JPH05175580A - レーザ駆動回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】レ−ザ光強度のフィ−ドバック制御におけるオ
フセットの変動の影響を低減する。 【構成】フォトディテクタＰＤからの受光出力ＳPDは、
誤差検出回路６と第１および第２のサンプルホ−ルド回
路５および１１に入力される。第１および第２のサンプ
ルホ−ルド回路３および９からのホ−ルド電圧はそれぞ
れ第１および第２の差動増幅回路５および１１にて基準
値と比較され、誤差信号ＶERH ，ＶERL が出力される。
一方、誤差検出回路６では受光出力ＳPDと前記基準値と
が比較され、誤差信号ＶERR が出力される。第３の差動
増幅回路７は、誤差信号ＶERH と誤差信号ＶERR との差
信号を、オフセット調整信号として第３のサンプルホ−
ルド回路８を介して第１の差動増幅回路に出力する。ま
た、第４の差動増幅回路１２は、誤差信号ＶERL と誤差
信号ＶERR との差信号を、オフセット調整信号として第
４のサンプルホ−ルド回路１３を介して第１の差動増幅
回路に出力する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光強度を制御す
るレーザ駆動回路に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、光磁気ディスク装置において
は、垂直磁気異方性を有する磁化膜からなる記録媒体に
レーザ光を照射して、局部的に温度上昇させると同時に
外部から磁界を与えて、その局所領域の磁化を磁界の方
向に向けることにより、情報を記録することが行われて
いる。

【０００３】このように、光磁気記録においては、光と
磁界を用いるので、信号を磁界の方向に変換して記録す
る磁界変調方式と、レーザ光の点滅に変換して記録する
光変調方式が考えられている。

【０００４】光変調方式では、レーザ光を点滅させるた
めに、記録信号の値（２値信号である）に応じてレーザ
光の出力を最大出力と最小出力間で変調するためのレー
ザ駆動回路が必要となる。

【０００５】このようなレーザ駆動回路として、特開平
２ー１６６６３６号公報に開示されたものがある。この
レーザ駆動回路では、半導体レーザから射出されたレー
ザ光の一部をフォトディテクタで受光し、この受光出力
を増幅回路で増幅する。増幅された受光出力は２つのサ
ンプルホールド回路（第１および第２のサンプルホール
ド回路）に入力される。

【０００６】この２つのサンプルホールド回路にてサン
プルホールドするタイミングは記録信号の状態によって
決める。すなわち、記録信号は２値信号（第１および第
２の値をとる）であるから、たとえば、記録信号が第１
の値になったとき、第１のサンプルホールド回路にて受
光出力をサンプルホールドし、記録信号が第２の値にな
ったとき、第２のサンプルホールド回路にて受光出力を
サンプルホールドする。

【０００７】２つのサンプルホールド回路にてサンプル
ホールドして得られた第１および第２のホールド電圧は
それぞれ第１および第２の誤差増幅回路に入力される。
そして、第１のホールド電圧と最大値基準電圧の差分お
よび第２のホールド電圧と最小値基準電圧との差分でな
る最大値エラー信号および最小値エラー信号を半導体レ
ーザにフィードバックする。

【０００８】以上のようにして、半導体レーザから射出
されるレーザ光の最大出力および最小出力をフィードバ
ック制御することができる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のレ
ーザ駆動回路では、最大値エラー信号および最小値エラ
ー信号にオフセットが現れる。このオフセットがある
と、エラー信号が０を示していても、レーザ光の強度は
基準値にならない。このオフセットを除去するために、
予めオフセット量を設定しておきエラー信号に対して加
減する方法が考えられる。しかしながら、上記レーザ駆
動回路のように高速で変動する信号を扱う回路において
は、稼動中にオフセットが変動しやすい。レーザ光は数
MHz 〜数十MHz 程度の周波数で変調される。

