JPH05264471A - 水中欠陥検出装置 - Google Patents
水中欠陥検出装置Info
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- JPH05264471A JPH05264471A JP6325092A JP6325092A JPH05264471A JP H05264471 A JPH05264471 A JP H05264471A JP 6325092 A JP6325092 A JP 6325092A JP 6325092 A JP6325092 A JP 6325092A JP H05264471 A JPH05264471 A JP H05264471A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】被試験面に密着させるシールの内面に堰と穴を
形成して試験室内の排気、および被試験面の水滴除去を
良好にして浸透探傷の検出精度が高い水中欠陥検出装置
を提供する。 【構成】水中にある構造物表面の被試験面2に当接し試
験室7内を排水して浸透探傷試験を行う水中欠陥検出装
置20において、前記試験室7を構成するカバー3の開口
端4に設けた被試験面2に密着させるシール21,33,3
7,40,41の内面に、水滴8の逆流を防止する堰29,36
と、排水・排気の引き口6に連通した穴30を形成したこ
とを特徴とする。
形成して試験室内の排気、および被試験面の水滴除去を
良好にして浸透探傷の検出精度が高い水中欠陥検出装置
を提供する。 【構成】水中にある構造物表面の被試験面2に当接し試
験室7内を排水して浸透探傷試験を行う水中欠陥検出装
置20において、前記試験室7を構成するカバー3の開口
端4に設けた被試験面2に密着させるシール21,33,3
7,40,41の内面に、水滴8の逆流を防止する堰29,36
と、排水・排気の引き口6に連通した穴30を形成したこ
とを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は浸透探傷試験方法を利用
した水中欠陥装置に係り、特に被試験部における排水
と、洗浄または余剰浸透液を除去した後の残余水滴が排
除できる水中欠陥検出装置に関する。
した水中欠陥装置に係り、特に被試験部における排水
と、洗浄または余剰浸透液を除去した後の残余水滴が排
除できる水中欠陥検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】水中における構造物表面の非破壊試験と
しては、被試験面の欠陥を検出し、その状態を目視でき
る簡易な方法として浸透探傷試験がある。この浸透探傷
試験を実施する場合には水中に検出装置を沈めて、この
内部に大気(真空または加圧でも可能)状態を作り、こ
の中において浸透探傷試験を実施する。しかしながら、
この際に被試験面の水滴を完全に除去しないと、被試験
面の欠陥内に水滴が残こっていて浸透液が入り難く、ま
た現像および観察時にも観察がし難くて、浸透試験の感
度が低下し、検査ミスの一要因となっていた。
しては、被試験面の欠陥を検出し、その状態を目視でき
る簡易な方法として浸透探傷試験がある。この浸透探傷
試験を実施する場合には水中に検出装置を沈めて、この
内部に大気(真空または加圧でも可能)状態を作り、こ
の中において浸透探傷試験を実施する。しかしながら、
この際に被試験面の水滴を完全に除去しないと、被試験
面の欠陥内に水滴が残こっていて浸透液が入り難く、ま
た現像および観察時にも観察がし難くて、浸透試験の感
度が低下し、検査ミスの一要因となっていた。
【0003】従来は図9の縦断面図に示す水中欠陥検出
装置1を水中に沈下させ、被試験面2にカバー3の開口
端4に設けたシール5を当接し、引き口6から排水と排
気をしてシール5内の圧力を低下させ、シール5を被試
験面2に密着させていたが、一旦シール5が密着してし
まうと、カバー3内に形成される試験室7内の水滴8の
逃げ場がなくなり、試験室7内の水の除去できなくな
る。
装置1を水中に沈下させ、被試験面2にカバー3の開口
端4に設けたシール5を当接し、引き口6から排水と排
気をしてシール5内の圧力を低下させ、シール5を被試
