JPH0519747B2 - - Google Patents

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JPH0519747B2
JPH0519747B2 JP60165414A JP16541485A JPH0519747B2 JP H0519747 B2 JPH0519747 B2 JP H0519747B2 JP 60165414 A JP60165414 A JP 60165414A JP 16541485 A JP16541485 A JP 16541485A JP H0519747 B2 JPH0519747 B2 JP H0519747B2
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JP
Japan
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extreme value
value
circuit
pixels
extreme
Prior art date
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JP60165414A
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English (en)
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JPS6225391A (ja
Inventor
Satoshi Furukawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP60165414A priority Critical patent/JPS6225391A/ja
Publication of JPS6225391A publication Critical patent/JPS6225391A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、被検出物体を撮像して得られる画像
データに含まれる欠陥部分を抽出して、2値化処
理を行なうための画像処理方法に関する。
背景技術 従来からの被検出物体の表面に現われた欠陥部
分を抽出する画像処理方法は、たとえば被検出物
体に光源からの光を照射し、これを工業用テレビ
カメラによつて撮像し、この工業用テレビカメラ
からの画像データをしきい値が固定された2値化
回路によつて2値化処理して画像メモリにストア
し、画像メモリにストアされた2値化データを処
理回路を介して表示装置などの外部機器に出力し
て欠陥部分を抽出するものである。
このような先行技術では、2値化回路のしきい
値が固定されており、照明むらなどによるシエー
デイングが存在する場合には、正確な2値化処理
を行なうことができないという問題がある。
目 的 本発明の目的は、上述の技術的課題を解決し、
2値化処理を正確に行なつて、被検出物体の欠陥
部分、たとえば半導体ウエハなどの欠陥部分を確
実に抽出して検出することができるようにした欠
陥検出方法を提供することである。
発明の構成 本発明は、複数の各走査ライン毎に複数の個別
的に対応する画素がそれぞれ備えられ、これらの
走査ラインおよび画素によつて構成される画像デ
ータを各走査ラインの画素と同一数のストアセル
を有するメモリを設けて処理する画像処理方法に
おいて、 異なる走査ラインの相互に対応する画素のレベ
ルを比較して極値を求め、 前記極値をその極値が求められた画素に対応す
るストアセルのストア内容と比較し、極値とスト
ア内容との差の絶対値が予め定める設定値以下で
あるときは、極値をストアセルにストアするとと
もに、前記差の絶対値が前記設定値を超えるとき
は、前記ストアセルには、直前の極値をストアし
たままとし、 画素の走査時に、各画素のレベルと、対応する
前記ストアセルのストア内容とを比較して、その
差をレベル弁別することを特徴とする欠陥検出方
法である。
実施例 第1図は本発明の一実施例のブロツク図であ
る。本発明に従う2値化回路1は、基本的には、
水平フローテイング2値化回路2と、垂直フロー
テイング2値化回路3と、アナログ/デジタル変
換回路4,4aとを含む。テレビカメラのように
2次元的にラスタ走査する撮像系からのアナログ
映像信号は、アナログ/デジタル変換回路4,4
aによつてそれぞれアナログ/デジタル変換され
る。アナログ/デジタル変換回路4は、水平フロ
ーテイング2値化回路2に接続され、アナログ/
デジタル変換回路4aは、垂直フローテイング2
値化回路3に接続される。
アナログ/デジタル変換回路4によつてデジタ
ル化された画像データは、ラインl1,l2,l
3,l4をそれぞれ介して極値検出回路6、m画
素遅延回路7、極値保持レジスタ8および減算絶
対値演算回路9に個別的に与えられる。極値検出
回路6にはまた、ラインl5を介してm画素遅延
回路7からのm画素だけ遅延した画像データが与
えられる。極値検出回路6では、m画素遅延回路
7からの遅延データのレベルと、ラインl1を介
して与えられるアナログ/デジタル変換回路4か
らの現在の画像データのレベルとが比較され、そ
のレベル差が零あるいは零に近似した値であると
き、これを極値として検出する。ここで極値と
は、各走査ライン上における連続した各画素のレ