【００１０】したがって、予めオフセット量を設定して
おくことでは、正確なオフセット調整ができず、レーザ
光出力を適切な値に設定することができないという問題
点がある。

【００１１】また、従来のレーザ駆動回路におけるサン
プルホールド回路の動作特性には、一般に直線性誤差と
利得誤差がある。

【００１２】直線性誤差と利得誤差についてさらに説明
する。サンプルホールド回路の入力電圧とホールド電圧
との関係は、図３に示すような特性がある。入力電圧と
ホールド電圧は、理想的には正比例の関係があることが
好ましいが、実際には図２に示すように、両者の関係を
示すグラフは直線にはならず、入力電圧が大きくなるほ
ど、ホールド電圧の増加が減る特性となっている。この
特性によって生じる誤差が直線性誤差である。また、入
力電圧に対するホールド電圧の利得は、理想的には１で
あること（すなわち、入力電圧ーホールド電圧のグラフ
が傾き１の直線となる）が好ましいが、実際には１より
小さい値となる。この特性によって生じる誤差が利得誤
差である。

【００１３】以上のような直線性誤差と利得誤差によ
り、サンプルホールド回路から出力されるホールド電圧
には、誤差が含まれており、これを半導体レーザにフィ
ードバックしてレーザ光強度を制御した場合、レーザ光
強度を正確に所定の値に制御することができないという
問題点がある。

【００１４】このような問題点は、記録時のみならず再
生時においても同様である。上記従来のレーザ駆動回路
においては、再生時にもフォトディテクタからの受光出
力はサンプルホールド回路に入力されるので、やはり直
線性誤差と利得誤差の影響を受け、レーザ光強度を正確
に所定の値に制御することができない。

【００１５】本発明は、かかる課題を解決するためにな
されたもので、オフセットの変動やサンプルホールド回
路の直線性誤差と利得誤差の影響を低減することができ
るレーザ駆動回路を提供することを目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、レー
ザ光をモニタするモニタ手段と、前記モニタ手段からの
出力をサンプルホールドするサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド回路でサンプルホールドされたホ
ールド信号レベルと予め設定された基準値との差による
第１の誤差信号を出力する差動増幅回路と、前記モニタ
手段からの出力レベルと前記基準値との差による第２の
誤差信号を出力する誤差検出回路と、前記第１の誤差信
号または第２の誤差信号に基づいて前記レーザ光の強度
を制御するレーザ駆動部と、前記レーザ光が変調されて
いないときに、前記第１の誤差信号と前記第２の誤差信
号との差信号をオフセット調整信号として前記差動増幅
回路に出力するオフセット調整手段とを備えた構成とし
た。

【００１７】請求項２の発明は、レーザ光をモニタする
モニタ手段と、前記モニタ手段からの出力レベルと予め
設定された基準値との差による第１の誤差信号を出力す
る差動増幅回路と、前記第１の誤差信号をサンプルホー
ルドするサンプルホールド回路と、前記モニタ手段から
の出力レベルと前記基準値との差による第２の誤差信号
を出力する誤差検出回路と、前記サンプルホールド回路
でサンプルホールドされたホールド信号または前記第２
の誤差信号に基づいて前記レーザ光の強度を制御するレ
ーザ駆動部と、前記レーザ光が変調されていないとき
に、前記ホールド信号と前記第２の誤差信号との差信号
をオフセット調整信号として前記差動増幅回路に出力す
るオフセット調整手段とを備えた構成とした。

【００１８】

【作用】請求項１の発明によれば、モニタ手段からの出
力は、サンプルホールド回路と誤差検出回路に入力され
る。サンプルホールド回路からのホールド信号は差動増
幅回路にて基準値と比較され、第１の誤差信号が出力さ
れる。一方、誤差検出回路ではモニタ手段からの出力と
前記基準値とが比較され、第２の誤差信号が出力され
る。オフセット調整手段は、第１の誤差信号と第２の誤
差信号の差信号を求め、これをオフセット調整信号とし
て差動増幅回路に出力する。

