JPH0527657U - スリツト照明装置 - Google Patents
スリツト照明装置Info
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- JPH0527657U JPH0527657U JP7530191U JP7530191U JPH0527657U JP H0527657 U JPH0527657 U JP H0527657U JP 7530191 U JP7530191 U JP 7530191U JP 7530191 U JP7530191 U JP 7530191U JP H0527657 U JPH0527657 U JP H0527657U
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】測定者が測定領域を確認できるスリット照明装
置について、サンプルの形状の影響を受けることなく、
測定領域を示すスリットの像を明瞭に確認できる。 【構成】光学顕微鏡1の光学系を無限遠光学系にし、ス
リット10の後方に光源2を配置し、顕微鏡1の無限遠
光学系の並行光束部に適度な反射率をもつハーフミラー
14を置く。スリット10を照明した光は、スリット1
0から結像レンズ7をへてハーフミラー14で反射し、
再び結像レンズ7から接眼レンズ9に導かれる。スリッ
ト照明装置13にはランプ光源のほか、光ファイバー光
源から光ファイバーにより照明する。
置について、サンプルの形状の影響を受けることなく、
測定領域を示すスリットの像を明瞭に確認できる。 【構成】光学顕微鏡1の光学系を無限遠光学系にし、ス
リット10の後方に光源2を配置し、顕微鏡1の無限遠
光学系の並行光束部に適度な反射率をもつハーフミラー
14を置く。スリット10を照明した光は、スリット1
0から結像レンズ7をへてハーフミラー14で反射し、
再び結像レンズ7から接眼レンズ9に導かれる。スリッ
ト照明装置13にはランプ光源のほか、光ファイバー光
源から光ファイバーにより照明する。
Description
【0001】
本考案は光学顕微鏡を用いて微小部のスペクトルの測定を行う顕微分光光度計 において、測定者が測定領域を確認することが可能なスリット照明装置に係わり 、特に従来の方式では被測定物表面の凹凸のために、被測定物の照明光が乱反射 してスリット像、即ち測定する領域を示すスポット光の像がぼける場合でも、測 定者が測定領域を確認することが可能な照明装置に関する。
【0002】
従来の技術では、光学顕微鏡の光学系において、対物レンズからなる光学顕微 鏡内の一連の光学系によって結像される、被測定物(観察試料)の実像のできる 位置に配置されたスリットを、光学顕微鏡内を進む光の向きとは180°逆の向 きに、光源を用いて照明する。該スリットは分光器に入射する光を制限するが、 実像位置に配置されているため、分光器で測定する試料上の測定領域を決める働 きももつ。
【0003】 該絞りを180°逆の向きに照明した光は、光学顕微鏡の光学系を逆向きに進 み、対物レンズを通して被測定物に照射される。この照射光は被測定物の表面で 反射され、再び対物レンズを通じて顕微鏡の光学系に導かれ、接眼レンズから観 察される。この時観察される像はスリットの像であり、スリットの孔の形状に明 るく光る。一方光学顕微鏡により試料の像が観察できるが、上記のスリット照明 装置の併用により、被測定物の像の上にスリットの像が光って見えるため、測定 者が被測定物のどこを測定しているのか、測定領域を確認することが可能であっ た。
【0004】
上記従来技術により、スリットを照明する装置によって測定領域を確認するこ とが可能になった。しかし、被測定物の表面形状が観察視野内で十分に平面であ る場合はスリットの像が観察できるものの、被測定物の表面形状が凹凸であった り、段差が幾重にもあるような場合には、被測定物を反射する光が散乱するため に、スリットの像が結像しない問題が生じた。
【0005】 本考案の目的は、このような問題を解決することにある。
【0006】
上記の課題は、光学顕微鏡の光学系を無限遠光学系で構成し、該無限遠光学系 となる平行光束部に適度の反射率を有するハーフミラーを配置することによって 解決される。
【0007】
図1に本考案の原理を示す。
【0008】 光学顕微鏡1の光源2から放出される白色光は、中間レンズ3,コリメータレ ンズ4を通じて観察試料(測定試料)5に照射される。照射された光は該観察試 料5を透過したのち対物レンズ6と結像レンズ7を通り、プリズム8に入る。該 プリズム8を反射する光は接眼レンズ9に導かれ、該観察試料5の像が観察でき る。該プリズム8を透過した光はスリット10に導かれる。該スリット10は、 該対物レンズ6と該結像レンズ7によって結像される実像(観察試料5の実像) の位置にあり、該スリット10を透過した光は分光器11に導かれ、試料を透過 した光のうち該スリットを透過した光のみのスペクトルが分光器で得られる。該 スリット10上には該試料5の実像が結像されることから、このスリットによっ て試料5の特定の部分のみの光を取りだすことができる。つまり、試料の特定の 微小な領域のスペクトルを測定することが可能になる。
【0009】 スリット照明装置13は該スリット10を照明する装置であり、切り替えミラ ー14は、スペクトルを測定する時は該被測定光11を該分光器12に導くよう に切り替え、測定者が測定領域を確認する時は該スリット照明装置13の光を該 スリット10に導く。
【0010】 切り換えミラー14をスリット照明側に切り換えて、該スリット照明装置13 により該スリット10を照明した場合、照明光は該スリット10を通過し、該プ リズム8,結像レンズ7へと導かれる。
【0011】 特願平3−56315号の従来技術では、該結像レンズ7へと導かれた光は、対物レ ンズ6から該観察試料5に照射される。該観察試料5に照射された光は該測定試 料5で反射され、再び対物レンズ6を通って該結像レンズ7,該プリズム8をへ て、該接眼レンズ8に導かれる。ここで該スリット10と該観察試料5は、対物 レンズと結像レンズの光学系により、物体と像の位置関係にあることから、該ス リット10の像が該観察試料5の表面上に結像され、スリットの像が観察試料の 像とともに接眼レンズに導かれるため、接眼レンズの視野内で、試料の像とスリ ットの像が重なって観察される。このため、試料上のどの位置を測定しているの か、測定領域を確認することができる。
【0012】 しかし、該観察試料5の表面に凹凸があったり、段差構造を持つ試料の場合は 、該スリットの像が結像されず、また透過光が散乱して乱反射するため、接眼レ ンズから観察するスリットの像がぼける。
【0013】 本考案では、光学顕微鏡の無限遠光学系の平行光束の箇所に、適度の反射率を もつ半透明体のハーフミラー14を置く。図1において、本光学顕微鏡は無限遠 光学系の光学顕微鏡であり、観察試料5は対物レンズ6の前側焦点位置にあり、 観察試料を透過して対物レンズを出た光は平行光束になる。また、対物レンズの 後方には結像レンズがあり、結像レンズの後方焦点位置にスリットが配置される 。つまり、観察試料の像は対物レンズにより一度平行光束にされたのち、結像レ ンズでスリット面上に結像される。
【0014】 該スリット照明装置13により該スリット10を照明した光は、該スリット 10をへて、該プリズム8,結像レンズ7へと導かれる。該スリット10は該結 像レンズ7の焦点位置にあるため、結像レンズを出た後の光は平行光束である。 ハーフミラー15はこの平行光束の一部を反射し、反射光は接眼レンズに導か れる。ハーフミラーの表面は十分に平滑にすると、ハーフミラーは、平行光束を 平行光束のままくずれることなく反射するので、接眼レンズ内にできるスリット の像がぼけたり,歪む悪影響を生じない。これによりスリットの像の観察が可能 になる。この方式であれば、観察試料からの反射光を用いないため、スリットの 像がぼけない。
【0015】 図2に請求項2の原理を示す。
【0016】 ハーフミラーに平行平板を用いた場合は平行平板の上面と裏面で光が反射する ため、ハーフミラーがわずかに傾いている場合や、平行平板の2つの平面の平行 度が悪い場合には、上面と裏面の反射光によって各々のスリットの像ができ、接 眼レンズから観察した場合に、これらの像が2重にダブって見える。これを防ぐ ためにハーフミラーをくさび形状にし、上面または裏面のどちらか一方の反射光 を光路から外す。これにより、スリットの像が2重にダブることなく、明確に観 察できる。また該ハーフミラー15を着脱可能な機構とすることにより、ハーフ ミラーによる余分な光のロスを防ぐことができ、微弱な光のスペクトルを測定す る場合に有利となる。
【0017】
図3に本考案の実施例を示す。図3は光学顕微鏡に落射照明用のハロゲンラン プ光源を用い、分光器は回折格子を分散子とする多波長分光器、スリット照明光 源はランプ光源を用いた例である。本実施例は、反射率を測定する装置の例であ る。
【0018】 光学顕微鏡1のハロゲンランプ光源20から放出された光は、中間レンズ21 ,ハーフミラー22を経て、対物レンズ6に導かれ、観察試料(測定試料)5に 照射される。照射光は該観察試料5で反射され、再び該対物レンズ6,ハーフミ ラー22,結像レンズ7,プリズム8をへて接眼レンズ9に導かれ、試料の像が 観察される。該プリズム8を透過した光は、結像面23上に該試料5の実像を作 る。リレーレンズ24は、該結像面23上に結像される実像をスリット10の面 上に1:1の大きさで像を投影する。スリット10には形状が異なる数個のスリ ット(空隙)が設けられており、駆動装置25によって任意の大きさのスリット にセットされる。
【0019】 分光器26は、回折格子27と一次元フォトダイオードアレイ検知器28を組 み合わせた多波長分光器で、該回折格子27により被測定光29を分散し、該一 次元フォトダイオードアレイ検知器28により適当な波長範囲のスペクトルを検 出し、電気信号に変換する。該一次元フォトダイオードアレイ検知器28は検知 器駆動回路29によって駆動されており、検出した電気信号を増幅器30によっ て増幅し、A/D変換器31でディジタル信号に変換する。ディジタル信号化さ れたデータは演算処理装置32に読み込まれ、スペクトルに変換されて出力装置 33に出力される。
【0020】 図4に第2の実施例を示す。本実施例は光学顕微鏡に蛍光用顕微鏡を用い、分 光器に多波長分光器,スリット照明装置の光源に光ファイバー光源を用いた例で ある。
【0021】 本光学系において、高圧水銀灯光源34から放出される数本の輝線のうち、励 起フィルター35を透過した1本または複数本の輝線が、ダイクロイックミラー 36で反射されて、対物レンズ6から測定試料5に励起光として照射される。励 起フィルターは、どの輝線を試料に照射するかによって最適な特性をもつフィル ターを用いる。該測定試料5は励起光のエネルギーを得ると蛍光を発し、蛍光は 対物レンズ6に取り込まれる。同時に、励起光が該測定試料5で反射して対物レ ンズ6に取り込まれ、上方へと進む。このため対物レンズで蛍光と励起光が取り 込まれるが、励起光カットフィルター37により励起光のみが除去され、蛍光の みがプリズム7をへて接眼レンズ8と分光器に導かれる。
【0022】 該対物レンズ6による実像はリレーレンズ24によって、スリット10面上に 1:1で結像している。該スリット10の面上には大きさの異なる数個のスリッ トがあり、円周上に配置されて切替機構25によって切替えられる。スリットの 大きさに応じて測定する領域を変更することができ、試料に応じて設定する。
【0023】 分光器は回折格子27と、イメージ増強管が組み込まれた一次元フォトダイオ ードアレイ検知器38を組み合わせた多波長分光器で、被測定光29は該回折格 子27により分散され、該一次元アレイ検知器38によりスペクトル光を電気信 号に変換する。該イメージ増強管は光子を電子に変換する光電面と、電子を増幅 するマイクロチャンネルプレートと、電子を光に変換する蛍光面から構成されて おり、該回折格子27で分散された光スペクトルを、光→電子→光に変換し、数 倍から104 程度のオーダで増幅する。この増幅した光は一次元ダイオードアレ イ検知器で電気信号に変換される。該一次元フォトダイオードアレイ検知器38 は検知器駆動回路39によって駆動されており、測定で得られたスペクトル信号 は増幅器30によって増幅され、A/D変換器31によってディジタル信号に変 換される。このディジタル信号は演算処理装置32に読み込まれ、スペクトルに 変換されて出力装置33に出力される。
【0024】 また制御シャッター40は演算処理装置32により制御されており、スペクト ルの測定の際は開き、スリット照明の際には閉じる。
【0025】 スリット照明装置の光源に光ファイバー光源を用いた場合は、光源の熱によっ て分光器の性能が不安定になる悪影響を除去でき、また光源の不要な光の漏れに よる分光器の迷光の影響を除去できる利点がある。
【0026】
本考案によれば、従来方法では被測定物表面の凹凸のためにスリット照明光が 乱反射してスリット像がぼける場合でも、測定領域を確認することができる。く さび形のハーフミラーを用いた場合には、ミラーの上面と下面の反射によって生 じるスリット像の2重のぼけを防ぐことができる。また光学系が簡単で、容易に 実施できる利点が有る。
【0027】 スリット照明装置の光源に光ファイバー光源を用いた場合は、光源の熱によっ て分光器の性能が不安定になる悪影響を除去でき、また光源の不要な光の漏れに よる分光器の迷光の影響を除去できる利点がある。
【図1】本考案の原理図である。
【図2】本考案の原理図である。
【図3】本考案による実施例を示す図である。
【図4】本考案による第2の実施例を示す図である。
1…光学顕微鏡、2…光源、3…中間レンズ、4…コリ
メータレンズ、5…測定試料、6…対物レンズ、7…プ
リズム、8…接眼レンズ、9…スリット、12…分光
器、13…スリット照明装置。
メータレンズ、5…測定試料、6…対物レンズ、7…プ
リズム、8…接眼レンズ、9…スリット、12…分光
器、13…スリット照明装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 関 貴和夫 茨城県勝田市市毛882番地 株式会社日立 製作所計測器事業部内
Claims (3)
- 【請求項1】対物レンズと接眼レンズと照明装置からな
り、無限遠光学系で構成される光学顕微鏡と、該光学顕
微鏡で作られる試料の実像を遮るスリットと、該スリッ
トを透過した光(被測定光)を測光する分光器と、該ス
リットを光源を用いて照明する装置から構成される顕微
分光光度計において、該光学顕微鏡部の無限遠光学系の
平行光束部に、ハーフミラーを配置することを特徴とす
るスリット照明装置。 - 【請求項2】請求項1のスリット照明装置において、該
ハーフミラーの形状をくさび形にしたことを特徴とする
スリット照明装置。 - 【請求項3】請求項1または請求項2記載のスリット照
明装置において、該ハーフミラーの着脱を可能にしたこ
とを特徴とするスリット照明装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7530191U JPH0527657U (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | スリツト照明装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7530191U JPH0527657U (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | スリツト照明装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0527657U true JPH0527657U (ja) | 1993-04-09 |
Family
ID=13572293
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7530191U Pending JPH0527657U (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | スリツト照明装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0527657U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006300886A (ja) * | 2005-04-25 | 2006-11-02 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 顕微光学分析システム |
-
1991
- 1991-09-19 JP JP7530191U patent/JPH0527657U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006300886A (ja) * | 2005-04-25 | 2006-11-02 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 顕微光学分析システム |
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