JP2000042234A - 故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータ - Google Patents
故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータInfo
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- JP2000042234A JP2000042234A JP10247705A JP24770598A JP2000042234A JP 2000042234 A JP2000042234 A JP 2000042234A JP 10247705 A JP10247705 A JP 10247705A JP 24770598 A JP24770598 A JP 24770598A JP 2000042234 A JP2000042234 A JP 2000042234A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 遊技機を制御する遊技機制御用マイクロコン
ピュータに乱数発生装置を内蔵させると共に、故障診断
機能を持たせる。 【解決手段】 乱数発生装置用故障診断手段が診断の結
果正常と判断した時にはユーザーモードへ移行し、また
異常と判断した時には何らかの警告を発すると共にマイ
クロコンピュータ１をユーザーモードを移行しないよう
に処理するように構成された故障診断機能を有する乱数
発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータ及び
乱数発生装置用故障診断手段が乱数発生装置６のビット
変化を監視するように構成され、乱数発生装置６の所定
のビットデータが複数回の乱数取り出しにもかかわらず
変化しない場合に異常と判断し、ビットデータが所定回
数内で変化した時に正常と診断するように構成されてい
ることを特徴とする。
ピュータに乱数発生装置を内蔵させると共に、故障診断
機能を持たせる。 【解決手段】 乱数発生装置用故障診断手段が診断の結
果正常と判断した時にはユーザーモードへ移行し、また
異常と判断した時には何らかの警告を発すると共にマイ
クロコンピュータ１をユーザーモードを移行しないよう
に処理するように構成された故障診断機能を有する乱数
発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータ及び
乱数発生装置用故障診断手段が乱数発生装置６のビット
変化を監視するように構成され、乱数発生装置６の所定
のビットデータが複数回の乱数取り出しにもかかわらず
変化しない場合に異常と判断し、ビットデータが所定回
数内で変化した時に正常と診断するように構成されてい
ることを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、遊技機の抽選に使用さ
れる乱数を発生する乱数発生装置を内蔵した遊技機制御
用のマイクロコンピュータにおいて、外部装置（一般に
は遊技場のホールコンピュータ、または遊技機制御用マ
イクロコンピュータが正規品か否かをチェックする照合
装置等が該当する）を使用せずに、遊技機を制御する遊
技機制御用マイクロコンピュータ自身が乱数発生装置が
正常に作動しているかどうかをチェックする故障診断機
能を有するものである。
れる乱数を発生する乱数発生装置を内蔵した遊技機制御
用のマイクロコンピュータにおいて、外部装置（一般に
は遊技場のホールコンピュータ、または遊技機制御用マ
イクロコンピュータが正規品か否かをチェックする照合
装置等が該当する）を使用せずに、遊技機を制御する遊
技機制御用マイクロコンピュータ自身が乱数発生装置が
正常に作動しているかどうかをチェックする故障診断機
能を有するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の遊技機用乱数として線形合同法
（乗積合同法／混合合同法）やＭ系列等の様々な乱数発
生装置が使用されているが、スタート入賞口に入賞する
タイミングで当該乱数発生装置の出力を乱数とする方式
のものが知られている。しかしながら、マイコンに乱数
発生回路を内蔵させた遊技機用のマイコンチップは、市
場にはない。また、例えば中央処理装置（以下ＣＰＵと
いう）、ランダムアクセスメモリ（以下ＲＡＭとい
う）、リードオンリーメモリ（以下ＲＯＭという）、Ｃ
ＴＣ、並列入出力コントローラ（以下ＰＩＯという）、
シリアル入出力コントローラ（以下ＳＩＯという）等の
デバイスをワンチップ化したものをマイクロプロセッ
サ、またはマイクロコンピュータと呼称されているもの
は（以下マイコンという）、一般的にその内蔵したどの
デバイスが故障しているか、またはデバイスのどの機能
が不都合なのかを診断する目的で、出荷前の不良製品を
排除する為に必ずデバイスに対応したテスト回路が内蔵
されている。内蔵するデバイスの出力信号は、マイコン
の外部ピンに直接接続されることは無く、必ずテスト回
路に接続され、最終的にＩ／Ｏバッファを経由してマイ
コンの外部ピンへ伝達される。また同様に当該デバイス
への入力信号は、マイコンの外部ピンからＩ／Ｏバッフ
ァを経由してテスト回路に接続され、最終的に当該デバ
イスへと伝達される。したがって、マイコンは通常動作
するピン配列とは別に出荷前テストの為に、テストモー
ド用のピン配列を持ち、テストモード時には外部装置と
個々のデバイスが直接、信号の送受ができる様な形態に
なる。出荷前のマイコン検査には半導体テスタ等が使用
され、半導体テスタのプローブをマイコンの外部ピンに
接続し、テストベクタと呼称されるテストパターンをマ
イコンの外部ピンから入力し、その入力パターンに基づ
き、当該デバイスから返信される期待値とを比較して故
障の判定を行っている。
（乗積合同法／混合合同法）やＭ系列等の様々な乱数発
生装置が使用されているが、スタート入賞口に入賞する
タイミングで当該乱数発生装置の出力を乱数とする方式
のものが知られている。しかしながら、マイコンに乱数