【００１９】請求項２の発明によれば、モニタ手段から
の出力は、差動増幅回路と誤差検出回路に入力される。
差動増幅回路にて基準値と比較され、第１の誤差信号が
出力される。この第１の誤差信号はサンプルホールド回
路にてサンプルホールドされて出力される。一方、誤差
検出回路ではモニタ手段からの出力と前記基準値とが比
較され、第２の誤差信号が出力される。オフセット調整
手段は、第１の誤差信号と第２の誤差信号の差信号を求
め、これをオフセット調整信号として差動増幅回路に出
力する。

【００２０】

【実施例】図１は、本発明の第１の実施例を示すレーザ
駆動回路の構成図である。図１におけるレーザ駆動回路
の構成および動作について説明する。

【００２１】図１において、半導体レーザＬＤから射出
されたレーザ光Ｌ１の一部はフォトディテクタＰＤで受
光される。その受光出力は増幅回路１で増幅され、受光
信号ＳPDが出力される。この受光信号ＳPDは、第１のサ
ンプルホールド回路３および第２のサンプルホールド回
路９に入力され、それぞれのサンプルホールド回路にて
サンプルホールドされる。このサンプルホールドのタイ
ミングの制御は、パルス発生回路２で行う。パルス発生
回路２は、記録信号ＳREC を入力し、記録信号ＳREC の
立ち上がりでサンプリングパルスＳPHを出力し、記録信
号ＳREC の立ち下がりでサンプリングパルスＳPLを出力
する。サンプルホールド回路では、これらのサンプリン
グパルスの入力タイミングでサンプルホールドを行う。
レーザ光強度の制御としては、記録信号ＳREC がＨレベ
ルのとき、半導体レーザＬＤからのレーザ光強度を最大
とし、Ｌレベルのとき、半導体レーザＬＤからのレーザ
光強度を最小にするものとする。このようにレーザ光強
度を変調させる制御はレーザ駆動増幅回路１６で行われ
る。

【００２２】パルス発生回路２からの出力により、記録
信号ＳREC がＨレベルになったとき第１のサンプルホー
ルド回路３にて受光信号ＳPDをサンプルホールドし、記
録信号ＳREC がＬレベルになったとき、第２のサンプル
ホールド回路９にて受光信号ＳPDをサンプルホールドす
ることができる。

【００２３】第１および第２のサンプルホールド回路
３，９にてサンプルホールドして得られたホールド電圧
ＶHH，ＶHLはそれぞれ第１の差動増幅回路５および第２
の差動増幅回路１１に入力される。そして、第１の差動
増幅回路５からは、ホールド電圧ＶHHと最大値基準電圧
ＶREFHの差である最大値エラー電圧ＶERH が出力され、
第２の差動増幅回路１１からは、ホールド電圧ＶHLと最
小値基準電圧ＶREFLの差である最小値エラー電圧ＶERL
が出力される。

【００２４】第１の切替器４には、再生時レーザ光出力
に対応した基準電圧である再生時基準電圧ＶREFRと記録
時のレーザ光最大出力に対応した基準電圧である記録時
の最大値基準電圧ＶREFHとが予め供給されている。そし
て、第１の切替器４には、リード／ライト切替指示信号
が入力されている。リード／ライト切替指示信号は、光
磁気ディスク装置が、記録媒体に対して記録を行ってい
るときにライト指示を出し、再生を行っているときにリ
ード指示を出す。このリード／ライト切替指示信号は、
本回路の外部にあるコントロールＣＰＵ等から出力され
る。第１の切替器４は、リード／ライト切替指示信号に
よりリード指示が出されているときは再生基準電圧ＶRE
FRを出力し、ライト指示が出されているときは記録時の
最小値基準電圧ＶREFLを出力する。

