JPH05235535A - Electronic parts correction equipment - Google Patents

Electronic parts correction equipment

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Publication number
JPH05235535A
JPH05235535A JP3308892A JP3308892A JPH05235535A JP H05235535 A JPH05235535 A JP H05235535A JP 3308892 A JP3308892 A JP 3308892A JP 3308892 A JP3308892 A JP 3308892A JP H05235535 A JPH05235535 A JP H05235535A
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JP
Japan
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solder
electronic component
correction
substrate
component
Prior art date
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Pending
Application number
JP3308892A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaru Yamauchi
大 山内
Kazuyoshi Yamaguchi
和義 山口
Masaru Ichihara
勝 市原
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP3308892A priority Critical patent/JPH05235535A/en
Publication of JPH05235535A publication Critical patent/JPH05235535A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To realize automating in which a robot is used instead of hand working, by building a process of command and correction in a system, on the basis of imperfect electronic parts and excess and shortage of solder of connection terminals. CONSTITUTION:Electric operation and characteristics of a substrate are inspected, whether an electronic parts is exchanged is determined, and a command is sent out. A bonding part 62 is collectively irradiated with laser light, a vacuum suction unit 51 is operated, and a new parts is transferred onto the position where an imperfect parts is removed. Solder of the bonding part 62 on the substrate 27 is fused again by using laser. By a nozzle elevating motor 46, a parts sucking nozzle 34 is descended, the parts 14 is pressed against the substrate 27, and solder is heated and bonded, thereby completing correction. When the solder is superfluous, a local portion is irradiated with laser, and solder is fused. Said solder is eliminated by a solder suction apparatus, and correction is executed. When solder is insufficient, cream solder is supplied to the part short of solder from a dispenser, said part is locally irradiated with laser, the cream solder is fused, and solder is bonded, thereby correcting imperfection.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、多数の電子部品を取り
付けたのち半田付けした基板を検査装置で検査し、上記
半田付け後の基板に不良が発見された場合自動的に上記
不良を修正する装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention inspects a board, to which a large number of electronic parts have been attached and then soldered, with an inspection device, and automatically corrects the failure if a failure is found in the board after soldering. Related to the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近の電子回路の組立は、基板にIC、
コンデンサ等の多数の電子部品をロボットにより装着し
たのち上記電子部品の接続端子部を一括半田付けで電気
的に接続する。その後、上記の半田付け後の基板を検査
装置により検査し、不良が発見された場合は手作業で修
正を行っていた。
2. Description of the Related Art Recently, electronic circuits have been assembled on a substrate by an IC,
After mounting a large number of electronic components such as capacitors by a robot, the connection terminals of the electronic components are electrically connected by collective soldering. After that, the board after soldering is inspected by an inspection apparatus, and if a defect is found, it is manually corrected.

【0003】図16は電子部品14の接続端子62の半
田量が不足した場合の手作業による修正作業の様子を示
したもので、図に示すように棒状の半田101を半田こ
て131により溶融して適当量を追加する。また半田量
が過剰の場合は半田こてで溶融しつつ半田吸い取り器
(図示してない)で過剰の半田を吸い取る。
FIG. 16 shows a state of manual correction work when the solder amount of the connection terminal 62 of the electronic component 14 is insufficient. As shown in the figure, the rod-shaped solder 101 is melted by the soldering iron 131. And add an appropriate amount. When the amount of solder is excessive, the solder is melted by the soldering iron and the excess solder is sucked by a solder sucker (not shown).

【0004】不良の内容によっては電子部品自身が不良
であることもあるので、その場合は不良の電子部品を取
り除き、正常な電子部品と交換することがある。図17
はこのような電子部品の取り除き作業を示したものであ
るが、半田こて131の先端で電子部品の接続端子を加
熱し、半田が溶融した時ピンセット132を用いて電子
部品の接続端子62bを基板の接続端子62aから取り
外すのである。最近のIC等は1個の部品でも接続端子
の数が多いので、接続端子の取り外し作業は大変な熟練
と手間を必要としていた。
Since the electronic component itself may be defective depending on the content of the defect, in that case, the defective electronic component may be removed and replaced with a normal electronic component. FIG. 17
Shows the work of removing such an electronic component. When the connection terminal of the electronic component is heated at the tip of the soldering iron 131 and the solder melts, the tweezers 132 are used to remove the connection terminal 62b of the electronic component. It is removed from the connection terminal 62a of the board. Since a recent IC or the like has a large number of connection terminals even with one component, the work of removing the connection terminals requires a great deal of skill and effort.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述した手作業による
修正作業は、熟練した作業者が長時間を必要とする困難
な作業であった。半田量の不足の時に半田を追加すると
いう比較的簡単な不良であっても、追加の半田の量が多
すぎると隣の接続端子とショートして不良になってしま
う。また半田量が過剰の時に、半田を吸い取りし過ぎる
と接続が弱くなってやはり不良となる。最近の基板は実
装密度が高く部品の接続端子の間隔が極めて接近してい
るので上記作業はますます困難なものになっている。
The above-described manual correction work is a difficult work that requires a long time for a skilled worker. Even if a relatively simple defect in which solder is added when the amount of solder is insufficient, if the amount of additional solder is too large, it will short-circuit with the adjacent connection terminal and become defective. Further, when the amount of solder is excessive, if the solder is sucked too much, the connection will be weakened and it will also be defective. The above-mentioned work is becoming more and more difficult because recent boards have a high packaging density and the distance between the connection terminals of components is extremely close.

【0006】さらにIC等で代表されるごとく最近の電
子部品は接続端子の数が多いが、このような多数の接続
端子を持った電子部品を取り外そうとすると、接続端子
を1個ずつ半田を溶融し取り外すという作業を接続端子
の数だけ繰り返さなければならず、それだけでも大変な
手間である。しかもこのような作業をしている間に基板
の銅箔接続端子部を傷つけると結局その基板全体が不良
になり廃棄してしまわなくてはならず、経済的損失は非
常に大きなものであった。
Further, recent electronic parts such as ICs have a large number of connection terminals. When an electronic part having such a large number of connection terminals is to be removed, the connection terminals are soldered one by one. It is necessary to repeat the work of melting and removing the same number of times as the number of connecting terminals, which alone is a troublesome work. Moreover, if the copper foil connection terminal part of the board is damaged during such work, the whole board eventually becomes defective and must be discarded, and the economic loss was very large. ..

