御部15間にはデータのサンプリング定数
を設定する設定回路14が介在せしめられてい
る。検出端制御部15は中央処理装置(CPU)
における演算処理部16に接続されており、ここ
で、サンプルされたデータ間の差、即ちセンサ
f′から入力される光電流値の連続サンプリング間
の変化量が算出される。そして、演算処理部16
には記憶部17が接続された比較判定部18が接
続されており、算出された光電流値の変化量が記
憶部17に記憶されているそれ以前に算出された
変化量の最大値と比較される。そして、記憶され
ている値の方が大きい場合は算出値がキヤンセル
されるが、逆に記憶されている値の方が小さい場
合はこの値がキヤンセルされて算出値が新たに記
憶部17に記憶される。比較判定部18は表示部
19に接続されており、記憶部17に記憶されて
いる光電流値の変化量が得られたサンプリング区
間の中央値が角度で表示される。
従つて、本例においては、上下用ダイヤル6d
を一方向に所定角度廻すだけで、自動的にすれ違
いビームのカツトライン位置が表示部19に示さ
れ、更に簡単且つ正確にカツトライン位置を測定
することができる。
尚、上記実施例等においては、受光器7を上下
及び左右の両方向に回動可能な構成とたが、これ
とは別に、次の様な方法も可能である。即ち、受
光器7を昇降台4に直接取り付けて左右方向にの
み回動可能に設け、ハーフミラー7c等の反射手
段を上下方向に回動自在に設け、これを回動させ
ることにより回転ビームをスクリーン7dの基準
垂直軸Vsに沿つて走査させても良い。この方法
によつても、上述した実施例等と同等に正確にカ
ツトライン位置を測定でき、その上保持具6やカ
ム6bからなる上下回動機構を省略できる。又、
受光器7を回動させるのに、各光電センサから出
力される光電流値に応じて自動的に受光値7を回
動させる自動制御機構を採用すれば、各種照射配
光の測定がより簡単となる。
以上、詳述した如く、本発明によれば、受光器
と光電センサを一体的に回動させて照射ビームを
光電センサに対して走査させることにより、各種
照射配光を正確且つ容易に測定することができ
る。又、受光器の回動機構を光源との正対用と照
射ビームの走査用とに兼用することにより、装置
の構造が簡単となる。尚、本発明は上記の特定の
実施例に限定されるものではなく、本発明の技術
的範囲内において種々の変形が可能であることは
勿論である。
【図面の簡単な説明】
第1a図及び第1b図は夫々自動車のヘツドラ
ンプテストの状況を示した各説明図、第2a図及
び第2b図は夫々本発明の1実施例を示した模式
的立面図と模式的平面図、第3図は本発明の1実
施例における上下回動機構を示した模式的断面
図、第4図は本発明の1実施例の左右回動機構を
示した模式的断面図、第5図は本発明の1実施例
におけるスクリーンを示した平面図、第6図及び
第7図は夫々本発明の1実施例における光電流処
理回路を示した各説明図、第8図及び第9図は
夫々走行ビームとすれ違いビームの各配光パター
ンを示した説明図、第10図及び第11図は夫々
本発明の他の実施例におけるスクリーンとカツト
ライン検出回路を示した平面図とブロツク図であ
る。 (符号の説明)、4:昇降台、4g:左右回動
用ダイヤル、6:保持具、6d:上下回動用ダイ
ヤル、7:受光器、7c:ハーフミラー、7d:
スクリーン。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光源から照射される照射ビームを受け入れる
    受光器を左右回動用ダイヤルにより垂直軸のまわ
    りに、また上下回動用ダイヤルにより水平軸のま
    わりにそれぞれ回動自在に支承し、該受光器の前
    部には前記照射ビームを集束して入射させる集光
    レンズを、また該受光器の内部には該入射ビーム
    を受けて前記光源からの照射ビームの配光パター
    ンを表示するスクリーンを、また光源と受光器を
    正対させるランプ正対用フアインダーを各固定し
    て設けるとともに、該スクリーン上には前記照射
    ビームの配光状態を測定する光電センサーを配置
    し、前記正対用フアインダーの中心にランプ像が
    投射されるよう受光器を左右又は上下に移動させ
    さらに前記受光器を光源に対する対向角が変化す
    るように左右又は上下に回動することにより前記
    スクリーン上の光電センサーに対して照射光を走
    査させて前記照射ビームの配光状態を測定する手
    段を設けたことを特徴とする照射配光測定装置。 2 上記第1項において、前記受光器は前記照射
    ビームを集束して入射させる集光レンズと集束さ
    れた入射ビームを前記スクリーン上の光電センサ
    ーに向けて反射させるミラーとを具備し、前記集
    光レンズ、前記ミラー及び前記光電センサーを前
    記受光器と一体的に回動させることを特徴とする
    照射配光測定装置。 3 上記第1項において、前記測定手段は前記受
    光器の左右方向および上下方向の回動量の調節ダ
    イヤルに互いに回転可能に外挿された角度目盛ダ
    イヤルを備えており、前記受光器の回動量を前記
    角度目盛ダイヤルから読み取ることにより前記照
    射ビームの配光状態を測定することを特徴とする
    照射配光測定装置。 4 上記第1項乃至第3項において、前記光源は
    走行ビームとすれ違いビームとに切換可能である
    と共に前記すれ違いビームがカツトラインを有し
    ている自動車用ヘツドランプであり、前記カツト
    ライン位置を一対の前記光電センサーから出力さ
    れる光電流値の差が最大となる前記受光器の回動
    量に基づいて測定することを特徴とする照射配光
    測定装置。 5 上記第1光乃至第3項において、前記光源は
    走行ビームとすれ違いビームとに切換可能である
    と共に前記すれ違いビームがカツトラインを有し
    ている自動車用ヘツドランプであり、前記カツト
    ライン位置を少なくとも1個の前記光電センサー
    から出力される光電流値の変化率が最大となる前
    記受光器の回動量に基づいて測定することを特徴
    とする照射配光測定装置。 6 少なくとも水平方向に回動可能に支承され光
    源から照射される照射ビームを受け入れる受光器
    と、該受光器の前部における集光レンズと、前記
    受光器内に少なくとも垂直方向に回動可能に設け
    られており前記照射ビームを所定方向に反射させ
    るミラーと、前記受光器内に固設され前記照射ビ
    ームを受け配光パターンを表示するスクリーン、
    および該スクリーン上の適数個の光電センサー
    と、前記受光器を水平方向に回動させると共に前
    記ミラーを垂直方向に回動させることにより前記
    照射ビームを前記光電センサーに対して走査させ
    その際に前記光電センサーから出力される出力信
    号に基づき前記照射ビームの配光状態を測定する
    測定手段とを有することを特徴とする照射配光測
    定装置。
JP7388184A 1984-04-14 1984-04-14 照射配光測定装置 Granted JPS60218048A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7388184A JPS60218048A (ja) 1984-04-14 1984-04-14 照射配光測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7388184A JPS60218048A (ja) 1984-04-14 1984-04-14 照射配光測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60218048A JPS60218048A (ja) 1985-10-31
JPH0557533B2 true JPH0557533B2 (ja) 1993-08-24

