JPH05196439A - チップ部品のリード曲がり検出方法及び装置 - Google Patents
チップ部品のリード曲がり検出方法及び装置Info
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- JPH05196439A JPH05196439A JP4029085A JP2908592A JPH05196439A JP H05196439 A JPH05196439 A JP H05196439A JP 4029085 A JP4029085 A JP 4029085A JP 2908592 A JP2908592 A JP 2908592A JP H05196439 A JPH05196439 A JP H05196439A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 種々の態様のリード曲がりを確実にチェック
することができるチップ部品のリード曲がり検出方法及
びを提供すること。 【構成】 チップ部品Ｗ１の周囲に突設された複数のリ
ード１の各中心点を画像処理によって求め、基準となる
リード１に対する各リード１の相対距離ＰiA，ＰiBを求
めてこれが所定の範囲内に入っているか否かをチェック
することによってリード１の曲がりを検出する（第１発
明）。 本発明によれば、基準となるリード１からの各リード１
の相対距離ＰiA，ＰiBがチェックされるため、隣接する
リード１の間のピッチは各々所定範囲内に入ってはいる
が、リード１が外方に向かって全体に広がっているよう
なチップ部品に対しても、リード１の累積ピッチ誤差を
チェックしてリード１の曲がりを確実に検出することが
できる。
することができるチップ部品のリード曲がり検出方法及
びを提供すること。 【構成】 チップ部品Ｗ１の周囲に突設された複数のリ
ード１の各中心点を画像処理によって求め、基準となる
リード１に対する各リード１の相対距離ＰiA，ＰiBを求
めてこれが所定の範囲内に入っているか否かをチェック
することによってリード１の曲がりを検出する（第１発
明）。 本発明によれば、基準となるリード１からの各リード１
の相対距離ＰiA，ＰiBがチェックされるため、隣接する
リード１の間のピッチは各々所定範囲内に入ってはいる
が、リード１が外方に向かって全体に広がっているよう
なチップ部品に対しても、リード１の累積ピッチ誤差を
チェックしてリード１の曲がりを確実に検出することが
できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画像処理によってチッ
プ部品のリードの曲がりを検出する方法及び装置に関す
る。
プ部品のリードの曲がりを検出する方法及び装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】周囲に複数のリードを突設して成る微小
なチップ部品の組み立て等においては、画像処理によっ
て当該チップ部品の位置を検出してこれを正確に位置決
めすることが行なわれるが、この際、リードの曲がりも
同時にチェックされている。
なチップ部品の組み立て等においては、画像処理によっ
て当該チップ部品の位置を検出してこれを正確に位置決
めすることが行なわれるが、この際、リードの曲がりも
同時にチェックされている。
【０００３】上記リードの曲がりのチェックは、隣接す
るリードの間のピッチが所定の範囲内に入っているか否
かを判定することによってなされ、何れかのピッチが所
定範囲から逸脱している場合には、当該チップ部品は不
良品として組立対象から除外される。具体的には、図９
に示すようにチップ部品Ｗ１のリード１に対して引いた
検出ラインＬ上で各リード１毎にその中心点をそれぞれ
求め、隣接するリード１の間のピッチＰ1，Ｐ2，…，Ｐ
i，…，Ｐn（ｉ，ｎは自然数）を算出し、各ピッチＰi
が許容範囲内に入っているか否か、即ち、次式を満足す
るか否かが判定される。
るリードの間のピッチが所定の範囲内に入っているか否
かを判定することによってなされ、何れかのピッチが所
定範囲から逸脱している場合には、当該チップ部品は不
良品として組立対象から除外される。具体的には、図９
に示すようにチップ部品Ｗ１のリード１に対して引いた
検出ラインＬ上で各リード１毎にその中心点をそれぞれ
