JPH05198011A - 光ディスクおよびその製造方法 - Google Patents

光ディスクおよびその製造方法

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JPH05198011A
JPH05198011A JP4008382A JP838292A JPH05198011A JP H05198011 A JPH05198011 A JP H05198011A JP 4008382 A JP4008382 A JP 4008382A JP 838292 A JP838292 A JP 838292A JP H05198011 A JPH05198011 A JP H05198011A
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徹 八代
Eiji Noda
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Abstract

(57)【要約】 【目的】記録領域において均一な特性をもった光ディス
クを実現する。 【構成】成形樹脂により構成され、予め表面側に情報ピ
ットおよび/または案内溝用が形成されたディスク基板
10上に、直接もしくは均一な厚みの下地層11を介し
て、色素を主成分とする光吸収層12を設け、さらにこ
の上に、直接もしくは均一な厚みの下引き層13を介し
て、一様な厚みの金属反射膜14を設けてなり、ディス
ク基板10の表面側に形成された情報ピットおよび/ま
たは案内溝10Aの深さが、内周側から外周側へ向かっ
て次第に深く形成され、光吸収層表面側における凹部1
2Aの深さが実質的に均一である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスクおよびそ
の製造方法に関する。この発明は、色素を主成分とする
光吸収層を持つ光ディスク、特に、追記型の光コンパク
トディスクに有効に利用できる。
【0002】
【従来の技術】成形樹脂により構成され、予め表面側に
情報ピットおよび/または案内溝が形成されたディスク
基板上に、直接もしくは下地層を介して色素を主成分と
する光吸収層を設け、この光吸収層上に更に金属反射膜
を設けてなる光ディスクにおいて、上記ディスク基板
は、成形樹脂を材料としてスタンパーを用いて射出成形
で形成するのが最も量産性に優れている。また、光吸収
層の形成にはスピンコートが適している。
【0003】このように射出成形で形成したディスク基
板にスピンコートにより光吸収層を設けて成る光ディス
クにおいては、記録や再生の特性が光ディスクの内周側
と外周側とで異なったものと成りやすいという問題があ
った。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この発明は上記の如き
問題を解決するべくなされたものであって、記録領域に
おいて均一な特性をもった光ディスクおよびその製造方
法の提供を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明の光ディスク
は、図1(b)に示すように「ディスク基板10の表面
側に光吸収層12を設け、この光吸収層12上に更に、
一様な厚みの金属反射膜14を設けた」構造を基本構造
とする(請求項1)。ディスク基板10は成形樹脂によ
り構成され、光吸収層12は色素を主成分とする。ディ
スク基板10の表面側(光吸収層12を形成される側)に
は、予め「情報ピットおよび/または案内溝」が形成さ
れている。光吸収層12は、ディスク基板10上に直接
形成しても良いが、図1(c)に示すように、ディスク
基板10と光吸収層12との間に均一な厚みの下地層1
1を介在させても良い。また、金属反射膜14と光吸収
層12との間にも、均一な厚みの下引き層13を介在さ
せることができる。
【0006】さらに、図1(d)に示すように、金属反
射膜14上に、一様な厚みの保護膜14を設けることが
できる(請求項2)。
【0007】上記請求項1〜2記載の光ディスクに共通
する特徴は、図1(a)に示すように「ディスク基板1
0の表面側に形成された情報ピットおよび/または案内
溝10Aの深さが、内周側から外周側へ向かって次第に
深くなっており、光吸収層12の表面側に、情報ピット
および/または案内溝10Aに対応して形成される凹部
12Aの深さが実質的に均一である」点にある。
【0008】請求項3記載の光ディスク製造方法は、請
求項1記載の光ディスクを製造する方法であって、「情
報ピットおよび/または案内溝に対応する凹凸が、内周
側から外周側へ向かって凹部の深さを次第に大きくする
ように形成されたスタンパーを用い、射出成形により成
形樹脂の基板ディスクを形成し、この基板ディスクの表
面上に直接、もしくは均一な厚みの下地層を形成後、色
素を主成分とする光吸収層をスピンコートにより形成、
この光吸収層上に直接もしくは均一な厚みの下引き層を
形成後、均一な厚さの金属反射膜を蒸着もしくはスパッ
タリングにより形成する」ことを特徴とする。
【0009】この方法で形成された光ディスクの「金属
