JPH05500864A - 角度変位測定の方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 角度変位測定の方法および装置 技術分野 本発明は回転テーブルの角度変位の測定（例えば、校正）に関する。本発明とそ の発明の利点を適切に理解するためにまず従来技術を考察することが必要である 。

背景技術 第１図は従来の校正装置の説明図である。この装置は固定子（ステイタ）１２と ローター（回転子）１４とを有する目的テーブル１ｏを包含する。ローター１４ は、固定子１２に備えた基準点Ｄ１に対してローター１４を位置付めする位置付 め系（位置決めシステム）１６を有する。位置付め系１６は一般的にエンコーダ （図示しない）を伴い、固定子１２に対するローター１４の位置に関する使用者 がらのデータ要求に応答する例えば位置サーボ１７がら成り、そのエンコーダ圧 力はディジタル表示器ＤＲＯ（１８）に表示される。目的テーブル１ｏに搭載さ れているのは、固定子２２とローター２４とを有する中間テーブル２゜であり、 固定子２２は目的テーブル１０のローター１４に固定して載置され、ローター２ ４は基準点Ｄ１に対するローター２４の角度変位を測定するためのスケール（目 盛り）２６を有する。中間テーブル２０のローター２４上に備えられたスケール ２６は極めて正確なスケールであって、その典型的な精度は０．１″（秒）以内 である。校正操作の目的は目的テーブル１０の位置決め系１６を校正することに ある。

この目的のため角度干渉計測定システム（第２図にも図示する）の一部を形成す る一対の再帰反射鏡ＲＦＩとＲＦ２のハウジング（筐体）３０をローター２４が 支持している。角度干渉計はレーザ装置３２から放出されるレーザビームＬ１を 含み、レーザビームＬ１はビームスプリッタ３４により２つの平行なビームＬ２ およびＬ３に分割される。ビームＬ２およびＬ３は再帰反射鏡ＲＦＩおよびＲＦ ２にそれぞれ投射され、その結果としてそれらの入射路を戻って、検出器（図示 しない）のところで互いに干渉する。軸Ａの回りの再帰反射鏡ハウジング３０の 回転（ローター２４の回転による）は、検出器のところの干渉ビーム内で干渉縞 の移動を生じさせる。もし、入射ビームＬ２およびＬ３に対して正確に垂直な平 面内にある再帰反射鏡ＲＦＩおよびＲＦ２で干渉計が基準化（基準合わせ）され ている場合は、次式が当てはまる：Ｒ＝ＫＳｉｎθ　（１） ここで： θは角度変位 Ｒは干渉縞の数（全数は必要無い）；およびＫはスケール係数として知られてい る そして： Ｋ　＝　２Ｄｎ／え。　（２） ここで Ｄは再帰反射鏡ＲＦ２およびＲＦ２間の距離ｎは空気の屈折率 λ０は真空中でのレーザ光の波長である。

目的テーブル１０の位置決め系の校正は先ず最初に干渉計を基準化することによ り行われ、それにより再帰反射鏡ＲＦＩおよびＲＦ２はビームＬ２およびＬ３に 対して垂直な位置にできるだけ近づけられる。その後、すべての操作と計算に関 して、ビームＬ２およびＬ３と再帰反射鏡ＲＦＩおよびＲＦ２とは正確に垂直で あると見なされる。それから位置決め系はローター１４を一定の角度変位（例え ば１２０”）まで回転するのに使用され、その変位は位置決め系で計測され、更 に中間テーブルのローター２４がそれと同じ量（中間テーブルのスケール２６で 計測される）だけ逆回転させられる。この２つの回転間のデータから（位置決め 系１６によるローター１４の不正確な回転の結果としての）どの様な有効角度変 位でも干渉計を用いて計測される。したがって、次の関係が成立する：θ。ＩＩ Ｊ＠ｃｔ　ｔａｂｌ＠ ＝θＩｎｔｅｒｌｌ＠ｄｌａｔ＠　ｔａｂｌｅ＋θ＋ｎｔ＊ｒｒｓｒｏｍ＊ｔｅ ｒ（なお、θ。ＩＩＪ＠ｅｔ□。１．：θ対物テーブルθ＋ｎｔｓｒｍ＠ａｔ□ ｅ　ｔａｂ＋ｅ　：θ中間テーブルθｌ□ａｒｔａｒｏ□１．、：θ干渉計）こ こで： θ＋ｎｔ＊ｒｔｅｒｏｍｅｔｅｒは、（再帰反射鏡ＲＦＩとＲＦ２が存在する平 面が入射ビームＬ２とＬ３に対して垂直である場合に）、上述した基準点位置か らの再帰反射鏡ＲＦＩとＲＦ２の微分線形変位から算出した角度である。

