JPH05216062A - 液晶パネル - Google Patents

液晶パネル

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JPH05216062A
JPH05216062A JP4796992A JP4796992A JPH05216062A JP H05216062 A JPH05216062 A JP H05216062A JP 4796992 A JP4796992 A JP 4796992A JP 4796992 A JP4796992 A JP 4796992A JP H05216062 A JPH05216062 A JP H05216062A
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JP
Japan
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liquid crystal
substrate
crystal panel
electrodes
electrode
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JP4796992A
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English (en)
Inventor
Kiyonori Tominaga
清則 富永
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 製造工程中はもとより完成後も有効に機能す
る液晶パネルの静電破壊防止構造を提供する。 【構成】 液晶パネル10は一対の基板11及び12を
貼り合わせて構成されている。一方のガラス基板11の
内表面には互いに平行に整列した複数本の信号電極14
が形成されている。他方のガラス基板12の内表面に
は、互いに平行に整列し且つ信号電極14に対して交差
的に配列された走査電極15が形成されている。両基板
間には液晶層が挟持されている。信号電極14及び走査
電極15の夫々から引き出された外部回路との接続に用
いられる引き出し電極16と交わる様に、両方の基板1
1,12の夫々の周囲部に沿って高抵抗薄膜17が延設
されている。この高抵抗薄膜17は、引き出し電極16
の面抵抗率より大きい面抵抗率を有する。加えて、両方
の基板に設けられた高抵抗薄膜17を導電性材料18で
電気的に互いに接続し静電破壊防止構造を得ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電極の形成された一対の
基板を貼り合わせ液晶を挟持してなる液晶パネルに関す
る。より詳しくは、かかる構造を有する液晶パネルの静
電破壊防止構造に関する。
【0002】
【従来の技術】画像表示等に用いられる液晶パネルはマ
トリクス型のものが多い。これには単純マトリクス型と
アクティブマトリクス型の2種類がある。単純マトリク
ス型は互いに直交する信号電極群及び走査電極群が各々
形成された一対の基板を互いに貼り合わせ両者の間隙に
例えばスーパーツイストネマチック液晶を充填した構造
を有している。又、アクティブマトリクス型は、行列状
に配列した画素電極及び薄膜トランジスタ等からなるス
イッチング素子等が形成された一方の基板と対向電極の
形成された他方の基板を貼り合わせ両者の間に液晶を封
入したものである。何れの構造の液晶パネルに関しても
その製造工程において、静電気による帯電破壊が重要な
課題になってきている。アクティブマトリクス型では、
静電気による薄膜トランジスタのゲート絶縁破壊が発生
する。又、単純マトリクス型においても電極パタンのギ
ャップ間で静電気の放電が起こりITO等の電極薄膜が
破壊される。
【0003】これらの静電気による破壊を防止する為に
種々の対策が講じられており、図11にその一例を示
す。図11はアクティブマトリクス型の例であり、互い
に直交配置された信号線101及び選択線102を構成
する電極パタンの外周に沿って保護用短絡線103を設
けている。この短絡線103により帯電で生じる電極間
の電位差を消滅させるものである。
【0004】図12に他の例を示す。これは単純マトリ
クス型に関するものであり、図11の例と同様に、例え
ば互いに平行配列した信号電極群104の外周に沿って
保護用短絡線105が設けられている。これらの静電破
壊防止構造は、例えば日経マイクロデバイス1991年
7月号第176頁に開示されている。
