JPS5967780A - 画質補正方式 - Google Patents
画質補正方式Info
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- JPS5967780A JPS5967780A JP57178143A JP17814382A JPS5967780A JP S5967780 A JPS5967780 A JP S5967780A JP 57178143 A JP57178143 A JP 57178143A JP 17814382 A JP17814382 A JP 17814382A JP S5967780 A JPS5967780 A JP S5967780A
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- Japan
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- shift register
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/40—Picture signal circuits
- H04N1/409—Edge or detail enhancement; Noise or error suppression
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、スキャナでしtみ取ったiI!Il像の画質
補正を行う方式に関する。
補正を行う方式に関する。
ファクシミリ装置、ディジタル複写機、光学式文字読取
装置等においてはスキャナにより原稿の画像を読み取る
が、細線等の微小なパターンを明瞭に読み取るためには
高解像度のスキャナを用いる必要がある。ところが、高
解像度のスキャナを用いた場合、原稿の表面の凹凸、イ
ンクやトナーのムラ、地肌の微小な汚れ等も敏感に読み
取ってしまう。そこで従来は、スキャナで読み取った画
像に「゛ボケ」処理を施すことにより画質補正を行って
いる。しかし、このような「ボケ」処理を行うと、漢字
のような複雑な文字が不鮮明になったり、コピー原稿の
ように地肌と線の設置レベル差が小さい原稿の場合は、
細線の一部が欠ける等、スキャナの解1ま度を高めた効
果が損なわれるという問題があった。
装置等においてはスキャナにより原稿の画像を読み取る
が、細線等の微小なパターンを明瞭に読み取るためには
高解像度のスキャナを用いる必要がある。ところが、高
解像度のスキャナを用いた場合、原稿の表面の凹凸、イ
ンクやトナーのムラ、地肌の微小な汚れ等も敏感に読み
取ってしまう。そこで従来は、スキャナで読み取った画
像に「゛ボケ」処理を施すことにより画質補正を行って
いる。しかし、このような「ボケ」処理を行うと、漢字
のような複雑な文字が不鮮明になったり、コピー原稿の
ように地肌と線の設置レベル差が小さい原稿の場合は、
細線の一部が欠ける等、スキャナの解1ま度を高めた効
果が損なわれるという問題があった。
本発明は、前記の如き問題点を解決できる新しい画質補
正方式を提供することを目的とする。更に詳述すれば、
本発明の目的は、コピー原稿等の低品質の原稿から読み
取った11…像に対しても、十分な解1象度を維持しつ
つ、線の欠けの補正や微小ノイズの除去を達成できる画
質補正方式を提供することである。
正方式を提供することを目的とする。更に詳述すれば、
本発明の目的は、コピー原稿等の低品質の原稿から読み
取った11…像に対しても、十分な解1象度を維持しつ
つ、線の欠けの補正や微小ノイズの除去を達成できる画
質補正方式を提供することである。
本発明によれば、両開上の任意の注目するli!]I素
とその周辺のIIIII素群を言む領域内における濃度
分イ11の状態から、当該注目画素の方向性を検出し、
その注目画素に、その方向性に依存した周辺画素tノド
との濃度の平均化処理を施す。そして、この平均化処理
後の+uu IS上の各画素にその方向性に依存したM
T F補正を施す。
とその周辺のIIIII素群を言む領域内における濃度
分イ11の状態から、当該注目画素の方向性を検出し、
その注目画素に、その方向性に依存した周辺画素tノド
