JP3002137U - チップコンデンサ容量抜け判定工具 - Google Patents

チップコンデンサ容量抜け判定工具

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JP3002137U
JP3002137U JP1994003768U JP376894U JP3002137U JP 3002137 U JP3002137 U JP 3002137U JP 1994003768 U JP1994003768 U JP 1994003768U JP 376894 U JP376894 U JP 376894U JP 3002137 U JP3002137 U JP 3002137U
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JP
Japan
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chip capacitor
capacitor
pair
terminals
sockets
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JP1994003768U
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Inventor
千將 中山
Original Assignee
警察庁長官
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ピンセット状の本体の一対のソケット間に、
判定対象となるチップコンデンサと同容量のコンデンサ
を挿入し、その状態でチップコンデンサの両端子に接触
部を触れるだけで、良、不良の判定ができるようにし
て、非常に小さいチップコンデンサの判定を可能とし、
はんだ付け作業を不要として部品と作業時間の無駄をな
くす。 【構成】 ピンセット状の絶縁材料からなる本体1の先
端部1a,1bに、先の尖ったピン状の導電材料からな
る接触部2a,2bを固定し、本体1の中央部に、リー
ド線付きコンデンサの端子を接続するための一対のソケ
ット3a,3bを固定し、その各端子を、ソケット毎に
まとめて接触部2a,2bにそれぞれ電気的に接続した
構成とする。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、電子部品を搭載した基板の修理において、障害箇所を確認するため の判定工具に関し、とくにチップコンデンサの容量抜けを判定するための判定工 具に関する。
【0002】
【従来の技術】
携帯無線機などの小型電子機器は、最近は小型軽量化が著しく進み、使用され るチップ部品もますます小型化される傾向にある。図4にチップコンデンサ10 の外観図(斜視図)の一例を示すが、たとえばある種の携帯無線機の基板に装着 されているものは、横幅W=3mm、奥行きD=1.5mm、高さH=0.5m mであり、また他のある種の携帯無線機の基板に装着されているものは、横幅W =2〜3mm、奥行きD=0.5〜1mm、高さH=0.5mmである。図5は チップコンデンサ10の構造の一例を示す断面図である。チップコンデンサ10 の障害としては、端子10aと導体板11a,11c、あるいは端子10bと導 体板11b,11dとの間の接続部分(点線の円内に示す)が断線し、静電容量 抜け(オープン状態)となることが多い。このような電子機器の障害において、 チップコンデンサの不良品を基板に取り付けられた状態で見つけるのは大変難し く、従来は不良と思われるチップコンデンサを取り外して良品と交換し、その時 の回路動作に変化がなければ他に不良箇所があるものと判定し、回路動作が正常 に復帰する場合は、取り外したチップコンデンサが不良品であると判定していた 。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
このような従来の判定方法では、チップコンデンサを取外し良品と取り替えて 、その時の回路動作の良否からそれが不良かどうかを調べるので、それが不良品 でなかった場合、その都度良品に取り替えていては、チップコンデンサを無駄に 使うことになり不経済である。それ以上に基板が損傷される恐れが多い。また取 り外したチップコンデンサは、チップ部品の特性上、熱や外部からの力に弱く一 度取り外したものを再び取り付けた場合、特性が劣化することがあるので、基板 がとりつけられる装置全体のそれ以後の信頼性を低下させる。したがって再使用 はできない。
【0004】 そこでチップコンデンサを取り外さないで良否を判定する方法として、不良で あると見当をつけたチップコンデンサの両端に、リード線の付いた同容量のコン デンサを半田付け等によって並列に接続し、その部分の静電容量を補充し、回路 が正常に動作するかどうかを調べるという方法が有効である。しかし、最近のよ うに極端に小型化されたチップコンデンサでは、その両端にリード線を取り付け るのも困難なほどである。
【0005】 本考案の目的は、このような問題点を解決し、チップコンデンサを基板から取 り外すことなく、半田付け等の面倒な作業も必要としないで、容易にチップコン デンサの容量抜けを判定することができるようなチップコンデンサ容量抜け判定 工具を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するため、本考案のチップコンデンサ容量抜け判定工具は、 ピンセット状に形成した絶縁材料からなる本体1の二つの先端部1a,1bに、 先端の尖ったピン状で導電材料からなる一対の接触部2a,2bを固定し、前記 本体1の二股に分かれた部分の中央部に、リード線付きコンデンサの端子を接続 するための一対のソケット3a,3bをそれぞれ固定し、前記一対のソケット3 a,3bの各端子を、ソケット毎にまとめて前記一対の接触部2a,2bに、そ れぞれ電気的に接続した構成とする。
【0007】
【実施例】