【0005】一方、最近では液晶パネルの製造歩留向上
の目的で電極欠陥検査工程が加えられている。代表的な
欠陥に電極パタンのオープンやショートがある。単純マ
トリクス型では微細化及び高精細化による画素数の増加
に伴ない、電極間のギャップが非常に狭くなり、エッチ
ング不良によるパタンショートが増加している。又、ア
クティブマトリクス型では開口率を上げる為信号線を細
く形成する結果、パタンオープンが発生し易くなってい
る。さらに、直交した走査線及び信号線間の絶縁不良に
よるパタンショートも見逃せない不良である。電極欠陥
検査は、一般に各パタンの両端にプローブカードをコン
タクトさせて行なう。オープン欠陥は対向したピン間の
抵抗値を測定し、ショート欠陥は隣り合ったピン間の抵
抗を測定し検出する。
【0006】この様な方式のオープン/ショート検査を
前述した図11及び図12に示す電極構成に対して適用
すると、保護用短絡線の存在によって欠陥を判断するの
が困難になる場合がある。これを解決する為に、図11
及び図12に示した様に、プローブピンを立てる位置及
び保護用短絡線に至る接続ラインや短絡線間に作り込み
抵抗(くびれた部分)を意図的に形成している。この様
にして静電破壊を防止するとともに欠陥検査を容易にし
ているのである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述した作り込み抵抗
は、オープン/ショート検査における欠陥検出の障害に
ならない程度に大きな抵抗値を有している。しかしなが
ら、液晶パネルが完成した後、外部から駆動回路等を異
方性導電テープ等で接続して液晶パネルを駆動する場合
には、作り込み抵抗の抵抗値がそれ程高くない為障害と
なる。例えば、省電力化の為一般にドライブ回路の駆動
電流を低減した場合、駆動電流の一部が作り込み抵抗を
介して保護用短絡線にも流れる為液晶パネルの実効駆動
電圧が低下してしまう。これを解決するには、例えば作
り込み抵抗の値をもっと大きくする必要がある。しかし
ながら、作り込み抵抗パタンの幅を細くして十分な高抵
抗化を図ると細くなり過ぎて保護用短絡線自体にオープ
ン欠陥が発生するという問題がある。従って、液晶パタ
ンにドライブ回路を接続する前に、保護用短絡線の部分
を切除するのが一般的である。この加工は通常液晶注入
工程前のガラス基板切断工程で行なわれる。しかしなが
ら、この様にすると液晶注入工程以後の工程で発生する
可能性のある静電破壊を有効に防止する事ができないと
いう問題点がある。
【0008】上述した従来の技術の問題点あるいは課題
に鑑み、本発明は製造工程中はもとより完成した後まで
も液晶パネルの静電破壊を有効に防止する事のできる構
造を提供する事を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の目的を達成する
為に講じられた手段を以下単純マトリクス型とアクティ
ブマトリクス型に分けて示す。単純マトリクス型液晶パ
ネルは、所定の間隔を置いて互いに平行に配列した複数
本の信号電極を有する一方の基板と、互いに平行に整列
し且つ前記信号電極に対して交差的に配列された走査電
極を有するとともに前記一方の基板に対向配置された他
方の基板と、両方の基板に挟持された所定の厚みを有す
る液晶層とを備えている。かかる構造において、前記信
号電極及び前記走査電極の夫々から引き出された外部回
路との接続に用いられる引き出し電極と交わる様に前記
両方の基板の夫々の周囲部に沿って高抵抗薄膜を延設す
るという手段を講じた。この高抵抗薄膜は前記引き出し
電極の面抵抗率より大きな面抵抗率を有する。加えて、
両方の基板の夫々に設けられた高抵抗薄膜を導電性材料
で電気的に接続して液晶パネル全体を静電気からシール
ドするという手段を講じた。
【0010】アクティブマトリクス型液晶パネルは、行
列状に配列した複数個の画素電極と個々の画素電極を動
作させる為の複数個のスイッチング素子と行毎にスイッ
チング素子を選択する為の選択線とスイッチング素子に
信号を供給する為の信号線とを備えた一方の基板と、対
向電極を有し前記一方の基板に対向配置された他方の基
板と、両方の基板に挟持された所定の厚みを有する液晶
層とから構成されている。かかる構造において、前記選
択線及び前記信号線の夫々から引き出された外部回路と
の接続に用いられる引き出し電極と交わる様に前記一方
の基板の周囲部に沿って高抵抗薄膜を延設するという手
段を講じた。この高抵抗薄膜の面抵抗率は前記引き出し
電極の面抵抗率より大きな値を有する。加えて、この高
