JPH05231876A - アナログ信号切換装置 - Google Patents
アナログ信号切換装置Info
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- JPH05231876A JPH05231876A JP4037812A JP3781292A JPH05231876A JP H05231876 A JPH05231876 A JP H05231876A JP 4037812 A JP4037812 A JP 4037812A JP 3781292 A JP3781292 A JP 3781292A JP H05231876 A JPH05231876 A JP H05231876A
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- Japan
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- signal
- dead time
- signals
- measurement system
- measurement
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】複数の測定系中の一測定系が動作中で、この一
測定系の不感時間内において発生されたアナログ信号
を、動作していない他の測定系に自動的に選択伝達し
て、計数率が高い場合でも数え落としの少ない測定系の
アナログ信号切換装置を提供する。 【構成】断続入力されるアナログ信号と複数の測定系に
おける夫々の動作時に発する不感時間信号から当初発生
のアナログ信号を複数の測定系中の一測定系に伝達する
と共に、続いて当該一測定系の不感時間内に発生された
アナログ信号は動作していない他の測定系を選択して伝
達する制御信号を発する信号処理手段と、この信号処理
手段からの制御信号により発生された夫々のアナログ信
号を各測定系に伝達するスイッチ手段からなることを特
徴とする。
測定系の不感時間内において発生されたアナログ信号
を、動作していない他の測定系に自動的に選択伝達し
て、計数率が高い場合でも数え落としの少ない測定系の
アナログ信号切換装置を提供する。 【構成】断続入力されるアナログ信号と複数の測定系に
おける夫々の動作時に発する不感時間信号から当初発生
のアナログ信号を複数の測定系中の一測定系に伝達する
と共に、続いて当該一測定系の不感時間内に発生された
アナログ信号は動作していない他の測定系を選択して伝
達する制御信号を発する信号処理手段と、この信号処理
手段からの制御信号により発生された夫々のアナログ信
号を各測定系に伝達するスイッチ手段からなることを特
徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、アナログ信号の測定伝
達に係り、特に計数率の高い測定においても数え落とし
の少ないアナログ信号切換装置に関する。
達に係り、特に計数率の高い測定においても数え落とし
の少ないアナログ信号切換装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】アナログ信号の測定伝達については、例
えば、一般的な放射線エネルギースペクトル測定装置は
図４のブロック構成図に示すように、放射線検出器１と
プリアンプ２、リニアアンプ３およびアナログディジタ
ル変換器４（以下Ａ／Ｄ変換器と略称する）とメモリー
回路５から構成されている。前記放射線検出器１は放射
線の検出を行うと、それに応じた電気信号を出力し、こ
の電気信号はプリアンプ２に入力されて積分される。積
分された信号は放射線のエネルギーに比例した波高値を
持っている。この信号はリニアアンプ３に入力され、ノ
イズの除去等のために波形整形される。
えば、一般的な放射線エネルギースペクトル測定装置は
図４のブロック構成図に示すように、放射線検出器１と
プリアンプ２、リニアアンプ３およびアナログディジタ