ベルの極大値およびその極小値を総称するものと
する。極値検出回路6からの出力は、ラインl6
を介して減算絶対値演算回路10に与えられる。
減算絶対値演算回路10にはまた、ラインl7を
介して極値保持レジスタ8からの出力が与えられ
る。
減算絶対値演算回路10では、極値検出回路6
からの現在の極値(以下、現極値と呼ぶ)と、極
値保持レジスタ8からの現極値の直前の極値(以
下、旧極値と呼ぶ)とを減算し、その演算結果の
絶対値をラインl8を介して比較回路11の一方
の入力端子に与える。比較回路11の他方の入力
端子には、ラインl9を介して変化値設定回路1
2からの出力が与えられる。比較回路11では、
減算絶対値演算回路10からの減算絶対値と、変
化値設定回路12によつて予め設定された変化値
とが比較される。比較回路11の出力は、ライン
l10を介して極値保持レジスタ8に与えられ
る。極値保持レジスタ8は、比較回路11におい
て前記減算絶対値が前記変化値以下であるときに
は、その比較回路11からの出力に応答して既に
保持している旧極値を現極値で更新し、前記減算
絶対値が前記変化値を超えるときには、更新しな
いように構成される。
極値保持レジスタ8において保持された極値
は、ラインl11を介して減算絶対値演算回路9
に与えられる。減算絶対値演算回路9には、前述
のようにラインl4を介してアナログ/デジタル
変換回路4からのデジタル化された画像データが
与えられる。減算絶対値演算回路9では、極値保
持レジスタ8からの極値を基準として、ラインl
4からの現在の画像データとのレベル差を演算
し、その減算絶対値をラインl12を介して比較
回路13の一方の入力端子に与える。比較回路1
3の他方の入力端子は、ラインl13を介してし
きい値設定回路14に接続される。比較回路13
では、減算絶対値演算回路9からの減算絶対値
と、しきい値設定回路14によつて予め設定され
たしきい値Mとを比較して、その減算絶対値がし
きい値Mを越える場合に、ラインl14にたとえ
ばローレベルの信号(欠陥検出信号)を導出す
る。このように水平走査方向に変化のある画素毎
のレベルの極値を選択的に更新するとともに、そ
の極値を基準としてしきい値Mを設定し、しきい
値Mを超えるレベルであるデータを検出して、ロ
ーレベルの信号(欠陥検出信号)を導出するよう
にしたことによつて、水方向に変化のある欠陥部
分の検出が可能となる。
アナログ/デジタル変換回路5によつてデジタ
ル化された画像データは、垂直フローテイング2
値化回路3に入力される。垂直フローテイング2
値化回路3の構成は、前記水平フローテイング2
値化回路2の構成に類似し、対応する部分には同
一の参照符に添字aを付しておく。この垂直フロ
ーテイング2値化回路3では、前記m画素遅延回
路7に代えてnライン遅延回路16を備えるもの
であり、また極値保持レジスタ8に代えて極値保
持メモリ17、アナログカウンタ18およびクロ
ツク発生回路19を備えるものである。以下第2
図および第3図をも参照して、垂直フローテイン
グ2値化回路3の動作状態を説明する。
第2図は、1垂直走査ラインにおける連続した
画素毎のレベルをライン20によつて表わしたも
のである。このライン20のレベルの各極値は、
たとえば参照符号P1〜P5で表わされる。第3
図1および第3図2は、センサの1水平走査ライ
ン分の画像データの配列を示しており、この画像
データを左から右に順に読出すことにより、シリ
アルな画像信号が得られる。第3図2は、第3図
1よりもn本の水平走査ラインだけ遅延した画像
データを表わす。前記水平フローテイング2値化
回路2においては、1個の極値保持レジスタ8を
備えたけれども、この垂直フローテイング2値化
回路3では、第3図3で示されるように、1画素
毎に1個づつ合計r個(本実施例では、r=256)
のストアセルG1〜Grを有する極値保持メモリ
17を備えるものである。極値保持メモリ17の
各ストアセルG1〜Grの更新の際には、クロツ
ク発生回路19からのクロツク信号によつてアド
レスカウンタ18をカウントアツプすることによ
つて、極値保持メモリ17のアドレスを作成し、
後述のようにたとえばGj番目のストアセルにス
トアされた旧極値を現極値で更新したり、旧極値
をそのまま保持したりすることができる。このよ
うなアドレス信号は、たとえば1水平走査ライン
が256画素で構成されている場合には、8ビツト
となる。たとえば第3図1で示されるEj番目の現
データが読出されると、その現データに対応した
第3図2で示されるFj番目の遅延データが読出さ
れる。極値保持メモリ17は、これら現データお
よび遅延データのペアに対応した容量を有するラ
ンダムアクセスメモリである。
極値検出回路6aにおいて、たとえばEj番目の
現データとFj番目の遅延データとが比較され、第
2図のライン20の極値P2が検出された場合を
想定する。この現極値P2は、極値保持メモリ1
7のGj番目にストアされた旧極値P1とともに、
減算絶対値演算回路10aに与えられる。極値P
2と旧極値P1との差W12の絶対値が、変化値
設定回路12aにおいて予め設定された変化値以
下であると、Gj番目のストアセルの旧極値P1
は、極値P2で更新され、その極値P2が保持さ
れたままとなる。その極値P2と、アナログ/デ
ジタル変換回路4aからの現データとの差の絶対
値が、しきい値設定回路14aにおいて予め設定
