JPH0527045A - 検出装置 - Google Patents
検出装置Info
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- JPH0527045A JPH0527045A JP20253391A JP20253391A JPH0527045A JP H0527045 A JPH0527045 A JP H0527045A JP 20253391 A JP20253391 A JP 20253391A JP 20253391 A JP20253391 A JP 20253391A JP H0527045 A JPH0527045 A JP H0527045A
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- Japan
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- circuit
- oscillation
- coil
- circuit board
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A63—SPORTS; GAMES; AMUSEMENTS
- A63F—CARD, BOARD, OR ROULETTE GAMES; INDOOR GAMES USING SMALL MOVING PLAYING BODIES; VIDEO GAMES; GAMES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- A63F7/00—Indoor games using small moving playing bodies, e.g. balls, discs or blocks
- A63F7/02—Indoor games using small moving playing bodies, e.g. balls, discs or blocks using falling playing bodies or playing bodies running on an inclined surface, e.g. pinball games
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- Switches That Are Operated By Magnetic Or Electric Fields (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 パチンコ玉を非接触で検出する検出装置にお
いて、部品点数を低減して信頼性および組立作業性の向
上を図るとともに、コンパクト化を図る。 【構成】 回路基板１３に、コイルとコンデンサを用い
た発振回路とこの発振回路の発振状態によりオン・オフ
するスイッチング回路とを設けるとともに、パチンコ玉
が通過する貫通孔５１を設ける。回路基板１３上の貫通
孔５１の周囲には、配線パターンを形成し、この配線パ
ターンにて前記発振回路のコイルを構成する。
いて、部品点数を低減して信頼性および組立作業性の向
上を図るとともに、コンパクト化を図る。 【構成】 回路基板１３に、コイルとコンデンサを用い
た発振回路とこの発振回路の発振状態によりオン・オフ
するスイッチング回路とを設けるとともに、パチンコ玉
が通過する貫通孔５１を設ける。回路基板１３上の貫通
孔５１の周囲には、配線パターンを形成し、この配線パ
ターンにて前記発振回路のコイルを構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、金属製の被検出体また
は金属被膜を有する被検体の近接を、非接触で検出する
検出装置に関する。
は金属被膜を有する被検体の近接を、非接触で検出する
検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の検出装置として、渦電流
の変化を用いて被検体を検出するものが知られている。
図５に示すように、数十ｋＨｚの高周波発振回路中の発
振コイルＬを検出部とし、被検体Ｋがこの発振コイルＬ
からでた磁界を受けると被検体Ｋ内に渦電流が流れる。
この渦電流の発生は、電流損失を生じ、高周波発振回路
の発振エネルギを消費することになるから、通常その発
振は停止し、この発振状況から被検体Ｋの存在を検出す
るのである。
の変化を用いて被検体を検出するものが知られている。
図５に示すように、数十ｋＨｚの高周波発振回路中の発
振コイルＬを検出部とし、被検体Ｋがこの発振コイルＬ
からでた磁界を受けると被検体Ｋ内に渦電流が流れる。
この渦電流の発生は、電流損失を生じ、高周波発振回路
の発振エネルギを消費することになるから、通常その発
振は停止し、この発振状況から被検体Ｋの存在を検出す
るのである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記検
出装置では、被検体Ｋの通路の傍らに比較的寸法の大き
な発振コイルＬを設ける必要があることから、装置全体
をコンパクトに設計することができないといった問題が
あった。また、前記検出装置は、発振コイルＬとその発
振コイルＬに電気的に接続される回路基板とから構成さ
れていることから、部品点数が多く、このために、信頼
性が低い問題があった。発振コイルＬと回路基板との間
の電気的な接続の面からも信頼性が低い。さらに、部品
点数が多いことから、組立作業性が悪いと言った問題が
あった。特に、発振コイルＬの回路基板への組付けは比
較的困難なもので、組立作業性が悪かった。
出装置では、被検体Ｋの通路の傍らに比較的寸法の大き
な発振コイルＬを設ける必要があることから、装置全体
をコンパクトに設計することができないといった問題が
あった。また、前記検出装置は、発振コイルＬとその発
振コイルＬに電気的に接続される回路基板とから構成さ
れていることから、部品点数が多く、このために、信頼
性が低い問題があった。発振コイルＬと回路基板との間
の電気的な接続の面からも信頼性が低い。さらに、部品
点数が多いことから、組立作業性が悪いと言った問題が
あった。特に、発振コイルＬの回路基板への組付けは比
較的困難なもので、組立作業性が悪かった。
【０００４】本発明の検出装置は、こうした問題を解決
し、信頼性および組立作業性の向上を図りつつも、装置
全体のコンパクト化を可能とすることを目的としてなさ
れ、次の構成を採った。
し、信頼性および組立作業性の向上を図りつつも、装置
全体のコンパクト化を可能とすることを目的としてなさ
れ、次の構成を採った。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の検出装置は、検
出部と回路基板とからなり、金属製もしくは金属被膜を
有する被検出体の近接を、非接触で検出する検出装置で
あって、前記回路基板には、被検体が通過する貫通孔を
設けるとともに、該貫通孔の周囲に配線パターンにてコ
イルを形成し、前記コイルを前記検出部とし、前記コイ
ルのインダクタンス成分を用いて発振する発振回路と、
該発振回路の発振状況に応じてオン・オフされるスイッ
チング回路とを、前記回路基板上に設けたこと、をその
要旨とする。
出部と回路基板とからなり、金属製もしくは金属被膜を
有する被検出体の近接を、非接触で検出する検出装置で
あって、前記回路基板には、被検体が通過する貫通孔を
設けるとともに、該貫通孔の周囲に配線パターンにてコ
イルを形成し、前記コイルを前記検出部とし、前記コイ
ルのインダクタンス成分を用いて発振する発振回路と、
該発振回路の発振状況に応じてオン・オフされるスイッ
チング回路とを、前記回路基板上に設けたこと、をその
要旨とする。
【０００６】ここで、コイルを構成する配線パターン
は、回路基板の表裏両面に形成する構成としてもよい。
は、回路基板の表裏両面に形成する構成としてもよい。
【０００７】
【作用】以上のように構成された本発明の検出装置で
は、金属製もしくは金属被膜を有する被検体が回路基板
上の貫通孔に存在しない場合、発振回路は、その貫通孔
の周囲に形成された配線パターンにて構成される検出部
としてのコイルのインダクタンス成分を用いて発振す
る。一方、貫通孔を被検体が通過し、コイルが形成する
磁束が被検体を通り抜ける状態になると、主に渦電流損
失により発振エネルギは失われ、発振回路の発振状態が