験面2に密着させていたが、一旦シール5が密着してし
まうと、カバー3内に形成される試験室7内の水滴8の
逃げ場がなくなり、試験室7内の水の除去できなくな
る。
【0004】そこで、乾燥用空気等を被試験面2に吹付
けたり、図10および図11の要部拡大断面図に示すよう
に、シール5の一部に穴9をあけて試験室7内の水を吸
引するが、吹き飛ばされた水滴8が丁度この穴9の中に
入らないと、水滴8は試験室7内に飛散して、水の除去
が十分に行われない。
けたり、図10および図11の要部拡大断面図に示すよう
に、シール5の一部に穴9をあけて試験室7内の水を吸
引するが、吹き飛ばされた水滴8が丁度この穴9の中に
入らないと、水滴8は試験室7内に飛散して、水の除去
が十分に行われない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】試験室7内の水の除去
対策として、試験室7の上部に引き口10を別途増設した
ものもあるが、この引き口10が水滴8の存在する位置と
離れているため、その効果は充分ではなかった。従って
前述したように、被試験面2に水滴8が残り、被試験面
2にある欠陥部11に水滴8が残存していると、探傷試験
に際して散布する浸透液が欠陥11に浸透せず、また現像
および観察時にも見難いため欠陥部11の検出能力が低下
するという課題は解決されていない。また十分に試験室
7内の水滴8を除去するためには長時間を要した。
対策として、試験室7の上部に引き口10を別途増設した
ものもあるが、この引き口10が水滴8の存在する位置と
離れているため、その効果は充分ではなかった。従って
前述したように、被試験面2に水滴8が残り、被試験面
2にある欠陥部11に水滴8が残存していると、探傷試験
に際して散布する浸透液が欠陥11に浸透せず、また現像
および観察時にも見難いため欠陥部11の検出能力が低下
するという課題は解決されていない。また十分に試験室
7内の水滴8を除去するためには長時間を要した。
【0006】本発明の目的とするところは、被試験面に
密着させるシールの内面に水滴の逆流を防止する堰と穴
を形成して試験室内の排気、および被試験面の水滴除去
を良好にして浸透探傷の作業時間短縮と検出精度が高い
水中欠陥検出装置を提供することにある。
密着させるシールの内面に水滴の逆流を防止する堰と穴
を形成して試験室内の排気、および被試験面の水滴除去
を良好にして浸透探傷の作業時間短縮と検出精度が高い
水中欠陥検出装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】水中にある構造物表面の
被試験面に当接し試験室内を排水して浸透探傷試験を行
う水中欠陥検出装置において、前記試験室を構成するカ
バーの開口端に設けた被試験面に密着させるシールの内
面に、水滴の逆流を防止する堰と排水・排気の引き口に
連通した穴を形成したことを特徴とする。
被試験面に当接し試験室内を排水して浸透探傷試験を行
う水中欠陥検出装置において、前記試験室を構成するカ
バーの開口端に設けた被試験面に密着させるシールの内
面に、水滴の逆流を防止する堰と排水・排気の引き口に
連通した穴を形成したことを特徴とする。
【0008】
【作用】被試験面に水中欠陥検出装置のカバー開口端に
設けたシールを密着させて試験室内の排水・排気をして
被試験面を乾燥させる。この際に残留した水滴が乾燥用
空気により吹き飛ばされてカバー開口端のシール内面に
形成された堰を越える。この水滴は堰に遮られて被試験
面に逆流せず、引き口と連通した穴より外部に吸引、除
去される。
設けたシールを密着させて試験室内の排水・排気をして
被試験面を乾燥させる。この際に残留した水滴が乾燥用
空気により吹き飛ばされてカバー開口端のシール内面に
形成された堰を越える。この水滴は堰に遮られて被試験
面に逆流せず、引き口と連通した穴より外部に吸引、除
去される。
【0009】
【実施例】本発明の一実施例を図面を参照して説明す
る。なお、上記した従来技術と同じ構成部分については
同一符号を付して詳細な説明を省略する。図1の縦断面
図に示すように水中欠陥検出装置20は、カバー3の中間
を硝子またはプラスチック等による透明窓22で仕切り、