他の角度変位（例えば１２１°）についての後続の校正はローター１４を基準点 位置から校正すべき変位位置まで再度回転することにより成される。

実際上は、中間テーブル２０のローター２４は、ローター１４の回転期間中にお いてローター２４の動きを抑圧することにより、有効に“逆回転”する。この“ 逆回転”の方法は幾つかの利点を有する：ａ）第１に、レーザビームが再帰反射 鏡に入射し、再帰反射鏡から反射するのを連続して行うのを確実にする。

ｂ）第２に、中間テーブルに位置決め系を設ける必要性を除去する。

Ｃ）最後に、校正での誤差を減少する。

後者についてはｅ　１ｎｔｅｒｒｅｒｏｓｉ＊□１についての誤差。

即ち△θは次式で与えられるので： Δθ＝（Ｒ２△Ｋ”＋　Ｋ”△Ｒ”）　””　（４）必然的に、操作が数時間に わたって遂行され、そのためスケール係数にの値を、校正を実行するのに必要な 時間にわたって変更することになる；これは典型的には空気温度の変動（従って 空気の屈折率を変える）による。上式において、Ｋに変化量を与える項（ΔＫ） はＲと掛は算され、Ｒはθの増加につれて増加するので、角度変位の測定誤差（ θ△）は角度変位量に直接比例する。すなわち、例えば、１°の角度変位の測定 は２°の角度変位の測定に比べて、Ｋの変化量による誤差が半分となる。したが って、所望の精度を達成するために、再帰反射鏡のハウジング３０の回転（即ち θｌ□＠ｒｔ＠ｒｏｍ＠ｔ＠ｒ）を最大的１°に抑制することが、従来方法にお いては一般的に必須である。

したがって、従来方法は高精度で、高価な中間テーブルを必要とし、ローター２ ４の回転を制限する必要があるという不利益を有する。これらの不利益に、干渉 計に対しての厳格な基準化（基準合わせ）の必要性に関する不利益が加わり、干 渉計は操作時間を延長したとしてもデータ内に誤差を導くことになる。

発明の開示 本発明は過度な精度と高価な中間テーブルの必要性を取り除いた方法を提供する ものであって；本発明はローター２４の非常に長い回転も許容する。本発明は再 帰反射鏡を正確な基準位置にあると見なす必要性を除去する（したがって干渉計 を正確に基準化する必要性を除去する）。

図面の簡単な説明 次に、以下の添付図面を参照して、本発明の態様を実施例に基づいて説明する： 第１図は従来装置を示し； 第２図は角度干渉計を示し； 第３図は本発明に従う装置を示し； 第４図は収集されたデータの説明図であり；第５図は本発明に従う校正プロット 図であり：および 第６図は干渉計での系統誤差のプロット図である。

発明を実施するための最良の形態 本発明の装置は装置の動作が下記の式で記述されるとの想定に基づいて作動する ： Ｒ＋Ｒｏ＝Ｋ　５ｉｎ（θ−θＯ）　（Ｓ）ここで： Ｒは干渉計の読み（読みデータ）； Ｒ，は干渉計の読みのオフセット： にはスケール係数； θはテーブルによって計測された角度変位；および θ。はテーブル読みｅでのオフセットである。

