JPH0546493A - メモリ診断装置 - Google Patents
メモリ診断装置Info
- Publication number
- JPH0546493A JPH0546493A JP3202711A JP20271191A JPH0546493A JP H0546493 A JPH0546493 A JP H0546493A JP 3202711 A JP3202711 A JP 3202711A JP 20271191 A JP20271191 A JP 20271191A JP H0546493 A JPH0546493 A JP H0546493A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- address
- time
- diagnosis
- random number
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 装置の信頼性を保ちながら、メモリ診断の時
間を短縮する。 【構成】 データ処理装置は、主記憶部１１とデータ処
理装置制御部１２とメモリ診断制御部１４とタイマ１５
と乱数発生器１６とを備えている。タイマ１５によって
データ処理装置の電源の連続オフ時間を測定し、データ
処理装置の電源が投入されたときに、メモリ診断制御部
１４の判断手段２１によって、タイマ１５によって測定
されたオフ時間が所定値以上か所定値未満かを判断し、
オフ時間が所定値以上の場合には全アドレス診断手段２
２によって全アドレスについて主記憶部１１のメモリ診
断を行い、オフ時間が所定値未満の場合には一部アドレ
ス診断手段２３によって、乱数発生器１６で発生された
乱数に基づく一部のアドレスについて主記憶部１１のメ
モリ診断を行う。
間を短縮する。 【構成】 データ処理装置は、主記憶部１１とデータ処
理装置制御部１２とメモリ診断制御部１４とタイマ１５
と乱数発生器１６とを備えている。タイマ１５によって
データ処理装置の電源の連続オフ時間を測定し、データ
処理装置の電源が投入されたときに、メモリ診断制御部
１４の判断手段２１によって、タイマ１５によって測定
されたオフ時間が所定値以上か所定値未満かを判断し、
オフ時間が所定値以上の場合には全アドレス診断手段２
２によって全アドレスについて主記憶部１１のメモリ診
断を行い、オフ時間が所定値未満の場合には一部アドレ
ス診断手段２３によって、乱数発生器１６で発生された
乱数に基づく一部のアドレスについて主記憶部１１のメ
モリ診断を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置において
メモリを診断するメモリ診断装置に関する。
メモリを診断するメモリ診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】プログラムやデータを記憶するメモリを
有する情報処理装置では、装置の信頼性を保つために、
電源投入直後にメモリの診断を行うようにしたものがあ
る。従来、このようなメモリ診断では電源が投入された
直後に、メモリの全アドレスを診断していた。
有する情報処理装置では、装置の信頼性を保つために、
電源投入直後にメモリの診断を行うようにしたものがあ
る。従来、このようなメモリ診断では電源が投入された
直後に、メモリの全アドレスを診断していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うにメモリの全アドレスを診断すると、診断に時間がか
かり、システムを立ち上げるまでに時間がかかるという
問題点がある。一方、メモリ診断を行わなければ装置の
信頼性を保つことができない。
うにメモリの全アドレスを診断すると、診断に時間がか
かり、システムを立ち上げるまでに時間がかかるという
問題点がある。一方、メモリ診断を行わなければ装置の
信頼性を保つことができない。
【０００４】そこで本発明の目的は、メモリ診断の時間
を短縮できると共に、装置の信頼性を保つことのできる
メモリ診断装置を提供することにある。
を短縮できると共に、装置の信頼性を保つことのできる
メモリ診断装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明のメ
モリ診断装置は、プログラムやデータを記憶するメモリ
を有する情報処理装置の電源の連続オフ時間を測定する
タイマと、情報処理装置の電源が投入されたときに、タ