との濃度の平均化処理を施す。そして、この平均化処理
後の+uu IS上の各画素にその方向性に依存したM
T F補正を施す。
第1図は、本発明の一実施例を示す概略処坤流れ図であ
る。以下、各処理ステップについて、順を追って説明す
る。
る。以下、各処理ステップについて、順を追って説明す
る。
(IJ方向性検出
処理すべき画像を第2図の5×5画素の窓で観測する。
ここで、S(i、j)は注目する任意の画素(注目画素
)の濃度であり、S(i〜2、j−2)〜5(i−1−
2、j+2)はその注目画素の周辺の各画素の濃度であ
る。
)の濃度であり、S(i〜2、j−2)〜5(i−1−
2、j+2)はその注目画素の周辺の各画素の濃度であ
る。
前記観測窓内の6個の画素群を9つのグループに分類し
、各グループ毎に平均画素濃度A −HlXを次式にし
たがって算出する。
、各グループ毎に平均画素濃度A −HlXを次式にし
たがって算出する。
A−(S(i−z 、 j−2)+S(i−2、j−1
)+S(i−t 、 j−z)+S(i−s 、 j−
1) )÷4B−(S(i −21j+1)+S(i−
2,j+2)+S(t−1、j++ )+S(i−s
、 j+2))÷4C−(S(i+1 +j−2)+S
(i−H、j−+ )+S(i+2.j−2)+S(i
+2 + j−1))÷4])−(S(i+t + j
+1 )+S(i+t 、 j+2)+S(i+2.、
i+1 )+S(i+z 、 j+z))÷4E−(S
(i −2、i−s )+S(i−2,j )+S(i
−2,j+s )+S(i−s 、 j ) )÷4F
−(S(i=、j−2)+S(i、j−2)+S(i+
x、j−2)→−5(i、i−1月÷4G−(S(t−
1,j+2)+S(i 、j+t )+S(i 、j−
+−+ )十S(i+t 、j−+−z))÷4)(−
(S(i+t 、j)+S(i十z、j−s )−1−
8(i−+−z、j)+S(i+z、j−+−1))÷
4X−(S(i 、j)+S(i−x 、 j )+S
(i、 j−s )+S(i 、 j+t )+S(i
+t 、j) l÷5ここで、グループ間で部分的に画
素を重複させているが、これは画像上の微小なノイズの
影響を減する上で効果がある。
)+S(i−t 、 j−z)+S(i−s 、 j−
1) )÷4B−(S(i −21j+1)+S(i−
2,j+2)+S(t−1、j++ )+S(i−s
、 j+2))÷4C−(S(i+1 +j−2)+S
(i−H、j−+ )+S(i+2.j−2)+S(i
+2 + j−1))÷4])−(S(i+t + j
+1 )+S(i+t 、 j+2)+S(i+2.、
i+1 )+S(i+z 、 j+z))÷4E−(S
(i −2、i−s )+S(i−2,j )+S(i
−2,j+s )+S(i−s 、 j ) )÷4F
−(S(i=、j−2)+S(i、j−2)+S(i+
x、j−2)→−5(i、i−1月÷4G−(S(t−
1,j+2)+S(i 、j+t )+S(i 、j−
+−+ )十S(i+t 、j−+−z))÷4)(−
(S(i+t 、j)+S(i十z、j−s )−1−
8(i−+−z、j)+S(i+z、j−+−1))÷
4X−(S(i 、j)+S(i−x 、 j )+S
(i、 j−s )+S(i 、 j+t )+S(i
+t 、j) l÷5ここで、グループ間で部分的に画
素を重複させているが、これは画像上の微小なノイズの
影響を減する上で効果がある。
さて、前記のA−H,Xの値を用い次式の演算を行い、
G、1〜Gi4とa’、111Le’、4の値を求める
。
G、1〜Gi4とa’、111Le’、4の値を求める
。
G1=lA+E−1−13−P−X−GIG’l=l
C+H−1−D−F−X−GlG2=l A十E+F−
B−X−CI G’2= l G+H+D−B−X−C1G3=lA十
F+C−E−X−H1 G’3=lB+G+D−E−X−HI G4二l E+B+G−A−X −D IG’4= l
F−1−C+H−A−X−D 1以上のようにして求
めた01〜G4.0’l〜G’4の中の最大値Gnまた
はG’n (nは1,2,3.4の中のいずれか)が、
Gn)GTHまたはG’n >G T Hならば、注目
画素に方向コードnを付け、そうでなければ方向性はな
