JPH05267748A - 磁気センサ - Google Patents
磁気センサInfo
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- JPH05267748A JPH05267748A JP4092408A JP9240892A JPH05267748A JP H05267748 A JPH05267748 A JP H05267748A JP 4092408 A JP4092408 A JP 4092408A JP 9240892 A JP9240892 A JP 9240892A JP H05267748 A JPH05267748 A JP H05267748A
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Landscapes
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 感磁膜などの断線の虞がなく中点ばらつきも
抑えられ、小型化を可能としかつ量産性を高める。 【構成】 絶縁基板1に結晶化ガラスを使用している。
結晶化ガラスは感光した部分が加熱現象処理により酸に
溶け易くなるので、結晶化ガラスのウェハーにスルーホ
ールパターンを露光した後、加熱現象処理とエッチング
処理を施すことによって、多量のスルーホール2を同時
に形成する。その後、基板1全体を結晶化することによ
って、スルーホール2を有するガラス並みの粗度、平坦
性の絶縁基板1を得る。
抑えられ、小型化を可能としかつ量産性を高める。 【構成】 絶縁基板1に結晶化ガラスを使用している。
結晶化ガラスは感光した部分が加熱現象処理により酸に
溶け易くなるので、結晶化ガラスのウェハーにスルーホ
ールパターンを露光した後、加熱現象処理とエッチング
処理を施すことによって、多量のスルーホール2を同時
に形成する。その後、基板1全体を結晶化することによ
って、スルーホール2を有するガラス並みの粗度、平坦
性の絶縁基板1を得る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は磁気センサに関する。更
に詳述すると、本発明は、主にモータの回転速度や回転
角の検出等に利用される磁気抵抗素子、MR素子、ホー
ル素子等の磁気センサに関する。
に詳述すると、本発明は、主にモータの回転速度や回転
角の検出等に利用される磁気抵抗素子、MR素子、ホー
ル素子等の磁気センサに関する。
【0002】
【従来の技術】この種の従来の磁気センサは、ガラスか
ら成る絶縁基板を採用し、その一面にNi−Co薄膜等
で感磁部を形成すると共に同じ面に形成された電極取出
し部にリードフレームをはんだ付けし、熱硬化性樹脂で
固めるようにしている。また、絶縁基板としてセラミッ
クを用い、その上にグレーズドガラスをひいて感磁部を
形成すると共に同じ面にリードフレームを固着した磁気
センサも提案されている(特開昭63-34987号)。このよ
うな構造の磁気センサの場合、ホルダに実装したときに
感磁部を形成したセンサ面にリードフレームやそれらを
固定する樹脂等が突出するため被検出物との間の隙間を
大きくせざるを得ず感度が低下する問題がある。
ら成る絶縁基板を採用し、その一面にNi−Co薄膜等
で感磁部を形成すると共に同じ面に形成された電極取出
し部にリードフレームをはんだ付けし、熱硬化性樹脂で
固めるようにしている。また、絶縁基板としてセラミッ
クを用い、その上にグレーズドガラスをひいて感磁部を
形成すると共に同じ面にリードフレームを固着した磁気
センサも提案されている(特開昭63-34987号)。このよ
うな構造の磁気センサの場合、ホルダに実装したときに
感磁部を形成したセンサ面にリードフレームやそれらを
固定する樹脂等が突出するため被検出物との間の隙間を
大きくせざるを得ず感度が低下する問題がある。
【0003】そこで、これらリードフレーム等の凸起を
取除いてセンサ面を平坦化する磁気センサが従来考えら
れている(特開昭63-215086 号)。この平坦化MRセン
サは、図5に示すように、感磁部102に接続される電
極をセンサ面Aの反対側の面Bに取り出し、そこでリー
ドフレーム104と接続するという方法を取っている。
そのために電極103を形成する微細なスルーホール1
07を絶縁基板101に設けなければならない。しか
し、従来から絶縁基板101として使用されているガラ
スにスルーホール107をあけることは困難である。ガ
ラス基板の場合、ウェハーからチップを切り出した後に
個々のチップの側面に電極を形成しなければならず、歩
留りが悪くなる上に加工が煩しく手間がかかる。そこ