抵抗薄膜と前記対向電極とを導電性材料で電気的に接続
するという手段を講じ、液晶パネル全体を静電気からシ
ールドしている。
【0011】
【作用】本発明によれば、外部回路と接続する為に液晶
パネルの基板上に形成した薄膜状の複数の引き出し電極
を、互いに電気接続する様に高抵抗率を有する薄膜が形
成されている。この高抵抗薄膜により液晶パネルの電極
パタン間に静電気に帰因する電位差が生じない様にして
いる。完成した液晶パネルの検査時や、外部回路と接続
して画像表示を行なう場合にも、この高抵抗薄膜は切除
しないで残したまま使用する。従って、液晶パネルの製
造過程及び完成した液晶パネルのハンドリングで発生す
る静電気による薄膜トランジスタやITO等の透明電極
の静電破壊を有効に防止する事ができる。
【0012】
【実施例】以下図面を参照して本発明の好適な実施例を
詳細に説明する。図1は本発明を単純マトリクス型の液
晶パネルに適用した例を示す模式的な平面図である。液
晶パネル10は上側のガラス基板11と下側のガラス基
板12とを所定の間隙を介して互いに貼り合わせた構造
を有している。上側のガラス基板11の内表面には所定
の間隔を置いて互いに平行に整列した複数本の信号電極
14が形成されている。この信号電極14は例えばIT
O等からなる透明導電薄膜をパタニングして得られる。
一方、下側のガラス基板12の内表面には互いに平行に
整列し且つ信号電極14に対して交差的に配列された走
査電極15が形成されている。この走査電極15もIT
O等からなる透明導電薄膜をパタニングして得られる。
個々の電極には各々外部接続用の引き出し電極16が基
板周辺部に沿って設けられている。この引き出し電極1
6は信号電極14あるいは走査電極15と一体的に形成
されるものである。
【0013】各ガラス基板の周辺部に沿って静電破壊保
護用の高抵抗薄膜17が所定の形状にパタニングされて
いる。この高抵抗薄膜17は引き出し電極16よりも十
分高い面抵抗率を有する。高抵抗薄膜17は、例えば異
なった組成を有するITO膜あるいは酸化錫膜からな
る。高抵抗薄膜17は電極パタニング形成に先立って基
板上に設けられる。例えば、高い抵抗率を有するITO
膜や酸化錫膜を基板全面に成膜した後、マスクを介して
スパッタエッチングを行なう事によりパタニングでき
る。この上に重ねて電極パタンが形成されるのである。
図示する様に、隣接する引き出し電極16は高抵抗薄膜
17の抵抗成分19を介して接続がとられている。最後
に、上側のガラス基板11に設けられた高抵抗薄膜17
と下側ガラス基板12に設けられた高抵抗薄膜17は互
いに銀ペースト等からなる導電性材料18により電気的
に接続されている。かかる構造により、全ての電極は静
電気に対して同電位となる為破壊を防止する事ができ
る。換言すると、液晶パネル10は全体として静電気か
ら同電位でシールドされている事になる。
【0014】図2は図1に示すAA線に沿って切断され
た断面図である。図示する様に、一対のガラス基板11
及び12はシール材を介して互いに貼り合わされてお
り、両者の間隙は例えば数μmに設定されている。この
間隙には、例えばスーパーツイストネマチック配向した
液晶13が封入充填されている。上側のガラス基板11
の内表面に形成された信号電極14の端部から延設され
た引き出し電極16は露出しており外部回路との電気接
続に用いられる。引き出し電極16の下側には直交する
様に高抵抗薄膜17が設けられている。下側のガラス基
板12に設けられた走査電極15についても同様であ
る。
【0015】本発明の理解をさらに容易にする為に、図
3を参照して上側のガラス基板11の平面形状を説明す
る。互いに平行配列した信号電極14は引き出し電極1
6を介して互い違いに両側のガラス基板周辺部に導かれ
る。この引き出し電極群16と直交する様に高抵抗薄膜
17が設けられている。ガラス基板11の四隅には下側
のガラス基板との間の導通をとる為の導電性材料18が
供給されている。図から明らかな様に、各信号線14は
静電破壊保護用高抵抗薄膜17によって互いに電気的接
続がなされている。これにより、例えばラビングの工程
で発生する静電気による透明電極パタン間の静電破壊を
防ぐ事ができる。
【0016】図4に下側ガラス基板12の平面形状を示
す。基本的に図3に示す上側ガラス基板11と同様の構
成を有している。即ち、互いに平行配列した走査電極1
5は互い違いに引き出し電極16を介して基板12の両
端側周辺部に導かれる。この引き出し電極16は高抵抗