ル変換器４（以下Ａ／Ｄ変換器と略称する）とメモリー
回路５から構成されている。前記放射線検出器１は放射
線の検出を行うと、それに応じた電気信号を出力し、こ
の電気信号はプリアンプ２に入力されて積分される。積
分された信号は放射線のエネルギーに比例した波高値を
持っている。この信号はリニアアンプ３に入力され、ノ
イズの除去等のために波形整形される。
【０００３】このようにして得られたパルス信号はＡ／
Ｄ変換器４に入力され、夫々波高値の測定が行われる。
測定結果はそれらの波高値（放射線エネルギー）ごとに
区分けされてメモリー回路５に書き込まれる。なお、Ａ
／Ｄ変換器４とメモリー回路５を備えた装置は、いわゆ
るマルチチャネルアナライザとして実用化されている。
Ｄ変換器４に入力され、夫々波高値の測定が行われる。
測定結果はそれらの波高値（放射線エネルギー）ごとに
区分けされてメモリー回路５に書き込まれる。なお、Ａ
／Ｄ変換器４とメモリー回路５を備えた装置は、いわゆ
るマルチチャネルアナライザとして実用化されている。
【０００４】ところで、放射線計測の分野等のようにラ
ンダムな事象を扱う分野では、常に測定系における不感
時間が問題となる。ここで不感時間とは、引続き発生す
る事象の間隔が短くなった場合に、その測定系において
それら個々の事象を独立した事象として識別できなくな
るような時間をいう。このような不感時間が生ずる原因
としては、放射線等の測定システムを構成する構成要素
が１つの事象に関与するための有限な時間を有している
ことによる。
ンダムな事象を扱う分野では、常に測定系における不感
時間が問題となる。ここで不感時間とは、引続き発生す
る事象の間隔が短くなった場合に、その測定系において
それら個々の事象を独立した事象として識別できなくな
るような時間をいう。このような不感時間が生ずる原因
としては、放射線等の測定システムを構成する構成要素
が１つの事象に関与するための有限な時間を有している
ことによる。
【０００５】すなわち、ある構成要素が１つの事象に関
与している間、次の事象は待機状態となるか全く無視さ
れてしまう。例えば、放射線エネルギーを測定する場合
には、プリアンプ２からの信号をリニアアンプ３にて増
幅し、このアナログ信号をＡ／Ｄ変換器４にてディジタ
ル信号に変換して、変換後の情報をメモリー回路５に書
込む迄の時間を不感時間として扱っている。
与している間、次の事象は待機状態となるか全く無視さ
れてしまう。例えば、放射線エネルギーを測定する場合
には、プリアンプ２からの信号をリニアアンプ３にて増
幅し、このアナログ信号をＡ／Ｄ変換器４にてディジタ
ル信号に変換して、変換後の情報をメモリー回路５に書
込む迄の時間を不感時間として扱っている。
【０００６】従来より不感時間が問題とされる分野で、
かつ不感時間に発生する事象が無視される場合には、不
感時間に次の事象が発生する確率を統計的に求めてお
き、これを実際の測定結果に補正する方法が採られてい
る。また放射線核種分析装置のようにクロック発信器を
内蔵している装置では、不感時間と等しい時間だけクロ
ックの計数を止めることにして、測定が実際行われる時
間、すなわち、ライブタイムを自動的に補正する等の方
法が行われている。
かつ不感時間に発生する事象が無視される場合には、不
感時間に次の事象が発生する確率を統計的に求めてお
き、これを実際の測定結果に補正する方法が採られてい
る。また放射線核種分析装置のようにクロック発信器を
内蔵している装置では、不感時間と等しい時間だけクロ
ックの計数を止めることにして、測定が実際行われる時
間、すなわち、ライブタイムを自動的に補正する等の方
法が行われている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来より行われていた
方法は、測定系に発生する不感時間に対して補正を行う
ものであった。このため計数率が高くなった場合には、
不感時間の間に到来する信号の確率が増大して測定系で
計数されない、いわゆる数え落としが生ずることが避け
