JPH0534408A - 半導体装置の自動選別装置 - Google Patents
半導体装置の自動選別装置Info
- Publication number
- JPH0534408A JPH0534408A JP3193363A JP19336391A JPH0534408A JP H0534408 A JPH0534408 A JP H0534408A JP 3193363 A JP3193363 A JP 3193363A JP 19336391 A JP19336391 A JP 19336391A JP H0534408 A JPH0534408 A JP H0534408A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- contact
- supply hand
- semiconductor device
- dropped
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】ＩＣの自動選別装置において、プラスチックＰ
ＧＡタイプのＩＣを測定部に供給する際の位置ずれによ
るコンタクト不良を防止する。 【構成】ＩＣ２を測定ソケット３へ供給する供給ハンド
１は、ＩＣ２の吸着機能だけでなく測定ソケット３へＩ
Ｃ２を供給した後、位置ずれを修正するための空気５の
噴出も行う。
ＧＡタイプのＩＣを測定部に供給する際の位置ずれによ
るコンタクト不良を防止する。 【構成】ＩＣ２を測定ソケット３へ供給する供給ハンド
１は、ＩＣ２の吸着機能だけでなく測定ソケット３へＩ
Ｃ２を供給した後、位置ずれを修正するための空気５の
噴出も行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置の自動選別装
置に関し、特にＰＧＡ（Ｐｉｎ ＧｒｉｄＡｒｒａｙ）
タイプの半導体装置（以下ＩＣ）の電気的特性試験を行
う自動選別装置に関する。
置に関し、特にＰＧＡ（Ｐｉｎ ＧｒｉｄＡｒｒａｙ）
タイプの半導体装置（以下ＩＣ）の電気的特性試験を行
う自動選別装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の自動選別装置は、供給ハ
ンドによりＩＣを測定ソケットの真上に運んだ後自然落
下させ、ソケット横のレバー等を上方より押さえること
により、ソケットのコンタクトピンがＩＣのリードを挟
み、接触させている。
ンドによりＩＣを測定ソケットの真上に運んだ後自然落
下させ、ソケット横のレバー等を上方より押さえること
により、ソケットのコンタクトピンがＩＣのリードを挟
み、接触させている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来のＰＧＡタイ
プのＩＣの自動選別装置では、測定ソケットへのＩＣの
装着が自然落下のみによるものであるため、特に重量の
軽いプラスチックＰＧＡタイプのＩＣ等では跳ねが生
じ、ＩＣの位置がずれるため、ＩＣのリードとソケット
のコンタクト不良による誤判定が生じ易いという問題点
があった。
プのＩＣの自動選別装置では、測定ソケットへのＩＣの
装着が自然落下のみによるものであるため、特に重量の
軽いプラスチックＰＧＡタイプのＩＣ等では跳ねが生
じ、ＩＣの位置がずれるため、ＩＣのリードとソケット
のコンタクト不良による誤判定が生じ易いという問題点
があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のＩＣの自動選別
装置は、そのＩＣ供給ハンドが測定部にＩＣを供給する
ための吸着機能だけでなく、供給したＩＣの位置ずれを
修正するための空気の噴出機能も有している。
装置は、そのＩＣ供給ハンドが測定部にＩＣを供給する
ための吸着機能だけでなく、供給したＩＣの位置ずれを
修正するための空気の噴出機能も有している。
【０００５】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の一実施例の動作を説明する図で同図
（ａ），（ｂ）はそれぞれ測定部の側面図である。本実
施例の自動選別装置では、同図（ａ）のように供給ハン
ド１はＰＧＡタイプのＩＣ２を吸着し、コンタクトブロ
ック４に取り付けられた測定ソケット３の上部にＩＣ２
を運ぶ。そして吸着を中止することによりＩＣ２を落下
させ、測定ソケット３に装着する。この際、同図（ｂ）
のように供給ハンド１より空気５を噴き出すことによ
り、ＩＣ２の落下時に跳ね上り等により位置がずれてコ
ンタクト不良が生じても、正常な位置に修正することが
できる。
る。図１は本発明の一実施例の動作を説明する図で同図
（ａ），（ｂ）はそれぞれ測定部の側面図である。本実
施例の自動選別装置では、同図（ａ）のように供給ハン
ド１はＰＧＡタイプのＩＣ２を吸着し、コンタクトブロ
ック４に取り付けられた測定ソケット３の上部にＩＣ２
を運ぶ。そして吸着を中止することによりＩＣ２を落下
させ、測定ソケット３に装着する。この際、同図（ｂ）
のように供給ハンド１より空気５を噴き出すことによ
り、ＩＣ２の落下時に跳ね上り等により位置がずれてコ
ンタクト不良が生じても、正常な位置に修正することが
できる。
【０００６】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ＩＣを測
定ソケットに装着した後、ＩＣの供給ハンドより空気を
噴き出すことにより、位置ずれによるＩＣリードとソケ
ットコンタクトピンとのコンタクト不良をなくし、ＩＣ
テスタでの誤判定を防止するという効果を有する。
定ソケットに装着した後、ＩＣの供給ハンドより空気を
噴き出すことにより、位置ずれによるＩＣリードとソケ
ットコンタクトピンとのコンタクト不良をなくし、ＩＣ
テスタでの誤判定を防止するという効果を有する。
【図１】本発明の一実施例の動作を示す図で、同図
（ａ），（ｂ）はそれぞれ測定部の側面図である。
（ａ），（ｂ）はそれぞれ測定部の側面図である。
１ 供給ハンド ２ ＩＣ ３ 測定ソケット ４ コンタクトブロック ５ 空気
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 完成した半導体装置の電気的特性試験を
行い良品と不良品とに選別する半導体装置の自動選別装
置において、測定ソケット上へＩＣを供給するＩＣ供給
ハンドは、ＩＣの吸着機能と、供給したＩＣの位置ずれ
を修正するための空気の噴出機能とを有することを特徴
とする半導体装置の自動選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3193363A JPH0534408A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 半導体装置の自動選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3193363A JPH0534408A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 半導体装置の自動選別装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0534408A true JPH0534408A (ja) | 1993-02-09 |
Family
ID=16306669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3193363A Pending JPH0534408A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 半導体装置の自動選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0534408A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61236134A (ja) * | 1985-04-12 | 1986-10-21 | Hitachi Ltd | 部品試験装置 |
| JPH02179000A (ja) * | 1988-12-29 | 1990-07-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｉｃ部品の保持チャック |
-
1991
- 1991-08-02 JP JP3193363A patent/JPH0534408A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61236134A (ja) * | 1985-04-12 | 1986-10-21 | Hitachi Ltd | 部品試験装置 |
| JPH02179000A (ja) * | 1988-12-29 | 1990-07-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｉｃ部品の保持チャック |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980217 |