いと判断する。ただし、GTHはある閾値である。
C+H−1−D−F−X−GlG2=l A十E+F−
B−X−CI G’2= l G+H+D−B−X−C1G3=lA十
F+C−E−X−H1 G’3=lB+G+D−E−X−HI G4二l E+B+G−A−X −D IG’4= l
F−1−C+H−A−X−D 1以上のようにして求
めた01〜G4.0’l〜G’4の中の最大値Gnまた
はG’n (nは1,2,3.4の中のいずれか)が、
Gn)GTHまたはG’n >G T Hならば、注目
画素に方向コードnを付け、そうでなければ方向性はな
いと判断する。ただし、GTHはある閾値である。
(1)平均化
注目画素に、その方向性(ステップII)で検出した方
向コードl)に応じ、次式にしたがった濃度の平均化処
理を施す。ただし、次式においては、Xは注目画素の平
均化後の濃度であり、a 1 +a2.a3は定数であ
る。通常、a 、−a a −1+ 82−2に選ぶと
よい。
向コードl)に応じ、次式にしたがった濃度の平均化処
理を施す。ただし、次式においては、Xは注目画素の平
均化後の濃度であり、a 1 +a2.a3は定数であ
る。通常、a 、−a a −1+ 82−2に選ぶと
よい。
n = 1のとき
x=(a、F+a2X+a3G)/(a1+a2+a3
)n = 2のとき x=(a 1B+a2X+a3C)/(a1+a2+a
3)n = 3のとき x−(a1E+a2X+a3II)/(a、 +a2+
a3)n = 4のとき x=(a1A+a2X−t−a3D)/(a1+a2+
a3)なお、方向性の検出されなかった画素については
、この平均化処理は実行しない。
)n = 2のとき x=(a 1B+a2X+a3C)/(a1+a2+a
3)n = 3のとき x−(a1E+a2X+a3II)/(a、 +a2+
a3)n = 4のとき x=(a1A+a2X−t−a3D)/(a1+a2+
a3)なお、方向性の検出されなかった画素については
、この平均化処理は実行しない。
〔■〕1次元MTF補正
この処理は、前記のステップ〔■〕を終了l−だ後の画
像上の各画素について実行する。即ち、平均化処理後の
画像上における任意の注目画素の濃度を第3図のx(5
)としたとき、その注目画素の方向コード!1にしたが
って第4図の(イ)〜に)のいずれ△ かのフィルタを選択し、補正濃度Xを求める。即ち、 n = 1のとき ”−X(5)X 2− (x(2)
+ x(8) )÷2n=2のとき ’;’−X(5)
X 2− (x(1)+ x(a) )÷2△ n = 3のとき x −X(5)X 2 (x(4
)+ x(6) )÷2へ n = 4のとき x −x(5)X 2− (X(3
)+ X(7) )÷まただし、方向性の検出されなか
った画素については、この処理は施さない。
像上の各画素について実行する。即ち、平均化処理後の
画像上における任意の注目画素の濃度を第3図のx(5
)としたとき、その注目画素の方向コード!1にしたが
って第4図の(イ)〜に)のいずれ△ かのフィルタを選択し、補正濃度Xを求める。即ち、 n = 1のとき ”−X(5)X 2− (x(2)
+ x(8) )÷2n=2のとき ’;’−X(5)
X 2− (x(1)+ x(a) )÷2△ n = 3のとき x −X(5)X 2 (x(4
)+ x(6) )÷2へ n = 4のとき x −x(5)X 2− (X(3
)+ X(7) )÷まただし、方向性の検出されなか
った画素については、この処理は施さない。
〔■〕2値化
ステップCI)の処理後の各画素について、通常の2値
化を行う。
化を行う。
以上に述べた画質補正処理によれば、方向性に基づいて
線の切れや欠けを適正に補正できる。また、微小なノイ
ズの影響を除去できる。
線の切れや欠けを適正に補正できる。また、微小なノイ
ズの影響を除去できる。
次に、前述の画質補正処理を実行する装置の一例につい
て、第5図釦より説明する。
て、第5図釦より説明する。
v、5図において、100は画像を読み取るスキャナで
ある。101は1画素分の濃度情報を蓄積できるシフト
レジスタ102(例えば4ビツトのシフトレジスタ)を
6個、5行×5列に配列したシフトレジスタ群である。
ある。101は1画素分の濃度情報を蓄積できるシフト