られないという課題があった。
方法は、測定系に発生する不感時間に対して補正を行う
ものであった。このため計数率が高くなった場合には、
不感時間の間に到来する信号の確率が増大して測定系で
計数されない、いわゆる数え落としが生ずることが避け
られないという課題があった。
【０００８】また前記数え落としを減少させるには、測
定系の不感時間をなくすことが最も効果のある方法であ
り、リニアアンプ３およびＡ／Ｄ変換器４等の測定系の
構成要素の高速化が推進されてきた。しかしながら、こ
れらの構成要素の高速化は技術的に困難性が高く、不感
時間における数え落としの少ない装置の開発が要望され
ていた。
定系の不感時間をなくすことが最も効果のある方法であ
り、リニアアンプ３およびＡ／Ｄ変換器４等の測定系の
構成要素の高速化が推進されてきた。しかしながら、こ
れらの構成要素の高速化は技術的に困難性が高く、不感
時間における数え落としの少ない装置の開発が要望され
ていた。
【０００９】本発明の目的とするところは、複数の測定
系中の一測定系が動作中で、この一測定系の不感時間内
において発生したアナログ信号を、動作していない他の
測定系に自動的に選択伝達して、測定系において計数率
が高い場合にも数え落としの少ないアナログ信号切換装
置を提供することにある。
系中の一測定系が動作中で、この一測定系の不感時間内
において発生したアナログ信号を、動作していない他の
測定系に自動的に選択伝達して、測定系において計数率
が高い場合にも数え落としの少ないアナログ信号切換装
置を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】入力されるアナログ信号
と複数の測定系における夫々の動作時に発する不感時間
信号から当初発生のアナログ信号を複数の測定系中の一
測定系に伝達すると共に、続いて当該一測定系の不感時
間内に発生したアナログ信号は動作していない他の測定
系を選択して伝達する制御信号を発する信号処理手段
と、この信号処理手段からの制御信号により発生された
夫々のアナログ信号を各測定系に伝達するスイッチ手段
からなることを特徴とする。
と複数の測定系における夫々の動作時に発する不感時間
信号から当初発生のアナログ信号を複数の測定系中の一
測定系に伝達すると共に、続いて当該一測定系の不感時
間内に発生したアナログ信号は動作していない他の測定
系を選択して伝達する制御信号を発する信号処理手段
と、この信号処理手段からの制御信号により発生された
夫々のアナログ信号を各測定系に伝達するスイッチ手段
からなることを特徴とする。
【００１１】
【作用】切換装置の信号処理手段とスイッチ手段によ
り、当初入力されたアナログ信号信号は複数系統ある測
定系の内の一測定系に伝達すると共に、当該測定系の不
感時間を検知し、若しもこの測定系の動作中に信号が発
生した場合には、動作していない他の測定系を自動的に
選択して信号伝達することにより、計数率が高い場合で
も数え落としの少ない測定を行う。
り、当初入力されたアナログ信号信号は複数系統ある測
定系の内の一測定系に伝達すると共に、当該測定系の不
感時間を検知し、若しもこの測定系の動作中に信号が発
生した場合には、動作していない他の測定系を自動的に
選択して信号伝達することにより、計数率が高い場合で
も数え落としの少ない測定を行う。
【００１２】
【実施例】本発明の一実施例を図面を参照して説明す
る。なお、上記した従来技術と同じ構成部分については
同一符号を付して詳細な説明を省略する。図１は放射線
測定装置のブロック構成図で、図２は切換装置のブロッ
ク構成図を示し、図３は動作タイミング特性図である。
る。なお、上記した従来技術と同じ構成部分については
同一符号を付して詳細な説明を省略する。図１は放射線
測定装置のブロック構成図で、図２は切換装置のブロッ
ク構成図を示し、図３は動作タイミング特性図である。
【００１３】図１に示すように、放射線検出器１の出力
はプリアンプ２に入力される。このプリアンプ２は切換
