JPH05231854A - 高さ測定装置 - Google Patents

高さ測定装置

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JPH05231854A
JPH05231854A JP4035872A JP3587292A JPH05231854A JP H05231854 A JPH05231854 A JP H05231854A JP 4035872 A JP4035872 A JP 4035872A JP 3587292 A JP3587292 A JP 3587292A JP H05231854 A JPH05231854 A JP H05231854A
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JP
Japan
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probe
axis direction
measured
reference member
measuring
Prior art date
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Application number
JP4035872A
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English (en)
Inventor
Masaaki Kusano
正明 草野
Tadahiro Kominami
忠弘 小南
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高さ測定装置における被測定物の高さの測定
を高速かつ高精度で行なう。 【構成】 プローブ1を弾性部材7を介して基準部材4
に取り付け、この基準部材4をZ軸方向に移動させる基
準部材移動手段6を設けた。そして、プローブ1のZ軸
方向の位置を測定するプローブ位置測定手段2と基準部
材4のZ軸方向の位置を測定する部材位置測定手段5を
設け、演算手段15によってプローブ1と基準部材4の
位置からプローブ1と被測定物間の接触圧を算出するよ
うにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被測定物の高さを測定
する高さ測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】被測定物(例えばレンズの表面など)の
表面形状を測定する場合、一般には表面形状測定装置が
使用されている。この表面形状測定装置は、基準面に載
置された被測定物に測定端子であるプローブを接触さ
せ、接触点を3次元的に探知することによって被測定物
の形状を立体的に測定するものである。そのため、前記
プローブは被測定物に沿って移動可能に設けられ、測定
物と接した時それを示す信号を出力するようになってい
る。従って、プローブから信号が出力された時のプロー
ブの位置を3次元的に検出することで、プローブが被測
定物と接した点(接触点)の3次元座標が求められる。
そして、この動作を被測定物の表面の複数箇所で行な
い、各々3次元座標を求めていくことで該被測定物表面
の形状が立体的に測定される。
【0003】表面形状測定装置は、前記接触点の3次元
座標を求めるために、高さ測定装置、X軸方向制御手段
およびY軸方向制御手段とを備えている。高さ測定装置
は、プローブを有し、該プローブをZ軸方向に対して移
動させると共にその位置(基準面からの高さ)を検出す
るものである。X軸方向制御手段は、前記高さ測定装置
を基準面内においてX軸方向に移動させるX軸方向移動
手段と該測定装置のX軸方向の位置を測定するX軸方向
位置測定手段からなり、前記測定装置のX軸方向の位置
を制御するものである。Y軸方向制御手段は、前記高さ
測定装置を基準面内においてY軸方向に移動させるY軸
方向移動手段と該測定装置のY軸方向の位置を測定する
Y軸方向位置測定手段からなり、前記測定装置のY軸方
向の位置を制御するものである。
【0004】図2は、このような構成の表面形状測定装
置における高さ測定装置の概略を示す図である。この高
さ測定装置は、プローブ1、プローブ1をZ軸方向に移
動させるプローブ駆動装置3およびプローブ1の位置を
測定するプローブ位置測定手段2とを有している。そし
て、駆動装置3によってプローブ1を被測定物の表面に
その先端が接触するまで移動させ、プローブ1の先端が
被測定物に接触した時のプローブ1の位置(基準面から
の高さ)を位置測定手段2で測定するものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述のよう
な従来の装置では、測定を短時間(高速)で行おうとす
ると測定精度が低下するという問題が生じた。また、精
度を高くしようとすると時間がかかる(つまり低速にし
なければならない)という問題が生じた。本発明は、高
速かつ高精度で測定することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的のために、本発
明では、プローブを支持する弾性部材、該弾性部材を支
持する基準部材、該基準部材をZ軸方向に移動させる基
準部材移動手段、前記プローブのZ軸方向の位置を測定
するプローブ位置測定手段、前記基準部材のZ軸方向の
位置を測定する部材位置測定手段および前記プローブと
基準部材の位置から該プローブと被測定物間の接触圧を
算出する演算手段、とで高さ測定装置を構成した。
【0007】
【作用】本発明においては、プローブを被測定物の近傍
まで高速で移動させた後、低速で該被測定物に接触させ
て高さの測定を行う。具体的には、プローブを支持して
いる基準部材を基準部材移動手段によって被測定物に向
けて高速で移動させ、該プローブを被測定物に接触させ
る。そして、前記移動手段により基準部材を移動させて
プローブの被測定物への接触圧が0またはほぼ0もしく
は被測定物からプローブが離れるようにする。それか
ら、前記移動手段によって基準部材を低速で移動させる
ことで、プローブを被測定物に低速で接触させ接触点の
認識を行う。
【0008】このようなプローブの移動によれば、該プ
ローブを1回目に被測定物に接触させる際は、その接触
点までプローブを高速で移動させることができる。その
ため、Z軸方向に対するプローブの移動速度を従来より