【0007】本発明は上記課題を解決するもので、基板
の不良を自動的に修正する装置を提供することを目的と
している。
The present invention is intended to solve the above problems, and an object thereof is to provide an apparatus for automatically correcting a defect of a substrate.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の電子部品修正装
置は、上記目的を達成するために、電子部品を半田付け
により接続された基板の電気的動作を含む電気特性を検
査するステップと、電子部品の接続端子を3次元的に判
断するステップと、電子部品の接続端子の電気的短絡を
検査するステップとで構成され上記基板の電気的動作を
含む電気特性の不良原因を、上記基板に搭載された電子
部品と、接続端子の半田量過剰と、接続端子の半田量不
足とに分類する検査工程と、上記検査工程の分類結果に
基づき、上記基板に搭載された電子部品の取り外しおよ
び交換の指令と、半田量追加の指令と、半田量吸い取り
の指令のいずれかを出力する指令工程と、上記指令工程
の出力に基づき、電子部品の取り外しと交換作業と、半
田追加作業と、半田吸い取り作業とを実施する修正工程
とよりなるものである。
In order to achieve the above object, an electronic component correcting apparatus of the present invention comprises a step of inspecting electrical characteristics including electrical operation of a substrate to which electronic components are connected by soldering, The cause of the defective electrical characteristics including the electrical operation of the substrate, which is composed of a step of three-dimensionally determining the connection terminals of the electronic component and a step of inspecting an electrical short circuit of the connection terminals of the electronic component, is caused in the substrate. Inspection process to classify mounted electronic components, excess solder amount of connection terminals, and insufficient solder amount of connection terminals, and removal and replacement of electronic components mounted on the board based on the classification result of the inspection process Command, a command to add the amount of solder, and a command process that outputs one of the commands to absorb the amount of solder, and based on the output of the command process, removal and replacement work of electronic parts, solder addition work, and It is made more and correction step of performing a blotting work.

【0009】[0009]

【作用】本発明は上記した構成により、検査工程、指令
工程、修正工程をシステムとして組み込んでいるので、
手作業あるいは作業者の判断を必要とせず、電子部品や
基板に与える損傷を最小限にして、不良の電子部品の接
続端子の半田付けの修正、不良の電子部品と良品の電子
部品の交換を行うことができる。
With the above-described structure, the present invention incorporates the inspection process, the command process, and the correction process as a system.
Repairing the soldering of the connection terminals of defective electronic components, replacing defective electronic components with non-defective electronic components, without the need for manual work or operator judgment, minimizing damage to electronic components and boards. It can be carried out.

【0010】[0010]

【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。従来例の説明で述べたように、基板
に電子部品を装着し半田付けした後、基板を検査装置で
検査するがその時発見される不良は、主には次の3つで
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. As described in the description of the conventional example, after the electronic components are mounted on the board and soldered, the board is inspected by the inspection apparatus, but the defects found at that time are mainly the following three.

【0011】 A:電子部品が良品でない B:電子部品は良品であるが接続端子の半田量が不足し
ている C:電子部品は良品であるが接続端子の半田量が過剰で
ある したがって本発明で取り扱う修正方法も上記A,B,C
の不良に対するものに限っている。
A: The electronic component is not a good product B: The electronic component is a good product but the solder amount of the connection terminal is insufficient C: The electronic component is a good product but the solder amount of the connection terminal is excessive Therefore, the present invention The correction method dealt with in A, B, C
It is limited to the defect of.

【0012】つぎに不良原因が上記のA,B,Cのいず
れかであることが判明すると、その基板の修正作業を行
うが、修正作業としては次の4方法が予め設定されてい
る。
Next, when the cause of the defect is found to be any of the above A, B, and C, the work for repairing the substrate is performed, and the following four methods are preset as the repair work.

【0013】 P:電子部品を取り外す Q:電子部品を交換する R:半田を追加する S:半田を吸い取る そこで本発明の一実施例に於いては、:検査工程で不良
の原因が上記A,B,Cのいずれかであるかを検査す
る:指令工程で修正方法が上記P,Q,R,Sのいずれ
であるかを決定する:修正工程で上記修正方法に基づき
修正作業を行うの順序で基板の修正を行う。
P: Removing the electronic component Q: Replacing the electronic component R: Adding solder S: Absorbing the solder Therefore, in one embodiment of the present invention: Inspect whether it is B or C: Determine whether the correction method is P, Q, R or S in the command process: Order of performing correction work based on the correction method in the correction process Repair the board with.

【0014】以下の説明は、最初にIIIの修正作業の内
容を説明し、つぎにIの検査工程、IIの指令工程を説明
する。
In the following description, the contents of the correction work of III will be described first, and then the inspection process of I and the command process of II will be described.

【0015】修正工程に於いては、不良原因および修正
方法が既に決定されているものとして作業を進める。
In the repairing process, it is assumed that the cause of the defect and the repairing method are already determined.

【0016】図2は、不良と判断された電子部品を修正
する電子部品修正装置を示している。以下にこの装置の
構成を説明する。
FIG. 2 shows an electronic component correcting device for correcting an electronic component which has been determined to be defective. The configuration of this device will be described below.

【0017】本体フレーム部1上には、XYロボット2
が設置されており、このXYロボット上には後述する修
正ヘッド3が係止されている。
An XY robot 2 is mounted on the body frame 1.
Is installed, and a correction head 3 described later is locked on the XY robot.

【0018】部品移載装置4は部品収納部5に収納され
ている電子部品を前記XYロボット2の可動範囲に移載
する。基板27は基板搬送部6により、基板予熱部7を
経て部品修正位置8に搬送される。部品修正装置全体の
操作は、装置全面に設けられた操作パネル9によって行
う。本実施例は、電子部品を修正するために必要な半田
を溶融する加熱源にYAGレーザーを用いた例で、YA
Gレーザーはレーザー電源10およびレーザー光学系1
1によって発生し、光ファイバー12を通じて修正ヘッ
ド3まで伝送される構成である。13はフラックス塗布
部である。
The component transfer device 4 transfers the electronic components stored in the component storage 5 to the movable range of the XY robot 2. The board 27 is carried by the board carrying section 6 to the component correction position 8 via the board preheating section 7. The operation of the entire component correction device is performed by the operation panel 9 provided on the entire surface of the device. The present embodiment is an example in which a YAG laser is used as a heating source for melting the solder necessary for correcting electronic parts, and YA
The G laser is a laser power source 10 and a laser optical system 1.
1 and is transmitted to the correction head 3 through the optical fiber 12. Reference numeral 13 is a flux applying section.