装置６を介して第１のリニアアンプ３および第１のＡ／
Ｄ変換器４とからなる第１の測定系７と、第２のリニア
アンプ８および第２のＡ／Ｄ変換器９からなる第２の測
定系10に接続される。さらに、この第１の測定系７と第
２の測定系10の２系統の測定系はメモリー回路５に接続
して構成されている。
はプリアンプ２に入力される。このプリアンプ２は切換
装置６を介して第１のリニアアンプ３および第１のＡ／
Ｄ変換器４とからなる第１の測定系７と、第２のリニア
アンプ８および第２のＡ／Ｄ変換器９からなる第２の測
定系10に接続される。さらに、この第１の測定系７と第
２の測定系10の２系統の測定系はメモリー回路５に接続
して構成されている。
【００１４】また前記切換装置６は図２に示すように、
プリアンプ２からの信号のタイミングを調整するタイミ
ング調整回路11と、このタイミング調整回路11からの信
号を切換えて前記第１の測定系７と第２の測定系10に出
力する、スイッチ手段である第１のアナログスイッチ13
および第２のアナログスイッチ14と、前記第１の測定系
７および第２の測定系10の不感時間信号である、第１の
Ａ／Ｄ変換器４および第２のＡ／Ｄ変換器９からの変換
終了信号を入力して前記第１のアナログスイッチ13と第
２のアナログスイッチ14の切替えをする信号処理手段で
ある信号処理回路12で構成されている。
プリアンプ２からの信号のタイミングを調整するタイミ
ング調整回路11と、このタイミング調整回路11からの信
号を切換えて前記第１の測定系７と第２の測定系10に出
力する、スイッチ手段である第１のアナログスイッチ13
および第２のアナログスイッチ14と、前記第１の測定系
７および第２の測定系10の不感時間信号である、第１の
Ａ／Ｄ変換器４および第２のＡ／Ｄ変換器９からの変換
終了信号を入力して前記第１のアナログスイッチ13と第
２のアナログスイッチ14の切替えをする信号処理手段で
ある信号処理回路12で構成されている。
【００１５】次に上記構成による作用について説明す
る。放射線検出器１で検出され、プリアンプ２で増幅し
た信号Ｓ1 は切換装置６に入力される。この切換装置６
は第１の測定系７が動作中であるか否か、いいかえれば
不感時間が発生していないか否かを調べる。不感時間が
発生していない場合には、信号Ｓ2 を第１の測定系７の
第１のリニアアンプ３に出力する。
る。放射線検出器１で検出され、プリアンプ２で増幅し
た信号Ｓ1 は切換装置６に入力される。この切換装置６
は第１の測定系７が動作中であるか否か、いいかえれば
不感時間が発生していないか否かを調べる。不感時間が
発生していない場合には、信号Ｓ2 を第１の測定系７の
第１のリニアアンプ３に出力する。
【００１６】これにより第１の測定系７では、Ａ／Ｄ変
換器４がＡ／Ｄ変換を行い、その結果のデジタル化した
信号Ｓ6 をメモリ回路５に出力してメモリ回路５に書き
込む。若しも第１の測定系７が動作中であり、不感時間
が発生している場合には、切換装置６は第２の測定系10
の第２のリニアアンプ８に信号Ｓ3 を出力する。これに
より、第２のＡ／Ｄ変換器９はＡ／Ｄ変換を行い、デジ
タル化した信号Ｓ7 を出力してメモリ回路５に書き込
む。
換器４がＡ／Ｄ変換を行い、その結果のデジタル化した
信号Ｓ6 をメモリ回路５に出力してメモリ回路５に書き
込む。若しも第１の測定系７が動作中であり、不感時間
が発生している場合には、切換装置６は第２の測定系10
の第２のリニアアンプ８に信号Ｓ3 を出力する。これに
より、第２のＡ／Ｄ変換器９はＡ／Ｄ変換を行い、デジ
タル化した信号Ｓ7 を出力してメモリ回路５に書き込
む。
【００１７】この際に、各第１，第２のリニアアンプ
３，８、および第１，第２のＡ／Ｄ変換器４，９の増幅
度は、予め同一になるように調整してあるので、一組の
装置で測定したものと同様にデータを得ることができ
る。なお、前記この時、第１および第２のＡ／Ｄ変換器
４，９より信号Ｓ6 ，Ｓ7が出力されている間は、夫々