【００２５】第２の切替器１０には、前述の再生時基準
電圧ＶREFRと記録時のレーザ光最小出力に対応した基準
電圧である記録時の最小値基準電圧ＶREFLとが予め供給
されている。そして、第１の切替器４と同様に、リード
／ライト切替指示信号が入力されている。第２の切替器
１０は、リード／ライト切替指示信号によりリード指示
が出されているときは再生基準電圧ＶREFRを出力し、ラ
イト指示が出されているときは記録基準電圧ＶREFHを出
力する。

【００２６】誤差検出回路６には、再生基準電圧ＶREFR
が予め供給されている。そして、増幅回路１からの受光
出力ＳPDのレベルと、再生基準電圧ＶREFRとを比較し、
その差を示す誤差検出用信号ＶERR を出力する。

【００２７】第３の切替器１４には、誤差検出回路６か
らの誤差検出用信号ＶERR と第１の差動増幅回路５およ
び第２の差動増幅回路１１からの最大値エラー電圧ＶER
H および最小値エラー電圧ＶERL が入力されている。そ
して、第３の切替器１４には、前述のリード／ライト切
替指示信号が入力されている。第３の切替器１４は、ラ
イト指示が出されているときは最大値エラー電圧ＶERH
および最小値エラー電圧ＶＥＲＬを出力し、リード指示
が出されているとき、誤差検出用信号ＶERR を出力す
る。そして、この第３の切替器１４からの出力は、レー
ザ駆動増幅回路１６に入力される。

【００２８】以上のような構成において、記録時の動作
について説明する。まず、記録信号ＳREC に基づいてレ
ーザ駆動増幅回路１５にてレーザ光が変調される。そし
て、変調されたレーザ光が最大出力となったときの受光
信号ＳPDが第１のサンプルホールド回路３にてサンプル
ホールドされ、そのホールド電圧は第１の差動増幅回路
５で記録時の最大値基準電圧ＶREFH（記録時に第１の切
替器４より出力される）と比較され、最大値エラー電圧
ＶERH が出力される。また、変調されたレーザ光が最小
出力となったときの受光信号ＳPDが第２のサンプルホー
ルド回路９にてサンプルホールドされ、そのホールド電
圧は第２の差動増幅回路１１で記録時の最小値基準電圧
ＶREFL（記録時に第１の切替器４より出力される）と比
較され、最小値エラー電圧ＶERL が出力される。最大値
エラー電圧ＶERH と最小値エラー電圧ＶERL は第３の切
替器１４に入力される。第３の切替器１４は、記録時
は、入力した最大値エラー電圧ＶERH および最小値エラ
ー電圧ＶERL を出力する。これらのエラー電圧はレーザ
駆動増幅回路１５に入力される。レーザ駆動増幅回路１
５は、これらのエラー電圧に基づいて、レーザ光出力の
最大値と最小値を制御する。

【００２９】以上のようにして、記録時（すなわちレー
ザ光が変調されているとき）に、半導体レーザＬＤから
射出されるレーザ光を最大出力と最小出力間で変調し、
最大出力と最小出力を別々にフィードバック制御するこ
とができる。

【００３０】第３の差動増幅回路７，第３のサンプルホ
ールド回路８および第４の差動増幅回路１２，第４のサ
ンプルホールド回路１３は、オフセット調整のために設
けられている。これらの回路を用いたオフセット調整
は、レーザ光が変調されていないとき、すなわち再生時
に行う。

