JPH05232167A - 波形判定用包絡線の作成方法 - Google Patents
波形判定用包絡線の作成方法Info
- Publication number
- JPH05232167A JPH05232167A JP7006392A JP7006392A JPH05232167A JP H05232167 A JPH05232167 A JP H05232167A JP 7006392 A JP7006392 A JP 7006392A JP 7006392 A JP7006392 A JP 7006392A JP H05232167 A JPH05232167 A JP H05232167A
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- Japan
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- waveform
- coordinate
- limit envelope
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 基準波形の周囲に適正な判定領域を設定する
ことができる波形判定用包絡線の作成方法を得る。 【構成】 判定領域に応じてその形状が定められた限界
設定図形を基準波形に沿って移動させ、そのときの限界
設定図形の軌跡に基づいて、判定領域の上限包絡線と下
限包絡線とを決定する 【効果】 基準波形の周囲に適正な判定領域を設定する
ことが可能となり、さらに、限界設定図形の形状の選択
によって、時間のずれや波高値のずれに対して、それぞ
れ厳しい、あるいは緩やかな判定領域を自在に設定でき
る波形判定用包絡線の作成方法が得られる。
ことができる波形判定用包絡線の作成方法を得る。 【構成】 判定領域に応じてその形状が定められた限界
設定図形を基準波形に沿って移動させ、そのときの限界
設定図形の軌跡に基づいて、判定領域の上限包絡線と下
限包絡線とを決定する 【効果】 基準波形の周囲に適正な判定領域を設定する
ことが可能となり、さらに、限界設定図形の形状の選択
によって、時間のずれや波高値のずれに対して、それぞ
れ厳しい、あるいは緩やかな判定領域を自在に設定でき
る波形判定用包絡線の作成方法が得られる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、被判定波形の良否判
定の際の判定領域を規定するための、上限包絡線と下限
包絡線を生成する波形判定用包絡線の作成方法に関する
ものである。
定の際の判定領域を規定するための、上限包絡線と下限
包絡線を生成する波形判定用包絡線の作成方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】図5は例えば、特開昭62−19552
0号公報に示された従来の波形判定用包絡線の作成方法
を示す説明図であり、図4はその包絡線にて規定された
所定の判定領域内にあるか否かによって被判定波形の良
否を判定する波形判定方法を示す説明図である。
0号公報に示された従来の波形判定用包絡線の作成方法
を示す説明図であり、図4はその包絡線にて規定された
所定の判定領域内にあるか否かによって被判定波形の良
否を判定する波形判定方法を示す説明図である。
【0003】図4において、1はその良否が判定される
被判定波形であり、2はその良否判定の基準となる判定
領域の上限を示す上限包絡線、3は前記判定領域の下限
を示す下限包絡線である。
被判定波形であり、2はその良否判定の基準となる判定
領域の上限を示す上限包絡線、3は前記判定領域の下限
を示す下限包絡線である。
【0004】被判定波形1の良否の判定に際しては、ま
ず上限包絡線2と下限包絡線3とを作成して、合格とな
る被判定波形1の範囲を示す判定領域を規定する。次
に、被判定波形1をそれに重ね、図4(a)に示すよう
に、その全てが判定領域内にあれば、その被判定波形1
は合格と判定する。また、図4(b)に示すように、そ
の一部でも判定領域外にはみだす部分(同図に破線で示
した部分)がある場合には、その被判定波形1を不合格
と判定する。
ず上限包絡線2と下限包絡線3とを作成して、合格とな
る被判定波形1の範囲を示す判定領域を規定する。次
に、被判定波形1をそれに重ね、図4(a)に示すよう
に、その全てが判定領域内にあれば、その被判定波形1
は合格と判定する。また、図4(b)に示すように、そ
の一部でも判定領域外にはみだす部分(同図に破線で示
した部分)がある場合には、その被判定波形1を不合格
と判定する。
【0005】従来、このような上限包絡線2と下限包絡
線3を作成する場合、図5に示すような方法をとるのが
一般的であった。即ち、前記被判定波形1の標準となる
基準波形4に基づいて、当該基準波形4を図5(a)の
如く波高値軸方向に許容値だけ振らせて、同図に一点鎖
線で示す限界線5を得る。
線3を作成する場合、図5に示すような方法をとるのが
一般的であった。即ち、前記被判定波形1の標準となる
基準波形4に基づいて、当該基準波形4を図5(a)の