より変換終了信号Ｓ4 ，Ｓ5 が切換装置６の信号処理回
路12に第１の測定系７、および第２の測定系10の不感時
間信号として出力される。
３，８、および第１，第２のＡ／Ｄ変換器４，９の増幅
度は、予め同一になるように調整してあるので、一組の
装置で測定したものと同様にデータを得ることができ
る。なお、前記この時、第１および第２のＡ／Ｄ変換器
４，９より信号Ｓ6 ，Ｓ7が出力されている間は、夫々
より変換終了信号Ｓ4 ，Ｓ5 が切換装置６の信号処理回
路12に第１の測定系７、および第２の測定系10の不感時
間信号として出力される。
【００１８】また図２に示すように前記切換装置６にお
いて、タイミング調整回路11はプリアンプ２から入力し
た信号Ｓ1 のタイミング調整をした信号Ｓ8 を、第１の
アナログスイッチ13と第２のアナログスイッチ14に出力
する。信号処理回路12は、信号Ｓ1 と前記第１の測定系
７の第１のＡ／Ｄ変換器４、および第２の測定系10の第
２のＡ／Ｄ変換器９から、夫々の変換終了信号Ｓ4 ，Ｓ
5 を入力して、第１のアナログスイッチ13、および第２
のアナログスイッチ14を切替える制御信号Ｓ9 ，Ｓ10を
出力する。
いて、タイミング調整回路11はプリアンプ２から入力し
た信号Ｓ1 のタイミング調整をした信号Ｓ8 を、第１の
アナログスイッチ13と第２のアナログスイッチ14に出力
する。信号処理回路12は、信号Ｓ1 と前記第１の測定系
７の第１のＡ／Ｄ変換器４、および第２の測定系10の第
２のＡ／Ｄ変換器９から、夫々の変換終了信号Ｓ4 ，Ｓ
5 を入力して、第１のアナログスイッチ13、および第２
のアナログスイッチ14を切替える制御信号Ｓ9 ，Ｓ10を
出力する。
【００１９】従って、第１のアナログスイッチ13と第２
のアナログスイッチ14は、夫々信号処理回路12からの制
御信号Ｓ9 ，Ｓ10により、前記第１の測定系７あるいは
第２の測定系10に、信号Ｓ６あるいは信号Ｓ７を出力す
るものである。さらに、図３の動作タイミング特性図と
共に、図２に示す切換装置６の動作の詳細な説明を行
う。
のアナログスイッチ14は、夫々信号処理回路12からの制
御信号Ｓ9 ，Ｓ10により、前記第１の測定系７あるいは
第２の測定系10に、信号Ｓ６あるいは信号Ｓ７を出力す
るものである。さらに、図３の動作タイミング特性図と
共に、図２に示す切換装置６の動作の詳細な説明を行
う。
【００２０】図３（ａ）はプリアンプ２からの信号Ｓ1
を示し、所定の時刻に信号Ｓ1 −1が発生すると、これ
を入力した信号処理部12においては、第１の測定系７が
信号処理を行っていなければ、図３（ｂ）に示すよう
に、タイミング調整回路11で信号Ｓ1 −1 のタイミング
を調整した信号Ｓ8 −1 を、第１の測定系７に出力する
ための第１のアナログスイッチ13を閉じる制御信号Ｓ9
−1 を図３（ｃ）に示すように出力する。これにより第
１のアナログスイッチ13が閉じられると信号Ｓ2が出力
される。
を示し、所定の時刻に信号Ｓ1 −1が発生すると、これ
を入力した信号処理部12においては、第１の測定系７が
信号処理を行っていなければ、図３（ｂ）に示すよう
に、タイミング調整回路11で信号Ｓ1 −1 のタイミング
を調整した信号Ｓ8 −1 を、第１の測定系７に出力する
ための第１のアナログスイッチ13を閉じる制御信号Ｓ9
−1 を図３（ｃ）に示すように出力する。これにより第
１のアナログスイッチ13が閉じられると信号Ｓ2が出力
される。
【００２１】この時、図３（ｅ）で示す第２のアナログ
スイッチ14を閉じる制御信号Ｓ10は出力されていないの
で、第２のアナログスイッチ14は開いており、信号Ｓ3
は出力されない。なお、図３（ｄ）に示す変換終了信号
Ｓ4 は、第１の測定系７における不感時間を表す信号で
ある。また第１の測定系７の不感時間（変換終了信号Ｓ
4 −1 ）経過後に、再度信号Ｓ1 −2 が発生した場合に
は、上記に説明した動作が繰り返され、信号処理部12は
第１のアナログスイッチ13を閉じる制御信号Ｓ9 −2 を
出力して、信号Ｓ2 が再び出力される。
スイッチ14を閉じる制御信号Ｓ10は出力されていないの
で、第２のアナログスイッチ14は開いており、信号Ｓ3
は出力されない。なお、図３（ｄ）に示す変換終了信号
Ｓ4 は、第１の測定系７における不感時間を表す信号で
ある。また第１の測定系７の不感時間（変換終了信号Ｓ
4 −1 ）経過後に、再度信号Ｓ1 −2 が発生した場合に
は、上記に説明した動作が繰り返され、信号処理部12は
第１のアナログスイッチ13を閉じる制御信号Ｓ9 −2 を
出力して、信号Ｓ2 が再び出力される。
【００２２】次に第１の測定系７の不感時間（変換終了
信号Ｓ4 −2 ）内に信号Ｓ1 −3 が発生した場合には、
信号処理部12は直ちに制御信号Ｓ9 −2 を停止し、第１
のアナログスイッチ13を開くと共に、信号Ｓ3 を第２の
測定系10に出力するために第２のアナログスイッチ14を
閉じる制御信号Ｓ10−1 を図３（ｅ）に示すように出力
する。また図３（ｆ）に示す変換終了信号Ｓ5 は第２の
測定系10の不感時間を表し、第２の測定系10の不感時間
（変換終了信号Ｓ5 −1 ）経過後に再度信号Ｓ1 −4が
発生して、この時に第１の測定系７が動作可能な場合に
は、前記した信号Ｓ1−1 の発生時と同じ動作が繰り返
される。
信号Ｓ4 −2 ）内に信号Ｓ1 −3 が発生した場合には、
信号処理部12は直ちに制御信号Ｓ9 −2 を停止し、第１
のアナログスイッチ13を開くと共に、信号Ｓ3 を第２の
測定系10に出力するために第２のアナログスイッチ14を
閉じる制御信号Ｓ10−1 を図３（ｅ）に示すように出力
する。また図３（ｆ）に示す変換終了信号Ｓ5 は第２の
測定系10の不感時間を表し、第２の測定系10の不感時間
（変換終了信号Ｓ5 −1 ）経過後に再度信号Ｓ1 −4が
発生して、この時に第１の測定系７が動作可能な場合に
は、前記した信号Ｓ1−1 の発生時と同じ動作が繰り返
される。
【００２３】なお、第２の測定系10の不感時間（変換終
了信号Ｓ5 −2 ）内に信号Ｓ1 −6が発生した場合に
は、信号処理部12は制御信号Ｓ10−2 を直ちに停止して
第２のアナログスイッチ14を開くと共に、信号Ｓ2 を第
１の測定系７に出力するように、第１のアナログスイッ
チ13を閉じる制御信号Ｓ9 −4 を出力する。以上のよう
断続して発生する信号に対し、２系統のうち第１の測定
系７が動作可能な時は常に第１の測定系７を優先して作
動させ、若し第１の測定系７が動作不可能な時には、第
２の測定系10が自動的に作動するように構成したことに
より、一系統だけの測定系の場合に生じる不感時間を減
少して、計数率の高い測定においても数え落としの少な
い測定が可能となる。
了信号Ｓ5 −2 ）内に信号Ｓ1 −6が発生した場合に
は、信号処理部12は制御信号Ｓ10−2 を直ちに停止して
第２のアナログスイッチ14を開くと共に、信号Ｓ2 を第
１の測定系７に出力するように、第１のアナログスイッ
チ13を閉じる制御信号Ｓ9 −4 を出力する。以上のよう
断続して発生する信号に対し、２系統のうち第１の測定
系７が動作可能な時は常に第１の測定系７を優先して作
動させ、若し第１の測定系７が動作不可能な時には、第
２の測定系10が自動的に作動するように構成したことに
より、一系統だけの測定系の場合に生じる不感時間を減
少して、計数率の高い測定においても数え落としの少な
い測定が可能となる。
【００２４】なお、上記した一実施例では，切換装置６
の選択条件を各Ａ／Ｄ変換器４，９からの夫々の測定終
了信号によるハンドシェイクにより実施しているが、各
リニアアンプ３，８の時定数が定まり、夫々のＡ／Ｄ変
換の時間が波高値により変化しない形式のものでは、こ
の時間を固定とすることができて回路構成をより簡単に
することができる。
の選択条件を各Ａ／Ｄ変換器４，９からの夫々の測定終
了信号によるハンドシェイクにより実施しているが、各
リニアアンプ３，８の時定数が定まり、夫々のＡ／Ｄ変
換の時間が波高値により変化しない形式のものでは、こ
