JPH0530545A - ビームスポツト発光分布測定方法及びその装置 - Google Patents
ビームスポツト発光分布測定方法及びその装置Info
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- JPH0530545A JPH0530545A JP3206219A JP20621991A JPH0530545A JP H0530545 A JPH0530545 A JP H0530545A JP 3206219 A JP3206219 A JP 3206219A JP 20621991 A JP20621991 A JP 20621991A JP H0530545 A JPH0530545 A JP H0530545A
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- beam spot
- brightness
- electron beam
- synchronizing signal
- phosphor
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 多数の輝度データをサンプリングすることの
できるビームスポット発光分布測定方法及びその装置を
得る。 【構成】 特定の蛍光体２ａの測定領域２０を定め、ビ
ームスポット５ｂを５ｂ1，５ｂ2 の各位置に移動さ
せ、各位置における測定領域２ｃの発光輝度を測定す
る。ビームスポット５ｂの移動は同期信号の位相をずら
せることにより行う。 【効果】 ビームスポットを微細に動かすことができ、
多数のサンプリングデータを得ることができる。
できるビームスポット発光分布測定方法及びその装置を
得る。 【構成】 特定の蛍光体２ａの測定領域２０を定め、ビ
ームスポット５ｂを５ｂ1，５ｂ2 の各位置に移動さ
せ、各位置における測定領域２ｃの発光輝度を測定す
る。ビームスポット５ｂの移動は同期信号の位相をずら
せることにより行う。 【効果】 ビームスポットを微細に動かすことができ、
多数のサンプリングデータを得ることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、カラー陰極線管（以
下、単にＣＲＴという）の管面に照射される電子ビーム
のビームスポット内の発光分布を測定するためのビーム
スポット発光分布測定方法及びその装置に関するもので
ある。
下、単にＣＲＴという）の管面に照射される電子ビーム
のビームスポット内の発光分布を測定するためのビーム
スポット発光分布測定方法及びその装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】図８は従来のビームスポット発光分布測
定方法を説明するためのＣＲＴの内部を示す斜視図であ
り、図において、１はＣＲＴの表示面としての管面、
２，２ａは管面１に塗布された画素となるＲ，Ｇ，Ｂの
蛍光体で、ハッチングを施した蛍光体２ａは発光してい
るものを示す。３は管面１と所定間隔を以って配された
シャドウマスク、４，４ａは蛍光体２，２ａと１：１に
設けられたビーム通過用の孔で、孔４ａは蛍光体２ａと
対応している。５は電子銃（図示せず）から発射される
電子ビーム、５ａはシャドウマスク３上に形成される電
子ビーム５のビームスポット、５ｂは管面１にビームス
ポット５ａと対応して仮想的に形成れるビームスポット
である。
定方法を説明するためのＣＲＴの内部を示す斜視図であ
り、図において、１はＣＲＴの表示面としての管面、
２，２ａは管面１に塗布された画素となるＲ，Ｇ，Ｂの
蛍光体で、ハッチングを施した蛍光体２ａは発光してい
るものを示す。３は管面１と所定間隔を以って配された
シャドウマスク、４，４ａは蛍光体２，２ａと１：１に
設けられたビーム通過用の孔で、孔４ａは蛍光体２ａと
対応している。５は電子銃（図示せず）から発射される
電子ビーム、５ａはシャドウマスク３上に形成される電
子ビーム５のビームスポット、５ｂは管面１にビームス
ポット５ａと対応して仮想的に形成れるビームスポット
である。
【０００３】次に動作について説明する。電子銃から発
射された電子ビーム５はシャドウマスク３の複数個（図
では４個）の孔４ａを通過して、この孔４ａと対応する
複数個の蛍光体２ａを照射することによりこれらの蛍光
