JPH05324164A - 位置検出装置 - Google Patents

位置検出装置

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JPH05324164A
JPH05324164A JP12845592A JP12845592A JPH05324164A JP H05324164 A JPH05324164 A JP H05324164A JP 12845592 A JP12845592 A JP 12845592A JP 12845592 A JP12845592 A JP 12845592A JP H05324164 A JPH05324164 A JP H05324164A
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JP
Japan
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signal
coordinate
detecting
pen
conductor
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Application number
JP12845592A
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English (en)
Inventor
Yoshinori Adachi
義徳 安達
Shoji Ebihara
正二 海老原
Yasushi Nakawatari
靖 仲渡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 絶縁基板の行(X)方向にストライプ状の抵
抗膜をつけるというような簡単な構造で、薄くて透明度
のよいタブレットを得ることを目的としている。 【構成】 絶縁基板1の裏に透明抵抗膜2を行(X)方
向にのみストライプ状につける。ペン形導体3を絶縁基
板上の任意の一点に接触させ、抵抗膜の−X方向の端に
タイミングジェネレータ5により入力信号を供給した時
と、+X方向の端に電圧をかけたときにペンで検出され
た信号の和と差の比を利用してペンのX座標を求め、抵
抗膜に対して入力信号をY方向にスキャンさせたときの
検出信号のピーク付近の検出信号の電圧値とそれに対す
る抵抗膜のY座標を用いてY座標を求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、位置検出装置に関し、
たとえば、タブレット等の静電容量結合を利用した座標
検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来例1.図12は、行電極と列電極を
有する静電容量結合方式のタブレットの断面図である。
図において1は表面の絶縁基板(ガラス)、10は行
(上部)透明電極、12は列(下部)透明電極、11は
行電極と列電極の導通を防ぐための絶縁膜である。
【0003】図13は座標検出装置としての全体の構成
図である。行電極(Y1,Y2,・・・,Yn )と列電極(X1,
2,・・・,Xm )はそれぞれ行電極ドライバ13と列電極
ドライバ14につながっていて、2つのドライバはタイ
ミングジェネレータ5に接続されている。3は信号検出
用ペン型導体(以下「ペン」という)であり信号処理部
6を通じて中央処理部8に接続される。中央処理部8は
メモリなどを含みペン3の座標を決定し、その座標を表
わす信号を表示装置に送るところである。またタイミン
グジェネレータ5も中央処理部8に接続されている。
【0004】次に動作について説明する。図14(a)
に示すように行電極ドライバ13により行電極Y1,Y2,
・・・,Yに1電極単位で順次走査信号が供給され、列電
極ドライバ14により列電極X,X2,・・・,Xm に1電
極単位で順次走査パルスを供給する。電極に電圧をかけ
ると、図15のように静電容量結合によって導体ペン3
に電荷が生じる。そのため、図14(b)に示すように
各電極に対する信号が時分割で検出される。検出信号は
信号処理部において、アンプやA/Dコンバータ等によ
って増幅、ディジタル信号化等の処理が行なわれる。
【0005】上記の信号を用いて中央処理部で座標を決
定する。ペン3が基板上の任意の点に接触しているとき
のX座標は列電極に対する検出信号のピーク付近のいく
つかのデータとそれらに対する信号入力電極のX座標の
位置を用いて、予め測定しておいたテーブル(メモリ
内)と比較することにより求めることができる。
【0006】またY座標は行電極に対する検出信号のピ
ーク付近のいくつかのデータとそれらに対する信号入力
電極のY座標の位置を用いて、テーブルと比較して求め
ることができる。ペン3の座標が決定すると、中央処理
部8からLCDなどの表示装置に座標を表わす信号が送
られ、このタブレットに重なっている表示装置に座標が
表示される。
【0007】従来例2.図16は、特公平1−1917
6号公報に示された従来のタブレットシステムの構成図