【0019】次に部品修正位置8における電子部品の取
り外しの基本動作を図5,図6を用いて説明する。図5
において14は不良と判断された電子部品であり、電子
部品14は多数の接続端子62において基板に半田付け
されている。電子部品を基板から取り外すには上記接続
端子62における半田を溶融しつつ、真空源につながっ
ている部品吸着ノズル34により上方に引っ張り上げて
取り外す。本実施例では半田を溶融する熱源としてレー
ザー光線を利用しており、図2で説明したようにレーザ
ー光線は光ファイバー12により部品修正位置8まで伝
送される。図7に示すように光ファイバー12の先端に
は集光レンズ65で構成された出射光学部59があって
光ファイバーのコア系の2〜3倍の大きさまでレーザー
光を集光する。出射光学部59を出たレーザー光はさら
にシリンドリカルレンズ60により楕円形状に偏光され
基板上に焦点を結ぶ。部品修正位置8においては複数の
出射光学部およびシリンドリカルレンズが設けられてい
て、図5に示すように電子部品の周囲を取り巻いている
接続端子62を同時に加熱する。すなわち、シリンドリ
カルレンズ60aをでたレーザー光は接続端子62aの
半田を溶融し、シリンドリカルレンズ60bをでたレー
ザー光は接続端子62bの半田を溶融する(接続端子6
2c,62dに対応する出射光学部およびシリンドリカ
ルレンズは図示されていない。)。
Next, the basic operation of removing the electronic component at the component correction position 8 will be described with reference to FIGS. Figure 5
14 is an electronic component determined to be defective, and the electronic component 14 is soldered to the substrate at a large number of connection terminals 62. To remove the electronic component from the substrate, the solder in the connection terminal 62 is melted and pulled up by the component suction nozzle 34 connected to the vacuum source to remove it. In this embodiment, a laser beam is used as a heat source for melting the solder, and the laser beam is transmitted to the component correction position 8 by the optical fiber 12 as described with reference to FIG. As shown in FIG. 7, the tip of the optical fiber 12 has an emitting optical section 59 composed of a condenser lens 65, and collects the laser light to a size that is 2-3 times larger than the core system of the optical fiber. The laser light emitted from the emission optical section 59 is further polarized into an elliptical shape by the cylindrical lens 60 and focused on the substrate. At the component correction position 8, a plurality of emission optical parts and a cylindrical lens are provided to simultaneously heat the connection terminals 62 surrounding the electronic component as shown in FIG. That is, the laser light emitted from the cylindrical lens 60a melts the solder of the connection terminal 62a, and the laser light emitted from the cylindrical lens 60b melts the solder of the connection terminal 62b (the connection terminal 6).
The output optical section and the cylindrical lens corresponding to 2c and 62d are not shown. ).

【0020】一方真空源につながっている部品吸着ノズ
ル34の先端は、図5のΔHに示すように電子部品14
の上面から僅かに離れて位置しているので上記レーザー
光による加熱で半田が溶融し半田の接合力が真空吸引力
より低下すると図6に示すように電子部品14は部品吸
着ノズル34に密着して上方に取り外される。
On the other hand, the tip of the component suction nozzle 34 connected to the vacuum source has an electronic component 14 as shown by ΔH in FIG.
Since it is located slightly apart from the upper surface of the electronic component 14, when the solder is melted by the heating by the laser beam and the bonding force of the solder becomes lower than the vacuum suction force, the electronic component 14 comes into close contact with the component suction nozzle 34 as shown in FIG. Is removed upwards.

【0021】次に図3により、部品移載装置4、基板搬
送部6、基板予熱部7の詳細な構成を説明する。
Next, referring to FIG. 3, a detailed structure of the component transfer device 4, the board transfer section 6, and the board preheating section 7 will be described.

【0022】部品移載装置4は、電子部品14を高精度
に位置規正する部品規正爪15を備えた部品規正部16
を有し、前記部品規正部16はレール17上を移載モー
タ18によって移動し、電子部品14を移載する。
The component transfer device 4 has a component regulating section 16 provided with a component regulating claw 15 for regulating the position of the electronic component 14 with high accuracy.
The component regulating section 16 is moved on the rail 17 by a transfer motor 18 to transfer the electronic component 14.

【0023】基板搬送部6はプーリ19と搬送ベルト2
0を備えた一対の搬送レール21からなり、搬送ベルト
20の作動によって基板27は移動される。
The substrate transfer section 6 includes a pulley 19 and a transfer belt 2.
It is composed of a pair of transport rails 21 having 0, and the substrate 27 is moved by the operation of the transport belt 20.

【0024】基板予熱部7は、基板予熱ボックス22
と、エアドライヤ24aから発生する温風を基板予熱ボ
ックス22に供給するダクトホース23aとから構成さ
れ、前記エアドライヤ24aから発生する温風の熱量を
制御するため、電源電圧を好適な状態に調整する電圧調
整器25aが直列に配されている。
The substrate preheating section 7 is a substrate preheating box 22.
And a duct hose 23a for supplying the hot air generated by the air dryer 24a to the substrate preheating box 22, and a voltage for adjusting the power supply voltage to a suitable state in order to control the heat quantity of the hot air generated by the air dryer 24a. The regulator 25a is arranged in series.

【0025】一方、部品修正位置8には基板規正シリン
ダ26が設けられており、基板27を高精度に位置規正
する。部品修正位置8では、基板27の温風低下を防ぐ
ために、エアドライヤ24b,24c,24dからの温
風が、ダクトホース23b,23c,23dによって導
かれている。また、エアドライヤ24b,24c,24
dが発生する温風の熱量を制御するため、基板予熱部7
の電圧調整器25aと同様に、電圧調整器25b,25
c,25dが配置されている。
On the other hand, a board setting cylinder 26 is provided at the component correction position 8 to position the board 27 with high accuracy. At the component correction position 8, the hot air from the air dryers 24b, 24c, 24d is guided by the duct hoses 23b, 23c, 23d in order to prevent the hot air from falling on the substrate 27. In addition, the air dryers 24b, 24c, 24
In order to control the amount of heat of the warm air generated by d, the substrate preheating unit 7
Of the voltage regulators 25b, 25
c and 25d are arranged.

【0026】フラックス塗布部13は、比重計28と汚
れたセンサー29及び液位センサー30を備え、フラッ
クス31をフラックスブロック32の凹部に流し込んだ
後、フラックス塗布シリンダー33により汲み上げ、部
品吸着ノズル34により把持されている電子部品14の
接合電極部に下からフラックス31を塗布する。また、
35は部品廃棄ボックスである。
The flux applying section 13 is provided with a hydrometer 28, a dirty sensor 29 and a liquid level sensor 30. After the flux 31 is poured into the concave portion of the flux block 32, it is pumped up by the flux applying cylinder 33, and by the component suction nozzle 34. The flux 31 is applied from below to the joint electrode portion of the electronic component 14 that is being gripped. Also,
Reference numeral 35 is a parts disposal box.

【0027】次に、図4により電子部品取り外し手段と
して真空吸引を用いた修正ヘッド部3の構成を説明す
る。修正ヘッド3は、図2のXYロボット2のX軸架台
36上にLMガイド37及びヘッドフレーム38を介し
て設けられており、LMガイド37上をX軸方向にしゅ
う動し、その駆動は、X軸モータ(図示せず)に連結さ
れたボールネジ39により行われる。スプラインシャフ
ト40は、ベアリング41及びスプラインナット42を
介してヘッドフレーム38に係止されている。またスプ
ラインシャフト40は、スプラインナット42に結合さ
れたプーリ43a、タイミングベルト44a、ノズル回
転モータ45から構成される回転手段によりθ方向に自
在に回転可能である。またスプラインシャフト40の上
下手段として、ノズル上下モータ46の回転が、プーリ
43b、タイミングベルト44bを介してボールネジ4
7に伝達され、ノズル上下ブロック48を上下運動させ
る。ノズル上下ブロック48にはカムフォロワ49が設
けられており、カムフォロワ49はスプラインシャフト
40に係止された円板50を挟んでいるので、スプライ
ンシャフト40を上下方向に動かす。
Next, the structure of the correction head unit 3 using vacuum suction as the electronic component removing means will be described with reference to FIG. The correction head 3 is provided on the X-axis mount 36 of the XY robot 2 in FIG. 2 via the LM guide 37 and the head frame 38, slides on the LM guide 37 in the X-axis direction, and its drive is It is performed by a ball screw 39 connected to an X-axis motor (not shown). The spline shaft 40 is locked to the head frame 38 via a bearing 41 and a spline nut 42. Further, the spline shaft 40 can be freely rotated in the θ direction by a rotating means composed of a pulley 43a connected to the spline nut 42, a timing belt 44a, and a nozzle rotation motor 45. Further, as a means for moving the spline shaft 40 up and down, the rotation of the nozzle up / down motor 46 rotates the ball screw 4 via the pulley 43b and the timing belt 44b.
7, and the nozzle up / down block 48 is moved up and down. A cam follower 49 is provided on the nozzle upper / lower block 48, and since the cam follower 49 sandwiches the disc 50 locked by the spline shaft 40, the spline shaft 40 is moved in the vertical direction.