体２ａが発光する。従って、これらの蛍光体２ａの各々
の輝度を測定することによって、１つのビームスポット
５ｂ内の発光分布を知ることができる。
射された電子ビーム５はシャドウマスク３の複数個（図
では４個）の孔４ａを通過して、この孔４ａと対応する
複数個の蛍光体２ａを照射することによりこれらの蛍光
体２ａが発光する。従って、これらの蛍光体２ａの各々
の輝度を測定することによって、１つのビームスポット
５ｂ内の発光分布を知ることができる。
【０００４】図９はビームスポット５ｂ内で８個の蛍光
体２ａが発光した場合における各蛍光体２ａの輝度分布
特性図で、８つの山２ｂが各蛍光体２ａと対応する。従
来はこの特性図から３つの離散的な値から成るデータ６
を求め、これを図１０（Ａ）に示す標準データと比較
し、同図（Ｂ）の形に近ければ輝度が低いと判定し、同
図（Ｃ）の形に近ければフォーカスが低いと判定するよ
うにしている。
体２ａが発光した場合における各蛍光体２ａの輝度分布
特性図で、８つの山２ｂが各蛍光体２ａと対応する。従
来はこの特性図から３つの離散的な値から成るデータ６
を求め、これを図１０（Ａ）に示す標準データと比較
し、同図（Ｂ）の形に近ければ輝度が低いと判定し、同
図（Ｃ）の形に近ければフォーカスが低いと判定するよ
うにしている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来のビームスポット
発光分布測定方法は以上のように行われていたので、図
８より明らかなように、電子ビーム５はシャドウマスク
３で遮られ、孔４ａを通過したビームのみが蛍光体２ａ
を発光させる。従って、ビームスポット５ｂ内の発光分
布は、これらの発光する蛍光体２ａの個数と同数のサン
プリングデータのみによってしか知ることができず、電
子ビーム５がシャドウマスク３で遮られた部分の輝度を
知ることはできない。このため、ビーム径の細い高解像
度ＣＲＴの場合は、ビームスポット５ｂが非常に小さい
ので、データとしてサンプリングできる個数が３〜４個
程度となり、精度の高い測定ができない等の問題があっ
た。
発光分布測定方法は以上のように行われていたので、図
８より明らかなように、電子ビーム５はシャドウマスク
３で遮られ、孔４ａを通過したビームのみが蛍光体２ａ
を発光させる。従って、ビームスポット５ｂ内の発光分
布は、これらの発光する蛍光体２ａの個数と同数のサン
プリングデータのみによってしか知ることができず、電
子ビーム５がシャドウマスク３で遮られた部分の輝度を
知ることはできない。このため、ビーム径の細い高解像
度ＣＲＴの場合は、ビームスポット５ｂが非常に小さい
ので、データとしてサンプリングできる個数が３〜４個
程度となり、精度の高い測定ができない等の問題があっ
た。
【０００６】この発明は上記のような課題を解消するた
めになされたもので、サンプリングデータの個数を多く
得ることのできるビームスポット発光分布測定方法及び
その装置を提供することを目的としている。
めになされたもので、サンプリングデータの個数を多く
得ることのできるビームスポット発光分布測定方法及び
その装置を提供することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係るビ
ームスポット発光分布測定方法は、ＣＲＴの偏向回路に
与える同期信号の位相を制御しながら電子ビームを複数
の位置に移動させ、その際、上記電子ビームのビームス
ポット内に常に特定の１つの蛍光体に定められた測定領
域が存在するように上記移動を行わせ、上記複数の位置
の各々において上記測定領域の輝度を測定するようにし
たものである。
ームスポット発光分布測定方法は、ＣＲＴの偏向回路に
与える同期信号の位相を制御しながら電子ビームを複数
の位置に移動させ、その際、上記電子ビームのビームス
ポット内に常に特定の１つの蛍光体に定められた測定領
域が存在するように上記移動を行わせ、上記複数の位置
の各々において上記測定領域の輝度を測定するようにし
たものである。
【０００８】請求項２の発明に係るビームスポット発光
分布測定装置は、ＣＲＴの管面において選択された１つ
の蛍光体に定められた輝度の測定領域が電子ビームのビ
ームスポット内に常に存在するように上記電子ビームを
複数の位置に移動させるために偏向回路に与える同期信