上部を気密室23として内部にモニタカメラ24と紫外線照
射装置25を設置する。
る。なお、上記した従来技術と同じ構成部分については
同一符号を付して詳細な説明を省略する。図1の縦断面
図に示すように水中欠陥検出装置20は、カバー3の中間
を硝子またはプラスチック等による透明窓22で仕切り、
上部を気密室23として内部にモニタカメラ24と紫外線照
射装置25を設置する。
【0010】前記カバー3の下部は開放して試験室7と
し、前記カバー3を貫通してノズル26,27,28と、上部
引き口10を設けている。また前記シール21は、カバー3
の内面で開口端4の近くに、環状の堰29と穴30が形成さ
れていて、この穴30は引き口6と連通している。またシ
ール21の材質は液体が浸透せず、被試験面2に密着して
試験室7の気密を保つ柔軟性の材料で、例えばゴム等が
使用されている。
し、前記カバー3を貫通してノズル26,27,28と、上部
引き口10を設けている。また前記シール21は、カバー3
の内面で開口端4の近くに、環状の堰29と穴30が形成さ
れていて、この穴30は引き口6と連通している。またシ
ール21の材質は液体が浸透せず、被試験面2に密着して
試験室7の気密を保つ柔軟性の材料で、例えばゴム等が
使用されている。
【0011】なお、前記カバー3の上部には操作用のハ
ンドル31が取付けられていて、気密室23内のモニタカメ
ラ24と紫外線照射装置25のケーブル32が引出されおり、
前記引き口6、上部引き口10およびノズル26,27,28に
は、夫々図示しないホースが取付けられて構成されてい
る。なお、第2の実施例として図2の要部拡大断面図に
示すシール33のように、カバー3の表面が凹部34と凸部
35の波型の堰36で、凹部34の上端には前記引き口6と連
通する穴30をあけた構成としても良い。
ンドル31が取付けられていて、気密室23内のモニタカメ
ラ24と紫外線照射装置25のケーブル32が引出されおり、
前記引き口6、上部引き口10およびノズル26,27,28に
は、夫々図示しないホースが取付けられて構成されてい
る。なお、第2の実施例として図2の要部拡大断面図に
示すシール33のように、カバー3の表面が凹部34と凸部
35の波型の堰36で、凹部34の上端には前記引き口6と連
通する穴30をあけた構成としても良い。
【0012】次に上記構成による作用について説明す
る。水中欠陥検出装置20を水中に沈め、被試験面2にカ
バー3の開口端4に設けたシール21を当接させる。引き
口6より排水と排気をして、前記試験室7内の圧力を低
下させ、シール21を被試験面2に密着させる。この後に
浸透探傷試験を実施するが、一般に非破壊試験として行
う浸透探傷試験は図3の工程図に示すように、蛍光浸透
探傷無現像式、染色浸透探傷無現像式、染色浸透探傷現
像式があり、夫々数種類の手順で実施している。
る。水中欠陥検出装置20を水中に沈め、被試験面2にカ
バー3の開口端4に設けたシール21を当接させる。引き
口6より排水と排気をして、前記試験室7内の圧力を低
下させ、シール21を被試験面2に密着させる。この後に
浸透探傷試験を実施するが、一般に非破壊試験として行
う浸透探傷試験は図3の工程図に示すように、蛍光浸透
探傷無現像式、染色浸透探傷無現像式、染色浸透探傷現
像式があり、夫々数種類の手順で実施している。
【0013】水中へ水中欠陥検出装置20全体を投入(被
試験面2は、既に本装置または別の装置により洗浄され
ており、直ちに試験ができる状態になっているとする)
し、被試験面2に着床させる。次に引き口6より排水す
る(図示しない排水ポンプで排水した水は水中へ戻す
か、必要ならば地上までホースで吸い上げる)。
試験面2は、既に本装置または別の装置により洗浄され
ており、直ちに試験ができる状態になっているとする)
し、被試験面2に着床させる。次に引き口6より排水す
る(図示しない排水ポンプで排水した水は水中へ戻す
か、必要ならば地上までホースで吸い上げる)。
【0014】排水容量が不足の場合、または早く排水し
たい場合には、上部引き口10から排水しても良く、排水
が済んだら試験室7内を乾燥させる。乾燥用の空気や熱
風等はノズル26,27を通して吹き込むが、その乾燥状態