ここにおいて式 ％式％（６） は基準化された（即ち“目盛りをゼロに合わせた”）干渉計に対してのみ適用で きるので、θがゼロ度のときには再帰反射鏡ＲＦＩおよびＲＦ２は入射ビームに 対して正常である。もし、再帰反射鏡が入射ビームに対して正常であるときに、 目的テーブルが角度θ。に位置合わせされていれば、 Ｒ＝ＫＳｉｎ（θ−ｅ　ｏ）　（７） さらに、もし再帰反射鏡ＲＦＩおよびＲＦ２が入射ビームＬ２およびＬ３に対し て正常でないときに、干渉計が基準化されていれば、そのため干渉計オフセット 読みＲｏが存在し、それは次式と等しい：Ｒｏ＝Ｋ　５ｉｎ（θ−θｏ）　（８ ）ここで、（θ−θ。）は干渉計が基準化されたときに再帰反射鏡の入射光に対 しての正常な位置からの角度ずれである。基準化（基準合わせ）の演算はＲをゼ ロにセットするものであるので、基準化後の変位に関する正しい式は上式（５′ ）で与えられる。即ち：Ｒ＋　Ｒｏ＝　Ｋ　５ｉｎ（θ−θ。）次に、本発明の 方法を第３図および第４図を参照して説明する。従来方法で用いたと同様に、本 装置は目的テーブル１１０．中間テーブル１２０Ｊ５よび角度測定干渉計システ ムを含む。干渉計の再帰反射鏡ハウジング１３０は中間テーブル１２０のロータ ー１２４に固定されている。本発明の装置において、中間テーブル１２０はスケ ール（目盛り）を有しない（また有する必要がない）。

中間テーブル１２０のローター１２４の回転軸がテーブル１１０のローター１１ ４の回転軸と約１ｍｍまで共通線にあるように、中間テーブル１２０の固定子１ ２２は目的テーブルのローター１１４に固定して取り付けられる。これは、再帰 反射鏡が、それらローターの回転許容範囲（本例の場合は観念上のゼロから＋１ ５°、この観念上のゼロは従来技術の方法での基準点位置とほぼ等しい）にわた って干渉計に対し良好な信号強さを保証するのに必要とされる。これは、再帰反 射鏡ハウジング１３０を観念上のゼロの両側にほぼ１５°　（ローター１２４の 回転によって）回転し、それから再帰反射鏡ハウジング１３０を固定したまま、 目的テーブルを９０”　まで回転し、この手順を繰り返すことによって、チェッ クされる。これは、目的テーブル１１０の３６０°の動作範囲にわたって信号強 さが維持されることを保証するために目的テーブルの９０°づつの２つの更なる 回転に関して反復される。もし、良好な信号強さが３６ｏ°の回転にわたって得 られないときには、中間テーブルの位置は、その中間テーブルの軸と目的テーブ ルの軸とをもっと綿密に整合させるために、平行移動させられる。

校正手順を開始するため、はぼ最大信号強さが干渉計検出器で得られる位置へ中 間テーブル１２０のローター１１４は回転させられる。この位置は観念上の基準 点であり、また再帰反射鏡ハウジング１３０の全回転がシステムの回転限界（即 ち、良好な信号が干渉計検出器で得ることができる限界）以内に保たれることを 確実にするための参照位置としても用いられる。それから目的テーブル１１０お よび中間テーブル１２０はほぼ一１５°まで一緒に回転される。この位置での干 渉計の読み（Ｒ，ｔ、、ｔ）が記録される（ただし、校正データとしては使用さ れない）。それから目的テーブル１１０および中間テーブル１２０は、校正のた めのデータ収集が開始される位置へ位置付は系１１６によって正方向に１°まで 一緒に回転される。データ収集前のこの一１５°の同時回転とこれに続（＋１° の正の同時回転はシステムから機械的バックラッシュを取り除き、一定方向のデ ータ収集を可能にする。データ収集開始位置（観念的基準位置からほぼ一１４° ）に一旦到達すると、次に目的テーブル１１０および中間テーブル１２０は位置 決め系によって、１°の増加単位で、はぼ＋１５°の位置まで一緒に回転される 。