で、ガラスの絶縁基板に代えてスルーホールが形成し易
いアルミナ等のセラミック基板を採用するようにしてい
る。そして、このセラミック基板101にスルーホール
107を開口し、電極となる銀を充填してスルーホール
電極103を形成する一方、セラミック基板101の一
面にNi−Co等のニッケル合金磁性薄膜102から成
る感磁部(磁性膜パターン)を形成するようにしてい
る。しかし、このセラミック基板101は多孔質であり
面粗度が悪いことから、通常300オングストローム〜
2000オングストロームの磁性膜パターン102の断
線を招いたり、フォトリソグラフィ技術により磁性膜パ
ターン102を形成する際にブリッジ回路から成る磁性
膜パターン102のインピーダンスのばらつきを起こす
といった不具合を生じる。そこで、特開昭63-34987号に
示すように、セラミック基板の表面粗度をグレーズドガ
ラスを引くことによって改質し、従来のガラス基板並に
改善することが考えられる。
取除いてセンサ面を平坦化する磁気センサが従来考えら
れている(特開昭63-215086 号)。この平坦化MRセン
サは、図5に示すように、感磁部102に接続される電
極をセンサ面Aの反対側の面Bに取り出し、そこでリー
ドフレーム104と接続するという方法を取っている。
そのために電極103を形成する微細なスルーホール1
07を絶縁基板101に設けなければならない。しか
し、従来から絶縁基板101として使用されているガラ
スにスルーホール107をあけることは困難である。ガ
ラス基板の場合、ウェハーからチップを切り出した後に
個々のチップの側面に電極を形成しなければならず、歩
留りが悪くなる上に加工が煩しく手間がかかる。そこ
で、ガラスの絶縁基板に代えてスルーホールが形成し易
いアルミナ等のセラミック基板を採用するようにしてい
る。そして、このセラミック基板101にスルーホール
107を開口し、電極となる銀を充填してスルーホール
電極103を形成する一方、セラミック基板101の一
面にNi−Co等のニッケル合金磁性薄膜102から成
る感磁部(磁性膜パターン)を形成するようにしてい
る。しかし、このセラミック基板101は多孔質であり
面粗度が悪いことから、通常300オングストローム〜
2000オングストロームの磁性膜パターン102の断
線を招いたり、フォトリソグラフィ技術により磁性膜パ
ターン102を形成する際にブリッジ回路から成る磁性
膜パターン102のインピーダンスのばらつきを起こす
といった不具合を生じる。そこで、特開昭63-34987号に
示すように、セラミック基板の表面粗度をグレーズドガ
ラスを引くことによって改質し、従来のガラス基板並に
改善することが考えられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図6に
示すように、セラミック基板101上に形成されるグレ
ーズドガラス膜108は、表面張力等の関係で従来のガ
ラス基板のような均一な平面に形成されないため、磁性
膜パターン102が正確に形成できずにMRセンサ等に
おいては中点電位のばらつきを招く虞がある。しかも、
グレーズドガラス108を印刷でセラミック基板101
の上に引く場合、表面張力によって全体が丸まってしま
うため小さなチップ上では平坦面が比較的大きく取れな
い問題がある。加えて、グレーズドガラスの厚みは20
μm以下にできない制約があるため同じ大きさのセンサ
パターンを形成するにはより大きな基板を必要とし小型
化が難しい問題がある。
示すように、セラミック基板101上に形成されるグレ
ーズドガラス膜108は、表面張力等の関係で従来のガ
ラス基板のような均一な平面に形成されないため、磁性
膜パターン102が正確に形成できずにMRセンサ等に
おいては中点電位のばらつきを招く虞がある。しかも、
グレーズドガラス108を印刷でセラミック基板101
の上に引く場合、表面張力によって全体が丸まってしま
うため小さなチップ上では平坦面が比較的大きく取れな
い問題がある。加えて、グレーズドガラスの厚みは20
μm以下にできない制約があるため同じ大きさのセンサ
パターンを形成するにはより大きな基板を必要とし小型
化が難しい問題がある。
【0005】更に、グレーズドガラス108は周辺のセ
ラミック基板101の電極が形成される部分109でガ
ラス膜108が切れているため、ガラス膜108とセラ
ミック基板101との間で段差ができてその上に作られ
るパターン(例えばMRセンサでは電極)に悪影響をも
たらす。即ち、セラミック基板101の電極が形成され
る部分109では表面張力によってグレーズドカラス1
08の表面がセラミック基板101から急激に立上って
いるため、それらの境界部分110でガラス108上に