は経験によるところが多いため、対象となる品物により
予め調べておくと良い。また必要により試験室7内に温
度センサーを置くのも良い。
たい場合には、上部引き口10から排水しても良く、排水
が済んだら試験室7内を乾燥させる。乾燥用の空気や熱
風等はノズル26,27を通して吹き込むが、その乾燥状態
は経験によるところが多いため、対象となる品物により
予め調べておくと良い。また必要により試験室7内に温
度センサーを置くのも良い。
【0015】試験室7内の乾燥状態は透明窓22を通して
気密室23内のモニタカメラ24でも観察できる。乾燥が終
了したら浸透液を被試験面2に前記ノズル26,27を通し
てスプレーする。このスプレー状態は前記モニタカメラ
24で観察できる。被試験面2に開口した欠陥11内に浸透
液を一定時間浸透させた後に、余剰浸透液の除去(洗
浄)を行う。必要に応じ透明窓22を水または洗浄液をノ
ズル28からスプレーして洗浄する。
気密室23内のモニタカメラ24でも観察できる。乾燥が終
了したら浸透液を被試験面2に前記ノズル26,27を通し
てスプレーする。このスプレー状態は前記モニタカメラ
24で観察できる。被試験面2に開口した欠陥11内に浸透
液を一定時間浸透させた後に、余剰浸透液の除去(洗
浄)を行う。必要に応じ透明窓22を水または洗浄液をノ
ズル28からスプレーして洗浄する。
【0016】余剰浸透液の除去(洗浄)はノズル26、ま
たはノズル27等のノズルを使って洗浄液をシャワー状に
降り注ぐ。このシャワーがあまり強いと欠陥11内の浸透
液が流れ過ぎてしまい欠陥部の検出が難しい。またシャ
ワーが弱すぎると浸透液が現像の邪魔になり欠陥部の検
出がし難いのでシャワーの状態は水中へ水中欠陥検出装
置20を投入する前に予め調べて、ノズル26,27の口を調
整するか洗浄用の圧力を調整しておく。
たはノズル27等のノズルを使って洗浄液をシャワー状に
降り注ぐ。このシャワーがあまり強いと欠陥11内の浸透
液が流れ過ぎてしまい欠陥部の検出が難しい。またシャ
ワーが弱すぎると浸透液が現像の邪魔になり欠陥部の検
出がし難いのでシャワーの状態は水中へ水中欠陥検出装
置20を投入する前に予め調べて、ノズル26,27の口を調
整するか洗浄用の圧力を調整しておく。
【0017】余剰浸透液の除去状態は前記モニタカメラ
24で観察しながら行う。所定時間洗浄し終えたら、引き
口6または上部ノズル10で排水し、試験室7内の水を十
分に除去する。また、必要に応じて乾燥を行う。この乾
燥作業は前述したような方法で試験室7内を乾燥させ
る。
24で観察しながら行う。所定時間洗浄し終えたら、引き
口6または上部ノズル10で排水し、試験室7内の水を十
分に除去する。また、必要に応じて乾燥を行う。この乾
燥作業は前述したような方法で試験室7内を乾燥させ
る。
【0018】次に現像を行うが、蛍光浸透探傷無現像式
の場合は現像は気密室23に設けた紫外線照射装置25から
紫外線を照射し、欠陥11に浸透して残った浸透液の蛍光
発色をモニタカメラ24で観察する。また紫外線が透明窓
22を通過するに際して、紫外線が通り易いように透明窓
22の材質ガラスを選定する必要がある。
の場合は現像は気密室23に設けた紫外線照射装置25から
紫外線を照射し、欠陥11に浸透して残った浸透液の蛍光
発色をモニタカメラ24で観察する。また紫外線が透明窓
22を通過するに際して、紫外線が通り易いように透明窓
22の材質ガラスを選定する必要がある。
【0019】染色浸透探傷無現像式の場合は、モニタカ
メラ24で観察し、染色浸透探傷現像式の場合には、ノズ
ル26,27を介して現像液をスプレーするか、乾燥現像粉
を散布するかして、この結果をモニタカメラ24で観察す
る。試験が終了したら被試験面2を洗浄し、洗浄結果を
モニタカメラ10で観察し、終了した後に水中欠陥検出装
置20全体を引き上げる。なお、紫外線照射装置25は蛍光
浸透探傷以外には使用しない。
メラ24で観察し、染色浸透探傷現像式の場合には、ノズ
ル26,27を介して現像液をスプレーするか、乾燥現像粉
を散布するかして、この結果をモニタカメラ24で観察す
る。試験が終了したら被試験面2を洗浄し、洗浄結果を
モニタカメラ10で観察し、終了した後に水中欠陥検出装