反射膜上に、紫外線硬化樹脂を塗布し紫外線照射により
硬化させて一様な厚みの保護膜とする」ことにより、請
求項2の光ディスクを製造できる(請求項4)。
【0010】なお、記録用および/または再生用の光ビ
ームは、基板ディスクの、情報ピットおよび/または案
内溝が形成されたのとは反対側に面から照射される。
【0011】
【作用】情報ピットおよび/または案内溝に対応する凹
凸が形成されたスタンパーを用い、射出成形により成形
樹脂の基板ディスクを形成する場合、スタンパーの凹凸
の転写性は、スタンパーの中心部に近いほど高く、中心
部を離れるに従い低下する傾向にある。このためスタン
パーの凹凸の凹部の深さが一定であると、ディスク基板
表面に転写・形成された「情報ピットおよび/または案
内溝」の深さは、ディスク基板中心部から周辺部に向か
うに連れて「次第に浅く」なり易い。
【0012】また、ディスク基板上に光吸収層をスピン
コートにより形成すると、光吸収層はディスク基板表面
の「情報ピットおよび/または案内溝」を埋めるように
して形成され、その表面に「情報ピットおよび/または
案内溝に従う凹部」が形成されるが、コーティングの
際、光吸収層材料に作用する遠心力はディスク基板の中
心を離れるほど強いため、ディスク基板周辺部に近い
程、情報ピット等が埋まり易い。このスピンコート特有
の作用と、「ディスク基板表面に転写・形成された情報
ピットおよび/または案内溝」の深さがディスク基板周
辺部に近い程、浅くなり易い」という射出成形特有の作
用とが相乗的に作用しあって、光吸収膜表面の深さは、
光ディスクの外周側に近いほど「浅く」なり易く、これ
が記録や再生の特性の不均一の原因となる。
【0013】そこで、この発明では「情報ピットおよび
/または案内溝に対応する凹凸が、内周側から外周側へ
向かって凹部の深さを次第に大きくするように形成され
たスタンパー」を用いて射出成形することにより、成形
樹脂の基板ディスクの表面に転写・形成される情報ピッ
トおよび/または案内溝の深さを「内周部側から外周部
側へ向かって次第に深く」し、この基板ディスクの上に
直接、もしくは均一な厚さの下地層を形成後、光吸収層
をスピンコートするにより、スピンコート特有の上記作
用による「周辺部における凹部の埋まり過ぎ」を情報ピ
ットおよび/または案内溝の深さの増大により相殺し
て、「光吸収層表面側における凹部の深さを実質的に均
一とする」のである。
【0014】なお、スタンパーにおける凹凸の凹部の深
さが、周辺部に近づく程深くなる程度を適当に選択すれ
ば、所望の深さに揃えられた情報ピットおよび/または
案内溝を持つディスク基板を得ることもでき、このよう
なディスク基板に、スピンコート以外のコーティング方
法、例えばディピング等により均一な厚さの光吸収層を
形成しても、この発明と同様、記録・再生の特性が記録
領域上で変動しない光ディスクを実現できることを付記
しておく。
【0015】
【実施例】以下、具体的な実施例を説明する。請求項4
の方法により、請求項2の光ディスクとして「追記型」
の光コンパクトディスクを製造した。
【0016】直径250mmのガラスディスクの表面に
フォトレジストを塗布し、中心から22.35mmない
し59mmの領域に「情報ピットおよび/または案内
溝」に従うパターン露光をレーザービーム露光で行っ
た。その際、レーザービームの相対強度を図3(a)の
グラフ線3A−1のように変化させた。パターン露光
後、現像を行って露光部分のフォトレジストを除去し、
残ったフォトレジスト上にスパッタリングによりNi薄
膜を形成し、このNi薄膜を電極としてNi電鋳するこ
とによりニッケル層を形成した。その後、ニッケル層を
ガラスディスクから剥離し、残留フォトレジストを除去
して「スタンパー」を得た。このスタンパーは「情報ピ
ットおよび/または案内溝に対応した凹凸」を有し、凹
凸の凹部の深さは内周部側から外周部側へ向かって次第
に深くなっている。
【0017】このスタンパーを用い、射出成形によりポ
リカーボネイトのディスク基板を形成した。ディスク基
板の直径は120mmであり、半径:22.35mm〜
59mmの領域には、「情報ピットおよび/または案内
溝」が転写形成され、その深さは図3(b)のグラフ線
3A−2のように、内周部側から外周部側へ向かって次
第に深くなっている。
【0018】2,2,3,3−テトラフロロプロパノー
ルに5wt%のエチレングリコールモノメチルエーテル
アセテートを加えた溶液に、図2に示す構造式のシアニ
ン色素(日本感光色素製:商品名:NK2929)を
1.5wt%溶解させて塗布液とし、この塗布液を上記
ディスク基板の表面上にスピンコートして約1300Å
の厚さの光吸収層を形成した。
【0019】この光吸収層上に、Auを約800Åの厚
さにスパッタリング成膜して金属反射膜とし、さらにそ
の上に紫外線硬化樹脂を塗布し、紫外線照射により硬化
させて厚さ:3μmの保護膜とした。
【0020】かくして得られた追記型の光コンパクトデ
ィスクの記録領域、即ち、直径:44.7〜118mm
の領域に情報を書き込み、波長:782nm,N.A:
0.47の半導体レーザー光により、再生パワー:0.
