JP3065750B2 - Soldering inspection correction device - Google Patents

Soldering inspection correction device

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JP3065750B2
JP3065750B2 JP3315060A JP31506091A JP3065750B2 JP 3065750 B2 JP3065750 B2 JP 3065750B2 JP 3315060 A JP3315060 A JP 3315060A JP 31506091 A JP31506091 A JP 31506091A JP 3065750 B2 JP3065750 B2 JP 3065750B2
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transport path
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昭夫 土田
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小松技研株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、回路基板のハンダ部に
ついて不良箇所を検出して修正し、さらに再検査を施す
ハンダ付け検査修正装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a soldering inspection and correction device for detecting and correcting a defective portion of a solder portion of a circuit board and performing a re-inspection.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、電子機器等に使用されるプイン
ト基板では、予め開口されたスルーホールに対し、搭載
される各種部品のリードが挿通され、係るリードの挿通
部分に部品搭載面と反対側の面(以下、ハンダ面とい
う。)からハンダ付けが施されている。このスルーホー
ルに部品のリードを挿通してハンダ付けを施した場合、
ときに一のハンダ部と該一のハンダ部と異なる他のハン
ダ部との間に短絡を含む連結状態(以下、ブリッジとい
う。)が発生したり、あるいはハンダ付けが不十分なた
めに開孔状態(以下、ホールという。)が発生すること
があり、係る不良箇所の有無を各基板ごとに検査する必
要がある。
2. Description of the Related Art In general, in a printed circuit board used for an electronic device or the like, leads of various components to be mounted are inserted into through holes which have been opened in advance, and a portion of the lead inserted opposite to the component mounting surface is inserted. (Hereinafter, referred to as a solder surface). When soldering by inserting the lead of the component into this through hole,
Occasionally, a connection state (hereinafter, referred to as a bridge) including a short circuit occurs between one solder portion and another solder portion different from the one solder portion, or holes are formed due to insufficient soldering. A state (hereinafter, referred to as a hole) may occur, and it is necessary to inspect each substrate for the presence or absence of such a defective portion.

【0003】これらブリッジおよびホールに関する検査
では、目視によることも可能であるが、検査精度の向上
と省力化を図るうえで、昨今、画像認識を用いた検査シ
ステムが用いられるようになった。この画像認識による
検査は、予め基板のハンダ面を画像として認識してお
き、係る画像に基づいてブリッジやホールの有無を検査
するものである。この方法により例えばホールの検査を
おこなう場合、まず、検査を施そうとする基板のハンダ
部、もしくはこの基板と同一パターンを有する基板で部
品が搭載されていないもののスルーホールについて、そ
の位置をハンダ面からの画像として認識しておく。
[0003] Inspection of these bridges and holes can be performed by visual inspection. However, in order to improve inspection accuracy and save labor, inspection systems using image recognition have recently been used. In the inspection by image recognition, the solder surface of the substrate is recognized as an image in advance, and the presence or absence of a bridge or a hole is inspected based on the image. In the case of inspecting a hole by this method, for example, first, the position of a solder portion of a substrate to be inspected or a through-hole of a substrate having the same pattern as the substrate and having no components mounted thereon is designated as a solder surface. It is recognized as an image from.

【0004】次いで検査で、検査すべき基板のハンダ面
に光を照射し、その反射光を画像として捉える。する
と、基板のハンダ部にホールが発生していた場合には、
このホールでは光が反射しないから、ホールが画像上で
影部として認識される。そして先に認識した画像と検査
をすべき基板から得られた画像のハンダ部とを比較すれ
ば、上記影部を検出することができる。
Next, in the inspection, light is irradiated to the solder surface of the substrate to be inspected, and the reflected light is captured as an image. Then, if a hole is generated in the solder part of the board,
Since light is not reflected at this hole, the hole is recognized as a shadow on the image. Then, the shadow portion can be detected by comparing the previously recognized image with the solder portion of the image obtained from the board to be inspected.

【0005】他方、ブリッジ検査では、撮像装置に対し
所定の一方向から光を照射し、基板面から傍出した部分
の反射光を画像のうえで捉えるようにすると、一のハン
ダ部と他のハンダ部との間隙にブリッジが発生していた
場合、各部品のリードならびにハンダ部と、ブリッジが
画像上で明部として認識される。
On the other hand, in the bridge inspection, light is radiated to the image pickup device from a predetermined direction, and the reflected light of the portion that has protruded from the substrate surface is captured on an image. If a bridge has occurred in the gap with the solder portion, the lead of each component, the solder portion, and the bridge are recognized as a bright portion on the image.

【0006】このようにして検査をほどこした基板にブ
リッジが検出された場合、従来これを修正するのに、作
業者が手作業により半田鏝でブリッジ部分を溶融し、竹
製のピン部材などを用い、これを刎ねて取り除くことに
より修正していた。また、ホールについては、手作業に
て再びハンダ盛りを施して補強修正するか、もしくは自
動化された、所謂ハンダロボットが使用されていた。こ
のハンダロボットは、ハンダ付け不足による不良箇所が
検出された基板に対し、ハンダ供給機能を有する自動ハ
ンドにてハンダ鏝を移動させて再ハンダを施すものであ
る。
In the case where a bridge is detected on a board subjected to the inspection in this way, conventionally, to correct the bridge, an operator manually melts the bridge portion with a soldering iron and removes a bamboo pin member or the like. It was modified by beveling and removing it. For the holes, so-called soldering robots have been used, in which soldering is manually performed again to reinforce and correct, or automated. The soldering robot performs re-soldering by moving a soldering iron with an automatic hand having a solder supply function on a substrate on which a defective portion due to insufficient soldering is detected.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
ハンダ部におけるホール検査やブリッジ検査、ならびに
これら不良箇所の修正にあたっては、以下のような問題
点を有していた。
However, the above-described conventional hole inspection and bridge inspection in the solder portion and correction of these defective portions have the following problems.

【0008】(1)上記ホール検査ではホールを影部と
して、基板面を明部として認識し、上記ブリッジ検査で
はブリッジを明部として、基板面を影部として認識する
ため、基板や撮像装置に対する光源の位置がそれぞれの
検査によって相異し、とくにブリッジ検査では、ブリッ
ジの基板面からの傍出状態が個々に異なっているため、
確実に検出するのに光源の位置設定が難しくそれぞれの
検査は別個におこなう必要があった。
(1) In the hole inspection, the hole is recognized as a shadow portion and the substrate surface is recognized as a bright portion. In the bridge inspection, the bridge is recognized as a bright portion and the substrate surface is recognized as a shadow portion. Because the position of the light source is different for each inspection, especially in the bridge inspection, the protruding state of the bridge from the board surface is different individually,
It was difficult to set the position of the light source for reliable detection, and each inspection had to be performed separately.

【0009】(2)ことにブリッジ検査では傍出部分で
の光の反射を確実に捉えるために、通常ハンダ面に塗布
される、回路構成等を表示するマスクを黒色にしておか
なければならず、作成された回路基板を各種機器に実装
したときに、マスク表示が識別しにくく、保守管理をお
こなううえで不都合を生じることもあった。
(2) In particular, in the bridge inspection, in order to surely catch the reflection of light at the outlying portion, the mask which is usually applied to the solder surface and indicates the circuit configuration and the like must be black. In addition, when the produced circuit board is mounted on various devices, the mask display is difficult to identify, which sometimes causes inconvenience in performing maintenance management.

【0010】(3)ブリッジの修正作業では、発生した
ブリッジの形態が個々に不定形で付着量も定量でないた
め、ブリッジの溶融状態をみながらこれを刎ねて分断す
るなど未だ作業者の熟練に依存しており、これをそのま
ま自動化するには装置が複雑化し信頼性に疑問があっ
た。
[0010] (3) In the repair work of the bridge, since the form of the generated bridge is individually indefinite and the amount of adhesion is not quantitative, the operator is still skilled in cutting the bridge while watching the molten state of the bridge. In order to automate this as it is, the equipment becomes complicated and the reliability is questioned.

【0011】(4)基板のハンダ部では、スルーホール
に挿通したリードの多くに、基板組立工程での部品の脱
落を防止する目的で、先端を幾分折曲する、所謂クリン
チが施されており、係るクリンチ方向と反対側にホール
が発生しやすいが、ホール修正をおこなうハンダロボッ
トでは、入力された位置情報に基づいてハンダ鏝を常に
直立させ、その先端を不良部の中心に真上から当接させ
て加熱しハンダ盛りを施していたため、ホールを埋める
のに必要以上に多くのハンダを使用するうえ、リードな
らびにスルーホールの導電材全体に亙って加熱すること
となり、電子部品に対してあまり好ましくない。
(4) In the solder portion of the board, many of the leads inserted into the through holes are provided with a so-called clinch, which is slightly bent at the tip for the purpose of preventing the components from falling off in the board assembling process. Therefore, a hole is likely to occur on the side opposite to the clinch direction, but in a solder robot that performs hole correction, the soldering iron is always upright based on the input position information, and its tip is positioned directly above the center of the defective part. Since soldering was performed by contacting and heating, more solder was used than necessary to fill the hole, and heating was performed over the entirety of the lead and through-hole conductive material. Not very good.

【0012】(5)上記ハンダロボットにて人手による
ハンダ盛り作業のように、ホールの発生したハンダ部に
対してクリンチ方向と反対側からハンダ鏝を接触させ、
さらに不足したハンダ量を補完するようにハンダを溶着
させようとすると、ハンダロボットへの制御情報を、予
め基板のパターンごとに入力するのに極めて手間を要す
る。
(5) A soldering iron is brought into contact with the solder portion where a hole is generated from the side opposite to the clinch direction, as in the soldering work by hand with the above solder robot,
If solder is to be welded so as to compensate for the insufficient amount of solder, it takes a great deal of time to input control information to the solder robot in advance for each pattern on the substrate.

【0013】(6)ブリッジおよびホール検査での手法
の相異、ブリッジ修正の困難性、ならびにハンダロボッ
トにおける情報入力の手間等による問題から、これら検
査および修正作業を一連の工程としておこなうシステム
化された装置がなかった。
(6) Due to differences in bridge and hole inspection techniques, difficulty in correcting the bridge, and problems due to the trouble of inputting information in the solder robot, a system for performing these inspections and corrections as a series of steps has been developed. There was no equipment.

【0014】すなわち本発明は上記実情に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、ブリッジ検査とホ
ール検査とを同一工程にておこない、さらにその検出結
果に基づき、簡易な構成でありながら人手による作業に
より近似したブリッジならびにホールの修正作業を施
す、自動化されたハンダ付け検査修正装置を提供するこ
とにある。
That is, the present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to perform a bridge inspection and a hole inspection in the same process, and furthermore, based on a result of the detection, have a simple configuration. An object of the present invention is to provide an automated soldering inspection and correction device for performing a repair operation of a bridge and a hole that is more similar to a manual operation.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のハンダ付け検査修正装置では、ハンダ面を
上方に向けて基板を搬送する搬送路と、この搬送路の上
方に設けられ、前記基板のハンダ部について前記ハンダ
面からブリッジ検査およびホール検査をおこなう検査機
構と、この検査機構の搬送方向下流側で前記搬送路の上
方に設けられ、前記検査機構により検出されたブリッジ
に分割修正を施し、前記検査機構により検出されたホー
ルにハンダ盛り修正を施す修正機構と、この修正機構の
搬送方向下流側で前記搬送路の上方に設けられ、前記修
正機構により修正を施した前記基板の前記ハンダ部につ
いて再び検査を施す再検査機構とを有し、前記検査機構
および前記再検査機構には各々に、前記搬送路に対向し
て設けられた撮像手段と、前記搬送路に対向して設けら
れ、前記ハンダ面に所定方向から光を照射する第1の光
源と、前記搬送路に対向してもしくは周傍に設けられ、
前記ハンダ面に複数方向から光を照射する第2の光源
と、前記撮像手段で捉えた前記ハンダ面の画像をもとに
前記第1の光源からの光を乱反射する影部の中からハン
ダ部とハンダ部との間に存在する影部を検出することに
よりブリッジを検出し、前記撮像手段で捉えた前記ハン
ダ面の画像をもとに前記第2の光源からの光を反射しな
い影部を検出することによりホールを検出する判別手段
とが備えられ、前記修正機構には、前記搬送路の上方に
吊持され、所定空間内を移動自在に形成されたアーム
と、このアームの下端に突設され水平方向に微動するヘ
ラ状部材、およびこのヘラ状部材に隣接して設けられ前
記ヘラ状部材の先端部近傍に向けて熱風を吹き付ける熱
風ノズルと、前記アームの下端に設けられたハンダ鏝、
およびこのハンダ鏝に隣接して設けられ前記ハンダ鏝の
先端部に向けてハンダを供給するハンダ供給ノズルとが
備えられていることを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, a soldering inspection and correction apparatus according to the present invention is provided with a transfer path for transferring a substrate with a solder surface facing upward, and a transfer path provided above the transfer path. , a test mechanism for bridge inspection and hole inspection from the solder surface for the solder portion of the substrate, provided in the transport direction downstream side of the inspection mechanism above the transport path, which is detected by the inspection mechanism bridge
A correction mechanism for performing a split correction on the holes detected by the inspection mechanism and a correction mechanism for performing a soldering correction on the holes detected by the inspection mechanism, and provided above the transport path on the downstream side in the transport direction of the correction mechanism and corrected by the correction mechanism. A re-inspection mechanism for re-inspection of the solder portion of the substrate, wherein each of the inspection mechanism and the re-inspection mechanism is provided with an imaging unit provided to face the transport path, A first light source that is provided to face and irradiates the solder surface with light from a predetermined direction, and that is provided to face or near the periphery of the transport path,
A second light source for irradiating the solder surface with light from a plurality of directions, and an image of the solder surface captured by the imaging unit.
The light from the first light source is reflected from the shadow portion to diffusely reflect the light.
To detect the shadow part between the solder part and the solder part
Bridge, and detects the bridge by the imaging means.
Do not reflect the light from the second light source based on the image on the
Discriminating means for detecting holes by detecting shadows
The correction mechanism includes an arm suspended above the transport path and formed movably in a predetermined space, and a spatula member protruding from a lower end of the arm and slightly moving in a horizontal direction. And a hot air nozzle provided adjacent to the spatula member and blowing hot air toward the vicinity of the tip of the spatula member, and a soldering iron provided at a lower end of the arm,
And a solder supply nozzle which is provided adjacent to the soldering iron and supplies solder toward the tip of the soldering iron.

【0016】[0016]

【作用】検査すべき基板をハンダ面を上方に向けて搬送
路に搬入すると、この搬入路の上方には搬送方向に沿っ
て順次、検査機構,修正機構,再検査機構を有してお
り、検査機構にてブリッジ検査およびホール検査が施さ
れ、不良箇所の検出された基板については修正機構にて
修正された後、さらに再検査機構にて再び検査が施され
る。
When a substrate to be inspected is loaded into a transport path with the solder surface facing upward, an inspection mechanism, a correction mechanism, and a re-inspection mechanism are sequentially provided along the transport direction above the transport path. After the bridge inspection and the hole inspection are performed by the inspection mechanism, the board in which the defective portion is detected is corrected by the correction mechanism, and then the inspection is performed again by the re-inspection mechanism.

【0017】検査機構でのブリッジ検査では、搬送路に
対向して設けられた第1の光源から基板のハンダ面に所
定方向から光を照射して、撮像手段により前記ハンダ面
の画像を捉えると、基板の盤面から傍出するハンダ部な
らびにブリッジでは所定方向からの光が乱反射してこれ
らが影部として認識されるから、ハンダ部とハンダ部と
の間の平板面に影部を検出したときには、これを判別手
段にてブリッジと判別する。
In the bridge inspection by the inspection mechanism, light is emitted from a first light source provided opposite to the transport path to a solder surface of the substrate from a predetermined direction, and an image of the solder surface is captured by an imaging means. Since the light from the predetermined direction is irregularly reflected by the solder portion and the bridge that protrude from the board surface of the board and these are recognized as shadow portions, when a shadow portion is detected on the flat surface between the solder portion and the solder portion, This is determined as a bridge by the determination means.

【0018】またホール検査では、搬送路に対向しても
しくは周傍に設けられた第2の光源から基板のハンダ面
に複数方向から光を照射して、撮像手段により前記ハン
ダ面の画像を捉えると、基板の盤面ならびに傍出するハ
ンダ部では複数方向からの光の一部は必ず撮像手段にも
反射するからこれらは明部として認識され、没入するホ
ールだけは光の反射がなく影部として認識されるから、
ハンダ部において影部を検出したときには、これを判別
手段にてホールと判別する。
In the hole inspection, a soldering surface of the substrate is irradiated with light from a plurality of directions from a second light source provided opposite to or near the transport path, and an image of the soldering surface is captured by an imaging means. On the board surface of the board and on the soldering part that emerges, some of the light from multiple directions is always reflected on the imaging means, so these are recognized as bright parts, and only the immersed holes have no reflection of light and serve as shadow parts. Will be recognized
When a shadow part is detected in the solder part, this is determined as a hole by the determination means.

【0019】検査の後、基板が修正機構へ搬入される
と、搬送路の上方には所定空間内を移動自在に形成され
たアームが吊持されており、このアームを検出されたブ
リッジやホールへ向けて移動させる。するとアームの下
端にはヘラ状部材が突設され、これに隣接して熱風ノズ
ルが設けられているので、ブリッジが発生している場合
にはこの不良部に前記ヘラ状部材を近接させるととも
に、このヘラ状部材の先端部に向けて熱風を吹き付けて
ブリッジを溶融し、次いでヘラ状部材を水平方向に微動
させてブリッジを分割する。また、ホールが発生してい
る場合には、上記アームの下端にはハンダ鏝と、これに
隣接してハンダ供給ノズルとが設けられているから、ホ
ールの発生している不良部にハンダ鏝を当接させて加熱
し、ハンダを供給してハンダ盛り修正を施す。
After the inspection, when the substrate is carried into the correction mechanism, an arm movably formed within a predetermined space is suspended above the transport path, and the arm or bridge which detects the arm is bridged. Move toward. Then, a spatula-shaped member is protrudingly provided at the lower end of the arm, and a hot air nozzle is provided adjacent thereto, so that when a bridge is generated, the spatula-shaped member is brought close to the defective portion, Hot air is blown toward the tip of the spatula-like member to melt the bridge, and then the spatula-like member is slightly moved in the horizontal direction to divide the bridge. When a hole is generated, a soldering iron is provided at the lower end of the arm, and a solder supply nozzle is provided adjacent to the arm. It is heated while being brought into contact, and solder is supplied to correct the solder height.

【0020】このようにブリッジやホールの発生した不
良部について修正を施した後、当初検査機構にて施した
のと同様の検査を再び再検査機構にておこなうことによ
り、ハンダ付け工程における品質の向上を図る
After repairing the defective portion in which the bridge or the hole has occurred as described above, the same inspection as that initially performed by the inspection mechanism is performed again by the re-inspection mechanism, so that the quality in the soldering process is improved. Improve

【0021】[0021]

【実施例】本発明に係るハンダ付け検査修正装置(以
下、本装置という。)の実施例を図1〜図7に基づいて
説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a soldering inspection and correction device (hereinafter, referred to as the present device) according to the present invention will be described with reference to FIGS.

【0022】本装置の概要が平面図である図1に示され
ており、これによると本装置は、ハンダ付けの施された
基板10が搬送される搬送路4と、この搬送路4に沿っ
て順次設けられた検査機構1、修正機構2、ならびに再
検査機構3と、これら各機構から得られたデータを解析
し、また各機構を制御する情報処理機構5とから構成さ
れている。以下、これらを詳細に説明する。
FIG. 1 is a plan view showing an outline of the apparatus. According to the apparatus, the apparatus is provided with a transport path 4 on which a soldered substrate 10 is transported, and along the transport path 4. The inspection mechanism 1, the correction mechanism 2, and the re-inspection mechanism 3 are sequentially provided, and an information processing mechanism 5 that analyzes data obtained from each of the mechanisms and controls each mechanism. Hereinafter, these will be described in detail.

【0023】先に、本装置内で基板の検査,修正情報を
取り扱い、各機構を作動させて検査および修正を実行さ
せる情報処理機構5を概略説明すると、図5に示される
ように、検査機構1および再検査機構3の双方に対応す
る記憶手段50と、検査機構1に対応する判別手段5
1,制御手段52と、修正機構2に対応する記憶手段5
4,制御手段53と、再検査機構3に対応する判別手段
55,制御手段56とが形成されている。
First, the information processing mechanism 5, which handles inspection and correction information of a substrate in the present apparatus and operates each mechanism to execute inspection and correction, will be schematically described. As shown in FIG. Storage means 50 corresponding to both the inspection mechanism 1 and the re-inspection mechanism 3 and discriminating means 5 corresponding to the inspection mechanism 1
1, control means 52 and storage means 5 corresponding to correction mechanism 2
4, control means 53, determination means 55 and control means 56 corresponding to the reinspection mechanism 3 are formed.

【0024】このうち上記記憶手段50は、検査機構1
および再検査機構3の双方に対応し、検査すべき基板の
基準となるデータを蓄積するであり、判別手段51は、
検査機構1に対応し、検査データを前記記憶手段50に
蓄積された基板データに基づいて良否を判別するもの
で、また制御手段52は、記憶手段50の基板データに
基づいて検索を実行させ、また基板を搬送させるもので
ある。また、記憶手段54は、修正機構2に対応し、判
別手段51にて作成された不良箇所に関する判別データ
が入力されるもので、制御手段53は、記憶手段54に
入力されたデータに基づいて基板に修正を施すべく修正
機構2を作動させるものである。さらに、判別手段55
は、再検査機構3に対応し、当初記憶手段50に入力し
た基準データに基づいて修正後の基板についてその良否
を判別するもので、制御手段56は、記憶手段50の基
準データに基づいて検索を実行させ、また基板を搬送さ
せるものである。これらの各手段については、以下に示
す各機構の構成においてさらに順次説明する。
The storage means 50 includes the inspection mechanism 1
And re-inspection mechanism 3 and accumulates data serving as a reference for a substrate to be inspected.
Corresponding to the inspection mechanism 1, the inspection data is used to determine pass / fail based on the board data stored in the storage means 50, and the control means 52 executes a search based on the board data in the storage means 50, Further, the substrate is transported. Further, the storage means 54 corresponds to the correction mechanism 2 and receives the determination data relating to the defective portion created by the determination means 51. The control means 53 performs processing based on the data input to the storage means 54. The correction mechanism 2 is operated to perform correction on the substrate. Further, the determination means 55
Corresponds to the re-inspection mechanism 3 and determines the quality of the board after the correction based on the reference data initially input to the storage means 50. The control means 56 performs a search based on the reference data in the storage means 50. And transport the substrate. Each of these means will be further described sequentially in the configuration of each mechanism described below.

【0025】上記搬送路4は、図4に示されるように、
ハンダ面Sを上方に向け、搭載された各種電子部品が下
面側に突出した状態でほぼ水平に基板10を搬送するも
ので、搬送方向に沿って配設され、搬送方向に対して基
板10の両側縁部を支持する一対の平行なガイドレール
41,41と、これらガイドレール41の内側面に設け
られた駆動チェーン42,42から形成されている。こ
の駆動チェーン42は、実質的に基板10の両側縁部の
下面に当接し、基板10を移動させるときに残留フラッ
クスの付着による搬送上の不具合を防止するものであ
る。また、上記ガイドレール41は、幅方向に移動可能
に形成され、基板10の幅に応じて調整可能に形成され
ている。
The transport path 4 is, as shown in FIG.
The board 10 is transported substantially horizontally with the solder surface S facing upward and various mounted electronic components projecting to the lower surface side. The board 10 is disposed along the transport direction, and the board 10 is moved with respect to the transport direction. The guide rails 41 are formed of a pair of parallel guide rails 41 supporting both side edges, and drive chains 42 provided on the inner surface of the guide rails 41. The drive chain 42 substantially contacts the lower surfaces of both side edges of the substrate 10 to prevent a transport problem due to adhesion of residual flux when the substrate 10 is moved. Further, the guide rail 41 is formed so as to be movable in the width direction, and is formed so as to be adjustable according to the width of the substrate 10.

【0026】また、上記搬送路4は、上記各機構に対応
して符号4a,4b,4cで示される部分に分割され、
図示しないが各々の部分に基板10を所定位置で係止す
るストッパーが設けられている。さらに、上記検査機構
1ならびに再検査機構3における搬送路4a,4cは、
またそれぞれが、所謂XYテーブル(図示せず)に搭載
されており、基板10を保持した状態でそれぞれに基板
10上での検査箇所に応じて前後左右に移動可能に形成
されている。
The transport path 4 is divided into portions indicated by reference numerals 4a, 4b and 4c corresponding to the respective mechanisms.
Although not shown, each part is provided with a stopper for locking the substrate 10 at a predetermined position. Further, the transport paths 4a and 4c in the inspection mechanism 1 and the re-inspection mechanism 3 are:
Each of them is mounted on a so-called XY table (not shown), and is formed so as to be able to move back and forth and left and right in accordance with an inspection position on the substrate 10 while holding the substrate 10.

【0027】このような搬送路4の最も上流側の上方に
は、基板10のハンダ部についてハンダ面Sからブリッ
ジ検査およびホール検査をおこなう検査機構1が設けら
れている。この検査機構1は、その側断面が図2に示さ
れるように、搬送路4aに対向して設けられた撮像手段
11と、第1の光源12ならびに第2の光源13とが設
けられ、されに本装置の情報処理機構5内にこの検査機
構1に対応して、撮像手段11により得られた画像に基
づいて基板10に発生したブリッジやホールを判別する
判別手段51が形成されている。
An inspection mechanism 1 for performing a bridge inspection and a hole inspection on the solder portion of the substrate 10 from the solder surface S is provided above the most upstream side of the transport path 4. As shown in FIG. 2, the inspection mechanism 1 includes an imaging unit 11 provided to face the transport path 4 a, a first light source 12, and a second light source 13. In the information processing mechanism 5 of the present apparatus, a discriminating means 51 for discriminating a bridge or a hole generated in the substrate 10 based on an image obtained by the imaging means 11 is formed corresponding to the inspection mechanism 1.

【0028】上記撮像手段11はCCDカメラ等の撮像
機器からなり、外部からの光をある程度遮蔽する筒状の
外套部材14に収納されている。そして、上記光源1
2,13は、基板10のハンダ面Sに対し所定の光を所
定方向から照射するもので、例えば赤色LEDが用いら
れる。このうち第1の光源12は、撮像手段11に隣接
し搬送路4aに対向する位置に設けられ、外套部材14
の筒内に形成されハンダ面Sから離間するにしたがい幾
分縮径された筒状の光源支持体15に取り付けられてい
る。この第1の光源12は、ブリッジ検査に使用され、
検出すべきブリッジに照射した光の撮像手段11への反
射量が少ないほど好ましく、撮像手段11により近接し
た位置から一方向の光を照射する通常単独の光源となっ
ている。
The image pickup means 11 comprises an image pickup device such as a CCD camera, and is housed in a cylindrical outer cover member 14 for shielding external light to some extent. Then, the light source 1
Reference numerals 2 and 13 irradiate a predetermined light to the solder surface S of the substrate 10 from a predetermined direction, and for example, a red LED is used. The first light source 12 is provided at a position adjacent to the imaging means 11 and opposed to the transport path 4a.
And is attached to a cylindrical light source support 15 having a somewhat reduced diameter as it is separated from the solder surface S. This first light source 12 is used for bridge inspection,
It is preferable that the amount of light reflected on the bridge to be detected be reflected to the image pickup means 11 in a small amount.

【0029】これに対し、上記第2の光源13はホール
検査に使用されるものであり、検出すべきホールに照射
したときに、ホール以外の部分からの撮像手段11への
反射量が多いほどホールが検出しやすくなる。そのた
め、上記光源支持体3の内周面全体に亙って取り付けら
れた複数の発光体13a,13aから構成され、ハンダ
面Sに対向してもしくはハンダ面Sの周傍に位置するよ
うに設けられて、係るハンダ面Sに多方向から光を照射
するようになっている。
On the other hand, the second light source 13 is used for hole inspection. When the second light source 13 irradiates a hole to be detected, the larger the amount of reflection from a portion other than the hole to the image pickup means 11, the larger the amount of reflection. Holes are easier to detect. Therefore, the light source support 3 is composed of a plurality of light emitters 13a, 13a attached over the entire inner peripheral surface of the light source support 3, and is provided so as to be opposed to the solder surface S or located near the periphery of the solder surface S. Thus, the solder surface S is irradiated with light from multiple directions.

【0030】さらに、上記判別手段51は、上記第1の
光源12から光を照射して撮像手段11により得られた
画像について、一のハンダ部と当該一のハンダ部と異な
る他のハンダ部とを連結する影部を検出したときにはこ
れをブリッジと判別し、上記第2の光源13から光を照
射して撮像手段11により得られた画像について、一の
ハンダ部に影部を検出したときにはこれをホールと判別
するものである。
Further, the discriminating means 51 irradiates the image obtained by the imaging means 11 by irradiating the light from the first light source 12 with one solder part and another solder part different from the one solder part. Is detected as a bridge when a shadow portion connecting the two is detected, and when a shadow portion is detected in one of the solder portions of the image obtained by irradiating the light from the second light source 13 with the image pickup means 11, this is determined. Is determined to be a hole.

【0031】次に、上記検査機構1より搬送方向下流側
で搬送路4bの上方には、検査機構1により検出された
ブリッジを分割修正し、検出機構1により検出されたホ
ールにハンダ盛り修正を施す修正機構2が設けられてい
る。
Next, the bridge detected by the inspection mechanism 1 is divided and corrected above the conveyance path 4b on the downstream side in the conveyance direction from the inspection mechanism 1, and the holes detected by the detection mechanism 1 are corrected by soldering. A correction mechanism 2 for applying is provided.

【0032】この修正機構2には、図3に示されるよう
に、搬送路4bの上方に吊持され、所定空間内を移動自
在に形成されたアーム22と、このアームの下端に設け
られたヘラ状部材25およびハンダ鏝24とが備えられ
いる。上記ヘラ状部材25は、一のハンダ部とこれと異
なる他のハンダ部との間に発生したブリッジを分割し、
上記ハンダ鏝24は、一のハンダ部にてハンダ付け不足
等により発生したホールをハンダ盛り修正するものであ
る。
As shown in FIG. 3, the correction mechanism 2 has an arm 22 suspended above the transport path 4b and formed to be movable in a predetermined space, and provided at a lower end of the arm. A spatula-shaped member 25 and a soldering iron 24 are provided. The above-mentioned spatula-shaped member 25 divides a bridge generated between one solder part and another solder part different therefrom,
The soldering iron 24 corrects a hole generated due to insufficient soldering or the like at one of the solder portions.

【0033】上記アーム22は、搬送路4bの上方に配
設されたXY軸21に吊持された、所謂ロボットアーム
となっている。このXY軸21は、X軸21aとこれに
搭載されたY軸11bからなり、内蔵されたサーボモー
ター等のアクチュエータによりY軸21bがX軸11a
の長手方向に沿って移動自在に形成されたものである。
そしてY軸21bに取り付けられたアーム22は、鉛直
方向に伸長されるとともに、Y軸21bの長手方向に沿
って移動自在に形成されることにより、直立状態で所定
水平面内を前後左右(XY方向)に移動するようになっ
ている。
The arm 22 is a so-called robot arm suspended from an XY axis 21 provided above the transport path 4b. The XY axis 21 includes an X axis 21a and a Y axis 11b mounted on the X axis 21a. The Y axis 21b is fixed to the X axis 11a by an actuator such as a built-in servomotor.
Are formed so as to be movable along the longitudinal direction.
The arm 22 attached to the Y-axis 21b extends in the vertical direction and is formed to be movable along the longitudinal direction of the Y-axis 21b. ).

【0034】また、アーム22は、上記Y軸21bに支
持された上部ブロック22aと、該上部ブロック22a
に内装されたシリンダ装置のロッドである昇降軸22c
と、この昇降軸22cに吊持された下部ブロック22b
とからなり、昇降軸22cの進退によって下部ブロック
22bが上部ブロック22aに対して昇降自在に形成さ
れている。さらに、上記下部ブロック22bは、内部に
サーボモータ等のアクチュエータが設けられ、昇降軸2
2cに対して回動自在に形成されている。
The arm 22 has an upper block 22a supported on the Y-axis 21b and an upper block 22a.
Shaft 22c which is a rod of a cylinder device housed inside
And a lower block 22b suspended by the elevating shaft 22c.
The lower block 22b is formed to be able to move up and down with respect to the upper block 22a by the reciprocation of the elevating shaft 22c. Further, an actuator such as a servomotor is provided inside the lower block 22b,
2c so as to be rotatable.

【0035】そして上記ヘラ状部材25は、アーム22
の下部ブロック22b下方に吊持された昇降ブロック2
8ならびにこれに取り付けられたチャックシリンダ25
sを介して下方に突設され、上記下部ブロック22bに
対して昇降可能かつ直立状態にて水平方向に往復微動す
るようになっている。
The above-mentioned spatula-shaped member 25 is
Lift block 2 suspended below the lower block 22b
8 and chuck cylinder 25 attached thereto
The lower block 22b is protruded downward through the s and is capable of vertically moving up and down with respect to the lower block 22b and slightly reciprocating in the horizontal direction in an upright state.

【0036】上記ヘラ状部材25は耐熱性を有する材料
からなり、その先端部は、一方の側面からみた断面形状
が先端が先鋭な略V字状をなし、隣接する他の側面から
みた断面形状が方形をなす偏平な遮蔽材として形成され
ている。そして上記チャックシリンダ25sによって、
先端部の偏平な側面の幅方向に往復微動するようになっ
ている。また、ヘラ状部材5の上記耐熱性を有する材料
として、各種金属でもよいが、溶融された半田を分割す
る際に半田の付着がより少ない方が好ましく、例えばポ
リイミド系樹脂やシリコン系樹脂などのエンジニアリン
グプラスチックスが適している。
The above-mentioned spatula-shaped member 25 is made of a heat-resistant material, and its tip has a substantially V-shaped cross section as viewed from one side, and a cross-section as viewed from another adjacent side. Are formed as flat rectangular shielding members. And, by the chuck cylinder 25s,
It reciprocates finely in the width direction of the flat side surface of the tip. As the material having heat resistance of the spatula-shaped member 5, various metals may be used, but it is preferable that the amount of solder attached is small when the molten solder is divided, for example, a polyimide resin or a silicon resin. Engineering plastics is suitable.

【0037】さらに、ヘラ状部材25に隣接して設けら
れた上記熱風ノズル26は、上記昇降ブロック28付設
され、別途コンプレッサー等から供給された空気をヒー
タによって加熱する熱風発生器(図示せず)に、導管2
6eを介して接続されている。そして、基板10に発生
したブリッジを修正するときに、上記ヘラ状部材5の先
端部近傍に向けて所定温度の熱風を一定時間だけ吹き付
けることにより、これを溶融するものである。この熱風
の温度ならびに吹き付け時間は、予想されるブリッジに
対して溶融するのに十分な熱量を与えるように予め設定
されている。
Further, the hot air nozzle 26 provided adjacent to the spatula-shaped member 25 is provided with the elevating block 28, and a hot air generator (not shown) for heating the air separately supplied from a compressor or the like by a heater. And conduit 2
6e. When the bridge generated on the substrate 10 is corrected, hot air of a predetermined temperature is blown toward the vicinity of the tip of the spatula-shaped member 5 for a certain period of time, thereby melting the same. The temperature of the hot air and the blowing time are preset so as to give a sufficient amount of heat to the expected bridge to melt.

【0038】他方、上記アーム22の下部ブロック22
b下端には、昇降ブロック27が吊持され、係る昇降ブ
ロック27に駆動軸24cを介して、ヒータが挿入され
た細棒状のハンダ鏝24が取り付けられており、上記下
部ブロック22bに対して昇降自在、かつ尖鋭な先端部
が揺動自在に形成されている。すなわち、ハンダ鏝24
は、所定空間内をXYZ方向に移動自在に形成されると
ともに、その先端部をその下方に位置させられる基板1
0の所望の位置に所望の傾斜で当接させることができる
ようになっている。
On the other hand, the lower block 22 of the arm 22
An elevating block 27 is hung from the lower end of b, and a thin rod-shaped soldering iron 24 into which a heater is inserted is attached to the elevating block 27 via a drive shaft 24c. A free and sharp tip is formed to be swingable. That is, the soldering iron 24
Is formed so as to be movable in the XYZ directions in a predetermined space, and has a tip portion located below the substrate 1.
0 can be brought into contact with a desired position at a desired inclination.

【0039】さらに、このハンダ鏝24に隣接して、ハ
ンダ鏝24の先端部に向けてハンダを供給するハンダ供
給ノズル23とが備えられている。このハンダ供給ノズ
ル23は、予め巻回された糸ハンダを送り出す巻取部が
下部ブロック22bに設けられており、この巻取部に案
内チューブ13cによって連結されている。
Further, a solder supply nozzle 23 for supplying solder toward the tip of the solder iron 24 is provided adjacent to the solder iron 24. In the solder supply nozzle 23, a winding section for sending out a previously wound yarn solder is provided in the lower block 22b, and is connected to the winding section by a guide tube 13c.

【0040】ところで、上記修正機構2のアーム22を
基板10上の所定位置に移動させ、昇降,回動させ、さ
らに各昇降ブロック27,28を昇降させて、ヘラ状部
材25によりブリッジ修正をおこない、またハンダ鏝2
4によりハンダ盛り修正をおこなうべく、本装置の情報
処理機構5には又、制御手段53が形成されている。
The arm 22 of the correction mechanism 2 is moved to a predetermined position on the substrate 10, moved up and down, and the lifting blocks 27 and 28 are moved up and down. And soldering iron 2
A control means 53 is also formed in the information processing mechanism 5 of the present apparatus in order to carry out the solder height correction by means of the information processing device 4.

【0041】続いて、上記修正機構2の搬送方向下流側
で、搬送路4cの上方には、修正機構2により修正を施
した基板10のハンダ部について再び検査を施す再検査
機構3が設けられている。この再検査機構3は、これに
対応する判別手段54ならびに制御手段55が情報処理
機構5に形成されている他、上述の検査機構1と同様の
構成を有する検査装置であり、その説明を省略する。
Subsequently, a reinspection mechanism 3 for inspecting the solder portion of the substrate 10 corrected by the correction mechanism 2 again is provided above the conveyance path 4c on the downstream side of the correction mechanism 2 in the conveyance direction. ing. The re-inspection mechanism 3 is an inspection apparatus having the same configuration as the above-described inspection mechanism 1 except that the corresponding determination means 54 and control means 55 are formed in the information processing mechanism 5, and the description thereof is omitted. I do.

【0042】次に上記構成の本装置により、ブリッジな
らびにホールを検出し、これらに修正を施し、さらに再
検査を施す工程を、図6および図7を併用して以下に説
明する。
Next, the steps of detecting bridges and holes, correcting them, and performing re-inspection by the present apparatus having the above configuration will be described below with reference to FIGS. 6 and 7.

【0043】まず、検査をおこなう前に、予め検査すべ
き基板10と同一パターンの基板について、予めハンダ
部とそうでない平板部分とを画像により特定しておく。
これには、すでに各種電子部品が搭載され、ハンダ付け
が施された基板を用いても、また、部品が未搭載のスル
ーホールを有している基板を用いてもよい。
First, before performing an inspection, a solder portion and a flat plate portion that is not the same are specified in advance on a substrate having the same pattern as the substrate 10 to be inspected.
For this purpose, a board on which various electronic components are already mounted and soldered may be used, or a board having through holes in which no components are mounted may be used.

【0044】この工程では、基板10を後に検査をする
ときと同様にして、搬送路4aに搬入して所定位置にに
保持する。するとこの搬入路4aはXYテーブルに搭載
されているから、基板10の回路パターンに沿って基板
10を移動させ、各ハンダ部(もしくは各スルーホー
ル)を撮像手段11により画像として捉え、ハンダ部の
各位置とその面積データ、ならびにハンダ部に埋没する
リードに係る方向データ(クリンチ方向と反対方向を特
定する方向データ)を、情報処理機構5に形成された記
憶手段50内に数量化信号として蓄積する。
In this step, the substrate 10 is loaded into the transport path 4a and held at a predetermined position in the same manner as when inspecting later. Then, since the carry-in path 4a is mounted on the XY table, the board 10 is moved along the circuit pattern of the board 10, and each solder portion (or each through-hole) is captured as an image by the imaging means 11, and Each position and its area data, and direction data (direction data specifying a direction opposite to the clinch direction) relating to the lead buried in the solder portion are stored as quantification signals in the storage means 50 formed in the information processing mechanism 5. I do.

【0045】次いで基板10についてブリッジ検査を施
すが、検査術器基板10を搬送路4a4にて保持した
後、基板10のハンダ面Sに第1の光源12から光を照
射する。そして、先に記憶手段50に入力したハンダ部
の位置情報に基づいて、制御手段52により搬送路4a
をを前後左右に作動させ、基板10の各ハンダ部をトレ
ースしてゆく。
Next, the board 10 is subjected to a bridge inspection. After holding the inspection instrument substrate 10 on the transport path 4a4, the solder surface S of the substrate 10 is irradiated with light from the first light source 12. Then, based on the position information of the solder portion previously input to the storage means 50, the control means 52 controls the transport path 4a.
Is operated back and forth and left and right to trace each solder portion of the substrate 10.

【0046】このときハンダ面S上に、図6(a)に示
されるように、ハンダ部63aとハンダ部63cとの間
隙にブリッジBが発生していたとする。すると、第1の
光源12は、ハンダ面Sに対向する撮像手段11に近接
する位置から光を照射しているから、照射された光のう
ち、ハンダ面Sの平板面に対して傍出しているハンダ部
63a,63b,63c,…およびブリッジBにあたっ
た光の多くは、照射方向の側方に反射する。したがっ
て、これを撮像手段11により捉えると、図6(b)に
示されるように、光源12すなわち撮像手段11方向に
多く反射する板面M1は明部VM1として、板面M1に
対し傍出するハンダ部63a,63b,63c,…は影
部V63a,V63b,V63c,…として、またブリ
ッジBは影部VBとして認識される。
At this time, it is assumed that a bridge B has been formed in the gap between the solder portion 63a and the solder portion 63c on the solder surface S as shown in FIG. Then, since the first light source 12 emits light from a position close to the imaging unit 11 facing the solder surface S, the first light source 12 protrudes out of the irradiated light to the flat surface of the solder surface S. Most of the light hitting the solder portions 63a, 63b, 63c,... And the bridge B is reflected to the side in the irradiation direction. Therefore, when this is captured by the imaging unit 11, as shown in FIG. 6B, the light source 12, that is, the plate surface M1 that largely reflects in the direction of the imaging unit 11 protrudes from the plate surface M1 as a bright portion VM1. The solder portions 63a, 63b, 63c,... Are recognized as shadow portions V63a, V63b, V63c,.

【0047】そしてこの認識された画像と先に認識し記
憶手段50に入力された画像とを判別手段51において
比較し、本来平板であるところ、すなわちハンダ部63
a,63b,63c,…を除く部分、この場合ハンダ部
63aとハンダ部63cとの間隙に、これらを連結する
影部VBを検出したときにはブリッジ有りと判別するの
である。
Then, the discrimination means 51 compares the recognized image with the image previously recognized and input to the storage means 50.
When a shadow portion VB connecting these portions is detected in a portion excluding a, 63b, 63c,..., in this case, in a gap between the solder portion 63a and the solder portion 63c, it is determined that a bridge is present.

【0048】このようなブリッジBの検出方法では、光
の反射方向が特定される平坦な板面M1を明部VM1と
して画像認識し、所定方向からの光が乱反射する板面M
1から傍出したブリッジBを影部VBとして画像認識す
るので、個々に傍出状態の異なるブリッジ部分を明部と
して認識するのに比べ、光源の位置調整が極めて容易で
あるとともに、確実に反射量の多い平坦部との差異にお
いて影部を認識すればよく、検出精度を容易に向上させ
ることが可能となる。
In such a bridge B detection method, the flat plate surface M1 in which the light reflection direction is specified is image-recognized as the bright portion VM1, and the plate surface M on which light from a predetermined direction is irregularly reflected.
Since the image of the bridge B projected from 1 is recognized as the shadow portion VB, the position adjustment of the light source is extremely easy and the reflection is reliably performed as compared with the case where the bridge portions having different projected states are individually recognized as bright portions. What is necessary is just to recognize the shadow part in the difference from the flat part with a large amount, and the detection accuracy can be easily improved.

【0049】続いて、基板10についてホール検査を施
す工程を説明すると、上述同様に保持した基板10のハ
ンダ面Sに、第2の光源13から光を照射して上記位置
情報に基づいて各ハンダ部をトレースしてゆく。例えば
この場合、ハンダ面S上に、図7(a)に示されるよう
に、ハンダ部73eにホールHが発生していたとする。
Next, the step of performing a hole inspection on the substrate 10 will be described. The solder surface S of the substrate 10 held in the same manner as described above is irradiated with light from the second light source 13 and each solder is formed based on the position information. Trace the part. For example, in this case, it is assumed that a hole H has been generated in the solder portion 73e on the solder surface S as shown in FIG.

【0050】すると上記第2の光源13は、ハンダ面S
に対向して、あるいはその周傍に位置するように設けら
れる複数の発光体13a,13aからなり、ハンダ面S
に対して複数方向、すなわち多方向から光を照射してい
るから、板面M2やハンダ部73d,73e,73g,
…ではそれら平坦度にかかわりなく光が多方向に反射す
る一方、凹部であるホールHに照射された光だけはほと
んど反射することがない。
Then, the second light source 13 is connected to the solder surface S
And a plurality of luminous bodies 13a, 13a provided so as to be opposed to or near the periphery thereof.
Are irradiated from a plurality of directions, that is, from multiple directions, so that the plate surface M2 and the solder portions 73d, 73e, 73g,
In the case of..., Light is reflected in multiple directions irrespective of the degree of flatness, but only the light applied to the hole H, which is a concave portion, is hardly reflected.

【0051】したがって、これを撮像手段11により捉
えると、図7(b)に示されるように、平坦な板面M
2、傍出するハンダ部73d,73e,73g,…は各
々、明部VM2,V73d,V73e,V73g,…と
して、またホールHは影部VHとして認識される。これ
により、認識された画像と先に認識した画像とを判別手
段51において比較し、本来、ハンダ部73eの全体
(全面積)について明部V73eとして捉えられる部分
に影部VHを検出したときにはホール有りと判別すれば
よい。
Therefore, when this is captured by the imaging means 11, as shown in FIG.
2, the solder portions 73d, 73e, 73g,... Appearing outside are respectively recognized as bright portions VM2, V73d, V73e, V73g,. As a result, the recognized image and the previously recognized image are compared by the discriminating means 51, and when the shadow portion VH is detected in a portion that is originally considered as the bright portion V73e with respect to the entire (all area) of the solder portion 73e, the hole is detected. What is necessary is just to determine that there is.

【0052】このようなホール検査では、第2の光源1
3がハンダ面Sに対向して、もしくはハンダ面Sの周傍
に設けられた複数の発光体13aからなり、ハンダ面S
に複数方向から光を照射するので、撮像手段11に対し
て板面M2から没入したホールHを除き、平坦度にかか
わらずその他の部分で確実に光を反射させて明部として
認識することができる。すなわち、ハンダ部73eに存
在するホールHを確実に影部VHとして検出することが
できるのである。
In such a hole inspection, the second light source 1
3 comprises a plurality of luminous bodies 13a provided facing the solder surface S or near the periphery of the solder surface S;
Irradiates light from a plurality of directions, so that, except for the hole H immersed from the plate surface M2 with respect to the imaging means 11, light can be surely reflected at other portions regardless of flatness and recognized as a bright portion. it can. That is, the hole H existing in the solder portion 73e can be reliably detected as the shadow portion VH.

【0053】上記ブリッジ検査とホール検査については
どちらを先に、また別個におこなってもよいが、当初記
憶手段50に入力された基板10のデータに基づいて双
方を同時に実行することもでき、また、これらの検査で
判別手段51にて作成された判別情報は情報処理機構5
内の修正装置2に対応する記憶手段54に入力されそこ
で蓄積される。
Either of the bridge inspection and the hole inspection may be performed first or separately, but both can be performed simultaneously based on the data of the substrate 10 initially input to the storage means 50. The discrimination information created by the discrimination means 51 in these inspections is
Is input to the storage means 54 corresponding to the correction device 2 and stored therein.

【0054】次に、この検査された基板10は、搬送路
4aから搬送路4bに送られ、図3に示される修正機構
2の所定位置に保持される。修正機構2に対応する記憶
手段54には先に入力された検査データが蓄積されてい
るので、制御手段53はこの検査データに基づいて搬送
路4bの情報に配設された修正機構2のアーム22を作
動させる。
Next, the inspected substrate 10 is sent from the transport path 4a to the transport path 4b, and is held at a predetermined position of the correction mechanism 2 shown in FIG. Since the inspection data previously input is stored in the storage means 54 corresponding to the correction mechanism 2, the control means 53 controls the arm of the correction mechanism 2 provided in the information of the transport path 4b based on the inspection data. Activate 22.

【0055】鉛直方向に伸長されたアーム22は、XY
軸21によって水平方向(XY方向)に移動自在に吊持
され、かつ昇降軸22cによって下部ブロック22bが
昇降自在(Z方向に移動自在)に形成されているので、
このアーム21を基板10に検出された、図6に示され
るブリッジBのほぼ真上まで移動させる。さらにこの
際、アーム22はそれ自体、回動自在に形成されるとと
もに、下部ブロック22bには昇降ブロック28を介し
てヘラ状部材25が取り付けられているので、アーム2
2を回動させ、さらに昇降ブロック28を幾分降下させ
て、ヘラ状部材25先端部の偏平な側面がブリッジBの
連結方向と直交する向きで、かつブリッジBの僅かに側
方の、基板10の盤面から僅かに離間した位置まで移動
させる。
The arm 22 extended in the vertical direction is an XY
Since the lower block 22b is formed so as to be movable up and down (movable in the Z direction) by the elevating shaft 22c, and is hung movably in the horizontal direction (XY directions) by the shaft 21.
The arm 21 is moved to almost right above the bridge B shown in FIG. Further, at this time, the arm 22 itself is formed rotatably, and the spatular member 25 is attached to the lower block 22b via the elevating block 28.
2 and further lowering the elevating block 28 slightly so that the flat side surface of the tip of the spatula-shaped member 25 is in a direction orthogonal to the connecting direction of the bridge B and slightly lateral to the bridge B. 10 to a position slightly separated from the board surface.

【0056】すると、ヘラ状部材25に隣接して熱風ノ
ズル26とが設けられているから、この熱風ノズル26
によってヘラ状部材25の先端部近傍に向けて、予め設
定された時間だけ熱風を吹き付けることにより、ブリッ
ジBを溶融することができる。次いで 、ヘラ状部材2
5の先端部をブリッジBの側方盤面に当接させるととも
に熱風を停止し、同時にヘラ状部材25が取り付けられ
たチャックシリンダ25sを作動させ、ヘラ状部材25
をその先端部の偏平な側面の幅方向、すなわちブリッジ
Bの連結方向と略交叉する方向に往復微動させると、溶
融したブリッジBが分断される。
Then, since the hot air nozzle 26 is provided adjacent to the spatula member 25, the hot air nozzle 26
The bridge B can be melted by blowing hot air toward the vicinity of the tip of the spatula-shaped member 25 for a preset time. Next, the spatula-shaped member 2
5 is brought into contact with the side surface of the bridge B and the hot air is stopped. At the same time, the chuck cylinder 25s to which the spatula-like member 25 is attached is operated, and the spatula-like member 25
Is slightly reciprocated in the width direction of the flat side surface at the tip end, that is, in the direction substantially intersecting with the connecting direction of the bridge B, the melted bridge B is divided.

【0057】このとき、またヘラ状部材25の先端部が
偏平に形成され、往復微動するときに一旦ブリッジBの
全幅に亙ってこれを分断し、しかもヘラ状部材25との
接触により溶融半田が降温して硬化するから、ヘラ部材
25が往復移動中にブリッジBが再形成されることがな
い。さらに、ヘラ状部材25が、耐熱性を有するポリイ
ミド樹脂等の半田の付着が少ない材料から形成されてい
ると、ブリッジBを分断するときにヘラ状部材25に半
田が付着することがないので、ブリッジBの再形成をよ
り確実に防止することができる。すなわち、修正機構2
のヘラ状部材25にあっては、一旦溶融させたブリッジ
Bに対し、その側方に位置するヘラ状部材25を盤面に
当接させた状態で往復微動させることにより分割するの
で、ブリッジBの形態の相異にかかわらず確実にこれを
修正することができるのである。
At this time, the tip of the spatula-like member 25 is formed flat, and once it reciprocates finely, the bridge B is once divided over the entire width thereof. Is cooled by the cooling, the bridge B is not formed again while the spatula member 25 is reciprocating. Furthermore, if the spatula-shaped member 25 is formed of a material such as a polyimide resin having heat resistance and a small amount of solder adhered thereto, the solder does not adhere to the spatula-shaped member 25 when the bridge B is divided. Bridge B can be more reliably prevented from being reformed. That is, the correction mechanism 2
In the spatula-shaped member 25, the bridge B once melted is divided by reciprocating finely while the spatula-shaped member 25 located on the side thereof is in contact with the board surface, so that the bridge B This can be reliably corrected regardless of the difference in form.

【0058】次に、検査機構2にて検出されたホールH
を修正する場合には、上記同様にアーム22を作動さ
せ、修正すべきハンダ部、例えば図7(a)に示される
ハンダ部73eへ移動させる。アーム22の下部ブロッ
ク22b下方に取り付けられた昇降ブロック27には、
駆動軸24cを介してハンダ鏝24が設けられているか
ら、このハンダ鏝24を記憶手段54に入力されている
上記位置データに基づいて、ハンダ部73eのほぼ中心
へ移動させる。
Next, the hole H detected by the inspection mechanism 2
Is corrected, the arm 22 is operated in the same manner as described above, and is moved to a solder portion to be corrected, for example, a solder portion 73e shown in FIG. 7A. An elevating block 27 attached below the lower block 22b of the arm 22 includes:
Since the soldering iron 24 is provided via the drive shaft 24c, the soldering iron 24 is moved to substantially the center of the solder part 73e based on the position data input to the storage means 54.

【0059】このとき、記憶手段54には又、上記位置
データの他、ハンダ部13のリードに係る方向データ
(クリンチ方向と反対方向を特定する方向データ)が入
力されているから、昇降ブロック27をさらに伸長させ
ながら、駆動軸24cを回動させてハンダ鏝24を鉛直
方向から幾分傾斜させ、かつアーム22の下部ブロック
22bを回動させて、クリンチ方向と反対方向からハン
ダ部73eにハンダ鏝24を接触させる。
At this time, since the direction data (direction data for specifying the direction opposite to the clinch direction) related to the lead of the solder portion 13 is input to the storage means 54 in addition to the position data, the lifting block 27 Is further extended, the drive shaft 24c is rotated to slightly incline the soldering iron 24 from the vertical direction, and the lower block 22b of the arm 22 is rotated to solder the solder 73e from the direction opposite to the clinch direction. The iron 24 is brought into contact.