【００３１】次に、再生時の動作を説明する。増幅回路
１から出力された受光信号ＳPDは、誤差検出回路６に入
力される。誤差検出回路６は、受光出力ＳPDのレベルと
再生基準電圧ＶREFRとを比較し、その差を示す誤差検出
用信号ＶERR を出力する。この誤差検出用信号ＶERR は
第３の切替器１４に入力される。第３の切替器１４は、
再生時は、入力した誤差検出用信号ＶERR を出力する。
レーザ駆動増幅回路１６は、誤差検出用信号ＶERR に基
づいて、レーザ光強度を一定にするように制御する。再
生時はレーザ光は変調する必要がないので、一定のレー
ザ光強度を保つような制御をすればよい。なお、再生時
のレーザ光強度は、記録時よりも小さい。 以上のよう
な構成により、再生時すなわちレーザ光が変調されない
ときに、レーザ駆動増幅回路１６に入力される誤差検出
用信号ＶERR は、サンプルホールド回路を通らないの
で、サンプルホールド回路の利得誤差および直線性誤差
の影響を受けない。

【００３２】次に、オフセット調整の動作について説明
する。前述のようにオフセット調整は再生時に行う。再
生時には、誤差検出回路６に入力された受光信号ＳPDよ
り誤差検出用信号ＶERR を求めてレーザ光のフィードバ
ック制御を行うが、再生時においても、記録時と同様に
受光信号ＳPDは第１および第２のサンプルホールド回路
３，９に入力される。もちろん、このとき２つのサンプ
ルホールド回路に入力される受光信号ＳPDは、誤差検出
回路６に入力されるものと同じ信号であり、第１のサン
プルホールド回路３と第２のサンプルホールド回路９に
入力される受光信号ＳPDも同じ信号である。再生時に
は、記録信号ＳREC が発生しないので、パルス発生器２
は記録信号ＳREC が入力されない。そこで、パルス発生
器２に、記録信号と似た信号すなわちある時間間隔ごと
に反転するパルス信号を入力する。このことによって、
記録時と同様にパルス発生器２からサンプリングパルス
ＳPH，ＳPLが発生する。そして、記録時と同様に、第１
および第２のサンプルホールド回路３，９が動作し、ホ
ールド電圧が第１および第２の差動増幅回路５，１１に
出力される。リード／ライト切替指示信号は、リード指
示になっているから、第１の切替器４および第２の切替
器１０からは、それぞれ再生基準電圧ＶREFRが出力され
ている。第１および第２の差動増幅回路５，１１は、再
生基準電圧ＶREFRとホールド電圧との差である誤差信号
ＶERH およびＶERL を出力する。一方、再生時の動作で
説明したように、誤差検出回路６からは誤差検出用信号
ＶERR が出力される。

【００３３】誤差信号ＶERH と誤差信号ＶERL と誤差検
出用信号ＶERR は、同じ信号を同じ基準電圧と比較して
求めたものであるから、本来ならば、３つの信号のレベ
ルは同じになるはずである。しかしながら、誤差信号Ｖ
ERH と誤差信号ＶERL には、オフセット分が含まれてい
る。誤差検出回路６では高速に変化する信号の処理を行
わないので、オフセットの変動が非常に少ない。したが
って、たとえば稼動前にオフセット調整しておけばよ
い。したがって、誤差検出用信号ＶERR にはオフセット
分は含まれていないとしてよい。

【００３４】そこで、本実施例では、誤差検出用信号Ｖ
ERR と誤差信号ＶERH および誤差信号ＶERL との差分を
求めることにより、オフセット量を求める。第１の差動
増幅回路５からの出力ＶERH と誤差検出回路６からの出
力ＶERR が第３の差動増幅回路７に入力され、その差動
信号ＶAL1 が出力される。この差動信号ＶAL1 を第３の
サンプルホールド回路８でサンプルホールドする。第３
のサンプルホールド回路８でのホールド電圧ＶOFS1を第
１の差動増幅回路５に出力する。このホールド電圧ＶOF
S1はオフセット量を示している。

【００３５】同様にして、第１の差動増幅回路Ｌからの
出力ＶERH と誤差検出回路６からの出力ＶERR が第４の
差動増幅回路１２に入力され、その差動信号ＶAL2 が出
力される。この差動信号ＶAL1 を第４のサンプルホール
ド回路１３でサンプルホールドする。第４のサンプルホ
ールド回路１３でのホールド電圧ＶOFS2を第２の差動増
幅回路１１に出力する。このホールド電圧ＶOFS2はオフ
セット量を示している。