である。図において、110は、ガラス基板上に「線形
な抵抗性表面」と称した透明で均一な抵抗膜と、その抵
抗膜の境界を複数個の列からなる導電性の電極を形成し
たタブレットである。
【0008】この線形抵抗性表面の電極構造の詳細をそ
の一例として、図17に示す。100は、透明抵抗膜で
あり透明抵抗膜100の周辺境界に101の導電性の複
数の電極列がある。102はガラスのような透明な絶縁
基板である。この線形抵抗性表面と回路は端子A、B、
C、Dで電極を介して、接続される。116、117、
118、119は、入力増幅器であり、111、11
2、113、114は、これらの増幅器のフィードバッ
ク抵抗であり、端子A、B、C、Dに接続される。12
0は、発振器で位置検出用の信号源となる。増幅器の出
力は、121、122、123、124のバンドパスフ
ィルターに入力される。126は位相器、127、12
8、129、130は加算器、131、132、13
3、134は整流器、136 はY軸加算器、137は
X軸加算器、138全チャンネル加算器、139、14
0、141は、除算器、145はレベル検出器であり、
タブレット上に指又はペンによる位置の選択が行われて
いるかを検出する。141、142は増幅器、143、
144は増幅器のオフセット調整用ボリュームである。
【0009】次に動作について説明する。タブレット1
10 の端子A、B、C、Dを同じ電位に保持したと
き、4つの端子に電流が流れる。これらの電流をiA
B,iC,iDとすると、選択された位置の座標(X,
Y)は以下のように表せる。ただし、X、Yの原点は、
タブレット抵抗膜の中心である。
【0010】 X=k1+k2(iB+iC)/(iA+iB+iC+iD) Y=k1+k2(iA+iB)/(iA+iB+iC+iD) ・・・・(10) 但し、k1はオフセット、k2は倍率を表す係数である。
【0011】タブレット110の線形抵抗性表面は周辺
境界の特殊な電極構造により均一な電位勾配を形成でき
る。即ち抵抗表面のすべての点において電流密度の大き
さと方向が同じで、それに付随して発生する電界強度も
線形であり、それらは互いに直交する。116〜119
の増幅器は111〜114のフィードバック抵抗を通じ
て電流を供給することにより、端子A、B、C、Dを1
20の発振器からの出力と同じ瞬時電位に維持する。
【0012】使用者がタブレット110にタッチした時
には、端子A、B、C、Dに電流iA,iB,iC,iD
流れる。116〜118の増幅器は、フィードバック抵
抗111〜114を介して、これらの電流に比例した電
圧を出力する。これらの増幅器の出力は、121〜12
4のバンドパスフィルターへ入力され、検出信号周波数
のみ出力する。発振器の信号の位相を126の位相器に
おいて180度位相し、127〜130の加算器で前記
フィルター出力から発信器信号成分が減算される。減算
された出力は、131〜134の整流器で整流され、交
流信号の振幅に比例した直流レベルを与える。
【0013】110のタブレットの上部の2つの端子
A、Bに相当するレベルは、136のY軸加算器で加算
され、右側の2つの端子B、Cに相当するレベルは、1
37のX軸加算器され、そして4つすべてのレベルA、
B、C、Dは 138の全チャンネル加算器で加算さ
れ、139、140の除算器の分母入力を与える。13
9、140の除算器は、X軸、Y軸の和に対して(1
0)式の左辺の除算を行う、そして調整可能なオフセッ
トボリューム143、144と出力増幅器141、14
2は、(10)式で示された所望のX軸、Y軸出力を与
える。レベル検出器145は、全チャンネル加算器13
8の出力を監視し、使用者が指をタブレット110にタ
ッチした時に状態をスィッチして座標検出動作に入る。
この例では、信号回路を図16のように複雑に構成しな
ければならず、かつ、(10)式に示した計算式によっ
て、X座標、Y座標を算出しなければならなかった。
【0014】従来例3.図18は、特開平1−2311
19号公報に示された従来の別の実施例をあらわすタブ
レットシステムの構成図である。図において、1aは4
つの電極21、22、23、24よりなる座標検出パネ
ルである。4つの電極21〜24は、スイッチング回路
31の各スイッチSW1〜SW4 にそれぞれ接続され、
このスイッチング回路31によって、4つの電極から並
列する2組の電極群が選択されるようになされている。
そして、選択された2組の電極群は、バッファ回路32
の入力端I0および出力端O0に接続されると共に、バッ
ファ回路32の入力端I0 に接続された一方の電極群は
インピーダンス測定回路33に接続され、該一方の電極
群からの接触位置のインピーダンスが測定されることに
なる。
【0015】インピーダンス測定回路33の出力信号
は、測定座標演算回路34に供給され、測定されたイン
ピーダンスから測定座標(X,Y)が演算される。そし
て、演算された測定座標(X,Y)は、接触座標演算回
路35に供給され、所定の変換関数に従って、測定座標
(X,Y)から抵抗膜2aの接触位置Pの座標(X,