【0060】するとこのハンダ鏝24の先端は、ハンダ
部13eのリードの折曲方向とは反対側から当接するの
で、ハンダ付けが不足しホールHが発生している部分
を、不要に加熱することなく効率的に加熱することがで
きる。次いでこのハンダ鏝24の先端部に向けてハンダ
供給ノズル13からハンダを供給すれば、ハンダ付けの
不足している箇所に的確にハンダ盛りを施すことができ
る。
Then, since the tip of the soldering iron 24 comes into contact with the solder portion 13e from the side opposite to the direction in which the lead is bent, the portion where the holes H are generated due to insufficient soldering can be unnecessarily heated. It can be heated efficiently without any heating. Next, if the solder is supplied from the solder supply nozzle 13 toward the tip of the soldering iron 24, soldering can be accurately applied to a portion where soldering is insufficient.

【0061】このハンダ盛り修正では、ハンダ部に埋没
するリードのクリンチ方向によって発生するホールHの
位置が予測されること、ならびに再びハンダ盛りを施す
のに最適なハンダ鏝24の接近,当接方向が係るクリン
チ方向により一義適に決定されることに着目しておこな
うもので、これにより人手による作業に準じた良好なハ
ンダ盛りを実現することができる。
In the solder embossing correction, the position of the hole H generated by the clinch direction of the lead buried in the solder portion is predicted, and the optimal approach and contact direction of the soldering iron 24 for performing the solder embossing again. Is focused on that it is uniquely determined according to the clinch direction, and thereby a good solder assembling according to the manual operation can be realized.

【0062】このように修正機構2におけるブリッジの
修正とホールの修正とは通常別個に実行され、各修正動
作は、上記記憶手段54に入力された検査機構1におけ
る検査データに基づいて、各々の修正が完了するまで続
行され、修正の施された基板10は搬送路4bから搬送
路4cへ移動させられる。
As described above, the correction of the bridge and the correction of the hole in the correction mechanism 2 are usually executed separately, and each correction operation is performed based on the inspection data in the inspection mechanism 1 inputted to the storage means 54. The process is continued until the correction is completed, and the corrected substrate 10 is moved from the transport path 4b to the transport path 4c.

【0063】続いて、修正の完了した基板10に対し
て、再検査機構3にて再びブリッジとホールとの検査を
おこなう。この場合、予め記憶手段50に蓄積された基
準となる当初の基板10のデータに基づいて、制御手段
52により搬送路4cをXY方向に移動させながら基板
10のパターンをトレースし、検査機構1と同様の検査
を施す。もしこの再検査機構3により再び不良箇所を検
出したときには、その基板を振り分けコンベヤ等(図示
せず)を用いてラインから除外すればよい。
Subsequently, the inspection of the bridge and the hole is performed again by the reinspection mechanism 3 on the substrate 10 after the correction. In this case, the control unit 52 traces the pattern of the substrate 10 while moving the transport path 4c in the XY directions by the control unit 52 based on the data of the initial substrate 10 serving as a reference previously stored in the storage unit 50. The same inspection is performed. If the defective portion is detected again by the re-inspection mechanism 3, the substrate may be removed from the line using a sorting conveyor or the like (not shown).

【0064】このように本装置には、搬送路4の搬送方
向に沿って検査装置1と修正装置2と再検査装置3とが
備えられており、そのうち検査装置1では、ブリッジ検
査とホール検査との光源を別個に設け、同一工程にて実
施することができる。ことに、ブリッジの検出では、図
6に示されるように、光の反射方向が特定される平坦な
板面M1を明部VM1として画像認識し、所定方向から
の光が乱反射する板面M1から傍出したブリッジBを影
部VBとして画像認識するので、個々に傍出状態の異な
るブリッジ部分を明部として認識するのに比べ、光源の
位置調整が極めて容易であるとともに、確実に反射量の
多い平坦部との差異において影部を認識すればよく、検
出精度を容易に向上させることが可能となる。
As described above, the present apparatus is provided with the inspection device 1, the repair device 2, and the re-inspection device 3 along the transport direction of the transport path 4, and the inspection device 1 includes the bridge inspection and the hole inspection. Can be provided separately and implemented in the same process. In particular, in the detection of the bridge, as shown in FIG. 6, the flat plate surface M1 in which the light reflection direction is specified is image-recognized as the bright portion VM1, and the light from the predetermined direction is diffusely reflected from the plate surface M1. Since the image of the bridge B that has emerged is recognized as the shadow portion VB, the position adjustment of the light source is extremely easy and the amount of reflection can be surely reduced, as compared with the case where bridge portions having different appearances are individually recognized as bright portions. What is necessary is just to recognize a shadow part in the difference with many flat parts, and it becomes possible to improve detection accuracy easily.

【0065】さらに、検出するブリッジを影部として捉
えるので、回路構成等を表示するマスクを黒色にする必
要がなく、白色等明瞭な色彩にてマスクを作成すれば、
回路基板を各種機器に実装したときに識別が容易とな
り、保守管理がしやすくなる。
Further, since the bridge to be detected is regarded as a shadow portion, the mask for displaying the circuit configuration and the like does not need to be black, and if the mask is formed in a clear color such as white,
When the circuit board is mounted on various devices, identification becomes easy, and maintenance management becomes easy.

【0066】また、ホール検査では、図7に示されるよ
うに、第2の光源13がハンダ面Sに対向して、もしく
はハンダ面Sの周傍に設けられた複数の発光体13aか
らなり、ハンダ面Sに複数方向から光を照射するので、
撮像手段11に対して板面M2から没入したホールHを
除き、平坦度にかかわらずその他の部分で確実に光を反
射させて明部として認識することができ、ハンダ部73
eに存在するホールHを確実に影部VHとして検出する
ことができる。
In the hole inspection, as shown in FIG. 7, the second light source 13 is composed of a plurality of luminous bodies 13a provided opposite to or near the solder surface S. Since the solder surface S is irradiated with light from a plurality of directions,
Except for the hole H immersed from the plate surface M2 with respect to the imaging means 11, light can be surely reflected at other portions regardless of the flatness and recognized as a bright portion.
The hole H existing in e can be reliably detected as the shadow portion VH.

【0067】また、本装置の修正機構2におけるブリッ
ジ修正では、一旦溶融させたブリッジに対し、その側方
に位置するヘラ状部材25を盤面に当接させた状態で往
復微動させることにより分割するので、ブリッジの溶融
状態をみながらこれを刎ねて分断するなどの必要がな
く、ブリッジの形態の相異にかかわらず確実にこれを修
正することができる。
In the bridge correction in the correction mechanism 2 of the present apparatus, the bridge is divided by slightly reciprocating a spatula-shaped member 25 located on the side of the bridge once the bridge is melted. Therefore, there is no need to cut and separate the bridge while observing the molten state of the bridge, and this can be reliably corrected regardless of the difference in the form of the bridge.

【0068】他方、修正機構2のハンダ盛り修正では、
ハンダ部に埋没するリードの折曲方向とは反対側からハ
ンダ鏝24を当接するので、ハンダ付けが不足しホール
が発生している部分を、不要に加熱することなく効率的
に加熱することができ、搭載された電子部品を不要に加
熱することもない。
On the other hand, in the solder height correction of the correction mechanism 2,
Since the soldering iron 24 abuts from the side opposite to the bending direction of the lead buried in the solder portion, it is possible to efficiently heat the portion where holes are generated due to insufficient soldering without unnecessary heating. It is possible to avoid unnecessary heating of the mounted electronic components.

【0069】このハンダ盛り修正では、ハンダ部に埋没
するリードのクリンチ方向によって発生するホールの位
置が予測されること、ならびに再びハンダ盛りを施すの
に最適なハンダ鏝24の接近,当接方向が係るクリンチ
方向により一義適に決定されることに着目したものであ
る。そして、ハンダ鏝24の係る姿勢制御条件につい
て、検査時に記憶手段50に予め入力した基板データを
使用するので、各種パターンの基板に対して改めてその
データを入力することなく、人手による作業に準じた良
好なハンダ盛りを実現することができる。
In this solder embossing correction, the position of the hole generated by the clinch direction of the lead buried in the solder portion is predicted, and the optimal approach and contact direction of the soldering iron 24 for performing the solder embossing again is determined. It is noted that it is uniquely determined by the clinch direction. Since the board data input in advance to the storage means 50 at the time of inspection is used for the posture control conditions of the soldering iron 24, the work according to the manual operation is performed without inputting the data again to the boards of various patterns. Good soldering can be realized.

【0070】そして、本装置では、修正後の基板につい
ても再検査機構3によって再検査を施すので、基板組立
工程におけるハンダ付け工程での品質を確実に向上させ
ることができるとともに、これら検査、修正、再検査の
工程が一連の工程として集約されているので、飛躍的に
省力化を図ることができるのである。
In the present apparatus, since the re-inspected board is also re-inspected by the re-inspecting mechanism 3, the quality in the soldering step in the board assembling step can be surely improved, and the inspection and repairs can be performed. Since the re-inspection process is integrated as a series of processes, labor saving can be drastically achieved.

【0071】[0071]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、以
下に記載される効果を奏する。
According to the present invention as described above, the following effects can be obtained.