置20全体を引き上げる。なお、紫外線照射装置25は蛍光
浸透探傷以外には使用しない。
【0020】上記の浸透探傷試験を実施する際に、試験
室7内で被試験面2の洗浄や余剰液の除去の時に被試験
面2にある水滴8が、ノズル26,27から吹付けられる乾
燥用の空気や熱風等で、従来は吹き飛んで試験室7内を
移動するだけで引き口6からの吸引がし難くかったが、
本発明では図1に示すように、吹き飛ばされた水滴8は
被試験面2でカバー3の内周に寄せられ、あるいはカバ
ー3の内壁に付着しても、一旦シール21の堰29を越える
と、この堰29に遮られて被試験面2に逆流せず、穴30を
介して引き口6から吸引されて容易に排除される。
室7内で被試験面2の洗浄や余剰液の除去の時に被試験
面2にある水滴8が、ノズル26,27から吹付けられる乾
燥用の空気や熱風等で、従来は吹き飛んで試験室7内を
移動するだけで引き口6からの吸引がし難くかったが、
本発明では図1に示すように、吹き飛ばされた水滴8は
被試験面2でカバー3の内周に寄せられ、あるいはカバ
ー3の内壁に付着しても、一旦シール21の堰29を越える
と、この堰29に遮られて被試験面2に逆流せず、穴30を
介して引き口6から吸引されて容易に排除される。
【0021】また図2に示した構成のシールの第2の実
施例であるシール33の場合においても、シール33の表面
の凹34部、凸35部の堰36を一旦越した水滴8は逆流せ
ず、しかも凹部34では水滴8が通り易く、かつ直ちに穴
30より引き口6に吸引される。
施例であるシール33の場合においても、シール33の表面
の凹34部、凸35部の堰36を一旦越した水滴8は逆流せ
ず、しかも凹部34では水滴8が通り易く、かつ直ちに穴
30より引き口6に吸引される。
【0022】図4は本発明のシールの第3の実施例を示
し、図4(A)は横断面図、図4(B)は図4(A)の
B−B矢視断面図、図4(C)は図4(A)のC−C矢
視断面図で、シール37の一部で引き口6に連通する通路
38の周囲に凹部39が形成されていて、この最低部に通路
38につながる穴30がある構成となっている。この第3の
実施例の場合も、跳ね飛ばされて凹部39に流れ込んだ水
滴8は、凹部39の手前の堰40で逆流することが遮られ、
穴30より通路38を介して図示しない引き口6に吸引され
る。
し、図4(A)は横断面図、図4(B)は図4(A)の
B−B矢視断面図、図4(C)は図4(A)のC−C矢
視断面図で、シール37の一部で引き口6に連通する通路
38の周囲に凹部39が形成されていて、この最低部に通路
38につながる穴30がある構成となっている。この第3の
実施例の場合も、跳ね飛ばされて凹部39に流れ込んだ水
滴8は、凹部39の手前の堰40で逆流することが遮られ、
穴30より通路38を介して図示しない引き口6に吸引され
る。
【0023】図5の要部拡大断面図は本発明の第4の実
施例を、図6の要部拡大断面図は第5の実施例を示し、
いずれも吸収シール41は、液体が吸収、浸透易く通気性
と柔軟性のある例えば、フェルトやスポンジ等、繊維質
で毛細管特性を備えた材質で構成している。この第4の
実施例によれば、吸収シール41において試験室7内の水
分を吸着し、引き口6から外へ吸引するので、試験室7
内への水滴8の逆流も無く、試験室7内に残った少量の
水滴8も吸収してしまう効果がある。また第5の実施例
では吸収シール41が堰42のある山型となっているので、
飛来した水滴8が再び被試験面2やカバー4に跳ね返る
ことが少ない。
施例を、図6の要部拡大断面図は第5の実施例を示し、
いずれも吸収シール41は、液体が吸収、浸透易く通気性
と柔軟性のある例えば、フェルトやスポンジ等、繊維質
で毛細管特性を備えた材質で構成している。この第4の
実施例によれば、吸収シール41において試験室7内の水
分を吸着し、引き口6から外へ吸引するので、試験室7
内への水滴8の逆流も無く、試験室7内に残った少量の
水滴8も吸収してしまう効果がある。また第5の実施例
では吸収シール41が堰42のある山型となっているので、
飛来した水滴8が再び被試験面2やカバー4に跳ね返る
ことが少ない。
【0024】図7の配置図は、浸透液、洗浄水、乾燥空
気用等のノズル26,27,28の位置例を示したもので、図