形成される磁性膜パターン102の引出し電極(図示省
略)とセラミック基板101の上に形成される引出し電
極部分との間で亀裂や断続を起こし断線の虞がある。
ラミック基板101の電極が形成される部分109でガ
ラス膜108が切れているため、ガラス膜108とセラ
ミック基板101との間で段差ができてその上に作られ
るパターン(例えばMRセンサでは電極)に悪影響をも
たらす。即ち、セラミック基板101の電極が形成され
る部分109では表面張力によってグレーズドカラス1
08の表面がセラミック基板101から急激に立上って
いるため、それらの境界部分110でガラス108上に
形成される磁性膜パターン102の引出し電極(図示省
略)とセラミック基板101の上に形成される引出し電
極部分との間で亀裂や断続を起こし断線の虞がある。
【0006】また、セラミック基板101にスルーホー
ル電極を設けても(図示省略)、このスルーホール電極
とパターン電極との接続も困難である。更には、セラミ
ック基板101とグレーズドガラス108との境界部分
110で水の浸入等を許容しエレクトロケミカルマクグ
レーションによる電気的接続不良を起こす虞もある。
ル電極を設けても(図示省略)、このスルーホール電極
とパターン電極との接続も困難である。更には、セラミ
ック基板101とグレーズドガラス108との境界部分
110で水の浸入等を許容しエレクトロケミカルマクグ
レーションによる電気的接続不良を起こす虞もある。
【0007】一方、モータ等の制御用センサとして多用
されている磁気センサにとって、昨今のVTR装置等の
小型化、薄型化に対応するには、センサ面の平坦化及び
小型化は重要な技術課題となっている。
されている磁気センサにとって、昨今のVTR装置等の
小型化、薄型化に対応するには、センサ面の平坦化及び
小型化は重要な技術課題となっている。
【0008】そこで、本発明は、感磁膜などの断線の虞
がなく中点ばらつきも抑えられ、かつ小型化できる量産
向きの磁気センサの構造を提供することを目的とする。
がなく中点ばらつきも抑えられ、かつ小型化できる量産
向きの磁気センサの構造を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、本発明の磁気センサは、結晶化ガラスから成る絶縁
基板上に感磁膜を形成するようにしている。
め、本発明の磁気センサは、結晶化ガラスから成る絶縁
基板上に感磁膜を形成するようにしている。
【0010】
【作用】結晶化ガラスは感光した部分が加熱現象処理に
より酸に溶け易くなる。そこで、結晶化ガラスのウェハ
ーにスルーホールパターンを露光した後、加熱現象処理
とエッチング処理を施すことによって、多量のスルーホ
ールを同時に形成する。その後、基板全体を結晶化する
ことによって、スルーホールを有するガラス並みの粗
度、平坦性の絶縁基板を得る。
より酸に溶け易くなる。そこで、結晶化ガラスのウェハ
ーにスルーホールパターンを露光した後、加熱現象処理
とエッチング処理を施すことによって、多量のスルーホ
ールを同時に形成する。その後、基板全体を結晶化する
ことによって、スルーホールを有するガラス並みの粗
度、平坦性の絶縁基板を得る。
【0011】
【実施例】以下、本発明の構成を図面に示す実施例に基
づいて詳細に説明する。
づいて詳細に説明する。
【0012】図1に本発明の一実施例を示す。該図にお
いて、1は絶縁性材料から成る基板、2はスルーホー
ル、3は充填電極、4は感磁膜(磁性膜パターン)、5
は感磁膜4と充填電極2とを電気的に接続するための電
極配線回路、6は充填電極2と電極配線回路5との電気
的接続をより確実にするための補強電極、7は保護膜、
8は外部リード電極である。
いて、1は絶縁性材料から成る基板、2はスルーホー
ル、3は充填電極、4は感磁膜(磁性膜パターン)、5
は感磁膜4と充填電極2とを電気的に接続するための電
極配線回路、6は充填電極2と電極配線回路5との電気
的接続をより確実にするための補強電極、7は保護膜、
8は外部リード電極である。
【0013】絶縁基板1の感磁膜4などを形成した面及
びその反対側の面には、センサの作動の信頼性を高める
ため、物理的・化学的なダメージ、湿気、水、アルカリ
イオン等の侵入から保護するための保護膜7が必要に応
じて形成されている。保護膜7の材料としては、SiO
x、SiNx、AlOx、SiCx等の無機質材料ある
いはエポキシフェノール、ポリイミド等の有機質材料が
使用される。
びその反対側の面には、センサの作動の信頼性を高める
ため、物理的・化学的なダメージ、湿気、水、アルカリ
イオン等の侵入から保護するための保護膜7が必要に応
じて形成されている。保護膜7の材料としては、SiO