Y)が算出されることになる。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】従来例1に示したタブ
レットは絶縁基板に透明電極を行と列の両方向につける
構成であり、またこれらの電極間には絶縁膜があるため
装置自体の厚さが厚くなる。また上部電極と下部電極の
クロストークが大きいために検出信号レベルの減衰が大
きくなる。さらに、このタブレットは主に表示装置の表
示部に重ねて使用するために、このように何層も重ねる
と透明度が下がり表示部垂直方向から見たときと斜め方
向から見たときの表示位置の差すなわち視差が大きくな
るという欠点がある。
【0017】第1、第2の発明は上記のような問題点を
解消するためになされたもので、簡単な構造で薄くて透
明度がよく視差が小さい位置検出装置を得ることを目的
としている。
【0018】従来例2に示したタブレットシステムは、
タブレットの4つの端子からの電流を増幅しアナログ値
でXY座標を算出するので、アナログ信号処理回路が複
雑になるという問題点があった。
【0019】また、従来例3に示したタブレットシステ
ムは、所定の変換関数を用いた複雑な演算処理のための
測定座標演算制御回路を必要とし、そのことにより、座
標決定に時間がかかるという問題点があった。
【0020】第3の発明は、上記のような問題点を解消
するためになされたもので、アナログ信号処理部を簡単
に構成できるタブレットシステムを得ることを目的とす
る。
【0021】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
る位置検出装置は、以下の要素を有するものである。 (a)ガラス等の絶縁体、(b)上記絶縁体の同方向に
延在して配置された複数の抵抗体、(c)上記各抵抗体
の各位置において電位差が生ずるように各抵抗体に順に
電圧を入力する電圧入力手段、(d)上記絶縁体の任意
の位置において上記抵抗体に生じる電位差に基づき静電
容量結合により生成される信号を検出する信号検出導
体、(e)上記信号検出導体により検出された信号に基
づいて位置を検出する位置検出手段。
【0022】また、請求項2記載の発明に係る位置検出
装置は、絶縁基板の裏に抵抗膜をX方向にのみストライ
プ状につけ、ペン形導体を絶縁基板上の任意の一点に接
触させ、抵抗膜の端に駆動電圧をかけた時にペンで検出
された信号を利用してペンのX座標を求め、抵抗膜に対
して入力信号をY方向にスキャンさせたときの検出信号
のピーク付近の検出信号の電圧値とそれに対する抵抗膜
の位置を用いてY座標を求めるものである。
【0023】また、請求項3記載の発明に係る位置検出
装置は、たとえば、タブレットの線形抵抗性表面の一辺
に信号を印加し、対辺を接地してできる均一な電位分布
を静電結合容量方式により、スタイラスペンで検出して
ペンが選定した座標位置を検出するものであり、以下の
要素を有するものである。 (a)ガラスなどの絶縁体、(b)上記絶縁体に面状に
配置され、所定の方向に均一な電位分布を形成するよう
に構成された抵抗体、(c)上記抵抗体の異なる方向に
均一な電位分布を形成するように上記抵抗体の異なる方
向から電位差を与える電圧入力手段、(d)上記絶縁体
の任意の位置において上記抵抗体の所定の方向に生じる
電位差に基づき静電容量結合により生成される信号を検
出する信号検出導体、(e)上記信号検出導体より検出
された信号に基づいて位置を検出する位置検出手段。
【0024】
【作用】第1および第2の発明における位置検出装置
は、絶縁基板に配置された抵抗体(抵抗膜)の各部電位
差を利用したものであり、電圧入力手段が抵抗体の一端
から電圧を加え、抵抗体の各部を異なる電位差にする。
そして、ペン等の信号検出導体がこの電位差に対応した
信号を検出することにより、位置を検出することができ
る。また、絶縁基板の行方向にのみストライプ状の透明
抵抗膜がついているので、薄くて透明度がよい。また検
出レベルが大きく、ペンを接触させたときはもちろんの
ことペンを近づけただけでも座標を検出することができ
る。
【0025】第3の発明における位置検出装置は、面状
の抵抗体の均一な電位分布を利用したもので、検出信号
処理回路を信号検出導体側に設け、電圧入力手段が抵抗
体の一端から電圧を加え、抵抗体の各部を異なる電位差
にし、さらに方向を切り替えることによりX座標とY座
標に対応させ、ペン等の信号検出導体が抵抗体の電位と
距離の簡単な比例関係から位置を検出することができる
ため、アナログ信号処理部が簡単に構成できる。
【0026】
【実施例】実施例1.以下、第1及び第2の発明による
アナログ静電容量結合タブレットを用いた座標検出装置
の一実施例の図について説明する。図1はこの発明によ
る座標検出装置の一実施例の全体構成図である。図のよ
うに、透明な絶縁基板(ガラスなど)1の裏面には透明
な抵抗膜が行(X)方向にストライプ状についている。
3は信号検出用導体ペン(以下「ペン」という)、5は
タイミングジェネレータ、4はタイミングジェネレータ
の出力信号と接地を切り替えるためのスイッチである。
【0027】ペン3とつながっている6はアンプやAD