の時間を固定とすることができて回路構成をより簡単に
することができる。
【００２５】また本発明では２系統設けた測定系７，10
の内、第１の測定系７を主に動作するように構成した
が、どちらの測定系７，10も均等に交互に動作するよう
にすることも可能であることは勿論である。さらに、複
数の測定系をリニアアンプ３，８、およびＡ／Ｄ変換器
４，９を２組として説明しているので、第１，２の測定
系７，10系統のどちらもが動作中に信号が発生する場合
も考えられ、この場合には信号の数え落としが発生す
る。
の内、第１の測定系７を主に動作するように構成した
が、どちらの測定系７，10も均等に交互に動作するよう
にすることも可能であることは勿論である。さらに、複
数の測定系をリニアアンプ３，８、およびＡ／Ｄ変換器
４，９を２組として説明しているので、第１，２の測定
系７，10系統のどちらもが動作中に信号が発生する場合
も考えられ、この場合には信号の数え落としが発生す
る。
【００２６】しかしながら、この不感時間内に３つのパ
ルスが連続して発生する確率は充分低いので、実用上は
ほとんど支障はないと考えられるが、測定系の系統数を
２以上に増やすことにより対応が可能であり、その場合
にはさらに測定系の不感時間を減少することができる。
また本発明では切換装置６に、タイミング調整回路11を
設けているが、これは一例として示したものであり、回
路構成を工夫することにより他の回路でも同様の効果は
実現可能である。
ルスが連続して発生する確率は充分低いので、実用上は
ほとんど支障はないと考えられるが、測定系の系統数を
２以上に増やすことにより対応が可能であり、その場合
にはさらに測定系の不感時間を減少することができる。
また本発明では切換装置６に、タイミング調整回路11を
設けているが、これは一例として示したものであり、回
路構成を工夫することにより他の回路でも同様の効果は
実現可能である。
【００２７】
【発明の効果】以上本発明によれば、例えば放射線検出
器で検出し、プリアンプから出力された信号を複数の測
定系における夫々の不感時間を検知して自動的に測定系
の振り分けを行うことにより、１組の測定系で生じる不
感時間が減少して、数え落としの少ない測定が可能とな
り、測定装置の信頼性が向上する効果がある。
器で検出し、プリアンプから出力された信号を複数の測
定系における夫々の不感時間を検知して自動的に測定系
の振り分けを行うことにより、１組の測定系で生じる不
感時間が減少して、数え落としの少ない測定が可能とな
り、測定装置の信頼性が向上する効果がある。
【図１】本発明に係る一実施例を示す放射線測定装置の
ブロック構成図。
ブロック構成図。
【図２】本発明に係る一実施例を示す切換装置のブロッ
ク構成図。
ク構成図。
【図３】本発明に係る動作タイミング特性図。
【図４】従来の放射線測定装置のブロック構成図。
２…プリアンプ、４…第１のＡ／Ｄ変換器、５…メモリ
回路、６…切換装置、７…第１の測定系、９…第２のＡ
／Ｄ変換器、10…第２の測定系、11…タイミング調整回
路、12…信号処理回路、13…第１のアナログスイッチ、
14…第２のアナログスイッチ。
回路、６…切換装置、７…第１の測定系、９…第２のＡ
／Ｄ変換器、10…第２の測定系、11…タイミング調整回
路、12…信号処理回路、13…第１のアナログスイッチ、
14…第２のアナログスイッチ。
Claims (1)
- 【請求項１】 入力されたアナログ信号と複数の測定系
における夫々の動作時に発する不感時間信号から当初発
生したアナログ信号を複数の測定系中の一測定系に伝達
すると共に、続いて当該一測定系の不感時間内に発生し
たアナログ信号は動作していない他の測定系を選択して
伝達する制御信号を発する信号処理手段と、この信号処
理手段からの制御信号により発生した夫々のアナログ信
号を各測定系に伝達するスイッチ手段からなることを特