イマによって測定されたオフ時間が所定値以上か所定値
未満かを判断する判断手段と、この判断手段によってオ
フ時間が所定値以上と判断された場合に、メモリの診断
可能な全アドレスについてメモリ診断を行う全アドレス
診断手段と、判断手段によってオフ時間が所定値未満と
判断された場合に、メモリの診断可能な全アドレスのう
ちの一部のアドレスについてメモリ診断を行う一部アド
レス診断手段とを備えたものである。
モリ診断装置は、プログラムやデータを記憶するメモリ
を有する情報処理装置の電源の連続オフ時間を測定する
タイマと、情報処理装置の電源が投入されたときに、タ
イマによって測定されたオフ時間が所定値以上か所定値
未満かを判断する判断手段と、この判断手段によってオ
フ時間が所定値以上と判断された場合に、メモリの診断
可能な全アドレスについてメモリ診断を行う全アドレス
診断手段と、判断手段によってオフ時間が所定値未満と
判断された場合に、メモリの診断可能な全アドレスのう
ちの一部のアドレスについてメモリ診断を行う一部アド
レス診断手段とを備えたものである。
【０００６】このメモリ診断装置では、タイマによって
情報処理装置の電源の連続オフ時間が測定され、この情
報処理装置の電源が投入されると、判断手段によって、
タイマによって測定されたオフ時間が所定値以上か所定
値未満かが判断される。そして、オフ時間が所定値以上
の場合には、全アドレス診断手段によって、メモリの診
断可能な全アドレスについてメモリ診断が行われ、オフ
時間が所定値未満の場合には、一部アドレス診断手段に
よって、メモリの診断可能な全アドレスのうちの一部の
アドレスについてメモリ診断が行われる。
情報処理装置の電源の連続オフ時間が測定され、この情
報処理装置の電源が投入されると、判断手段によって、
タイマによって測定されたオフ時間が所定値以上か所定
値未満かが判断される。そして、オフ時間が所定値以上
の場合には、全アドレス診断手段によって、メモリの診
断可能な全アドレスについてメモリ診断が行われ、オフ
時間が所定値未満の場合には、一部アドレス診断手段に
よって、メモリの診断可能な全アドレスのうちの一部の
アドレスについてメモリ診断が行われる。
【０００７】請求項２記載の発明のメモリ診断装置は、
請求項１記載の発明において、さらに、診断を行うアド
レスの基となる乱数を発生する乱数発生器を備え、一部
アドレス診断手段が、この乱数発生器で発生された乱数
に基づくアドレスについてメモリ診断を行うようにした
ものである。
請求項１記載の発明において、さらに、診断を行うアド
レスの基となる乱数を発生する乱数発生器を備え、一部
アドレス診断手段が、この乱数発生器で発生された乱数
に基づくアドレスについてメモリ診断を行うようにした
ものである。
【０００８】請求項３記載の発明のメモリ診断装置は、
請求項１または２記載の発明において、全アドレス診断
手段および一部アドレス診断手段が、それぞれ、メモリ
にデータを書き込んだ後そのデータを読み出し、書き込
んだデータと読み出したデータの一致を確認することに
よってメモリ診断を行うものである。
請求項１または２記載の発明において、全アドレス診断
手段および一部アドレス診断手段が、それぞれ、メモリ
にデータを書き込んだ後そのデータを読み出し、書き込
んだデータと読み出したデータの一致を確認することに
よってメモリ診断を行うものである。
【０００９】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。図１および図２は本発明の一実施例に係
る。
て説明する。図１および図２は本発明の一実施例に係
る。
【００１０】図１は、本実施例のメモリ診断装置を含む
データ処理装置の構成を示すブロック図である。この図
に示すように、データ処理装置は、プログラムやデータ
を記憶するメモリである主記憶部１１と、データ処理装
置全体を制御するデータ処理装置制御部１２と、このデ
ータ処理装置制御部１２に接続され、データ処理装置の
電源をオン、オフする電源スイッチ１３と、主記憶部１
１の診断を行うメモリ診断制御部１４と、データ処理装
置の電源の連続オフ時間を測定するタイマ１５と、メモ
リ診断制御部１４に接続され、診断を行うアドレスの基
となる乱数を発生する乱数発生器１６とを備えている。
データ処理装置の構成を示すブロック図である。この図
に示すように、データ処理装置は、プログラムやデータ
を記憶するメモリである主記憶部１１と、データ処理装
置全体を制御するデータ処理装置制御部１２と、このデ