【００３６】以上のようにして、２つのフィードバック
ループにおけるオフセット量が求められる。ホールド電
圧ＶOFS1，ＶOFS2は、それぞれ、第１の差動増幅回路５
および第２の差動増幅回路１１に入力され、それぞれの
差動増幅回路にて、オフセット量が調整される。次の記
録時においては、第１の差動増幅回路５および第２の差
動増幅回路１１は、上記のようにして調整されたオフセ
ット量を最大値エラー電圧ＶERH および最小値エラー電
圧ＶERL に加える（または減ずる）ことにより、正しい
オフセット量が考慮されたエラー電圧を出力することが
できる。

【００３７】オフセット量を求めるために第３のサンプ
ルホールド回路８および第４のサンプルホールド回路１
３でサンプルホールドするタイミングは、もちろん再生
時（レーザ光が変調されていないとき）であるが、リー
ド／ライト切替指示信号がリード指示に変わって再生動
作が始まってからある程度の時間がたってからであるこ
とが好ましい。リード指示に変わった直後は、レーザ光
出力が安定しないからである。

【００３８】本実施例においては、記録時（すなわちレ
ーザ光が変調されるとき）に最大出力と最小出力をそれ
ぞれフィードバック制御しているが、一方のみを制御し
てもよい。たとえば、最大出力のときのみを正確に制御
したい場合は、最大出力のときのみフィードバック制御
すればよい。この場合、サンプルホールド回路と差動増
幅回路は１つでよいことになる。

【００３９】また、本実施例においては、第３の切替器
１４は誤差検出回路６、差動増幅回路５，１１の出力側
に接続したが、誤差検出回路６、サンプルホールド回路
３，９の入力側に接続してもよい。

【００４０】次に、本発明の第２の実施例について説明
する。第１の実施例では、再生時（レーザ光が変調され
ていないとき）におけるサンプルホールド回路の直線性
誤差と利得誤差の影響を除去することはできるが、記録
時、すなわちレーザ光が変調されているときには、直線
性誤差と利得誤差の影響は除去されない。第２の実施例
では、記録時におけるサンプルホールド回路の直線性誤
差と利得誤差の影響を低減させることができる。

【００４１】図２は、本発明の第２の実施例を示すレー
ザ駆動回路の構成図である。図１（第１の実施例）の構
成との違いは、第１のサンプルホールド回路３および第
２のサンプルホールド回路９の位置を、それぞれ第１の
差動増幅回路５および第２の差動増幅回路１１の出力側
にしたことである。

【００４２】図２のレーザ駆動回路における記録時の動
作を説明する。受光信号ＳPDは、第１および第２の差動
増幅回路５および１１に入力される。そして、第１の差
動増幅回路５では、受光信号ＳPDのレベルと最大値基準
電圧ＶREFHとが比較され、その差を示す差電圧が出力さ
れる。また、第２の差動増幅回路１１では、受光信号Ｓ
PDのレベルと最小値基準電圧ＶREFLとが比較され、その
差を示す差電圧が出力される。これらの差電圧は、それ
ぞれ第１および第２のサンプルホールド回路３および９
に入力される。第１および第２のサンプルホールド回路
３および９は、従来の技術と同様に、パルス発生回路２
からのサンプリングパルスの入力タイミングで入力した
差電圧をサンプルホールドする。そして、ホールド電圧
を最大値エラー電圧ＶERH および最小値エラー電圧ＶER
L として出力する。そして、ＶERH ，ＶERL は、第３の
切替器１４を介してレーザ駆動増幅回路１５に入力され
る。第３の切替器１４，レーザ駆動増幅回路１５の動作
は第１の実施例と同様である。

【００４３】図２において、再生時の動作およびオフセ
ット調整時の動作は、第１の実施例と同様であるので説
明を省略する。

【００４４】第１の実施例においては、サンプルホール
ド回路には、受光信号ＳPDが入力されていたが、本実施
例においては、サンプルホールド回路には、差動増幅回
路から出力される差電圧が入力される。レーザ駆動回路
が形成しているフィードバックループは、記録時の変調
されたレーザ光の最大出力値および最小出力値を所定の
値に制御するのであるから、差動増幅回路から出力され
る差電圧を０にするように動作する。したがって、サン
プルホールド回路は、フィードバックループが比較的安
定な状態においては、ホールド電圧が０となる点付近で
動作することになる。このため、図３における直線性誤
差および利得誤差の絶対値が小さい範囲でサンプルホー
ルド回路を動作させることができる。

【００４５】以上のように、第２の実施例のレーザ駆動
回路によれば、記録時すなわちレーザ光が変調されてい
るときのレーザ光強度のフィードバック制御に関して
も、サンプルホールド回路の直線性誤差および利得誤差
の影響を低減することができる。

【００４６】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、オフセッ
トの変動があっても、レーザ光が変調されていないとき
にオフセット調整を行うことができ、次にレーザ光を変
調する動作を行うときにレーザ光強度を適切な値に制御
することができる。

【００４７】また、サンプルホールド回路の動作特性に
よる誤差の影響も低減することができ、レーザ光強度の
制御が正確に行われる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例を示すレーザ駆動回路の
構成図。

【図２】本発明の第２の実施例を示すレーザ駆動回路の
構成図。

【図３】サンプルホールド回路の直線性誤差および利得
誤差を説明するための図。

【符号の説明】

１ 増幅回路 ２ パルス発生回路 ３ 第１のサンプルホールド回路 ５ 第１の差動増幅回路 ６ 誤差検出回路 ７ 第３の差動増幅回路 ８ 第３のサンプルホールド回路 ９ 第２のサンプルホールド回路 １１ 第２の差動増幅回路 １２ 第４の差動増幅回路 １３ 第４のサンプルホールド回路 １５ レーザ駆動増幅回路 ＰＤ フォトディテクタ ＬＤ 半導体レーザ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ光をモニタするモニタ手段と、 前記モニタ手段からの出力をサンプルホールドするサン
   プルホールド回路と、 前記サンプルホールド回路でサンプルホールドされたホ
   ールド信号レベルと予め設定された基準値との差による
   第１の誤差信号を出力する差動増幅回路と、 前記モニタ手段からの出力レベルと前記基準値との差に
   よる第２の誤差信号を出力する誤差検出回路と、 前記第１の誤差信号または第２の誤差信号に基づいて前
   記レーザ光の強度を制御するレーザ駆動部と、 前記レーザ光が変調されていないときに、前記第１の誤
   差信号と前記第２の誤差信号との差信号をオフセット調
   整信号として前記差動増幅回路に出力するオフセット調
   整手段とを備えたことを特徴とするレーザ駆動回路。
2. 【請求項２】 レーザ光をモニタするモニタ手段と、 前記モニタ手段からの出力レベルと予め設定された基準
   値との差による第１の誤差信号を出力する差動増幅回路
   と、 前記第１の誤差信号をサンプルホールドするサンプルホ
   ールド回路と、 前記モニタ手段からの出力レベルと前記基準値との差に
   よる第２の誤差信号を出力する誤差検出回路と、 前記サンプルホールド回路でサンプルホールドされたホ
   ールド信号または前記第２の誤差信号に基づいて前記レ
   ーザ光の強度を制御するレーザ駆動部と、 前記レーザ光が変調されていないときに、前記ホールド
   信号と前記第２の誤差信号との差信号をオフセット調整
   信号として前記差動増幅回路に出力するオフセット調整
   手段とを備えたことを特徴とするレーザ駆動回路。