JPH0548135Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は基板の一側縁部に外部引出電極が形成
された電子部品の電気的特性を測定するための装
置に関するものである。

〔従来技術とその問題点〕

基板の一側縁部に外部引出電極が形成された電
子部品として、例えば実開昭59−72002号公報に
記載のようなストリツプラインフイルタが知られ
ている。この種の電子部品の場合、基板に所定の
電極を形成した段階、つまりリード端子の接続お
よび樹脂封止を行う前の段階でその電気的特性を
測定し、品質検査を行う必要がある。そのため、
従来では測定機器に接続されたコネクタのセンタ
ピンを基板の外部引出電極に接触させることによ
り、電気的特性の測定を行つていた。

しかしながら、上記のような測定方法では、セ
ンタピンの外部引出電極への圧着が不安定であ
り、特にストリツプラインフイルタのように高周
波特性の測定を行う場合には、接触圧のバラツキ
や接触位置のバラツキが大きな測定誤差を招く問
題があつた。また、センタピンを外部引出電極に
必要以上に強く圧着させると、外部引出電極を損
傷し、品質を損なうおそれもあつた。

〔考案の目的〕

本考案は上記問題点に鑑みてなされたもので、
その目的は、電子部品の特性を簡単に測定でき、
接触圧や接触位置のバラツキによる測定誤差を解
消でき、かつ外部引出電極の損傷を防止できる電
子部品の特性測定装置を提供することにある。

〔考案の構成〕

本考案にかかる電子部品の特性測定装置は、絶
縁基板に入、出力端子およびアース端子がほぼ一
直線状に植設され、各端子の先端部には上記電子
部品の一側縁部に形成された外部引出電極に接触
可能な接触部が形成され、かつ上記入、出力端子
は絶縁基板に形成された伝送線路を介して測定機
器に接続されていることを特徴とするものであ
る。

〔作用〕

即ち、絶縁基板に入、出力端子およびアース端
子がほぼ一直線状に植設されているので、これら
端子に電子部品を差し込めば、電子部品の側縁部
に形成された外部引出電極は上記端子の接触部と
自動的に接続される。そして、入、出力端子は絶
縁基板に形成された伝送線路を介して測定機器に
接続されているので、上記のように電子部品を端
子に差し込むと同時に電気的特性が簡単に測定で
きる。また、入、出力端子およびアース端子と電
子部品の外部引出電極との接触圧や接触位置のバ
ラツキが少ないので、測定誤差が少なく、しかも
外部引出電極を損傷する危険性も少ない。

〔実施例〕

図面は本考案にかかる特性測定装置Ａの一例を
示し、この実施例では測定される電子部品として
ストリツプラインフイルタエレメント１を使用し
ている。

上記エレメント１はインターデジタル型であ
り、誘電体基板２の表面に互い違いに形成された
７本の帯状共振電極３ａ〜３ｇと、裏面に形成さ
れた全面電極４とを含んでいる。上記全面電極４
は基板２の側縁部を経て表面にまで延び、上記共
振電極３ａ〜３ｇの基端部は全面電極４に共通に
接続されている。上記共振電極３ａ〜３ｇの内、
両側の共振電極３ａ〜３ｇの先端部は入、出力用
の外部引出電極となつており、全面電極４の両側
縁部表裏面４ａ，４ｂおよび下縁部裏面（図示せ
ず）がアース用の外部引出電極となつている。そ
して、上記外部引出電極にそれぞれリード端子を
接続した後、周囲を樹脂で封止している。なお、
上記共振電極３ａ，３ｇの先端部の周辺は電極が
排除され、全面電極４と絶縁されている。上記エ
レメント１の電極は、誘電体基板２の表面に銀ペ
ーストを印刷、焼成することにより形成され、上
記共振電極３ａ〜３ｇの相互の間隔がストリツプ
ラインフイルタの通過帯域幅または阻止帯域幅を
決定している。

特性測定装置Ａは、ガラスエポキシ系樹脂から
なる絶縁基板１０と、絶縁基板１０にほぼ一直線
状に植設された７本の端子２０〜２６と、測定機
器Ｂの入出力部に接続されたコネクタ３０，３１
とからなる。

絶縁基板１０はその表面のほぼ全面に薄膜状の
アース電極１１が形成され、入、出力端子２１，
２５が植設される部位のみアース電極１１が排除
されている。また、絶縁基板１０の裏面には、第
２図破線で示すように２本の伝送線路１２，１３
がプリント配線されている。上記コネクタ３０，
３１のセンタピン３０ａ，３１ａは上記伝送線路
１２，１３の一端と半田付け等にて接続され、コ
ネクタ３０，３１のハウジングはアース電極１１
と接続されている。

上記端子２０〜２６は実際のストリツプライン
フイルタに使用されるリード端子と同様の材質お
よび形状をなし、かつ同一間隔で絶縁基板１０に
植設されている。即ち、両側の端子２０，２６は
先端部に二股状の接続部２０ａ，２６ａを有する
クリツプ形状のアース端子であり、上記接続部２
０ａ，２６ａはそれぞれエレメント１の全面電極
４の外部引出電極４ａ，４ｂと対応している。ま
た、上記アース端子２０，２６の内側の端子２
０，２５は先端部にＬ字形状の接続部２１ａ，２
５ａを有する入、出力端子であり、上記接続部２
１ａ，２５ａはエレメント１の入、出力用の外部
引出電極（共振電極）３ａ，３ｇと対応する。さ
らに、中央の３本の端子２２〜２４は、上記入、
出力端子２１，２５とは逆方向に屈曲したＬ字形
状の接続部２２ａ〜２４ａを有するアース端子で
あり、各接続部２２ａ〜２４ａは裏面下端部の外
部引出電極と対応する。なお、各接続部２０ａ〜
２６ａは、具体的には第３図に示すようにエレメ
ント１を挿入し易くするため先端が外方へやや開
くように形成され、かつエレメント１の電極と弾
性的に接触し得るように内側に湾曲している。