求め、隣接するリード１の間のピッチＰ1，Ｐ2，…，Ｐ
i，…，Ｐn（ｉ，ｎは自然数）を算出し、各ピッチＰi
が許容範囲内に入っているか否か、即ち、次式を満足す
るか否かが判定される。
【０００４】
【数１】 Ｐ0×（１−Ｔ／１００）＜Ｐi＜Ｐ0×（１＋Ｔ／１００） ここに、Ｐ0：リードピッチの設定値 Ｔ：許容公差（％） ところで、図９に示すようなリード１が外方に向かって
全体的に広がっているチップ部品Ｗ１や図１０に示すよ
うなリード１が全体として一方向に倒れているチップ部
品Ｗは、たとえ各ピッチＰiが許容範囲内に入っていた
としても、不良品として組立対象から除外される必要が
ある。
全体的に広がっているチップ部品Ｗ１や図１０に示すよ
うなリード１が全体として一方向に倒れているチップ部
品Ｗは、たとえ各ピッチＰiが許容範囲内に入っていた
としても、不良品として組立対象から除外される必要が
ある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のリード曲がり検出方法では、図９や図１０に示すよ
うなリード１の曲がりをチェックすることができず、不
良チップ部品Ｗ１，Ｗ２をも良品として組立対象に含め
てしまうという不具合が生じる。因に、図９に示すチッ
プ部品Ｗ１において、全てのリード１が最大公差（＋
側）にあると仮定すれば、最外端のリード１には、
来のリード曲がり検出方法では、図９や図１０に示すよ
うなリード１の曲がりをチェックすることができず、不
良チップ部品Ｗ１，Ｗ２をも良品として組立対象に含め
てしまうという不具合が生じる。因に、図９に示すチッ
プ部品Ｗ１において、全てのリード１が最大公差（＋
側）にあると仮定すれば、最外端のリード１には、
【０００６】
【数２】ｄ＝ｎ／２×Ｐ0×Ｔ／１００ ここに、ｎ：リード本数 のズレが発生し、例えばリード本数ｎ＝５２、設定ピッ
チＰ0＝０．５ｍｍ、公差Ｔ＝３０％の場合には、ズレ
量はｄ≒４ｍｍとなってしまう。
チＰ0＝０．５ｍｍ、公差Ｔ＝３０％の場合には、ズレ
量はｄ≒４ｍｍとなってしまう。
【０００７】本発明は上記問題に鑑みてなされたもの
で、その目的とする処は、種々の態様のリード曲がりを
確実にチェックすることができるチップ部品のリード曲
がり検出方法を提供することにある。
で、その目的とする処は、種々の態様のリード曲がりを
確実にチェックすることができるチップ部品のリード曲
がり検出方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく本
発明方法は、チップ部品の周囲に突設された複数のリー
ドの各中心点を画像処理によって求め、基準となるリー
ドに対する各リードの相対距離を求めてこれが所定の範
囲内に入っているか否かをチェックすることをその特徴
とする。
発明方法は、チップ部品の周囲に突設された複数のリー
ドの各中心点を画像処理によって求め、基準となるリー
ドに対する各リードの相対距離を求めてこれが所定の範
囲内に入っているか否かをチェックすることをその特徴
とする。
【０００９】又、本発明方法は、周囲に複数のリードを
突設して成るチップ部品の画像上において、リードの長
さ方向に略直角に引かれた２本の検出ライン上で各リー
ド毎にその中心点をそれぞれ求め、求められた各検出ラ
イン上での各リードの中心点を平均して各検出ライン上
のライン中心点をそれぞれ求め、該ライン中心点を結ぶ
直線の傾きを求め、該直線の傾きがチップ部品全体の傾
きに対して所定の範囲内に入っているか否かをチェック
することをその特徴とする。
突設して成るチップ部品の画像上において、リードの長
さ方向に略直角に引かれた２本の検出ライン上で各リー
ド毎にその中心点をそれぞれ求め、求められた各検出ラ
イン上での各リードの中心点を平均して各検出ライン上
のライン中心点をそれぞれ求め、該ライン中心点を結ぶ
直線の傾きを求め、該直線の傾きがチップ部品全体の傾
きに対して所定の範囲内に入っているか否かをチェック
することをその特徴とする。
【００１０】更に、本発明は、周囲に複数のリードを突
設して成るチップ部品の画像を入力する画像入力部と、
該画像入力部によって入力された画像を記憶する画像メ
モリと、画像処理によってチップ部品のリード列を検出
するリード列検出部と、各リードの基準リードからの距
離を演算する相対リード間距離演算部と、各相対リード