7(A)はカバー3内の試験室7の内周に、ノズル26,
27,28の噴出口を均等配に設けている。図7(B)は試
験室7内周の一方に寄せて配置している。図7(C)で
は試験室7の中央近くに均等配に設けている。図7
(D)は試験室7の中央に配置したものである。
気用等のノズル26,27,28の位置例を示したもので、図
7(A)はカバー3内の試験室7の内周に、ノズル26,
27,28の噴出口を均等配に設けている。図7(B)は試
験室7内周の一方に寄せて配置している。図7(C)で
は試験室7の中央近くに均等配に設けている。図7
(D)は試験室7の中央に配置したものである。
【0025】また図8の一部切断正面図は、ノズル26,
27,28のスプレー方向の例を示し、図8(A)はカバー
3内の試験室7において、一方の壁際から中心方向に向
けている。図8(B)は試験室7の一方の壁際から下方
向に向けている。図8(C)では試験室7の中央近く
で、両側から互いに中心方向に向けている。図8(D)
は試験室7の中央にて、下方向に向けている。これ等ノ
ズル26,27,28の配置や、スプレーの方向は、夫々用
途、状況によって種々に変えても良く、また、ノズルの
数も必要に応じて各種選択すると良い。
27,28のスプレー方向の例を示し、図8(A)はカバー
3内の試験室7において、一方の壁際から中心方向に向
けている。図8(B)は試験室7の一方の壁際から下方
向に向けている。図8(C)では試験室7の中央近く
で、両側から互いに中心方向に向けている。図8(D)
は試験室7の中央にて、下方向に向けている。これ等ノ
ズル26,27,28の配置や、スプレーの方向は、夫々用
途、状況によって種々に変えても良く、また、ノズルの
数も必要に応じて各種選択すると良い。
【0026】
【発明の効果】以上本発明によれば、水中欠陥検出装置
の試験室内の水滴がシールの堰で捕捉され、かつ被試験
面に逆流しないので、試験室内に飛散させず容易に除去
することができる。これにより浸透探傷試験に際して作
業時間の短縮と欠陥の検出精度が向上する効果がある。
の試験室内の水滴がシールの堰で捕捉され、かつ被試験
面に逆流しないので、試験室内に飛散させず容易に除去
することができる。これにより浸透探傷試験に際して作
業時間の短縮と欠陥の検出精度が向上する効果がある。
【図1】本発明に係る一実施例の水中欠陥検出装置の縦
断面図。
断面図。
【図2】本発明に係るシールの第2の実施例を示す要部
拡大断面図。
拡大断面図。
【図3】浸透探傷試験の工程図。
【図4】本発明に係るシールの第3の実施例を示す要部
拡大断面図(図4(A)は横断面図、図4(B)は図4
(A)のB−B矢視断面図、図4(C)は図4(A)の
C−C矢視断面図)。
拡大断面図(図4(A)は横断面図、図4(B)は図4
(A)のB−B矢視断面図、図4(C)は図4(A)の
C−C矢視断面図)。
【図5】本発明に係るシールの第4の実施例を示す要部
拡大断面図。
拡大断面図。
【図6】本発明に係るシールの第5の実施例を示す要部
拡大断面図。
拡大断面図。
【図7】本発明に係るノズル位置を例示した配置図(図
7(A)は試験室内周にノズルの噴出口を均等配。図7
(B)は試験室内周の一方に寄せて配置。図7(C)は
試験室中央近くに均等配。図7(D)は試験室の中央に
配置)。
7(A)は試験室内周にノズルの噴出口を均等配。図7
(B)は試験室内周の一方に寄せて配置。図7(C)は
試験室中央近くに均等配。図7(D)は試験室の中央に
配置)。
【図8】本発明に係るノズルのスプレー方向を例示した
一部切断正面図(図8(A)は試験室の一方の壁際から
中心方向に向ける。図8(B)は試験室の一方の壁際か
ら下方向に向ける。図8(C)は試験室の中央近くで両
側から互いに中心方向に向ける。図8(D)は試験室の
中央にて下方向に向ける)。
一部切断正面図(図8(A)は試験室の一方の壁際から
中心方向に向ける。図8(B)は試験室の一方の壁際か
ら下方向に向ける。図8(C)は試験室の中央近くで両
側から互いに中心方向に向ける。図8(D)は試験室の
中央にて下方向に向ける)。
【図9】従来の水中欠陥検出装置の縦断面図。
【図10】従来の水中欠陥検出装置の他の例を示すシー