薄膜17によって互いに電気的接続がなされている。か
かる構成を有するガラス基板12とガラス基板11とを
貼り合わせると、導電性材料18を介して上側の高抵抗
薄膜と下側の高抵抗薄膜も互いに電気的に接続される。
これにより、両基板の貼り合わせ工程以降、例えば外部
回路付け工程で発生する静電気による静電破壊が防止で
きる。
【0017】図5は液晶パネル10と外部回路を搭載し
たプリント配線基板50との間の接続構造を示す模式図
である。両部品は液晶ドライブ回路を内蔵したIC40
を搭載したTAB基板20を介して互いに接続される。
参照番号21を付して、液晶パネル側の結線構造を拡大
して示す。液晶パネル側の引き出し電極16は例えば1
00ないし150μmピッチで配列している。TAB基
板20の側にも同一ピッチで接続電極23が設けられて
いる。両電極は例えば異方性導電テープ等により一斉に
接続される。静電破壊保護用高抵抗薄膜によって形成さ
れた抵抗成分19の延設方向は、引き出し電極16の延
設方向と直交している。この為、液晶パネル10とTA
B基板20とを互いに接続した時、隣り合う引き出し電
極間に形成された抵抗成分19は異方性導電テープ内の
金属粒によって短絡される事はない。
【0018】一方、参照番号22を付してプリント配線
基板50とTAB基板20との間の接続構造を拡大して
示す。プリント配線基板50はTAB基板20に搭載さ
れたICに対して電源電圧や信号を供給する為のもので
あり、接続電極本数は少なくなっている。
【0019】次に図6に液晶パネル10とドライブ回路
を内蔵したIC40とを接続した時の等価回路を示す。
ICは液晶パネルの各電極に対応してドライブ回路41
を含んでいる。抵抗成分42は例えば異方性導電テープ
によってドライブ回路側の接続電極と液晶パネル側の引
き出し電極とを接続した時の接触抵抗を表わしている。
又、インピーダンス43は信号電極又は走査電極を引き
出し電極側から見たインピーダンスである。静電破壊保
護用高抵抗薄膜17によって隣り合う引き出し電極間に
形成された抵抗成分19の抵抗値を大きくする事によ
り、隣り合う引き出し電極間の電位差に応じて抵抗成分
19を流れる電流44を小さくする事ができる。この為
高抵抗薄膜17によって形成された抵抗成分19が介在
していても、ドライブ回路41の出力電流が殆ど増加せ
ず、通常の省電力化ICを使用できる。又、抵抗成分1
9が介在する事による接触抵抗成分42の電圧降下の増
分も殆ど問題とならず液晶パネルを正常に駆動する事が
できる。なお、接触抵抗成分42の大きさは通常数10
0〜1000Ω程度であるので、抵抗成分19としては
例えばメガオーム程度の数値を有していれば十分であ
る。一般に、静電対策としてはこの程度の抵抗値があれ
ば十分に機能する。
【0020】次に、図7を参照して本発明にかかる液晶
パネルの他の実施例を説明する。本例はアクティブマト
リクス型の液晶パネルに関するものである。図7は、液
晶パネルを構成する一方の基板の平面形状を表わしてい
る。この下側のガラス基板31は石英等から構成されて
おりその上には、行列状に配列した複数個の画素電極3
7と、個々の画素電極37を動作させる為の複数個のス
イッチング素子例えばTFT33と、行毎にTFTを選
択する為の選択線35と、TFTに信号を供給する為の
信号線34とが形成されている。更に、走査線及び信号
線の端部は夫々交互に引き出し電極16を介して基板3
1の4方向周辺部に導かれている。他方の基板32の対
向電極36(図8に示す)をドライブする為の引き出し
電極16aも形成されている。周辺部に沿って整列した
引き出し電極群16と直交する様にパタニングされた静
電破壊保護用高抵抗薄膜17が設けられている。図から
明らかな様に、隣接する引き出し電極16は高抵抗薄膜
17の抵抗成分19によって互いに電気的接続がなされ
ており、外部静電気に関して同電位となる様にしてい
る。最後に、基板31の四隅には他方の基板と導通をと
る為の導電性材料18が供給されている。
【0021】図8はアクティブマトリクス型液晶パネル
を構成する他方の基板を示す平面図である。即ち、ガラ
ス等からなる上側の基板32の表面には透明な対向電極
36が全面的に形成されている。この基板32の四隅に
も下側の基板に対して導通をとる為の導電性材料18が
施されている。
【0022】図9は、図7に示す下側のTFT基板31
と上側のガラス基板32とを互いに対向して貼り合わせ
て得られたアクティブマトリクス型の液晶パネル30の
平面形状を示している。引き出し電極16は基板31の