変換器等からなる信号処理部、7はスイッチ4をコント
ロールする制御部である。信号処理部6や制御部7が接
続されている8はメモリとCPU等で構成され、座標を
検出し表示装置に座標の信号を送る中央処理部である。
これらのタブレットは主にLCD、プラズマディスプレ
イ、エレクトロルミネセントディスプレイやCRT等の
表示装置の表面に重ねて用いられる。
【0028】図2はこの発明によるタブレットの各抵抗
膜への入力信号とそれに対する検出信号のタイミング図
の一例、図3はタブレットの断面図と、導体ペンを絶縁
基板上の任意の一点に接触させ抵抗膜1本1本に信号を
入力したときに、静電容量によって各抵抗膜に対して検
出される信号レベルの図の一例、図4はX座標を検出す
るときに用いるものでY座標一定時のX座標に対する検
出レベルの理想減衰特性を表わした図であり、X座標決
定のアルゴリズムを説明する図である。
【0029】次に、この実施例の作用、動作の説明をす
る。制御部7によってスイッチ4を一つ一つコントロー
ルして図2のように抵抗膜2に−X方向から一抵抗膜単
位で Y1,Y2,Y3,・・・Yn というように順次走査信号が
供給され、次に+X方向から同様に一抵抗膜単位で順次
走査信号が供給される。
【0030】すなわち、順次走査信号がタイミングジェ
ネレータ5により以下の順で供給される。 Y1 の−X方向 Y2 の−X方向 ・ ・ Yn の−X方向 Y1 の+X方向 Y2 の+X方向 ・ ・ Yn の+X方向
【0031】このように、タイミングジェネレータが一
抵抗膜単位で順次走査信号を供給しているとき入力信号
を供給されている抵抗膜のもう一方の端と他の抵抗膜は
制御部7がスイッチを切り換えることにより接地されて
いる。すなわち、一つの抵抗膜の片側一点だけに信号が
供給されている。たとえば、Y1 の−X方向から順次走
査信号が入力されている場合、Y1 の+X方向の端とY
2 〜Yn の両端は接地されている。
【0032】この時、ペン3を絶縁基板1の任意の一点
に接触させるかまたは接近させると、図3に示すように
静電容量結合により、信号を供給している抵抗膜に対す
る信号が時分割で検出される。このペン3で検出された
信号は、信号処理部6によってX座標とY座標を求め易
いような信号に変換され、中央処理部8に送られる。信
号処理部6では、例えば、ノイズを除去するためのバン
ドパスフィルタ、ディジタル信号に変換するためのA/
Dコンバータやアンプ等によって信号処理が行なわれ
る。
【0033】次に中央処理部8で行なわれるX座標検出
の手段について説明する。信号処理を行なった検出信号
と、それに対する信号を入力した抵抗膜の位置をメモリ
に記憶しておく。一本の抵抗膜の片端に電圧を印加する
と、その抵抗膜の電圧降下は電圧印加部からの距離に比
例する。そのため図1に示すように絶縁基板1の中心を
座標の原点、X方向の長さを2Lとし、抵抗膜の−X方
向の端に信号を供給した場合にペンが検出する電圧をV
- 、+X方向の端に信号を供給した場合にペンに検出さ
れた電圧をV+ とすると、X方向に対するV- とV+
理想的には図4のようになる。この図よりX座標は同一
抵抗膜に対するV- とV+ の和と差の比を用れば(1)
式より求めることができるので、メモリよりある抵抗膜
に対するV- とV+ を呼び出しX座標を求める。 X=L・(V+−V-)/(V++V-) (1)
【0034】ペン3が絶縁基板状の任意の一点に接触し
ているかまたは接近しているときのY座標は、以下のよ
うにして求めることができる。入力信号をY方向にスキ
ャンしたときに図3に示すようにV- とV+ の和はある
抵抗膜でピークになるが、その付近の抵抗膜数本の位置
とそれらに対するV- とV+ をメモリから呼び出し、Y
を(2)式のようにV- とV+ の和の関数とし、これを
解くことによりY座標を求める。 Y =f(V++V-) (2) ここでV- とV+ の和を用いているのは、図4を見れば
わかるようにY座標が一定であればX座標が変化しても
この和は変化しないので、座標検出が容易になるためで
ある。
【0035】(2)式の一例としては、たとえば、 Y=A(V++V-2 +B(V++V-)+C (3) という、2次関数をあげることができる。この(3)式
の係数A、B、Cはたとえば、実験的にあらかじめ求め
ておくことが可能である。たとえば、図3においてこの
(3)式は破線のような2次曲線を示すものとすると、
ペンがポイントした場所はY2 とY3 の間であってY3
寄りの地点Pであることが計算により求められる。
【0036】このように、ペン3の座標が決定すると、
中央処理部8で表示するための信号に変換されて表示装
置に送られる。
【0037】以上のように、この実施例は、透明な抵抗
膜が行X方向にストライプ状に配置構成されている絶縁
基板と、抵抗膜に対して入力信号と接地を切り替えるス
イッチと、上記スイッチをコントロールする制御部と、
各抵抗膜の位置に対する信号を検出する信号検出導体
と、信号処理部と、座標を検出する中央処理部を備えて
なる座標検出装置において、座標検出は、上記スイッチ