それら各々の増加に対応する位置で干渉計読み（Ｒ）が、位置決め系のＤＲＯに よって測定されたローター１１４の基準位置からの角度変位の測定値とともに調 べられる。−１５°の位置からのこの有効回転３０゜は（データ収集は一１４° でのみ開始されるから）約２９°の角度の大きさにわたる５個（本例では３０） の読みを有するゾーン（帯域９区分）として定義される。従って、ゾーンは３０ ”の角度変位を有するが、２９°の角度変位にわたって３０のデータポイントが 調べられるということを心に留め置（べきである。このゾーンを通過する回転が 一旦完了すると、目的テーブル１１０と中間テーブル１２０は一１５°まで一緒 に回転する。中間テーブル１２０の固定子１２２と一体の目的テーブル１１０の ローター１１４（これらの２つの部品はそれぞれ互いに固定して取り付けられて いるから）は、それから両方とも目的テーブルの固定子１１２（これは物理的地 面にロックしている）にロックされる。中間テーブル１２０のローター１２４を 更に一１５°　（このときは固定子１２２と目的テーブル１１０に対して）回転 して、再帰反射鏡１３０を最初のゾーン１を通る回転の開始で使用された（近似 的に）位置（Ｒ、ｔ、、ｔ）へ戻す。干渉計の読みがＲ５ｔａｒｔと同じになる まで（弧の角度はぼ数分以内で）監視することにより、中間テーブル１２０のロ ーター１２４は位置（Ｒ□ａｒｔ　）に戻される。それから上記の手順は次のゾ ーンに関して、必要な全部の角度範囲が校正されるまで繰返される。

各ゾーンの終りに目的テーブルと中間テーブルはそれぞれ互いに対して約１５° だけ回転し、また各ゾーンは約３０”の角度変位を有するので、目的テーブルの ３６０°校正は２４の重複ゾーンを各々３０°の角度変位で計量する測定を必要 とするということに注意すべきである。

これらの操作によって発生したデータ、すなわち干渉計の読みＲと角度変位θ（ これは目的テーブル１１０の位置決め系１１６により与えられる）は、校正生成 のため下記の方法で処理される。

（Ｒ＋　Ｒｏ）／Ｋ　＝　５ｉｎ（θ−θｏ）　（９）式の左辺を展開すると： （Ｒ＋Ｒｏ）／に＝　ＳｉｎθＣｏｓθｏ　−Ｃｏｓ　ｅＳｉｎ　ｅａＲ＝　− Ｒｏ＋　Ａ　Ｓｉｎθ＋Ｂ　Ｃｏｓθ　（ｌＯ）ここで： Ａ＝Ｋ　Ｃｏｓ　ｅｏ　、　Ｂ＝−Ｋ　Ｓｉｎ　θ。

最小２乗適応解析で、式（２）を展開すると：ΣＲ＝−ＮＲ，＋　ＡΣＳｉｎθ ＋ＢΣＣｏｓθここで： Ｎは読みの数の合計である。

式（１１）と他の各々の両方に対し直交する、ヒルベルト空間を規定する次の２ 式を式（９）から創りだすことが可能である： ΣＲ３１ｎｅ ＝−Ｒ０ΣＳｉｎθ＋ＡΣＳｉｎ”θ＋ＢΣＳｉｎθＣｏｓθΣＲＣｏｓθ ニーＲ０ΣＣｏｓθ＋ＡΣＳｉｎθＣｏｓθ＋ＢΣＣｏ５２ｅ一定のゾーンｉに 関して、ｊのデータポイントがある。測定の完全な一組が一旦計られると、下記 のデータファイルが存在することになる： θｌｊ＋ＲＩＪｓ但しｉ＝１・・・２４およびｊ＝１３０ｊはゾーンｉのデータ ポイント θ１４は装置の位置決め系１１６からの計量値Ｒ１Ｊは干渉計からの計量値。

目的テーブルの位置決め系の校正について、我々はテーブルを用いて測定した角 度変位θ１Ｊの値についての誤差ε、Ｊを決定しなければならない。ここで・ε １＝θＩＪ　ｔａｂｌｅ−ｅ　ｉｊ　Ｉｎｔ＠ｒｆ＠ｒ６１ｍ＠ｔ＠ｒそしてθ ｉｊ　ｉｎｔ＊ｒｆ＊ｒｏｍｅｔｓｒは干渉計の読みＲから計算した目的ロータ ーの角度変位の値である。

各ゾーンｉに対するデータポイントｊは、各ゾーンｉについてのθ。ｉｔ　Ｒｏ ｌおよびに、の値を生み出すために、連立方程式（１１）から（１３）を解くこ とに使用することができる。