号の位相を制御する同期信号位相制御装置と、上記電子
ビームの各位置で上記測定領域の輝度を測定する輝度測
定手段とを設けたものである。
分布測定装置は、ＣＲＴの管面において選択された１つ
の蛍光体に定められた輝度の測定領域が電子ビームのビ
ームスポット内に常に存在するように上記電子ビームを
複数の位置に移動させるために偏向回路に与える同期信
号の位相を制御する同期信号位相制御装置と、上記電子
ビームの各位置で上記測定領域の輝度を測定する輝度測
定手段とを設けたものである。
【０００９】
【作用】請求項１，２の発明におけるビームスポット発
光分布測定方法及びその装置によれば、水平及び垂直同
期信号を微細にずらせることにより、ビームスポットを
縦横に微細にずらせることができる。このためビームス
ポットを多数の位置に細かく移動させて、各位置毎にこ
のビームスポット内の１つの測定領域の発光輝度を測定
することにより、多数のサンプリングデータを得ること
ができる。
光分布測定方法及びその装置によれば、水平及び垂直同
期信号を微細にずらせることにより、ビームスポットを
縦横に微細にずらせることができる。このためビームス
ポットを多数の位置に細かく移動させて、各位置毎にこ
のビームスポット内の１つの測定領域の発光輝度を測定
することにより、多数のサンプリングデータを得ること
ができる。
【００１０】
【実施例】実施例１．以下、この発明の一実施例を図に
ついて説明する。図１は測定方法の原理を説明する説明
図である。先ず、ＣＲＴの管面１において任意の１つの
蛍光体２ａを選択すると共に、この選択された蛍光体２
ａの発光輝度を測定するための測定領域２ｃを定める。
この測定領域２ｃとしては、蛍光体２ａの発光輝度の最
も高い中央部分が選ばれる。
ついて説明する。図１は測定方法の原理を説明する説明
図である。先ず、ＣＲＴの管面１において任意の１つの
蛍光体２ａを選択すると共に、この選択された蛍光体２
ａの発光輝度を測定するための測定領域２ｃを定める。
この測定領域２ｃとしては、蛍光体２ａの発光輝度の最
も高い中央部分が選ばれる。
【００１１】次に、上記蛍光体２ａが照射されるように
電子ビームを発射する。図１の例ではビームスポット５
ｂ内の下方に蛍光体２ａが位置する場合を示しており、
この状態で測定領域２ｃの発光輝度を測定する。次に、
電子ビームを移動させてビームスポット５ｂを５ｂ1 の
位置に移動させ、このときの測定領域２ｃの発光輝度を
測定する。次に、電子ビームを移動させてビームスポッ
ト５ｂを５ｂ2 の位置に移動させ、このときの測定領域
２ｃの輝度を測定する。
電子ビームを発射する。図１の例ではビームスポット５
ｂ内の下方に蛍光体２ａが位置する場合を示しており、
この状態で測定領域２ｃの発光輝度を測定する。次に、
電子ビームを移動させてビームスポット５ｂを５ｂ1 の
位置に移動させ、このときの測定領域２ｃの発光輝度を
測定する。次に、電子ビームを移動させてビームスポッ
ト５ｂを５ｂ2 の位置に移動させ、このときの測定領域
２ｃの輝度を測定する。
【００１２】以上によれば、同じビームスポット５ｂ内
の３個所の発光輝度が得られることになる。従って、ビ
ームスポット５ｂを常にその中に測定領域２ｃが含まれ
るように水平及び垂直方向に細かく移動させることによ
り、このビームスポット５ｂ内の多数個所の輝度データ
をサンプリングすることができる。
の３個所の発光輝度が得られることになる。従って、ビ
ームスポット５ｂを常にその中に測定領域２ｃが含まれ
るように水平及び垂直方向に細かく移動させることによ
り、このビームスポット５ｂ内の多数個所の輝度データ
をサンプリングすることができる。
【００１３】ビームスポット５ｂ、即ち電子ビームを水
平及び垂直方向に細かく移動させるために、この実施例
においてはＣＲＴの偏向回路に与える水平及び垂直同期
信号の位相を制御するようにしている。
平及び垂直方向に細かく移動させるために、この実施例
においてはＣＲＴの偏向回路に与える水平及び垂直同期
信号の位相を制御するようにしている。
【００１４】図２は測定装置の実施例を示す構成図であ
り、図２において、７はモニタ、８はモニタ７に用いら
れる測定対象ＣＲＴ、９は水平同期信号Ｈ、垂直同期信
号Ｖ等を発生する汎用信号発生器、１０は上記各同期信
号Ｈ，Ｖの位相を制御して、モニタ７の偏向回路（図示