ル要部拡大断面図。
ル要部拡大断面図。
【図11】従来の水中欠陥検出装置の別の例を示すシー
ル要部拡大断面図。
ル要部拡大断面図。
2…被試験面、3…カバー、4…開口端、6…引き口、
7…試験室、8…水滴、10…上部引き口、11…欠陥、20
…水中欠陥検出装置、21,33,37…シール、22…透明
窓、23…気密室、24…モニタカメラ、25…紫外線照射装
置、26,27,28…ノズル、29,36,40,41…堰、30…
穴、34,39…凹部、35…凸部、38…通路、41…吸収シー
ル。
7…試験室、8…水滴、10…上部引き口、11…欠陥、20
…水中欠陥検出装置、21,33,37…シール、22…透明
窓、23…気密室、24…モニタカメラ、25…紫外線照射装
置、26,27,28…ノズル、29,36,40,41…堰、30…
穴、34,39…凹部、35…凸部、38…通路、41…吸収シー
ル。
Claims (1)
- 【請求項1】 水中にある構造物表面の被試験面に当接
し試験室内を排水して浸透探傷試験を行う水中欠陥検出
装置において、前記試験室を構成するカバーの開口端に
設けた被試験面に密着させるシールの内面に、水滴の逆
流を防止する堰と排水・排気の引き口に連通した穴を形
成したことを特徴とする水中欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6325092A JP2793417B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 水中欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6325092A JP2793417B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 水中欠陥検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05264471A true JPH05264471A (ja) | 1993-10-12 |
JP2793417B2 JP2793417B2 (ja) | 1998-09-03 |
Family
ID=13223819
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6325092A Expired - Fee Related JP2793417B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 水中欠陥検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2793417B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015158408A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | 株式会社東芝 | 浸透探傷試験システム及び浸透探傷試験用探傷ヘッド |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102099056B1 (ko) * | 2019-10-14 | 2020-05-22 | 서울특별시 | 드론을 활용한 수중시설 안전점검 시스템 |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP6325092A patent/JP2793417B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015158408A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | 株式会社東芝 | 浸透探傷試験システム及び浸透探傷試験用探傷ヘッド |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2793417B2 (ja) | 1998-09-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |