JPH05235536A - Electronic parts correction equipment - Google Patents

Electronic parts correction equipment

Info

Publication number
JPH05235536A
JPH05235536A JP3308992A JP3308992A JPH05235536A JP H05235536 A JPH05235536 A JP H05235536A JP 3308992 A JP3308992 A JP 3308992A JP 3308992 A JP3308992 A JP 3308992A JP H05235536 A JPH05235536 A JP H05235536A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
correction
board
component
solder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3308992A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaru Yamauchi
大 山内
Kazuyoshi Yamaguchi
和義 山口
Masaru Ichihara
勝 市原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP3308992A priority Critical patent/JPH05235536A/en
Publication of JPH05235536A publication Critical patent/JPH05235536A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Automatic Assembly (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To realize automating wherein a robot is used for correction work, instead of the conventional hand working, when inspection is performed and an imperfect parts is corrected, after the electronic parts is mounted on a substrate by soldering. CONSTITUTION:The title equipment is provided with a substrate carrying part 6 which conveys a substrate judged to be imperfect from a supply position to a correction position 8, and a correction head 3 which is moved in the correction position by an X-Y robot and performs correction work. The correction head 3 heats an electronic parts connection terminal as an correction object with laser light, and detaches the object electronic parts by using a parts sucking nozzle connected with a vacuum source. Thereby hand working is not necessary, and correction is enabled while the damage to an electronic parts and a substrate is reduced to a minimum.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、多数の電子部品を取り
付けたのち半田付けした基板を検査装置で検査し、上記
半田付け後の基板に不良が発見された場合自動的に上記
不良を修正する装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention inspects a board, to which a large number of electronic parts have been attached and then soldered, with an inspection device, and automatically corrects the failure if a failure is found in the board after soldering. Related to the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近の電子回路の組立は、基板にIC、
コンデンサ等の多数の電子部品をロボットにより装着し
たのち上記電子部品の端子部を一括半田付けで電気的に
接続する。その後、上記の半田付け後の基板を検査装置
により検査し、不良が発見された場合は手作業で修正を
行っていた。
2. Description of the Related Art Recently, electronic circuits have been assembled on a substrate by an IC,
After mounting a large number of electronic parts such as capacitors by a robot, the terminals of the electronic parts are electrically connected by collective soldering. After that, the board after soldering is inspected by an inspection apparatus, and if a defect is found, it is manually corrected.

【0003】図15は電子部品14の端子62の半田量
が不足した場合の手作業による修正作業の様子を示した
もので、図に示すように棒状の半田101を半田こて1
31により溶融して適当量を追加する。また半田量が過
剰の場合は半田こてで溶融しつつ半田吸い取り器(図示
してない)で過剰の半田を吸い取る。
FIG. 15 shows a state of manual correction work when the solder amount of the terminal 62 of the electronic component 14 is insufficient. As shown in the figure, a rod-shaped solder 101 is used for the soldering iron 1
Melt by 31 and add an appropriate amount. When the amount of solder is excessive, the solder is melted by the soldering iron and the excess solder is sucked by a solder sucker (not shown).

【0004】不良の内容によっては電子部品自身が不良
であることもあるので、その場合は不良の電子部品を取
り除き、正常な電子部品と交換することがある。図16
はこのような電子部品の取り除き作業を示したものであ
るが、半田こて131の先端で電子部品の端子を加熱
し、半田が溶融した時ピンセット132を用いて電子部
品の端子62bを基板の端子62aから取り外すのであ
る。最近のIC等は1個の部品でも端子の数が多いの
で、端子の取り外し作業は大変な熟練と手間を必要とし
ていた。
Since the electronic component itself may be defective depending on the content of the defect, in that case, the defective electronic component may be removed and replaced with a normal electronic component. FIG.
Shows the work of removing such an electronic component. When the terminal of the electronic component is heated at the tip of the soldering iron 131 and the solder melts, the tweezers 132 are used to connect the terminal 62b of the electronic component to the substrate. It is removed from the terminal 62a. Since a recent IC or the like has a large number of terminals even with one component, the work of removing the terminals requires a great deal of skill and effort.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述した手作業による
修正作業は、熟練した作業者が長時間を必要とする困難
な作業であった。半田量の不足の時に半田を追加すると
いう比較的簡単な不良であっても、追加の半田の量が多
すぎると隣の端子とショートして不良になってしまう。
また半田量が過剰の時に、半田を吸い取りし過ぎると接
続が弱くなってやはり不良となる。最近の基板は実装密
度が高く部品の端子の間隔が極めて接近しているので上
記作業はますます困難なものになっている。
The above-described manual correction work is a difficult work that requires a long time for a skilled worker. Even a relatively simple defect in which solder is added when the amount of solder is insufficient, if the amount of additional solder is too large, it short-circuits with the adjacent terminal and becomes defective.
Further, when the amount of solder is excessive, if the solder is sucked too much, the connection will be weakened and it will also be defective. The above-mentioned work is becoming more and more difficult due to the high packaging density of recent boards and the extremely close spacing of component terminals.

【0006】さらにIC等で代表されるごとく最近の電
子部品は接続端子の数が多いが、このような多数の端子
を持った電子部品を取り外そうとすると、端子を1個ず
つ半田を溶融し取り外すという作業を端子の数だけ繰り
返さなければならず、それだけでも大変な手間である。
しかもこのような作業をしている間に基板の銅箔端子部
を傷つけると結局その基板全体が不良になり廃棄してし
まわなくてはならず、経済的損失は非常に大きなもので
あった。
Further, recent electronic parts such as ICs have a large number of connection terminals, but when an electronic part having such a large number of terminals is to be removed, the solder is melted one by one. Then, it is necessary to repeat the work of removing the terminals as many times as there are terminals, which alone is a troublesome task.
Moreover, if the copper foil terminal portion of the substrate is damaged during such work, the entire substrate eventually becomes defective and must be discarded, resulting in a great economic loss.

【0007】本発明は上記課題を解決するもので、基板
の不良を自動的に修正する装置を提供することを目的と
している。
The present invention is intended to solve the above problems, and an object thereof is to provide an apparatus for automatically correcting a defect of a substrate.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、複数の電子部品を半田付けで固定した基板
を基板供給位置から部品修正位置まで搬送する基板搬送
部と、上記基板搬送経路上で基板を予熱する基板予熱部
と、上記部品修正位置でX軸方向・Y軸方向に動作可能
なロボットに支持され移動する修正ヘッドとよりなるも
のである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a board transfer section for transferring a board having a plurality of electronic components fixed by soldering from a board supply position to a component correction position, and the board transfer section. It comprises a substrate preheating unit for preheating the substrate on the path, and a correction head which is supported and moved by a robot operable in the X-axis direction and the Y-axis direction at the component correction position.

【0009】さらに本発明は上記部品修正ヘッドが、真
空源につながり先端を部品修正位置における電子部品の
上方に位置した部品吸着ノズルと、上記電子部品の接続
端子の半田を非接触で加熱する加熱手段とよりなり、上
記加熱手段で上記接続端子の半田を溶融しつつ上記部品
吸着ノズルにより上記電子部品を取り外すものである。
Further, according to the present invention, the component correcting head heats the component suction nozzle, which is connected to a vacuum source and whose tip is located above the electronic component at the component correcting position, and the solder of the connection terminal of the electronic component without contact. Means for removing the electronic component by the component suction nozzle while melting the solder of the connection terminal by the heating means.

【0010】さらに本発明における修正ヘッドの加熱手
段は、レーザー光線をレーザー光源より部品修正位置ま
で伝送する光ファイバーと、上記光ファイバーの先端か
ら放射されるレーザー光を集光する出射光学部と、上記
出射光学部から放射されるレーザー光を基板上に楕円形
状の焦点を結ばせるシリンドリカルレンズとより構成さ
れているものである。
Further, the heating means of the correction head according to the present invention comprises an optical fiber for transmitting a laser beam from a laser light source to a component correction position, an emission optical section for condensing laser light emitted from the tip of the optical fiber, and the emission light. It consists of a cylindrical lens that focuses laser light emitted from the department onto the substrate in an elliptical shape.

【0011】[0011]

【作用】本発明は上記した構成により、手作業を全く必
要とせず、電子部品や基板に与える損傷を最小限にし
て、不良の電子部品の接続端子の半田付けの修正、不良
の電子部品と良品の電子部品の交換を行うことができ
る。
With the above-described structure, the present invention requires no manual work, minimizes damage to electronic components and boards, corrects soldering of connection terminals of defective electronic components, and eliminates defective electronic components. Good electronic components can be replaced.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】図1は、不良と判断された電子部品を修正
する電子部品修正装置を示している。以下にこの装置の
構成を説明する。
FIG. 1 shows an electronic component repairing device for repairing an electronic component which is determined to be defective. The configuration of this device will be described below.

【0014】本体フレーム部1上には、XYロボット2
が設置されており、このXYロボット上には後述する修
正ヘッド3が係止されている。
An XY robot 2 is mounted on the body frame 1.
Is installed, and a correction head 3 described later is locked on the XY robot.

【0015】部品移載装置4は部品収納部5に収納され
ている電子部品を前記XYロボット2の可動範囲に移載
する。基板27は基板搬送部6により、基板予熱部7を
経て部品修正位置8に搬送される。部品修正装置全体の
操作は、装置全面に設けられた操作パネル9によって行
う。本実施例は、電子部品を修正するために必要な半田
を溶融する加熱源にYAGレーザーを用いた例で、YA
Gレーザーはレーザー電源10およびレーザー光学系1
1によって発生し、光ファイバー12を通じて修正ヘッ
ド3まで伝送される構成である。13はフラックス塗布
部である。
The component transfer device 4 transfers the electronic components stored in the component storage section 5 to the movable range of the XY robot 2. The board 27 is carried by the board carrying section 6 to the component correction position 8 via the board preheating section 7. The operation of the entire component correction device is performed by the operation panel 9 provided on the entire surface of the device. The present embodiment is an example in which a YAG laser is used as a heating source for melting the solder necessary for correcting electronic parts, and YA
The G laser is a laser power source 10 and a laser optical system 1.
1 and is transmitted to the correction head 3 through the optical fiber 12. Reference numeral 13 is a flux applying section.

【0016】次に部品修正位置8における電子部品の取
り外しの基本動作を図4,図5を用いて説明する。図4
において14は不良と判断された電子部品であり、電子
部品14は多数の接続端子62a,62b,62c,6
2dにおいて基板に半田付けされている。電子部品を基
板から取り外すには上記接続端子62における半田を溶
融しつつ、真空源につながっている部品吸着ノズル34
により上方に引っ張り上げて取り外す。本実施例では半
田を溶融する熱源としてレーザー光線を利用しており、
図1で説明したようにレーザー光線は光ファイバー12
により部品修正位置8まで伝送される。図6に示すよう
に光ファイバー12の先端には集光レンズ65で構成さ
れた出射光学部59があって光ファイバーのコア系の2
〜3倍の大きさまでレーザー光を集光する。出射光学部
59を出たレーザー光はさらにシリンドリカルレンズ6
0により楕円形状に偏光され基板上に焦点を結ぶ。部品
修正位置8においては複数の出射光学部およびシリンド
リカルレンズが設けられていて、図4に示すように電子
部品の周囲を取り巻いている接続端子62を同時に加熱
する。すなわち、シリンドリカルレンズ60aをでたレ
ーザー光は接続端子62aの半田を溶融し、シリンドリ
カルレンズ60bをでたレーザー光は接続端子62bの
半田を溶融する(接続端子62c,62dに対応する出
射光学部およびシリンドリカルレンズは図示されていな
い)。
Next, the basic operation of removing the electronic component at the component correction position 8 will be described with reference to FIGS. Figure 4
14 is an electronic component determined to be defective, and the electronic component 14 has a large number of connection terminals 62a, 62b, 62c, 6
Soldered to the board at 2d. To remove the electronic component from the substrate, the component suction nozzle 34 connected to the vacuum source while melting the solder at the connection terminal 62 is connected.
And pull it up to remove. In this embodiment, a laser beam is used as a heat source for melting solder,
As described in FIG. 1, the laser beam is the optical fiber 12
Is transmitted to the component correction position 8. As shown in FIG. 6, at the tip of the optical fiber 12, there is an output optical part 59 composed of a condenser lens 65, and the output optical part 59 of the optical fiber core system 2 is provided.
Focus the laser light up to 3 times the size. The laser light emitted from the emission optical section 59 is further reflected by the cylindrical lens 6
It is polarized into an elliptical shape by 0 and focuses on the substrate. A plurality of emission optical parts and a cylindrical lens are provided at the component correction position 8 to simultaneously heat the connection terminals 62 surrounding the electronic component as shown in FIG. That is, the laser light emitted from the cylindrical lens 60a melts the solder of the connection terminal 62a, and the laser light emitted from the cylindrical lens 60b melts the solder of the connection terminal 62b (emission optical parts corresponding to the connection terminals 62c and 62d and The cylindrical lens is not shown).

【0017】一方、真空源につながっている部品吸着ノ
ズル34の先端は、図4のΔHに示すように電子部品1
4の上面から僅かに離れて位置しているので上記レーザ
ー光による加熱で半田が溶融し半田の接合力が真空吸引
力より低下すると図5に示すように電子部品14は部品
吸着ノズル34に密着して上方に取り外される。
On the other hand, the tip of the component suction nozzle 34 connected to the vacuum source has an electronic component 1 as shown by ΔH in FIG.
Since it is located slightly away from the upper surface of No. 4, when the solder is melted by the heating by the laser light and the joining force of the solder becomes lower than the vacuum suction force, the electronic component 14 is brought into close contact with the component suction nozzle 34 as shown in FIG. Then it is removed upwards.

【0018】次に図2により、部品移載装置4、基板搬
送部6、基板予熱部7の詳細な構成を説明する。
Next, referring to FIG. 2, a detailed structure of the component transfer device 4, the board transfer section 6, and the board preheating section 7 will be described.

【0019】部品移載装置4は、電子部品14を高精度
に位置規正する部品規正爪15を備えた部品規正部16
を有し、前記部品規正部16はレール17上を移載モー
タ18によって移動し、電子部品14を移載する。
The component transfer device 4 includes a component regulating section 16 having a component regulating claw 15 for precisely regulating the position of the electronic component 14.
The component regulating section 16 is moved on the rail 17 by a transfer motor 18 to transfer the electronic component 14.

【0020】基板搬送部6は、プーリ19と搬送ベルト
20を備えた一対の搬送レール21からなり、搬送ベル
ト20の作動によって基板27は移動される。
The substrate carrying section 6 comprises a pair of carrying rails 21 having a pulley 19 and a carrying belt 20, and the substrate 27 is moved by the operation of the carrying belt 20.

【0021】基板予熱部7は、基板予熱ボックス22
と、エアドライヤ24aから発生する温風を基板予熱ボ
ックス22に供給するダクトホース23aとから構成さ
れ、前記エアドライヤ24aから発生する温風の熱量を
制御するため、電源電圧を好適な状態に調整する電圧調
整器25aが直列に配されている。
The substrate preheating section 7 includes a substrate preheating box 22.
And a duct hose 23a for supplying the hot air generated by the air dryer 24a to the substrate preheating box 22, and a voltage for adjusting the power supply voltage to a suitable state in order to control the heat quantity of the hot air generated by the air dryer 24a. The regulator 25a is arranged in series.

【0022】一方、部品修正位置8には基板規正シリン
ダ26が設けられており、基板27を高精度に位置規正
する。部品修正位置8では、基板27の温度低下を防ぐ
ために、エアドライヤ24b,24c,24dからの温
風が、ダクトホース23b,23c,23dによって導
かれている。また、エアドライヤ24b,24c,24
dが発生する温風の熱量を制御するため、基板予熱部7
の電圧調整器25aと同様に、電圧調整器25b,25
c,25dが配置されている。
On the other hand, a board setting cylinder 26 is provided at the component correction position 8 to position the board 27 with high accuracy. At the component correction position 8, the hot air from the air dryers 24b, 24c, 24d is guided by the duct hoses 23b, 23c, 23d in order to prevent the temperature of the substrate 27 from decreasing. In addition, the air dryers 24b, 24c, 24
In order to control the amount of heat of the warm air generated by d, the substrate preheating unit 7
Of the voltage regulators 25b, 25
c and 25d are arranged.

【0023】フラックス塗布部13は、比重計28と汚
れセンサー29及び液位センサー30を備え、フラック
ス31をフラックスブロック32の凹部に流し込んだ
後、フラックス塗布シリンダー33により汲み上げ、部
品吸着ノズル34により把持されている電子部品14の
接合電極部に下からフラックス31を塗布する。また、
35は部品廃棄ボックスである。
The flux applying section 13 comprises a hydrometer 28, a dirt sensor 29 and a liquid level sensor 30. After the flux 31 is poured into the concave portion of the flux block 32, it is pumped up by the flux applying cylinder 33 and held by the component suction nozzle 34. The flux 31 is applied from below to the bonding electrode portion of the electronic component 14 that is being formed. Also,
Reference numeral 35 is a parts disposal box.

【0024】次に、図3により電子部品取り外し手段と
して真空吸引を用いた修正ヘッド部3の構成を説明す
る。修正ヘッド3は、図1のXYロボット2のX軸架台
36上にLMガイド37及びヘッドフレーム38を介し
て設けられており、LMガイド37上をX軸方向にしゅ
う動し、その駆動は、X軸モータ(図示せず)に連結さ
れたボールネジ39により行われる。スプラインシャフ
ト40は、ベアリング41及びスプラインナット42を
介してヘッドフレーム38に係止されている。またスプ
ラインシャフト40は、スプラインナット42に結合さ
れたプーリ43a、タイミングベルト44a、ノズル回
転モータ45から構成される回転手段によりθ方向に自
在に回転可能である。またスプラインシャフト40の上
下手段として、ノズル上下モータ46の回転が、プーリ
43b,タイミングベルト44bを介してボールネジ4
7に伝達され、ノズル上下ブロック48を上下運動させ
る。ノズル上下ブロック48にはカムフォロワ49が設
けられており、カムフォロワ49はスプラインシャフト
40に係止された円板50を挟んでいるので、スプライ
ンシャフト40を上下方向に動かす。
Next, the structure of the correction head unit 3 using vacuum suction as the electronic component removing means will be described with reference to FIG. The correction head 3 is provided on the X-axis mount 36 of the XY robot 2 of FIG. 1 via the LM guide 37 and the head frame 38, slides on the LM guide 37 in the X-axis direction, and its drive is It is performed by a ball screw 39 connected to an X-axis motor (not shown). The spline shaft 40 is locked to the head frame 38 via a bearing 41 and a spline nut 42. Further, the spline shaft 40 can be freely rotated in the θ direction by a rotating means composed of a pulley 43a connected to the spline nut 42, a timing belt 44a, and a nozzle rotation motor 45. Further, as a means for raising and lowering the spline shaft 40, the rotation of the nozzle up / down motor 46 causes the ball screw 4 to pass through the pulley 43b and the timing belt 44b.
7, and the nozzle up / down block 48 is moved up and down. A cam follower 49 is provided on the nozzle upper / lower block 48, and since the cam follower 49 sandwiches the disc 50 locked by the spline shaft 40, the spline shaft 40 is moved in the vertical direction.

【0025】また、スプラインシャフト40にはノズル
の可動部分のみスプライン加工が施されており、スプラ
インナット42により保持されているために、上下方向
には円滑に動作できる。
Since the spline shaft 40 is splined only on the movable portion of the nozzle and is held by the spline nut 42, it can be operated smoothly in the vertical direction.

【0026】尚、このスプラインシャフト40は中空構
造になっていて、真空ユニット51で発生する真空状態
を配管部品52、ホース53及び回転自在な配管部品5
4を介して部品吸着ノズル34に伝え、電子部品14を
吸着する。シャフトガイド55はスプラインシャフト4
0の回転方向の振れを抑えるために設けられたしゅう動
ガイドであり、ヘッドフレーム38に係止されたブロッ
ク56の上に設置されている。
The spline shaft 40 has a hollow structure so that the vacuum state generated in the vacuum unit 51 can be controlled by the piping component 52, the hose 53 and the rotatable piping component 5.
4 to the component suction nozzle 34 to suck the electronic component 14. The shaft guide 55 is the spline shaft 4
It is a sliding guide provided to suppress the shake of 0 in the rotation direction, and is installed on a block 56 locked to the head frame 38.

【0027】スプラインシャフト40と部品吸着ノズル
34との間に設けられているスプリング57は、スプラ
インシャフト40が降下して電子部品14を基板27上
に装着する際に発生する衝撃力を吸収する働きをする。
58はエアパイプで、レーザー光により溶融した半田を
冷却する空気を噴出するものである。59a,59b,
59c,59dはレーザー光の出射光学部、60a,6
0b,60c,60dはシリンドリカルレンズ、61は
遮光板である。
The spring 57 provided between the spline shaft 40 and the component suction nozzle 34 serves to absorb the impact force generated when the spline shaft 40 descends to mount the electronic component 14 on the substrate 27. do.
Reference numeral 58 denotes an air pipe, which blows air for cooling the solder melted by the laser light. 59a, 59b,
Reference numerals 59c and 59d denote laser light emitting optics, and 60a and 6d.
Reference numerals 0b, 60c and 60d denote cylindrical lenses, and 61 denotes a light shielding plate.

【0028】次に上記電子部品修正の動作について説明
する。図1〜図6において、基板検査により得られた不
良箇所及び内容のデーターに基づき、電子部品の位置ず
れまたは電気特性不良の場合は、XYロボット2に係止
された修正ヘッド3を修正すべき電子部品14の上方に
対向させ、ノズル上下モータ45を駆動してボールネジ
47を回転し、図4に示すように部品吸着ノズル34を
電子部品14上面よりΔHの高さまで下降させると同時
に、修正ヘッド3上に設けられた真空吸引ユニット51
を作動させ、吸着ノズル34により電子部品14を真空
吸引し、同時にシリンドリカルレンズ60により楕円形
状に変光されたレーザー光を接合部62に一括照射す
る。レーザー光による加熱により半田が再溶融して、半
田の接合力が真空吸引力より低下したとき、真空吸引力
により電子部品14が上方に取り外される(図5)。吸
着ノズル34に電子部品14が吸着すると真空吸引ユニ
ット51の真空度が上昇するから、圧力検出手段63に
より真空度を検出することにより電子部品14の取り外
しが完了したことを判断する。取り外された電子部品1
4は、XYロボット2により修正ヘッド3を部品廃棄ボ
ックス35に移動させ廃棄する。
Next, the operation of correcting the electronic parts will be described. 1 to 6, based on the data of the defective portion and the content obtained by the board inspection, if the electronic component is misaligned or the electric characteristic is defective, the correction head 3 locked by the XY robot 2 should be corrected. The nozzle vertical motor 45 is driven to rotate the ball screw 47 so as to face the electronic component 14, and the component suction nozzle 34 is lowered to the height of ΔH from the upper surface of the electronic component 14 as shown in FIG. Vacuum suction unit 51 provided on
The electronic component 14 is vacuum-sucked by the suction nozzle 34, and at the same time, the laser light transformed into an elliptical shape by the cylindrical lens 60 is collectively applied to the joint portion 62. When the solder is re-melted by the heating by the laser light and the bonding force of the solder is lower than the vacuum suction force, the vacuum suction force removes the electronic component 14 upward (FIG. 5). Since the vacuum degree of the vacuum suction unit 51 rises when the electronic component 14 is sucked by the suction nozzle 34, the pressure detecting means 63 detects the vacuum degree to judge that the removal of the electronic component 14 is completed. Electronic component 1 removed
In step 4, the XY robot 2 moves the correction head 3 to the parts discard box 35 and discards it.

【0029】次に、部品収納部5に収納されている良品
の電子部品14を、移載手段(図示せず)により図2に
示す部品移載装置4上の部品規正部16に移載する。こ
の部品規正部16上では、部品規正爪15が電子部品1
4を位置規正を行い、同時に部品規正部16自体がレー
ル17上を移載モータ18の駆動により移動する。この
ようにして部品収納部5内に収納された電子部品14
は、逐次位置規正された状態でXYロボット2の可動範
囲に移載される。このようにして移載されてきた電子部
品14の上方の所定の位置に、図3で説明した修正ヘッ
ド3をXYロボット2により対向位置させ、電子部品1
4を部品吸着ノズル32に吸着させる。
Next, the non-defective electronic component 14 stored in the component storage section 5 is transferred to the component control section 16 on the component transfer apparatus 4 shown in FIG. 2 by transfer means (not shown). .. On the component regulating section 16, the component regulating claw 15 is attached to the electronic component 1.
4 is subjected to position regulation, and at the same time, the component regulation section 16 itself moves on the rail 17 by the drive of the transfer motor 18. The electronic components 14 thus stored in the component storage section 5
Are sequentially transferred to the movable range of the XY robot 2 in a state where the position is regulated. The correction head 3 described with reference to FIG. 3 is made to face the electronic component 1 at a predetermined position above the electronic component 14 thus transferred by the XY robot 2.
4 is sucked by the component suction nozzle 32.

【0030】次に、吸着した電子部品14を図2に示す
フラックス塗布部13上方に位置させ、電子部品14に
フラックス31を塗布し、不良の取り外した電子部品の
位置に新しい電子部品14を移載する。そして再度レー
ザーにより基板27上の接合部62上の半田を溶融さ
せ、ノズル上下モータ46により部品吸着ノズル34を
下降させ電子部品14を基板27に押しつけ、半田を加
熱接合することにより電子部品の修正を完了する。
Next, the attracted electronic component 14 is positioned above the flux applying section 13 shown in FIG. 2, the flux 31 is applied to the electronic component 14, and the new electronic component 14 is moved to the position of the defective removed electronic component. List. Then, the solder again melts the solder on the joint portion 62 on the substrate 27, the nozzle vertical motor 46 lowers the component suction nozzle 34 to press the electronic component 14 against the substrate 27, and the solder is heated and joined to correct the electronic component. To complete.

【0031】この時、基板27は図2に示す上流の基板
予熱部7によってすでに予熱されてから部品修正位置8
に搬送されており、この部品修正位置8に位置している
時も、エアドライヤ24b,24c,24dからの温風
により予熱され続けているので、レーザーによる急激な
加熱による熱ダメージを緩和することができる。
At this time, the board 27 is already preheated by the upstream board preheating unit 7 shown in FIG.
Since it is being preheated by the hot air from the air dryers 24b, 24c, 24d even when it is in the component correction position 8, it is possible to mitigate the thermal damage due to the rapid heating by the laser. it can.

【0032】通常基板には、複数の電子部品がすでに半
田付けされており、基板搬送部6上の基板予熱部7の内
部温度が高温になりすぎると、前記半田が溶融して電子
部品を欠落させる恐れがあるため、エアドライヤ24a
の発生する温風の熱量を、電圧調整器25aにより好適
な値に調整する構成になっている。また、部品修正位置
8に温風を供給しているエアドライヤ24b,24c,
24dについても、同じ理由から電圧調整器25b,2
5c,25dを配置し、予熱効果を保持している。
Usually, a plurality of electronic components are already soldered to the substrate, and when the internal temperature of the substrate preheating unit 7 on the substrate transport unit 6 becomes too high, the solder melts and the electronic components are lost. Air dryer 24a
The amount of heat of the warm air generated by is adjusted to a suitable value by the voltage adjuster 25a. Further, the air dryers 24b, 24c, which supply hot air to the component correction position 8,
For the same reason, the voltage regulators 25b, 2
5c and 25d are arranged to maintain the preheating effect.

【0033】電子部品を修正する際、すでに複数の電子
部品が接続しているので、楕円形状のままでは隣接して
いる電子部品の半田を溶融したり電子部品自身にもレー
ザー光が当たり不良の原因になる。そこで、図3に示す
ように、レーザー光の光路上に遮光板61を設けること
によって周辺への影響を防ぎ、必要な箇所のみに照射す
ることができる。また出射光学部59の附近には赤外線
温度測定器(図示せず)が設けられていて基板27、電
子部品14、接続端子62の温度を測定している。図7
は接続端子62附近の温度変化を示したもので、この部
品修正装置に搬入されてくる時刻T0では、基板27は
室温S1とほぼ同温である。基板27は、基板予熱部7
により予熱温度S2(約100〜120℃)前後に予熱
され、時刻T1には、部品修正位置8に搬送される。こ
の時、基板予熱部7の内部は、基板の温度が予熱温度S
2以上には上がらないように電圧調整器25aによって
エアドライヤ24aの熱量が調整されているため、装置
に異常が起きて基板27が基板予熱部7の内部に滞留す
ることがあっても、半田付けされた電子部品の接合部の
半田を溶融させ電子部品の欠品が起こることはない。時
刻T2において、図5に示すように電子部品14の上方
に対向させてレーザー光を照射すると、温度は急激に上
昇するが半田の再溶融する融点S3付近においては一時
的に温度上昇が止まり、半田の溶融が完了した時刻T3
からは再び急激に温度が上昇する。
Since a plurality of electronic components are already connected when the electronic component is repaired, if the elliptical shape remains, the solder of the adjacent electronic components may be melted or the electronic component itself may be damaged by the laser beam. Cause. Therefore, as shown in FIG. 3, by providing a light shielding plate 61 on the optical path of the laser light, it is possible to prevent the influence on the surroundings and to irradiate only a necessary portion. An infrared temperature measuring device (not shown) is provided near the emitting optical section 59 to measure the temperatures of the substrate 27, the electronic component 14, and the connection terminal 62. Figure 7
Shows the temperature change near the connection terminal 62, and at the time T 0 when it is loaded into the component correction apparatus, the substrate 27 is at almost the same temperature as the room temperature S 1 . The substrate 27 is the substrate preheating unit 7
Is preheated around the preheating temperature S 2 (about 100 to 120 ° C.), and is transported to the component correction position 8 at time T 1 . At this time, inside the substrate preheating unit 7, the temperature of the substrate is the preheating temperature S.
Since the heat quantity of the air dryer 24a is adjusted by the voltage regulator 25a so that the voltage does not rise to more than 2 , even if the board 27 may stay inside the board preheating part 7 due to an abnormality in the device, soldering There is no possibility that the solder in the bonded portion of the electronic component is melted and the electronic component is out of stock. At time T 2 , as shown in FIG. 5, when the laser light is irradiated so as to face the upper side of the electronic component 14, the temperature rises rapidly, but the temperature rises temporarily near the melting point S 3 at which the solder is remelted. Time T 3 when the solder stops and the melting of the solder is completed
Then, the temperature rises sharply again.

【0034】ここで半田が溶融して半田の接合力が真空
吸引力よりも弱くなると電子部品14が取り外され、吸
着ノズル34に電子部品14が吸着し真空度の上昇を圧
力検出手段63で検知するとレーザーの照射を止める。
その時の時刻が時刻T4で温度が温度S4である。図4,
図5に示す様に電子部品14が複数の接合電極部を有す
る場合、半田の溶融するまでの時間はそれぞれの接合電
極部により異なる。例えば図8に示すように、半田が溶
融するまでの時間がTa〜Tdのように場所により異なっ
ていたとすると、時間の長い接合電極部レーザーは早く
照射を開始し、全ての半田が溶融する時間T3を揃える
ように複数のレーザーの照射を制御する。このように基
板27のパターンや電子部品14によって溶融時間に差
が生じた場合、半田が溶融しにくいところから加熱する
ことにより、必要以上の加熱をせず基板27また電子部
品14に与える熱ダメージを最小にすることができる。
また、全ての半田が溶融するタイミングを一定になるよ
う制御しているので、半田が溶融して半田の接合力が真
空の引っ張り力より下廻るまで、連続して真空吸引をす
る必要がなく、半田が溶融してから部品吸着ノズル34
を押し当て真空吸引で取り外すことができる。このよう
に温度測定によって、予熱温度、また半田溶融時の加熱
の異常を検知でき、半田の未溶融や基板の焼けを未然に
防ぐことができる。以上の作業で取り外した電子部品は
形状検査、電気特性検査を行い良品の場合は再利用す
る。不良の場合は、廃棄ボックスへ廃棄する。上記実施
例は、レーザー光学系11をハーフミラー(図示せず)
を用いて複数個に分岐することにより光ファイバー12
を複数本有することができ、電子部品の複数の接合部に
同時に照射することができる。また基板が多層の基板で
ある場合や接合部がアースランドである場合やまた電子
部品が筐体である場合は、基板また電子部品の熱容量が
大きい為常時加熱する必要があり、上記実施例は有効で
ある。
Here, when the solder melts and the joining force of the solder becomes weaker than the vacuum suction force, the electronic component 14 is removed, the electronic component 14 is sucked by the suction nozzle 34, and the increase in the degree of vacuum is detected by the pressure detection means 63. Then the laser irradiation is stopped.
At that time, the time is T 4 and the temperature is the temperature S 4 . Figure 4,
When the electronic component 14 has a plurality of bonding electrode portions as shown in FIG. 5, the time until the solder melts differs depending on the respective bonding electrode portions. For example, as shown in FIG. 8, if the time until the solder is melted varies from place to place, such as T a to T d , the bonding electrode laser with a long time starts irradiation early and all the solder melts. Irradiation of a plurality of lasers is controlled so that the time T 3 to be adjusted is made uniform. In this way, when there is a difference in the melting time depending on the pattern of the board 27 or the electronic component 14, the solder is heated from the place where it is difficult to melt, and the heat damage to the board 27 and the electronic component 14 is performed without excessive heating. Can be minimized.
Further, since the timing of melting all the solder is controlled to be constant, it is not necessary to continuously perform vacuum suction until the solder is melted and the bonding force of the solder becomes lower than the pulling force of the vacuum. After the solder melts, the component suction nozzle 34
It can be removed by pressing and vacuum suction. Thus, by measuring the temperature, it is possible to detect the preheating temperature and the abnormality in the heating when the solder is melted, and it is possible to prevent the unmelting of the solder and the burning of the substrate. The electronic parts removed by the above work are subjected to shape inspection and electric characteristic inspection, and if they are non-defective, they are reused. If it is defective, discard it in the waste box. In the above embodiment, the laser optical system 11 is a half mirror (not shown).
Optical fiber 12
Can be provided in plurality, and a plurality of joints of the electronic component can be simultaneously irradiated. If the substrate is a multi-layer substrate, the joint is an earth land, or the electronic component is a housing, it is necessary to constantly heat the substrate or the electronic component because the heat capacity is large. It is valid.

【0035】また、上記実施例では、電子部品を取り外
す手段に真空吸引を用いたが、電子部品の形状によって
は真空吸引が使えない場合がある。そこで真空吸着でき
ない電子部品の取り外し方法を以下に説明する。
Further, in the above embodiment, the vacuum suction is used as the means for removing the electronic component. However, depending on the shape of the electronic component, the vacuum suction may not be used. Therefore, a method for removing electronic components that cannot be vacuum-sucked will be described below.

【0036】図9,図10にメカ式取り外し手段を示
す。メカ式取り外し手段は吸着ノズル同様XYロボット
2に係止されている修正ヘッド3に設けられ、図3のス
プラインシャフト40の先端に接続されている。メカチ
ャック93には、爪94及び開閉シリンダー95があり
電子部品14を把持することができる。開閉シリンダー
95上部にはバネ96があり、バネ96は常時メカチャ
ック93を上方に引っ張っており、上限センサー97で
上限を検出している。
9 and 10 show the mechanical removing means. Similar to the suction nozzle, the mechanical removal means is provided on the correction head 3 that is locked to the XY robot 2, and is connected to the tip of the spline shaft 40 in FIG. The mechanical chuck 93 has a claw 94 and an opening / closing cylinder 95, and can hold the electronic component 14. A spring 96 is provided above the opening / closing cylinder 95, and the spring 96 constantly pulls the mechanical chuck 93 upward, and the upper limit sensor 97 detects the upper limit.

【0037】上記メカ式取り外し手段の動作について説
明する。電子部品14上方に修正ヘッド3を対向位置さ
せ、図3のノズル上下モータ46によりメカチャック9
3を降下させる。メカチャック93の開閉シリンダー9
5より、爪94を閉じ電子部品14を把持し、ノズル上
下モータ46を上方にΔH持ち上げ、バネ96により常
時上方に引っ張りながらレーザー光を照射する。半田が
再溶融し半田の接合力がバネ96の弾性力より弱くなる
と電子部品14は取り外され、上限センサー97よりこ
れを検知し、電子部品の取り外し完了を検出する。
The operation of the mechanical detaching means will be described. The correction head 3 is opposed to above the electronic component 14, and the mechanical chuck 9 is driven by the nozzle vertical motor 46 shown in FIG.
Drop 3 Opening / closing cylinder 9 of the mechanical chuck 93
5, the claw 94 is closed, the electronic component 14 is gripped, the nozzle vertical motor 46 is lifted upward by ΔH, and the laser light is emitted while being constantly pulled upward by the spring 96. When the solder is re-melted and the joining force of the solder becomes weaker than the elastic force of the spring 96, the electronic component 14 is removed, the upper limit sensor 97 detects this, and the completion of removal of the electronic component is detected.

【0038】また、電子部品の接合も真空吸着の場合同
様、メカチャックにより電子部品を移載し行うことによ
り修正することができる。
Further, the joining of the electronic components can be corrected by transferring the electronic components by a mechanical chuck as in the case of vacuum suction.

【0039】以上、電子部品を取り外す場合の修正作業
の説明を行ったが、次の実施例として、電子部品そのも
のは不良ではなく、接続端子部の半田余剰や半田不足に
よる不良の修正方法について説明する。もちろんこの場
合においても、前記実施例同様基板予熱を行うことによ
り、予熱効果が発揮されることは言うまでもない。
The correction work when the electronic component is removed has been described above, but as the next embodiment, a method of correcting a defect due to excess solder or insufficient solder at the connection terminal portion, not the electronic component itself is described. To do. Of course, in this case as well, it is needless to say that the preheating effect is exhibited by preheating the substrate as in the above embodiment.

【0040】図11に示される半田余剰の場合は、レー
ザーを局所的に照射し半田を溶融させ半田吸い取り器9
8により半田を除去し、余剰半田による接合不良を修正
する。この際、半田を除去しすぎないために、検査ピン
(図示しない)を用いて、接合部間の導通を検出しなが
ら行い、導通がなくなったところで修正を終えることも
できる。
In the case of excess solder as shown in FIG. 11, laser is locally irradiated to melt the solder, and the solder sucker 9 is used.
The solder is removed by 8 and the joint failure due to the excess solder is corrected. At this time, since the solder is not removed too much, the inspection pin (not shown) can be used to detect the conduction between the joints, and the correction can be finished when the conduction is lost.

【0041】また、図12に示される半田不足の場合
は、ディスペンサー99によりクリーム半田100を半
田不足部に供給し、レーザーを局所的に照射しクリーム
半田100を溶融させ半田接合し、半田不足による接合
不良を修正する。ここで、接合媒体にクリーム半田10
0を用いたが、糸半田101を供給しても同じ効果を得
ることができる。
In the case of insufficient solder as shown in FIG. 12, the dispenser 99 supplies the cream solder 100 to the insufficient solder portion and locally irradiates the laser to melt the cream solder 100 to perform solder joining. Correct the joint failure. Here, the cream solder 10 is used as the bonding medium.
Although 0 was used, the same effect can be obtained by supplying the thread solder 101.

【0042】また、以上の実施例において、基板予熱部
7の熱源にはエアドライヤを用いたが、図13に示すキ
セノンランプ、赤外線ランプのような他の光線照射手段
でも良く、また図14に示すヒータ102を内蔵したヒ
ートブロック103を熱源とし、ヒータ駆動手段104
により基板27を予熱する方式でも、同じ効果を得るこ
とができる。
Further, in the above embodiments, the air dryer was used as the heat source of the substrate preheating section 7, but other light irradiating means such as a xenon lamp or an infrared lamp shown in FIG. 13 may be used, and also shown in FIG. The heat block 103 having the heater 102 built therein is used as a heat source, and the heater driving means 104 is used.
With the method of preheating the substrate 27, the same effect can be obtained.

【0043】このように本発明の電子部品修正装置によ
れば、手作業を必要とせず不良の電子部品の接続端子の
修正を行うことができる。
As described above, according to the electronic component repairing apparatus of the present invention, the connection terminal of the defective electronic component can be repaired without requiring manual work.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上の実施例から明らかなように、本発
明によれば検査装置により不良を発見された基板を、供
給位置から修正位置に搬送し、修正位置において修正ヘ
ッドにより自動的に修正作業を行わせることができるの
で、従来のような手作業を全く廃することが可能とな
り、かつ修正作業における電子部品や基板に与える損傷
を最小限にすることが可能となり生産性の向上、ならび
に品質向上に貢献する所が大きいものである。
As is apparent from the above embodiments, according to the present invention, a substrate in which a defect is found by the inspection device is conveyed from the supply position to the correction position and is automatically corrected by the correction head at the correction position. Since it is possible to perform work, it is possible to completely eliminate conventional manual work, and it is possible to minimize damage to electronic components and boards during repair work, thus improving productivity, and It is a great place to contribute to quality improvement.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例による電子部品修正装置の外
観図
FIG. 1 is an external view of an electronic component correcting apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例による電子部品修正装置の基
板搬送部、基板予熱部、及び修正位置の斜視図
FIG. 2 is a perspective view of a board conveying section, a board preheating section, and a correction position of an electronic component correcting apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例による電子部品修正装置の修
正ヘッドの斜視図
FIG. 3 is a perspective view of a repair head of an electronic component repair apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例による電子部品修正装置にお
ける部品吸着ノズルを電子部品に接近させつつ加熱手段
を動作させたときの斜視図
FIG. 4 is a perspective view of the electronic component repairing apparatus according to the embodiment of the present invention when the heating means is operated while the component suction nozzle is close to the electronic component.