これはに、に対して２４の値を生じることになるので、平均値は下記のように簡 単に演算される：θＩＪ　＋ｎｔ＊ｒｒ＊ｒｏヨ５ｔａｒの値を計算するために 、先に計算されたｅ　Ｑｌ＋　Ｒｏｌの値と一緒に、例えば式（９）に再導入さ れる。

次に、干渉計により測定されて、また目的テーブル１１０により測定されたθ１ 、の値開の誤差に関する値（ε３Ｊ）は式（１４）を用いることにより得られる 。

ε、Ｊ＝θｉｊ　ｔａｂｌｅ−θ＋ｊ　１ｎｔｓｒｆ＊ｒｏｍｅｔｅｒ２４個の ３０°ゾーンでデータポイントが計測されて、かつ各ゾーンで３０の読みが２９ °の角度変位にわたって読み取られるので、各データポイントの角度変位は２度 測定される。従って、我々は各データポイントの測定誤差ε、Ｊに関して２つの 値を有することになる。これら２つのε１１の値は、目的テーブル１１０の変位 における誤差のより正確な値を得るために、下記の方法で一緒に平均化される。

第４図を参照すると、３つの重複するゾーンｉ。

（ｉｔ１）および（ｉｔ２）が示されている。それぞれのゾーンはほぼ３０゛の 角度変位に対応して、第ｉゾーンはＯｏから３０°に至り、第（ｉｔ１）ゾーン は１５°から４５°に至り、第（ｉｔ２）ゾーンは３０°から６０°に至る。各 ゾーンは２９°の角度変位にわたってほぼ１°づつ増加するデータポイントｊを 含む（従って、各ゾーンｉにおけるデータポイントの数は３０である）、従って 、ゾーンｉおよび（ｉｔ１）は１５°から３０°の範囲で重複読み値を有する。

（第ｉゾーンの）誤差値ε、Ｊと（第（ｉｔ１）ゾーンの）誤差値ε１．、Ｊは 次のように互いに関連しているとすることができる。

Ｓｉ　、　ｍ　＋、＝ε８．１３、＋θ。ｔｔ　Ｈｅ）ここで： ｍは第（ｉｔ１）ゾーン内のデータポイントｊと重複する第ｉゾーン内の最初の データポイントに先行する所の第ｉゾーン内のデータポイントの数であり、また θ。２．はゾーン内の重複におけるオフセットであって、１５′よりも僅かに小 さいか、大きいかの角度変位によりゾーンｉとゾーン（ｉｔ１）の中間点が互い に離れる結果として生ずる。

θ。２．のより良い数値を得るために、２つのゾーンｉおよび（ｉｔ１）内の重 複するデータポイントｊについての誤差ε１．を合計する： θａｔｔ ＝　［ΣＪｔ１．Ｎ　εｉ、Ｉｍ＊Ｊ−Σ１４．８ε、、、、、］／Ｎここで： Ｎはゾーンｉと（ｉｔ１）間の重複するデータポイントの数である。

ｅ　ｏｔｔＯ値を決定することにより、このθ。１．は誤差値ε１．１１、を補 正するのに使用できる。なぜならこれらは、誤差ポイントεｉ、Ｉｌ＊ｊについ ての目的テーブル１１０のローターの変位におけるのと同じ原因に関連している からである。従って、我々は下記の演算を行う： ε１＊１．Ｊ　＋θ。、ｆ　但し、　ｊ＝０．１・・・３０この演算は次のゾー ン、即ちゾーン（ｉ＋２）において繰り返さなければならない。そのゾーンの誤 差値ε、や２．ｊはゾーン（ｉ＋１）と（ｉ＋２）との間で決定されたθ。ｆｆ の値に従って訂正される。この手順はすべてのゾーンｉ＝１・・・２４に関して 何度も繰り返される。

これが処理されると、我々は次に各データポイント上の誤差値の二重性を用いて 各データポイントに関する改善された誤差値を得る。例えば、ゾーンｉおよび（ ｉ＋１）間の共通のポイントに関する最良の見積りとして： 丁−＝（ε６９．４＋ε、、１．　ｊ）／２　（１９）注意、ε１□、の値はθ 。□によって修正されていることに心に留めてお（こと。