ータ処理装置制御部１２に接続され、データ処理装置の
電源をオン、オフする電源スイッチ１３と、主記憶部１
１の診断を行うメモリ診断制御部１４と、データ処理装
置の電源の連続オフ時間を測定するタイマ１５と、メモ
リ診断制御部１４に接続され、診断を行うアドレスの基
となる乱数を発生する乱数発生器１６とを備えている。
【００１１】データ処理装置制御部１２は、中央処理装
置（以下、ＣＰＵと記す。）を備え、このＣＰＵが主記
憶部１１に格納されたプログラムを実行するによって制
御を行う。また、メモリ診断制御部１４は、データ処理
装置制御部１２を構成するＣＰＵが、主記憶部１１に格
納されたプログラムを実行することによって実現され
る。このプログラムは、データ処理装置の電源がオンに
なった直後に起動される。
置（以下、ＣＰＵと記す。）を備え、このＣＰＵが主記
憶部１１に格納されたプログラムを実行するによって制
御を行う。また、メモリ診断制御部１４は、データ処理
装置制御部１２を構成するＣＰＵが、主記憶部１１に格
納されたプログラムを実行することによって実現され
る。このプログラムは、データ処理装置の電源がオンに
なった直後に起動される。
【００１２】タイマ１５は電池１７で動作し、データ処
理装置制御部１２によって制御されて、データ処理装置
の電源がオフされると時間を測定し始め、次に電源がオ
ンされるまでの時間、すなわち連続オフ時間を測定する
ようになっている。
理装置制御部１２によって制御されて、データ処理装置
の電源がオフされると時間を測定し始め、次に電源がオ
ンされるまでの時間、すなわち連続オフ時間を測定する
ようになっている。
【００１３】メモリ診断制御部１４は、データ処理装置
の電源が投入されたときに、タイマ１５によって測定さ
れたオフ時間が所定値以上か所定値未満かを判断する判
断手段２１と、この判断手段２１によってオフ時間が所
定値以上と判断された場合に、主記憶部１１の診断可能
な全アドレスについてメモリ診断を行う全アドレス診断
手段２２と、判断手段２１によってオフ時間が所定値未
満と判断された場合に、主記憶部１１の診断可能な全ア
ドレスのうち、乱数発生器１６で発生された乱数に基づ
く一部のアドレスについてメモリ診断を行う一部アドレ
ス診断手段２３とを備えている。
の電源が投入されたときに、タイマ１５によって測定さ
れたオフ時間が所定値以上か所定値未満かを判断する判
断手段２１と、この判断手段２１によってオフ時間が所
定値以上と判断された場合に、主記憶部１１の診断可能
な全アドレスについてメモリ診断を行う全アドレス診断
手段２２と、判断手段２１によってオフ時間が所定値未
満と判断された場合に、主記憶部１１の診断可能な全ア
ドレスのうち、乱数発生器１６で発生された乱数に基づ
く一部のアドレスについてメモリ診断を行う一部アドレ
ス診断手段２３とを備えている。
【００１４】次に、図２を参照して本実施例の動作につ
いて説明する。図２は、データ処理装置の電源オン直後
のメモリ診断の動作を示すフローチャートである。
いて説明する。図２は、データ処理装置の電源オン直後
のメモリ診断の動作を示すフローチャートである。
【００１５】この図に示すように、ステップ（以下、Ｓ
と記す。）１０１で電源スイッチ１３によりデータ処理
装置の電源がオンされると、Ｓ１０２で、まずデータ処
理装置制御部１２が起動する。このデータ処理装置制御
部１２は、まずＳ１０３で、タイマ１５に対してタイマ
カウント停止の指示を出し、その後Ｓ１０４で、メモリ
診断制御部１４へ制御を渡す。このメモリ診断制御部１
４は、まずＳ１０５で、タイマ１５の値を読み出す。次
に、Ｓ１０６で、判断手段２１によって、タイマ値が予
めシステムで設定した設定値（例えば８時間）以上か否
かを判断する。ＹＥＳのときは、主記憶部１１を構成す
るメモリの故障の可能性が高いと判断して、Ｓ１０７
で、全アドレス診断手段２２によって主記憶部１１の全
アドレスをテストする。このテストは、主記憶部１１の
全アドレスのメモリにデータを書き込み、またそのデー
タを読み出して、書き込んだデータと読み出したデータ
とが一致するか否かを確認することで行われる。そし
て、Ｓ１０８で、主記憶部１１のメモリ機能が正常が否
かを判断する。書き込んだデータと読み出したデータと
が一致すれば正常と判断して、Ｓ１０９でデータ処理装
置制御部１２へ制御を戻し、メモリ診断の動作を終了す
る。書き込んだデータと読み出したデータとが一致しな
