JPH09171631A - 光ディスク駆動装置のレーザパワー制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光源から出射される光量を記録周波数より高
い周波数のパルス列として光ディスク上に照射して情報
の記録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装置におい
て、安価で簡単な構成で、レーザダイオードの出射光量
を安定化させることにより、情報の信頼性の高い光ディ
スク駆動装置を実現する。 【解決手段】 光源から出射される光量を記録周波数よ
り高い周波数のパルス列として光ディスク上に照射して
情報の記録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装置に
おいて、レーザパワー制御装置として、光源を適宜非パ
ルス状に駆動する期間を設定する設定手段と、設定され
た期間中に出射光量検出手段によって検出される出射光
量に基いて光源の光量を調整する光量調整手段を設け
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、光源から出射さ
れる光量を記録周波数より高い周波数のパルス列として
光ディスク上に照射して情報の記録、消去、初期化を行
う光ディスク駆動装置に係り、特に、光源のレーザダイ
オード（半導体レーザ）の発光パワーを制御するレーザ
パワー制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】相変化型光ディスクは、高密度記録が可
能なディスクであり、情報の記録方法についても、各種
の方式が提案されている。例えば、ディスク上に非晶質
化マークを形成するために、レーザビームを短い単一ま
たは複数のパルスで照射したり（特開昭６３−２６６６
３２号公報）、結晶化するために高い周波数のパルス列
でレーザビームを照射する（特開平１−１１９９２１号
公報）などの記録方法が知られている。ここで、相変化
型光ディスクにおける記録方法について、簡単に説明す
る。

【０００３】図１１は、相変化型光ディスクにおける記
録方法の原理を説明する図で、(1)は記録情報とレーザ
パワーとの関係、(2) は記録情報に対応するトラック上
の記録状態を示す。図において、Ｐｐは非晶質化レベ
ル、Ｐｅは結晶化レベル、Ｐｒは読み出しレベルを示
す。

【０００４】相変化型光ディスクの場合、情報の記録に
際しては、ディスクのトラック上にレーザスポットを照
射して、レーザパワーを記録情報に応じて変化させるこ
とにより、ディスクの記録膜上に結晶化領域と非晶質化
したマークを形成することによって行われる。この状態
を、図１１(1) に示しており、記録情報の「０」のレベ
ルに対応して、レーザパワーを結晶化レベル（Ｐｅ）と
することにより、記録膜が結晶化されて、結晶化領域が
形成される。

【０００５】これに対して、記録情報の「１」のレベル
に対応して、レーザパワーを非晶質化レベル（Ｐｐ）と
読み出しレベル（Ｐｒ）との間で、パルス状に変化させ
ることにより、記録膜が非晶質化されて、非晶質化マー
クが形成される。このような記録動作によって、図１１
(2) に示したように、トラック上に記録情報の「１」の
レベルに対応する非晶質化マークが形成される。ここ
で、３つのレベルの関係は、Ｐｐ（非晶質化レベル）＞
Ｐｅ（結晶化レベル）＞Ｐｒ（読み出しレベル）であ
る。

【０００６】このようにして、相変化型光ディスクに
は、記録情報の「０」のレベルに対応する結晶化領域
と、記録情報の「１」のレベルに対応する非晶質化マー
クとが形成される。そのため、レーザパワーとしては、
記録情報の「０」のレベルに対応する（中間の）結晶化
レベル（Ｐｅ）と、記録情報の「１」のレベルを形成す
るための（最高の）非晶質化レベル（Ｐｐ）と、（最低
の）読み出しレベル（Ｐｒ）、の計３つのレベルで制御
する必要がある。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】相変化型光ディスクの
ように、レーザスポットを高い周波数のパルス列として
光ディスク上に照射して情報の記録あるいは消去、初期
化を行う光ディスク駆動装置においては、レーザパワー
の変化も高周波である。そのため、検出帯域の限られた
出射光量検出器を使用すると、正確な出射光量を検出す
ることが困難になる。このように不正確に検出された出
射光量に基いて出射光量を調整しても、正確な調整は難
かしいので、安定化させることも困難である。その結
果、情報の記録、消去、初期化等の処理が不完全なもの
になる、というケースが生じる。この発明は、安価で簡
単な構成によって、レーザダイオードの出射光量を安定
化させることにより、情報の信頼性の高い光ディスク駆
動装置を得ることを課題にしている（請求項１から請求
項６の発明）。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１の光ディスク駆
動装置では、半導体レーザ等の光源と、光源の駆動回路
と、光源の出射光量を検出する出射光量検出手段とを備
え、光源から出射される光量を記録周波数より高い周波
数のパルス列として光ディスク上に照射して情報の記
録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装置において、
レーザパワー制御装置として、光源を適宜、非パルス状
に駆動する期間を設定する期間設定手段と、設定された
期間中に出射光量検出手段によって検出される出射光量
に基いて光源の光量を調整する光量調整手段とを設けて
いる。

【０００９】請求項２の光ディスク駆動装置では、半導
体レーザ等の光源と、光源の駆動回路と、光源の出射光
量を検出する出射光量検出手段とを備え、光源から出射
される光量を記録周波数より高い周波数のパルス列とし
て光ディスク上に照射して情報の記録、消去、初期化を
行う光ディスク駆動装置において、レーザパワー制御装
置として、光源に第１レベルの電流を印加する電流印加
手段と、第１レベルの電流に第２レベルの電流を重畳す
る第１電流重畳手段と、第１レベルの電流に第３レベル
の電流を重畳する第２電流重畳手段と、第２レベルの電
流を、記録情報に応じてオン／オフ制御する第１スイッ
チ手段と、第３レベルの電流を、記録情報に応じてパル
ス状にオン／オフ制御する第２スイッチ手段と、第３レ
ベルの電流をオフにする第１制御信号を発生する第１タ
イミング制御手段と、第３レベルの電流を非パルス状に
オンにする第２制御信号を発生する第２タイミング制御
手段と、第１制御信号の発生期間中における出射光量検
出手段の出力を保持する第１サンプルホールド手段と、
第１スイッチ手段がオン期間中における出射光量検出手
段の出力を保持する第２サンプルホールド手段と、第２
制御信号の発生期間中における出射光量検出手段の出力
を保持する第３サンプルホールド手段と、第１サンプル
ホールド手段の出力に応じて第１レベルの電流を調整す
る第１調整手段と、第２サンプルホールド手段の出力に
応じて第２レベルの電流を調整する第２調整手段と、第
３サンプルホールド手段の出力に応じて第３レベルの電
流を調整する第３調整手段を設けている。