変化して通常発振は停止する。スイッチング回路は、こ
の発振回路の発振状況に応じてオン・オフされ、外部に
被検体の有無に応じた信号を出力する。
は、金属製もしくは金属被膜を有する被検体が回路基板
上の貫通孔に存在しない場合、発振回路は、その貫通孔
の周囲に形成された配線パターンにて構成される検出部
としてのコイルのインダクタンス成分を用いて発振す
る。一方、貫通孔を被検体が通過し、コイルが形成する
磁束が被検体を通り抜ける状態になると、主に渦電流損
失により発振エネルギは失われ、発振回路の発振状態が
変化して通常発振は停止する。スイッチング回路は、こ
の発振回路の発振状況に応じてオン・オフされ、外部に
被検体の有無に応じた信号を出力する。
【０００８】ここで、検出部としてのコイルは、回路基
板上の貫通孔の周囲の配線パターンにて形成されている
ことから、検出部は回路基板と一体化したものとなる。
しかも、そのコイルを含めた装置全体の大きさは、回路
基板そのものの大きさに制限されるだけである。
板上の貫通孔の周囲の配線パターンにて形成されている
ことから、検出部は回路基板と一体化したものとなる。
しかも、そのコイルを含めた装置全体の大きさは、回路
基板そのものの大きさに制限されるだけである。
【０００９】
【実施例】以上説明した本発明の構成・作用を一層明ら
かにするために、以下本発明の検出装置の好適な実施例
について説明する。図１は被検体をパチンコ玉とした実
施例としてのパチンコ玉検出装置の分解斜視図、図２は
そのパチンコ玉検出装置の組立状態の斜視図、図３はそ
のパチンコ玉検出装置の回路図、である。
かにするために、以下本発明の検出装置の好適な実施例
について説明する。図１は被検体をパチンコ玉とした実
施例としてのパチンコ玉検出装置の分解斜視図、図２は
そのパチンコ玉検出装置の組立状態の斜視図、図３はそ
のパチンコ玉検出装置の回路図、である。
【００１０】本実施例では、パチンコ玉検出装置１は、
入賞口へ落入したセーフ玉やパチンコ台での払い出し玉
等の検出に用いられ、パチンコ玉検出装置１の出力信号
を利用して各種処理を行なう周知のマイクロプロッセシ
ングユニット（以下、ＭＰＵと呼ぶ）２の入力ポートＰ
Ｂ１に接続されている。
入賞口へ落入したセーフ玉やパチンコ台での払い出し玉
等の検出に用いられ、パチンコ玉検出装置１の出力信号
を利用して各種処理を行なう周知のマイクロプロッセシ
ングユニット（以下、ＭＰＵと呼ぶ）２の入力ポートＰ
Ｂ１に接続されている。
【００１１】図１に示すように、パチンコ玉検出装置１
は、上蓋１１と下箱１２とを備え、両部材を組み合わせ
た内部に回路基板１３を備える。この上蓋１１には、略
Ｌ字形の１対のＬ字片２１，２２と、略Ｔ字形の１対の
Ｔ字片２３（図中、片側だけを示す）とが設けられお
り、下箱１２には、Ｌ字片２１，２２とそれぞれ係合す
る１対の突出片３１、３２と、Ｔ字片２３と係合する１
対の突出片３３、３４（図中、片側だけを示す）とが設
けられている。上蓋１１および下箱１２は、各片が係合
することにより、ワンタッチで組み合わされて、立方体
形状の箱体を形成する。なお、上蓋１１および下箱１２
には、パチンコ玉Ｐが貫通する貫通孔４１，４２がそれ
ぞれ設けられている。
は、上蓋１１と下箱１２とを備え、両部材を組み合わせ
た内部に回路基板１３を備える。この上蓋１１には、略
Ｌ字形の１対のＬ字片２１，２２と、略Ｔ字形の１対の
Ｔ字片２３（図中、片側だけを示す）とが設けられお
り、下箱１２には、Ｌ字片２１，２２とそれぞれ係合す
る１対の突出片３１、３２と、Ｔ字片２３と係合する１
対の突出片３３、３４（図中、片側だけを示す）とが設
けられている。上蓋１１および下箱１２は、各片が係合
することにより、ワンタッチで組み合わされて、立方体
形状の箱体を形成する。なお、上蓋１１および下箱１２
には、パチンコ玉Ｐが貫通する貫通孔４１，４２がそれ
ぞれ設けられている。
【００１２】回路基板１３の一端は、その上蓋１１およ
び下箱１２からなる箱体の外に飛び出しており、外部へ
の接続用の端子Ｔ１，Ｔ２として用いられている。回路
基板１３には、図３に示したコイルＬ１やトランジスタ
Ｔｒ１，Ｔｒ２等の電子部品が組み立てられている。な
お、図１に示すように、回路基板１３には、上蓋１１お
