JPH05183084A - リード端子のプレス方法及びプレス装置 - Google Patents

リード端子のプレス方法及びプレス装置

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JPH05183084A
JPH05183084A JP35999891A JP35999891A JPH05183084A JP H05183084 A JPH05183084 A JP H05183084A JP 35999891 A JP35999891 A JP 35999891A JP 35999891 A JP35999891 A JP 35999891A JP H05183084 A JPH05183084 A JP H05183084A
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lead terminal
press
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die
pressing
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政洋 西尾
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 プレス方法は、上型4と下型3の間に半導体
素子101のリード端子を臨ませ、上型4と下型3の加
工面4a,3aでリード端子を加圧して塑性変形させる
ようにしたものにおいて、前記上型4と下型3の加工面
4a,3aを傾斜させ、リード端子の長さ方向に対して
斜め方向から加圧・変形させるようにしたことを特徴と
する。 【効果】 上型4と下型3の加工面4a,3aを傾斜状
にすることによって、リード端子の屈曲点の極めて近く
に加工面を当接させることができるから、擦れや引張力
を殆ど作用させないでリード端子を曲げることができ
る。従って、リード端子のメッキに傷が付き難く、ま
た、材料が薄く伸びることもない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体素子から突出す
るリード端子のプレス方法、及び、該リード端子のプレ
ス装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図6(a)はプレス加工前の半導体素子
を示す斜視図、図6(b)はプレス加工後の半導体素子
を示す斜視図、図7(a),(b)は従来のプレス装置
の要部断面図である。半導体素子101は、図6(a)
に示したように樹脂モールド102の一側端に3本の真
っ直ぐなリード端子A,B,Cを突設したものである。
そして、このリード端子A,B,Cのうち、中央のリー
ド端子Bをプレス装置でクランク状に曲げ(図6
(b))、各リード端子A,B,Cの先端部をプリント
基盤にろう付けすると共に、樹脂モールド102をプリ
ント基盤上の放熱部にビス止めして固定する。しかし
て、上記リード端子Bのプレス方法(プレス装置)は、
図7(a)に示したようにプレス装置103の下型10
4の加工面104a上に半導体素子101のリード端子
A,B,Cを水平に載せ、その上から図7(b)のよう
に上型105を下降させて上型105と下型104の加
工面104a,105aでリード端子Bを加圧し、以て
金属製のリード端子Bをクランク状に塑性変形させるも
のである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来のプレス方法は、
リード端子A,B,Cの長さ方向に対して直交する方向
から加工面104a,105aを当てていたため、図5
(b)に示したように、リード端子Bの屈曲点Oと加工
面105aの当接位置に長さtのズレができる。そし
て、このズレの分だけリード端子Bが擦られて傷付いた
り、薄く伸ばされたりしたため、約50%の半導体素子
101に欠陥が発生していた。このような欠陥のある半
導体素子101は、製品に組み込んだ当初から作動不良
を起こしたり、或いは、将来作動不良を起こして故障す
る虞があるため、厳しいチェックが必要であった。以上
のように従来のプレス方法は、ほぼ2個に1個に不良が
生じ、しかも、不良品を摘出するために多大な労力を費
やさなければならない問題点があった。
【0004】本発明は、上記の問題点に鑑みなされたも
ので、その目的は、無理なく曲げることができるリード
端子のプレス方法及びリード端子のプレス装置を提供す
ることにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め本発明は、上型と下型の間に半導体素子のリード端子
を臨ませ、上型と下型の加工面でリード端子を加圧して
塑性変形させるようにしたリード端子のプレス方法にお
いて、前記上型と下型の加工面を傾斜させ、リード端子
の長さ方向に対して斜め方向から加圧・変形させるよう
にしたリード端子のプレス方法を提供するものである。
また、プレス装置は、前記上型と下型の加工面を傾斜状
に形成すると共に、半導体素子を加工面の傾斜に沿わせ
て斜め向きにセットし得るようになし、リード端子の長
さ方向に対して斜め方向から加圧・変形させるようにし
たことを特徴とする。
【0006】
【作用】上型と下型の加工面を傾斜状にすることによっ
て、図5(a)に示したように、屈曲点Oの極めて近く
に加工面を当接させることができるから、従来のプレス
装置のような擦れや引張りが殆ど起こらない。
【0007】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面を参照しつつ説
明する。図1はプレス装置の要部の縦断面図、図2は加
圧状態を示すプレス装置の要部拡大縦断面図、図3は下
型の分解斜視図、図4は上型を下から見上げた斜視図、
図5(a),(b)は従来技術と比較した要部拡大断面
図である。なお、加工する前後の半導体素子101は、
図6(a),(b)について説明したものと同じであ
る。プレス装置1は、固定的な基台2と、該基台2に固
着した下型3及び基台2に上下摺動自在に装着した上型
4とからなる。基台2は、金属製の横板5と縦板6を側
面L字形に組み合わせて構成されている。
【0008】下型3は、図3に示したように、固定台座
7と、その固定台座7内に上下動自在に嵌挿した受け部
材8と、該受け部材8内に遊嵌した下型本体9、及び、
前記受け部材8を上向きに付勢する2本のコイルスプリ
ング10,10とからなる。固定台座7と下型本体9
は、前記基台2にボルト11で固定されている。一方、
受け部材8は、コイルスプリング10,10の付勢によ
って図1のように下型本体9の上端とほぼ面一の高さま
で上昇した位置にある。受け部材8の中心には角形の貫
通孔12が穿設されており、その貫通孔12の中に下型
本体9が挿入されている。また、受け部材8の上端面の
縁に凹部13が設けられており、この凹部13に半導体
素子101の樹脂モールド102がセットされる。下型
本体9の頂部は加工面3aになっており、その横幅は、
リード端子Aの側端からリード端子Cの側端までの長さ
と略同じ寸法である。そして、中央のリード端子Bに対
応する部分にプレス突起14が突設されている。しかし
て、前記受け部材8の上面と下型本体9の加工面3a
は、水平面に対して15度の角度で斜めに形成されてい
る。
【0009】上型4は、図4に示したように底部が加工
面4aになっている。該加工面4aは、中央にプレス溝
15を設け、水平面に対して15度の角度で斜めに形成
されており、前記下型3の加工面3aと合致する。ま
た、上型4は、図1に示したように、基台2の縦板6に
設けた鉛直方向の縦溝16に、ボルト17を通して上下
摺動自在に装着されている。そして、上型4の頂部には
昇降軸18が連結されており、該昇降軸18の昇降動作
によって上型4が上下動する。なお、昇降軸18は、周
知のリンク装置(例えばトグルジョイント等)を使って
手動で昇降操作するものであってもよいし、或いは、油
圧やモータ等の動力を使って昇降操作するものであって
もよい。
【0010】次に、上記プレス装置1を使用して半導体
素子101のリード端子Bをプレスする方法について説
明する。図1のようにプレス装置1の上型4が上昇位置
にある状態で、下型3は、受け部材8がコイルスプリン
グ10,10の付勢によって上昇しており、下型本体9
のプレス突起14の上端と受け部材8の上面がほぼ面一
になっている。そこで先ず、図1一点鎖線のように、受
け部材8の凹部13に半導体素子101の樹脂モールド
102をセットする。この状態でリード端子A,B,C
が下型本体9の加工面3aの上に臨み、且つ、水平面に
対してリード端子A,B,Cが斜めに傾いている。な
お、受け部材8の外形を実施例のように丸くしておけ
ば、凹部13に樹脂モールド102をセットする際に、
指が受け部材8の外周に接触し難くなるため作業性がよ
い。
【0011】次に、上型4を下動させる。そうすると、
図1二点鎖線のように、リード端子A,B,Cの基端部
に上型の加工面4aが当接する。これによって先ず半導
体素子101が受け部材8上に確実に固定される。そし
て、そのまま上型4をさらに下動させる。そうすると、
図2のように中央のリード端子Bが下型本体9のプレス
突起14に押し上げられて上型4のプレス溝15内に曲
がり込む。下型3と上型4の加工面3a,4aでリード
端子Bを加圧・変形させてから上型4を図1実線の位置
に上昇させる。そうすると、コイルスプリング10,1
0の付勢によって受け部材8が上昇し、加工済みの半導
体素子101が持ち上げられるから、受け部材8の凹部
13からそれを外して次の半導体素子101をセットす
る。以下同様にして半導体素子101のリード端子Bを
プレスする。
【0012】以上実施例について説明したが、もちろん
本発明は上記実施例に限定されるものではない。例え
ば、実施例は中央のリード端子Bをクランク状に曲げる
ものであるが、上型4と下型本体9を図8のようなもの
と交換すれば、図9に示したように、中央のリード端子
Bをアーチ形に、両サイドのリード端子A,Cをクラン
ク状に曲げることもできる。また、実施例では加工面3
a,4aの傾斜角度を15度に設定したが、リード端子
の形状に合わせて最適な角度を選択すればよい。
【0013】
【発明の効果】従来のプレス装置は、図5(b)に示し
たように、屈曲点Oと加工面の当接位置に長さtのズレ
があり、このズレの分だけリード端子が擦られて傷付い
たり、伸びたりしていたと考えられる。これに対して本
発明は、上型と下型の加工面を傾斜状にすることによっ
て、同図(a)に示したように、屈曲点Oの極めて近く
に加工面を当接させることができるから、従来のプレス
装置のような擦れや引張りが殆ど無い。従って、屈曲部
分のメッキに傷が付き難く、また、材料が薄く伸びるこ
ともなく、従来50%程度あった欠陥発生率を殆ど無く
することができ、製品の信頼性を顕著に向上させること
ができる。また、無理な引張り力による材料の伸びが従
来に比べて格段に少ないため、プレス後のリード端子の
形状が安定している。従って、従来に比べて加工精度も
大幅に向上する。また、プレス工程の信頼性が向上する
から、次工程におけるチェック作業が不要又は簡単にな
り、さらに、プレス工程の信頼性が高まればプレス作業
を全てオートメーション化することも容易となる等、そ
の波及効果は甚大である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 プレス装置の要部の縦断面図である。
【図2】 加圧状態を示すプレス装置の要部拡大縦断面
図である。
【図3】 下型の分解斜視図である。
【図4】 上型を下から見上げた斜視図である。
【図5】 (a),(b)は本発明と従来技術を比較し
た要部拡大断面図である。
【図6】 (a)はプレス加工前の半導体素子を示す斜
視図、(b)はプレス加工後の半導体素子を示す斜視図
である。
【図7】 (a),(b)は従来のプレス装置の要部の
断面図である。
【図8】 他の実施例を示す上型と下型本体の斜視図で
ある。
【図9】 他の実施例を示す半導体素子の斜視図であ
る。
【符号の説明】
1 … プレス装置 3a,4a …
加工面 3 … 下型 101 …
半導体素子 4 … 上型 A,B,C …
リード端子

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上型と下型の間に半導体素子のリード端
    子を臨ませ、上型と下型の加工面でリード端子を加圧し
    て塑性変形させるようにしたリード端子のプレス方法に
    おいて、 前記上型と下型の加工面を傾斜させ、リード端子の長さ
    方向に対して斜め方向から加圧・変形させるようにした
    ことを特徴とするリード端子のプレス方法。
  2. 【請求項2】 上型と下型の間に半導体素子のリード端
    子を臨ませ、上型と下型の加工面でリード端子を加圧し
    て塑性変形させるようにしたリード端子のプレス装置に
    おいて、 前記上型と下型の加工面を傾斜状に形成すると共に、半
    導体素子を加工面の傾斜に沿わせて斜め向きにセットし
    得るようになし、リード端子の長さ方向に対して斜め方
    向から加圧・変形させるようにしたことを特徴とするリ
    ード端子のプレス装置。
JP3359998A 1991-12-28 1991-12-28 リード端子のプレス方法及びリード端子用プレス装置 Expired - Lifetime JPH0812893B2 (ja)

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JPH02104644U (ja) * 1989-02-08 1990-08-20

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