x、SiNx、AlOx、SiCx等の無機質材料ある
いはエポキシフェノール、ポリイミド等の有機質材料が
使用される。
【0014】絶縁基板1としては、結晶化ガラスが使用
されている。この結晶化ガラスは、例えば金属イオンを
増感剤と共に加え溶解したケイ酸塩ガラスを熱処理する
ことによりガラスセラミック化したもので、通常のガラ
スが非晶質であるのに対し非晶質の間に結晶質が入って
いる構造を有する。本実施例では感光性の結晶化ガラス
が使用されており、紫外線照射、熱処理、エッチングに
より微細な穴をフォトリソグラフィの精度で形成するこ
とができる。この結晶化ガラスの場合ち密質でありガラ
ス並の表面粗度、平坦性を有する。
されている。この結晶化ガラスは、例えば金属イオンを
増感剤と共に加え溶解したケイ酸塩ガラスを熱処理する
ことによりガラスセラミック化したもので、通常のガラ
スが非晶質であるのに対し非晶質の間に結晶質が入って
いる構造を有する。本実施例では感光性の結晶化ガラス
が使用されており、紫外線照射、熱処理、エッチングに
より微細な穴をフォトリソグラフィの精度で形成するこ
とができる。この結晶化ガラスの場合ち密質でありガラ
ス並の表面粗度、平坦性を有する。
【0015】また、絶縁基板1にはスルーホール2が形
成されると共にこのスルーホール2にAg、Au、P
t、Cu、Mo、W若しくはそれらの合金などの電極材
料が充填されて充填電極3が形成されている。充填電極
3は、絶縁基板1の両面の配線即ち電極配線回路5と外
部リード電極8とを電気的に導通するもので、感磁膜4
が形成されている面(以下感磁面という)とは反対の面
に外部リード電極8を接合可能とし、感磁面が平坦な磁
気センサを構成可能とする。更に加えて、外部リード電
極8を感磁面とそれの反対側の面に形成することによ
り、外部リード電極8を接続する部分の面積分だけ絶縁
基板1を小型化可能とする。尚、絶縁基板1の裏面側に
おける外部リード電極8のはんだ接合部分は、感磁面側
と同様に熱硬化性樹脂などの保護膜で被覆することが好
ましい。
成されると共にこのスルーホール2にAg、Au、P
t、Cu、Mo、W若しくはそれらの合金などの電極材
料が充填されて充填電極3が形成されている。充填電極
3は、絶縁基板1の両面の配線即ち電極配線回路5と外
部リード電極8とを電気的に導通するもので、感磁膜4
が形成されている面(以下感磁面という)とは反対の面
に外部リード電極8を接合可能とし、感磁面が平坦な磁
気センサを構成可能とする。更に加えて、外部リード電
極8を感磁面とそれの反対側の面に形成することによ
り、外部リード電極8を接続する部分の面積分だけ絶縁
基板1を小型化可能とする。尚、絶縁基板1の裏面側に
おける外部リード電極8のはんだ接合部分は、感磁面側
と同様に熱硬化性樹脂などの保護膜で被覆することが好
ましい。
【0016】充填電極3は、スルーホール2に充填され
ているため、絶縁基板1に露出する表面だけに保護膜7
を形成するだけで十分な信頼性を確保できる。即ち、充
填電極3は他の電極5,8と接触する部位を除いて絶縁
基板1によって包囲されているので、耐湿、アルカリイ
オン等の物質の侵入を防止する保護膜形成が確実・容易
に行うことができ、信頼性の高いセンサを構成できる。
尚、充填電極(側面及び貫通電極を含む)とする場合、
結晶化ガラスを加工する際に均一なレジスト形成が可能
となりかつパターン転写が容易であると共にスルーホー
ル内のレジスト残りも発生しない。このため、センサパ
ターンの抵抗ばらつきが少ない均一なセンサを構成でき
る。また、不要なレジストが残らないため、品質が安定
し信頼性が向上する。更に、スルーホール電極のように
中空でないため、封止が従来同様平面であり、信頼性が
スルーホールの立体封止に比べて高いという利点を有す
る。
ているため、絶縁基板1に露出する表面だけに保護膜7
を形成するだけで十分な信頼性を確保できる。即ち、充
填電極3は他の電極5,8と接触する部位を除いて絶縁
基板1によって包囲されているので、耐湿、アルカリイ
オン等の物質の侵入を防止する保護膜形成が確実・容易
に行うことができ、信頼性の高いセンサを構成できる。
尚、充填電極(側面及び貫通電極を含む)とする場合、
結晶化ガラスを加工する際に均一なレジスト形成が可能
となりかつパターン転写が容易であると共にスルーホー
ル内のレジスト残りも発生しない。このため、センサパ
ターンの抵抗ばらつきが少ない均一なセンサを構成でき
る。また、不要なレジストが残らないため、品質が安定
し信頼性が向上する。更に、スルーホール電極のように
中空でないため、封止が従来同様平面であり、信頼性が
スルーホールの立体封止に比べて高いという利点を有す
る。
【0017】電極配線回路5は、例えば感磁膜4と同様
の材料あるいはNi、Cr、Mo、Fe、Co、Al、
Cu、Au、Pt、Ag若しくはそれらの合金の単層あ
るいは積層によって形成される。
の材料あるいはNi、Cr、Mo、Fe、Co、Al、
Cu、Au、Pt、Ag若しくはそれらの合金の単層あ
るいは積層によって形成される。
【0018】補強電極6は厚膜ペースト若しくは電極配
線回路5と同様の電極材料を用いた蒸着等により形成さ
れている。この補強電極6は場合によっては必要とされ
ない。
線回路5と同様の電極材料を用いた蒸着等により形成さ
れている。この補強電極6は場合によっては必要とされ
ない。
【0019】感磁膜4は、NiFe、NiCoに代表さ
れる強磁性金属膜あるいはInSb、GaAsに代表さ
れるホール係数の大きな半導体膜などから構成されてい
る。強磁性金属膜から成る感磁膜4の場合、結晶化ガラ
スの基板1の上にNiFeやNiCoなどの合金磁性薄
膜を真空蒸着あるいはスパッタリングによって形成した
後、フォトエッチング等によって所望のパターン形状に
形成される。
れる強磁性金属膜あるいはInSb、GaAsに代表さ
れるホール係数の大きな半導体膜などから構成されてい
る。強磁性金属膜から成る感磁膜4の場合、結晶化ガラ
スの基板1の上にNiFeやNiCoなどの合金磁性薄
膜を真空蒸着あるいはスパッタリングによって形成した
後、フォトエッチング等によって所望のパターン形状に
形成される。
【0020】尚、上述の実施例は本考案の好適な実施の
一例ではあるがこれに限定されるものではなく本考案の
要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能であ
る。例えば、本実施例では主に貫通電極から成る充電電
極3の磁気センサについて説明したが、図2に示すよう
に絶縁基板1の側面に溝を設けて電極材料を充填した側
面電極の充填電極3としても良い。この場合、側面電極
3を被うように保護膜7が形成されている。
一例ではあるがこれに限定されるものではなく本考案の
要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能であ
る。例えば、本実施例では主に貫通電極から成る充電電
極3の磁気センサについて説明したが、図2に示すよう
に絶縁基板1の側面に溝を設けて電極材料を充填した側
面電極の充填電極3としても良い。この場合、側面電極
3を被うように保護膜7が形成されている。
【0021】以上のように構成される磁気センサは次の
ようにして製作される。
ようにして製作される。
【0022】まず、感光性結晶化ガラスの基板1に対し
スルーホール2を形成する。結晶化ガラスは、感光と加
熱によって、例えば紫外線照射と加熱現像処理によっ
て、感光した部分が結晶化して酸に溶け易くなる特性を
有する。そこで、両面を研磨した感光性結晶化ガラスの
基板1にスルーホール2のパターンを描いたマスクを載
せ、紫外線を照射することにより結晶化ガラスの基板1
内にスルーホール2の潜像を作る。そして、加熱現像処
理により感光した部分(潜像)を結晶化させ酸に溶け易
くする。更に、結晶化するときの前工程として未露光部
分にも紫外線を照射する。その後、エッチング処理によ
り結晶化した部分を酸で溶解除去し、スルーホール2を
あける(図3の(A)参照)。その後、熱処理により基
板1の全体を結晶化すると、もはや感光しない物理的、
化学的、耐久性の優れたガラスとなる。そこで、スルー
ホール2にAg、Pd、Au、Pt、Cu、Mo、W若
しくはそれらの合金よりなる導体を充填し充填電極3を
形成する(図3の(B)参照)。電極材としては例えば
ペースト状のものを使用しても良く、スクリーン印刷な
どによってスルーホール2に充填し、焼成によって固化
する。また、必要があれば、基板1の表面を研磨し、充
填電極の表面と基板1の表面とを同一平面上に形成す
る。
スルーホール2を形成する。結晶化ガラスは、感光と加
熱によって、例えば紫外線照射と加熱現像処理によっ
て、感光した部分が結晶化して酸に溶け易くなる特性を
有する。そこで、両面を研磨した感光性結晶化ガラスの
基板1にスルーホール2のパターンを描いたマスクを載
せ、紫外線を照射することにより結晶化ガラスの基板1
内にスルーホール2の潜像を作る。そして、加熱現像処
理により感光した部分(潜像)を結晶化させ酸に溶け易
くする。更に、結晶化するときの前工程として未露光部
分にも紫外線を照射する。その後、エッチング処理によ
り結晶化した部分を酸で溶解除去し、スルーホール2を
あける(図3の(A)参照)。その後、熱処理により基