されたしきい値M以下であると、ラインl14a
からはハイレベルの信号(非欠陥検出信号)が導
出される。
次に極値検出回路6aにおいて、現極値P3を
検出したとき、その現極値P3と極値保持メモリ
17からの旧極値P2との差W23が、変化値設
定回路12aの変化値を超えるものであると、極
値保持メモリ17のGj番目のストアセルに保持
された旧極値P2は、現極値P3で更新されず、
旧極値P2は保持されたままとなる。このとき旧
極値P2とアナログ/デジタル変換回路4aから
の現データとの差が、しきい値Mを超えると、ラ
インl14aからはローレベルの信号(欠陥検出
信号)が導出される。
次に極値検出回路6aにおいて、現極値P4を
検出したとき、その現極値P4と極値保持メモリ
17からの旧極値P2との差W24が、変化値設
定回路12aの変化値以下であると、極値保持メ
モリ17のGj番目のストアセルの旧極値P2は、
現極値P4で更新される。このとき旧極値P2と
アナログ/デジタル変換回路4aからの現データ
との差が、しきい値以下であると、ラインl14
aからはハイレベルの信号(非欠陥検出信号)が
導出される。
このように水平走査ラインの画素と同一数のス
トアセルG1〜Grを有する極値保持メモリ17
を備え、この極値保持メモリ17において、垂直
走査方向に変化のある画素毎のレベルの極値を順
次的に更新するとともに、その極値を基準にしき
い値Mを設定し、しきい値Mを超えるレベルであ
る画素を検出して、その欠陥検出信号を導出する
構成を有する垂直フローテイング2値化回路3に
よつて、各垂直走査ラインにおけるr個の画素に
対応した垂直方向に変化のある欠陥部分の抽出を
行なうことが可能となる。
水平フローテイング2値化回路2のラインl1
4から導出される検出信号と、垂直フローテイン
グ2値化回路3のラインl14aから導出される
検出信号とは、ORゲート15の各入力端子に個
別的に入力される。このようにORゲート15に
よつて、水平、垂直両方向の極値の変化の論理積
をとるようにしたことによつて、2次元のフロー
テイング2値化回路を簡単に構成することができ
る。したがつてリアルタイムで画像信号中の2次
元的に抽出して、正確な2値画像を得ることがで
きる。
効 果 以上のように本発明によれば、複数の画素が備
えられた各走査ライン毎に、相互に対応する画素
のレベルを比較して極値を求め、各走査ラインの
画素と同一数のストアセルを有するメモリによつ
て、前記極値をその極値が求められた画素に対応
するストアセルにストアするとともに、その極値
相互間のストアセルには、直前の極値をストアし
たままとし、画素の走査時に前記ストアセルのス
トア内容とを比較して、その差をレベル弁別する
ようにしたことによつて、2値化処理を正確に行
なつて被検出物体の欠陥部分を確実に検出するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロツク図、第2
図は垂直走査方向に連続した画素の各レベルを表
わすライン20を示す図、第3図は極値保持メモ
リ17に関連する図である。 1…2値化回路、2…水平フローテイング2値
化回路、3…垂直フローテイング2値化回路、
6,6a…極値検出回路、7,16…遅延回路、
8…極値保持レジスタ、17…極値保持メモリ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数の各走査ライン毎に複数の個別的に対応
    する画素がそれぞれ備えられ、これらの走査ライ
    ンおよび画素によつて構成される画像データを各
    走査ラインの画素と同一数のストアセルを有する
    メモリを設けて処理する画像処理方法において、 異なる走査ラインの相互に対応する画素のレベ
    ルを比較して極値を求め、 前記極値をその極値が求められた画素に対応す
    るストアセルのストア内容と比較し、極値とスト
    ア内容との差の絶対値が予め定める設定値以下で
    あるときは、極値をストアセルにストアするとと
    もに、前記差の絶対値が前記設定値を超えるとき
    は、前記ストアセルには、直前の極値をストアし
    たままとし、 画素の走査時に、各画素のレベルと、対応する
    前記ストアセルのストア内容とを比較して、その
    差をレベル弁別することを特徴とする欠陥検出方
    法。
JP60165414A 1985-07-25 1985-07-25 欠陥検出方法 Granted JPS6225391A (ja)

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JP60165414A JPS6225391A (ja) 1985-07-25 1985-07-25 欠陥検出方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2521531B2 (ja) * 1989-04-11 1996-08-07 株式会社三洋物産 パチンコ機の機構板
JP2007018248A (ja) * 2005-07-07 2007-01-25 Sony Corp 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム

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