【0028】また、スプラインシャフト40にはノズル
の可動部分のみスプライン加工が施されており、スプラ
インナット42により保持されているために、上下方向
には円滑に動作できる。
Further, since the spline shaft 40 is splined only on the movable portion of the nozzle and is held by the spline nut 42, it can be operated smoothly in the vertical direction.

【0029】尚、このスプラインシャフト40は中空構
造になっていて、真空ユニット51で発生する真空状態
を配管部品52、ホース53及び回転自在な配管部品5
4を介して部品吸着ノズル34に伝え、電子部品14を
吸着する。シャフトガイド55はスプラインシャフト4
0の回転方向の振れを抑えるために設けられたしゅう動
ガイドであり、ヘッドフレーム38に係止されたブロッ
ク56の上に設置されている。
The spline shaft 40 has a hollow structure so that the vacuum state generated in the vacuum unit 51 can be controlled by the piping component 52, the hose 53 and the rotatable piping component 5.
4 to the component suction nozzle 34 to suck the electronic component 14. The shaft guide 55 is the spline shaft 4
It is a sliding guide provided to suppress the shake of 0 in the rotation direction, and is installed on a block 56 locked to the head frame 38.

【0030】スプラインシャフト40と部品吸着ノズル
34との間に設けられているスプリング57は、スプラ
インシャフト40が降下して電子部品14を基板27上
に装着する際に発生する衝撃力を吸収する働きをする。
58はエアパイプで、レーザー光により溶融した半田を
冷却する空気を噴出するものである。59a,59b,
59c,59dはレーザー光の出射光学部、60a,6
0b,60c,60dはシリンドリカルレンズ、61は
遮光板である。
The spring 57 provided between the spline shaft 40 and the component suction nozzle 34 serves to absorb the impact force generated when the spline shaft 40 descends to mount the electronic component 14 on the substrate 27. do.
Reference numeral 58 denotes an air pipe, which blows air for cooling the solder melted by the laser light. 59a, 59b,
Reference numerals 59c and 59d denote laser light emitting optics, and 60a and 6d.
Reference numerals 0b, 60c and 60d denote cylindrical lenses, and 61 denotes a light shielding plate.

【0031】次に上記電子部品修正の動作について説明
する。図2〜図6において、基板検査により得られた不
良箇所及び内容のデーターに基づき、電子部品の位置ず
れまたは電気特性不良の場合は、XYロボット2に係止
された修正ヘッド3を修正すべき電子部品14の上方に
対向させ、ノズル上下モータ45を駆動してボールネジ
47を回転し、図4に示すように部品吸着ノズル34を
電子部品14上面よりΔHの高さまで下降させると同時
に、修正ヘッド3上に設けられた真空吸引ユニット51
を作動させ、吸着ノズル34により電子部品14を真空
吸引し、同時にシリンドリカルレンズ60により楕円形
状に変光されたレーザー光を接合部62に一括照射す
る。レーザー光による加熱により半田が再溶融して、半
田の接合力が真空吸引力より低下したとき、真空吸引力
により電子部品14が上方に取り外される。(図5)吸
着ノズル34に電子部品14が吸着すると真空吸引ユニ
ット51の真空度が上昇するから、圧力検出手段63に
より真空度を検出することにより電子部品14の取り外
しが完了したことを判断する。取り外された電子部品1
4は、XYロボット2により修正ヘッド3を部品廃棄ボ
ックス35に移動させ廃棄する。
Next, the operation of correcting the electronic parts will be described. 2 to 6, based on the data of the defective portion and the contents obtained by the board inspection, the correction head 3 locked by the XY robot 2 should be corrected in the case of the positional deviation of the electronic component or the defective electric characteristic. The nozzle vertical motor 45 is driven to rotate the ball screw 47 so as to face the electronic component 14, and the component suction nozzle 34 is lowered to the height of ΔH from the upper surface of the electronic component 14 as shown in FIG. Vacuum suction unit 51 provided on
The electronic component 14 is vacuum-sucked by the suction nozzle 34, and at the same time, the laser light transformed into an elliptical shape by the cylindrical lens 60 is collectively applied to the joint portion 62. When the solder is re-melted by the heating by the laser light and the joining force of the solder becomes lower than the vacuum suction force, the vacuum suction force removes the electronic component 14 upward. (FIG. 5) When the electronic component 14 is sucked by the suction nozzle 34, the degree of vacuum of the vacuum suction unit 51 rises. Therefore, by detecting the degree of vacuum by the pressure detection means 63, it is determined that the removal of the electronic component 14 is completed. .. Electronic component 1 removed
In step 4, the XY robot 2 moves the correction head 3 to the parts discard box 35 and discards it.

【0032】次に、部品収納部5に収納されている良品
の電子部品14を、移載手段(図示せず)により図3に
示す部品移載装置4上の部品規正部16に移載する。こ
の部品規正部16上では、部品規正爪15が電子部品1
4を位置規正を行い、同時に部品規正部16自体がレー
ル17上を移載モータ18の駆動により移動する。この
ようにして部品収納部5内に収納された電子部品14
は、逐次位置規正された状態でXYロボット2の可動範
囲に移載される。このようにして移載されてきた電子部
品14の上方の所定の位置に、図4で説明した修正ヘッ
ド3をXYロボット2により対向位置させ、電子部品1
4を部品吸着ノズル32に吸着させる。
Next, the non-defective electronic component 14 stored in the component storage section 5 is transferred to the component control section 16 on the component transfer apparatus 4 shown in FIG. 3 by transfer means (not shown). .. On the component regulating section 16, the component regulating claw 15 is attached to the electronic component 1.
4 is subjected to position regulation, and at the same time, the component regulation section 16 itself moves on the rail 17 by the drive of the transfer motor 18. The electronic components 14 thus stored in the component storage section 5
Are sequentially transferred to the movable range of the XY robot 2 in a state where the position is regulated. The correction head 3 described with reference to FIG. 4 is opposed by the XY robot 2 to a predetermined position above the electronic component 14 thus transferred, and the electronic component 1 is moved.
4 is sucked by the component suction nozzle 32.