により、上記抵抗膜に+Xの方向から順次走査信号が供
給され、上記抵抗膜に−Xの方向から順次走査信号が供
給され、上記絶縁基板の任意位置に上記信号検出導体を
接触させることで、上記+X方向と−X方向から供給さ
れる信号に対して静電容量結合により検出される信号の
和と差の比を用いて上記信号検出導体の接触位置のX座
標を特定し、上記信号の和のピーク付近の上記信号入力
抵抗膜数本を用い、そのY座標とそれに対する上記信号
の和の値により、上記信号検出導体の接触位置のY座標
を特定し、表示装置に座標を表わす信号を送ることを特
徴とする。このようにこの実施例ではV- とV+ の和を
用いているので検出レベルが高く、ペンが近づいただけ
で座標を検出できる装置を実現できる。
【0038】実施例2.上記実施例1においてはY1
らYn に対して−X方向から順次走査信号を供給しその
後Y1 からYn の+X方向から順次走査信号を供給する
場合を示したが、まず一つの抵抗膜に対して−X方向か
ら信号を供給し次に+X方向から供給し、その後抵抗膜
をY方向にスキャンし同様のことを行なってもよい。
【0039】すなわち順次走査信号がタイミングジェネ
レータ5により以下の順で供給される。 Y1 の−X方向 Y1 の+X方向 Y2 の−X方向 Y2 の+X方向 ・ ・ Yn の−X方向 Yn の+X方向
【0040】この場合においても制御部7がスイッチ4
を切り換えることにより入力信号を供給されている抵抗
膜のもう一方の端と他の抵抗膜の両端は接地されてい
る。また順次走査信号はかならずしもY1 から順位Yn
に向かって供給される必要はなくYn からY1 に向かっ
て順に供給される場合であってもかまわない。また走査
信号は各低抗膜に順番に供給される必要はなくたとえば
グルーピング化してそのグループに連続して供給された
後他のグループにまた連続して供給される場合でもかま
わないあるいは、一行おき2行おきのようにインターリ
ーブを設けて走査するような場合でもかまわない。
【0041】実施例3.上記実施例1においては(2)
式のようにV- とV+ の和の関数を用いてX座標を求め
る場合を示したがV- とV+ の和のピークの値とこれに
対する信号入力抵抗膜の位置だけを用いて、テーブル
(メモリ内)と比較して、ペン3が接触している位置の
Y座標を求めることもできる。
【0042】実施例4.図5はこの発明の検出装置の他
の実施例を示す図であり実施例1で示した図1に比べて
スイッチ4と制御部7が削除されている。従って図にお
いて抵抗膜2の右端は常に接地されておりまた抵抗体2
の左端はタイミングジェネレータ5に接続されている。
この構成においてはタイミングジェネレータ5がY1
らYn まで順次走査信号を抵抗膜2に対して時分割に供
給する。この場合は−X方向のみからの順次走査信号の
入力だけが行われるため図6に示すようにペン3で検出
される信号はV- だけとなる。この図より、VT を抵抗
膜2の電力供給側端子から検出される電圧とすると、X
座標は以下の(4)式より求めることができる
【0043】 X=L・(VT−2V-)/VT (4) またY座標は以下の(5)式により求める事ができる。 Y=f(V- ) (5) このY座標を求める方法は実施例1で述べたようにV-
の関数としこれを解くことによりY座標を求めること同
じであるので詳細な説明は省略する。
【0044】このように実施例4によれば実施例1で用
いたスイッチ4と制御部7を廃止することができ装置が
簡単になるというメリットがある。これに対して実施例
1は装置が複雑になる欠点はあるが図6に示したように
V−の値が小さな値を示す場合にはノイズにより誤動作
する可能性が高くなると言う欠点がない。すなわち実施
例1の場合にはこのV- の低電圧の部分をV+ の高電圧
の部分を用いることにより対ノイズ性の高い測定を行な
うことが可能となり、このV- とV+ 両者を用いること
によりより正確な位置を求めることが可能となる。
【0045】実施例5.上記実施例では、抵抗膜を絶縁
基板に付けて利用する場合について述べたが、例えばプ
ラズマディスプレイやエレクトロルミネセントディスプ
レイやCRTおよび液晶などの表示装置の表面に抵抗膜
を直接つけ、その上に保護膜などをつけても装置を構成
できる。
【0046】実施例6.次に、請求項3に記載された発
明の一実施例の図について説明する。図7は、この発明
における一実施例による静電容量結合方式のタブレット
を用いた座標検出装置の一実施例の全体構成図である。
図8は、このタブレットの断面図と検出電圧と距離の関
係をあらわすグラフであり、この発明の位置座標検出原
理を示すものである。図9は、信号を検出するためのス
タイラスペン(以下ペン)の内部回路図である。
【0047】図7において、201はタブレットであ
る。このタブレットは、線形抵抗性表面202と、線形
抵抗性表面202の周辺境界の導電性電極203と、4
つの頂点に回路との接続端子A、B、C、Dから構成さ
れている。204は端子A、B、Dを信号入力と接地と
を切り替えるスイッチ、205はFET増幅回路を内蔵
するスタイラスペン、206は増幅器、207はサンプ
ルホールド回路、208はアナログからデジタルに切り
替える回路、209は抵抗膜に印加する検出信号を供給
するタイミングジェネレータ、210はタブレットを制
御するコントローラである。コントローラ210は、表
示装置へスタイラスペンが選択した位置座標データを出
力する。
【0048】図8は、タブレットシステムの一次元モデ
ルを示す図である。図8において、VDET はペン205
の内部のFET増幅器の検出出力電圧レベルである。
【0049】次に、本実施例の動作について説明する。
本発明の座標位置検出の原理を一次元モデルを示す図8
(a)を用いて説明する。図8において、インジウム・
スズ酸化物からなる抵抗膜202は導電性の電極203
を介して、一端を信号源と、他端をアースに接続する。
また、抵抗膜の上には、ガラスのような絶縁物201を
おき、その上からペンを接触させると、ペン先の導体と
抵抗膜の間に容量結合を生じ抵抗膜上の信号電圧が、ペ
ン先にそれに応じた検出電圧VDET が誘起される。
【0050】ペン205の内部は、図9に示すような回
路構成で、ペン先導体212に誘起された微少電位が高
抵抗を介してFETのゲートに入力され増幅される。検
出電圧VDET とペン205が選定する位置との関係は理
想的に、図8(b)のグラフに示すような直線となれ
ば、その比例関係より検出電圧VDET から直ちに、ペン
205が選定した位置を決定できる。すなわち、V1
2=X1:X2であるから、求める位置X2=V21/V
1で計算される。
【0051】図10のようにタブレット201の線形抵
抗膜202の端子A、Dに信号源209を接続し、その
他の端子B、Cを接地すると、線形抵抗性膜状の信号レ
ベル又はペン205による検出電圧VDET レベルは、X
方向に比例して減衰する。同様に、図11のようにタブ
レット201の線形抵抗膜202の端子A、Bに信号源
209を接続し、その他の端子C、Dを接地すると、線
形抵抗性膜上の信号レベル又はペン205による検出電
圧VDET レベルは、Y方向に比例して減衰する。これ
は、前述したように、線形抵抗性表面202が、その表
面上のすべての点において、電流密度の大きさと方向が
同じで均一な電位勾配を形成できるためであり、このタ
ブレット201で、図10及び図11の状態を時分割で
切り替えることにより、X、Y座標が簡単に検出できる
ことになる。
【0052】図7は、図10、図11の状態の切り替え
を実現する構成を示したものである。まず、X座標を検
出する時の状態を説明する。A,B,Dの各頂点に接続
されたスイッチ204が図7の状態であるとすると、図
10に示した信号印加状態であり、この時、タブレット
201上にあるペン205により検出された検出電圧V
DET が、前置増幅器206に入力され、その出力は、サ
ンプル・ホールド回路207を介して、AD変換器20
8でデジタルデータに変換され、コントロール部210
を介して、表示装置にX座標データとして伝送する。
【0053】次にY座標の検出には、スイッチ204が
それぞれ反対側に切り替わり、タブレット201の信号
印加状態は図11と同じ状態になる。ペン205により
検出信号は、上記と同様に処理され、210のコントロ
ール部から、表示装置にY座標データを伝送する。
【0054】以上のようにこの実施例における位置検出
装置は、検出信号処理回路をスタイラスペン側に設け、
抵抗体の一端から電圧を与え、検出電圧VDET が線型に
減衰することにより、X座標を求め、時分割で電圧を与
える方向を切り替えることにより同様にY座標を求める
ため、アナログ信号処理が簡単に構成でき、複雑な演算
処理がなく、即座に座標を決定することができる。
【0055】
【発明の効果】以上のように、第1、第2の発明によれ
ば、絶縁基板上に複数の抵抗体を設けるという簡単な構
成で、薄くて透明度がよくコストの低い装置が得られ
る。
【0056】また、第3の発明によれば、表示装置の表
示部にのせる薄いタブレットが実現できるため、ペンで
入力時に表示との視差が小さくなる。又、アナログ信号
処理回路が簡単になるため外来ノイズによるエラーが少
なく、部品点数の削減と共に、製造段階での調整箇所も
減り安価で精度の良いタブレットシステムが得られると
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1、第2の発明の一実施例による座標検出装
置の全体構成図である。
【図2】第1、第2の発明の一実施例による座標検出装
置の入力信号と検出信号の図である。
【図3】第1、第2の発明の一実施例による座標検出装
置の断面図と検出信号の図である。
【図4】V- とV+ のX座標に対する理想直線を表わす
図である。
【図5】第1、第2の発明の一実施例による座標検出装
置の実施例の全体構成図である。
【図6】V- とV+ のX座標に対する理想直線を表わす
図である。
【図7】第3の発明の一実施例によるタブレットシステ
ムの全体構成図である。
【図8】第3の発明の一実施例によるタブレットシステ