発生回路を内蔵させた遊技機用のマイコンチップは、市
場にはない。また、例えば中央処理装置（以下ＣＰＵと
いう）、ランダムアクセスメモリ（以下ＲＡＭとい
う）、リードオンリーメモリ（以下ＲＯＭという）、Ｃ
ＴＣ、並列入出力コントローラ（以下ＰＩＯという）、
シリアル入出力コントローラ（以下ＳＩＯという）等の
デバイスをワンチップ化したものをマイクロプロセッ
サ、またはマイクロコンピュータと呼称されているもの
は（以下マイコンという）、一般的にその内蔵したどの
デバイスが故障しているか、またはデバイスのどの機能
が不都合なのかを診断する目的で、出荷前の不良製品を
排除する為に必ずデバイスに対応したテスト回路が内蔵
されている。内蔵するデバイスの出力信号は、マイコン
の外部ピンに直接接続されることは無く、必ずテスト回
路に接続され、最終的にＩ／Ｏバッファを経由してマイ
コンの外部ピンへ伝達される。また同様に当該デバイス
への入力信号は、マイコンの外部ピンからＩ／Ｏバッフ
ァを経由してテスト回路に接続され、最終的に当該デバ
イスへと伝達される。したがって、マイコンは通常動作
するピン配列とは別に出荷前テストの為に、テストモー
ド用のピン配列を持ち、テストモード時には外部装置と
個々のデバイスが直接、信号の送受ができる様な形態に
なる。出荷前のマイコン検査には半導体テスタ等が使用
され、半導体テスタのプローブをマイコンの外部ピンに
接続し、テストベクタと呼称されるテストパターンをマ
イコンの外部ピンから入力し、その入力パターンに基づ
き、当該デバイスから返信される期待値とを比較して故
障の判定を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記半導体テ
スタによる検査は、出荷前の実際の遊技機に組み込む以
前の不良品を検出する手段としては有効であるが、出荷
後、すなわち実際の遊技機に組み込まれ、通常使用によ
る時間的経過による劣化によって発生する不良品には対
処することはできない。乱数発生装置がマイコンに対し
て外部回路である場合には、乱数発生装置を操作して確
率を変造することが容易であり、外部装置である限り第
三者による変造行為を防止できない。そのために変造し
にくいように乱数発生装置をマイコンに内蔵することが
考えられるが、かかる場合に異常電流・電圧の発生やサ
ージ電流の発生等の要因により乱数発生装置のみが不良
となった場合には、不当な抽選状態（大当たり／中当た
り／小当たり／はずれ状態）に遷移する可能性が出てく
る。かかる不良を野放しにしておくことは、その台の遊
技者が不当又は過剰な利益、不利益を被ると共に、抽選
確率が所定レベルにないという理由で遊技機製造メーカ
ーの信用も毀損されることになる。
スタによる検査は、出荷前の実際の遊技機に組み込む以
前の不良品を検出する手段としては有効であるが、出荷
後、すなわち実際の遊技機に組み込まれ、通常使用によ
る時間的経過による劣化によって発生する不良品には対
処することはできない。乱数発生装置がマイコンに対し
て外部回路である場合には、乱数発生装置を操作して確
率を変造することが容易であり、外部装置である限り第
三者による変造行為を防止できない。そのために変造し
にくいように乱数発生装置をマイコンに内蔵することが
考えられるが、かかる場合に異常電流・電圧の発生やサ
ージ電流の発生等の要因により乱数発生装置のみが不良
となった場合には、不当な抽選状態（大当たり／中当た
り／小当たり／はずれ状態）に遷移する可能性が出てく
る。かかる不良を野放しにしておくことは、その台の遊
技者が不当又は過剰な利益、不利益を被ると共に、抽選
確率が所定レベルにないという理由で遊技機製造メーカ
ーの信用も毀損されることになる。
【０００４】
【課題を解決するための手段】そこで本発明はかかる従
来技術の欠点に鑑みなされたもので、遊技機を制御する
遊技機制御用マイクロコンピュータに乱数発生装置を内
蔵させると共に、当該装置が正常に作動しているかどう
かをチェックする故障診断機能を持たせることを目的と
する。すなわち本発明は、内蔵された遊技機制御用のプ
ログラムが正規のものか否かの照合を行う機能を有する
遊技機制御用のマイクロコンピュータにおいて、乱数発
生装置を内蔵させると共に、該コンピュータの起動当初
に前記内蔵乱数発生装置が所定の正常に作動しているか
否かの故障診断を行うための乱数発生装置用故障診断手
段を内蔵させたものにおいて、前記乱数発生装置用故障
診断手段が診断の結果正常と判断した時にはユーザープ
ログラムモードへ移行し、また異常と判断した時には何
らかの警告を発すると共にマイクロコンピュータをユー
ザーモードへ移行しないように処理すように構成された
故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用
マイクロコンピュータにより本目的を達成する。請求項
２の発明は、前記乱数発生装置用故障診断手段が、マイ
クロコンピュータ起動当初のブートモードにおいて作用
するように構成されたものであり、ユーザーモードでは
診断しないように構成された故障診断機能を有する乱数
発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータであ
る。請求項３の発明は、乱数発生装置用故障診断手段
が、予めマイクロコンピュータに内蔵された乱数発生装
置に関する診断用データ又は数式を内蔵しており、該内
蔵された診断用データ又は数式と乱数発生装置から出力
される乱数値とを比較することにより正常か否を診断す
るように構成された故障診断機能を有する乱数発生装置
内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータである。請求
項４の発明は、前記乱数発生装置用故障診断手段が、故
障診断用初期値データを乱数発生装置にロードし、その
後に発生する乱数値と内蔵された診断用データとを複数
回照合することにより正常か否かの診断を行うように構
成された故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技