【0033】次に、吸着した電子部品14を図3に示す
フラックス塗布部13上方に位置させ、電子部品14に
フラックス31を塗布し、不良の取り外した電子部品の
位置に新しい電子部品14を移載する。そして再度レー
ザーにより基板27上の接合部62上の半田を溶融さ
せ、ノズル上下モータ46により部品吸着ノズル34を
下降させ電子部品14を基板27に押しつけ、半田を加
熱接合することにより電子部品の修正を完了する。
Next, the sucked electronic component 14 is positioned above the flux applying section 13 shown in FIG. 3, the flux 31 is applied to the electronic component 14, and the new electronic component 14 is moved to the position of the defective removed electronic component. List. Then, the solder again melts the solder on the joint portion 62 on the substrate 27, the nozzle vertical motor 46 lowers the component suction nozzle 34 to press the electronic component 14 against the substrate 27, and the solder is heated and joined to correct the electronic component. To complete.

【0034】この時、基板27は図3に示す上流の基板
予熱部7によってすでに予熱されてから部品修正位置8
に搬送されており、この部品修正位置8に位置している
時も、エアドライヤ24b,24c,24dからの温風
により予熱され続けているので、レーザーによる急激な
加熱による熱ダメージを緩和することができる。
At this time, the board 27 has already been preheated by the upstream board preheating section 7 shown in FIG.
Since it is being preheated by the hot air from the air dryers 24b, 24c, 24d even when it is in the component correction position 8, it is possible to mitigate the thermal damage due to the rapid heating by the laser. it can.

【0035】通常基板には、複数の電子部品がすでに半
田付けされており、基板搬送部6上の基板予熱部7の内
部温度が高温になりすぎると、前記半田が溶融して電子
部品を欠落させる恐れがあるため、エアドライヤ24a
の発生する温風の熱量を、電圧調整器25aにより好適
な値に調整する構成になっている。また、部品修正位置
8に温風を供給しているエアドライヤ24b,24c,
24dについても、同じ理由から電圧調整器25b,2
5c,25dを配置し、予熱効果を保持している。
Usually, a plurality of electronic components are already soldered on the substrate, and when the internal temperature of the substrate preheating unit 7 on the substrate transfer unit 6 becomes too high, the solder melts and the electronic components are lost. Air dryer 24a
The amount of heat of the warm air generated by is adjusted to a suitable value by the voltage adjuster 25a. Further, the air dryers 24b, 24c, which supply hot air to the component correction position 8,
For the same reason, the voltage regulators 25b, 2
5c and 25d are arranged to maintain the preheating effect.

【0036】電子部品を修正する際、すでに複数の電子
部品が接続しているので、楕円形状のままでは隣接して
いる電子部品の半田を溶融したり電子部品自身にもレー
ザー光が当たり不良の原因になる。そこで、図4に示す
ように、レーザー光の光路上に遮光板61を設けること
によって周辺への影響を防ぎ、必要な箇所のみに照射す
ることができる。また出射光学部59の付近には赤外線
温度測定器(図示せず)が設けられていて基板27、電
子部品14、接続端子62の温度を測定している。図8
は接続端子62付近の温度変化を示したもので、この部
品修正装置に搬入されてくる時刻T0では、基板27は
室温S1とほぼ同温である。基板27は、基板予熱部7
により予熱温度S2(約100〜120℃)前後に予熱
され、時刻T1には、部品修正位置8に搬送される。こ
の時、基板予熱部7の内部は、基板の温度が予熱温度S
2以上には上がらないように電圧調整器25aによって
エアドライヤ24aの熱量が調整されているため、装置
に異常が起きて基板27が基板予熱部7の内部に滞留す
ることがあっても、半田付けされた電子部品の接合部の
半田を溶融させ電子部品の欠品が起こることはない。時
刻T2において、図5に示すように電子部品14の上方
に対向させてレーザー光を照射すると、温度は急激に上
昇するが半田の再溶融する融点S3付近においては一時
的に温度上昇が止まり、半田の溶融が完了した時刻T3
からは再び急激に温度が上昇する。
Since a plurality of electronic components are already connected when the electronic component is repaired, if the elliptical shape remains, the solder of the adjacent electronic components may be melted or the electronic component itself may be damaged by the laser beam. Cause. Therefore, as shown in FIG. 4, by providing a light shielding plate 61 on the optical path of the laser beam, it is possible to prevent the influence on the surroundings and to irradiate only a necessary portion. An infrared temperature measuring device (not shown) is provided near the emitting optical section 59 to measure the temperature of the substrate 27, the electronic component 14, and the connection terminal 62. Figure 8
Shows the temperature change in the vicinity of the connection terminal 62, and at the time T 0 when the board 27 is carried into the component correction apparatus, the substrate 27 has almost the same temperature as the room temperature S 1 . The substrate 27 is the substrate preheating unit 7
Is preheated around the preheating temperature S 2 (about 100 to 120 ° C.), and is transported to the component correction position 8 at time T 1 . At this time, inside the substrate preheating unit 7, the temperature of the substrate is the preheating temperature S.
Since the heat quantity of the air dryer 24a is adjusted by the voltage regulator 25a so that the voltage does not rise to more than 2 , even if the board 27 may stay inside the board preheating part 7 due to an abnormality in the device, soldering There is no possibility that the solder in the bonded portion of the electronic component is melted and the electronic component is out of stock. At time T 2 , as shown in FIG. 5, when the laser light is irradiated so as to face the upper side of the electronic component 14, the temperature rises rapidly, but the temperature rises temporarily near the melting point S 3 at which the solder is remelted. Time T 3 when the solder stops and the melting of the solder is completed
Then, the temperature rises sharply again.

【0037】ここで半田が溶融して半田の接合力が真空
吸引力よりも弱くなると電子部品14が取り外され、吸
着ノズル34に電子部品14が吸着し真空度の上昇を圧
力検出手段63で検知するとレーザーの照射を止める。
その時の時刻が時刻T4で温度が温度S4である。
Here, when the solder melts and the joining force of the solder becomes weaker than the vacuum suction force, the electronic component 14 is removed, the electronic component 14 is sucked by the suction nozzle 34, and the increase in the degree of vacuum is detected by the pressure detection means 63. Then the laser irradiation is stopped.
At that time, the time is T 4 and the temperature is the temperature S 4 .