4方周辺部に沿って露出しており外部回路との接続がと
られる。又、下側の基板に形成された高抵抗薄膜17と
上側の基板に形成された対向電極36とは互いに導電性
材料18を介して電気的に接続されている。
【0023】以上の様に、TFT基板31上の各信号線
34及び各走査線35は静電破壊保護用高抵抗薄膜17
によって互いに電気的接続がなされる。これにより、例
えばラビングの工程で発生する静電気による線間の静電
破壊を防ぐ事ができる。又、一対の基板31と32とを
貼り合わせた後も信号線34及び走査線35が導電性材
料18を介して対向電極36と互いに電気的に接続され
ている。これにより、一対の基板の貼り合わせ工程以
降、例えば外部回路接続工程で発生する静電気による静
電破壊が防止できる。
【0024】最後に、図10にアクティブマトリクス型
液晶パネル30の模式的な斜視外観を示す。液晶パネル
30は、TFT基板31とガラス基板32とを対向する
様に数μmの間隙を置いて貼り合わせ、この間隙に液晶
13を注入したものである。
【0025】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、外
部回路と接続する為に液晶パネルの基板上に形成した複
数の引き出し電極を互いに電気的接続する様に、高抵抗
率を有する薄膜パタンを形成する。完成した液晶パネル
の検査時や外部回路と接続して画像表示を行なう時に
も、高抵抗薄膜を切除しないで残したまま使用する。こ
れにより、パネルの製造工程及び完成パネルのハンドリ
ングで発生する静電気によるTFTスイッチング素子や
ITO電極の静電破壊を防止する事ができるという効果
がある。又、従来の様に静電保護用配線を切除する必要
がない為、液晶パネルの有効表示面積を予め大きく設定
する事ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる単純マトリクス型液晶パネルの
実施例を示す平面図である。
【図2】図1に示すAA線に沿って切断された断面図で
ある。
【図3】液晶パネルの一方のガラス基板を示す平面図で
ある。
【図4】液晶パネルの他方の基板を示す平面図である。
【図5】液晶パネルとプリント配線基板との接続構造を
示す模式図である。
【図6】液晶パネルの接続構造に関する等価回路図であ
る。
【図7】本発明にかかるアクティブマトリクス型液晶パ
ネルの一実施例に用いられる一方の基板の平面図であ
る。
【図8】同じく他方の基板の平面図である。
【図9】図7及び図8に示す両方の基板を貼り合わせて
作成したアクティブマトリクス型液晶パネルの平面図で
ある。
【図10】図9に示すアクティブマトリクス型液晶パネ
ルの模式的な斜視図である。
【図11】アクティブマトリクス型液晶パネルに関する
従来の静電破壊防止構造の一例を示す模式図である。
【図12】単純マトリクス型液晶パネルに関する従来の
静電破壊防止構造の一例を示す模式図である。
【符号の説明】
10 液晶パネル 11 上側ガラス基板 12 下側ガラス基板 13 液晶 14 信号電極 15 走査電極 16 引き出し電極 17 高抵抗薄膜 18 導電性材料 19 抵抗成分

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の間隔をおいて互いに平行に整列し
    た複数本の信号電極を有する一方の基板と、互いに平行
    に整列し且つ前記信号電極に対して交差的に配列された
    走査電極を有するとともに前記一方の基板に対向配置さ
    れた他方の基板と、両方の基板に挟持された所定の厚み
    を有する液晶層とを備えた液晶パネルにおいて、 前記信号電極及び前記走査電極の夫々から引き出された
    外部回路との接続に用いられる引き出し電極と交わる様
    に前記両方の基板の夫々の周囲部に沿って延設された、
    前記引き出し電極の面抵抗率より大きい面抵抗率を有す
    る高抵抗薄膜を前記両方の基板の夫々に設け、この両方
    の高抵抗薄膜を導電性材料で電気的に接続した事を特徴
    とする液晶パネル。
  2. 【請求項2】 行列状に配列した複数個の画素電極と個
    々の画素電極を動作させる為の複数個のスイッチング素
    子と行ごとにスイッチング素子を選択する為の選択線と
    スイッチング素子に信号を供給する為の信号線とを備え
    た一方の基板と、対向電極を有し前記一方の基板に対向
    配置された他方の基板と、両方の基板に挟持された所定