機制御用マイクロコンピュータである。請求項５の発明
はビット変化を監視する方式のもので、前記乱数発生装
置用故障診断手段が乱数発生装置のビット変化を監視す
るように構成され、乱数発生装置の所定のビットデータ
が複数回の乱数取り出しにもかかわらず変化しない場合
に異常と判断し、ビットデータが所定回数内で変化した
時に正常と診断するように構成された故障診断機能を有
する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュ
ータである。請求項６の発明は、具体的なビット監視方
式を示すもので、乱数発生装置用故障診断手段が、乱数
発生装置を起動して最初の乱数データＡと固有初期値デ
ータＢとの排他的論理和を行い、その結果をステータス
レジスタ１に格納し、その後次の乱数データＡｉを取り
出し、該乱数データＡｉと固有初期値データＢとの排他
的論理和を行いその結果をステータスレジスタ２に格納
し、該ステータスレジスタ１とステータスレジスタ２と
の排他的論理和を行いその結果をステータスレジスタ３
に格納し、前記ステータスレジスタ１とステータスレジ
スタ３の排他的論理和が”１”の場合に次の乱数Ａ
ｉ＋１を取り出し、該乱数データＡｉ＋１と固有初期値
データＢとの排他的論理和を行いステータスレジスタ１
へ格納すると共に前記ステータスレジスタ３との論理積
を行い、その結果が”１”の場合に正常と判断し、前記
ステータスレジスタ２に格納した後のステータスレジス
タ１とステータスレジスタ３の排他的論理和が”０”の
場合に新たな乱数データを取り出して該乱数データと固
有初期値データＢとの排他的論理和を行いステータスレ
ジスタ２に格納して所定回数前記ステータスレジスタ１
とステータスレジスタ３の排他的論理和が”１”となる
ようにトライし、所定回数を越えてもステータスレジス
タ３の排他的論理和が”１”にならない場合に異常と判
断するというような方法にて診断するように構成された
乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータ
である。
来技術の欠点に鑑みなされたもので、遊技機を制御する
遊技機制御用マイクロコンピュータに乱数発生装置を内
蔵させると共に、当該装置が正常に作動しているかどう
かをチェックする故障診断機能を持たせることを目的と
する。すなわち本発明は、内蔵された遊技機制御用のプ
ログラムが正規のものか否かの照合を行う機能を有する
遊技機制御用のマイクロコンピュータにおいて、乱数発
生装置を内蔵させると共に、該コンピュータの起動当初
に前記内蔵乱数発生装置が所定の正常に作動しているか
否かの故障診断を行うための乱数発生装置用故障診断手
段を内蔵させたものにおいて、前記乱数発生装置用故障
診断手段が診断の結果正常と判断した時にはユーザープ
ログラムモードへ移行し、また異常と判断した時には何
らかの警告を発すると共にマイクロコンピュータをユー
ザーモードへ移行しないように処理すように構成された
故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用
マイクロコンピュータにより本目的を達成する。請求項
２の発明は、前記乱数発生装置用故障診断手段が、マイ
クロコンピュータ起動当初のブートモードにおいて作用
するように構成されたものであり、ユーザーモードでは
診断しないように構成された故障診断機能を有する乱数
発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータであ
る。請求項３の発明は、乱数発生装置用故障診断手段
が、予めマイクロコンピュータに内蔵された乱数発生装
置に関する診断用データ又は数式を内蔵しており、該内
蔵された診断用データ又は数式と乱数発生装置から出力
される乱数値とを比較することにより正常か否を診断す
るように構成された故障診断機能を有する乱数発生装置
内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータである。請求
項４の発明は、前記乱数発生装置用故障診断手段が、故
障診断用初期値データを乱数発生装置にロードし、その
後に発生する乱数値と内蔵された診断用データとを複数
回照合することにより正常か否かの診断を行うように構
成された故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技
機制御用マイクロコンピュータである。請求項５の発明
はビット変化を監視する方式のもので、前記乱数発生装
置用故障診断手段が乱数発生装置のビット変化を監視す
るように構成され、乱数発生装置の所定のビットデータ
が複数回の乱数取り出しにもかかわらず変化しない場合
に異常と判断し、ビットデータが所定回数内で変化した
時に正常と診断するように構成された故障診断機能を有
する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュ
ータである。請求項６の発明は、具体的なビット監視方
式を示すもので、乱数発生装置用故障診断手段が、乱数
発生装置を起動して最初の乱数データＡと固有初期値デ
ータＢとの排他的論理和を行い、その結果をステータス
レジスタ１に格納し、その後次の乱数データＡｉを取り
出し、該乱数データＡｉと固有初期値データＢとの排他
的論理和を行いその結果をステータスレジスタ２に格納
し、該ステータスレジスタ１とステータスレジスタ２と
の排他的論理和を行いその結果をステータスレジスタ３
に格納し、前記ステータスレジスタ１とステータスレジ
スタ３の排他的論理和が”１”の場合に次の乱数Ａ
ｉ＋１を取り出し、該乱数データＡｉ＋１と固有初期値
データＢとの排他的論理和を行いステータスレジスタ１
へ格納すると共に前記ステータスレジスタ３との論理積
を行い、その結果が”１”の場合に正常と判断し、前記
ステータスレジスタ２に格納した後のステータスレジス
タ１とステータスレジスタ３の排他的論理和が”０”の
場合に新たな乱数データを取り出して該乱数データと固