ければ異常と判断して、Ｓ１１０で、その旨のメッセー
ジを表示して終了する。
と記す。）１０１で電源スイッチ１３によりデータ処理
装置の電源がオンされると、Ｓ１０２で、まずデータ処
理装置制御部１２が起動する。このデータ処理装置制御
部１２は、まずＳ１０３で、タイマ１５に対してタイマ
カウント停止の指示を出し、その後Ｓ１０４で、メモリ
診断制御部１４へ制御を渡す。このメモリ診断制御部１
４は、まずＳ１０５で、タイマ１５の値を読み出す。次
に、Ｓ１０６で、判断手段２１によって、タイマ値が予
めシステムで設定した設定値（例えば８時間）以上か否
かを判断する。ＹＥＳのときは、主記憶部１１を構成す
るメモリの故障の可能性が高いと判断して、Ｓ１０７
で、全アドレス診断手段２２によって主記憶部１１の全
アドレスをテストする。このテストは、主記憶部１１の
全アドレスのメモリにデータを書き込み、またそのデー
タを読み出して、書き込んだデータと読み出したデータ
とが一致するか否かを確認することで行われる。そし
て、Ｓ１０８で、主記憶部１１のメモリ機能が正常が否
かを判断する。書き込んだデータと読み出したデータと
が一致すれば正常と判断して、Ｓ１０９でデータ処理装
置制御部１２へ制御を戻し、メモリ診断の動作を終了す
る。書き込んだデータと読み出したデータとが一致しな
ければ異常と判断して、Ｓ１１０で、その旨のメッセー
ジを表示して終了する。
【００１６】一方、Ｓ１０６で、タイマ値が設定値未満
であると判断された場合には、以前の使用時からの経過
時間が短いためメモリの故障の可能性が低いと判断し、
一部アドレス診断手段２３によって、主記憶部１１の一
部のアドレスのみのテストを行う。この場合、アドレス
診断手段２３は、まずＳ１１１で、乱数発生器１６に対
して乱数発生の指示を出す。乱数発生器１６は、発生し
た乱数を一部アドレス診断手段２３へ渡す。一部アドレ
ス診断手段２３はこの乱数を基に、Ｓ１１２で、主記憶
部１１のアドレスを決定し、Ｓ１１３で、そのアドレス
のメモリの書き込み、読み出しによるテストを行う。な
お、一部アドレス診断手段２３は、タイマ１５の値によ
りシステムで予め設定した回数だけ乱数発生器１６に乱
数を発生させ、複数のアドレスについて主記憶部１１の
テストを行う。そして、Ｓ１１４で、テストしたアドレ
スについて主記憶部１１のメモリ機能が正常が否かを判
断し、正常であれば、Ｓ１０９でデータ処理装置制御部
１２へ制御を戻し、メモリ診断の動作を終了し、異常で
あれば、Ｓ１１５で、その旨のメッセージを表示して終
了する。
であると判断された場合には、以前の使用時からの経過
時間が短いためメモリの故障の可能性が低いと判断し、
一部アドレス診断手段２３によって、主記憶部１１の一
部のアドレスのみのテストを行う。この場合、アドレス
診断手段２３は、まずＳ１１１で、乱数発生器１６に対
して乱数発生の指示を出す。乱数発生器１６は、発生し
た乱数を一部アドレス診断手段２３へ渡す。一部アドレ
ス診断手段２３はこの乱数を基に、Ｓ１１２で、主記憶
部１１のアドレスを決定し、Ｓ１１３で、そのアドレス
のメモリの書き込み、読み出しによるテストを行う。な
お、一部アドレス診断手段２３は、タイマ１５の値によ
りシステムで予め設定した回数だけ乱数発生器１６に乱
数を発生させ、複数のアドレスについて主記憶部１１の
テストを行う。そして、Ｓ１１４で、テストしたアドレ
スについて主記憶部１１のメモリ機能が正常が否かを判
断し、正常であれば、Ｓ１０９でデータ処理装置制御部
１２へ制御を戻し、メモリ診断の動作を終了し、異常で
あれば、Ｓ１１５で、その旨のメッセージを表示して終
了する。
【００１７】また、利用者が電源スイッチ１３によって
データ処理装置の電源をオフにすると、データ処理装置
制御部１２はタイマ１５に対して時間測定開始の指示を
出し、システムの電源を切る。
データ処理装置の電源をオフにすると、データ処理装置
制御部１２はタイマ１５に対して時間測定開始の指示を
出し、システムの電源を切る。
【００１８】このように本実施例によれば、データ処理
装置のオフ時間が設定値未満の場合には、乱数発生器１
６で発生させた乱数に基づくアドレスのみしかメモリ診
断を行わないので、メモリ診断の時間を短縮することが
できる。データ処理装置のオフ時間が設定値未満の場合
には、以前の使用時からの経過時間が短いためメモリの
故障の可能性は低く、一部のアドレスについてのメモリ
診断だけでも装置の信頼性を低下させることはない。ま
た、データ処理装置のオフ時間が設定値以上の場合に