【0072】(1)ブリッジの検出では、所定方向から
の光が乱反射する板面から傍出したブリッジを影部とし
て画像認識するので、個々に傍出状態の異なるブリッジ
部分を明部として認識するのに比べ、光源の位置調整が
極めて容易であるとともに、確実に反射量の多い平坦部
との差異において影部を認識すればよく、検出精度を容
易に向上させることが可能となり、また、ホール検査で
は、複数方向から光を照射して没入するホールを除く他
の部分で光を反射させ、ホールを影部として認識するの
で確実にホールを検出することができるとともに、ブリ
ッジ検査とホール検査との光源を別個に設けることで、
同一工程にて実施することができる。
(1) In bridge detection, since a bridge that has protruded from a plate surface on which light from a predetermined direction diffusely reflects is image-recognized as a shadow portion, bridge portions having different protruding states are recognized as bright portions. In comparison with the above, it is extremely easy to adjust the position of the light source, and it is only necessary to reliably recognize the shadow part in the difference from the flat part having a large amount of reflection, and it is possible to easily improve the detection accuracy, In the inspection, light is reflected from other parts except the hole that irradiates and immerses from multiple directions, and the hole is recognized as a shadow part, so that the hole can be detected reliably, and bridge inspection and hole inspection can be performed. By providing a separate light source,
It can be performed in the same step.

【0073】(2)ブリッジ検査では光が乱反射するブ
リッジを影部として捉え、基板の盤面を明部として捉え
るので、回路構成等を表示するマスクを黒色にする必要
がなく、白色等明瞭な色彩にてマスクを作成すれば、回
路基板を各種機器に実装したときに識別が容易となる。
(2) In the bridge inspection, since the bridge where light is irregularly reflected is regarded as a shadow portion and the board surface of the substrate is regarded as a bright portion, a mask for displaying a circuit configuration or the like does not need to be black, and a clear color such as white can be obtained. When the circuit board is formed on the various devices, the identification becomes easy.

【0074】(3)ブリッジ修正では、一旦溶融させた
ブリッジに対し、その側方に位置するヘラ状部材を往復
微動させることにより分割するので、ブリッジの溶融状
態をみながらこれを刎ねて分断するなどの必要がなく、
ブリッジの形態の相異にかかわらず確実にこれを修正す
ることができる。
(3) In the bridge correction, the bridge once melted is divided by reciprocating a spatula-shaped member located on the side thereof, so that the bridge is cut off and cut while observing the molten state of the bridge. There is no need to do
This can be reliably corrected regardless of differences in the form of the bridge.

【0075】(4)ハンダ盛り修正では、埋没するリー
ドの折曲方向とは反対側からハンダ鏝を傾斜させてハン
ダ部に当接させるので、ハンダ付けが不足しホールが発
生しているハンダ部に対し、効率的に加熱できるととも
に、少ないハンダ量でハンダ盛りを施すことができ、搭
載された電子部品を不要に加熱することがない。
(4) In the solder embossing correction, the soldering iron is inclined from the side opposite to the bending direction of the buried lead and is brought into contact with the soldering portion. On the other hand, it is possible to heat efficiently and to perform soldering with a small amount of solder, so that the mounted electronic components are not unnecessarily heated.

【0076】(5)ハンダ鏝の姿勢制御条件について、
検査時に予め入力した基板データを使用するので、各種
パターンの基板に対して改めてそのデータを入力するこ
となく、人手による作業に準じた良好なハンダ盛りを実
現することができる。
(5) Regarding the attitude control conditions of the soldering iron,
Since the board data input in advance at the time of inspection is used, it is possible to realize good soldering in accordance with a manual operation without re-inputting the data for boards of various patterns.

【0077】(6)修正後の基板についても再検査を施
すので、基板組立工程におけるハンダ付け工程での品質
を確実に向上させることができるとともに、これら検
査、修正、再検査の工程が一連の工程として集約されて
いるので、飛躍的に省力化を図ることができる。
(6) Since the board after the repair is re-inspected, the quality in the soldering process in the board assembling process can be surely improved. Since the processes are integrated, labor saving can be drastically achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】ハンダ付け検査修正装置の概要を示す平面図で
ある。
FIG. 1 is a plan view showing an outline of a soldering inspection and correction device.

【図2】検査機構を示す側断面図である。FIG. 2 is a side sectional view showing an inspection mechanism.

【図3】修正機構を示す側断面図である。FIG. 3 is a side sectional view showing a correction mechanism.

【図4】搬送路を示す斜視図であるFIG. 4 is a perspective view showing a transport path.

【図5】データの管理をおこなう情報処理機構のブロッ
ク図である。
FIG. 5 is a block diagram of an information processing mechanism for managing data.

【図6】検査機構でのブリッジの検出を示す説明図であ
る。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing detection of a bridge by an inspection mechanism.

【図7】検査機構でのホールの検出を示す説明図であ
る。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing detection of a hole by the inspection mechanism.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検査機構 11 撮像手段 12 第1の光源 13 第2の光源 2 修正機構 21 XY軸 22 アーム 23 ハンダ供給ノズル 24 ハンダ鏝 25 ヘラ状部材 26 熱風ノズル 3 再検査機構 4(4a,4b,4c) 搬送路 5 情報処理機構 50,54 記憶手段 51,55 判別手段 52,53,56 制御手段 63a〜63h ハンダ部 V63a〜V63h ハンダ部(画像) B ブリッジ H ホール 10 基板 S ハンダ面 Reference Signs List 1 inspection mechanism 11 imaging means 12 first light source 13 second light source 2 correction mechanism 21 XY axis 22 arm 23 solder supply nozzle 24 solder iron 25 spatula-shaped member 26 hot air nozzle 3 re-inspection mechanism 4 (4a, 4b, 4c) Conveyance path 5 Information processing mechanism 50, 54 Storage means 51, 55 Determination means 52, 53, 56 Control means 63a to 63h Solder part V63a to V63h Solder part (image) B Bridge H hole 10 Substrate S Solder surface

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ハンダ面を上方に向けて基板を搬送する
搬送路と、この搬送路の上方に設けられ、前記基板のハ
ンダ部について前記ハンダ面からブリッジ検査およびホ
ール検査をおこなう検査機構と、この検査機構の搬送方
向下流側で前記搬送路の上方に設けられ、前記検査機構
により検出されたブリッジに分割修正を施し、前記検査
機構により検出されたホールにハンダ盛り修正を施す修
正機構と、この修正機構の搬送方向下流側で前記搬送路
の上方に設けられ、前記修正機構により修正を施した前
記基板の前記ハンダ部について再び検査を施す再検査機
構とを有し、 前記検査機構および前記再検査機構には各々に、前記搬
送路に対向して設けられた撮像手段と、前記搬送路に対
向して設けられ、前記ハンダ面に所定方向から光を照射
する第1の光源と、前記搬送路に対向してもしくは周傍
に設けられ、前記ハンダ面に複数方向から光を照射する
第2の光源と、前記撮像手段で捉えた前記ハンダ面の画
像をもとに前記第1の光源からの光を乱反射する影部の
中からハンダ部とハンダ部との間に存在する影部を検出
することによりブリッジを検出し、前記撮像手段で捉え
た前記ハンダ面の画像をもとに前記第2の光源からの光
を反射しない影部を検出することによりホールを検出す
る判別手段とが備えられ、前記修正機構には、前記搬送
路の上方に吊持され、所定空間内を移動自在に形成され
たアームと、このアームの下端に突設され水平方向に微
動するヘラ状部材、およびこのヘラ状部材に隣接して設
けられ前記ヘラ状部材の先端部近傍に向けて熱風を吹き
付ける熱風ノズルと、前記アームの下端に設けられたハ
ンダ鏝、およびこのハンダ鏝に隣接して設けられ前記ハ
ンダ鏝の先端部に向けてハンダを供給するハンダ供給ノ
ズルとが備えられていることを特徴とするハンダ付け検
査修正装置。
A transport path for transporting a substrate with a solder surface facing upward, an inspection mechanism provided above the transport path, and performing a bridge inspection and a hole inspection on the solder portion of the substrate from the solder surface; A correction mechanism that is provided above the transport path on the downstream side in the transport direction of the inspection mechanism, performs a divisional correction on the bridge detected by the inspection mechanism, and performs a soldering correction on a hole detected by the inspection mechanism; A re-inspection mechanism provided above the transport path on the downstream side in the transport direction of the repair mechanism and re-inspecting the solder portion of the substrate corrected by the repair mechanism; and Each of the reinspection mechanisms is provided with an image pickup unit provided to face the transport path and a light source irradiating the solder surface from a predetermined direction. A first light source provided opposite to or circumferential beside the conveying path, a second light source for irradiating light from a plurality of directions on the solder surface, the field of the solder surface captured by the image pickup means
A shadow portion for irregularly reflecting light from the first light source based on an image;
Detects shadows between solder parts from inside
To detect the bridge and capture it with the imaging means.
Light from the second light source based on the image of the solder surface
Detect holes by detecting shadows that do not reflect light
The correction mechanism includes an arm suspended above the transport path and formed to be movable in a predetermined space, and protruding from a lower end of the arm and finely moving in a horizontal direction. A spatula-shaped member, a hot-air nozzle provided adjacent to the spatula-shaped member and blowing hot air toward a vicinity of a tip end of the spatula-shaped member, and a c- shape provided at a lower end of the arm.
Nda鏝, and soldering inspection adjustment device also being equipped with a solder supply nozzle for supplying a solder toward the distal end of the solder iron provided adjacent to the solder iron.
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