有初期値データＢとの排他的論理和を行いステータスレ
ジスタ２に格納して所定回数前記ステータスレジスタ１
とステータスレジスタ３の排他的論理和が”１”となる
ようにトライし、所定回数を越えてもステータスレジス
タ３の排他的論理和が”１”にならない場合に異常と判
断するというような方法にて診断するように構成された
乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータ
である。
【０００５】
【作用】本発明にかかるマイクロコンピュータでは、遊
技機の起動当初すなわちブートモードにおいて乱数発生
装置用故障診断手段を作動する。故障診断手段には予
め、故障診断用の初期値データ、故障診断判定用データ
又は数式が組み込まれており、乱数発生装置かあら取り
出された乱数値とこれらのデータとを比較することによ
り乱数発生装置が正常に作動しているか否について診断
を行うことになる。その結果異常と判断された場合には
遊技機装置をユーザーモードへ移行させずに、停止状態
を維持させることになる。請求項５及び６のマイクロコ
ンピュータでは、乱数発生装置にはビットスクランブル
方式でビットデータを適宜読み込んで、乱数値を作成す
る方式のものもある。しかし、かかる場合に所定のビッ
トデータが固定された場合には、他のビットデータも固
定化されることを考慮し、乱数取り出し毎に所定のビッ
トデータが変化するか否について監視している。乱数の
場合は、ビットデータが連続して出力されることもあ
り、、所定回数ビットデータが変化するか否について診
断を行いビットデータ出力が破壊されているか否につい
て診断している。
技機の起動当初すなわちブートモードにおいて乱数発生
装置用故障診断手段を作動する。故障診断手段には予
め、故障診断用の初期値データ、故障診断判定用データ
又は数式が組み込まれており、乱数発生装置かあら取り
出された乱数値とこれらのデータとを比較することによ
り乱数発生装置が正常に作動しているか否について診断
を行うことになる。その結果異常と判断された場合には
遊技機装置をユーザーモードへ移行させずに、停止状態
を維持させることになる。請求項５及び６のマイクロコ
ンピュータでは、乱数発生装置にはビットスクランブル
方式でビットデータを適宜読み込んで、乱数値を作成す
る方式のものもある。しかし、かかる場合に所定のビッ
トデータが固定された場合には、他のビットデータも固
定化されることを考慮し、乱数取り出し毎に所定のビッ
トデータが変化するか否について監視している。乱数の
場合は、ビットデータが連続して出力されることもあ
り、、所定回数ビットデータが変化するか否について診
断を行いビットデータ出力が破壊されているか否につい
て診断している。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下に本発明を図示された実施例
に従って詳細に説明する。図１に示すものは本発明にか
かるマイクロコンピュータ（以下マイコンという）の概
略ブロック図であり、１は中央処理装置（以下ＣＰＵと
いう）であり、該ＣＰＵ１はアドレスバス、データバ
ス、制御信号バスを介して遊技機制御用のプログラム５
ａが格納されたユーザモード用のプログラムメモリ（Ｒ
ＯＭ）５、乱数発生装置６、該乱数発生装置６の乱数更
新用の初期値データ３ａが格納されたユーザモード用デ
ータメモリ（ＲＡＭ）３、モード制御用プログラム４
ａ、乱数発生装置故障診断プログラム４ｂ及び乱数発生
装置制御プログラム４ｃが格納されたブート・モードで
アクセス可能なブートモード用の診断プログラムメモリ
（ＲＯＭ）４、並びに故障診断判定用データ２ａ、故障
診断用初期値データ２ｂ及びビットスクランブル設定デ
ータ２ｃが格納されたブートモード用データメモリ（Ｒ
ＡＭ）２が接続されている。そして、前記乱数発生装置
故障診断プログラム４ｂ、乱数発生装置制御用プログラ
ム４ｃ、故障診断判定用データ２ａ、初期値データ２
ｂ、ビットスクランブル設置データ２ｃ及び前記診断用
データメモリ２とで乱数発生装置用故障診断手段が構成
されている。
に従って詳細に説明する。図１に示すものは本発明にか
かるマイクロコンピュータ（以下マイコンという）の概
略ブロック図であり、１は中央処理装置（以下ＣＰＵと
いう）であり、該ＣＰＵ１はアドレスバス、データバ
ス、制御信号バスを介して遊技機制御用のプログラム５
ａが格納されたユーザモード用のプログラムメモリ（Ｒ
ＯＭ）５、乱数発生装置６、該乱数発生装置６の乱数更
新用の初期値データ３ａが格納されたユーザモード用デ
ータメモリ（ＲＡＭ）３、モード制御用プログラム４
ａ、乱数発生装置故障診断プログラム４ｂ及び乱数発生
装置制御プログラム４ｃが格納されたブート・モードで
アクセス可能なブートモード用の診断プログラムメモリ
（ＲＯＭ）４、並びに故障診断判定用データ２ａ、故障
診断用初期値データ２ｂ及びビットスクランブル設定デ
ータ２ｃが格納されたブートモード用データメモリ（Ｒ
ＡＭ）２が接続されている。そして、前記乱数発生装置
故障診断プログラム４ｂ、乱数発生装置制御用プログラ
ム４ｃ、故障診断判定用データ２ａ、初期値データ２
ｂ、ビットスクランブル設置データ２ｃ及び前記診断用
データメモリ２とで乱数発生装置用故障診断手段が構成
されている。
【０００７】前記モード制御プログラム４ａは、図２の
フローチャートに示すような機能を有する。すなわち、
遊技機始動当初（電源がＯＮされるかリセット入力時）
は、ブートモードとし故障診断プログラム４ｂと乱数発
生装置制御プログラム４ｃとを起動させ、故障診断モー
ドとする。そして乱数発生装置故障診断プログラム４ｂ
は、乱数発生装置６に初期値データを入力して乱数発生
させながら診断用データメモリ２に格納された故障診断
用判定データ２ａ等を読み込みながら当該装置６が正常
に乱数を発生しているか否かの診断を行い、診断の結果
障害が無いと判定した場合にはモードをユーザーモード
に切り替え遊技機制御用プログラムを起動させ、次のシ
ステムリセットまで診断モードへの移行を行わない。ま