【図5】本発明の一実施例による電子部品修正装置にお
ける部品吸着ノズルにより電子部品を取り外したときの
斜視図
FIG. 5 is a perspective view when an electronic component is removed by a component suction nozzle in the electronic component correction device according to the embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例による電子部品修正装置の加
熱手段のレーザー光学系の断面図
FIG. 6 is a sectional view of a laser optical system of a heating means of an electronic component repairing device according to an embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施例による電子部品修正装置にお
ける対象物の温度変化を示す図
FIG. 7 is a diagram showing a temperature change of an object in the electronic component repairing apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図8】本発明の一実施例による電子部品修正装置の加
熱手段の動作タイミング図
FIG. 8 is an operation timing chart of the heating means of the electronic component correcting apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図9】本発明の一実施例による電子部品修正装置のメ
カ式取り外し手段の斜視図
FIG. 9 is a perspective view of a mechanical detaching means of an electronic component repairing device according to an embodiment of the present invention.

【図10】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
メカ式取り外し手段の動作説明図
FIG. 10 is an operation explanatory view of a mechanical detaching means of the electronic component correcting device according to the embodiment of the present invention.

【図11】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
半田の吸い取り動作説明図
FIG. 11 is an explanatory diagram of a solder sucking operation of the electronic component repairing device according to the embodiment of the present invention.

【図12】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
半田の追加動作説明図
FIG. 12 is an explanatory diagram of a solder addition operation of the electronic component repairing device according to the embodiment of the present invention.

【図13】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
基板の予備加熱方法の第2実施例の概念図
FIG. 13 is a conceptual diagram of a second embodiment of the substrate preheating method of the electronic component repairing apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図14】本発明の一実施例による電子部品修正装置の
基板の予備加熱方法の第3実施例の概念図
FIG. 14 is a conceptual diagram of a third embodiment of a substrate preheating method for an electronic component repairing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図15】従来例の手作業による基板の修正作業の説明
FIG. 15 is an explanatory diagram of a manual board correction work of a conventional example.

【図16】従来例の手作業による電子部品の取り外し作
業の説明図
FIG. 16 is an explanatory view of a conventional manual removal work of an electronic component.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3 修正ヘッド 4 部品移載装置 6 基板搬送部 7 基板予熱部 8 部品修正位置 12 光ファイバー 22 基板予熱ボックス 23 ダクトホース 24 エアドライヤ 25 電圧調整器 27 基板 34 部品吸着ノズル 40 スプラインシャフト 59 出射光学部 60 シリンドリカルレンズ 61 遮光板 62 接続端子 63 圧力検出手段 3 Correcting Head 4 Component Transfer Device 6 Substrate Transfer Section 7 Substrate Preheating Section 8 Component Correcting Position 12 Optical Fiber 22 Substrate Preheating Box 23 Duct Hose 24 Air Dryer 25 Voltage Regulator 27 Substrate 34 Component Adsorption Nozzle 40 Spline Shaft 59 Emitting Optical Unit 60 Cylindrical Lens 61 Light shield 62 Connection terminal 63 Pressure detection means