板1の全体を結晶化すると、もはや感光しない物理的、
化学的、耐久性の優れたガラスとなる。そこで、スルー
ホール2にAg、Pd、Au、Pt、Cu、Mo、W若
しくはそれらの合金よりなる導体を充填し充填電極3を
形成する(図3の(B)参照)。電極材としては例えば
ペースト状のものを使用しても良く、スクリーン印刷な
どによってスルーホール2に充填し、焼成によって固化
する。また、必要があれば、基板1の表面を研磨し、充
填電極の表面と基板1の表面とを同一平面上に形成す
る。
【0023】次いで、結晶化ガラスの基板1の表面に感
磁膜4を形成する。まず、均一な膜厚の磁性膜10を蒸
着やスパッタリング等によって結晶化ガラスの基板1の
表面に形成する(図3の(C)参照)。次いで、磁性膜
10の上にフォトレジスト材11を塗布した後、感磁膜
のパターンを転写(焼付け)する。そして、現像液でフ
ォトレジストを洗い流しエッチング処理によって所望パ
ターン形状の感磁膜4を形成する(図3の(D)参
照)。次いで、フォトレジスト材11を除去し必要な配
線電極を形成する(図3の(E)参照)。このとき、配
線電極材として感磁膜4と同様の材料を使う場合には、
フォトリソグラフィで感磁膜4を形成する際に同時に形
成することもできる。また補強電極6の目的は充填電極
3と導体配線電極5との電気接続を確実にすること、配
線引き回しによる寄生抵抗の減少であり場合によっては
存在しなくとも本発明において何ら問題はない。
磁膜4を形成する。まず、均一な膜厚の磁性膜10を蒸
着やスパッタリング等によって結晶化ガラスの基板1の
表面に形成する(図3の(C)参照)。次いで、磁性膜
10の上にフォトレジスト材11を塗布した後、感磁膜
のパターンを転写(焼付け)する。そして、現像液でフ
ォトレジストを洗い流しエッチング処理によって所望パ
ターン形状の感磁膜4を形成する(図3の(D)参
照)。次いで、フォトレジスト材11を除去し必要な配
線電極を形成する(図3の(E)参照)。このとき、配
線電極材として感磁膜4と同様の材料を使う場合には、
フォトリソグラフィで感磁膜4を形成する際に同時に形
成することもできる。また補強電極6の目的は充填電極
3と導体配線電極5との電気接続を確実にすること、配
線引き回しによる寄生抵抗の減少であり場合によっては
存在しなくとも本発明において何ら問題はない。
【0024】次いで、これらの上に必要に応じて無機質
のあるいは有機質の保護膜7を形成する(図3の(F)
参照)。この保護膜7は単層若しくは積層からなる。
のあるいは有機質の保護膜7を形成する(図3の(F)
参照)。この保護膜7は単層若しくは積層からなる。
【0025】そして、図示していないが、得られたウェ
ハーから磁気センサのチップを切り出す。
ハーから磁気センサのチップを切り出す。
【0026】
【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
の磁気センサは、絶縁基板に結晶化ガラスを使用してい
るので、表面粗度がガラス基板並に良好である。このた
め、アルミナセラミック基板のようにグレーズドガラス
処理を施さずとも断線などの虞がないし、センサの磁気
特性や感磁膜、配線の導電率が表面粗度の影響を受け難
く、高品質で均一かつ再現性良磁気センサを構成でき
る。
の磁気センサは、絶縁基板に結晶化ガラスを使用してい
るので、表面粗度がガラス基板並に良好である。このた
め、アルミナセラミック基板のようにグレーズドガラス
処理を施さずとも断線などの虞がないし、センサの磁気
特性や感磁膜、配線の導電率が表面粗度の影響を受け難
く、高品質で均一かつ再現性良磁気センサを構成でき
る。
【0027】また、本発明の磁気センサは基板の平坦性
もガラス基板並であり、かつフォトリソグラフィによる
微細パターン形成が可能であることから、ウェハー状態
において一度に充填電極などを形成してからチップ化で
きるので、量産可能であると共にセンサの小型化、高精
度化、歩留まりの向上を可能とする。即ち、グレーズド
ガラス処理したセラミック基板の平坦性の劣化に伴うブ
リッジ回路の中点ばらつきやセラミック部分に形成され
たパターンのエッチング残りによる電極間の短絡が発生
しないし、またグレーズド処理を必要としないためにチ
ップ面積が小さくできセンサの小型化が達成できる。
もガラス基板並であり、かつフォトリソグラフィによる
微細パターン形成が可能であることから、ウェハー状態
において一度に充填電極などを形成してからチップ化で
きるので、量産可能であると共にセンサの小型化、高精
度化、歩留まりの向上を可能とする。即ち、グレーズド
ガラス処理したセラミック基板の平坦性の劣化に伴うブ
リッジ回路の中点ばらつきやセラミック部分に形成され