た判定の結果障害がありと判断された場合にはユーザー
モードへ移行させずに装置を停止した状態に維持する。
フローチャートに示すような機能を有する。すなわち、
遊技機始動当初（電源がＯＮされるかリセット入力時）
は、ブートモードとし故障診断プログラム４ｂと乱数発
生装置制御プログラム４ｃとを起動させ、故障診断モー
ドとする。そして乱数発生装置故障診断プログラム４ｂ
は、乱数発生装置６に初期値データを入力して乱数発生
させながら診断用データメモリ２に格納された故障診断
用判定データ２ａ等を読み込みながら当該装置６が正常
に乱数を発生しているか否かの診断を行い、診断の結果
障害が無いと判定した場合にはモードをユーザーモード
に切り替え遊技機制御用プログラムを起動させ、次のシ
ステムリセットまで診断モードへの移行を行わない。ま
た判定の結果障害がありと判断された場合にはユーザー
モードへ移行させずに装置を停止した状態に維持する。
【０００８】次に、故障診断プログラム４ｂの機能につ
いて説明する。本実施例では診断プログラムは２種類あ
り、単純な乱数データの比較方式とビット変化監視方式
とがある。まず最初にデータ比較方式について説明す
る。 データ比較方式 図３はデータ比較方式のフローチャートを示すもので、
故障診断モードにおいて、診断用データメモリ２に格納
されたビットスクランブルデータ２ｃを乱数発生装置６
にロードしてスクランブルデータに対応したビット配列
を乱数発生装置に設定する。次に故障診断用初期値デー
タ２ｂを乱数発生装置６にロードし、乱数発生装置６を
起動させる。そしてｎ個の乱数を乱数発生装置６から発
生させ、かかる複数個（ｎ個）の乱数データと予め診断
用データメモリ２に格納された故障診断用判定データ２
ａとを比較し、これらが完全に一致しているか否かの判
定を行い、もし、最初のデータ比較において一致しない
場合には、データは正常でないと判断して装置を停止し
た状態に維持する。データが全て一致している場合に
は、再び図２のＡに戻りｎ個の乱数と判断用データとの
比較を都合ｍ回行い、ｍ回ともデータが一致する場合に
乱数発生装置６は正常であるとしてユーザーモードへ移
行させる。
いて説明する。本実施例では診断プログラムは２種類あ
り、単純な乱数データの比較方式とビット変化監視方式
とがある。まず最初にデータ比較方式について説明す
る。 データ比較方式 図３はデータ比較方式のフローチャートを示すもので、
故障診断モードにおいて、診断用データメモリ２に格納
されたビットスクランブルデータ２ｃを乱数発生装置６
にロードしてスクランブルデータに対応したビット配列
を乱数発生装置に設定する。次に故障診断用初期値デー
タ２ｂを乱数発生装置６にロードし、乱数発生装置６を
起動させる。そしてｎ個の乱数を乱数発生装置６から発
生させ、かかる複数個（ｎ個）の乱数データと予め診断
用データメモリ２に格納された故障診断用判定データ２
ａとを比較し、これらが完全に一致しているか否かの判
定を行い、もし、最初のデータ比較において一致しない
場合には、データは正常でないと判断して装置を停止し
た状態に維持する。データが全て一致している場合に
は、再び図２のＡに戻りｎ個の乱数と判断用データとの
比較を都合ｍ回行い、ｍ回ともデータが一致する場合に
乱数発生装置６は正常であるとしてユーザーモードへ移
行させる。
【０００９】ビット変化監視方式 次に図４は、ブート処理時間を短くし、できるだけ早く
診断を終了させてユーザモードへ移行させる手段として
無限ループタイプのビット監視方式のフローチャートを
示すものであり、故障診断モードにおいて前述同様に診
断用データメモリ２に格納されたビットスクランブルデ
ータ２ｃを乱数発生装置６にロードしてスクランブルデ
ータに対応したビット配列を乱数発生装置に設定する。
次に故障診断用初期値データ２ｂを乱数発生装置６にロ
ードし、乱数発生装置６を起動させる。
診断を終了させてユーザモードへ移行させる手段として
無限ループタイプのビット監視方式のフローチャートを
示すものであり、故障診断モードにおいて前述同様に診
断用データメモリ２に格納されたビットスクランブルデ
ータ２ｃを乱数発生装置６にロードしてスクランブルデ
ータに対応したビット配列を乱数発生装置に設定する。
次に故障診断用初期値データ２ｂを乱数発生装置６にロ
ードし、乱数発生装置６を起動させる。
【００１０】乱数発生装置６に対して乱数データの取り
出し命令を出し、該乱数発生装置６から所定のビットデ
ータ”０”又は”１”を取り出し、該取り出しデータＡ
１と固有初期値データ（例えばオール”１”）Ｂとの排
他的論理和を行い、その結果をステータスレジスタ１に
格納する。次に乱数発生装置６に乱数取り出し命令を出
し、乱数発生装置６から所定のビットデータ”０”又
は”１”を取り出し、該取り出しデータＡ２と固有初期
値データ（例えばオール”１”）との排他的論理和を行
い、その結果をステータスレジスタ２に格納する。前記
ステータスレジスタ１に格納されたデータ”０”又は”
１”とステータスレジスタ２に格納されたデータ”０”
又は”１”との排他的論理和を行いその結果をステータ
スレジスタ３に格納する。
出し命令を出し、該乱数発生装置６から所定のビットデ
ータ”０”又は”１”を取り出し、該取り出しデータＡ
１と固有初期値データ（例えばオール”１”）Ｂとの排
他的論理和を行い、その結果をステータスレジスタ１に
格納する。次に乱数発生装置６に乱数取り出し命令を出
し、乱数発生装置６から所定のビットデータ”０”又
は”１”を取り出し、該取り出しデータＡ２と固有初期
値データ（例えばオール”１”）との排他的論理和を行
い、その結果をステータスレジスタ２に格納する。前記
ステータスレジスタ１に格納されたデータ”０”又は”
１”とステータスレジスタ２に格納されたデータ”０”
又は”１”との排他的論理和を行いその結果をステータ
スレジスタ３に格納する。
【００１１】もしステータスレジスタ３に格納されたデ
ータが”１”である時には次に進み、データが”０”の
場合にはステータスレジスタ１への格納後に戻り、乱数
