JPH0519823Y2 - - Google Patents

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JPH0519823Y2
JPH0519823Y2 JP3379787U JP3379787U JPH0519823Y2 JP H0519823 Y2 JPH0519823 Y2 JP H0519823Y2 JP 3379787 U JP3379787 U JP 3379787U JP 3379787 U JP3379787 U JP 3379787U JP H0519823 Y2 JPH0519823 Y2 JP H0519823Y2
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integrated circuit
socket
pusher
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pusher piece
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この考案は、ICハンドラの集積回路測定装置
にかかわり、さらに詳しくは、PLCC形集積回路
およびSOJ形集積回路にたいして好適なICハンド
ラにたいする集積回路測定装置の改良に関してい
る。
[従来の技術] ICハンドラは、マガジンから集積回路を取り
出し、測定装置に搬送して電気的特性の測定をお
こなつたあと、検査結果にしたがつて集積回路を
分類して搬出するようにしている。
集積回路はパツケージおよびリードの形状によ
つていくつかの種類に区分されている。これらの
うち、第2図に示すようなプラスチツク・リーデ
ツド・チツプ・キヤリア(Plastic Leaded Chip
Carrier)形、つまりPLCC形とよばれる集積回
路2は、IC用語辞典(発行所電波新聞社、発行
日昭和61年7月30日)などにあるように、主とし
てロジツク関係の集積回路において採用され、パ
ツケージ2aが厚みの薄い長方形あるいは正方形
の形態をもち、リード2bがパツケージの四側面
からでていると共に、パツケージにむかつてJ形
に曲げられたジエイ・ベンド(J BEND)と
よばれる形状になつている。また、スモール・ア
ウトライン・ジエイ・リード(Small Outline
J−lead)形とよばれる集積回路、つまりSOJ形
の集積回路8は、たとえば第4図に示すように、
パツケージ8aが厚みの薄い長方形の形態をも
ち、リード8bがパツケージ8aに向かつてJ形
に曲げられたジエイ・ベンドとよばれる形状をも
つているが、パツケージにおける対面する一組の
側面のみに設けられている。
ICハンドラにおいて、これらの集積回路はシ
ユートレール1およびシユートカバー3からなる
搬送機構によつて測定装置内を移動され、ひとつ
づつ電気特性を測定されている。
第3図はPLCC形集積回路2にたいする集積回
路測定装置を示している。シュートレール1およ
びシユートカバー3は集積回路2の厚みに関連す
る間隔をおいて平行に配置されかつICハンドラ
本体に支持されている。集積回路2は、シュート
レール1およびシユートカバー3のあいだに形成
されているトンネルに挿入され、間欠送り機構に
よつて移動されている。シュートレール1におけ
る集積回路2を装着するソケツト5に関連する部
分は分離され、この分離部分はソケツト5にむか
つて直線移動することができるようにICハンド
ラ本体にある案内に保持されていると共に、図示
を省略された駆動機構によつて前記直線移動をな
すようにさせられている。そして、シユートカバ
ー3は、シュートレール1におけるこの分離部分
あるいは可動部分1aに対応する部分を切除され
ている。
ソケツト5はシュートレール1の可動部分1a
の片側に配置されていると共に、ICハンドラ本
体に支持されている。ソケツト自体は、集積回路
のパツケージ2aがはまる貫通孔をもち、集積回
路のリード2bに接触する接点がこの貫通孔を形
成している壁に組み込まれている。図において、
集積回路のリード2bは変形した状態でもつて描
かれており、実際にはよりJ字にちかい形状とな
つている。
プツシヤ片4は集積回路2をソケツト5に押し
込むプツシヤ機構の一部を構成していて、シユー
トカバー3の切除部分に配置されている。このプ
ツシヤ片4は、第5図に示すように、プツシユプ
レートあるいはプツシヤ片本体6に取り付けられ
ており、プツシヤ片本体6はICハンドラ本体に
ある案内に保持されていると共に、図示を省略さ
れた駆動機構につながれていて、駆動機構によつ
てプツシヤ片4およびプツシヤ片本体6をソケツ
ト5にむかつて直線移動させている。
プツシヤ片自体は、集積回路2のリード列の間
隔に関連する巾をもつほぼ長方形あるいは正方形
の形態をもつもので、プツシヤ片本体4といつし
よにソケツト5にむかつて直線移動されたとき
に、押圧面4aが集積回路のパツケージ2aにお
けるリード列のあいだにある面に接触し、側面4
bが各々のリード列を構成するリード2bの先端
付近に接触するように形成されている。そして、
プツシヤ片4は全体が合成樹脂の成形品からなつ
ていて、集積回路2の前記空間にはまりかつリー
ドに接触したときに、リード同志を導通させない
ようにしている。
ソケツト5への集積回路2の装着は、第5図に
示すように、プツシヤ片4およびプツシヤ片本体
6を駆動機構によつて矢印Pの方向に移動させ、
プツシヤ片4を搬送機構上にある集積回路のパツ
ケージ2aおよびリード2bによつて形成される
空間にはめ、プツシヤ片の押圧面4aによつて集
積回路のパツケージ2aを押し、集積回路2をシ
ュートレールの可動部分1aといつしよにソケツ
ト5の貫通孔に押し込み、リード2bを貫通孔内
部にある接点に接触させることによつてなされ
る。そして、ソケツト5からの集積回路2の抜き
出しは、シュートレールの可動部分1aを駆動機
構によつて押し上げ、可動部分1a、集積回路2
およびプシヤ片4をもとの位置にもどすことによ
つてなされている。
[考案が解決しようとする課題] このような測定装置では、プツシヤ片4が集積
回路におけるリード2bによつて形成される空間
に、できるだけぴつたりはまる必要がある。これ
は、プツシヤ片4とリード2bとのあいだに余分
なすき間があると、プツシヤ片4がリード2bの
あいだにある空間にはいり込んでも、押圧面4a
が集積回路のパツケージ2aに接触する以前に外
部振動などをうけると、集積回路2が逃げて、集
積回路のリード2bとソケツト5の接点とが位置
ずれした状態でもつて集積回路2をソケツト5に
押し込むことになり、リード2bあるいはソケツ
ト5の接点もしくはこれらの双方が損傷するため
である。しかし、プツシヤ片4は、前述のように
絶縁性能の観点から合成樹脂によつてつくられ、
多数の集積回路のリード2bと接触によつて摩耗
しやすいため、プツシヤ片4の交換をしばしば必
要としている。以上はPLCC形集積回路2につい
てであるが、SOJ形集積回路8にたいする測定装
置も同様に構成され、同様な問題が存在してい
る。
本考案の目的は、耐久性にすぐれたICハンド
ラの集積回路測定装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するために、本考案のICハン
ドラの集積回路測定装置は、ソケツト、ソケツト
に関連する部分に可動部分をもつ搬送機構、可動
部分をはさんでソケツトに対面して配置され、搬
送機構上にあるPLCC形あるいはSOJ形集積回路
のパツケージの一部およびリードによつて形成さ
れる空間にはまる部分をもつプツシヤ、それにプ
ツシヤを可動部分といつしよにソケツトにむかつ
て移動させる駆動機構とを具備しているが、プツ
シヤがすくなくとも集積回路のリードと接触する
面に硬質の電気絶縁材からなるコーテイングを設
けられている。
[作用] ソケツトにたいするPLCC形集積回路あるいは
SOJ形集積回路の装着は、駆動機構によつてプツ
シヤをソケツトにむかつて移動させて、搬送機構
の可動部分に搬送されてきた集積回路を搬送機構
の可動部分といつしよにソケツト内部に押し込
み、集積回路のリードをソケツト内の接点に接触
させることによつてなされる。
集積回路がソケツトに押し込まれるときに、プ
ツシヤは集積回路のパツケージの一部およびリー
ドによつて形成される空間にはまり、集積回路の
リードに接触することになるが、プツシヤとリー
ドとは硬質電気絶縁材からなるコーテイングを介
在して集積回路のリードに接触することになるた
め、プツシヤが合成樹脂からなつていても、プツ
シヤの摩耗がきわめて小さく、プツシヤの寿命が
いちじるしく増大する。そして、コーテイングは
集積回路のリード同志の導通を阻止するため、プ
ツシヤにおける集積回路にはまる部分あるいは部
材を金属によつて構成して、さらに耐久性のたか
いものとさせられる。
[実施例] 本考案のICハンドラの集積回路測定装置の実
施例は、以下に、第1図を参照して説明する。
第1図はPLCC形集積回路2にたいするICハン
ドラの集積回路測定装置におけるプツシヤまわり
を示しているが、集積回路のリード2bは変形し
た状態でもつて描かれており、実際にはよりJ字
にちかい形状となつている。
プツシヤは、従来のこの種のものと同様に、プ
ツシヤ片7とプツシヤ片本体7aとを先端に具備
している。プツシヤ片7はPLCC形集積回路2の
リード列の間隔に関連する巾および長さをもつ長
方形あるいは正方形の形態をもつもので、プツシ
ヤがソケツト5にむかつて移動されたときに、端
面が集積回路のパツケージ2aにおけるリード列
のあいだにある面に接触し、一組の側面が各々の
リード列を構成するリード2bの先端付近に接触
するように形成されている。
しかし、本考案による集積回路測定装置におい
て、プツシヤ片7およびプツシヤ片本体7aは真
鍮のような金属によつて構成されていると共に、
プツシヤ片7は硬質の電気絶縁材によつてコーテ
イングされている。コーテイング7bを構成する
材料はモース硬度がたかい電気絶縁材からなつて
いる、たとえばセラミツク、ガラス、水晶などか
らなつている。ここでは、セラミツクコーテイン
グ7bが、プツシヤ片7の端面および側面全体に