ムの一次元モデルを表す図である。
【図9】第3の発明の一実施例によるタブレットシステ
ムのスタイラスペン内部のFET回路図である。
【図10】第3の発明によるタブレットシステムのX座
標検出原理を表す図である。
【図11】第3の発明によるタブレットシステムのY座
標検出原理を表す図である。
【図12】従来の静電容量結合方式の座標検出装置の断
面図である。
【図13】従来の座標検出装置の全体構造図である。
【図14】従来の座標検出装置の入力信号と検出信号の
図である。
【図15】静電容量結合を表わす図である。
【図16】従来のタブレットシステムの構成図である。
【図17】従来のタブレットシステムの線形抵抗成膜の
電極構成を表す図である。
【図18】従来の座標検出装置の全体構造図である。
【符号の説明】
1 絶縁基板 2 透明抵抗膜 3 信号検出用ペン型導体 4 スイッチ 5 タイミングジェネレータ 6 信号処理部 7 制御部 8 中央処理部 10 行(上部)電極 11 絶縁膜 12 列(下部)電極 13 行電極ドライバ 14 列電極ドライバ 100 タブレット 101 導電性電極 102 ガラス 110 線形抵抗性表面を持つタブレット 111〜114 増幅器のフィードバック抵抗 116〜119 入力増幅器 120 発振器 121〜124 バンドパスフィルター 126 位相器 127〜130 加算器 131〜134 整流器 136 Y軸加算器 137 X軸加算器 138 全チャンネル加算器 139,140 除算器 141,142 出力増幅器 143,144 増幅器オフセット調整用ボリュウム 145 レベル検出器 201 タブレット 202 線形抵抗性表面 203 電極 204 スイッチ 205 スタイラスペン 206 アンプ 207 サンプルホールド 208 AD変換器 209 検出信号源 210 コントローラ 212 スタイラスペンのペン先(位置検出導体) 213 FET
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年8月11日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0008
【補正方法】変更
【補正内容】
【0008】この線形抵抗性表面の電極構造の詳細をそ
の一例として、図17に示す。100は、透明抵抗膜で
あり透明抵抗膜100の周辺境界に101の導電性の複
数の電極列がある。102はガラスのような透明な絶縁
基板である。この線形抵抗性表面と回路は端子A、B、
C、Dで電極を介して、接続される。116、117、
118、119は、入力増幅器であり、111、11
2、113、114は、これらの増幅器のフィードバッ
ク抵抗であり、端子A、B、C、Dに接続される。12
0は、発振器で位置検出用の信号源となる。増幅器の出
力は、121、122、123、124のバンドパスフ
ィルターに入力される。126は移相器、127、12
8、129、130は加算器、131、132、13
3、134は整流器、136 はY軸加算器、137は
X軸加算器、138全チャンネル加算器、139、14
0、141は、除算器、145はレベル検出器であり、
タブレット上に指又はペンによる位置の選択が行われて
いるかを検出する。141、142は増幅器、143、
144は増幅器のオフセット調整用ボリュームである。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0012
【補正方法】変更
【補正内容】
【0012】使用者がタブレット110にタッチした時
には、端子A、B、C、Dに電流iA,iB,iC,iD
流れる。116〜118の増幅器は、フィードバック抵
抗111〜114を介して、これらの電流に比例した電
圧を出力する。これらの増幅器の出力は、121〜12
4のバンドパスフィルターへ入力され、検出信号周波数
のみ出力する。発振器の信号の位相を126の移相器
おいて180度移相し、127〜130の加算器で前記
フィルター出力から発信器信号成分が減算される。減算
された出力は、131〜134の整流器で整流され、交
流信号の振幅に比例した直流レベルを与える。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0047
【補正方法】変更
【補正内容】
【0047】図7において、201はタブレットであ
る。このタブレットは、線形抵抗性表面202と、線形
抵抗性表面202の周辺境界の導電性電極203と、4
つの頂点に回路との接続端子A、B、C、Dから構成さ
れている。204は端子A、B、Dを信号入力と接地と
を切り替えるスイッチ、205はFET増幅回路を内蔵
するスタイラスペン、206は増幅器、207はサンプ
ルホールド回路、208はAD変換器、209は抵抗膜
に印加する検出信号を供給するタイミングジェネレー
タ、210はタブレットを制御するコントローラであ
る。コントローラ210は、表示装置へスタイラスペン