如く波高値軸方向に許容値だけ振らせて、同図に一点鎖
線で示す限界線5を得る。
【0006】次に、同様にして前記基準波形4を図5
(b)の如く時間軸方向に許容値だけ振らせて、同図に
一点鎖線で示す限界線6を得る。これら両限界線5およ
び6を図5(c)に示すように合成して、同図に二点鎖
線で示す上限包絡線2と下限包絡線3とを作成する。
(b)の如く時間軸方向に許容値だけ振らせて、同図に
一点鎖線で示す限界線6を得る。これら両限界線5およ
び6を図5(c)に示すように合成して、同図に二点鎖
線で示す上限包絡線2と下限包絡線3とを作成する。
【0007】この場合、図5(c)に一重のハッチング
を施した部分だけが被判定波形1の判定領域となり、同
図に二重のハッチングを施した部分は被判定波形1の判
定領域からは除外される。
を施した部分だけが被判定波形1の判定領域となり、同
図に二重のハッチングを施した部分は被判定波形1の判
定領域からは除外される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来の波形判定用包絡
線の作成方法は以上のように構成されているので、時間
の経過に対して波高値の変化が急峻な部分では、図5
(c)に二重ハッチングを施した部分が判定領域から除
外されてしまい、その部分における合格と判定される領
域が極めて狭いものとなって、基準波形からのずれがわ
ずかな被判定波形1であっても不合格と判定されてしま
うことがあるという問題点があった。
線の作成方法は以上のように構成されているので、時間
の経過に対して波高値の変化が急峻な部分では、図5
(c)に二重ハッチングを施した部分が判定領域から除
外されてしまい、その部分における合格と判定される領
域が極めて狭いものとなって、基準波形からのずれがわ
ずかな被判定波形1であっても不合格と判定されてしま
うことがあるという問題点があった。
【0009】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、基準波形の周囲に適正な判定領
域を設定することができる波形判定用包絡線の作成方法
を得ることを目的とする。
ためになされたもので、基準波形の周囲に適正な判定領
域を設定することができる波形判定用包絡線の作成方法
を得ることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明に係る波形判定
用包絡線の作成方法は、判定領域に応じてその形状が定
められた限界設定図形を基準波形に沿って移動させ、そ
のときの当該限界設定図形の軌跡に基づいて、判定領域
の上限包絡線と下限包絡線とを決定するものである。
用包絡線の作成方法は、判定領域に応じてその形状が定
められた限界設定図形を基準波形に沿って移動させ、そ
のときの当該限界設定図形の軌跡に基づいて、判定領域
の上限包絡線と下限包絡線とを決定するものである。
【0011】
【作用】この発明における波形判定用包絡線の作成方法
は、基準波形上を移動する限界設定図形の軌跡に基づい
て、判定領域の上限包絡線と下限包絡線とを生成し、当
該判定領域を前記限界設定図形の形状によって設定する
ことにより、基準波形の周囲に適正な判定領域を設定す
ることが可能な波形判定用包絡線の作成方法を実現す
る。
は、基準波形上を移動する限界設定図形の軌跡に基づい
て、判定領域の上限包絡線と下限包絡線とを生成し、当
該判定領域を前記限界設定図形の形状によって設定する
ことにより、基準波形の周囲に適正な判定領域を設定す
ることが可能な波形判定用包絡線の作成方法を実現す
る。
【0012】
実施例1.以下、この発明の実施例を図について説明す
る。図1において、2は上限包絡線、3は下限包絡線、
4は基準波形であり、図5に同一符号を付した従来のそ
れらと同一、あるいは相当部分であるため詳細な説明は
省略する。
る。図1において、2は上限包絡線、3は下限包絡線、
4は基準波形であり、図5に同一符号を付した従来のそ
れらと同一、あるいは相当部分であるため詳細な説明は
省略する。
【0013】70 〜79 は前記基準波形4に沿ってその
中心点wを移動させ、その軌跡に基づいて前記上限包絡
線2および下限包絡線3を作成するための限界設定図形
としての四辺形である。図2はこの四辺形の詳細を示す
説明図であって、その位置を規定しない場合の符号は7
とする。
中心点wを移動させ、その軌跡に基づいて前記上限包絡
線2および下限包絡線3を作成するための限界設定図形
としての四辺形である。図2はこの四辺形の詳細を示す
説明図であって、その位置を規定しない場合の符号は7
とする。
【0014】この四辺形7は横2x、縦2yの長方形
(その特殊形態としての正方形を含む)をしており、そ
の中心点wの座標が(m,n)であった場合、各頂点の
座標は各々(n−x,m+y)、(n+x,m−y)、
(n−x,m−y)、(n+x,m−y)となる。
(その特殊形態としての正方形を含む)をしており、そ
の中心点wの座標が(m,n)であった場合、各頂点の
座標は各々(n−x,m+y)、(n+x,m−y)、