Family

ID=13530987

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7388184A Granted JPS60218048A (ja) 1984-04-14 1984-04-14 照射配光測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60218048A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0663911B2 (ja) * 1988-07-29 1994-08-22 マツダ株式会社 ヘッドライトの光軸調整方法
JP2013134200A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Toyota Motor Corp ヘッドライトテスタ、測定方法、及び測定プログラム
JP2013134199A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Toyota Motor Corp ヘッドライトテスタ、測定方法、及び測定プログラム

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4425602Y1 (ja) * 1965-09-27 1969-10-28
JPS57122324A (en) * 1981-01-22 1982-07-30 Sanei Kogyo Kk Main optical axis measurement for automobile headlight mainly using halogen lamp

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56175740U (ja) * 1980-05-29 1981-12-25

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4425602Y1 (ja) * 1965-09-27 1969-10-28
JPS57122324A (en) * 1981-01-22 1982-07-30 Sanei Kogyo Kk Main optical axis measurement for automobile headlight mainly using halogen lamp

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60218048A (ja) 1985-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5373357A (en) Headlight aiming method using pattern framing
JP2599431B2 (ja) 自動車ヘッドライト照準方法及び照明パターン検査方法
US6658750B2 (en) Method and measurement device for measurement of a two-wheeled vehicle frame
JP2589819B2 (ja) 検出および表示装置
US4134680A (en) Vehicle headlight testing apparatus
JPH0557533B2 (ja)
US2291114A (en) Headlight tester
CN216283508U (zh) 一种快调节高标高范围的激光水平仪
US5138533A (en) Device for testing headlight orientation of a headlight of a motor vehicle
JP4201924B2 (ja) 測量機の自動焦点機構
JPH11211426A (ja) 面形状測定装置
JP3151878B2 (ja) ミラー付きランプの照度合せ装置
JP4231332B2 (ja) ヘッドライトテスタの回転正対方法及び装置
JP2536059B2 (ja) 物体の表面状態測定装置及び表面の高さ測定装置
JPH11258113A (ja) 車両用ヘッドライトの測定方法
JPH0783828A (ja) 角度可変絶対反射率測定装置
RU2083468C1 (ru) Устройство для контроля положения ходовых колес подъемно-транспортных средств
JPS62502421A (ja) 二次元の対象物を整向、検査及び/または測定するための装置
JPS62159026A (ja) ヘツドライトビ−ムのホツトゾ−ンの臨界位置測定装置
SU1562691A1 (ru) Способ определени радиусов кривизны сферических поверхностей и устройство дл его осуществлени
JPS5935795Y2 (ja) ヘツドライトテスタ−
JPH0419536A (ja) ヘッドライトテスター
JP3312236B2 (ja) 自動車用ヘッドライトのすれ違い灯の測定方法及び装置
JPH07146140A (ja) 勾配測定装置
JP2001013041A (ja) 車両用ヘッドライトテスタ

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term