レジスタ102(例えば4ビツトのシフトレジスタ)を
6個、5行×5列に配列したシフトレジスタ群である。
スキャナ100から出力される画像信号は、画素転送り
ロックと同期してシフトV、)メタ群101内の1行目
の1列目のシフトレジスタ102に送られるとともに、
ラインシフトレジスタ103に送られる。このラインシ
フトレジスタ103の出力はシフトレジスタ群101内
の2行目の1列目のシフトレジスタ102に送られ、ま
たラインシフトレジスタ104へ送られる。このライン
シフトレジスタ104の出力はシフトレジスタ群101
内の3行目の1列目のシフトレジスタ102とラインシ
フトレジスタ105へ送られ、このラインシフトレジス
タ105の出力はシフトレジスタ群101内の4行目の
1列目のシフトレジスタ102とラインシフトレジスタ
106へ送られる。このラインシフトレジスタ106の
出力はシフトレジスタ群101内の5行目の1列目のシ
フトレジスタ102へ送られる。ラインシフトレジスタ
103〜106はそれぞれ1ライン分の濃度情報を蓄積
できる容量を持ち、その内容を画素転送りロックと同期
して順次出力側へシフトする。また、シフトレジスタ群
101内の各行のシフトレジスタ102の内容は、画素
転送りロックと同期して同行上の次の列のシフトレジス
タへ順次送られる。したがって、第2図に示す5×5画
素領域内のる画素分の濃度情報がシフトレジスタ群10
1に得られる(3行目の3列目のシフトレジスタ102
に注目画素の濃度情報がある)。
ロックと同期してシフトV、)メタ群101内の1行目
の1列目のシフトレジスタ102に送られるとともに、
ラインシフトレジスタ103に送られる。このラインシ
フトレジスタ103の出力はシフトレジスタ群101内
の2行目の1列目のシフトレジスタ102に送られ、ま
たラインシフトレジスタ104へ送られる。このライン
シフトレジスタ104の出力はシフトレジスタ群101
内の3行目の1列目のシフトレジスタ102とラインシ
フトレジスタ105へ送られ、このラインシフトレジス
タ105の出力はシフトレジスタ群101内の4行目の
1列目のシフトレジスタ102とラインシフトレジスタ
106へ送られる。このラインシフトレジスタ106の
出力はシフトレジスタ群101内の5行目の1列目のシ
フトレジスタ102へ送られる。ラインシフトレジスタ
103〜106はそれぞれ1ライン分の濃度情報を蓄積
できる容量を持ち、その内容を画素転送りロックと同期
して順次出力側へシフトする。また、シフトレジスタ群
101内の各行のシフトレジスタ102の内容は、画素
転送りロックと同期して同行上の次の列のシフトレジス
タへ順次送られる。したがって、第2図に示す5×5画
素領域内のる画素分の濃度情報がシフトレジスタ群10
1に得られる(3行目の3列目のシフトレジスタ102
に注目画素の濃度情報がある)。
シフトレジスタ群101に得られた5画素分の濃度情報
は、ゲートアレイ107によって、ステップ〔1〕で説
明したように9つのグループに分けられ、加算器108
A〜108Xへ入力され、前述の値A〜■(の4倍値と
値Xの5倍値のデータが得られる。加算器108A〜1
08Hの出力はそれぞれシフトレジスタ109八〜10
9Hへ入力され、そこで右へ2ビツトシフト(4で除算
)することにより、前述の値A −Hのデータが求めら
れる。また、加算器108Xの出力はROM (リード
オンリーメモリ)110により5で除算され、前述の値
Xのデータが得られる。
は、ゲートアレイ107によって、ステップ〔1〕で説
明したように9つのグループに分けられ、加算器108
A〜108Xへ入力され、前述の値A〜■(の4倍値と
値Xの5倍値のデータが得られる。加算器108A〜1
08Hの出力はそれぞれシフトレジスタ109八〜10
9Hへ入力され、そこで右へ2ビツトシフト(4で除算
)することにより、前述の値A −Hのデータが求めら
れる。また、加算器108Xの出力はROM (リード
オンリーメモリ)110により5で除算され、前述の値
Xのデータが得られる。
シフトレジスタ109A〜109HおよびROMll0
より出力されるA −IIおよびXの各データは、ゲー
トアレイ111とスイッチ回路112へ送られる。
より出力されるA −IIおよびXの各データは、ゲー
トアレイ111とスイッチ回路112へ送られる。
ゲートアレイ111は、前述のステップ〔I〕における
01〜G4 、 G’l〜G’4の各位を求めるために
、A〜II、Xのデータを6個ずつ組にして計8個の演
算器(加算器) 113.、113.l、・・・・・・
・・・、11341へ送る。
01〜G4 、 G’l〜G’4の各位を求めるために
、A〜II、Xのデータを6個ずつ組にして計8個の演
算器(加算器) 113.、113.l、・・・・・・
・・・、11341へ送る。
各演算器113. 、113.l 1・・・・・・・・
・1113.lから、前述の01 、 G’l 、・・
・・・・・・・、G′4の各位のデータが出力され、こ
れらはコンパレータ114で比較される。コンパレータ
114は、Gl、G’l、・・・・・・・・・、G′4
の中の最大値G またはG′を求め、それが閾値GTH
より太きn n いとき、その方向コードnを出力する。最大値Gnまた
はG′nがGTH以下であれば、不定方向コードOを出
力する。
・1113.lから、前述の01 、 G’l 、・・
・・・・・・・、G′4の各位のデータが出力され、こ
れらはコンパレータ114で比較される。コンパレータ
114は、Gl、G’l、・・・・・・・・・、G′4
の中の最大値G またはG′を求め、それが閾値GTH
より太きn n いとき、その方向コードnを出力する。最大値Gnまた
はG′nがGTH以下であれば、不定方向コードOを出
力する。
スイッチ回路112と、シフトレジスタ115.117
および加算器116は前記のステップ(n)を実行する
部分である。即ち、スイッチ回路112は、コンパレー
タ114から出力される方向コードが1ならば、G、F
、Xの各データを選択し、方向コードが2ならばB、C
,Xの各データを選択し、方向コードが3ならばE、H
,Xの各データを選択し、また方向コードが4ならばA
、D、Xのデータを選択し、Xデータのみシフトレジス
タ115へ送り、残りの2つのデータを直接的に加算器
116へ送る。
および加算器116は前記のステップ(n)を実行する
部分である。即ち、スイッチ回路112は、コンパレー
タ114から出力される方向コードが1ならば、G、F
、Xの各データを選択し、方向コードが2ならばB、C
,Xの各データを選択し、方向コードが3ならばE、H
,Xの各データを選択し、また方向コードが4ならばA
、D、Xのデータを選択し、Xデータのみシフトレジス
タ115へ送り、残りの2つのデータを直接的に加算器
116へ送る。
なお、コンパレータ114から不定方向コードOが出力
されるとぎは、スイッチ回路112はXデータのみ選択
する。シフトレジスタ115は、スイッチ回路112よ
り入力されるメデータを左にイビットシフトし、2(=
a2)を乗じて加算器116へ送る。
されるとぎは、スイッチ回路112はXデータのみ選択
する。シフトレジスタ115は、スイッチ回路112よ
り入力されるメデータを左にイビットシフトし、2(=
a2)を乗じて加算器116へ送る。
加算器116はスイッチ回路112とシフトレジスタ1
16より入力される3つのデータの加算値を求め、それ
をシフトレジスタ117へ送る。シフトレジスタ117
は、入力データを右に2ビツトシフトして4 (=a、
+a2+a3)で除算する。つまり、注目画素の平均化
42度Xがシフトレジスタ117より出力される。
16より入力される3つのデータの加算値を求め、それ
をシフトレジスタ117へ送る。シフトレジスタ117
は、入力データを右に2ビツトシフトして4 (=a、
+a2+a3)で除算する。つまり、注目画素の平均化
42度Xがシフトレジスタ117より出力される。
ただし、コンパレータ114から不定方向コード0が出
たときは、シフトレジスタ117は右に1ビットだけシ
フトし、入力データを2(=a4)で除算する。つまり
、方向性の検出されない注目画素については平均化処理
を施さない。
たときは、シフトレジスタ117は右に1ビットだけシ
フトし、入力データを2(=a4)で除算する。つまり
、方向性の検出されない注目画素については平均化処理
を施さない。
118は1画素分のa匿情報を蓄積できるシフトレジス
タ119を3行×3列に配列したシフトレジスタ群であ
る。120と121はそれぞれ1ライン分の画素濃度情
報を蓄積できるラインシフトレジスタでアル。シフトレ
ジスタ117の出力データは、シフトレジスフ群118
01行目・1列目のシフトレジスタ1j9に送られ、2
列目以降5順次シフトされる。また、シフトレジスタ1
17の出力データをラインシフトレジスタ120で1ラ
イン分遅延したデータと、それを更にラインシフトレジ
スタ121で1ライン分遅延したデータが、それぞれシ
フトレジスタ群118の2行目と3行目の1列目のシフ
トレジスタ119へ送られ、2列目以降へ順次シフトさ
れる。したがって、第3図に示す3×3画素領域の濃度
情報(平均化処理済み)がシフトレジスタ118に得ら
れる。ここで、1次元M ’I’ F補正を施す注目画
素の設度情報(第3図のX (5) )は、シフトレジ
スタ群118の2行目の2列目のシフトレジスタ119
に存在する。
タ119を3行×3列に配列したシフトレジスタ群であ
る。120と121はそれぞれ1ライン分の画素濃度情
報を蓄積できるラインシフトレジスタでアル。シフトレ
ジスタ117の出力データは、シフトレジスフ群118
01行目・1列目のシフトレジスタ1j9に送られ、2
列目以降5順次シフトされる。また、シフトレジスタ1
17の出力データをラインシフトレジスタ120で1ラ
イン分遅延したデータと、それを更にラインシフトレジ
スタ121で1ライン分遅延したデータが、それぞれシ
フトレジスタ群118の2行目と3行目の1列目のシフ
トレジスタ119へ送られ、2列目以降へ順次シフトさ
れる。したがって、第3図に示す3×3画素領域の濃度
情報(平均化処理済み)がシフトレジスタ118に得ら
れる。ここで、1次元M ’I’ F補正を施す注目画
素の設度情報(第3図のX (5) )は、シフトレジ
スタ群118の2行目の2列目のシフトレジスタ119
に存在する。
スイッチ回路122、シフトレジスタ123〜125、
および演q、器(加算器)126はステップ〔■〕の1
次元M’TF補正処理を実行する部分である。即ち、ス
イッチ回路122は、コンパレータ114から方向コー
ド1が出力されたときは、x(2) 、 x(5) 、
x(8)。
および演q、器(加算器)126はステップ〔■〕の1
次元M’TF補正処理を実行する部分である。即ち、ス
イッチ回路122は、コンパレータ114から方向コー
ド1が出力されたときは、x(2) 、 x(5) 、
x(8)。
(第3図参照)K相当するデータをシフトレジスタ群1
18より選択し、同様に、方向コード2が出力されたと
きはX(1) 、X(5) 、X(9)のデータ、方向
コード3が出力されたときはx(4> 、 x(5)
、 x(6)のデータ、方向コード4が出力されたとき
はx (3)、 x (5) 、 x (7)をそれぞ
れ選択する。そして、選択した3画素分のデータの中、
X(5)データ(注目画素)をシフトレジスタ123へ
、残りの各データをシフトレジスタ124 、125へ
それぞれ送る。シフトレジスタ123は入力データを左
へ1ビツトシフト(2倍)しCから演算器126へ送り
、シフトレジスタ124゜125は入力データを右へ1
ピツトシフ)(1/2倍)してから演算器126へ送る
。かくして、演算器126からは、注目画素の方向性に
応じて、第4図の(イ)〜に)のいずれかのフィルタを
用いて1次元MT F補正を施した濃度情報が出力され
る。
18より選択し、同様に、方向コード2が出力されたと
きはX(1) 、X(5) 、X(9)のデータ、方向
コード3が出力されたときはx(4> 、 x(5)
、 x(6)のデータ、方向コード4が出力されたとき
はx (3)、 x (5) 、 x (7)をそれぞ
れ選択する。そして、選択した3画素分のデータの中、
X(5)データ(注目画素)をシフトレジスタ123へ
、残りの各データをシフトレジスタ124 、125へ
それぞれ送る。シフトレジスタ123は入力データを左
へ1ビツトシフト(2倍)しCから演算器126へ送り
、シフトレジスタ124゜125は入力データを右へ1
ピツトシフ)(1/2倍)してから演算器126へ送る
。かくして、演算器126からは、注目画素の方向性に
応じて、第4図の(イ)〜に)のいずれかのフィルタを
用いて1次元MT F補正を施した濃度情報が出力され
る。
ただし、コンパレータ114から不定方向コード0が出
力された場合は、スイッチ回路122はx(5)データ
のみを選択してシフトレジスタ123へ送る。
力された場合は、スイッチ回路122はx(5)データ
のみを選択してシフトレジスタ123へ送る。
また、シフトレジスタ123のシフト動作は行われない
。したがって、方向性の検出されない注目画素について
は1次元MTF@正は施されない。
。したがって、方向性の検出されない注目画素について
は1次元MTF@正は施されない。
演算器126の出力データはコンパレータ127ニよっ
である閾値で2値化された後、外部へ出力される。
である閾値で2値化された後、外部へ出力される。
以上、本発明の実施例について説明したが、本発明は同
実施例にのみ限定されるものではなく、種々変形して実
施できるものである。例えば、前記の〔11〜[1)の
各ステップのアルゴリズムは、本発明の主旨を逸脱しな
い範囲で変更してもよい。また、処理を実行する手段は
、前述のようなハードウェア手段が処理速度等の面で一
般に有利であるが、処理操作の一部または大部分を汎用
のコンピュータを用いてプログラム処理にて実行するこ
とも可能である。
実施例にのみ限定されるものではなく、種々変形して実
施できるものである。例えば、前記の〔11〜[1)の
各ステップのアルゴリズムは、本発明の主旨を逸脱しな
い範囲で変更してもよい。また、処理を実行する手段は
、前述のようなハードウェア手段が処理速度等の面で一
般に有利であるが、処理操作の一部または大部分を汎用
のコンピュータを用いてプログラム処理にて実行するこ
とも可能である。
本発明は以上に詳述したようK、各画素にその方向性に
依存した濃度平均化処理とMTF補正を施すため、線の
切れや欠けを補正でき、また微小ノイズの影響を減らす
ことができ、従来方法の欠点を改善した画質補正効果を
得ることができる。
依存した濃度平均化処理とMTF補正を施すため、線の
切れや欠けを補正でき、また微小ノイズの影響を減らす
ことができ、従来方法の欠点を改善した画質補正効果を
得ることができる。
第1図は本発明の一実施例を示す概略処理流れ図、第2
図は方向性検出と平均化処理を説゛明するだめの画素配
置図、第3図は1次元MTF補正処理を説明するための
画素配置図、第4図は1次元M T F補正に用いるフ
ィルタの説明図、第5図は前記実施例の画質補正処理を
実行するための装置の一例を示すブロック図である。 S(i、j)・・・処理前の注目画素濃度、X(5)・
・・平均化処理後の注目画素濃度、100・・・スキャ
ナ、1.01,11.8・・・シフトレジスタ群、10
3〜1061.120゜121・・・ラインシフトレジ
スタ、107,111・・・ケートアレイ、108A〜
108X、 116・・・加算器、109A〜109H
,115,117,123,124,125・・・シフ
トレジスタ、110・・・ROM1112.122・・
・スイッチ回路、1131〜1134’ 、 126・
・・演算器、114.127・・・コンパレータ。 代理人 弁理士 鈴 木 誠 4・i”l”、’
(’)r;−。 第2図 第3図 第4図 (ハ) (ニ)
図は方向性検出と平均化処理を説゛明するだめの画素配
置図、第3図は1次元MTF補正処理を説明するための
画素配置図、第4図は1次元M T F補正に用いるフ
ィルタの説明図、第5図は前記実施例の画質補正処理を
実行するための装置の一例を示すブロック図である。 S(i、j)・・・処理前の注目画素濃度、X(5)・
・・平均化処理後の注目画素濃度、100・・・スキャ
ナ、1.01,11.8・・・シフトレジスタ群、10
3〜1061.120゜121・・・ラインシフトレジ
スタ、107,111・・・ケートアレイ、108A〜
108X、 116・・・加算器、109A〜109H
,115,117,123,124,125・・・シフ
トレジスタ、110・・・ROM1112.122・・
・スイッチ回路、1131〜1134’ 、 126・
・・演算器、114.127・・・コンパレータ。 代理人 弁理士 鈴 木 誠 4・i”l”、’
(’)r;−。 第2図 第3図 第4図 (ハ) (ニ)
Claims (1)