我々は次に固定子１１２に対する目的テーブル１１０のローター１１４の各々の 要求された角度変位に関して誤差平均値ε１、を出す。典型的には、これは第５ 図に示すような補正プロットを生み出す。上記のデータ処理はＫの値を体系的に 過少見積りするという傾向を有することが、予期したことであったが、見出せる 。なぜなら： テーブルが３６０°まで回転したところで（第５図のプロットの場合）、０°と ３６０°での変位に対する誤差は非常にきっちりと一致するはずであり、なぜな らそれらは同じポイントに対して計算された誤差を表しているからである。だが 、これは本当ではなく、この２つの誤差値はθ。、たけ互いに離れていることが 第５図により理解できる。データプロットはプロットの各誤差値ε４、に対して 、次の値を加えることにより簡単に一致する訂正をすることが可能である：θ。

、×（θ／３６０゛） 重なり合う２組のゾーンの形態でデータを発生することにより、多くの問題が解 消される。

まず、この第１の問題としては、目的テーブル１１０に対して中間テーブル１２ ０の逆転が行われている期間に、目的テーブル１１０の多少の動きが例えば目的 テーブルに作用する反作用（これは中間テーブルの加速による）によって必然的 に生ずることである。仮に、このゾーンが互いに直線的に“突き当られた”もの であれば、中間テーブル１２０と目的テーブル１１０の相対運動は、ゾーンｉ中 のＮ個のデータポイントの最後のデータポイント１についての誤差値ε、が次の ゾーン（ｉ＋１）の最初のデータポイント上の誤差値ε１．１．と同じではなく なり、εｉ＊１．ｉは目的テーブル１１Ｏの動きに従って太き（なるであろうと いうことを意味する。それに加えて、目的テーブル１１０の相対運動の大きさは おそら（機械的なバックラッシュによる位置決め系１１６の誤差よりも小さく、 かつ位置決め系１１６のＤＲＯ上に現れないであろう。このように、ゾーン（ｉ ＋１）の最初のデータポイントを個別に読み取ることは一般に簡単でない。

この相対運動により付加された誤差は系統的であり、そのため平均化により消失 しないであろう。ゾーンを重複させる方法でデータを発生することはこれらの問 題を解消するので非常に大きな効果がある。

ゾーンを重複させることの第２の理由は、テーブルによる系統誤差が干渉計中の 系統誤差をエラーマツプ化することで除去できることである。これを行うために 、各々のゾーンｉ、・・・・・・ｉ＋２３中の対応するデータポイントｊ上の誤 差ε、Ｊは一緒に加算され、第６図でプロットで示した範囲内の多項式曲線上に あるということが見出だせる。多項式曲線の“形（フオーム）”が全てのゾーン で同じであるので、目下我々はこの系統誤差をシステムの光学系に帰している。

この多項式曲線の存在は２つの方法により除去できる。

ａ）もし、例えば精度が０．１円弧秒以内に要求されている場合には、ゾーン中 央の両側の約１０’の角度変位ではこの値（要求精度値）よりも大きな誤差は生 じないであろうということ、およびこの角度変位内にデータポイントを取るよう に制限することで望みの結果に到達するであろうということが第６図のプロット から理解できる。さらにまた、この範囲の誤差値が実質的にリニア（直線性）で あり、そのため最小２乗解析による式（１１）から式（１３）を解（手順がそれ に応じてスケール係数に合致し、その結果これがそれらの誤差を自動的に消去す るということが第６図から理解できる。

ｂ）もし、−組の２９°の角度変位にわたるデータポイントが要求された場合に は、誤差を計算するためのルックアップテーブルまたは多項式適応ルーチンのい ずれかを有するコンピュータプログラムによりデータプロット誤差を実質的にほ とんど除去することができる。

いくつかの回転テーブルを用いた場合には、全体の校正を得るためにそれらの回 転テーブルが搭載されている軸受は系により７２０°にわたってテーブルを回転 する必要がある。例えばシール軸受けを用いている場合に、軸受はメンバーの１ つを他のものに関して３６０°回転すると、軸受は内のボール集団の１８０°回 転のみが生じることになる。他の複合的な回転の場合は他の軸受は配列を要求で きる。