は、全アドレスについてメモリ診断を行うので、装置の
信頼性を保つことができる。
装置のオフ時間が設定値未満の場合には、乱数発生器１
６で発生させた乱数に基づくアドレスのみしかメモリ診
断を行わないので、メモリ診断の時間を短縮することが
できる。データ処理装置のオフ時間が設定値未満の場合
には、以前の使用時からの経過時間が短いためメモリの
故障の可能性は低く、一部のアドレスについてのメモリ
診断だけでも装置の信頼性を低下させることはない。ま
た、データ処理装置のオフ時間が設定値以上の場合に
は、全アドレスについてメモリ診断を行うので、装置の
信頼性を保つことができる。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、情
報処理装置の電源の連続オフ時間が所定値以上の場合に
はメモリの診断可能な全アドレスについてメモリ診断を
行い、オフ時間が所定値未満の場合には一部のアドレス
についてメモリ診断を行うようにしたので、メモリ診断
の時間を短縮できると共に装置の信頼性を保つことがで
きるという効果がある。
報処理装置の電源の連続オフ時間が所定値以上の場合に
はメモリの診断可能な全アドレスについてメモリ診断を
行い、オフ時間が所定値未満の場合には一部のアドレス
についてメモリ診断を行うようにしたので、メモリ診断
の時間を短縮できると共に装置の信頼性を保つことがで
きるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例のメモリ診断装置を含むデー
タ処理装置の構成を示すブロック図である。
タ処理装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１のデータ処理装置の電源オン直後のメモリ
診断の動作を示すフローチャートである。
診断の動作を示すフローチャートである。
１１ 主記憶部 １２ データ処理装置制御部 １４ メモリ診断制御部 １５ タイマ １６ 乱数発生器 ２１ 判断手段 ２２ 全アドレス診断手段 ２３ 一部アドレス診断手段
Claims (3)
- 【請求項１】 プログラムやデータを記憶するメモリを
有する情報処理装置の電源の連続オフ時間を測定するタ
イマと、 前記情報処理装置の電源が投入されたときに、前記タイ
マによって測定されたオフ時間が所定値以上か所定値未
満かを判断する判断手段と、 この判断手段によってオフ時間が所定値以上と判断され
た場合に、前記メモリの診断可能な全アドレスについて
メモリ診断を行う全アドレス診断手段と、 前記判断手段によってオフ時間が所定値未満と判断され
た場合に、前記メモリの診断可能な全アドレスのうちの
一部のアドレスについてメモリ診断を行う一部アドレス
診断手段とを具備することを特徴とするメモリ診断装
置。 - 【請求項２】 診断を行うアドレスの基となる乱数を発
生する乱数発生器を備え、前記一部アドレス診断手段
は、前記乱数発生器で発生された乱数に基づくアドレス
についてメモリ診断を行うことを特徴とする請求項１記
載のメモリ診断装置。 - 【請求項３】 前記全アドレス診断手段および一部アド
レス診断手段は、それぞれ、メモリにデータを書き込ん
だ後そのデータを読み出し、書き込んだデータと読み出
したデータの一致を確認することによってメモリ診断を
行うことを特徴とする請求項１または２記載のメモリ診
断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3202711A JPH0546493A (ja) | 1991-08-13 | 1991-08-13 | メモリ診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3202711A JPH0546493A (ja) | 1991-08-13 | 1991-08-13 | メモリ診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0546493A true JPH0546493A (ja) | 1993-02-26 |
Family