次に本考案の実施例について図面を参照して詳しく説明する。図1は、本考案 の一実施例を示す斜視図である。図1において、1はピンセット状に形成した本 体である。2a,2bは、本体1の二股に分かれた部分の先端部1a,1bにそ れぞれ固定されている接触部である。3a,3bは、本体1の二股に分かれた部 分の中央部に固定されているリード線付きコンデンサ用ソケットである。4aは 、接触部2aとソケット3aの間、4bは接触部2bとソケット3bの間をそれ ぞれ電気的に接続する導線である。ただし4aは図1には図示していない。
【0008】 本体1は絶縁材料によって作られていて、本実施例の場合は竹製のものとした が、他の絶縁材料、たとえば合成樹脂製であっても差し支えはない。接触部2a ,2bは先端が鋭いピン状のもので、導電性のよい金属によって作られている。 コンデンサ用ソケット3a,3bは、3aの接触子片にコンデンサの一方のリー ドを、3bの接触子片にコンデンサの他方のリードを挿入して接続したとき、ど の穴に挿入してもコンデンサが接触部2aと2bの間に電気的に接続されるよう 導線4a,4bによって配線されている。
【0009】 図2は、図1の実施例を使用して、チップコンデンサの容量抜けを判定する場 合の等価回路の一部を示した説明図である。図2において、5は、基板上に搭載 されていて不良と思われるチップコンデンサである。6は、ソケット3aと3b の間に挿入し、接触部2aと2bの間に電気的に接続されるリード線付きコンデ ンサである。本実施例を使用するときは、不良と思われるチップコンデンサ5と 同容量のリード線付きコンデンサ6をソケット3aと3bに差し込み、不良と思 われるチップコンデンサ5の両端を接触部2aと2bで挟む。この状態で回路を 動作させ、そのコンデンサに関わる部分が、直前の状態から変化して正常に働け ば、そのチップコンデンサが不良であると判断できる。
【0010】 ソケット3aと3bは、本実施例では多数の接触子片を備えたものを使用して いるので、リード線付きのコンデンサを同時に複数個を並列に接続することがで き、その組合せにより任意の容量を得ることが容易である。また、接触部2a、 2bの先端が針状であるので、チップコンデンサの端子に多少のフラックス等の 絶縁物が塗られていても、その部分を軽く押すだけでその絶縁物を貫通し、判定 に影響しない。
【0011】 図3は、本実施例の利用範囲を拡大して他の一般測定作業にも使えることを示 す参考図である。本実施例は、部品の密集している部分において使用することが できる特徴があるので、チップコンデンサの判定の他に、テスターリードとして も使って便利である。図3に示すようにソケット3a、3bにテスターの測定端 子を接続して、各部品の端子電圧などを測定するなら、たとえばチップトランジ スタのように、端子間が接近している箇所でも容易に端子間電圧が測定できる。 また測定が片手でできるというメリットもある。
【0012】
【考案の効果】
以上詳しく説明したように本考案は、絶縁材料でピンセット状に形成した本体 の先端部に、ピン状の一対の接触部を固定し、中央部にリード線付きコンデンサ の端子を接続するための一対のソケットを固定し、ソケット毎にまとめて接触部 に電気的に接続したので、一対のソケット間に判定対象となるチップコンデンサ と同容量のリード線付きコンデンサを挿入し、その状態で基板に搭載されている チップコンデンサの両端子に接触部を触れるだけで、そのコンデンサの良、不良 の判定が容易に判るという効果がある。従って本実施例を使用すれば、不良と思 われるチップコンデンサを基板から取外し、新しいチップコンデンサを取り付け るための半田付け作業によって、コンデンサが良品であった場合に、その特性を 劣化させて部品を無駄にしたり、判定時間を余計に長びかせるということはない 。また非常に小さいチップコンデンサでも判定することができるなどの効果があ る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示す斜視図である。
【図2】図1の実施例で容量抜けを判定する場合の等価
回路例を示す説明図である。
【図3】本実施例の応用的使用例を示す参考図である。
【図4】チップコンデンサの外観の一例を示す斜視図で
ある。
【図5】チップコンデンサの構造の一例を示す断面図で
ある。
【符号の説明】
1 本実施例の本体 2a,2b 接触部 3a,3b リード線付きコンデンサ用ソケット 4a,4b 導線 5 基板上に搭載されているチップコンデンサ 6 リード線付きコンデンサ 10 チップコンデンサ 10a,10b チップコンデンサの端子 11a,11b,11c,11d 導体板

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ピンセット状に形成した絶縁材料からな
    る本体の二つの先端部に、先端の尖ったピン状で導電材
    料からなる一対の接触部を固定し、 前記本体の二股に分かれた部分の中央部に、リード線付
    きコンデンサの端子を接続するための一対のソケットを
    それぞれ固定し、 前記一対のソケットの各端子を、ソケット毎にまとめて
    前記一対の接触部に、それぞれ電気的に接続したことを
    特徴とするチップコンデンサ容量抜け判定工具。
JP1994003768U 1994-03-18 1994-03-18 チップコンデンサ容量抜け判定工具 Expired - Lifetime JP3002137U (ja)

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JP3002137U true JP3002137U (ja) 1994-09-20

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ID=43138107

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