よび下箱１２を組み合わせたときに貫通孔４１，４２と
連通する位置に、パチンコ玉Ｐの貫通孔５１が設けられ
ており、コイルＬ１は、その貫通孔５１の周囲に形成さ
れた表面と裏面それぞれ１ターンの計２ターンの配線パ
ターン５２から構成されている。両面基板の裏面は、フ
ァラディシールドとなっており、ノイズを防いで、回路
基板１３の誤動作を防止している。
び下箱１２からなる箱体の外に飛び出しており、外部へ
の接続用の端子Ｔ１，Ｔ２として用いられている。回路
基板１３には、図３に示したコイルＬ１やトランジスタ
Ｔｒ１，Ｔｒ２等の電子部品が組み立てられている。な
お、図１に示すように、回路基板１３には、上蓋１１お
よび下箱１２を組み合わせたときに貫通孔４１，４２と
連通する位置に、パチンコ玉Ｐの貫通孔５１が設けられ
ており、コイルＬ１は、その貫通孔５１の周囲に形成さ
れた表面と裏面それぞれ１ターンの計２ターンの配線パ
ターン５２から構成されている。両面基板の裏面は、フ
ァラディシールドとなっており、ノイズを防いで、回路
基板１３の誤動作を防止している。
【００１３】回路基板１３には、図３に示すように、１
２ボルトが供給される電源端子Ｔ１と、検出端子Ｔ２と
を有する。この検出端子Ｔ２は、回路のグランドレベル
を兼ねており、ＭＰＵ２側で抵抗器ＲＤを介して接地さ
れている。回路基板１３には、発振回路ＣＯと、発振回
路ＣＯの発振状態に基づいてオン・オフするスイッチン
グ回路ＳＷとが設けられている。
２ボルトが供給される電源端子Ｔ１と、検出端子Ｔ２と
を有する。この検出端子Ｔ２は、回路のグランドレベル
を兼ねており、ＭＰＵ２側で抵抗器ＲＤを介して接地さ
れている。回路基板１３には、発振回路ＣＯと、発振回
路ＣＯの発振状態に基づいてオン・オフするスイッチン
グ回路ＳＷとが設けられている。
【００１４】スイッチング回路ＳＷには、電源端子Ｔ１
から１２ボルトの電圧が加えられているが、検出端子Ｔ
２が抵抗器ＲＤ（本実施例では抵抗値６８０Ω）により
接地されていることから、スイッチング回路ＳＷの電源
電圧は、スイッチング回路ＳＷのトランジスタＴｒ２の
オン・オフ状態により変化する。一方、発振回路ＣＯに
は、電源端子Ｔ１と検出端子Ｔ２との間に介装された抵
抗器Ｒ１（本実施例では抵抗値２７ＫΩ）とツェナーダ
イオードＤ１により安定化されたツェナー電圧Ｖｚ（本
実施例では約５．５ボルト）が供給される。
から１２ボルトの電圧が加えられているが、検出端子Ｔ
２が抵抗器ＲＤ（本実施例では抵抗値６８０Ω）により
接地されていることから、スイッチング回路ＳＷの電源
電圧は、スイッチング回路ＳＷのトランジスタＴｒ２の
オン・オフ状態により変化する。一方、発振回路ＣＯに
は、電源端子Ｔ１と検出端子Ｔ２との間に介装された抵
抗器Ｒ１（本実施例では抵抗値２７ＫΩ）とツェナーダ
イオードＤ１により安定化されたツェナー電圧Ｖｚ（本
実施例では約５．５ボルト）が供給される。
【００１５】発振回路ＣＯは、特性が同一の２つのトラ
ンジスタを同一チップ内に形成した双トランジスタＴｒ
１を備え、この双トランジスタＴｒ１の一方のエミッタ
とグランドラインとの間に介装されたコンデンサＣ１お
よびコイルＬ１と、双トランジスタＴｒ１の他方のエミ
ッタとコイルＬ１の中間タップとの間に介装された抵抗
器Ｒ３およびコンデンサＣ２とにより、コルピッツ型の
高周波発振回路として構成されている。なお、双トラン
ジスタＴｒ１のベースは、抵抗器Ｒ２を介して電源ライ
ンに接続されている。この発振回路ＣＯの発振周波数
は、コイルＬ１のインダクタンスとコンデンサＣ１，Ｃ
２の容量とで決まり、本実施例ではおよそ３００ＫＨｚ
となっている。
ンジスタを同一チップ内に形成した双トランジスタＴｒ
１を備え、この双トランジスタＴｒ１の一方のエミッタ
とグランドラインとの間に介装されたコンデンサＣ１お
よびコイルＬ１と、双トランジスタＴｒ１の他方のエミ
ッタとコイルＬ１の中間タップとの間に介装された抵抗
器Ｒ３およびコンデンサＣ２とにより、コルピッツ型の
高周波発振回路として構成されている。なお、双トラン
ジスタＴｒ１のベースは、抵抗器Ｒ２を介して電源ライ
ンに接続されている。この発振回路ＣＯの発振周波数
は、コイルＬ１のインダクタンスとコンデンサＣ１，Ｃ
２の容量とで決まり、本実施例ではおよそ３００ＫＨｚ
となっている。
【００１６】双トランジスタＴｒ１のコレクタの一方は
使用されていないが、他方はスイッチング回路ＳＷのト
ランジスタＴｒ２のベース端子に接続されている。トラ
ンジスタＴｒ２のベース端子には、グランドラインとの
間にコンデンサＣ３が接続されており、また、電源ライ
ンとの間に抵抗器Ｒ４が接続されている。エミッタ端子
には抵抗器Ｒ５（本実施例では２２０Ω）が接続されて
いる。また、トランジスタＴｒ２のコレクタ端子は、電
源ラインに接続されている。発振回路ＣＯが発振してい
る状態では、双トランジスタＴｒ１は約３００ＫＨｚで
オン・オフを繰り返しており、双トランジスタＴｒ１が
オンのときには、そのコレクタ電流はスイッチング回路
ＳＷのトランジスタＴｒ２のベースから流れ込んでトラ
ンジスタＴｒ２をターンオンする。一方、発振回路ＣＯ
の発振により双トランジスタＴｒ１が僅かの時間オフと
なる間は、トランジスタＴｒ２のベース電流はコンデン
サＣ３の放充電により継続され、トランジスタＴｒ２は
オン状態に保たれる。
使用されていないが、他方はスイッチング回路ＳＷのト
ランジスタＴｒ２のベース端子に接続されている。トラ
ンジスタＴｒ２のベース端子には、グランドラインとの
間にコンデンサＣ３が接続されており、また、電源ライ
ンとの間に抵抗器Ｒ４が接続されている。エミッタ端子
には抵抗器Ｒ５（本実施例では２２０Ω）が接続されて
いる。また、トランジスタＴｒ２のコレクタ端子は、電
源ラインに接続されている。発振回路ＣＯが発振してい
る状態では、双トランジスタＴｒ１は約３００ＫＨｚで
オン・オフを繰り返しており、双トランジスタＴｒ１が
オンのときには、そのコレクタ電流はスイッチング回路
ＳＷのトランジスタＴｒ２のベースから流れ込んでトラ
ンジスタＴｒ２をターンオンする。一方、発振回路ＣＯ
の発振により双トランジスタＴｒ１が僅かの時間オフと
なる間は、トランジスタＴｒ２のベース電流はコンデン
サＣ３の放充電により継続され、トランジスタＴｒ２は
オン状態に保たれる。
【００１７】発振回路ＣＯが発振している状態で、回路
基板１３の貫通孔５１を金属製の被検体であるパチンコ
玉Ｐが通過すると、コイルＬ１の磁束がパチンコ玉Ｐを
通り抜けることになり、パチンコ玉Ｐ内には渦電流が流
れて電流損失を生じる。パチンコ玉Ｐは通常金属製であ
るが、パチンコ玉が金属以外の材料で作られ表面にメッ
キがしてある場合でも、メッキなどの薄膜では断面積が
小さいことからかなり大きな渦電流損失となる。渦電流
の発生は発振回路ＣＯの発振エネルギを消費することに
なるから、その高周波発振は著しく減衰しほぼ停止す
る。
基板１３の貫通孔５１を金属製の被検体であるパチンコ
玉Ｐが通過すると、コイルＬ１の磁束がパチンコ玉Ｐを
通り抜けることになり、パチンコ玉Ｐ内には渦電流が流
れて電流損失を生じる。パチンコ玉Ｐは通常金属製であ
るが、パチンコ玉が金属以外の材料で作られ表面にメッ
キがしてある場合でも、メッキなどの薄膜では断面積が
小さいことからかなり大きな渦電流損失となる。渦電流
の発生は発振回路ＣＯの発振エネルギを消費することに
なるから、その高周波発振は著しく減衰しほぼ停止す
る。
【００１８】パチンコ玉Ｐが貫通孔５１を通過せずコイ
ルＬ１に接近していない状態、即ち、発振回路ＣＯが発
振している状態では、トランジスタＴｒ２はオン状態と
なっており、一方、発振回路ＣＯの発振がほぼ停止状態
となると、スイッチング回路ＳＷのトランジスタＴｒ２
はターンオフする。抵抗器Ｒ５は抵抗器Ｒ１より抵抗値
が小さいから（本実施例では２２０Ω：２７ＫΩ）、ト
ランジスタＴｒ２がオン状態となると、電源端子Ｔ１か
らトランジスタＴｒ２，抵抗器Ｒ５を介してツェナーダ
イオードＤ１に流れる電流は、抵抗器Ｒ１を介して流れ
る電流より増大する（本実施例ではおよそ約１３０倍と
なる）。この電流は最終的には、検出端子Ｔ２に接続さ
れた抵抗器ＲＤを介して接地側に流れ込むから、抵抗器
ＲＤの両端電圧、即ちＭＰＵ２の入力ポートＰＢ１の電
圧は、トランジスタＴｒ２がオフ状態で約０．２ボル
ト、オン状態で約４．９ボルトとなる。従って、ＭＰＵ
２は入力ポートＰＢ１の状態を監視することで、パチン
コ玉検出装置１がパチンコ玉Ｐを検出している状態（ロ
ウレベル）、検出していない状態（ハイレベル）を容易
に知ることができる。
ルＬ１に接近していない状態、即ち、発振回路ＣＯが発
振している状態では、トランジスタＴｒ２はオン状態と
なっており、一方、発振回路ＣＯの発振がほぼ停止状態
となると、スイッチング回路ＳＷのトランジスタＴｒ２
はターンオフする。抵抗器Ｒ５は抵抗器Ｒ１より抵抗値
が小さいから（本実施例では２２０Ω：２７ＫΩ）、ト
ランジスタＴｒ２がオン状態となると、電源端子Ｔ１か
らトランジスタＴｒ２，抵抗器Ｒ５を介してツェナーダ
イオードＤ１に流れる電流は、抵抗器Ｒ１を介して流れ
る電流より増大する（本実施例ではおよそ約１３０倍と
なる）。この電流は最終的には、検出端子Ｔ２に接続さ
れた抵抗器ＲＤを介して接地側に流れ込むから、抵抗器
ＲＤの両端電圧、即ちＭＰＵ２の入力ポートＰＢ１の電
圧は、トランジスタＴｒ２がオフ状態で約０．２ボル
ト、オン状態で約４．９ボルトとなる。従って、ＭＰＵ
２は入力ポートＰＢ１の状態を監視することで、パチン
コ玉検出装置１がパチンコ玉Ｐを検出している状態（ロ
ウレベル）、検出していない状態（ハイレベル）を容易
に知ることができる。
【００１９】以上説明したように、本実施例のパチンコ
玉検出装置１によれば、パチンコ玉Ｐを非接触で確実に
検出することができる。しかも、このパチンコ玉検出装
置１では、検出部としてのコイルＬ１を回路基板１３に
形成された配線パターン５２により構成していることか
ら、検出部は回路基板１３と一体化し、部品点数が低減
される。このため、信頼性の向上を図ることができる。
また、部品点数が低減されることから、組立作業性に優
れ、特に、コイルＬ１の回路基板１３への組付けが不要
となる。しかも、このパチンコ玉検出装置１の大きさ
は、回路基板１３そのものの大きさに制限されるだけで
あり、厚みの薄いコンパクトなものとすることができ
る。なお、本実施例では、上蓋１１と下箱１２とからな
るケースは、他との互換性を考えて比較的厚みのあるも
のであるが、実際はより薄くすることができる。
玉検出装置１によれば、パチンコ玉Ｐを非接触で確実に
検出することができる。しかも、このパチンコ玉検出装
置１では、検出部としてのコイルＬ１を回路基板１３に
形成された配線パターン５２により構成していることか
ら、検出部は回路基板１３と一体化し、部品点数が低減
される。このため、信頼性の向上を図ることができる。
また、部品点数が低減されることから、組立作業性に優
れ、特に、コイルＬ１の回路基板１３への組付けが不要
となる。しかも、このパチンコ玉検出装置１の大きさ
は、回路基板１３そのものの大きさに制限されるだけで
あり、厚みの薄いコンパクトなものとすることができ
る。なお、本実施例では、上蓋１１と下箱１２とからな
るケースは、他との互換性を考えて比較的厚みのあるも
のであるが、実際はより薄くすることができる。
【００２０】なお、本実施例では、回路基板１３の基材
として樹脂製の通常のプリント基板を用いているが、こ
れに替えて、可撓性の高いフィルム状のものを用いる構
成としてもよい。こうした構成により、全体をさらに薄
くすると共に、貫通孔５１の周囲の部分が破損しにくい
回路基板を提供することができる。
として樹脂製の通常のプリント基板を用いているが、こ
れに替えて、可撓性の高いフィルム状のものを用いる構
成としてもよい。こうした構成により、全体をさらに薄
くすると共に、貫通孔５１の周囲の部分が破損しにくい
回路基板を提供することができる。
【００２１】また、本実施例では、コイルＬ１を構成す
る配線パターン５２は、表面と裏面それぞれ１ターンの
計２ターンから構成されているが、これに替えて、図４
に示すように、回路基板６０上のコイルＬ１を構成する
配線パターン６１を表面と裏面それぞれに２ターンずつ
形成して、計４ターンから構成してもよい。また、表面
と裏面それぞれ３ターンずつとしてもよい。
る配線パターン５２は、表面と裏面それぞれ１ターンの
計２ターンから構成されているが、これに替えて、図４
に示すように、回路基板６０上のコイルＬ１を構成する
配線パターン６１を表面と裏面それぞれに２ターンずつ
形成して、計４ターンから構成してもよい。また、表面
と裏面それぞれ３ターンずつとしてもよい。
【００２２】以上本発明の実施例について説明したが、
本発明はこうした実施例に何等限定されるものではな
く、例えば、回路基板１３をケース内に収納せず裸のま
まで使用する構成、貫通孔を１回路基板上に複数設けい
ずれかの貫通孔を被検体が通過した場合にこれを検出す
る構成、回路基板１３を複数枚平行に並べて連続したパ
チンコ玉Ｐを検出する構成等、本発明の要旨を逸脱しな
い範囲において、種々なる態様で実施し得ることは勿論
である。なお、本発明はコイルの形成する磁束が金属物
内で渦電流を生じて発振回路の発振エネルギを消費する
ことに着目してなされたものであり、被検体としての金
属物は、パチンコ玉以外の例えばメタル、硬貨、部品、
物流品等であっても差し支えない。この場合、貫通孔
は、被検体に応じた形状をとる必要がある。
本発明はこうした実施例に何等限定されるものではな
く、例えば、回路基板１３をケース内に収納せず裸のま
まで使用する構成、貫通孔を１回路基板上に複数設けい
ずれかの貫通孔を被検体が通過した場合にこれを検出す
る構成、回路基板１３を複数枚平行に並べて連続したパ
チンコ玉Ｐを検出する構成等、本発明の要旨を逸脱しな
い範囲において、種々なる態様で実施し得ることは勿論
である。なお、本発明はコイルの形成する磁束が金属物
内で渦電流を生じて発振回路の発振エネルギを消費する
ことに着目してなされたものであり、被検体としての金
属物は、パチンコ玉以外の例えばメタル、硬貨、部品、
物流品等であっても差し支えない。この場合、貫通孔
は、被検体に応じた形状をとる必要がある。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように本発明の検出装置で
は、パチンコ玉を非接触で検出することができ、しか
も、装置の部品点数を低減して、信頼性および組立作業
性の向上を図ることができると共に、装置全体をコンパ
クトにおさめることができる。
は、パチンコ玉を非接触で検出することができ、しか
も、装置の部品点数を低減して、信頼性および組立作業
性の向上を図ることができると共に、装置全体をコンパ
クトにおさめることができる。
【図１】本発明の検出装置を採用した一実施例としての
パチンコ玉検出装置の分解斜視図である。
パチンコ玉検出装置の分解斜視図である。
【図２】そのパチンコ玉検出装置の組立状態の斜視図で
ある。
ある。
【図３】そのパチンコ玉検出装置の回路図である。
【図４】コイルを構成する配線パターンの別態様を示す
平面図である。
平面図である。
【図５】渦電流を用いた従来の被検体検出の様子を示す
説明図である。
説明図である。
１ パチンコ玉検出装置 ２ ＭＰＵ １１ 上蓋 １２ 下箱 １３ 回路基板 ５１ 貫通孔 ５２ 配線パターン ＣＯ 発振回路 Ｌ１ コイル ＳＷ スイッチング回路 Ｔｒ１ 双トランジスタ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 検出部と回路基板とからなり、金属製も
しくは金属被膜を有する被検出体の近接を、非接触で検
出する検出装置であって、 前記回路基板には、被検体が通過する貫通孔を設けると
ともに、該貫通孔の周囲に配線パターンにてコイルを形
成し、 前記コイルを前記検出部とし、 前記コイルのインダクタンス成分を用いて発振する発振
回路と、該発振回路の発振状況に応じてオン・オフされ
るスイッチング回路とを、前記回路基板上に設けた検出
装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20253391A JP3134375B2 (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | 検出装置 |
| KR1019920010525A KR100254165B1 (ko) | 1991-07-16 | 1992-06-17 | 금속구체의검출계수장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20253391A JP3134375B2 (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | 検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0527045A true JPH0527045A (ja) | 1993-02-05 |
| JP3134375B2 JP3134375B2 (ja) | 2001-02-13 |
Family
ID=16459077
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20253391A Expired - Fee Related JP3134375B2 (ja) | 1991-07-16 | 1991-07-16 | 検出装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3134375B2 (ja) |
| KR (1) | KR100254165B1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001036904A1 (fr) * | 1999-11-18 | 2001-05-25 | Fujitsu Limited | Pachymetre |
| JP2009273957A (ja) * | 2009-08-28 | 2009-11-26 | Toyomaru Industry Co Ltd | 遊技機用検出スイッチ |
| JP2021076527A (ja) * | 2019-11-12 | 2021-05-20 | 日本システム開発株式会社 | 変位センサ及び変位センサシステム |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992004954A1 (fr) * | 1990-09-14 | 1992-04-02 | Kabushiki Kaisha Ace Denken | Dispositif servant a detecter la position d'un element metallique passant |
-
1991
- 1991-07-16 JP JP20253391A patent/JP3134375B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-06-17 KR KR1019920010525A patent/KR100254165B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2001036904A1 (fr) * | 1999-11-18 | 2001-05-25 | Fujitsu Limited | Pachymetre |
| US7323867B2 (en) | 1999-11-18 | 2008-01-29 | Fujitsu Limited | Apparatus which detects the thickness of a sheet of paper such as a bank note |
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| JP4631065B2 (ja) * | 2009-08-28 | 2011-02-16 | 豊丸産業株式会社 | 遊技機用検出スイッチ |
| JP2021076527A (ja) * | 2019-11-12 | 2021-05-20 | 日本システム開発株式会社 | 変位センサ及び変位センサシステム |
| WO2021095557A1 (ja) * | 2019-11-12 | 2021-05-20 | 日本システム開発株式会社 | 変位センサ及び変位センサシステム |
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|---|---|
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| KR100254165B1 (ko) | 2000-05-01 |
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