発生装置６から乱数を取り出し、データＡ３と固有初期
値データ（例えばオール”１”）との排他的論理和を行
い、その結果をステータスレジスタ２に格納する。そし
て前記ステータスレジスタ１に格納されたデータ”０”
又は”１”とステータスレジスタ２に格納されたデー
タ”０”又は”１”との排他的論理和を行いその結果を
ステータスレジスタ３に格納し、該ステータスレジスタ
３のデータが”１”となるまで何度も繰り返す。
ータが”１”である時には次に進み、データが”０”の
場合にはステータスレジスタ１への格納後に戻り、乱数
発生装置６から乱数を取り出し、データＡ３と固有初期
値データ（例えばオール”１”）との排他的論理和を行
い、その結果をステータスレジスタ２に格納する。そし
て前記ステータスレジスタ１に格納されたデータ”０”
又は”１”とステータスレジスタ２に格納されたデー
タ”０”又は”１”との排他的論理和を行いその結果を
ステータスレジスタ３に格納し、該ステータスレジスタ
３のデータが”１”となるまで何度も繰り返す。
【００１２】ステータスレジスタ３に格納されたデータ
が”１”である時には、再び乱数発生装置６に乱数取り
出し命令を出し、所定のビットデータ”０”又は”１”
Ａ３を取り出し、このデータをステータスレジスタ１に
格納し、該ステータスレジスタ１に格納されたデータ”
０”又は”１”とステータスレジスタ３に格納されたデ
ータ”１”との論理積を行いその結果が”１”か否かを
判断し、結果が”１”の時は乱数発生装置６のビットデ
ータは正常に作動しているとしてユーザーモードへ移行
し、結果が”０”の場合には、再び乱数発生装置６から
ビットデータを取り出してステータスレジスタ１に格納
し、ステータスレジスタ３のデータ”１”との論理積
が”１”となるまで所定回数乱数発生装置６から乱数デ
ータを取り出す。そして、本フローチャートには記載し
ていない、本フローチャートが試行回数をカウントして
おき、所定回数（例えば１０回）試行しても論理積が”
１”にならない場合には乱数発生装置６は異常であると
判断し、診断モードから、停止モードへ移行する。
が”１”である時には、再び乱数発生装置６に乱数取り
出し命令を出し、所定のビットデータ”０”又は”１”
Ａ３を取り出し、このデータをステータスレジスタ１に
格納し、該ステータスレジスタ１に格納されたデータ”
０”又は”１”とステータスレジスタ３に格納されたデ
ータ”１”との論理積を行いその結果が”１”か否かを
判断し、結果が”１”の時は乱数発生装置６のビットデ
ータは正常に作動しているとしてユーザーモードへ移行
し、結果が”０”の場合には、再び乱数発生装置６から
ビットデータを取り出してステータスレジスタ１に格納
し、ステータスレジスタ３のデータ”１”との論理積
が”１”となるまで所定回数乱数発生装置６から乱数デ
ータを取り出す。そして、本フローチャートには記載し
ていない、本フローチャートが試行回数をカウントして
おき、所定回数（例えば１０回）試行しても論理積が”
１”にならない場合には乱数発生装置６は異常であると
判断し、診断モードから、停止モードへ移行する。
【００１３】図５に示すものは図４のフローチャートに
ビット変化監視方式において、より慎重に判断するため
に追加されるためのもので、 ａ：追加フロー１のみを図４に追加した場合 ｂ：追加フロー２のみを図４に追加した場合 ｃ：追加フロー１と追加フロー２とを図４に追加した場
合 とが考えられる。かかる機能を追加することにより診断
の性能及び安全性は高まるが、ブート処理時間は、図４
→ａ→ｂ→ｃの順にかかるために、目的・用途により最
適なものを選択するのが良い。すなわち、追加フロー１
の場合は、前述図４のフローチャートにおいてステータ
スレジスタ３のデータが”１”となった場合に、１回目
の照合を終了し、改めてｍ回試行を繰り返し、ｍ回とも
判定結果（ステータスレジスタ３のデータが”１”とな
る場合）に図４の次のステップに移行するように構成さ
れたものである。
ビット変化監視方式において、より慎重に判断するため
に追加されるためのもので、 ａ：追加フロー１のみを図４に追加した場合 ｂ：追加フロー２のみを図４に追加した場合 ｃ：追加フロー１と追加フロー２とを図４に追加した場
合 とが考えられる。かかる機能を追加することにより診断
の性能及び安全性は高まるが、ブート処理時間は、図４
→ａ→ｂ→ｃの順にかかるために、目的・用途により最
適なものを選択するのが良い。すなわち、追加フロー１
の場合は、前述図４のフローチャートにおいてステータ
スレジスタ３のデータが”１”となった場合に、１回目
の照合を終了し、改めてｍ回試行を繰り返し、ｍ回とも
判定結果（ステータスレジスタ３のデータが”１”とな
る場合）に図４の次のステップに移行するように構成さ
れたものである。
【００１４】次に追加フロー２の場合は、ステータスレ
ジスタ３のデータが”１”となった後の追加フローであ
り、新たな乱数の取り出しとステータスレジスタ３との
論理積が”１”になったら終了するのではなく、論理積
が”１”となったら図４のフローチャートのｃに戻り、
ｍ回試行を繰り返し、ｍ回とも判定結果が”１”となっ
た場合に診断結果正常と判断することになる。その結果
前期ｃモードの場合は、ｍｍ試行を繰り返すこととな
る。
ジスタ３のデータが”１”となった後の追加フローであ
り、新たな乱数の取り出しとステータスレジスタ３との
論理積が”１”になったら終了するのではなく、論理積
が”１”となったら図４のフローチャートのｃに戻り、
ｍ回試行を繰り返し、ｍ回とも判定結果が”１”となっ
た場合に診断結果正常と判断することになる。その結果
前期ｃモードの場合は、ｍｍ試行を繰り返すこととな
る。
【００１５】
【発明の効果】以上述べたように本発明にかかる乱数発
生装置内蔵型のマイクロコンピュータでは、乱数発生装
置の故障診断手段をも内蔵しているので、該マイクロコ
ンピュータが装着された遊技機がホールに設置され、経
時変化、異常電流、異常電圧又はサージ電流などの要因
によりマイクロコンピュータの乱数発生装置が故障し、
正常な乱数を発生できなくなってもその状態を検知する
