JPH0556826B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 「技術分野」 本発明は、圧接型端子を有するコネクタと、被
覆電線とを接続するために用いる圧接型コネクタ
の電線押込型に関し、特に圧接型端子と被覆電線
の導線との導通試験を押込時に同時に行なうよう
にした導通試験型に関する。

「従来技術およびその問題点」 第４図、第５図は圧接型コネクタＣと被覆電線
Ｐとの接続の概念図で、コネクタＣには区画壁ａ
によつて区画された複数の電線収納凹部ｂが形成
されており、各電線収納凹部ｂ内に、圧接型端子
ｄが埋め込まれている。圧接型端子ｄは周知のよ
うに、その凹部ｅ内に被覆電線Ｐを押し込むと、
被覆電線Ｐの被覆ｓがこの凹部ｅのエツジによ
り、剥離され、凹部ｅと内部の導線ｔとが導通す
る。

このコネクタＣと被覆電線Ｐを接続するには、
コネクタＣを下型に保持し、コネクタＣの各電線
収納凹部ｂ上に導いた被覆電線Ｐを上型１０によ
つて押し込む。上型１０は、各被覆電線Ｐ（電線
収納凹部ｂ）に対応する櫛歯状をしていて、その
下端部に圧接型端子ｄの逃げ溝１１を有してい
る。

圧接型コネクタＣには、電線収納凹部ｂの反対
側に接続ピン挿入孔ｆが穿けられており、被覆電
線の押込作業の終了後アツセンブリ時に、この挿
入孔ｆから接続ピンを挿入することで、該接続ピ
ンと圧電型端子ｄの弾性脚ｈ、つまり被覆電線Ｐ
の導線ｔが接続される。またこの圧接型コネクタ
Ｃには、導通試験用の試験ピン挿入孔ｇが穿けら
れている。この試験ピン挿入孔ｇは、接続ピン挿
入孔ｆと兼用させることも可能であるが、この例
では、接続ピン挿入孔ｆと直交する形（電線収納
凹部ｂと平行に）で試験ピン挿入孔ｇが設けられ
ている。

ところでこの試験ピン挿入孔ｇには、従来、上
記電線押込作業の終了後に試験ピンを挿入し、被
覆電線と他端のこの試験ピンとの間で導通試験を
行なうことにより、圧接型端子ｄと被覆電線Ｐの
導線ｔとの導通を見るのが普通であつた。しかし
このように押込工程と別に導通試験工程を設ける
のは、明らかに能率が悪く、コストの増加につな
がる。

なお被覆電線Ｐとしては、複数の被覆電線を整
列させて接合したいわゆるリボンケーブル、複数
の被覆電線の間に平板部を介在させて接合したフ
ラツトケーブル、あるいは単線のいずれもが対象
となる。リボンケーブルおよびフラツトケーブル
の場合は、コネクタＣへの接続前に、スリツター
により、各被覆電線の先端がコネクタＣの各電線
収納凹部ｂに挿入可能な状態に分離切断される。

「発明の目的」 本発明は、従来工程についての以上の問題意識
に基づき、被覆電線の押込工程において、同時に
被覆電線と圧接型端子の導通試験を行なうことが
できる導通試験型を得ることを目的とする。

「発明の概要」 本発明は、コネクタを支持する下型を上型に対
して昇降可能に設け、この昇降工程に連動させて
導通試験を行なうという発想に基づいてなされた
ものである。すなわち本発明は、上型に対して昇
降可能に設けた圧接型コネクタを支持する下型
に、これに支持した圧接型コネクタの試験ピン挿
入孔に向けて進退可能であつて、該試験ピン挿入
孔に進退する試験ピンを有する試験ピンホルダを
支持するとともに、この試験ピンホルダと連動し
てしてこれを進退させる試験ピン作動アームを枢
着し、さらにこの試験ピン作動アームを、下型の
昇降動作に連動させて揺動させるカム手段を設
け、このカム手段により、下型の下降位置におい
て試験ピンホルダの試験ピンが圧接型コネクタと
の非干渉位置に退避し、上型が被覆電線を押込む
上昇位置において試験ピンが圧接型コネクタの試
験ピン挿入孔に進入するように試験ピン作動アー
ムを制御するようにしたことを特徴としている。