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数の電子部品を半田付けで固定した基板
を基板供給位置から部品修正位置まで搬送する基板搬送
部と、上記基板搬送経路上で基板を予熱する基板予熱部
と、上記部品修正位置でX軸方向・Y軸方向に動作可能
なロボットに支持され移動する修正ヘッドとよりなる電
子部品修正装置。
1. A board transfer section for transferring a board, to which a plurality of electronic parts are fixed by soldering, from a board supply position to a part correction position, a board preheating section for preheating the board on the board transfer path, and the part correction. An electronic component correction device including a correction head that is supported and moved by a robot that can move in the X-axis direction and the Y-axis direction at a position.
【請求項2】修正ヘッドが、真空源につながり先端を部
品修正位置における電子部品の上方に位置した部品吸着
ノズルと、上記電子部品の接続端子の半田を非接触で加
熱する加熱手段とよりなり、上記加熱手段で上記接続端
子の半田を溶融しつつ上記部品吸着ノズルにより上記電
子部品を取り外す請求項1記載の電子部品修正装置。
2. A correction head comprises a component suction nozzle whose tip is connected to a vacuum source and whose tip is located above the electronic component at the component correction position, and heating means for heating the solder of the connection terminal of the electronic component in a non-contact manner. The electronic component correcting apparatus according to claim 1, wherein the electronic component is removed by the component suction nozzle while melting the solder of the connection terminal by the heating means.
【請求項3】修正ヘッドの加熱手段が、レーザー光線を
レーザー光源より部品修正位置まで伝送する光ファイバ
ーと、上記光ファイバーの先端から放射されるレーザー
光を集光する出射光学部と、上記出射光学部から放射さ
れるレーザー光を基板上に楕円形状の焦点を結ばせるシ
リンドリカルレンズとよりなる請求項2記載の電子部品
修正装置。
3. The heating means of the correction head comprises an optical fiber for transmitting a laser beam from a laser light source to a component correction position, an emission optical section for condensing the laser beam emitted from the tip of the optical fiber, and the emission optical section. 3. The electronic component repairing device according to claim 2, comprising a cylindrical lens that focuses the emitted laser light on the substrate in an elliptical shape.
【請求項4】基板予熱部が、基板予熱ボックスと、熱風
を発生させるエアドライヤと、上記エアドライヤから上
記基板予熱ボックスに熱風を伝送するダクトホースと、
上記エアドライヤの熱風温度を制御する電圧調整器とよ
りなる請求項1記載の電子部品修正装置。
4. A board preheating section, a board preheating box, an air dryer for generating hot air, and a duct hose for transmitting hot air from the air dryer to the board preheating box.
The electronic component correcting apparatus according to claim 1, comprising a voltage regulator that controls the hot air temperature of the air dryer.
【請求項5】修正位置における基板を加熱するため、熱
風を発生させるエアドライヤと、上記エアドライヤから
上記修正位置における基板に熱風を伝送するダクトホー
スと、上記エアドライヤの熱風温度を制御する電圧調整
器とを修正位置に配した請求項1記載の電子部品修正装
置。
5. An air dryer for generating hot air for heating the substrate at the correction position, a duct hose for transmitting hot air from the air dryer to the substrate at the correction position, and a voltage regulator for controlling the hot air temperature of the air dryer. 2. The electronic component correcting apparatus according to claim 1, wherein is arranged at a correction position.
【請求項6】部品吸着ノズルが軸心が中空のスプライン
シャフトの先端に取り付けられており、上記スプライン
シャフトを軸方向に移動させる上下手段と、上記スプラ
インシャフトを軸を中心に回動させる回転手段とを有す
る請求項2記載の電子部品修正装置。
6. A component suction nozzle is attached to the tip of a spline shaft having a hollow center, and an up / down means for moving the spline shaft in the axial direction and a rotating means for rotating the spline shaft about the axis. The electronic component correcting apparatus according to claim 2, further comprising:
【請求項7】部品吸着ノズルと真空源とを接続する配管
の途中に真空度を計測する圧力検出手段を設け、上記圧
力検出手段による真空度により電子部品の取り外し完了
を検出する請求項6記載の電子部品修正装置。
7. A pressure detecting means for measuring the degree of vacuum is provided in the middle of a pipe connecting the component suction nozzle and the vacuum source, and completion of removal of the electronic component is detected by the degree of vacuum by the pressure detecting means. Electronic component repair device.
【請求項8】加熱手段において、シリンドリカルレンズ
から焦点までの光路の途中で遮光板によりレーザー光の
一部を遮光した請求項3記載の電子部品修正装置。
8. The electronic component repairing apparatus according to claim 3, wherein in the heating means, a part of the laser light is shielded by a light shielding plate in the middle of the optical path from the cylindrical lens to the focal point.
【請求項9】加熱対象の熱容量に基づきレーザー光の加
熱時間を制御することにより必要以上の加熱を防ぎ基板
に与える損傷を最小にした請求項3記載の電子部品修正
装置。
9. The electronic component repairing apparatus according to claim 3, wherein the heating time of the laser light is controlled based on the heat capacity of the object to be heated to prevent unnecessary heating and minimize damage to the substrate.
【請求項10】出射光学部の付近に赤外線温度測定器を
配し、上記赤外線温度測定器による対象物の温度測定デ
ータに基づき加熱手段の加熱時間を制御した請求項3記
載の電子部品修正装置。
10. An electronic component repairing apparatus according to claim 3, wherein an infrared temperature measuring device is arranged in the vicinity of the emitting optical section, and the heating time of the heating means is controlled based on the temperature measurement data of the object by the infrared temperature measuring device. ..
【請求項11】修正ヘッドが、複数の開閉する爪を有す
るメカ式取り外し手段と、電子部品の接続端子の半田を
非接触で加熱する加熱手段とよりなり、上記メカ式取り
外し手段を部品修正位置における電子部品の上方に位置
せしめ、上記加熱手段で上記接続端子の半田を溶融しつ
つ上記メカ式取り外し手段の爪で上記電子部品を掴んで
取り外す請求項1記載の電子部品修正装置。
11. The correction head comprises a mechanical removing means having a plurality of opening and closing claws and a heating means for heating the solder of a connection terminal of an electronic component in a non-contact manner. 2. The electronic component correcting apparatus according to claim 1, wherein the electronic component correcting device is located above the electronic component, and the heating means melts the solder of the connection terminal while the nail of the mechanical detaching means grips and removes the electronic component.
【請求項12】基板予熱部が、赤外線ランプを熱源とす
る請求項1記載の電子部品修正装置。
12. The electronic component repairing apparatus according to claim 1, wherein the substrate preheating section uses an infrared lamp as a heat source.
【請求項13】複数の電子部品を半田付けで固定した基
板を基板供給位置から部品修正位置まで搬送する基板搬
送部と、上記基板搬送経路上で基板を予熱する基板予熱
部と、上記部品修正位置でX軸方向・Y軸方向に動作可
能なロボットに支持され移動する修正ヘッドと、上記修
正ヘッドにより不良の電子部品を取り外した後良品の電
子部品を上記部品修正位置まで運搬する部品移載装置と
よりなる電子部品修正装置。
13. A board transfer part for transferring a board, to which a plurality of electronic parts are fixed by soldering, from a board supply position to a part correction position, a board preheating part for preheating the board on the board transfer path, and the part correction. A correction head that is supported and moved by a robot that can move in the X-axis direction and the Y-axis direction at a position, and component transfer that transports a good electronic component to the component correction position after removing a defective electronic component by the correction head. An electronic component correction device consisting of a device.
JP3308992A 1992-02-20 1992-02-20 Electronic parts correction equipment Pending JPH05235536A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3308992A JPH05235536A (en) 1992-02-20 1992-02-20 Electronic parts correction equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3308992A JPH05235536A (en) 1992-02-20 1992-02-20 Electronic parts correction equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05235536A true JPH05235536A (en) 1993-09-10

Family

ID=12376956

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3308992A Pending JPH05235536A (en) 1992-02-20 1992-02-20 Electronic parts correction equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05235536A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011129647A (en) * 2009-12-16 2011-06-30 Shinapex Co Ltd Reworking device for chip component, and set pin used for the same
KR101228306B1 (en) * 2011-11-01 2013-01-31 주식회사 이오테크닉스 Apparatus and method for removing electronic devices from substrate
CN108328328A (en) * 2018-04-10 2018-07-27 深圳市恒宝通光电子股份有限公司 A kind of laser diode and adapter fully automatic feeding device
US10362719B2 (en) 2014-04-02 2019-07-23 Fuji Corporation Component mounting machine
JP2021023951A (en) * 2019-08-01 2021-02-22 東レエンジニアリング株式会社 Chip removal method and laser processing device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011129647A (en) * 2009-12-16 2011-06-30 Shinapex Co Ltd Reworking device for chip component, and set pin used for the same
KR101228306B1 (en) * 2011-11-01 2013-01-31 주식회사 이오테크닉스 Apparatus and method for removing electronic devices from substrate
US10362719B2 (en) 2014-04-02 2019-07-23 Fuji Corporation Component mounting machine
CN108328328A (en) * 2018-04-10 2018-07-27 深圳市恒宝通光电子股份有限公司 A kind of laser diode and adapter fully automatic feeding device
JP2021023951A (en) * 2019-08-01 2021-02-22 東レエンジニアリング株式会社 Chip removal method and laser processing device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6072150A (en) Apparatus and method for in-line soldering
US6998572B2 (en) Light energy processing device and method
TWI719306B (en) Apparatus and method for laser processing
JP6591094B2 (en) Reel-to-reel laser reflow apparatus and method
US6441339B1 (en) Apparatus for manufacturing circuit modules
JP2011216503A (en) Soldering method, method for manufacturing mounting substrate and soldering apparatus
KR102041277B1 (en) System for inspecting and modifying PCB soldering
TWI818377B (en) Bump forming device, bump forming method, solder ball repair device, and solder ball repair method
JPH05235536A (en) Electronic parts correction equipment
JP4014476B2 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
KR102438999B1 (en) Soldering device applying multi-laser sodering and the method thereof
JPH05235535A (en) Electronic parts correction equipment
JP3065750B2 (en) Soldering inspection correction device
JPH04296092A (en) Reflow device
JP3367110B2 (en) Component connection method and component connection device
KR102496686B1 (en) Soldering device applying multi nozzle and the method thereof
JPH04320091A (en) Method of modifying electronic parts
US6043454A (en) Apparatus and method for in-line soldering
JPH07109934B2 (en) Electronic component connection device
JP2849477B2 (en) IC component mounting method
JP4146140B2 (en) Camera temperature control device for image recognition
JPH09246712A (en) Reflow soldering method and apparatus therefor
US20230120590A1 (en) Laser soldering device applying multi nozzle and the method thereof
JP2024008161A (en) Bump forming device, bump forming method, solder ball repair device, and solder ball repair method
JPH05235538A (en) Electronic parts correction equipment