も速くでき、その分測定時間が短くなる。また、一旦プ
ローブと被測定物との接触圧が0またはほぼ0になる
か、もしくは被測定物から離れるようにした後、再び低
速でプローブを被測定物に接触させるため精度良く測定
できる。
【0009】さらに、本発明では前記接触圧を弾性部材
の弾性係数および伸縮量から算出するようにしたので、
プローブに別途接触圧を測定するための機構を設ける必
要がない。そのため、測定のプローブ周辺の軽量化が可
能となり測定精度を向上させるのに有効となる。
【0010】
【実施例】図1は、本発明による高さ測定装置の主要部
を示す概略図である。高さ測定装置8は、プローブ1を
支持するバネ7、バネ7を支持する基準部材4、基準部
材4をZ軸方向に移動させる基準部材移動手段6、プロ
ーブ1のZ軸方向の位置を測定するプローブ位置測定手
段2、基準部材4のZ軸方向の位置を測定する部材位置
測定手段5およびプローブ1と基準部材4の位置からプ
ローブ1と被測定物との接触圧の値を算出する演算手段
15とで構成される。
【0011】演算手段15は、測定前(初期状態)にお
ける基準部材4とプローブ1間の距離(あらかじめ設定
しておく)と、測定時の基準部材4とプローブ1間の距
離との差(以下、dとする)を求めてこのdとバネ7の
弾性係数からプローブ1と被測定物との接触圧を算出す
るものである。図3は、図1に示した高さ測定装置を備
えた表面形状測定装置の概略構成図である。
【0012】この表面形状測定装置は、高さ測定装置8
を基準面内でX軸方向に移動させるX軸方向移動手段9
と、測定装置8のX軸方向の位置を測定するX軸方向位
置測定手段11とでプローブ1のX軸方向の制御を行
う。同様に、測定装置8をY軸方向に移動させるY軸方
向移動手段10と、測定装置8のY軸方向の位置を測定
するY軸方向位置測定手段12とでプローブ1のY軸方
向の制御を行う。これら各構成部はベース13上に設け
られている。
【0013】以上のように構成された表面形状測定装置
の動作を図1、図3を用いて説明する。まず、X軸方向
移動手段9、Y軸方向移動手段10、X軸方向位置測定
手段11およびY軸方向位置測定手段12によって、高
さ測定装置8を任意の位置に設定する。
【0014】次に、高さ測定装置8において、基準部材
移動手段6により基準部材4を高速(2 mm/sec)で移動
させプローブ1を被測定物に接触させる。プローブ1は
被測定物と接触すると、それを示す信号を出力する。そ
して、その信号を検出した制御部(図示せず)によって
移動手段6に停止指令が出力される。この時、基準部材
4は高速で移動しているので、これらの信号の応答の間
にも被測定物に向かってある程度移動してから停止す
る。従って、基準部材4が停止した時、プローブ1は被
測定物によって基準部材4の方向に押し付けられた状態
になり、プローブと被測定物との間に接触圧が生じる。
そのため、プローブ1を基準部材4に支持しているバネ
7は、圧縮された状態になっている。この時、プローブ
位置測定手段2によってプローブ1のZ軸方向の位置を
測定する。また、部材位置測定手段5によって基準部材
4のZ軸方向の位置を測定する。演算手段15は、測定
されたプローブ1と基準部材4の位置から両者の間の距
離を算出するとともに、その距離を初期状態の値と比較
してその差dを求める。そして、前記dの値とバネ7の
弾性係数から前記接触圧を算出する。
【0015】さらに、移動手段6によって基準部材4を
被測定物と反対の方向にdだけ移動(この時の移動速度
は1 mm/secとした)させる。この時、プローブ1の被測
定物への接触圧は0またはほぼ0となるか、もしくはプ
ローブ1と被測定物とが離れる。その後、再び移動手段
6によって基準部材4を低速で移動させてプローブ1を
低速(0.2 mm/sec)で被測定物に接触させる。そして、
プローブ1が被測定物に接触した接触点の位置をX軸方
向位置測定手段11、Y軸方向位置測定手段12および
プローブ位置測定手段2によって測定し、X軸、Y軸、
Z軸の座標を求める。
【0016】以上の作業を任意の回数繰り返すことで、
被測定物の表面形状が立体的に得られる。なお、本実施
例で用いられる移動手段および位置測定手段は、各々既
知の方法により行われるもので、ここでの説明は省略す
る。
【0017】
【発明の効果】本発明によれば、プローブが被測定物に
高速で接触するので接触点一回当たりの測定時間が短縮
される。また、被測定物に接触したプローブは、一度被
測定物への接触圧が0またはほぼ0になるかもしくは該
プローブが被測定物から離れるまで移動され、その後再
び被測定物に接触するように低速で移動される。そのた
め、精度良く測定することが可能となる。
【0018】本発明は、測定の回数が多いほど測定時間
短縮の効果が顕著になるため、従来よりも高速、高精度
での測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】は、本発明による高さ測定装置の主要部を示す
概略図である。
【図2】は、従来の高さ測定装置の主要部を示す概略図
である。
【図3】は、本発明を用いた表面形状測定装置を示す概
略構成図である。
【主要部分の符号の説明】
1 プローブ 2 プローブ位置測定手段 4 基準部材 5 部材位置測定手段 6 基準部材移動手段 7 バネ(弾性部材) 15 演算手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プローブを支持する弾性部材、該弾性部
    材を支持する基準部材、該基準部材をZ軸方向に移動さ
    せる基準部材移動手段、前記プローブのZ軸方向の位置
    を測定するプローブ位置測定手段、前記基準部材のZ軸
    方向の位置を測定する部材位置測定手段および前記プロ
    ーブと基準部材の位置から該プローブと被測定物間の接
    触圧を算出する演算手段からなることを特徴とする高さ
    測定装置。
JP4035872A 1992-02-24 1992-02-24 高さ測定装置 Pending JPH05231854A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004188954A (ja) * 2002-10-18 2004-07-08 Konica Minolta Holdings Inc インクジェット記録装置
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