ため、遊技者に不利な状況を与えずに済む。また乱数発
生装置を従来とは異なりマイクロコンピュータに内蔵す
るように構成したので、乱数発生装置に対する変造行為
を極力減らすことが可能となる。また本発明にかかる乱
数発生装置の診断装置は、単純な乱数データの比較方式
だけではなく、乱数発生装置のビットデータの変化を監
視するように構成しているために、乱数発生装置異常状
態を完全に把握することができる。
生装置内蔵型のマイクロコンピュータでは、乱数発生装
置の故障診断手段をも内蔵しているので、該マイクロコ
ンピュータが装着された遊技機がホールに設置され、経
時変化、異常電流、異常電圧又はサージ電流などの要因
によりマイクロコンピュータの乱数発生装置が故障し、
正常な乱数を発生できなくなってもその状態を検知する
ため、遊技者に不利な状況を与えずに済む。また乱数発
生装置を従来とは異なりマイクロコンピュータに内蔵す
るように構成したので、乱数発生装置に対する変造行為
を極力減らすことが可能となる。また本発明にかかる乱
数発生装置の診断装置は、単純な乱数データの比較方式
だけではなく、乱数発生装置のビットデータの変化を監
視するように構成しているために、乱数発生装置異常状
態を完全に把握することができる。
【図１】 本発明にかかるマイクロコンピュータの概略
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】 モード制御プログラムの動作を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図３】 本発明にかかる乱数発生装置用故障診断手段
の診断方式（データ比較方式）の動作を説明するフロー
チャートである。
の診断方式（データ比較方式）の動作を説明するフロー
チャートである。
【図４】 本発明にかかる乱数発生装置用故障診断手段
の診断方式（ビット変化監視方式）の動作を説明するフ
ローチャートである。
の診断方式（ビット変化監視方式）の動作を説明するフ
ローチャートである。
【図５】 図４にかかるフローチャートにおける繰り返
しの検査状況を示すフローチャートである。
しの検査状況を示すフローチャートである。
１ 中央処理装置（ＣＰＵ） ２ ブートモードデータメモリ ２ａ 故障診断判定用データ ２ｂ 故障診断用初期値データ ２ｃ ビットスクランブル設定データ ２ｄ ステータスレジスタ群 ３ ユーザモード用データメモリ ３ａ 乱数更新用初期値データ ４ ブートモード用プログラムメモリ ４ａ モード制御用プログラム ４ｂ 乱数発生装置故障診断用プログラム ４ｃ 乱数発生装置制御用プログラム ５ ユーザモード用制御用プログラムメモリ ５ａ 遊技機制御用プログラム ６ 乱数発生装置
Claims (6)
- 【請求項１】 内蔵された遊技機制御用のプログラムが
正規のものか否かの照合を行う機能を有する遊技機制御
用のマイクロコンピュータにおいて、乱数発生装置を内
蔵させると共に、該コンピュータの起動当初に前記内蔵
乱数発生装置が所定の正常に作動しているか否かの故障
診断を行うための乱数発生装置用故障診断手段を内蔵さ
せたものにおいて、前記乱数発生装置用故障診断手段が
診断の結果正常と判断した時にはユーザーモードへ移行
し、また異常と判断した時には何らかの警告を発すると
共にマイクロコンピュータをユーザーモードを移行しな
いように処理すように構成されていることを特徴とする
故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用
マイクロコンピュータ。 - 【請求項２】 前記乱数発生装置用故障診断手段が、マ
イクロコンピュータ起動当初のブートモードにおいて作
用するように構成されていることを特徴とする請求項１
記載の故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機
制御用マイクロコンピュータ。 - 【請求項３】 前記乱数発生装置用故障診断手段が、予
めマイクロコンピュータに内蔵された乱数発生装置に関
する診断用データ又は数式を内蔵しており、該内蔵され
た診断用データ又は数式と乱数発生装置から出力される
乱数値とを比較することにより正常か否を診断するよう
に構成されていることを特徴とする請求項１又は２記載
の故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御
用マイクロコンピュータ。 - 【請求項４】 前記乱数発生装置用故障診断手段が、故
障診断用初期値データを乱数発生装置にロードし、その
後に発生する乱数値と内蔵された診断用データとを複数
回照合することにより正常か否かの診断を行うように構
成されていることを特徴とする請求項３記載の故障診断
機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロ
コンピュータ。 - 【請求項５】 前記乱数発生装置用故障診断手段が乱数
発生装置のビット変化を監視するように構成され、乱数
発生装置の所定のビットデータが複数回の乱数取り出し
にもかかわらず変化しない場合に異常と判断し、ビット
データが所定回数内で変化した時に正常と診断するよう
に構成されていることを特徴とする請求項１又は２記載
の故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御
用マイクロコンピュータ。 - 【請求項６】 前記乱数発生装置用故障診断手段が、乱
数発生装置を起動して最初の乱数データＡ１と固有初期
値データＢとの排他的論理和を行い、その結果をステー
タスレジスタ１に格納し、その後次の乱数データＡｉを
取り出し、該乱数データＡｉと固有初期値データＢとの
排他的論理和を行いその結果をステータスレジスタ２に
格納し、該ステータスレジスタ１とステータスレジスタ
２との排他的論理和を行いその結果をステータスレジス
タ３に格納し、前記ステータスレジスタ１とステータス
レジスタ３の排他的論理和が”１”の場合に次の乱数Ａ
ｉ＋１を取り出し、該乱数データＡｉ＋１と固有初期値
