JPH053992Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、ホール単体素子又はホールIC等の
ホール素子の性能をチエツクするための検査装置
に関するものである。

〔従来の技術〕

一般にホール単体素子又はホールIC等のホー
ル素子の性能チエツクは、これに磁石を近付ける
ことによつて行うが、従来はこの検査を以下に述
べるようにしている。

すなわち、検査しようとするホール素子を、テ
ーブル等の上面に設けたソケツトに、当該ホール
素子における各リード線がソケツトにおける接続
端子に接触するようにして装着し、次いでこのホ
ール素子の上面に、アーム又はリンク等によつて
構成された機械的構成のトランスフアー機構に取
付けた磁石を近付けることによつて行つている。

〔考案が解決しようとする問題点〕

しかし、ホール素子の性能検査は、当該ホール
素子がこれに所定の磁束密度を与えたとき作動す
るか否かによつて判別するもので、ホール素子の
上面に前記のように磁石を近付ける場合、ホール
素子に対する磁石の距離が変化すると、ホール素
子に対して付与する磁石密度が変動するから、ホ
ール素子の性能検査にバラ付きが発生することに
なる。

従つて、前記のように磁石をホール素子に近付
けるためのトランスフアー機構としては、ホール
素子に対する磁石の距離を正確に保持できるよう
に頑丈で、且つガタ付きのない精度の高いものに
しなければならないから、可成り大型で且つ高価
になるのである。

また、前記従来の検査装置では、トランスフア
ー機構に取付けた磁石を、ホール素子の検査に際
してはソケツトに装着したホール素子の上面に位
置するように移動し、ホール素子をソケツトに対
して装着したりソケツトから取り外したりする場
合に際してはソケツトの上部から離れるように移
動しなければならず、この移動に可成りの時間を
必要とするから、ホール素子の一個当たりの検査
時間が長くなつて検査の速度が遅く、前記のよう
に磁石を支持移動するトランスフアー機構が高価
になることと相埃つて、検査に要するコストが嵩
むのであつた。

本考案は、この問題を解消することを目的とす
るものである。

〔問題を解決するための手段〕

このため本考案は、ホール素子を着脱自在に装
着するソケツトと、前記ホール素子に近付けた磁
石とから成るホール素子の検査装置において、前
記ソケツトには、磁石の挿入用孔を当該ソケツト
におけるホール素子装着部に開口するように設
け、該挿入用孔内に、前記磁石を当該磁石が前記
ホール素子の片面に近接するように挿入したもの
である。

〔考案の作用・効果〕

このように構成すると、ホール素子をソケツト
におけるホール素子装着部に対して装着すること
によつて、このホール素子を磁石に近付けること
ができることになるから、磁石を不動することが
できると共に、磁石とホール素子との間の距離が
一定値に自動的に設定できるものである。

従つて本考案によると、前記従来のように磁石
を支持移動するためのトランスフアー機構を要せ
ず、検査装置の構造を著しく簡略化できる共に、
ホール素子と磁石との間隔距離は不変であるか
ら、ホール素子に付与する磁束密度を一定に維持
できて、検査の確実製を向上できるのであり、し
かも、ホール素子をソケツトに対して装着したり
ソケツトから取り外したりする場合に際して、前
記のように磁石を移動させる必要がなく、ホール
素子のソケツトに対する装着・取り外しに要する
時間を短縮できて、検査の速度を向上できるか
ら、前記のように構造が簡単であることと相埃つ
て、検査に要するコストを低減できる効果を有す
る。

〔実施例〕

以下本考案の実施例を図面について説明する
と、図において符号１は、基台板２の上部に支持
板３を複数本のステー４を介して固着して成る支
持台を示し、該支持台１における支持板３の上面
には、ホール素子６を装着するためのソケツト５
が固着されている。

このソケツト５の上面には、ホール素子６を当
該ホール素子６における各リード線６ａがソケツ
ト５における各接続端子５ａに各々接触するよう
に着脱自在に装着するためのホール素子装着部７
を備えており、且つ、このソケツト５及び前記支
持板３には、そのホール素子装着部７に開口する
磁石挿入孔８が穿設されている。

９は、上下方向に延びる棒状の鉄心１０に電磁
コイル１１を巻設して成る電磁石を示し、該電磁
石９を、前記支持台１における基台板２と支持板
３との間に配設して、その鉄心１０の下端部のね
じ部１０ａを、前記支持台１における基台板２に
対してソケツト１２にて締結することによつて取
付けし、且つ、この電磁石９における鉄心１０の
上端部１０ｂを、前記磁石挿入孔８内に当該上端
部１０ｂが前記ソケツト５に装着したホール素子
６の下面に近接するようにして挿入する。

この構成において、支持台１における支持板３
の上面に固着したソケツト５のホール素子装着部
７にホール素子６を装着することにより、このホ
ール素子６の下面は、電磁石９における鉄心１０
の上端部１０ｂに対して近接すると共に、ホール
素子６と鉄心１０の上端部１０ｂとの間の距離が
自動的に設定されることになるから、この状態
で、電磁石９における電磁コイル１１に通電する
ことにより、ホール素子６に対して所定の磁束密
度を付与できて、ホール素子６が所定の磁束密度
で作動するか否かを正確にチエツクすることがで
きるのである。

このようにしてソケツト５に装着したホール素
子６の性能検査が終了すると、検査の終わつてホ
ール素子６をソケツト５から取り外し、次のホー
ル素子６をソケツト５に装着するようにすれば良
く、ホール素子のソケツトへの装着及びソケツト
からの取り外しが、電磁石９とは無関係に、つま
り電磁石９を移動することなく容易にできるので
ある。

なお、前記実施例は、磁石として電磁石９を使
用した場合を示したが、永久磁石を使用しても良
いことは言うまでもない。

【図面の簡単な説明】

図面は本考案の実施例を示し、第１図は縦断正
面図、第２図は第１図の−視平面図である。 １……支持台、２……基台板、３……支持板、
５……ソケツト、６……ホール素子、７……ホー
ル素子装着部、８……磁石挿入用孔、９……電磁
石、１０……鉄心、１１……電磁コイル。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. ホール素子を着脱自在に装着するソケツトと、
   前記ホール素子に近付けた磁石とから成るホール
   素子の検査装置において、前記ソケツトには、磁
   石の挿入用孔を当該ソケツトにおけるホール素子
   装着部に開口するように設け、該挿入用孔内に、
   前記磁石を当該磁石が前記ホール素子の片面に近
   接するように挿入したことを特徴とするホール素
   子の検査装置。