5mw、線速:1.3m/sで再生を行い、反射率(It
op)を測定したところ図3(c)のグラフ線3A−3に
示すように記録領域における反射率は一定となった。こ
のことは、この実施例の光コンパクトディスクにおける
記録・再生の特性が記録領域内で場所により変動しない
ことを意味している。
【0021】比較のため、フォトレジスト層の露光にお
けるレーザービームの相対強度を、図3(a)のグラフ
線3B−1のように一定に保って形成したスタンパーで
作成したディスク基板では、転写・形成された情報ピッ
トおよび/または案内溝の深さが図3(b)にグラフ線
3B−2で示すように、ディスク基板の内周部側から外
周部側へ向かって次第に浅くなっており、このディスク
基板上に上記実施例と同様にして光吸収層と金属反射膜
と保護膜とを形成した比較用の光コンパクトディスクで
は、記録領域内における反射率は図3(c)のグラフ線
3B−3に示すように、光ディスクの内周部側から外周
部側へ向かって次第に増大し、記録領域内での特性が均
一にならなかった。
【0022】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば新規な
光ディスクおよびその製造方法を提供できる。この発明
の光ディスクは上記の如く構成されているので記録や再
生の特性が記録領域内で安定しており、従来と同様に射
出成形とスピンコートの組合せで量産性良く安価に製造
可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の光ディスクの特徴と構造を説明する
ための図である。
【図2】実施例における光吸収層の主成分色素の構造式
を示す図である。
【図3】実施例を説明するための図である。
【符号の説明】
10 ディスク基板 10A 情報ピットおよび/
または案内溝 11下地層 12 光吸収層
12A 光吸収層表面の凹部 14金属反射膜
15 保護膜

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】成形樹脂により構成され、予め表面側に情
    報ピットおよび/または案内溝が形成されたディスク基
    板上に、直接もしくは均一な厚みの下地層を介して、色
    素を主成分とする光吸収層を設け、この光吸収層上に、
    直接もしくは均一な厚みの下引き層を介して一様な厚み
    の金属反射膜を設けてなり、 上記ディスク基板表面側に形成された情報ピットおよび
    /または案内溝の深さが、内周側から外周側へ向かって
    次第に深くなっており、上記光吸収層表面側において、
    上記情報ピットおよび/または案内溝に対応する凹部の
    深さが実質的に均一であることを特徴とする、光ディス
    ク。
  2. 【請求項2】請求項1記載の光ディスクの金属反射膜上
    に、一様な厚みの保護膜を設けたことを特徴とする、追
    記型の光ディスク。
  3. 【請求項3】請求項1記載の光ディスクを製造する方法
    であって、 情報ピットおよび/または案内溝に対応する凹凸が、内
    周側から外周側へ向かって凹部の深さを次第に大きくす
    るように形成されたスタンパーを用い、射出成形により
    成形樹脂の基板ディスクを形成し、 この基板ディスクの上に直接、もしくは均一な厚みの下
    地層を形成後、色素を主成分とする光吸収層をスピンコ
    ートにより形成し、 この光吸収層上に直接、もしくは均一な厚みの下引き層
    を形成後、均一な厚みの金属反射膜を蒸着もしくはスパ
    ッタリングにより形成することを特徴とする、光ディス
    ク製造方法。
  4. 【請求項4】請求項2記載の光情報ディスクを製造する
    方法であって、 請求項3記載の方法で形成された光ディスクの金属反射
    膜の上に紫外線硬化樹脂を塗布し、紫外線照射により硬
    化させて保護膜とすることを特徴とする、光ディスク製
    造方法。
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