【００１０】請求項３の光ディスク駆動装置では、請求
項２の光ディスク駆動装置において、第２制御信号の発
生期間を、記録情報の状態に応じた期間内としている。

【００１１】請求項４の光ディスク駆動装置では、半導
体レーザ等の光源と、光源の駆動回路と、光源の出射光
量を検出する出射光量検出手段とを備え、光源から出射
される光量を記録周波数より高い周波数のパルス列とし
て光ディスク上に照射して情報の記録、消去、初期化を
行う光ディスク駆動装置において、レーザパワー制御装
置として、光源に第１レベルの電流を印加する電流印加
手段と、第１レベルの電流に第２レベルの電流を重畳す
る第１電流重畳手段と、第１レベルの電流に第３レベル
の電流を重畳する第２電流重畳手段と、第２レベルの電
流を、記録情報に応じてオン／オフ制御する第１スイッ
チ手段と、第３レベルの電流を、記録情報に応じてパル
ス状にオン／オフ制御する第２スイッチ手段と、第３レ
ベルの電流をオフにする第１制御信号を発生する第１タ
イミング制御手段と、第１制御信号の発生期間中におけ
る出射光量検出手段の出力を保持する第１サンプルホー
ルド手段と、第１スイッチ手段がオン期間中における出
射光量検出手段の出力を保持する第２サンプルホールド
手段と、第１サンプルホールド手段の出力に応じて第１
レベルの電流を調整する第１調整手段と、第２サンプル
ホールド手段の出力に応じて第２レベルの電流を調整す
る第２調整手段と、第３レベルの電流が、第２レベルの
電流に比例した値となるように調整する第４調整手段を
設けている。

【００１２】請求項５の光ディスク駆動装置では、半導
体レーザ等の光源と、光源の駆動回路と、光源の出射光
量を検出する出射光量検出手段とを備え、光源から出射
される光量を記録周波数より高い周波数のパルス列とし
て光ディスク上に照射して情報の記録、消去、初期化を
行う光ディスク駆動装置において、レーザパワー制御装
置として、光源に第１レベルの電流を印加する電流印加
手段と、第１レベルの電流に第２レベルの電流を重畳す
る第１電流重畳手段と、第１レベルの電流に第３レベル
の電流を重畳する第２電流重畳手段と、第２レベルの電
流を、記録情報に応じてオン／オフ制御する第１スイッ
チ手段と、第３レベルの電流を、記録情報に応じてパル
ス状にオン／オフ制御する第２スイッチ手段と、第３レ
ベルの電流を非パルス状にオンにする第２制御信号を発
生する第２タイミング制御手段と、第１スイッチ手段が
オン期間中における出射光量検出手段の出力を保持する
第２サンプルホールド手段と、第２制御信号の発生期間
中における出射光量検出手段の出力を保持する第３サン
プルホールド手段と、第２サンプルホールド手段の出力
に応じて第２レベルの電流を調整する第２調整手段と、
第３サンプルホールド手段の出力に応じて第３レベルの
電流を調整する第３調整手段と、調整された第２レベル
の電流と、調整された第３レベルの電流との値に応じて
第１レベルの電流を調整する第５調整手段を設けてい
る。

【００１３】請求項６の光ディスク駆動装置では、請求
項５の光ディスク駆動装置において、第２制御信号の発
生期間を、記録情報の状態に応じた期間内としている。

【００１４】

【発明の実施の形態】

第１の実施の形態 この第１の実施の形態は、請求項１の発明に対応してい
るが、請求項２から請求項６の発明にも関連しており、
請求項１の発明が基本発明である。この第１の実施の形
態では、光パワーを制御する点に特徴を有している。

【００１５】図１は、この発明の光ディスク駆動装置に
ついて、そのレーザパワー制御装置の要部構成の実施の
形態の一例を示す機能ブロック図である。図において、
１はレーザダイオード、２はフォトディテクタ、３はア
ンプ、４はＩｐスイッチ、５はＩｐ電流源、６はＳｐ調
整回路、７はＳｐサンプルホールド回路、８はＩｅスイ
ッチ、９はＩｅ電流源、１０はＩｅ調整回路、１１はＩ
ｅサンプルホールド回路、１２はＩｒ電流源、１３はＳ
ｒ調整回路、１４はＳｒサンプルホールド回路、１５は
Ｐｐサンプルタイミング回路、１６はＰｒサンプルタイ
ミング回路、１７はＩｐスイッチ制御回路、１８はＩｅ
スイッチ制御回路を示し、Ｉｒは読み出しレベル（Ｐ
ｒ）の駆動電流、Ｉｅは結晶化レベル（Ｐｅ）とするた
めに電流Ｉｒに重畳する電流、Ｉｅ′は電流Ｉｅがスイ
ッチングされた電流、Ｉｐは非晶質化レベル（Ｐｐ）と
するために電流Ｉｒに重畳する電流、Ｉｐ′は電流Ｉｐ
がスイッチングされた電流、Ｓｐは非晶質化レベル（Ｐ
ｐ）時のパルス信号をサンプリングするサンプル信号、
Ｓｒは読み出しレベル（Ｐｒ）時のパルス信号をサンプ
リングするサンプル信号、Ｄｉは記録情報、ＤｐはＩｐ
スイッチ４のオン／オフ信号、ＤｅはＩｅスイッチ８の
オン／オフ信号、Ｖｄはアンプ３の出射光量検出電圧を
示す。

【００１６】レーザダイオード１の出射光は、レンズに
より集光されてディスク上に照射されるが、この出射光
の一部は、フォトディテクタ２にも照射され、その出力
がアンプ３により増幅されて、出射光量の検出に用いら
れる。このレーザダイオード１には、３つの電流源（Ｉ
ｐ電流源５，Ｉｅ電流源９，Ｉｒ電流源１２）からの電
流が印加されるが、その内の２つの電流源（Ｉｐ電流源
５，Ｉｅ電流源９）からの電流は、Ｉｐスイッチ４とＩ
ｅスイッチ８によってオン／オフされる。