(n−x,m−y)、(n+x,m−y)となる。
【0015】次に上限包絡線2および下限包絡線3の作
成について説明する。図1に示すように、まずその中心
点wが基準波形4をトレースするように四辺形7を平行
移動させてゆく。従って、四辺形7はその中心点wのX
座標がP0 にある場合には70 となり、P1 にあれば7
1 、P2 にあれば72 、以下同様にして、P9 にあれば
79 となる。
成について説明する。図1に示すように、まずその中心
点wが基準波形4をトレースするように四辺形7を平行
移動させてゆく。従って、四辺形7はその中心点wのX
座標がP0 にある場合には70 となり、P1 にあれば7
1 、P2 にあれば72 、以下同様にして、P9 にあれば
79 となる。
【0016】ここで、例えばX座標P2 における上限包
絡線2のY座標は、以下のようにして決定される。今、
四辺形7の横の長さを規定しているxの値を“2”と
し、各点P0 〜P9 のピッチを“1”とした場合、上辺
が当該P2 を含んでいる四辺形は70 〜74 の5つであ
る。これら各四辺形70 〜74 の中で上辺のY座標が最
も大きなものが選択される。
絡線2のY座標は、以下のようにして決定される。今、
四辺形7の横の長さを規定しているxの値を“2”と
し、各点P0 〜P9 のピッチを“1”とした場合、上辺
が当該P2 を含んでいる四辺形は70 〜74 の5つであ
る。これら各四辺形70 〜74 の中で上辺のY座標が最
も大きなものが選択される。
【0017】従って、この場合には四辺形74 が選択さ
れ、その上辺のY座標が上限包絡線2のY座標となる。
以下同様にして、P3 〜P7 では四辺形75 が選択され
てその上辺のY座標が、P8 では四辺形75 が選択され
てその上辺のY座標が、P9では77 が選択されてその
上辺のY座標がそれぞれ上限包絡線2のY座標となる。
れ、その上辺のY座標が上限包絡線2のY座標となる。
以下同様にして、P3 〜P7 では四辺形75 が選択され
てその上辺のY座標が、P8 では四辺形75 が選択され
てその上辺のY座標が、P9では77 が選択されてその
上辺のY座標がそれぞれ上限包絡線2のY座標となる。
【0018】このような処理を基準波形4の全体につい
て行い、各点のY座標を順番に連絡してゆくことによっ
て上限包絡線2を完成する。
て行い、各点のY座標を順番に連絡してゆくことによっ
て上限包絡線2を完成する。
【0019】また、下限包絡線3についても同様であ
り、各点について、下辺がその点を含む四辺形7の中
で、下辺のY座標が最低となるものを選択してその下辺
のY座標を当該点における下限包絡線3のY座標とし、
それを順次連結してゆくことによって下限包絡線3を完
成する。
り、各点について、下辺がその点を含む四辺形7の中
で、下辺のY座標が最低となるものを選択してその下辺
のY座標を当該点における下限包絡線3のY座標とし、
それを順次連結してゆくことによって下限包絡線3を完
成する。
【0020】従来技術の説明において図5に例示した、
急峻な立ち下がりをもつ基準波形4について、上記実施
例の方法にしたがって上限包絡線2と下限包絡線3とを
作成した場合の例を図3に示す。
急峻な立ち下がりをもつ基準波形4について、上記実施
例の方法にしたがって上限包絡線2と下限包絡線3とを
作成した場合の例を図3に示す。
【0021】この場合、点p3 における上限包絡線2の
Y座標は、点p2 の上部の四辺形7uの上辺のY座標に
よって規定され、点p1 における下限包絡線3のY座標
は、点p2 の下部の四辺形7dの下辺のY座標によって
規定されるため、図5(c)に二重のハッチングを施し
た部分が欠落するようなことはない。
Y座標は、点p2 の上部の四辺形7uの上辺のY座標に
よって規定され、点p1 における下限包絡線3のY座標
は、点p2 の下部の四辺形7dの下辺のY座標によって
規定されるため、図5(c)に二重のハッチングを施し
た部分が欠落するようなことはない。
【0022】実施例2.なお、上記実施例では、限界設
定図形として四辺形を用いたものを示したが、楕円(そ
の特殊形態としての円を含む)を用いてもよく、四辺形
を用いた場合と同様の手順にて作成可能である。
定図形として四辺形を用いたものを示したが、楕円(そ
の特殊形態としての円を含む)を用いてもよく、四辺形
を用いた場合と同様の手順にて作成可能である。
【0023】実施例3.また、上記実施例では、基準波
形上を移動する限界設定図形の軌跡の上限値および下限
値を用いて上限包絡線および下限包絡線を作成する場合
について説明したが、限界設定の通過する軌跡の全てを
判定領域とし、その上下の境界を上限包絡線および下限
包絡線としてもよく、上記実施例と同様の効果を奏す
る。
形上を移動する限界設定図形の軌跡の上限値および下限
値を用いて上限包絡線および下限包絡線を作成する場合
について説明したが、限界設定の通過する軌跡の全てを
判定領域とし、その上下の境界を上限包絡線および下限
包絡線としてもよく、上記実施例と同様の効果を奏す