【0038】図5,図6に示すように電子部品14が複
数の接合電極部を有する場合、半田の溶融するまでの時
間はそれぞれの接合電極部により異なる。例えば図9に
示すように、半田が溶融するまでの時間がTa〜Tdのよ
うに場所により、異なっていたとすると、時間の長い接
合電極部のレーザーは早く照射を開始し、全ての半田が
溶融する時間T3を揃えるように複数のレーザーの照射
を制御する。このように基板27のパターンや電子部品
14によって溶融時間に差が生じた場合、半田が溶融し
にくいところから加熱することにより、必要以上の加熱
をせず基板27また電子部品14に与える熱ダメージを
最小にすることができる。また、全ての半田が溶融する
タイミングを一定になるよう制御しているので、半田が
溶融して半田の接合力が真空の引っ張り力より下廻るま
で、連続して真空吸引をする必要がなく、半田が溶融し
てから部品吸着ノズル34を押し当て真空吸引で取り外
すことができる。
When the electronic component 14 has a plurality of bonding electrode portions as shown in FIGS. 5 and 6, the time until the solder melts differs depending on the respective bonding electrode portions. For example, as shown in FIG. 9, the location as time T a through T d until the solder melts, assuming that different, initiates a long laser bonding electrode part early irradiation time, all solder Irradiation of a plurality of lasers is controlled so that the melting time T 3 is aligned. In this way, when there is a difference in the melting time depending on the pattern of the board 27 or the electronic component 14, the solder is heated from the place where it is difficult to melt, and the heat damage to the board 27 and the electronic component 14 is performed without excessive heating. Can be minimized. Further, since the timing of melting all the solder is controlled to be constant, it is not necessary to continuously perform vacuum suction until the solder melts and the solder bonding force becomes lower than the vacuum pulling force. After the solder is melted, the component suction nozzle 34 can be pressed and removed by vacuum suction.

【0039】このように温度測定によって、予熱温度、
また半田溶融時の加熱の異常を検知でき、半田の未溶融
や基板の焼けを未然に防ぐことができる。以上の作業で
取り外した電子部品は形状検査、電気特性検査を行い良
品の場合は再利用する。不良の場合は、廃棄ボックスへ
廃棄する。
Thus, by measuring the temperature, the preheating temperature,
Further, it is possible to detect an abnormality in heating when the solder is melted, and prevent the unmelting of the solder and the burning of the substrate. The electronic parts removed by the above work are subjected to shape inspection and electric characteristic inspection, and if they are non-defective, they are reused. If it is defective, discard it in the waste box.

【0040】上記実施例は、レーザー光学系11をハー
フミラー(図示せず)を用いて複数個に分岐することに
より光ファイバー12を複数本有することができ、電子
部品の複数の接合部に同時に照射することができる。ま
た基板が多層の基板である場合や接合部がアースランド
である場合やまた電子部品が筐体である場合は、基板ま
た電子部品の熱容量が大きい為常時加熱する必要があ
り、上記実施例は有効である。
In the above embodiment, a plurality of optical fibers 12 can be provided by branching the laser optical system 11 into a plurality using a half mirror (not shown), and a plurality of joints of electronic parts can be irradiated at the same time. can do. If the substrate is a multi-layer substrate, the joint is an earth land, or the electronic component is a housing, it is necessary to constantly heat the substrate or the electronic component because the heat capacity is large. It is valid.

【0041】また、上記実施例では、電子部品を取り外
す手段に真空吸引を用いたが、電子部品の形状によって
は真空吸引が使えない場合がある。そこで真空吸着でき
ない電子部品の取り外し方法を以下に説明する。
Further, in the above embodiment, the vacuum suction is used as the means for removing the electronic component, but the vacuum suction may not be used depending on the shape of the electronic component. Therefore, a method for removing electronic components that cannot be vacuum-sucked will be described below.

【0042】図10,図11にメカ式取り外し手段を示
す。メカ式取り外し手段は吸着ノズル同様XYロボット
2に係止されている修正ヘッド3に設けられ、図4のス
プラインシャフト40の先端に接続されている。メカチ
ャック93には、爪94及び開閉シリンダー95があり
電子部品14を把持することができる。開閉シリンダー
95上部にはバネ96があり、バネ96は常時メカチャ
ック93を上方に引っ張っており、上限センサー97で
上限を検出している。
10 and 11 show the mechanical removing means. Similar to the suction nozzle, the mechanical removal means is provided on the correction head 3 that is locked to the XY robot 2, and is connected to the tip of the spline shaft 40 in FIG. The mechanical chuck 93 has a claw 94 and an opening / closing cylinder 95, and can hold the electronic component 14. A spring 96 is provided above the opening / closing cylinder 95, and the spring 96 constantly pulls the mechanical chuck 93 upward, and the upper limit sensor 97 detects the upper limit.

【0043】上記メカ式取り外し手段の動作について説
明する。電子部品14上方に修正ヘッド3を対向位置さ
せ、図4のノズル上下モータ46によりメカチャック9
3を下降させる。メカチャック93の開閉シリンダー9
5より、爪94を閉じ電子部品14を把持し、ノズル上
下モータ46を上方にΔH持ち上げ、バネ96により常
時上方に引っ張りながらレーザー光を照射する。半田が
再溶融し半田の接合力がバネ96の弾性力より弱くなる
と電子部品14は取り外され、上限センサー97よりこ
れを検知し、電子部品の取り外し完了を検出する。
The operation of the mechanical removing means will be described. The correction head 3 is opposed to above the electronic component 14, and the mechanical chuck 9 is driven by the nozzle vertical motor 46 shown in FIG.
Lower 3 Opening / closing cylinder 9 of the mechanical chuck 93
5, the claw 94 is closed, the electronic component 14 is gripped, the nozzle vertical motor 46 is lifted upward by ΔH, and the laser light is emitted while being constantly pulled upward by the spring 96. When the solder is re-melted and the joining force of the solder becomes weaker than the elastic force of the spring 96, the electronic component 14 is removed, the upper limit sensor 97 detects this, and the completion of removal of the electronic component is detected.

【0044】また、電子部品の接合も真空吸着の場合同
様、メカチャックにより電子部品を移載し行うことによ
り修正することができる。
Further, the joining of the electronic components can be corrected by transferring the electronic components by a mechanical chuck as in the case of vacuum suction.

【0045】以上、電子部品を取り外す場合の修正作業
の説明を行ったが、次の実施例として、電子部品そのも
のは不良ではなく、接続端子部の半田余剰や半田不足に
よる不良の修正方法について説明する。もちろんこの場
合においても、前記実施例同様基板予熱を行うことによ
り、予熱効果が発揮されることは言うまでもない。
The correction work when the electronic component is removed has been described above, but as the next embodiment, the electronic component itself is not a defect, and a method of correcting a defect due to excess solder or insufficient solder at the connection terminal portion will be described. To do. Of course, in this case as well, it is needless to say that the preheating effect is exhibited by preheating the substrate as in the above embodiment.

【0046】図12に示される半田余剰の場合は、レー
ザーを局所的に照射し半田を溶融させ半田吸い取り器9
8により半田を除去し、余剰半田による接合不良を修正
する。この際、半田を除去しすぎないために、検査ピン
(図示しない)を用いて、接合部間の導通を検出しなが
ら行い、導通がなくなったところで修正を終えることも
できる。
In the case of the excess solder as shown in FIG. 12, the laser is locally irradiated to melt the solder to remove the solder sucker 9
The solder is removed by 8 and the joint failure due to the excess solder is corrected. At this time, since the solder is not removed too much, the inspection pin (not shown) can be used to detect the conduction between the joints, and the correction can be finished when the conduction is lost.