    の厚みを有する液晶層とを備えた液晶パネルにおいて、 前記選択線及び前記信号線の夫々から引き出された外部
    回路との接続に用いられる引き出し電極と交わる様に前
    記一方の基板の周囲部に沿って延設された、前記引き出
    し電極の面抵抗率より大きい面抵抗率を有する高抵抗薄
    膜を前記一方の基板に設け、この高抵抗薄膜と前記対向
    電極とを導電性材料で電気的に接続した事を特徴とする
    液晶パネル。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5742074A (en) * 1995-05-31 1998-04-21 Fujitsu Limited Thin film transistor matrix device and method for fabricating the same
KR100452539B1 (ko) * 2001-01-15 2004-10-12 알프스 덴키 가부시키가이샤 기체, 액정표시장치 및 전자기기

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5742074A (en) * 1995-05-31 1998-04-21 Fujitsu Limited Thin film transistor matrix device and method for fabricating the same
US6406946B1 (en) 1995-05-31 2002-06-18 Fujitsu Limited Thin film transistor matrix device and method for fabricating the same
US6767754B2 (en) 1995-05-31 2004-07-27 Fujitsu Display Technologies Corporation Thin film transistor matrix device and method for fabricating the same
US7075108B2 (en) 1995-05-31 2006-07-11 Fujitsu Limited Thin film transistor matrix device
US7575960B2 (en) 1995-05-31 2009-08-18 Sharp Kabushiki Kaisha Method for fabricating a thin film transistor matrix device
US7947982B2 (en) 1995-05-31 2011-05-24 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film transistor matrix device including a plurality of thin film transistors arranged on the substrate
US7947983B2 (en) 1995-05-31 2011-05-24 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film transistor matrix device including first and second conducting connections formed outside an image display region
US8258513B2 (en) 1995-05-31 2012-09-04 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film transistor matrix device including first and second connection lines
US8592816B2 (en) 1995-05-31 2013-11-26 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film transistor matrix device including first and second connection lines
KR100452539B1 (ko) * 2001-01-15 2004-10-12 알프스 덴키 가부시키가이샤 기체, 액정표시장치 및 전자기기

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