JPH0525773Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は、例えば鉄鋼業等における製銑、製鋼
工程において採取された金属試料の分析に用いる
ために、金属試料を迅速に研削するための分析試
料研削装置に関するものである。

［従来の技術］ 例えば、発光分光分析機器、蛍光Ｘ線分析機器
などによりその含有成分を分析するための金属試
料は、分析機器に掛ける前処理として表面を平坦
に研削する必要がある。

従来においてこの研削は手動或いは自動で行わ
れているが、研削に時間が掛かり、そのために金
属試料の温度が上昇して変質をきたす場合があ
る。特に、製鉄所におけるオンラインにおいて
は、サンプリングから分析結果が得られるまでの
工程をより迅速に行うことが要求されており、こ
の点においても研削時間の短縮が必要とされる。
従来の研削装置において研削に時間が掛かつた理
由の一つは、例えば特開昭59−77334号公報に開
示されているように、研削物として砥粒を塗布し
た例えばエンドレスの回転ベルトを用い、被研削
物をこの回転ベルトに押し付けるようにして、い
わばグラインダ方式で研摩加工により行つていた
ためである。この方式では、所定量の研削に時間
が掛かり、例えば試料の分析面に凹みがある場合
などはこの凹みをとるために極めて長い時間を要
することになる。

［考案の目的］ 本考案の目的は、上述の要望に応え、超硬チツ
プを有するカツタを回転し、被研削試料をその側
面方向から切断するように研削し、極めて迅速な
処理を可能とする分析試料研削装置を提供するこ
とにある。

［考案の概要］ 上述の目的を達成するための本考案の要旨は、
超硬チツプを埋め込んだカツタを水平面で回転さ
せる研削部と、被研削試料をチヤツクし旋回によ
り被研削試料を前記研削部に移動させ、被研削試
料の先端部を前記研削部により任意の深さでかつ
平坦に研削するアーム部と、該アーム部を研削終
了後に原位置へ旋回するとき持ち上げて被研削試
料をカツタから離すようにした支持機構と、被研
削試料をチヤツクするに際して予め被研削試料の
研削深さを設定するレベル調整機構とを備えたこ
とを特徴とする分析試料研削装置である。

［考案の実施例］ 本考案を図示の実施例に基づいて詳細に説明す
る。

第１図は装置の正面図、第２図は側面図、第３
図は要部の平面図、第４図は要部の側面図を示し
ている。ここで、１はカツタであり、このカツタ
１の上部側面には第５図に示すような例えば６個
の超硬チツプ２が等間隔に埋め込まれ、モータ３
の駆動により水平面で高速回転するようになつて
いる。このカツタ１の上方にはアーム４が構設さ
れ、このアーム４の一端は水平軸５を介して上下
方向に傾動するようにされ、更に旋回軸６により
旋回自在に支持され、他端は支持部材７により比
較的自由度を持つて支持されており、アーム４は
旋回シリンダ８により旋回駆動される。支持部材
７は上下動する２個のシリンダ９ａ，９ｂ間に構
設され、シリンダ９ａ，９ｂ及び支持部材７はレ
ール１０に沿つてアーム４の旋回と共に移動する
ようになつている。即ち、支持部材７、シリンダ
９ａ，９ｂ、レール１０から成る支持機構によつ
て、アーム４を研削終了後に原位置へ旋回すると
き、第４図の仮想線で示すようにアーム４を持ち
上げて試料の加工面（分析面）をカツタ１から離
し、その離れた状態でアーム４を原位置へ旋回で
きるよう支持している。これにより、研削された
試料の加工面に傷や汚れが付くことが防止され
る。

また、アーム４のほぼ中央部には被研削試料Ｓ
をチヤツクするための試料保持機構１１が設けら
れ、チヤツクシリンダ１２の作動によりこの試料
保持機構１１は開閉される。また、カツタ１とほ
ぼ同じレベルに試料載置台１３が設けられ、この
試料載置台１３はレベル調整機構１４によりその
高さを例えば2.5mm程度まで微調整し得ると共に、
シリンダ１５により上下動されるようになつてい
る。そして、カツタ１及び試料載置台１３はアー
ム４の旋回により試料保持機構１１に保持された
被研削試料Ｓが画く同一円軌跡上に位置するよう
になつている。

被研削試料Ｓの研削前の状態においては、アー
ム４の試料保持機構１１は試料載置台１３の上に
位置するようにされ、カツタ１は高速回転を続け
ている。なお、試料載置台１３のレベルは予めレ
ベル調整機構１４により調整されており、被研削
試料Ｓの研削深さが決定されている。ここで、例
えば直径20〜30mmの短円柱状の被研削試料Ｓを試
料保持機構１１内に挿入すると、この被研削試料
Ｓの下端は試料載置台１３に接し、図示しないス
イツチをオンにすることにより、チヤツクシリン
ダ１２が作動して試料保持機構１１により被研削
試料Ｓがチヤツクされ、同時に旋回シリンダ８に
よりアーム４がカツタ１の方向に旋回される。こ
のとき、アーム４の先端部は支持部材７により支
持されながら移動することになる。被研削試料Ｓ
の下端側部がカツタ１の超硬チツプに接すると研
削が開始され、更に旋回を続けることにより被研
削試料Ｓは５〜７秒間でレベル調整機構１４によ
り定められた所定深さの研削が完了する。その
後、シリンダ９ａ，９ｂの作動によりアーム４は
水平軸５を中心に上方に持ち上げられて被研削試
料Ｓがカツタ１から離れ、アーム４は元の位置に
旋回しながら戻り、シリンダ９ａ，９ｂを下降し
て元の位置で試料保持機構１１を開放し、試料載
置台１３上に研削済みの試料Ｓを載置し、更に試
料載置台１３をシリンダ１５により持ち上げて試
料Ｓをアーム４上に突き上げる。これにより、試
料Ｓを手に取ることができ、そのまま分析機器ま
で運搬すればよいことになる。

［考案の効果］ 以上説明したように本考案に係る分析試料研削
装置は、自動的にかつ極めて短時間で被研削金属
試料を所定の深さで研削することができ、迅速を
要する分析作業時間を短縮することができ、また
短時間の研削によるために試料温度が上昇せず含
有成分の変動が生じない利点がある。更に、研削
に際して切り子は発生するものの、発塵がなく集
塵装置が不要となり作業環境を損なうことがな
い。また、試料の加工面の汚れが少なく、ベルト
研摩のように研削材の付着がないため、微量成分
の分析精度が著しく向上する。

【図面の簡単な説明】

図面は本考案に係る分析試料研削装置の一実施
例を示し、第１図はその正面図、第２図は側面
図、第３図は要部の平面図、第４図は要部の側面
図、第５図はカツタの平面図である。 符号１はカツタ、４はアーム、６は旋回軸、７
は支持部材、８，９ａ，９ｂ，１２，１５はシリ
ンダ、１１は試料保持機構、１３は試料載置台、
１４はレベル調整機構である。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 超硬チツプを埋め込んだカツタを水平面で回転
   させる研削部と、被研削試料をチヤツクし旋回に
   より被研削試料を前記研削部に移動させ、被研削
   試料の先端部を前記研削部により任意の深さでか
   つ平坦に研削するアーム部と、該アーム部を研削
   終了後に原位置へ旋回するとき持ち上げて被研削
   試料をカツタから離すようにした支持機構と、被
   研削試料をチヤツクするに際して予め被研削試料
   の研削深さを設定するレベル調整機構とを備えた
   ことを特徴とする分析試料研削装置。