【0047】また、図13に示される半田不足の場合
は、ディスペンサー99によりクリーム半田100を半
田不足部に供給し、レーザーを局所的に照射しクリーム
半田100を溶融させ半田接合し、半田不足による接合
不良を修正する。ここで、接合媒体にクリーム半田10
0を用いたが、糸半田101を供給しても同じ効果を得
ることができる。
In the case of insufficient solder shown in FIG. 13, the cream solder 100 is supplied to the insufficient solder portion by the dispenser 99, laser is locally irradiated to melt the cream solder 100, and solder joining is performed. Correct the joint failure. Here, the cream solder 10 is used as the bonding medium.
Although 0 was used, the same effect can be obtained by supplying the thread solder 101.

【0048】また、以上の実施例において、基板予熱部
7の熱源にはエアドライヤを用いたが、図14に示すキ
セノンランプ、赤外線ランプのような他の光線照射手段
でも良く、また図15に示すヒータ102を内蔵したヒ
ートブロック103を熱源とし、ヒータ駆動手段104
により基板27を予熱する方式でも、同じ効果を得るこ
とができる。
Further, in the above embodiments, the air dryer is used as the heat source of the substrate preheating section 7, but other light irradiating means such as a xenon lamp or an infrared lamp shown in FIG. 14 may be used, or shown in FIG. The heat block 103 having the heater 102 built therein is used as a heat source, and the heater driving means 104 is used.
With the method of preheating the substrate 27, the same effect can be obtained.

【0049】以上が修正工程を担当する装置の説明であ
る。つぎに検査工程、指令工程ならびに修正工程のシス
テム構成に関する説明を図1を用いて行う。
The above is the description of the apparatus in charge of the correction process. Next, a system configuration of the inspection process, the command process and the correction process will be described with reference to FIG.

【0050】実施例の冒頭で述べたように、基板に電子
部品を装着し半田付けした後、基板を検査装置で検査す
るが、この工程が図1のIで示されている。すなわちス
テップ102で基板の電気的動作テストおよび電気特性
テストを行い、問題がなければステップ166で示され
る次工程に移される。ステップ102で問題があればス
テップ104で、その原因が電子部品の不良のためかど
うかを調べる。電子部品が不良の原因である場合はステ
ップ108で不良電子部品の品番、取り付け位置(X座
標、Y座標)をメモリーに記憶させる。電子部品が良品
の場合は、接続端子を3次元的に判断するステップ10
6で接続端子の半田量の不足かどうかを調べ、不足の場
合はステップ110で半田不足端子の位置(X座標、Y
座標)をメモリーに記憶させる。半田量が不足でなけれ
ば、接続端子同士が電気的に短絡しているかどうかを調
べるステップ112で半田量が過剰かどうかを調べ、半
田過剰で接続端子同士が電気的短絡を引き起こしている
場合は半田過剰端子の位置(X座標、Y座標)をメモリ
ーに記憶させる。過剰でなければステップ114で再検
査をする。以上が検査工程の内容である。
As described in the beginning of the embodiment, after mounting the electronic components on the board and soldering the board, the board is inspected by the inspection apparatus. This step is shown by I in FIG. That is, an electrical operation test and an electrical characteristic test of the substrate are performed in step 102, and if there is no problem, the process proceeds to the next step shown in step 166. If there is a problem in step 102, it is checked in step 104 whether the cause is a defective electronic component. If the electronic component is the cause of the defect, in step 108 the product number and mounting position (X coordinate, Y coordinate) of the defective electronic component are stored in the memory. If the electronic component is a non-defective product, the connection terminal is three-dimensionally determined Step 10
In step 6, it is checked whether or not the solder amount of the connection terminal is insufficient, and if it is insufficient, in step 110 the position of the insufficient solder terminal (X coordinate, Y coordinate)
Memory). If the amount of solder is not insufficient, it is checked in step 112 to check whether the connecting terminals are electrically short-circuited with each other. In step 112, if the amount of solder is excessive, the connecting terminals cause an electrical short-circuit. The position (X coordinate, Y coordinate) of the excessive solder terminal is stored in the memory. If it is not excessive, re-examination is performed in step 114. The above is the contents of the inspection process.

【0051】Iの検査工程の情報はつぎの指令工程IIに
入力される。先ず、接続端子の半田量が不足の場合は半
田量を追加する指令を出力する。また接続端子の半田量
が過剰の場合は半田量を吸い取る指令を出力する。電子
部品が不良の場合は、電子部品を交換するかどうかを決
定し、交換または取り外しの指令を出力する。電子部品
が不良の場合は最終的にはその不良の電子部品を交換し
ないことには基板の修正は完成しないが、作業効率、作
業計画によっては、ひとまず取り外すだけの作業にとど
めて、後で一括して交換した方が良い場合もあるので上
記した交換または取り外しの決定が必要である。
Information of the inspection process I is input to the next command process II. First, when the solder amount of the connection terminal is insufficient, a command to add the solder amount is output. If the amount of solder in the connection terminal is excessive, a command to absorb the amount of solder is output. If the electronic component is defective, it is determined whether or not to replace the electronic component, and a command for replacement or removal is output. When an electronic component is defective, the board will not be completely repaired until the defective electronic component is replaced, but depending on the work efficiency and work plan, the work may only be done for the time being, and then the batch operation may be performed later. In some cases, it is better to replace it with another one, so the above-mentioned decision of replacement or removal is necessary.

【0052】指令工程IIの情報は修正工程IIIに入力さ
れる。修正工程IIIでは指令工程の指令に基づき上述し
た装置が修正作業を実行する。まずいずれの場合も修正
を必要とする基板を図2または図3で説明した基板搬送
部6により修正位置に搬送する。修正位置で位置決めさ
れた基板の修正を必要とする内容および位置(X座標、
Y座標)はすでに検査工程Iでメモリーに記憶させてあ
るので、その情報に基づき図2のXYロボットが修正ヘ
ッド3の位置決めを行う。そして既に述べた修正ヘッド
が動作して、電子部品の取り外し、半田の吸い取り、ま
たは、半田の追加を実施する。その際取り外した電子部
品または基板は形状検査および電気特性検査を行って正
常な物は再利用し、そうでないものは廃棄する。電子部
品の交換を指令された場合は、電子部品を取り外した
後、図3の部品移載装置4により良品の電子部品が部品
収納部5から供給される。
Information on the command process II is input to the correction process III. In the correction process III, the above-mentioned device executes the correction work based on the command of the command process. First, in any case, the substrate that needs to be corrected is transferred to the correction position by the substrate transfer unit 6 described in FIG. 2 or FIG. Contents and positions (X coordinate, which require correction of the board positioned at the correction position,
Since the (Y coordinate) is already stored in the memory in the inspection process I, the XY robot of FIG. 2 positions the correction head 3 based on the information. Then, the above-described correction head operates to remove the electronic component, absorb the solder, or add the solder. At that time, the removed electronic component or substrate is subjected to a shape inspection and an electric characteristic inspection, a normal product is reused, and a normal product is discarded. When an instruction to replace the electronic component is given, after the electronic component is removed, the component transfer device 4 of FIG. 3 supplies a non-defective electronic component from the component storage unit 5.