「発明の実施例」 以下図示実施例について本発明を説明する。第
１図ないし第３図は本発明の実施例を示すもので
ある。上型１０に対して昇降する下型２０の本体
２１の上面は、圧接型コネクタＣの支持部２２と
なつている。この支持部２２の断面形状はコネク
タＣの断面形状と対応している。この支持部２２
の側部には、コネクタＣの試験ピン挿入孔ｇの位
置に対応させて、水平方向の試験ピン進退孔２３
が穿けられており、この試験ピン進退孔２３に
は、試験ピンホルダ２４に固定した複数の試験ピ
ン２５が進退する。試験ピンホルダ２４は、試験
ピン進退孔２３と平行なガイドバー２６に移動自
在に支持されていて、試験ピンホルダ２４がこの
ガイドバー２６に沿つて移動すると、試験ピン２
５が試験ピン進退孔２３からコネクタＣの試験ピ
ン挿入孔ｇに進退する。

下型本体２１には、揺動軸２７によつて、試験
ピン作動アーム２８とコネクタ支持アーム２９が
同軸に枢着されている。試験ピン作動アーム２８
の上端は、試験ピンホルダ２４に設けた連動ピン
３０を挟むフオーク部３１となつており、またそ
の下端には、上下方向の試験ピンカム３２と係合
するカムフオロア３３が枢着されている。下型本
体２１と試験ピン作動アーム２８の間には、カム
フオロア３３を常時試験ピンカム３２に押し付け
る方向に回動付勢する圧縮ばね３４が挿入されて
いる。試験ピンカム３２は、固定されていて、そ
の下方は試験ピン後退区間３２ａ、上方が試験ピ
ン進出区間３２ｂとなつている。

他方上記コネクタ支持アーム２９は、その上端
部を、コネクタＣの上面の保持開放部３５とした
もので、下端部には、上下方向の支持アームカム
３６と係合するカムフオロア３７が枢着されてい
る。３８は、この支持アームカム３６とカムフオ
ロア３７が常時接触するようにコネクタ支持アー
ム２９を揺動付勢する圧縮ばねである。支持アー
ムカム３６は、試験ピンカム３２と一体に固定さ
れていて、下方の保持区間３６ａと上方の開放区
間３６ｂを有している。なお第１図には、比較の
便のため、支持アームカム３６の形状（区間）を
鎖線で描いている。

上記構成の本導通試験型は、第１図、第２図に
示す状態では、試験ピンカム３２の試験ピン後退
区間３２ａとカムフオロア３３が係合しているた
め、試験ピン作動アーム２８を介して、試験ピン
ホルダ２４は後退位置にあり、その試験ピン２５
はコネクタＣからの退避位置にある。またコネク
タ支持アーム２９は、そのカムフオロア３７を支
持アームカム３６の保持区間３６ａに係合させ
て、その保持開放部３５をコネクタＣの保持位置
に位置させている。長尺のコネクタＣは、この状
態において、紙面に垂直な方向から下型本体２１
上の支持部２２と保持開放部３５の間に導かれ
る。

コネクタＣを保持した下型２０は、図示しない
駆動機構により、上型１０に向かつて上昇する。
この際上型１０も下型２０に向かつて下降するの
が普通である。すると、まずカムフオロア３７の
支持アームカム３６に対する接触位置が保持区間
３６ａから開放区間３６ｂに変化し、その結果コ
ネクタ支持アーム２９は第２図に鎖線で示すよう
に開いてその保持開放部３５をコネクタＣの上面
から退避させる。これにより、上型１０とコネク
タＣとの係合が可能となる。被覆電線Ｐは、両者
が係合する十分前に、図示しない送り機構によつ
てコネクタＣの電線収納凹部ｂの上部に送られて
いる。

コネクタ支持アーム２９の保持開放部３５がコ
ネクタＣの上面を開放すると、上型１０による被
覆電線Ｐの押込作業が行なわれる。すなわち被覆
電線ＰがコネクタＣの電線収納凹部ｂに押し込ま
れる。この押込は、第１図の区間Ａにおいて行な
われる。この区間Ａは、下型２０のカムフオロア
３７が開放区間３６ｂに係合した後、カムフオロ
ア３３が試験ピンカム３２の試験ピン進出区間３
２ｂに係合する前の区間である。そしてこの押込
区間の終了後、下型２０がさらに上昇すると、カ
ムフオロア３３はやがて試験ピン進出区間３２ｂ
に係合する。すると、圧縮ばね３４の力により試
験ピン作動アーム２８が第１図反時計方向に揺動
し、試験ピン作動アーム２８の上端のフオーク部
３１と連動ピン３０によつて係合している試験ピ
ンホルダ２４が同左方に摺動する。したがつて試
験ピンホルダ２４に固定されている複数の試験ピ
ン２５が、第１図に鎖線で示すように、試験ピン
進退孔２３を通つて同時にコネクタＣの試験ピン
挿入孔ｇに挿入され、圧接型端子ｄと導通するこ
ととなる。