【００１７】まず、Ｉｒ電流源１２は、レーザダイオー
ド１に対して、レーザパワーを読み出しレベルＰｒにす
るために必要な電流Ｉｒを印加する（最低のレベル）。
一方、結晶化レベルＰｅの駆動時には、Ｉｅ電流源９か
らの電流Ｉｅが、Ｉｅスイッチ８によってオン／オフ制
御された電流Ｉｅ′として、読み出しレベルＰｒの電流
Ｉｒに重畳される形でレーザダイオード１に印加され
る。すなわち、Ｉｅスイッチ８の動作時には、レーザパ
ワーを結晶化レベルＰｅとするために必要な電流Ｉｒ＋
Ｉｅ′が、レーザダイオード１に印加される（中間のレ
ベル）。

【００１８】また、非晶質化レベルＰｐの駆動時には、
Ｉｐ電流源５からの電流が、Ｉｐスイッチ４によってオ
ン／オフ制御されたスイッチング電流Ｉｐ′として、読
み出しレベルＰｒの電流Ｉｒに重畳される形でレーザダ
イオード１に印加される。すなわち、Ｉｐスイッチ４の
オン時には、レーザパワーを非晶質化レベルＰｐとする
ために必要な電流Ｉｒ＋Ｉｐ′が、レーザダイオード１
に印加される（最高のレベル）。

【００１９】図２は、図１に示した光ディスク駆動装置
について、その動作を説明するタイミングチャートであ
る。図の各波形に付けられた符号は図１の符号位置に対
応しており、Ｉは実際にレーザダイオード１に印加され
る電流、Ｐは電流Ｉによるレーザパワー、ａは記録情報
Ｄｉの「０」のレベルの期間、ｂは記録情報Ｄｉの
「１」のレベルの期間、ｃは読み出しレベルＰｒ時のサ
ンプル信号Ｓｒの発生期間、ｄは非晶質化レベルＰｐ時
のサンプル信号Ｓｐの発生期間、とは記録情報Ｄｉ
が記録されない信号を示す。

【００２０】この図２に示したＩｒは、レーザパワーを
読み出しレベルＰｒにするために必要な電流Ｉｒで、一
定レベルの電流である。結晶化レベルＰｅの駆動時に
は、Ｉｅ′に示すように、Ｉｅ電流源９からの電流Ｉｅ
がＩｅスイッチ８によりオン／オフされて、スイッチン
グ電流Ｉｅ′が発生される。このような結晶化レベルＰ
ｅ時のスイッチング動作を行うために、図１のＩｅスイ
ッチ制御回路１８は、情報記録時に、記録情報Ｄｉのレ
ベルに応じてＩｅスイッチ８のオン／オフ信号Ｄｅを出
力する。

【００２１】このＩｅスイッチ８のオン／オフ信号Ｄｅ
は、記録情報Ｄｉが「０」のとき（図２の期間ａ）は、
「Ｈ」レベルとなるので、Ｉｅスイッチ８がオンにな
り、レーザダイオード１には電流Ｉｒ＋Ｉｅが印加され
る。他方、記録情報Ｄｉが「１」のとき（図２の期間
ｂ）は、Ｉｅスイッチ８のオン／オフ信号Ｄｅが「Ｌ」
レベルになるので、Ｉｅスイッチ８はオフになる。

【００２２】そのため、レーザダイオード１には、図２
にＩで示したように、電流Ｉｒ＋Ｉｅが印加されること
になる。その結果、図２にＰで示したように、記録情報
Ｄｉが「０」の期間ａには、結晶化レベル（Ｐｅ）のレ
ーザパワーが得られる。したがって、この期間ａには、
先の図１１(2) で説明したように、記録膜が結晶化され
て結晶化領域が形成される。

【００２３】これに対して、非晶質化レベルＰｐの駆動
時には、図２のＩｐ′に示したように、Ｉｐ電流源５か
らの電流がＩｐスイッチ４によりオン／オフされて、ス
イッチング電流Ｉｐ′が発生される。この非晶質化レベ
ルＰｐ時のスイッチング動作を行うために、Ｉｐスイッ
チ制御回路１７は、情報記録時に、記録情報Ｄｉのレベ
ルに応じてＩｐスイッチ４のオン／オフ信号Ｄｐを出力
する。このＩｐスイッチ４のオン／オフ信号Ｄｐは、記
録情報Ｄｉが「０」のとき（図２の期間ａ）には、
「Ｌ」レベルとなり、Ｉｐスイッチ４はオフになる。

【００２４】他方、記録情報Ｄｉが「１」のとき（図２
の期間ｂ）には、Ｉｐスイッチ４のオン／オフ信号Ｄｐ
はパルス状に変化する。そのため、Ｉｐスイッチ４は、
パルス状にオン／オフされることになり、この期間ｂに
は、レーザダイオード１に、図２にＩで示したように、
電流Ｉｒと電流Ｉｒ＋Ｉｅとの間のレベルで変化するパ
ルス状の電流が印加される。したがって、この期間ｂに
は、先の図１１(2) で説明したように、記録情報Ｄｉの
「１」に対応する非晶質化マークが形成される。

【００２５】以上のように、記録情報Ｄｉの「０」レベ
ルに対応して、レーザパワーは結晶化レベル（Ｐｅ）と
なり、また、記録情報Ｄｉの「１」レベルに対応して、
レーザパワーは非晶質化レベル（Ｐｐ）と読み出しレベ
ル（Ｐｒ）との間でパルス状に変化する。そして、レー
ザダイオード１の出射光の一部が、フォトディテクタ２
により検出され、その出力がアンプ３によって増幅され
るので、アンプ３の出射光量検出電圧Ｖｄは、レーザパ
ワーに比例した値となる。

【００２６】ところが、フォトディテクタ２とアンプ３
の応答帯域が限られているときは、図２のＤｉに示した
期間ｂに対応するパルス状発光部では、正確な光量検出
ができない。この状態の波形は、図２のＶｄに示したよ
うに、小さな波状の変化を繰り返えしている。これに対
して、図２のＤｉに示した期間ａでは、レーザパワーは
結晶化レベル（Ｐｅ）で非パルス状であるから、出射光
量検出電圧Ｖｄは、図２のＶｄに示したように、結晶化
レベルＰｅに比例した値になる。

【００２７】そこで、このレーザパワーが安定したレベ
ル（図２の期間ａ）のとき、出射光量検出電圧Ｖｄを取
り込んで、レーザパワーの制御を行う。図１の装置で
は、Ｉｅサンプルホールド回路１１は、記録情報Ｄｉが
「０」で、Ｉｅスイッチ８のオン／オフ信号Ｄｅが
「Ｈ」レベルのとき（図２の期間ａ）に、出射光量検出
電圧Ｖｄをサンプリングする。