上記アース端子２０，２２〜２４，２６は絶縁
基板１０の表面に形成されたアース電極１１と半
田付け等にて接続される。また、入、出力端子２
１，２５は第３図に示すように、絶縁基板１０の
裏面に形成された伝送線路１２，１３とそれぞれ
半田付け等にて接続され、これにより入、出力端
子２１，２５はコネクタ３０，３１のセンタピン
３０ａ，３１ａと電気的に接続される。

保持枠４０はエレメント１を差し込んだ時の端
子２０〜２６の変形を防止するものであり、実際
のストリツプラインフイルタの外装と同質の樹脂
材料が用いられる。具体的には、例えば四フツ化
エチレン樹脂が使用される。保持枠４０の中央部
にはエレメント１の厚みよりやや幅広な保持溝４
１が形成されており、この保持溝４１の内面で第
２図に示すように各端子２０〜２６の接触部２０
ａ〜２６ａの外側面を保持している。したがつ
て、上記端子群２０〜２６にエレメント１を差し
込んだ時、各端子の厚み方向の変形や倒れが防止
される。なお、入、出力端子２１，２５と対応す
る部位には厚み方向に嵌合溝４２，４３が形成さ
れ、この嵌合溝４２，４３に入、出力端子２１，
２５が嵌合保持される。これにより、入、出力端
子２１，２５と保持枠４０との位置関係が常に一
定となる。

上記構成の特性測定装置Ａにおいて、エレメン
ト１をその縁部が保持枠４０の保持溝４１の奥部
４１ａに沿うように上方より差し込めば、自動的
にエレメント１の各外部引出電極と端子２０〜２
６の各接続部２０ａ〜２６ａとの位置が合致し、
しかも両者が一定の接触圧で接触する。そして、
高周波信号をコネクタ３０より入力し、その出力
をコネクタ３１を介して測定機器Ｂで検出するこ
とにより、エレメント１の電気的特性、即ち高周
波信号の通過帯域幅または阻止帯域幅を容易に測
定できる。特に、ストリツプラインフイルタのよ
うに高周波特性を測定する場合には、僅かな接触
や接触位置のバラツキが大きな測定誤差を招くの
に対し、上記特性測定装置Ａでは、エレメント１
を差し込むだけでエレメント１の各電極と端子２
０〜２６とがほぼ同一位置でかつ同一接触圧で接
触し、測定バラツキがない。また、エレメント１
の各電極と端子２０〜２６との接触圧は、端子自
体のばね係数により決定されるので、従来のよう
にコネクタのセンタピンを圧接する場合のように
過大な荷重がエレメント１に作用するおそれがな
く、エレメント１の品質を損なうことがない。

また、実施例のように各端子２０〜２６の材
質、形状および位置を、実際のストリツプライン
フイルタに使用されるリード端子と同一とし、か
つ保持枠４０と外装樹脂と同一材料で構成すれ
ば、完成品のストリツプラインフイルタと同様の
条件で測定が可能であり、基板単体の測定精度を
格段に高めることができる。

なお、本考案の特性測定装置は、実施例のよう
なストリツプラインフイルタに限らず他の電子部
品でも使用できるが、高周波信号を用いる電子部
品の測定には特に有効である。

〔考案の効果〕

以上の説明で明らかなように、本考案によれば
絶縁基板に植設された端子群に電子部品を差し込
むことにより、電子部品の側縁部に形成された外
部引出電極が端子の接触部と自動的に接続され、
かつ入、出力端子は絶縁基板に形成された伝送線
路を介して測定機器に接続されているので、電子
部品を端子に差し込むと同時に電気的特性が簡単
に測定でき、特性測定を極めて能率的に行うこと
ができる。

また、入、出力端子およびアース端子と電子部
品の外部引出電極との接触圧や接触位置がほぼ一
定しているので、測定誤差が少なく、特に高周波
特性を測定する場合に高精度の測定が可能とな
る。

さらに、端子と外部引出電極との接触圧は端子
のばね力で決定されるので、外部引出電極に無理
な荷重が作用せず、電極の損傷も防止でき、電子
部品の品質を損なうことがない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案にかかる特性測定装置と電子部
品との分解斜視図、第２図は特性測定装置の平面
図、第３図は第２図Ｘ−Ｘ線拡大断面図である。 １……エレメント、２……基板、３ａ〜３ｇ…
…共振電極、４……全面電極、Ａ……特性測定装
置、１０……絶縁基板、１１……アース電極、１
２，１３……伝送線路、２０，２２〜２４，２６
……アース端子、２１……入力端子、２５……出
力端子、２０ａ〜２６ａ……接続部、３０，３１
……コネクタ、４０……保持枠、Ｂ……測定機
器。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 基板の一側縁部に外部引出電極が形成された電
   子部品の電気的特性を測定するための装置におい
   て、 絶縁基板に入、出力端子およびアース端子がほ
   ぼ一直線状に植設され、各端子の先端部には上記
   電子部品の一側縁部に形成された外部引出電極に
   接触可能な接触部が形成され、かつ上記入、出力
   端子は絶縁基板に形成された伝送線路を介して測
   定機器に接続されていることを特徴とする電子部
   品の特性測定装置。