間距離が所定の範囲内に入っているか否かをチェックす
るリード間距離チェック部を含んでチップ部品のリード
曲がり検出装置を構成したことを特徴とする。
設して成るチップ部品の画像を入力する画像入力部と、
該画像入力部によって入力された画像を記憶する画像メ
モリと、画像処理によってチップ部品のリード列を検出
するリード列検出部と、各リードの基準リードからの距
離を演算する相対リード間距離演算部と、各相対リード
間距離が所定の範囲内に入っているか否かをチェックす
るリード間距離チェック部を含んでチップ部品のリード
曲がり検出装置を構成したことを特徴とする。
【００１１】又、本発明は、周囲に複数のリードを突設
して成るチップ部品の画像を入力する画像入力部と、該
画像入力部によって入力された画像を記憶する画像メモ
リと、画像処理によってチップ部品全体の傾きを検出す
るチップ傾き検出部と、画像処理によってチップ部品の
リード列を検出するリード列検出部と、リード全体の平
均傾きを演算するリード列間傾き演算部と、該リード列
間傾き演算部によって演算されたリード全体の平均傾き
がチップ部品全体の傾きに対して所定の範囲内に入って
いるか否かをチェックするリード曲がりチェック部を含
んでチップ部品のリード曲がり検出装置を構成したこと
を特徴とする。
して成るチップ部品の画像を入力する画像入力部と、該
画像入力部によって入力された画像を記憶する画像メモ
リと、画像処理によってチップ部品全体の傾きを検出す
るチップ傾き検出部と、画像処理によってチップ部品の
リード列を検出するリード列検出部と、リード全体の平
均傾きを演算するリード列間傾き演算部と、該リード列
間傾き演算部によって演算されたリード全体の平均傾き
がチップ部品全体の傾きに対して所定の範囲内に入って
いるか否かをチェックするリード曲がりチェック部を含
んでチップ部品のリード曲がり検出装置を構成したこと
を特徴とする。
【００１２】
【作用】第１の発明方法によれば、基準となるリードか
らの各リードの相対距離がチェックされるため、隣接す
るリード間のピッチは各々所定範囲内に入ってはいる
が、リードが外方に向かって全体に広がっているような
チップ部品（図９参照）に対しても、リード列の累積ピ
ッチ誤差をチェックしてリードの曲がりを確実に検出す
ることができる。
らの各リードの相対距離がチェックされるため、隣接す
るリード間のピッチは各々所定範囲内に入ってはいる
が、リードが外方に向かって全体に広がっているような
チップ部品（図９参照）に対しても、リード列の累積ピ
ッチ誤差をチェックしてリードの曲がりを確実に検出す
ることができる。
【００１３】又、第２の発明方法によれば、ライン中心
点を結ぶ直線の傾きによってリード全体の平均傾きが求
められ、この平均傾きをチップ部品全体の傾きに対して
チェックすることにより、隣接する各リード間のピッチ
は所定範囲内に入ってはいるが、リード列が全体的に一
方向に傾いているようなチップ部品（図１０参照）に対
しても、リードの曲がりを確実に検出することができ
る。
点を結ぶ直線の傾きによってリード全体の平均傾きが求
められ、この平均傾きをチップ部品全体の傾きに対して
チェックすることにより、隣接する各リード間のピッチ
は所定範囲内に入ってはいるが、リード列が全体的に一
方向に傾いているようなチップ部品（図１０参照）に対
しても、リードの曲がりを確実に検出することができ
る。
【００１４】
【実施例】以下に本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。
説明する。
【００１５】図１は本発明に係るリード曲がり検出装置
の構成を示すブロック図、図２はチップ部品の処理画像
を示す部分図、図３はリード曲がりの検出手順を示すフ
ローチャート、図４はリード列の検出方法を示す説明
図、図５は図４のＡ部（画像濃度分布）の拡大図であ
る。
の構成を示すブロック図、図２はチップ部品の処理画像
を示す部分図、図３はリード曲がりの検出手順を示すフ
ローチャート、図４はリード列の検出方法を示す説明
図、図５は図４のＡ部（画像濃度分布）の拡大図であ
る。
【００１６】先ず、図１に基づいてリード曲がり検出装
置の構成を説明すると、該リード部品検出装置は、周囲
に複数のリードを突設して成るチップ部品の画像を入力
する画像入力部１０と、該画像入力部１０によって入力