導通試験は、この状態において各試験ピン２５
と被覆電線Ｐの他端との間で行なえばよい。一般
的には、被覆電線Ｐの他端にも同様の手順でコネ
クタＣが接続されることを利用し、この他端のコ
ネクタＣの各圧接型端子ｄと試験ピン２５間、あ
るいは本導通試験型を一対用いての試験ピン２５
間の導通試験によつて、これを行なうことができ
る。

下型２０を下降させる際の動作は、以上と逆
で、試験ピン２５が圧接型コネクタの試験ピン挿
入孔ｇから抜けた後、コネクタ支持アーム２９の
保持開放部３５がコネクタ保持位置に復帰する。

なお試験ピンホルダ２４（試験ピン２５）の移
動方向は、コネクタＣに設ける試験ピン挿入孔ｇ
の方向によつて変更することができるのは勿論で
ある。

またコネクタＣの形状等の要因によつては、コ
ネクタ支持アーム２９以外の支持手段によつて、
下型２０の上昇工程においてコネクタＣを保持す
ることが可能であり、この場合には、コネクタ支
持アーム２９を設けることを要しない。

「発明の効果」 以上のように本発明によると、圧接型コネクタ
を支持する下型を上型に対して上昇させる被覆電
線押込工程と同時に、圧接型端子と被覆電線の導
通試験を行なうことができる。よつて被覆電線押
込工程とは別の導通試験工程が不要となるから、
加工工数を削減し、作業能率の向上、コストの低
減を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による圧接型コネクタへの電線
押込型における導通試験型の実施例を示す第３図
の−線に沿う断面図、第２図は同−線に
沿う断面図、第３図は同正面図、第４図は圧接型
コネクタと被覆電線の例を示す斜視図、第５図は
圧接状態の断面図である。 コネクタＣ……圧接型コネクタ、ａ……区画
壁、ｂ……電線収納凹部、ｄ……圧接型端子、ｅ
……凹部、ｇ……試験ピン挿入孔、Ｐ……被覆電
線、ｓ……被覆、ｔ……導線、１０……上型、２
０……下型、２１……下型本体、２２……支持
部、ン２３……試験ピン進退孔、２４……試験ピ
ンホルダ、２５……試験ピン、２６……ガイドバ
ー、２７……揺動軸、２８……試験ピン作動アー
ム、２９……コネクタ支持アーム、３０……連動
ピン、３１……フオーク部、３２……試験ピンカ
ム、３２ａ……試験ピン後退区間、３２ｂ……試
験ピン進出区間、３３，３７……カムフオロア、
３４，３８……圧縮ばね、３５……保持開放部、
３６……支持アームカ、３６ａ……保持区間、３
６ｂ……開放区間。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 複数並設した電線収納凹部内にそれぞれ圧接
   型端子を有する圧接型コネクタを支持する下型
   と；この圧接型コネクタの電線収納凹部上に導い
   た被覆電線をそれぞれの電線収納凹部内に押し込
   む、上記下型に対して相対移動する上型とを有
   し、上記圧接型コネクタは、圧接型端子と導通す
   る試験ピン挿入孔を有する圧接型コネクタへの電
   線押込型において、 上記下型を上型に向けて昇降可能に設け、この
   下型に、これに支持した圧接型コネクタの試験ピ
   ン挿入孔に向けて進退可能であつて、該試験ピン
   挿入孔に進退する試験ピンを有する試験ピンホル
   ダを支持するとともに、この試験ピンホルダと連
   動してこれを進退させる試験ピン作動アームを枢
   着し、さらにこの試験ピン作動アームを、下型の
   昇降動作に連動させて揺動させるカム手段を設
   け、このカム手段により、下型の下降位置におい
   て試験ピンホルダの試験ピンが圧接型コネクタと
   の非干渉位置に退避し、上型が被覆電線を押込む
   上昇位置において試験ピンが圧接型コネクタの試
   験ピン挿入孔に進入するように試験ピン作動アー
   ムを制御することを特徴とする圧接型コネクタへ
   の電線押込型における導通試験型。 ２ 特許請求の範囲第１項において、下型には、
   その上端自由端部が圧接型コネクタの上面を保持
   開放するコネクタ支持アームが、試験ピン作動ア
   ームと同軸に枢着されており、このコネクタ支持
   アームは、下型の下降位置において圧接型コネク
   タを保持し、上型が被覆電線を押込む上昇位置に
   おいて圧接型コネクタの上面を開放するように、
   カム手段によつて制御される圧接型コネクタへの
   電線押込型における導通試験型。