施されている。
このプツシヤは、従来の集積回路測定装置と同
様に、プツシヤ片7をシユートカバーの切除部分
に配置され、プツシヤ片本体7aをソケツト5に
むかつて直線移動するように案内されていると共
に、駆動機構につがれ、駆動機構によつてプツシ
ヤ7およびプツシヤ本体7aをソケツト5にむか
つて直線移動させている。そして、シュートレー
ル1におけるソケツト5に関連する部分は分離さ
れ、この分離部分はソケツト5にむかつて直線移
動することができるようにICハンドラ本体にあ
る案内に保持されていると共に、駆動機構によつ
て前記直線移動をなすようにさせられている。
ソケツト5にたいする集積回路2の装着は、従
来の集積回路測定装置と同様に、プツシヤ片7お
よびプツシヤ片本体7aを駆動機構によつて矢印
Pの方向に移動させ、プツシヤ片7を搬送機構上
にある集積回路2のパツケージ2aおよびリード
2bによつて形成される空間にはめ、プツシヤ片
7の先端面によつて集積回路のパツケージ2aを
押して、集積回路2をシュートレールの可動部分
1aといつしよにソケツト5に押し込み、リード
2bをソケツト内部にある接点に接触させること
によつてなされている。このときに、プツシヤ片
7がシュートレール上にある集積回路のパツケー
ジ2aおよびリード2bによつて形成される空間
にはまり、集積回路のリード2bに接触しつつソ
ケツト5に押し込まれることになるが、本考案に
よる集積回路測定装置ではプツシヤ片7が金属か
らなり、従来の合成樹脂に比較して摩耗がきわめ
て小さく、集積回路のリード2bとのあいだのす
き間が変化しない、つまり集積回路2とプツシヤ
とのかん合精度を長期にわたつて維持することが
でき、しかもプツシヤ片7の変形や損傷もないの
で、リード2bおよびソケツト5の接点を損傷さ
せることなしに、集積回路2をソケツト5につね
に正確にはめ込むことができ、そして、プツシヤ
片7とリード2bとがつねにセラミツクコーテイ
ング7bを介在して接触しているため、集積回路
2のリード同志の導通も発生しない。
ソケツト5からの集積回路2の取り出しも従来
の集積回路測定装置と同様にしてなされ、このと
きにもプツシヤ片7がリード2bと接触しながら
抜け出ることになるが、プツシヤ片7がセラミツ
クコーテイング7bをもつ金属からなつているた
め、プツシヤ片7の摩耗、変形および損傷がきわ
めてすくない。
なお、以上述べた実施例において、コーテイン
グ7bは、プツシヤ片7のみに施されているが、
プツシヤ片のみならず、プツシヤ片本体7aにも
施してよい、たとえばプツシヤ片本体7aにおけ
るプツシヤ片7を接合されている面および側面全
体にも施してもよい。
[考案の効果] 本考案のICハンドラの集積回路測定装置は、
以上説明したように、プツシヤの耐摩耗性のみな
らず、耐久性をも向上させることができ、従来装
置に比較して、連続運転時間がいちじるしくなが
いICハンドラを得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案のICハンドラにおける集積回
路測定装置の一実施例を示す断面図、第2図は従
来のICハンドラにおけるPLCC形集積回路にたい
する搬送機構の斜視図、第3図は従来のICハン
ドラにおけるPLCC形集積回路のための測定装置
の構成を示す説明図、第4図はSOJ形集積回路の
斜視図、第5図は従来のICハンドラの集積回路
測定装置におけるソケツトにたいする集積回路の
装着状態を示す説明図である。 1,3……搬送機構、1a……可動部分、2…
…PLCC形集積回路、2a,8a……パツケー
ジ、2b,8b……リード、4,6,7……プツ
シヤ、5……ソケツト、7b……コーテイング、
8……SOJ形集積回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ソケツトと、ソケツトに関連する部分に可動部
    分をもつ搬送機構と、可動部分をはさんでソケツ
    トに対面して配置され、搬送機構上にあるPLCC
    形あるいはSOJ形集積回路のパツケージの一部お
    よびリードによつて形成される空間にはまる部分
    をもつプツシヤと、プツシヤを可動部分といつし
    よにソケツトにむかつて移動させる駆動機構とを
    含むICハンドラの集積回路測定装置において、
    プツシヤがすくなくとも集積回路のリードと接触
    する面に硬質の電気絶縁材からなるコーテイング
    を施されていることを特徴とするICハンドラの
    集積回路測定装置。
JP3379787U 1987-03-10 1987-03-10 Expired - Lifetime JPH0519823Y2 (ja)

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Publication Number Publication Date
JPS63141470U JPS63141470U (ja) 1988-09-19
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