同様な妥当なアプローチは、式（１０）を直接解くことを試みる代わりに、多項 式をθについて解くことである。

式（９）から Ｒ＝−Ｒｏ＋　Ａ　Ｓｉｎθ＋Ｂ　Ｃｏｓθ　（９）また であるから、我々は次のように書ける。

それ故、一般に ＝　ａ＋　ｂθ＋Ｃθ’＋ｄｅ”＋ｅθ’＋ｆθ５・・・従って３連立方程式（ １１）、（１２）および（１３）を用いるよりもむしろ、上記の方法で修正した データを用いて直接に（例えば、市場で入手可能な多項式ルーチンを用いて）こ の式（２３）を解（ことが可能である。

さらに他の代替アプローチとして、ドイツ規格ＶＤＥ２６１７に発表されている ような、“最小ゾーン”として知られる誤差最小化技術を採用する。

例えば、ここで Ｒ＋Ｒｏ＝Ｋ　５ｉｎ（θ−θ。） ε＋θ−［５ｉｎ−’　（Ｒ＋　Ｒｏ／２）　＋θ。ＩＲｏ、におよびθ。はε の最小範囲を決める反復で全て改変される。

誤差（円づ底−昶） 要約書 ロータリ目的テーブルは固定子（１１２）、ローター（１１４）、および位置決 めサーボ兼測定システム（１６）有する。システム（１６）は角度干渉計と、固 定子（１１２）およびローター（１２４）を有する中間テーブルとを用いて校正 される。固定子（１２４）の角度変位の値は干渉計により式Ｒ＋　Ｒ。

＝Ｋ　５ｉｎ（θ−θ。）から誘導された３直交連立方程式を解（ことにより測 定され、システム（１６）によって測定された対応する角度変位と比較される。

国際調査報告

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. １．目的固定子と、該目的固定子に対して回転可能な目的ローターと、前記目的 固定子に対する前記目的ローターの基準点からの角度変位を測定する測定手段と を有し； 一緒に回転するために前記目的ローターに結合した中間固定子と、該中間固定子 に対して回転するための中間ローターと、該中間ローターの角度変位を測定する 角度干渉計とから成る校正装置を使用する；回転可能な目的テーブルの校正方法 であって；ａ）増進ステップ（インクリメンタルステップ）において、前記目的 ローター，前記中間固定子および前記中間ローターとを共に前記目的固定子に対 して、前記基準点に対する角度変位の第１の位置から第２の該位置へ回転するス テップ； ｂ）前記ステップの各々において：（ｉ）前記測定手段によって測定された前記 基準点に対する前記目的ローターの角度変位；および（ｉｉ）角度干渉計の読み とを測定するステップ； ｃ）角度変位の前記第２の位置において、前記目的固定子，前記目的固定子，お よび前記中間固定子に対して前記中間ローターを逆回転するステップ；および ｄ）前記（ａ）から（ｃ）までのステップを繰り返すステップ からなることを特徴とする回転可能な目的テーブルの校正方法。
2. ２．前記ステップ（ｃ）の直前または直後で、前記目的ローター，前記中間固定 子および前記中間ローターを共に前記目的固定子に対して逆回転する（ｅ）のス テップを更に含むことを特徴とする請求の範囲１に記載の方法。
3. ３．前記ステップ（ｃ）および（ｅ）の逆回転の後で、前記中間ローターが前記 目的固定子に対して実質的に前記第１の角度変位位置を占めることを特徴とする 請求の範囲２に記載の方法。
4. ４．下記のステップ： ｆ）Ｒ＋Ｒ。＝ＫＳｉｎ（Θ−Θ。） の式から３直交連立方程式を誘導するステップここで Ｒ＝干渉計の読み Ｒ。＝干渉計の読みのオフセット Ｋニスケール係数 Θ＝測定手段の読み Θ。＝測定手段の読みでのオフセット；ｇ）ＲおよびΘの測定値を用いてＲ。， Θ。およびＫの値を求めるためそれらの方程式を解くステップ； ｈ）Ｒ。，Θ。およびＫの値を用いて干渉計の読みＲから計算される角度変位（ Θｉｎｔｅｒｒａｒｏｍｅｔｅｒ）の値を決定するステップ；および ｉ）ΘとΘｉｎｔｅｒｒａｒｏｍｅｔｅｒの差、この差はΘの値中の誤差である 、を算出するステップ を更に含むことを特徴とする各前記請求の範囲のいずれか一つに記載の方法。