【００２８】そのため、このＩｅサンプルホールド回路
１１の出力には、常に結晶化レベル（Ｐｅ）に比例した
検出電圧が得られる。Ｉｅ調整回路１０は、この検出電
圧に基いて、レーザパワーＰを、結晶化レベル（Ｐｅ）
の最適な値となるように、Ｉｅ電流源９を調整する。以
上が、レーザパワーの結晶化レベル（Ｐｅ）の調整動作
である。この第１の実施の形態では、このように、レー
ザパワーが安定した、非パルス状の結晶化レベル（Ｐ
ｅ）において、光源の光量を調整する。

【００２９】ここで、この発明の光ディスク駆動装置
を、図１の装置と対照すると、次のようになる。半導体
レーザ等の光源（図１のレーザダイオード１）と、光源
の駆動回路（Ｉｐスイッチ４，Ｉｐ電流源５）と、光源
の出射光量を検出する出射光量検出手段（フォトディテ
クタ２，アンプ３）とを備え、光源から出射される光量
を記録周波数より高い周波数のパルス列として光ディス
ク上に照射して情報の記録、消去、初期化を行う光ディ
スク駆動装置において、レーザパワー制御装置として、
光源を適宜、非パルス状に駆動する期間を設定する期間
設定手段（Ｐｒサンプルタイミング回路１６，Ｉｅスイ
ッチ制御回路１８）と、設定された期間中に出射光量検
出手段によって検出される出射光量に基いて光源の光量
を調整する光量調整手段（Ｉｅサンプルホールド回路１
１，Ｉｅ調整回路１０）とを備えている。

【００３０】以上のように、この第１の実施の形態で
は、光源が非パルス状に駆動される期間内に、出射光量
の検出を行うので、検出帯域の限られた出射光量検出器
を使用しても、出射光量の正確な検出が可能になる。そ
して、この検出された出射光量に基いて出射光量を最適
値に調整すれば、光源が安定化される。しかも、簡単な
構成であるから、低コストの手段によって、情報の信頼
性の高い装置が得られる。

【００３１】第２の実施の形態 この第２の実施の形態は、請求項２の発明に対応してい
る。先の第１の実施の形態では、レーザパワーの結晶化
レベル（Ｐｅ）を安定化する場合を説明した。この第２
の実施の形態では、さらに、非晶質化レベル（Ｐｐ）と
読み出しレベル（Ｐｒ）の安定化を可能にした点に特徴
を有している。ハード構成は、先の図１と同様である。
また、その動作も、図２のタイミングチャートと同じで
ある。

【００３２】先の図１との対応によって、その構成を示
すと、次のようになる。半導体レーザ等の光源（図１の
レーザダイオード１）と、光源の駆動回路（Ｉｐスイッ
チ４，Ｉｐ電流源５）と、光源の出射光量を検出する出
射光量検出手段（フォトディテクタ２，アンプ３）とを
備え、光源から出射される光量を記録周波数より高い周
波数のパルス列として光ディスク上に照射して情報の記
録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装置において、
レーザパワー制御装置として、光源に第１レベルの電流
（Ｉｒ）を印加する電流印加手段（Ｉｒ電流源１２）
と、第１レベルの電流（Ｉｒ）に第２レベルの電流（Ｉ
ｅ）を重畳する第１電流重畳手段（Ｉｅ電流源９）と、
第１レベルの電流（Ｉｒ）に第３レベルの電流（Ｉｐ）
を重畳する第２電流重畳手段（Ｉｐ電流源５）と、第２
レベルの電流（Ｉｅ）を、記録情報（Ｄｉ）に応じてオ
ン／オフ制御する第１スイッチ手段（Ｉｅスイッチ８）
と、第３レベルの電流（Ｉｐ）を、記録情報（Ｄｉ）に
応じてパルス状にオン／オフ制御する第２スイッチ手段
（Ｉｐスイッチ４）と、第３レベルの電流（Ｉｐ）をオ
フにする第１制御信号（Ｓｒ）を発生する第１タイミン
グ制御手段（Ｐｒサンプルタイミング回路１６）と、第
３レベルの電流（Ｉｐ）を非パルス状にオンにする第２
制御信号（Ｓｐ）を発生する第２タイミング制御手段
（Ｐｐサンプルタイミング回路１５）と、第１制御信号
（Ｓｒ）の発生期間中における出射光量検出手段（フォ
トディテクタ２，アンプ３）の出力（Ｖｄ）を保持する
第１サンプルホールド手段（Ｓｒサンプルホールド回路
１４）と、第１スイッチ手段（Ｉｅスイッチ８）がオン
期間中における出射光量検出手段（フォトディテクタ
２，アンプ３）の出力（Ｖｄ）を保持する第２サンプル
ホールド手段（Ｉｅサンプルホールド回路１１）と、第
２制御信号（Ｓｐ）の発生期間中における出射光量検出
手段（フォトディテクタ２，アンプ３）の出力（Ｖｄ）
を保持する第３サンプルホールド手段（Ｓｐサンプルホ
ールド回路７）と、第１サンプルホールド手段（Ｓｒサ
ンプルホールド回路１４）の出力に応じて第１レベルの
電流（Ｉｒ）を調整する第１調整手段（Ｓｒ調整回路１
３）と、第２サンプルホールド手段（Ｉｅサンプルホー
ルド回路１１）の出力に応じて第２レベルの電流（Ｉ
ｅ）を調整する第２調整手段（Ｉｅ調整回路１０）と、
第３サンプルホールド手段（Ｓｐサンプルホールド回路
７）の出力に応じて第３レベルの電流（Ｉｐ）を調整す
る第３調整手段（Ｓｐ調整回路６）とで構成している。

【００３３】先の第１の実施の形態では、図１のＩｅサ
ンプルホールド回路１１が、図２のＤｉに示した期間
ａ、すなわち、記録情報Ｄｉが「０」で、Ｉｅスイッチ
８のオン／オフ信号Ｄｅが「Ｈ」レベルのときに、出射
光量検出電圧Ｖｄをサンプリングする場合を説明した。
この場合には、Ｉｅサンプルホールド回路１１の出力に
は、常に結晶化レベル（Ｐｅ）に比例した検出電圧が得
られる。Ｉｅ調整回路１０は、この検出電圧（Ｖｄ）に
基いて、レーザパワーＰを、結晶化レベル（Ｐｅ）の最
適な値となるように、Ｉｅ電流源９を調整する。

【００３４】したがって、結晶化レベル（Ｐｅ）につい
ては、最適値に調整することができるので、安定化が可
能になる。しかし、非晶質化レベル（Ｐｐ）や読み出し
レベル（Ｐｒ）については、調整することができない。
この第２の実施の形態では、非晶質化レベル（Ｐｐ）や
読み出しレベル（Ｐｒ）についても、最適値に調整す
る。

【００３５】図１において、Ｐｒサンプルタイミング回
路１６は、適宜、読み出しレベル（Ｐｒ）時のパルス信
号をサンプリングするサンプル信号Ｓｒを発生する。例
えば図２のＳｒに示すように、期間ｃに、サンプル信号
Ｓｒを「Ｈ」レベルで発生する。この図２のＳｒにおい
て、Ｓｒの発生期間（「Ｈ」レベルの期間ｃ）中、Ｉｅ
スイッチ制御回路１８とＩｐスイッチ制御回路１７は、
いずれも、記録情報Ｄｉのレベルに関係なく、Ｉｅスイ
ッチ８とＩｐスイッチ４をオフにする。

【００３６】そのため、この期間ｃは、レーザダイオー
ド１には電流Ｉｒのみが印加されることになり、図２の
Ｐに示すように、レーザパワーはＰｒ（読み出しレベ
ル）で、非パルス状となる。このような動作によって、
この期間ｃ中は、先の期間ａと異なり、出射光量検出電
圧Ｖｄは、Ｐｒに比例した値になる。Ｓｒサンプルホー
ルド回路１４は、この図２のＳｒに示すサンプル信号Ｓ
ｒの発生期間（期間ｃ）に、出射光量検出電圧Ｖｄをサ
ンプリングする。したがって、このＳｒサンプルホール
ド回路１４の出力には、常に読み出しレベル（Ｐｒ）に
比例した検出電圧が得られる。

【００３７】Ｓｒ調整回路１３は、このＳｒサンプルホ
ールド回路１４から出力される検出電圧に基いて、レー
ザパワーを、読み出しレベル（Ｐｒ）の最適な値となる
ように、Ｉｒ電流源１２を調整する。以上が、レーザパ
ワーの読み出しレベル（Ｐｒ）の調整動作である。次
に、レーザパワーの非晶質化レベル（Ｐｐ）の調整につ
いて説明する。Ｐｐサンプルタイミング回路１５は、図
２のＳｐに示すように、適宜、Ｐｐサンプル信号Ｓｐを
発生する。例えば、図２のＳｐの期間ｄに、サンプル信
号Ｓｐを「Ｈ」レベルで発生する。

【００３８】この図２のＳｐにおいて、Ｓｐの発生期間
（「Ｈ」レベルの期間ｄ）中、Ｉｐスイッチ制御回路１
７は、記録情報Ｄｉのレベルに関係なく、Ｉｐスイッチ
４をオフにする。そのため、この期間ｄは、レーザダイ
オード１には電流Ｉｒ＋Ｉｐが印加されることになり、
図２のＰに示すように、レーザパワーはＰｐ（非晶質化
レベル）で、非パルス状となる。このような動作によっ
て、この期間ｄ中も、先の期間ａと異なり、光量検出電
圧Ｖｄは、非晶質化レベル（Ｐｐ）に比例した値にな
る。Ｓｐサンプルホールド回路７は、この図２のＳｐに
示すサンプル信号Ｓｐの発生期間（期間ｄ）に、光量検
出電圧Ｖｄをサンプリングするので、このＳｐサンプル
ホールド回路７の出力には、常に非晶質化レベル（Ｐ
ｐ）に比例した検出電圧が得られる。Ｓｐ調整回路６
は、このＳｐサンプルホールド回路７から出力される検
出電圧に基いて、レーザパワーを、非晶質化レベル（Ｐ
ｐ）の最適な値となるように、Ｉｐ電流源５を調整す
る。

【００３９】このような構成によって、結晶化レベル
（Ｐｅ）だけでなく、レーザパワーの非晶質化レベル
（Ｐｐ）や読み出しレベル（Ｐｒ）の安定化も可能にな
る（請求項２の発明）。そして、先の第１の実施例と同
様に、検出帯域の限られた出射光量検出器を使用して
も、出射光量の正確な検出が可能になり、検出された出
射光量に基いて出射光量を最適値に調整すれば、光源が
安定化される。

【００４０】第３の実施の形態 この第３の実施の形態は、請求項３の発明に対応してい
るが、請求項２の発明にも関連している。先の第２の実
施の形態で説明した装置では、記録情報Ｄｉの状態（レ
ベル）とは関係なく、レーザパワーは、第１制御信号
（Ｓｒ）の発生中は読み出しレベル（Ｐｒ）に、第２制
御信号（Ｓｐ）の発生中は非パルス状に非晶質化レベル
（Ｐｐ）となる。そのため、第１または第２制御信号
（ＳｒまたはＳｐ）の発生中は、情報の記録ができなく
なり、光ディスク上に記録可能な情報容量が低下する。

【００４１】この第３の実施の形態では、第２制御信号
（Ｓｐ）の発生期間を、記録情報Ｄｉの状態に応じて非
晶質マークを形成すべき期間と一致させることによっ
て、第２制御信号（Ｓｐ）を情報の記録中に発生させる
点に特徴を有している。ハード構成は、先の図１と同様
である。

【００４２】図３は、図１に示した光ディスク駆動装置
について、第３の実施の形態によるレーザの駆動動作を
説明するタイミングチャートである。図の各波形に付け
られた符号は図２と同様である。

【００４３】この図３に示すように、Ｐｐサンプルタイ
ミング回路１５は、記録情報Ｄｉの「１」のレベルの期
間（図３の期間ｄ）に限り、適宜、非晶質化レベル（Ｐ
ｐ）時のパルス信号をサンプリングするサンプル信号Ｓ
ｐを発生する。この場合、図３のＳｐの期間ｄでは、非
パルス状に発生されているが、レーザパワーは、非晶質
化レベルＰｐとなるので、記録情報Ｄｉに対応して非晶
質マークがディスク上に形成される。したがって、この
図３の場合には、期間ｃでは、情報（の信号）を記録
することができないが、期間ｄでは、情報の記録が可能
になる。

【００４４】すなわち、先の第２の実施の形態（図２の
場合）では、期間ｃとｄには、記録情報Ｄｉに対応した
情報（との信号）の記録が行えなかったが、この第
３の実施の形態（図３の場合）によれば、情報（の信
号）を記録することができないのは、期間ｃのみにな
る。したがって、第１制御信号（Ｓｒ）の発生中のみ
が、情報の記録ができない部分となり、光ディスク上に
記録可能な情報容量の低下を減少させることが可能にな
る。

【００４５】第４の実施の形態 この第４の実施の形態は、請求項４の発明に対応してい
る。先の第２の実施の形態では、出射光量の検出は、非
晶質化レベル（Ｐｐ）、結晶化レベル（Ｐｅ）、読み出
しレベル（Ｐｒ）の各レベルごとに行っている。この第
４の実施の形態では、重畳電流ＩｐとＩｅとの比率を、
最適なレーザパワーＰｐ（非晶質化レベル）とＰｅ（結
晶化レベル）とが得られるような値に予め設定してお
き、一方のレーザパワー、例えば、Ｐｅ（結晶化レベ
ル）での出射光量を検出して、最適な値に設定すること
により、他方のＰｐ（非晶質化レベル）を最適な値に設
定する重畳電流Ｉｐも安定化させる点に特徴を有してい
る。

【００４６】図４は、この発明の光ディスク駆動装置に
ついて、その要部構成の第４の実施の形態の一例を示す
機能ブロック図である。図における符号は図１と同様で
あり、２１は増幅回路を示す。

【００４７】この図４に示す装置は、先の図１の装置に
比べて、Ｓｐ調整回路６とＳｐサンプルホールド回路
７、Ｐｐサンプルタイミング回路１５が省略され、代り
に増幅回路２１が付加されている。そして、この増幅回
路２１が、Ｉｅ調整回路１０の出力を一定ゲインで増幅
してＩｐ電流源５を調整する。基本的な構成は先の図１
と同様であり、その動作も、図２と同様である。

【００４８】図５は、図４に示した光ディスク駆動装置
について、第４の実施の形態によるレーザの駆動動作を
説明するタイミングチャートである。図の各波形に付け
られた符号は図２と同様であり、図４の符号位置に対応
している。

【００４９】この図４の装置でも、Ｐｒサンプルタイミ
ング回路１６は、適宜、読み出しレベル（Ｐｒ）時のパ
ルス信号をサンプリングするサンプル信号Ｓｒを発生し
ている。例えば図５のＳｒに示すように、期間ｃに、サ
ンプル信号Ｓｒを「Ｈ」レベルで発生する。この図５の
Ｓｒにおいて、Ｓｒの発生期間（「Ｈ」レベルの期間
ｃ）中、Ｉｅスイッチ制御回路１８とＩｐスイッチ制御
回路１７は、いずれも、記録情報Ｄｉのレベルに関係な
く、Ｉｅスイッチ８とＩｐスイッチ４をオフにする。

【００５０】そのため、この期間ｃは、レーザダイオー
ド１には電流Ｉｒのみが印加されるので、図５のＰに示
すように、レーザパワーはＰｒ（読み出しレベル）で、
非パルス状となる。このような動作によって、この期間
ｃ中は、先の期間ａと異なり、光量検出電圧Ｖｄは、Ｐ
ｒに比例した値になる。Ｓｒサンプルホールド回路１４
は、この図５のＳｒに示すサンプル信号Ｓｒの発生期間
（期間ｃ）に、光量検出電圧Ｖｄをサンプリングする。
したがって、このＳｒサンプルホールド回路１４の出力
には、常に読み出しレベル（Ｐｒ）に比例した検出電圧
が得られる。

【００５１】Ｓｒ調整回路１３は、このＳｒサンプルホ
ールド回路１４から出力される検出電圧に基いて、レー
ザパワーを、読み出しレベル（Ｐｒ）の最適な値となる
ように、Ｉｒ電流源１２を調整する。以上が、レーザパ
ワーの読み出しレベル（Ｐｒ）の調整動作であり、先の
図１と図２の場合と同様である。すでに述べたように、
この第４の実施の形態では、新たに付加された増幅回路
２１が、Ｉｅ調整回路１０の出力を一定ゲインで増幅し
てＩｐ電流源５を調整する。

【００５２】そのため、Ｉｐ電流源５からの電流Ｉｐの
値と、Ｉｅ電流源９からの電流Ｉｅの値とが、常に一定
の比率に調整される。詳しくいえば、非晶質化レベル
（Ｐｐ）とするために電流Ｉｒに重畳する電流Ｉｐと、
結晶化レベル（Ｐｅ）とするために電流Ｉｒに重畳する
電流Ｉｅとの値は、常に一定の比率に調整される。ここ
で、レーザダイオード１の電流Ｉ（図５のＩ）と、レー
ザパワーＰ（図５のＰ）との関係を説明する。

【００５３】図６は、図４に示した光ディスク駆動装置
について、第４の実施の形態によるレーザダイオード１
の電流ＩとレーザパワーＰとの関係を示す特性図であ
る。図の横軸はレーザダイオード１の電流Ｉ、縦軸はレ
ーザパワーＰであり、ＡとＢはそれぞれ異なる特性曲
線、Ｉth１とＩth２は電流のしきい値を示す。

【００５４】この図６に示すように、レーザダイオード
１の電流ＩとパワーＰの特性は、周囲温度等の影響によ
って、特性曲線ＡやＢのように変化する。しかし、しき
い値電流Ｉth１，Ｉth２以上では、ほぼ直線的な特性で
ある。そのため、特性曲線の傾きが変化しても、読み出
しレベル（Ｐｒ）の駆動電流Ｉｒと、結晶化レベル（Ｐ
ｅ）とするために電流Ｉｒに重畳する電流Ｉｅとが、そ
れぞれ一定のレベルＰｒ，Ｐｅが得られるように調整さ
れており、かつ、非晶質化レベル（Ｐｐ）とするために
電流Ｉｒに重畳する電流Ｉｐが、結晶化レベル（Ｐｅ）
とするために電流Ｉｒに重畳する電流Ｉｅに対して一定
の比率に調整されていれば、図４のＩｐスイッチ４がオ
ンになり、レーザダイオード１に電流Ｉｒ＋Ｉｐが印加
された場合には、一定のレーザパワーＰｐ（非晶質化レ
ベル）が得られる。