- 画像上の任意の注目する画素とその周辺の画素群を含む
領域内における鑓度分布の状態から当該注目する画素の
方向性を検出し、その方向性に依任した周辺画素群との
濃度の平均化処理を当該注目する画素に施し、この平均
化処理後の画像上の各imi素に対し、その前記方向性
に欧イfした+vi i’ F(Modulation
Transfer )’unction )補正
を施すことを特徴とする画質補正方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57178143A JPS5967780A (ja) | 1982-10-08 | 1982-10-08 | 画質補正方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57178143A JPS5967780A (ja) | 1982-10-08 | 1982-10-08 | 画質補正方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5967780A true JPS5967780A (ja) | 1984-04-17 |
Family
ID=16043388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57178143A Pending JPS5967780A (ja) | 1982-10-08 | 1982-10-08 | 画質補正方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5967780A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6342283A (ja) * | 1986-08-07 | 1988-02-23 | Canon Inc | 画像処理装置 |
JPH07170406A (ja) * | 1993-09-08 | 1995-07-04 | Univ California | 適応型ディジタル画像信号フィルタ |
US5995248A (en) * | 1996-03-22 | 1999-11-30 | Minolta Co., Ltd. | Image forming device and method having MTF correction |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5223208A (en) * | 1975-08-15 | 1977-02-22 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Method of emphasing sharpness of pictures |
-
1982
- 1982-10-08 JP JP57178143A patent/JPS5967780A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5223208A (en) * | 1975-08-15 | 1977-02-22 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Method of emphasing sharpness of pictures |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6342283A (ja) * | 1986-08-07 | 1988-02-23 | Canon Inc | 画像処理装置 |
JPH07170406A (ja) * | 1993-09-08 | 1995-07-04 | Univ California | 適応型ディジタル画像信号フィルタ |
US5995248A (en) * | 1996-03-22 | 1999-11-30 | Minolta Co., Ltd. | Image forming device and method having MTF correction |
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