【0053】以上の検査工程I、指令工程II、修正工程
IIIを完了した基板は再びステップ164の基板検査を
受け、不良がなければステップ166の次工程に進む。
不良があれば再度ステップ104の検査に戻る。
Inspection process I, command process II, correction process described above
The substrate for which III has been completed is again subjected to the substrate inspection of step 164, and if there is no defect, the process proceeds to the next process of step 166.
If there is a defect, the process returns to the inspection of step 104 again.

【0054】このように本発明の電子部品修正装置によ
れば、検査工程、指令工程、修正工程をシステムとして
組み込んでいるので、手作業あるいは作業者の判断を必
要とせず不良の電子部品の接続端子の修正を行うことが
できる。
As described above, according to the electronic component repairing apparatus of the present invention, the inspection process, the commanding process, and the repairing process are incorporated as a system, so that the defective electronic components can be connected without the need for manual work or operator's judgment. The terminal can be modified.

【0055】[0055]

【発明の効果】以上の実施例から明らかなように、本発
明によれば検査工程、指令工程、修正工程をシステムと
して組み込んでいるので、手作業あるいは作業者の判断
を必要とせず自動的に修正作業を行わせることができ
る。また修正工程における修正作業は、必要な予備加
熱、温度測定、等により電子部品や基板に与える損傷を
最小限にする工夫を取り入れているので、従来の方法で
は廃棄していた電子部品や基板を廃棄することなく再利
用することも可能で生産性の向上、品質向上のみならず
省資源にも寄与する所が大きい。
As is apparent from the above embodiments, according to the present invention, the inspection process, the command process, and the correction process are incorporated as a system, so that the inspection process, the command process, and the correction process are automatically performed without requiring manual work or operator's judgment. Correction work can be performed. In addition, since the repair work in the repair process incorporates measures to minimize damage to electronic parts and boards due to necessary preheating, temperature measurement, etc., electronic parts and boards that were discarded by the conventional method are discarded. It can be reused without being discarded, which greatly contributes not only to improving productivity and quality but also to resource saving.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例による検査工程、指令工程、
修正工程のブロック図
FIG. 1 shows an inspection process, a command process, and an inspection process according to an embodiment of the present invention.
Block diagram of correction process

【図2】本発明の一実施例による電子部品修正装置の外
観図
FIG. 2 is an external view of an electronic component correction device according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例による電子部品修正装置の基
板搬送部、基板予熱部、および修正位置の斜視図
FIG. 3 is a perspective view of a board conveying section, a board preheating section, and a correction position of an electronic component correcting apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例による電子部品修正装置の修
正ヘッドの斜視図
FIG. 4 is a perspective view of a repair head of an electronic component repair device according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例による電子部品修正装置にお
ける部品吸着ノズルを電子部品に接近させつつ加熱手段
を動作させたときの斜視図
FIG. 5 is a perspective view when the heating means is operated while the component suction nozzle is close to the electronic component in the electronic component repairing apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例による電子部品修正装置にお
ける部品吸着ノズルにより電子部品を取り外したときの
斜視図
FIG. 6 is a perspective view when an electronic component is removed by a component suction nozzle in the electronic component correction device according to the embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施例による電子部品修正装置の加
熱手段のレーザー光学系の断面図
FIG. 7 is a sectional view of a laser optical system of a heating means of an electronic component repairing device according to an embodiment of the present invention.

【図8】本発明の一実施例による電子部品修正装置にお
ける対象物の温度変化を示す図
FIG. 8 is a diagram showing a temperature change of an object in the electronic component repairing apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図9】本発明の一実施例による電子部品修正装置の加
熱手段の動作タイミング図
FIG. 9 is an operation timing chart of the heating means of the electronic component correcting apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図10】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
メカ式取り外し手段の斜視図
FIG. 10 is a perspective view of a mechanical detaching means of the electronic component correcting apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図11】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
メカ式取り外し手段の動作説明図
FIG. 11 is an operation explanatory view of a mechanical detaching means of the electronic component correcting apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図12】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
半田の吸い取り動作説明図
FIG. 12 is an explanatory diagram of a solder sucking operation of the electronic component repairing device according to the embodiment of the present invention.

【図13】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
半田の追加動作説明図
FIG. 13 is an explanatory diagram of a solder addition operation of the electronic component repairing device according to the embodiment of the present invention.

【図14】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
基板の予備加熱方法の第2実施例の概念図
FIG. 14 is a conceptual diagram of a second embodiment of a substrate preheating method for an electronic component repairing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図15】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
基板の予備加熱方法の第3実施例の概念図
FIG. 15 is a conceptual diagram of a third embodiment of a substrate preheating method for an electronic component repairing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図16】従来例の手作業による基板の修正作業の説明
FIG. 16 is an explanatory diagram of a manual board correction work in a conventional example.

【図17】従来例の手作業による電子部品の取り外し作
業の説明図
FIG. 17 is an explanatory view of a conventional manual removal work of electronic components.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

I 検査工程 II 指令工程 III 修正工程 102 基板の電気動作を含む電気特性検査ステップ 104 電子部品の電気特性不良検出ステップ 106 接続端子の半田量検出ステップ 112 接続端子の電気的短絡検出ステップ I Inspection process II Command process III Correction process 102 Electrical property inspection step including electrical operation of board 104 Electronic component failure detection step 106 Connection terminal solder amount detection step 112 Connection terminal electrical short detection step

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】電子部品を半田付けにより接続された基板
の電気的動作を含む電気特性を検査するステップと、電
子部品の電気特性不良を検出するステップと、電子部品
の接続端子を3次元的に判断するステップと、電子部品
の接続端子の電気的短絡を検査するステップとで構成さ
れ上記基板の電気的動作を含む電気特性の不良原因を、
上記基板に搭載された電子部品と、接続端子の半田量過
剰と、接続端子の半田量不足とに分類する検査工程と、
上記検査工程の分類結果に基づき、上記基板に搭載され
た電子部品の取り外しおよび交換の指令と、半田量追加
の指令と、半田量吸い取りの指令のいずれかを出力する
指令工程と、上記指令工程の出力に基づき、電子部品の
取り外しと交換作業と、半田追加作業と、半田吸い取り
作業とを実施する修正工程とよりなる電子部品修正装
置。
1. A step of inspecting electrical characteristics including electrical operation of a board to which an electronic component is connected by soldering, a step of detecting a defective electrical characteristic of the electronic component, and a connection terminal of the electronic component being three-dimensional. The cause of the electrical characteristics, including the electrical operation of the substrate, which consists of the step of determining, and the step of inspecting an electrical short circuit of the connection terminal of the electronic component,
An electronic component mounted on the board, an excessive amount of solder for the connection terminal, and an inspection step for classifying into insufficient solder amount for the connection terminal,
Based on the classification result of the inspection process, a command process for outputting one of a command for removing and replacing an electronic component mounted on the board, a command for adding a solder amount, and a command for absorbing a solder amount, and the command process Based on the output of the electronic component repairing device, which includes a repairing process of removing and replacing electronic components, adding solder, and removing solder.
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