る。
【0024】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、基準
波形上を移動する限界設定図形の軌跡に基づいて、判定
領域の上限包絡線と下限包絡線とを生成し、当該判定領
域を前記限界設定図形の形状によって設定するように構
成したので、基準波形の周囲に適正な判定領域を設定す
ることが可能となり、さらに、限界設定図形の形状を選
択することによって、時間のずれに対して厳しい、ある
いは緩やかな判定領域や、波高値のずれに対して厳し
い、あるいはゆるやかな判定領域を自在に設定できる波
形判定用包絡線の作成方法が得られる効果がある。
波形上を移動する限界設定図形の軌跡に基づいて、判定
領域の上限包絡線と下限包絡線とを生成し、当該判定領
域を前記限界設定図形の形状によって設定するように構
成したので、基準波形の周囲に適正な判定領域を設定す
ることが可能となり、さらに、限界設定図形の形状を選
択することによって、時間のずれに対して厳しい、ある
いは緩やかな判定領域や、波高値のずれに対して厳し
い、あるいはゆるやかな判定領域を自在に設定できる波
形判定用包絡線の作成方法が得られる効果がある。
【図1】この発明の一実施例による波形判定用包絡線の
作成方法を示す説明図である。
作成方法を示す説明図である。
【図2】上記実施例における限界設定図形の一例を示す
説明図である。
説明図である。
【図3】上記実施例で作成された上限包絡線と下限包絡
線の一例を示す説明図である。
線の一例を示す説明図である。
【図4】この発明および従来の方法にて作成された上限
包絡線および下限包絡線を用いた波形判定方法を示す説
明図である。
包絡線および下限包絡線を用いた波形判定方法を示す説
明図である。
【図5】従来の波形判定用包絡線の作成方法を示す説明
図である。
図である。
1 被判定波形 2 上限包絡線 3 下限包絡線 4 基準波形 7 限界設定図形(四辺形)
Claims (1)
- 【請求項1】 時間の経過とともにその波高値が変化す
る被判定波形の良否を、基準波形に基づいて設定された
所定の判定領域内にあるか否かによって判定する際の、
前記判定領域を規定する上限包絡線と下限包絡線を作成
する波形判定用包絡線の作成方法において、前記判定領
域に応じてその形状が定められた限界設定図形を、前記
基準波形に沿って移動させ、そのときの前記限界設定図
形の軌跡に基づいて、前記上限包絡線と下限包絡線とを
決定することを特徴とする波形判定用包絡線の作成方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7006392A JPH05232167A (ja) | 1992-02-21 | 1992-02-21 | 波形判定用包絡線の作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7006392A JPH05232167A (ja) | 1992-02-21 | 1992-02-21 | 波形判定用包絡線の作成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05232167A true JPH05232167A (ja) | 1993-09-07 |
Family
ID=13420713
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7006392A Pending JPH05232167A (ja) | 1992-02-21 | 1992-02-21 | 波形判定用包絡線の作成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05232167A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003194855A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-07-09 | Tektronix Japan Ltd | 測定機器用マスク及び波形の作成及び編集方法 |
-
1992
- 1992-02-21 JP JP7006392A patent/JPH05232167A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003194855A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-07-09 | Tektronix Japan Ltd | 測定機器用マスク及び波形の作成及び編集方法 |
JP4625975B2 (ja) * | 2001-11-06 | 2011-02-02 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | 測定機器用マスク及び波形の作成及び編集方法 |
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