徴とするアナログ信号切換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4037812A JPH05231876A (ja) | 1992-02-25 | 1992-02-25 | アナログ信号切換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4037812A JPH05231876A (ja) | 1992-02-25 | 1992-02-25 | アナログ信号切換装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05231876A true JPH05231876A (ja) | 1993-09-07 |
Family
ID=12507932
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4037812A Pending JPH05231876A (ja) | 1992-02-25 | 1992-02-25 | アナログ信号切換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05231876A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008304420A (ja) * | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Acrorad Co Ltd | 半導体放射線検出装置 |
| WO2013161571A1 (ja) * | 2012-04-27 | 2013-10-31 | セイコーインスツル株式会社 | センサ装置 |
| JP2015057610A (ja) * | 2007-08-09 | 2015-03-26 | ヨーロピアン・オーガニゼーション・フォア・ニュークリア・リサーチ | 放射線監視デバイス |
| KR20160006919A (ko) * | 2014-07-10 | 2016-01-20 | 한국과학기술원 | 이중 경로를 갖는 방사선 계수 판독 회로 및 이를 이용한 방사선 계수 방법 |
| JP2016075676A (ja) * | 2014-10-06 | 2016-05-12 | 株式会社東芝 | 光子計数装置及びｘ線ｃｔ装置 |
-
1992
- 1992-02-25 JP JP4037812A patent/JPH05231876A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008304420A (ja) * | 2007-06-11 | 2008-12-18 | Acrorad Co Ltd | 半導体放射線検出装置 |
| JP2015057610A (ja) * | 2007-08-09 | 2015-03-26 | ヨーロピアン・オーガニゼーション・フォア・ニュークリア・リサーチ | 放射線監視デバイス |
| WO2013161571A1 (ja) * | 2012-04-27 | 2013-10-31 | セイコーインスツル株式会社 | センサ装置 |
| JP2013242296A (ja) * | 2012-04-27 | 2013-12-05 | Seiko Instruments Inc | センサ装置 |
| CN104254784A (zh) * | 2012-04-27 | 2014-12-31 | 精工电子有限公司 | 传感器装置 |
| KR20160006919A (ko) * | 2014-07-10 | 2016-01-20 | 한국과학기술원 | 이중 경로를 갖는 방사선 계수 판독 회로 및 이를 이용한 방사선 계수 방법 |
| JP2016075676A (ja) * | 2014-10-06 | 2016-05-12 | 株式会社東芝 | 光子計数装置及びｘ線ｃｔ装置 |
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