せず）に供給する同期信号位相制御装置である。
り、図２において、７はモニタ、８はモニタ７に用いら
れる測定対象ＣＲＴ、９は水平同期信号Ｈ、垂直同期信
号Ｖ等を発生する汎用信号発生器、１０は上記各同期信
号Ｈ，Ｖの位相を制御して、モニタ７の偏向回路（図示
せず）に供給する同期信号位相制御装置である。
【００１５】１１はＣＲＴ８の上記蛍光体２ａの測定領
域２ｃの輝度を測定する輝度測定手段としてのＣＣＤカ
メラ、１２はＣＣＤカメラ１１から得られる画像信号を
処理する画像処理装置、１３は画像処理装置１２及び全
体を制御するパーソナルコンピュータ等のコンピュータ
である。
域２ｃの輝度を測定する輝度測定手段としてのＣＣＤカ
メラ、１２はＣＣＤカメラ１１から得られる画像信号を
処理する画像処理装置、１３は画像処理装置１２及び全
体を制御するパーソナルコンピュータ等のコンピュータ
である。
【００１６】次に動作について図３，図４と共に説明す
る。先ず、図３（Ａ）に示すように、ＣＲＴ８の管面１
上にＸ・Ｙ座標を定める。その（ｘ1 ，ｙ1 ）座標上に
蛍光体２ａの測定領域２ｃが位置するように成すと共に
水平，垂直同期信号Ｈ，Ｖを位相制御部して、ビームス
ポット５ｂをその周縁に測定領域２ｃが位置するように
制御する。なお、この図３ではビームスポット５ｂは便
宜上楕円形として図示されている。
る。先ず、図３（Ａ）に示すように、ＣＲＴ８の管面１
上にＸ・Ｙ座標を定める。その（ｘ1 ，ｙ1 ）座標上に
蛍光体２ａの測定領域２ｃが位置するように成すと共に
水平，垂直同期信号Ｈ，Ｖを位相制御部して、ビームス
ポット５ｂをその周縁に測定領域２ｃが位置するように
制御する。なお、この図３ではビームスポット５ｂは便
宜上楕円形として図示されている。
【００１７】次に、図４のステップＳＴ１により、水平
同期信号ＨをＴxだけずらせてビームスポット５ｂをＬx
だけ左にずらせることにより、図３（Ｂ）に示すよう
に測定領域２ｃを（ｘ2 ，ｙ1 ）の座標に位置させる。
この状態で測定領域２ｃをＣＣＤカメラ１１で撮影して
その輝度を測定する。次にステップＳＴ２により、水平
同期信号ＨをさらにＴx だけずらせて測定領域２ｃを
（ｘ3 ，ｙ1 ）の座標に位置させ、この状態の測定領域
２ｃの輝度をＣＣＤカメラ１１で測定する。同様にして
ステップＳＴ３，ＳＴ４により水平同期信号Ｈを順次Ｔ
x ずつずらせることにより、測定領域２ｃを（ｘ4 ，ｙ
1 ），（ｘ5 ，ｙ1 ）の各座標に位置させ、各位置での
輝度を測定する。
同期信号ＨをＴxだけずらせてビームスポット５ｂをＬx
だけ左にずらせることにより、図３（Ｂ）に示すよう
に測定領域２ｃを（ｘ2 ，ｙ1 ）の座標に位置させる。
この状態で測定領域２ｃをＣＣＤカメラ１１で撮影して
その輝度を測定する。次にステップＳＴ２により、水平
同期信号ＨをさらにＴx だけずらせて測定領域２ｃを
（ｘ3 ，ｙ1 ）の座標に位置させ、この状態の測定領域
２ｃの輝度をＣＣＤカメラ１１で測定する。同様にして
ステップＳＴ３，ＳＴ４により水平同期信号Ｈを順次Ｔ
x ずつずらせることにより、測定領域２ｃを（ｘ4 ，ｙ
1 ），（ｘ5 ，ｙ1 ）の各座標に位置させ、各位置での
輝度を測定する。
【００１８】次に、ステップＳＴ５において、垂直同期
信号ＶをＴy だけずらせてビームスポット５ｂをＬy だ
け下方にずらせることにより、測定領域２ｃを（ｘ5 ，
ｙ2）の座標に位置させて、その輝度を測定する。以
後、ステップＳＴ６〜ＳＴ９までは水平同期信号をＴx
ずつずらせながら（ｘ4 ，ｙ2 ）〜（ｘ1，ｙ2 ）の各
位置における測定領域２ｃの輝度をＣＣＤカメラ１１で
測定する。
信号ＶをＴy だけずらせてビームスポット５ｂをＬy だ
け下方にずらせることにより、測定領域２ｃを（ｘ5 ，
ｙ2）の座標に位置させて、その輝度を測定する。以
後、ステップＳＴ６〜ＳＴ９までは水平同期信号をＴx
ずつずらせながら（ｘ4 ，ｙ2 ）〜（ｘ1，ｙ2 ）の各
位置における測定領域２ｃの輝度をＣＣＤカメラ１１で
測定する。
【００１９】さらに、同様にしてステップＳＴ２４まで
水平，垂直同期信号をＴx ，Ｔy ずつずらせてビームス
ポット５ｂをＬx ，Ｌy ずつずらせることにより、測定
領域２ｃを（ｘ1 ，ｙ3 ），（ｘ5 ，ｙ5 ）の各座標に
順次位置させ、各位置における測定領域２ｃの輝度を測
定する。以上によれば、同じビームスポット５ｂ内から
２４個のサンプリングデータを得ることができる。
水平，垂直同期信号をＴx ，Ｔy ずつずらせてビームス
ポット５ｂをＬx ，Ｌy ずつずらせることにより、測定
領域２ｃを（ｘ1 ，ｙ3 ），（ｘ5 ，ｙ5 ）の各座標に
順次位置させ、各位置における測定領域２ｃの輝度を測
定する。以上によれば、同じビームスポット５ｂ内から
２４個のサンプリングデータを得ることができる。
【００２０】次に同期信号位相制御装置１０の実施例に
ついて図５について図５と共に説明する。図５におい
て、１４は汎用信号発生器９からの垂直同期信号Ｖの極
性が負極性のとき反転させ、正極性のときはそのまま通
過させる極性反転回路で、コンピュータ１３により制御
される。１５は例えば２０ＭＨｚのクロックを発生する
クロック発生器、１６，１７は上記クロックをカウント
するカウンタで、コンピュータ１３からプリセット値を
与えられる。カウンタ１６は極性反転回路１４からの正
極性の垂直同期信号Ｖ1 の立上りでカウントを開始す
る。カウンタ１７は上記垂直同期信号Ｖ1 をインバータ
１８で反転した信号の立上り、即ち、上記垂直同期信号
Ｖ1 の立下りでカウントを開始する。
ついて図５について図５と共に説明する。図５におい
て、１４は汎用信号発生器９からの垂直同期信号Ｖの極
性が負極性のとき反転させ、正極性のときはそのまま通
過させる極性反転回路で、コンピュータ１３により制御
される。１５は例えば２０ＭＨｚのクロックを発生する
クロック発生器、１６，１７は上記クロックをカウント
するカウンタで、コンピュータ１３からプリセット値を
与えられる。カウンタ１６は極性反転回路１４からの正
極性の垂直同期信号Ｖ1 の立上りでカウントを開始す
る。カウンタ１７は上記垂直同期信号Ｖ1 をインバータ
１８で反転した信号の立上り、即ち、上記垂直同期信号
Ｖ1 の立下りでカウントを開始する。
【００２１】１９はカウンタ１６，１７のキャリーパル
スでトリガされるフリップフロップ、２０はフリップフ
ロップ１９の出力パルスを必要に応じてコンピュータ１
３の制御により反転させて、垂直同期信号Ｖ−ＯＵＴと
成す極性反転回路である。
スでトリガされるフリップフロップ、２０はフリップフ
ロップ１９の出力パルスを必要に応じてコンピュータ１
３の制御により反転させて、垂直同期信号Ｖ−ＯＵＴと
成す極性反転回路である。
【００２２】２１は汎用信号発生器９からの水平同期信
号Ｈを例えば１ｎｓｅｃずつ順次遅延させて、遅延され
た水平同期信号ＤＨ1，ＤＨ2，…ＤＨn を出力するディ
レイライン、２２はディレイライン２１から得られる遅
延された水平同期信号ＤＨ1〜ＤＨn のうちの１つをコ
ンピュータ１３の指示に応じて選択して、水平同期信号
Ｈ−ＯＵＴと成すセレクタである。
号Ｈを例えば１ｎｓｅｃずつ順次遅延させて、遅延され
た水平同期信号ＤＨ1，ＤＨ2，…ＤＨn を出力するディ
レイライン、２２はディレイライン２１から得られる遅
延された水平同期信号ＤＨ1〜ＤＨn のうちの１つをコ
ンピュータ１３の指示に応じて選択して、水平同期信号
Ｈ−ＯＵＴと成すセレクタである。
【００２３】次に動作について図６，図７と共に説明す
る。ビームスポット５ｂの直径を水平走査時間に換算し
て約１０〜６０ｎｓｅｃであるとすると、水平同期信号
ＨをＴx ≒１〜１０数ｎｓｅｃの微細さで位相を遅らせ
る必要がある。ディレイライン２１はｎ個の出力端子か
ら１ｎｓｅｃずつ位相の遅れた水平同期信号ＤＨ1 〜Ｄ
Ｈn を取出すことができる。図６は元の水平同期信号Ｈ
に対して１ｎｓｅｃ遅れた水平同期信号ＤＨ1 の例を示
している。
る。ビームスポット５ｂの直径を水平走査時間に換算し
て約１０〜６０ｎｓｅｃであるとすると、水平同期信号
ＨをＴx ≒１〜１０数ｎｓｅｃの微細さで位相を遅らせ
る必要がある。ディレイライン２１はｎ個の出力端子か
ら１ｎｓｅｃずつ位相の遅れた水平同期信号ＤＨ1 〜Ｄ
Ｈn を取出すことができる。図６は元の水平同期信号Ｈ
に対して１ｎｓｅｃ遅れた水平同期信号ＤＨ1 の例を示
している。
【００２４】コンピュータ１３によりこれらの遅れた水
平同期信号ＤＨ1〜ＤＨn の中から所望のサンプリング
データ個数に応じた遅延量を有する１つの水平同期信号
が選択されるようにセレクタ２２を制御する。この選択
された水平同期信号Ｈ−ＯＵＴはＣＲＴ８の偏向回路の
加えられる。
平同期信号ＤＨ1〜ＤＨn の中から所望のサンプリング
データ個数に応じた遅延量を有する１つの水平同期信号
が選択されるようにセレクタ２２を制御する。この選択
された水平同期信号Ｈ−ＯＵＴはＣＲＴ８の偏向回路の
加えられる。
【００２５】次に汎用信号発生器９から得られる垂直同
期信号Ｖは正極性の場合と負極性の場合とがあるので、
負極性の場合は極性反転回路１４で反転させ、正極性の
場合はそのまま通過させて、図７のような正極性の垂直
同期信号Ｖ1 を得る。カウンタ１６，１７は予めコンピ
ュータ１３により垂直同期信号Ｖ1の所望のずれ量Ｔyに
応じたプリセット値が与えられている。
期信号Ｖは正極性の場合と負極性の場合とがあるので、
負極性の場合は極性反転回路１４で反転させ、正極性の
場合はそのまま通過させて、図７のような正極性の垂直
同期信号Ｖ1 を得る。カウンタ１６，１７は予めコンピ
ュータ１３により垂直同期信号Ｖ1の所望のずれ量Ｔyに
応じたプリセット値が与えられている。
【００２６】先ず、カウンタ１６が垂直同期信号Ｖ1 の
立上りのタイミングで上記プリセット値からカウントを
開始する。そしてプリセット値に応じたＮ個のクロック
をカウントするとキャリーパルスが出力され、これによ
ってフリップフロップ１９が反転してその出力が立上
る。
立上りのタイミングで上記プリセット値からカウントを
開始する。そしてプリセット値に応じたＮ個のクロック
をカウントするとキャリーパルスが出力され、これによ
ってフリップフロップ１９が反転してその出力が立上
る。
【００２７】次に、垂直同期信号Ｖ1 が立下ると、イン
バータ１８を介してカウンタ１７が上記プリセット値か
らカウントを開始する。そしてプリセット値に応じたＮ
個のクロックをカウントするとキャリーパルスが出力さ
れてフリップフロップ１９の出力が立下る。この結果、
フリップフロップ１９の出力パルスは垂直同期信号Ｖ1
とパルス幅が同一でかつ垂直同期信号Ｖ1 の位相がずれ
た正極性のパルスとなっている。
バータ１８を介してカウンタ１７が上記プリセット値か
らカウントを開始する。そしてプリセット値に応じたＮ
個のクロックをカウントするとキャリーパルスが出力さ
れてフリップフロップ１９の出力が立下る。この結果、
フリップフロップ１９の出力パルスは垂直同期信号Ｖ1
とパルス幅が同一でかつ垂直同期信号Ｖ1 の位相がずれ
た正極性のパルスとなっている。
【００２８】この出力パルスは偏向回路が正極性の垂直
同期信号で動作するものである場合は、極性反転回路２
０をそのまま通過して垂直同期信号Ｖ−ＯＵＴとなる。
また偏向回路が負極性の垂直同期信号で動作する場合
は、上記出力パルスは極性反転回路２０で反転されて垂
直同期信号Ｖ−ＯＵＴとなり、偏向回路に送られる。
同期信号で動作するものである場合は、極性反転回路２
０をそのまま通過して垂直同期信号Ｖ−ＯＵＴとなる。
また偏向回路が負極性の垂直同期信号で動作する場合
は、上記出力パルスは極性反転回路２０で反転されて垂
直同期信号Ｖ−ＯＵＴとなり、偏向回路に送られる。
【００２９】なお、垂直同期信号Ｖ−ＯＵＴは水平同期
信号の場合と同様にディレイラインで作ることも可能で
あるが、ビームスポットを垂直方向にその直径分だけ移
動させるためには垂直同期信号を１０μｓｅｃ〜６０μ
ｓｅｃ程度遅らせる必要があり、多数のディレイライン
素子が必要となる。
信号の場合と同様にディレイラインで作ることも可能で
あるが、ビームスポットを垂直方向にその直径分だけ移
動させるためには垂直同期信号を１０μｓｅｃ〜６０μ
ｓｅｃ程度遅らせる必要があり、多数のディレイライン
素子が必要となる。
【００３０】
【発明の効果】以上のように、請求項１の発明は、ＣＲ
Ｔの偏向回路に与える同期信号の位相を制御しながら電
子ビームを複数の位置に移動させ、その際、上記電子ビ
ームのビームスポット内に常に特定の１つの蛍光体に定
められた測定領域が存在するように上記移動を行わせ、
上記複数の位置の各々において上記測定領域の輝度を測
定するようにした。
Ｔの偏向回路に与える同期信号の位相を制御しながら電
子ビームを複数の位置に移動させ、その際、上記電子ビ
ームのビームスポット内に常に特定の１つの蛍光体に定
められた測定領域が存在するように上記移動を行わせ、
上記複数の位置の各々において上記測定領域の輝度を測
定するようにした。
【００３１】また、請求項２の発明は、ＣＲＴの管面に
おいて選択された１つの蛍光体に定められた輝度の測定
領域が電子ビームのビームスポット内に常に存在するよ
うに上記電子ビームを複数の位置に移動させるために偏
向回路に与える同期信号の位相を制御する同期信号位相
制御装置と、上記電子ビームの各位置で上記測定領域の
輝度を測定する輝度測定手段とを設ける構成とした。
おいて選択された１つの蛍光体に定められた輝度の測定
領域が電子ビームのビームスポット内に常に存在するよ
うに上記電子ビームを複数の位置に移動させるために偏
向回路に与える同期信号の位相を制御する同期信号位相
制御装置と、上記電子ビームの各位置で上記測定領域の
輝度を測定する輝度測定手段とを設ける構成とした。
【００３２】従って、請求項１，２の発明によれば、ビ
ームスポット内から多くの輝度データをサンプリングす
ることができ、このためビームスポットの発光分布を精
度高く測定することができ、ＣＲＴに映し出される画像
のフォーカスや解像度の計測を精度高く行うことができ
る。また、同期信号の位相を制御するので、容易に実現
が可能である等の効果が得られる。
ームスポット内から多くの輝度データをサンプリングす
ることができ、このためビームスポットの発光分布を精
度高く測定することができ、ＣＲＴに映し出される画像
のフォーカスや解像度の計測を精度高く行うことができ
る。また、同期信号の位相を制御するので、容易に実現
が可能である等の効果が得られる。
【図１】この発明によるビームスポット発光分布測定方
法及びその装置の測定原理を示す説明図である。
法及びその装置の測定原理を示す説明図である。
【図２】この発明の一実施例によるビームスポット発光
分布測定装置を示す構成図である。
分布測定装置を示す構成図である。
【図３】この発明の一実施例によるビームスポット発光
分布測定方法を示す説明図である。
分布測定方法を示す説明図である。
【図４】同測定方法の手順を示すフローチャートであ
る。
る。
【図５】この発明に用いられる同期信号位相制御装置の
実施例を示す構成図である。
実施例を示す構成図である。
【図６】同制御装置の動作を示す波形図である。
【図７】同制御装置の動作を示すタイミングチャートで
ある。
ある。
【図８】従来のビームスポット発光分布測定方法を示す
ＣＲＴ内部の斜視図である。
ＣＲＴ内部の斜視図である。
【図９】従来の同測定方法で得られる輝度分布特性図で
ある。
ある。
【図１０】ビームスポットの評価に用いられる特性図で
ある。
ある。
１ 管面
２ａ 蛍光体
２ｃ 測定領域
５ｂ ビームスポット
８ ＣＲＴ
１０ 同期信号位相制御装置
１１ ＣＣＤカメラ（輝度測定手段）
Claims (2)
- 【請求項１】 カラー陰極線管の管面における１つの蛍
光体を選択し、その選択された蛍光体の輝度の測定領域
を定め、上記カラー陰極線管の偏向回路に与える同期信
号の位相を制御しながら電子ビームを複数の位置に移動
させ、その際、上記電子ビームのビームスポット内に常
に上記測定領域が存在するように移動させ、上記複数の
位置の各々において上記測定領域の輝度を測定するよう
にしたビームスポット発光分布測定方法。 - 【請求項２】 カラー陰極線管の管面において選択され
た１つの蛍光体に定められた輝度の測定領域が電子ビー
ムのビームスポット内に常に存在するように上記電子ビ
ームを複数の位置に移動させるために偏向回路に与える
同期信号の位相を制御する同期信号位相制御装置と、上
記複数の位置に移動する電子ビームの各位置においてそ
のビームスポット内の上記測定領域の輝度を測定する輝
度測定手段とを備えたビームスポット発光分布測定装
置。
Priority Applications (5)
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|---|---|---|---|
| JP03206219A JP3091529B2 (ja) | 1991-07-24 | 1991-07-24 | ビームスポット発光分布測定装置及びその方法 |
| KR1019920003228A KR950010703B1 (ko) | 1991-07-24 | 1992-02-28 | 빔 스포트 발광 분포 측정 방법 및 그 장치 |
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| DE69204393T DE69204393T2 (de) | 1991-07-24 | 1992-04-10 | Verfahren und Apparat zur Messung der Lumineszenzverteilung Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Lumineszenzverteilung eines Leuchtflecks. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03206219A JP3091529B2 (ja) | 1991-07-24 | 1991-07-24 | ビームスポット発光分布測定装置及びその方法 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0530545A true JPH0530545A (ja) | 1993-02-05 |
| JP3091529B2 JP3091529B2 (ja) | 2000-09-25 |
Family
ID=16519742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03206219A Expired - Fee Related JP3091529B2 (ja) | 1991-07-24 | 1991-07-24 | ビームスポット発光分布測定装置及びその方法 |
Country Status (5)
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| US (1) | US5334911A (ja) |
| EP (1) | EP0524374B1 (ja) |
| JP (1) | JP3091529B2 (ja) |
| KR (1) | KR950010703B1 (ja) |
| DE (1) | DE69204393T2 (ja) |
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| JPH03174892A (ja) * | 1989-12-04 | 1991-07-30 | Hitachi Ltd | コンバーゼンスずれ測定装置 |
-
1991
- 1991-07-24 JP JP03206219A patent/JP3091529B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-02-28 KR KR1019920003228A patent/KR950010703B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-03-25 US US07/857,316 patent/US5334911A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-04-10 DE DE69204393T patent/DE69204393T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-04-10 EP EP92106263A patent/EP0524374B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR950010703B1 (ko) | 1995-09-21 |
| JP3091529B2 (ja) | 2000-09-25 |
| DE69204393D1 (de) | 1995-10-05 |
| EP0524374A1 (en) | 1993-01-27 |
| DE69204393T2 (de) | 1996-05-02 |
| US5334911A (en) | 1994-08-02 |
| EP0524374B1 (en) | 1995-08-30 |
| KR930003210A (ko) | 1993-02-24 |
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