された画像を記憶する画像メモリ２０と、画像処理によ
ってチップ部品のリード列を検出するリード列検出部３
０と、各リードの基準リードからの距離を演算する相対
リード間距離演算部４０と、各相対リード間距離が所定
の範囲内に入っているか否かをチェックするリード間距
離チェック部５０を含んで構成されている。
置の構成を説明すると、該リード部品検出装置は、周囲
に複数のリードを突設して成るチップ部品の画像を入力
する画像入力部１０と、該画像入力部１０によって入力
された画像を記憶する画像メモリ２０と、画像処理によ
ってチップ部品のリード列を検出するリード列検出部３
０と、各リードの基準リードからの距離を演算する相対
リード間距離演算部４０と、各相対リード間距離が所定
の範囲内に入っているか否かをチェックするリード間距
離チェック部５０を含んで構成されている。
【００１７】次に、本リード曲がり検出装置を用いて行
なわれるリード曲がりの検出方法を説明する。
なわれるリード曲がりの検出方法を説明する。
【００１８】ＣＣＤカメラ等の不図示の撮像手段によっ
て撮像された矩形のチップ部品Ｗ１は図２に示される処
理画面上に表示され、この周囲（４辺）には複数のリー
ド１が突設されている。
て撮像された矩形のチップ部品Ｗ１は図２に示される処
理画面上に表示され、この周囲（４辺）には複数のリー
ド１が突設されている。
【００１９】而して、図２に示される処理画像上におい
て、前記リード列検出部３０によって図４に示すリード
１の列に沿った検出ラインＬ上で各リード１毎にその中
心点が求められる（図３のステップ１）。
て、前記リード列検出部３０によって図４に示すリード
１の列に沿った検出ラインＬ上で各リード１毎にその中
心点が求められる（図３のステップ１）。
【００２０】ここで、各リード１の中心点の求め方を図
４及び図５に基づいて説明する。
４及び図５に基づいて説明する。
【００２１】リード列検出部３０によって図４に示す検
出ラインＬに沿って走査を行ない、同図の下方に示すよ
うな画像濃度分布が得られた場合、図５に示すように画
像濃度分布における或る閾値ＴＨＲを跨ぐ４点ｇ，ｈ，
ｉ，ｊ点を求める。そして、これらのｇ，ｈ，ｉ，ｊ点
に基づいて左側、右側の各エッジ点ｍ１，ｍ２を補間に
よって求め、これらエッジ点ｍ１，ｍ２の中点ｍをその
リード１の中心点とする。
出ラインＬに沿って走査を行ない、同図の下方に示すよ
うな画像濃度分布が得られた場合、図５に示すように画
像濃度分布における或る閾値ＴＨＲを跨ぐ４点ｇ，ｈ，
ｉ，ｊ点を求める。そして、これらのｇ，ｈ，ｉ，ｊ点
に基づいて左側、右側の各エッジ点ｍ１，ｍ２を補間に
よって求め、これらエッジ点ｍ１，ｍ２の中点ｍをその
リード１の中心点とする。
【００２２】上記のようにして検出ラインＬ上での各リ
ード１の中心点が求められると、基準となるリード（本
実施例では、中央のリード）１に対する各リード１の相
対距離Ｐ1A，Ｐ2A，…，ＰiA，…ＰnA、Ｐ1B，Ｐ2B，
…，ＰiB，…，ＰnBが前記相対リード間距離演算部４０
によって基準のリード１の左側、右側についてそれぞれ
演算され（図３のステップ２）、前記リード間距離チェ
ック部５０によって各相対距離ＰiA，ＰiBが所定の範囲
内にあるか否かがチェックされる（図３のステップ
３）。
ード１の中心点が求められると、基準となるリード（本
実施例では、中央のリード）１に対する各リード１の相
対距離Ｐ1A，Ｐ2A，…，ＰiA，…ＰnA、Ｐ1B，Ｐ2B，
…，ＰiB，…，ＰnBが前記相対リード間距離演算部４０
によって基準のリード１の左側、右側についてそれぞれ
演算され（図３のステップ２）、前記リード間距離チェ
ック部５０によって各相対距離ＰiA，ＰiBが所定の範囲
内にあるか否かがチェックされる（図３のステップ
３）。
【００２３】上記チェックは、例えば各相対距離ＰiA，
ＰiBがそれぞれ次式を満足するか否かを判定することに
よってなされる。
ＰiBがそれぞれ次式を満足するか否かを判定することに
よってなされる。
【００２４】
【数３】 Ｐ0×ｉ−Ｐ0×Ｔ／１００＜ＰiA，ＰiB＜Ｐ0×ｉ＋Ｐ0×Ｔ／１００ ここに、Ｐ0：リードピッチの設定値 Ｔ：許容公差（％） 尚、チップ部品に対して従来実施されていたリードの曲
がりチェック（即ち、隣接するリード間のピッチが所定
範囲内に入っているか否かのチェック（