ID=16461889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3202711A Pending JPH0546493A (ja) | 1991-08-13 | 1991-08-13 | メモリ診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0546493A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006147024A (ja) * | 2004-11-18 | 2006-06-08 | Takashi Oshikiri | 半導体メモリおよび半導体メモリのテスト方法 |
| JP2013168173A (ja) * | 2007-06-21 | 2013-08-29 | Mega Chips Corp | メモリコントローラ |
-
1991
- 1991-08-13 JP JP3202711A patent/JPH0546493A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006147024A (ja) * | 2004-11-18 | 2006-06-08 | Takashi Oshikiri | 半導体メモリおよび半導体メモリのテスト方法 |
| US8090958B2 (en) | 2004-11-18 | 2012-01-03 | Takashi Oshikiri | Semiconductor memory and method of testing semiconductor memory |
| JP2013168173A (ja) * | 2007-06-21 | 2013-08-29 | Mega Chips Corp | メモリコントローラ |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6198663B1 (en) | Non-volatile semiconductor memory IC | |
| CN108398915A (zh) | 控制装置以及其控制方法 | |
| JP3063708B2 (ja) | 無停止電源システム並びにこれに用いる被バックアップ装置及びコンピュータを被バックアップ装置として動作させるためのプログラムを記録した記録媒体 | |
| US20080010567A1 (en) | Memory testing | |
| JP2001104610A5 (ja) | ||
| CN109556646B (zh) | 一种气体传感器校准方法、装置、存储介质及终端 | |
| JP2001227790A (ja) | 空気調和機のセンサ故障診断装置 | |
| JPH0546493A (ja) | メモリ診断装置 | |
| JP2001273794A (ja) | フェイル前情報取得回路およびその取得方法 | |
| JP2019213142A (ja) | 情報処理装置、プロセッサ、及び光ファイバー検査方法 | |
| KR20140134116A (ko) | 디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법 | |
| US20220222135A1 (en) | Electronic control device | |
| US20030120973A1 (en) | Microprocessor and processing method of microprocessor | |
| JP2631651B2 (ja) | 自己診断機能を具備した記憶装置 | |
| JP4226108B2 (ja) | ディジタルシグナルプロセッサ及びプロセッサのセルフテスト方法 | |
| JPH0196898A (ja) | 自己診断機能付き半導体記憶装置 | |
| JP2000042234A (ja) | 故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータ | |
| JPH04339399A (ja) | メモリテスタの救済アドレス解析回路 | |
| JP2906417B2 (ja) | マイクロコンピュータの試験方式 | |
| JPH0336651A (ja) | 制御記憶読出検査方式 | |
| JPS5810853A (ja) | 集積回路 | |
| JP3060376U (ja) | メモリ装置 | |
| KR0180375B1 (ko) | 자동차의 시동 불량 경고장치 및 그 방법 | |
| JPH0258800A (ja) | 半導体メモリ用オンチップテスト回路及びテスト方式 | |
| JPH0217555A (ja) | メモリ診断方式 |