が選択した位置座標データを出力する。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】符号の説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【符号の説明】 1 絶縁基板 2 透明抵抗膜 3 信号検出用ペン型導体 4 スイッチ 5 タイミングジェネレータ 6 信号処理部 7 制御部 8 中央処理部 10 行(上部)電極 11 絶縁膜 12 列(下部)電極 13 行電極ドライバ 14 列電極ドライバ 100 タブレット 101 導電性電極 102 ガラス 110 線形抵抗性表面を持つタブレット 111〜114 増幅器のフィードバック抵抗 116〜119 入力増幅器 120 発振器 121〜124 バンドパスフィルター 126 移相器 127〜130 加算器 131〜134 整流器 136 Y軸加算器 137 X軸加算器 138 全チャンネル加算器 139,140 除算器 141,142 出力増幅器 143,144 増幅器オフセット調整用ボリュウム 145 レベル検出器 201 タブレット 202 線形抵抗性表面 203 電極 204 スイッチ 205 スタイラスペン 206 アンプ 207 サンプルホールド 208 AD変換器 209 検出信号源 210 コントローラ 212 スタイラスペンのペン先(位置検出導体) 213 FET
【手続補正5】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図13
【補正方法】変更
【補正内容】
【図13】

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 以下の要素を有する位置検出装置 (a)ガラス等の絶縁体、 (b)上記絶縁体の同方向に延在して配置された複数の
    抵抗体、 (c)上記各抵抗体の各位置において電位差が生ずるよ
    うに各抵抗体に順に電圧を入力する電圧入力手段、 (d)上記絶縁体の任意の位置において上記抵抗体に生
    じる電位差に基づき静電容量結合により生成される信号
    を検出する信号検出導体、 (e)上記信号検出導体により検出された信号に基づい
    て位置を検出する位置検出手段。
  2. 【請求項2】 透明な抵抗膜が行X方向にストライプ状
    に配置構成されている絶縁基板と、抵抗膜に対して入力
    信号と接地を切り替えるスイッチと、上記スイッチをコ
    ントロールする制御部と、各抵抗膜の位置に対する信号
    を検出する信号検出導体と、信号処理部と、座標を検出
    する中央処理部を備えてなる座標検出装置において、座
    標検出は、上記スイッチにより、上記抵抗膜に+Xの方
    向から順次走査信号が供給され、上記抵抗膜に−Xの方
    向から順次走査信号が供給され、上記絶縁基板の任意位
    置に上記信号検出導体を接触させることで、上記+X方
    向と−X方向から供給される信号に対して静電容量結合
    により検出される信号の和と差の比を用いて上記信号検
    出導体の接触位置のX座標を特定し、上記信号の和のピ
    ーク付近の上記信号入力抵抗膜数本を用い、そのY座標
    とそれに対する上記信号の和の値により、上記信号検出
    導体の接触位置のY座標を特定することを特徴とする位
    置検出装置。
  3. 【請求項3】 以下の要素を有する位置検出装置 (a)ガラスなどの絶縁体、 (b)上記絶縁体に2次元方向に配置され、所定の方向
    に均一な電位分布を形成するように構成された抵抗体、 (c)上記抵抗体の異なる方向に均一な電位分布を形成
    するように上記抵抗体の異なる方向から電位差を与える
    電圧入力手段、 (d)上記絶縁体の任意の位置において、上記電圧入力
    手段により与えられた抵抗体の所定の方向に生じる電位
    差に基づき静電容量結合により生成される信号を検出す
    る信号検出導体、 (e)上記信号検出導体より検出された信号に基づいて
    位置を検出する位置検出手段。
JP12845592A 1992-03-17 1992-05-21 位置検出装置 Pending JPH05324164A (ja)

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JP6006392 1992-03-17
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003162374A (ja) * 2001-09-11 2003-06-06 Sharp Corp 入出力一体型表示装置
KR101147616B1 (ko) * 2010-01-08 2012-05-24 세심광전자기술(주) 정밀도가 높은 단일층 터치스크린 장치 및 위치 결정방법
KR101438454B1 (ko) * 2012-02-20 2014-09-12 세심광전자기술(주) 멀티 터치가 가능한 단일층 정전용량방식의 터치 스크린 장치

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