データＢとの排他的論理和を行いステータスレジスタ１
へ格納すると共に前記ステータスレジスタ３との論理積
を行い、その結果が”１”の場合に正常と判断し、 前記ステータスレジスタ２に格納した後のステータスレ
ジスタ１とステータスレジスタ３の排他的論理和が”
０”の場合に新たな乱数データを取り出して該乱数デー
タと固有初期値データＢとの排他的論理和を行いステー
タスレジスタ２に格納して所定回数前記ステータスレジ
スタ１とステータスレジスタ３の排他的論理和が”１”
となるようにトライし、所定回数を越えてもステータス
レジスタ３の排他的論理和が”１”にならない場合に異
常と判断するように構成されていることを特徴とする請
求項５記載の故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型
遊技機制御用マイクロコンピュータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24770598A JP4291902B2 (ja) | 1998-07-29 | 1998-07-29 | 故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24770598A JP4291902B2 (ja) | 1998-07-29 | 1998-07-29 | 故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータ |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000042234A true JP2000042234A (ja) | 2000-02-15 |
| JP2000042234A5 JP2000042234A5 (ja) | 2005-10-27 |
| JP4291902B2 JP4291902B2 (ja) | 2009-07-08 |
Family
ID=17167444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24770598A Expired - Fee Related JP4291902B2 (ja) | 1998-07-29 | 1998-07-29 | 故障診断機能を有する乱数発生装置内蔵型遊技機制御用マイクロコンピュータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4291902B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005168562A (ja) * | 2003-12-08 | 2005-06-30 | Samii Kk | 弾球遊技機におけるハード乱数監視装置 |
| JP2006122370A (ja) * | 2004-10-29 | 2006-05-18 | Samii Kk | 遊技機 |
| JP2008245956A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Heiwa Corp | ハード乱数発生回路のエラー検出方法 |
| JP2010263965A (ja) * | 2009-05-13 | 2010-11-25 | Takao Co Ltd | 弾球遊技機 |
| US8638930B2 (en) | 2003-03-13 | 2014-01-28 | Leisure Electronics Technology Co., Ltd. | Random number verification method and random number verification apparatus |
| JP2014166195A (ja) * | 2013-02-28 | 2014-09-11 | Sankyo Co Ltd | 遊技機 |
-
1998
- 1998-07-29 JP JP24770598A patent/JP4291902B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8638930B2 (en) | 2003-03-13 | 2014-01-28 | Leisure Electronics Technology Co., Ltd. | Random number verification method and random number verification apparatus |
| JP2005168562A (ja) * | 2003-12-08 | 2005-06-30 | Samii Kk | 弾球遊技機におけるハード乱数監視装置 |
| JP4569947B2 (ja) * | 2003-12-08 | 2010-10-27 | サミー株式会社 | 遊技機におけるハード乱数監視装置 |
| JP2006122370A (ja) * | 2004-10-29 | 2006-05-18 | Samii Kk | 遊技機 |
| JP4587457B2 (ja) * | 2004-10-29 | 2010-11-24 | サミー株式会社 | 遊技機 |
| JP2008245956A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Heiwa Corp | ハード乱数発生回路のエラー検出方法 |
| JP2010263965A (ja) * | 2009-05-13 | 2010-11-25 | Takao Co Ltd | 弾球遊技機 |
| JP2014166195A (ja) * | 2013-02-28 | 2014-09-11 | Sankyo Co Ltd | 遊技機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4291902B2 (ja) | 2009-07-08 |
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