たパターンのエッチング残りによる電極間の短絡が発生
しないし、またグレーズド処理を必要としないためにチ
ップ面積が小さくできセンサの小型化が達成できる。
【図1】本発明の磁気センサの一実施例を示す縦断面図
である。
である。
【図2】本発明の磁気センサの他の実施例を示す縦断面
図である。
図である。
【図3】本発明の磁気センサの製造方法を(A)〜
(F)の工程に分けて示す図である。
(F)の工程に分けて示す図である。
【図4】(A)〜(E)は充填電極の配置例及び形状例
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図5】従来の磁気センサの一例を示す縦断面図であ
る。
る。
【図6】従来のセラミック基板を示す斜視図である。
1 結晶化ガラスで構成された絶縁基板 4 感磁膜
Claims (1)
- 【請求項1】 結晶化ガラスから成る絶縁基板上に感磁
膜を形成してなる磁気センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4092408A JPH05267748A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 磁気センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4092408A JPH05267748A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 磁気センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05267748A true JPH05267748A (ja) | 1993-10-15 |
Family
ID=14053594
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4092408A Pending JPH05267748A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 磁気センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05267748A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004087850A (ja) * | 2002-08-27 | 2004-03-18 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 半導体デバイス |
JP2011022035A (ja) * | 2009-07-16 | 2011-02-03 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 磁気センサ |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02176483A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-09 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 磁気抵抗素子 |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP4092408A patent/JPH05267748A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02176483A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-09 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 磁気抵抗素子 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004087850A (ja) * | 2002-08-27 | 2004-03-18 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 半導体デバイス |
JP2011022035A (ja) * | 2009-07-16 | 2011-02-03 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 磁気センサ |
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