【００５５】すなわち、電流ＩｐとＩｅとの比率を、最
適なレーザパワーＰｐ（非晶質化レベル）とＰｅ（結晶
化レベル）とが得られるような値に予め設定しておけ
ば、非晶質化レベル（Ｐｐ）とするために電流Ｉｒに重
畳する電流Ｉｐを安定化するだけで、他方の重畳電流Ｉ
ｅも安定化されることになる。以上のように、この第４
の実施の形態では、読み出しレベル（Ｐｒ）と結晶化レ
ベル（Ｐｅ）とを検出して、駆動電流Ｉｒと重畳電流Ｉ
ｅとをそれぞれ最適値に調整することにより、非晶質化
レベル（Ｐｐ）とするために電流Ｉｒに重畳する電流Ｉ
ｐは、予め設定された重畳電流Ｉｅとの比率（ＩｅとＩ
ｐとの比率）から、自動的に最適な値に設定されるの
で、非晶質化レベル（Ｐｐ）も最適値になる。また、逆
に、電流Ｉｅに対して、予め決められた最適な比率で、
電流Ｉｐを印加すれば、レーザパワーＰｐ（非晶質化レ
ベル）も最適値に設定される。すなわち、重畳電流Ｉｅ
の代りに、駆動電流Ｉｒと重畳電流Ｉｐとをそれぞれ最
適値に調整するようにしても、予め設定された重畳電流
Ｉｐとの比率（ＩｐとＩｅとの比率）から、自動的に最
適なパワーレベルに設定することができる。

【００５６】先の図４との対応によって、その構成を示
すと、次のようになる。半導体レーザ等の光源（図４の
レーザダイオード１）と、光源の駆動回路（Ｉｐスイッ
チ４，Ｉｐ電流源５）と、光源の出射光量を検出する出
射光量検出手段（フォトディテクタ２，アンプ３）とを
備え、光源から出射される光量を記録周波数より高い周
波数のパルス列として光ディスク上に照射して情報の記
録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装置において、
レーザパワー制御装置として、光源に第１レベルの電流
（Ｉｒ）を印加する電流印加手段（Ｉｒ電流源１２）
と、第１レベルの電流（Ｉｒ）に第２レベルの電流（Ｉ
ｅ）を重畳する第１電流重畳手段（Ｉｅ電流源９）と、
第１レベルの電流（Ｉｒ）に第３レベルの電流（Ｉｐ）
を重畳する第２電流重畳手段（Ｉｐ電流源５）と、第２
レベルの電流（Ｉｅ）を、記録情報（Ｄｉ）に応じてオ
ン／オフ制御する第１スイッチ手段（Ｉｅスイッチ８）
と、第３レベルの電流（Ｉｐ）を、記録情報（Ｄｉ）に
応じてパルス状にオン／オフ制御する第２スイッチ手段
（Ｉｐスイッチ４）と、第３レベルの電流（Ｉｐ）をオ
フにする第１制御信号（Ｓｒ）を発生する第１タイミン
グ制御手段（Ｐｒサンプルタイミング回路１６）と、第
１制御信号（Ｓｒ）の発生期間中における出射光量検出
手段（フォトディテクタ２，アンプ３）の出力（Ｖｄ）
を保持する第１サンプルホールド手段（Ｓｒサンプルホ
ールド回路１４）と、第１スイッチ手段（Ｉｅスイッチ
８）がオン期間中における出射光量検出手段（フォトデ
ィテクタ２，アンプ３）の出力（Ｖｄ）を保持する第２
サンプルホールド手段（Ｉｅサンプルホールド回路１
１）と、第１サンプルホールド手段（Ｓｒサンプルホー
ルド回路１４）の出力に応じて第１レベルの電流（Ｉ
ｒ）を調整する第１調整手段（Ｓｒ調整回路１３）と、
第２サンプルホールド手段（Ｉｅサンプルホールド回路
１１）の出力に応じて第２レベルの電流（Ｉｅ）を調整
する第２調整手段（Ｉｅ調整回路１０）と、第３レベル
の電流（Ｉｐ）が、第２レベルの電流（Ｉｅ）に比例し
た値となるように調整する第４調整手段（増幅回路２
１）とで構成している。

【００５７】この第４の実施の形態によれば、先の図１
の装置に比べて、Ｓｐ調整回路６やＳｐサンプルホール
ド回路７、Ｐｐサンプルタイミング回路１５が不要にな
るので、より安価な装置が実現される。

【００５８】第５の実施の形態 この第５の実施の形態は、請求項５の発明に対応してい
る。先の第４の実施の形態では、非晶質化レベル（Ｐ
ｐ）とするために電流Ｉｒに重畳する電流Ｉｐについて
は、予め設定された重畳電流Ｉｅとの比率（ＩｅとＩｐ
との比率）から、自動的に最適な値に設定されるように
しているので、読み出しレベル（Ｐｒ）と結晶化レベル
（Ｐｅ）とを検出して、駆動電流Ｉｒと重畳電流Ｉｅと
をそれぞれ最適値に調整することにより、非晶質化レベ
ル（Ｐｐ）も最適値になるようにする場合を説明した。
この第５の実施の形態では、予め重畳電流ＩｐとＩｅの
比率を、最適な駆動電流Ｉｒの値が得られるような所定
値に設定しておき、結晶化レベル（Ｐｅ）と非晶質化レ
ベル（Ｐｐ）とをそれぞれ検出して、最適値に調整する
ことにより、自動的に最適な駆動電流Ｉｒの値に設定さ
れて、最適な読み出しレベルＰｒが得られるようにした
点に特徴を有している。

【００５９】図７は、この発明の光ディスク駆動装置に
ついて、その要部構成の第５の実施の形態の一例を示す
機能ブロック図である。図における符号は図４と同様で
あり、３１は増幅回路、３２は第５の調整回路を示す。

【００６０】この図７に示す装置は、先の図１の装置に
比べて、Ｓｒ調整回路１３とＳｒサンプルホールド回路
１４、Ｐｒサンプルタイミング回路１６が省略され、代
りに増幅回路３１と第５の調整回路３２が付加されてい
る。

【００６１】図８は、図７に示した光ディスク駆動装置
について、第５の実施の形態によるレーザの駆動動作を
説明するタイミングチャートである。図の各波形に付け
られた符号は図２と同様であり、図７の符号位置に対応
している。