がりチェック（即ち、隣接するリード間のピッチが所定
範囲内に入っているか否かのチェック（
【数１】参照））は本実施例においても実施される。
【００２５】而して、上記チェックにおいて、各相対距
離ＰiA，ＰiBの全てが所定範囲内に入れば可（ＯＫ）と
され（図３のステップ４）、相対距離ＰiA，ＰiBの何れ
か１つでも所定範囲から逸脱すれば不可（ＮＧ）とされ
る（図３のステップ５）。
離ＰiA，ＰiBの全てが所定範囲内に入れば可（ＯＫ）と
され（図３のステップ４）、相対距離ＰiA，ＰiBの何れ
か１つでも所定範囲から逸脱すれば不可（ＮＧ）とされ
る（図３のステップ５）。
【００２６】以上のリード１の曲がりチェックはチップ
部品Ｗ１の４辺のリード１の列に対してそれぞれ実施さ
れ、４辺全てのリード１について各相対距離ＰiA，ＰiB
の全てが所定範囲内に入れば当該チップ部品Ｗ１は良品
とされ、相対距離ＰiA，ＰiBの何れか１つでも所定範囲
から逸脱すれば当該チップ部品Ｗ１は不良品とされる。
部品Ｗ１の４辺のリード１の列に対してそれぞれ実施さ
れ、４辺全てのリード１について各相対距離ＰiA，ＰiB
の全てが所定範囲内に入れば当該チップ部品Ｗ１は良品
とされ、相対距離ＰiA，ＰiBの何れか１つでも所定範囲
から逸脱すれば当該チップ部品Ｗ１は不良品とされる。
【００２７】従って、本実施例によれば、図２に示すよ
うなチップ部品（即ち、隣接するリード１のピッチは全
て所定範囲内に入るために従来は良品であると判定され
ていたが、リード１が外方に向かって全体に広がってい
るようなチップ部品）Ｗ１に対しても、リード１の累積
ピッチ誤差をチェックしてリード１の曲がりを確実に検
出することができ、前記相対距離ＰiA，ＰiBが所定範囲
から逸脱するものについてはこれを不良品として処理す
ることができる。
うなチップ部品（即ち、隣接するリード１のピッチは全
て所定範囲内に入るために従来は良品であると判定され
ていたが、リード１が外方に向かって全体に広がってい
るようなチップ部品）Ｗ１に対しても、リード１の累積
ピッチ誤差をチェックしてリード１の曲がりを確実に検
出することができ、前記相対距離ＰiA，ＰiBが所定範囲
から逸脱するものについてはこれを不良品として処理す
ることができる。
【００２８】次に、第２の発明方法を図６乃至図８に基
づいて説明する。尚、図６は第２の発明方法を実施する
ためのリード曲がり検出装置の構成を示すブロック図、
図７はチップ部品の処理画像を示す部分図、図８は第２
発明方法に係るリード曲がり検出手順を示すフローチャ
ートである。
づいて説明する。尚、図６は第２の発明方法を実施する
ためのリード曲がり検出装置の構成を示すブロック図、
図７はチップ部品の処理画像を示す部分図、図８は第２
発明方法に係るリード曲がり検出手順を示すフローチャ
ートである。
【００２９】本実施例に係るリード曲がり検出装置の構
成を図６に基づいて説明すると、該リード曲がり検出装
置は、周囲に複数のリードを突設して成るチップ部品の
画像を入力する画像入力部１０と、該画像入力部によっ
て入力された画像を記憶する画像メモリ２０と、画像処
理によってチップ部品全体の傾きを検出するチップ傾き
検出部６０と、画像処理によってチップ部品のリード列
を検出するリード列検出部３０と、リード全体の平均傾
きを演算するリード列間傾き演算部７０と、該リード列
間傾き演算部７０によって演算されたリード全体の平均
傾きがチップ部品全体の傾きに対して所定の範囲内に入
っているか否かをチェックするリード曲がりチェック部
８０を含んで構成されている。
成を図６に基づいて説明すると、該リード曲がり検出装
置は、周囲に複数のリードを突設して成るチップ部品の
画像を入力する画像入力部１０と、該画像入力部によっ
て入力された画像を記憶する画像メモリ２０と、画像処
理によってチップ部品全体の傾きを検出するチップ傾き
検出部６０と、画像処理によってチップ部品のリード列
を検出するリード列検出部３０と、リード全体の平均傾
きを演算するリード列間傾き演算部７０と、該リード列
間傾き演算部７０によって演算されたリード全体の平均
傾きがチップ部品全体の傾きに対して所定の範囲内に入
っているか否かをチェックするリード曲がりチェック部
８０を含んで構成されている。
【００３０】本第２発明方法は、図７に示すようなリー
ド１が全体的に一方向に傾いているようなチップ部品Ｗ
２のリード曲がりの検出に有効である。
ド１が全体的に一方向に傾いているようなチップ部品Ｗ
２のリード曲がりの検出に有効である。
【００３１】本発明方法においては、図７に示すよう
に、リード１の長さ方向に略直角に引かれた２本の検出
ラインＬ１，Ｌ２上で各リード１毎にその中心点が前記
第１発明方法と同様にしてそれぞれ求められる（図８の
ステップ１，２）。
に、リード１の長さ方向に略直角に引かれた２本の検出
ラインＬ１，Ｌ２上で各リード１毎にその中心点が前記
第１発明方法と同様にしてそれぞれ求められる（図８の
ステップ１，２）。
【００３２】次に、上記のようにして求められた各検出
ラインＬ１，Ｌ２上での各リード１の中心点を平均して
各検出ラインＬ１，Ｌ２上のライン中心点ｎ１，ｎ２を
それぞれ求め（図８のステップ３）、両ライン中心点ｎ
１，ｎ２を結ぶ直線Ｍの傾き角（リード１全体の平均傾
き）θ0を前記リード列間傾き演算部７０によって演算
する（図８のステップ４）。
ラインＬ１，Ｌ２上での各リード１の中心点を平均して
各検出ラインＬ１，Ｌ２上のライン中心点ｎ１，ｎ２を
それぞれ求め（図８のステップ３）、両ライン中心点ｎ
１，ｎ２を結ぶ直線Ｍの傾き角（リード１全体の平均傾
き）θ0を前記リード列間傾き演算部７０によって演算
する（図８のステップ４）。
【００３３】次に、前記チップ傾き検出部６０によって
チップ部品Ｗ２全体の傾きθを求め（図８のステップ
５）、この傾き角θと前記直線Ｍの傾き角θ0との差Δ
θを次式によって演算し（図８のステップ６）、
チップ部品Ｗ２全体の傾きθを求め（図８のステップ
５）、この傾き角θと前記直線Ｍの傾き角θ0との差Δ
θを次式によって演算し（図８のステップ６）、
【００３４】
【数４】Δθ＝｜θ0−θ｜ 上記角度差Δθが所定範囲内に入るか否かを前記リード
曲がりチェック部８０でチェックする（図８のステップ
７）。そして、角度差Δθが所定範囲内に入れば可（Ｏ
Ｋ）とされ（図８のステップ８）、角度差Δθが所定範
囲から逸脱すれば不可（ＮＧ）であると判定される。
尚、本実施例においても、従来行なわれているリード曲
がりチェック（隣接するリード間のピッチが所定範囲内
に入っているか否かのチェック）がなされる。
曲がりチェック部８０でチェックする（図８のステップ
７）。そして、角度差Δθが所定範囲内に入れば可（Ｏ
Ｋ）とされ（図８のステップ８）、角度差Δθが所定範
囲から逸脱すれば不可（ＮＧ）であると判定される。
尚、本実施例においても、従来行なわれているリード曲
がりチェック（隣接するリード間のピッチが所定範囲内
に入っているか否かのチェック）がなされる。
【００３５】而して、以上のリード曲がりのチェックは
チップ部品Ｗ２の４辺のリード１に対して実施され、４
辺全てについてリード１全体の平均傾き角θ0が所定範
囲内に入っていれば、最終的に当該チップ部品Ｗ２は良
品であると判定される。
チップ部品Ｗ２の４辺のリード１に対して実施され、４
辺全てについてリード１全体の平均傾き角θ0が所定範
囲内に入っていれば、最終的に当該チップ部品Ｗ２は良
品であると判定される。
【００３６】従って、本実施例によれば、図７に示すよ
うなチップ部品（即ち、隣接するリード１間のピッチは
全て所定範囲内に入るために従来は良品であると判断さ
れていたが、リード１が一方向に全体として傾いている
ようなチップ部品）Ｗ２に対しても、リード１の曲がり
を確実に検出することができ、前記角度差Δθが所定範
囲から逸脱するものについてはこれを不良品として処理
することができる。
うなチップ部品（即ち、隣接するリード１間のピッチは
全て所定範囲内に入るために従来は良品であると判断さ
れていたが、リード１が一方向に全体として傾いている
ようなチップ部品）Ｗ２に対しても、リード１の曲がり
を確実に検出することができ、前記角度差Δθが所定範
囲から逸脱するものについてはこれを不良品として処理
することができる。
【００３７】尚、以上は第１発明と第２発明を別々に説
明したが、これら第１、第２発明を併用すれば、図２及
び図７に示すようなリード曲がりを有するチップ部品Ｗ
１，Ｗ２のリード曲がりの検出を同時に行なうことがで
きる。
明したが、これら第１、第２発明を併用すれば、図２及
び図７に示すようなリード曲がりを有するチップ部品Ｗ
１，Ｗ２のリード曲がりの検出を同時に行なうことがで
きる。
【００３８】
【発明の効果】以上の説明で明らかな如く、第１発明方
法によれば、基準となるリードからの各リードの相対距
離がチェックされるため、隣接するリード間のピッチが
各々所定範囲内に入ってはいるが、リードが外方に向か
って全体に広がっているようなチップ部品に対しても、
リード列の累積ピッチ誤差をチェックしてリードの曲が
りを確実に検出することができるという効果が得られ
る。。
法によれば、基準となるリードからの各リードの相対距
離がチェックされるため、隣接するリード間のピッチが
各々所定範囲内に入ってはいるが、リードが外方に向か
って全体に広がっているようなチップ部品に対しても、
リード列の累積ピッチ誤差をチェックしてリードの曲が
りを確実に検出することができるという効果が得られ
る。。
【００３９】又、第２発明方法によれば、ライン中心点
を結ぶ直線の傾きによってリード全体の平均傾きが求め
られ、この傾きをチップ部品全体の傾きに対してチェッ
クすることにより、隣接する各リード間のピッチは所定
範囲内に入ってはいるが、リード列が全体的に一方向に
傾いているようなチップ部品に対しても、リードの曲が
りを確実に検出することができるという効果が得られ
る。
を結ぶ直線の傾きによってリード全体の平均傾きが求め
られ、この傾きをチップ部品全体の傾きに対してチェッ
クすることにより、隣接する各リード間のピッチは所定
範囲内に入ってはいるが、リード列が全体的に一方向に
傾いているようなチップ部品に対しても、リードの曲が
りを確実に検出することができるという効果が得られ
る。
【図１】第１発明方法を実施するためのリード曲がり検
出装置の構成図である。
出装置の構成図である。
【図２】第１発明方法に係るチップ部品の処理画像を示
す部分図である。
す部分図である。
【図３】第１発明に係るリード曲がりの検出手順を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図４】リード列の検出方法を示す説明図である。
【図５】図４のＡ部（画像濃度分布）の拡大図である。
【図６】第２発明方法を実施するためのリード曲がり検
出装置の構成図である。
出装置の構成図である。
【図７】第２発明方法に係るチップ部品の処理画像を示
す部分図である。
す部分図である。
【図８】第２発明方法に係るリード曲がりの検出手順を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図９】従来のリード曲がり検出方法の説明図である。
【図１０】従来のリード曲がり検出方法の説明図であ
る。
る。
１ リード Ｐi リードピッチ ＰiA，ＰiB 各リードの基準リードに対する相対距離 Ｌ，Ｌ１，Ｌ２ 検出ライン ｎ１，ｎ２ ライン中心点 Ｗ１，Ｗ２ チップ部品 θ0 直線Ｍの傾き角（リード全体の傾き
角） θ チップ部品全体の傾き角 Δθ リード全体の平均傾き角とチップ部品
全体の傾き角との差（＝｜θ0−θ｜）
角） θ チップ部品全体の傾き角 Δθ リード全体の平均傾き角とチップ部品
全体の傾き角との差（＝｜θ0−θ｜）
Claims (4)
- 【請求項１】 チップ部品の周囲に突設された複数のリ
ードの各中心点を画像処理によって求め、基準となるリ
ードに対する各リードの相対距離を求めてこれが所定の
範囲内に入っているか否かをチェックすることを特徴と
するチップ部品のリード曲がり検出方法。 - 【請求項２】 周囲に複数のリードを突設して成るチッ
プ部品の画像上において、リードの長さ方向に略直角に
引かれた２本の検出ライン上で各リード毎にその中心点
をそれぞれ求め、求められた各検出ライン上での各リー
ドの中心点を平均して各検出ライン上のライン中心点を
それぞれ求め、該ライン中心点を結ぶ直線の傾きを求
め、該直線の傾きがチップ部品全体の傾きに対して所定
の範囲内に入っているか否かをチェックすることを特徴
とするチップ部品のリード曲がり検出方法。 - 【請求項３】 周囲に複数のリードを突設して成るチッ
プ部品の画像を入力する画像入力部と、該画像入力部に
よって入力された画像を記憶する画像メモリと、画像処
理によってチップ部品のリード列を検出するリード列検
出部と、各リードの基準リードからの距離を演算する相
対リード間距離演算部と、各相対リード間距離が所定の
範囲内に入っているか否かをチェックするリード間距離
チェック部を含んで構成されることを特徴とするチップ
部品のリード曲がり検出装置。 - 【請求項４】 周囲に複数のリードを突設して成るチッ
プ部品の画像を入力する画像入力部と、該画像入力部に
よって入力された画像を記憶する画像メモリと、画像処
理によってチップ部品全体の傾きを検出するチップ傾き
検出部と、画像処理によってチップ部品のリード列を検
出するリード列検出部と、リード全体の平均傾きを演算
するリード列間傾き演算部と、該リード列間傾き演算部
によって演算されたリード全体の平均傾きがチップ部品
全体の傾きに対して所定の範囲内に入っているか否かを
チェックするリード曲がりチェック部を含んで構成され
ることを特徴とするチップ部品のリード曲がり検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4029085A JPH05196439A (ja) | 1992-01-21 | 1992-01-21 | チップ部品のリード曲がり検出方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4029085A JPH05196439A (ja) | 1992-01-21 | 1992-01-21 | チップ部品のリード曲がり検出方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05196439A true JPH05196439A (ja) | 1993-08-06 |
Family
ID=12266513
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4029085A Pending JPH05196439A (ja) | 1992-01-21 | 1992-01-21 | チップ部品のリード曲がり検出方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05196439A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6118538A (en) * | 1995-01-13 | 2000-09-12 | Cyberoptics Corporation | Method and apparatus for electronic component lead measurement using light based sensors on a component placement machine |
| KR20010099211A (ko) * | 2001-09-12 | 2001-11-09 | 성우테크론 주식회사 | 리드프레임의 패턴인식 검사방법 |
| JP2008203214A (ja) * | 2007-02-22 | 2008-09-04 | Taiko Denki Co Ltd | ワークの変形・歪み検出方法 |
| CN114577135A (zh) * | 2022-03-01 | 2022-06-03 | 合肥图迅电子科技有限公司 | 基于单镜头的芯片引脚翘曲的3d检测方法及系统 |
| WO2024053067A1 (ja) * | 2022-09-08 | 2024-03-14 | 株式会社Fuji | 画像処理装置および画像処理方法 |
-
1992
- 1992-01-21 JP JP4029085A patent/JPH05196439A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN114577135A (zh) * | 2022-03-01 | 2022-06-03 | 合肥图迅电子科技有限公司 | 基于单镜头的芯片引脚翘曲的3d检测方法及系统 |
| CN114577135B (zh) * | 2022-03-01 | 2024-01-19 | 合肥图迅电子科技有限公司 | 基于单镜头的芯片引脚翘曲的3d检测方法及系统 |
| WO2024053067A1 (ja) * | 2022-09-08 | 2024-03-14 | 株式会社Fuji | 画像処理装置および画像処理方法 |
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