【００６２】Ｐｐサンプルタイミング回路１５は、図８
のＳｐに示すように、適宜、Ｐｐサンプル信号Ｓｐを発
生する。例えば、図８のＳｐの期間ｄに、サンプル信号
Ｓｐを「Ｈ」レベルで発生する。この図８のＳｐにおい
て、Ｓｐの発生期間（「Ｈ」レベルの期間ｄ）中、Ｉｐ
スイッチ制御回路１７は、記録情報Ｄｉのレベルに関係
なく、Ｉｐスイッチ４を非パルス状にオンにする。その
ため、この期間ｄは、レーザダイオード１には電流Ｉｒ
＋Ｉｐが印加されるので、図８のＰに示すように、レー
ザパワーはＰｐ（非晶質化レベル）で、非パルス状とな
る。

【００６３】このような動作によって、この期間ｄ中
も、先の期間ａと異なり、光量検出電圧Ｖｄは、非晶質
化レベル（Ｐｐ）に比例した値になる。Ｓｐサンプルホ
ールド回路７は、この図８のＳｐに示すサンプル信号Ｓ
ｐの発生期間（期間ｄ）に、光量検出電圧Ｖｄをサンプ
リングするので、このＳｐサンプルホールド回路７の出
力には、常に非晶質化レベル（Ｐｐ）に比例した検出電
圧が得られる。Ｓｐ調整回路６は、このＳｐサンプルホ
ールド回路７から出力される検出電圧に基いて、レーザ
パワーを、非晶質化レベル（Ｐｐ）の最適な値となるよ
うに、Ｉｐ電流源５を調整する。

【００６４】すでに述べたように、この第５の実施の形
態では、新たに付加された増幅回路３１と第５の調整回
路３２とが、Ｓｐ調整回路６とＩｅ調整回路１０の出力
によって、重畳電流ＩｐとＩｅの比率が所定の値となる
ように、Ｉｒ電流源１２を調整する。具体的にいえば、
所定比率をＫとすれば、Ｋ×Ｉｅ＞Ｉｐの場合には、駆
動電流Ｉｒを増加させ、Ｋ×Ｉｅ＜Ｉｐの場合には、駆
動電流Ｉｒを減少させるように、Ｉｒ電流源１２を調整
する。この関係を、次の図９によって説明する。

【００６５】図９は、図７に示した光ディスク駆動装置
について、第５の実施の形態によるレーザダイオード１
の電流ＩとレーザパワーＰとの関係を示す特性図で、
(1) はＫ×Ｉｅ＜Ｉｐの場合、(2) はＫ×Ｉｅ＝Ｉｐの
場合、(3) はＫ×Ｉｅ＞Ｉｐの場合を示す。図の横軸は
レーザダイオード１の電流Ｉ、縦軸はレーザパワーＰで
ある。

【００６６】この図９(1) 〜(3) には、レーザダイオー
ド１の電流Ｉに対するレーザパワーＰの関係を示してお
り、重畳電流ＩｅとＩｐ×Ｋの値との大小関係によっ
て、駆動電流Ｉｒによる読み出しレベル（Ｐｒ）に対し
て、結晶化レベル（Ｐｅ）と非晶質化レベル（Ｐｐ）と
が変化する状態を示している。なお、先の図８のタイミ
ングチャートにおいて、Ｄｉに示したように、記録情報
Ｄｉが「０」で、Ｉｅスイッチ８のオン／オフ信号Ｄｅ
が「Ｈ」レベルのとき（図８の期間ａ）に、光量検出電
圧Ｖｄをサンプリングして、レーザーパワーＰが結晶化
レベル（Ｐｅ）の最適な値となるように、Ｉｅ電流源９
を調整し、また、Ｓｐに示したように、適宜、Ｓｐの発
生期間（「Ｈ」レベルの期間ｄ）中に、光量検出電圧Ｖ
ｄをサンプリングして、レーザーパワーＰが非晶質化レ
ベル（Ｐｐ）の最適な値となるように、Ｉｐ電流源５を
調整している。

【００６７】重畳電流ＩｅとＩｐは、いずれも、最適な
結晶化レベル（Ｐｅ）と非晶質化レベル（Ｐｐ）が得ら
れるような値に調整されているので、図９(1) 〜(3) に
おいては、重畳電流ＩｅとＩｐは同じレベルになってい
る。そして、図９(2) に示すように、Ｋ×Ｉｅ＝Ｉｐの
場合に、最適なレーザパワーＰ、すなわち、Ｐｐ（非晶
質化レベル）、Ｐｅ（結晶化レベル）、Ｐｒ（読み出し
レベル）が得られる。一方、図９(3) のように、Ｋ×Ｉ
ｅ＞Ｉｐの場合には、駆動電流Ｉｒの値が不足している
ので、Ｐｒ（読み出しレベル）は最適値より小さい。こ
のような場合には、図７の増幅回路３１と第５の調整回
路３２とによってＩｒ電流源１２を調整し、駆動電流Ｉ
ｒを増加させるので、各電流値Ｉｅ，Ｉｐ，Ｉｒが最適
値にされ、最終的には、図９(2) に示したような最適な
レーザパワーＰが得られる。

【００６８】他方、図９(1) のように、Ｋ×Ｉｅ＜Ｉｐ
の場合には、駆動電流Ｉｒの値が過大であるから、Ｐｒ
（読み出しレベル）は最適値より大きい。このような場
合には、逆に、駆動電流Ｉｒを減少させて、各電流値Ｉ
ｅ，Ｉｐ，Ｉｒを最適値にするので、最終的には、同様
に、図９(2) に示したような最適なレーザパワーＰが得
られる。以上のように、この第５の実施の形態では、結
晶化レベル（Ｐｅ）と非晶質化レベル（Ｐｐ）とをそれ
ぞれ検出して、最適値に調整する。この場合に、重畳電
流ＩｐとＩｅの比率を、最適値な駆動電流Ｉｒの値が得
られるように、予め所定の値に設定しておく。したがっ
て、結晶化レベル（Ｐｅ）と非晶質化レベル（Ｐｐ）と
をそれぞれ最適値に調整すれば、自動的に最適値な駆動
電流Ｉｒの値に設定され、最適値な読み出しレベルＰｒ
が得られる。

【００６９】ここで、先の図７との対応によって、その
構成を示すと、次のようになる。半導体レーザ等の光源
（図７のレーザダイオード１）と、光源の駆動回路（Ｉ
ｐスイッチ４，Ｉｐ電流源５）と、光源の出射光量を検
出する出射光量検出手段（フォトディテクタ２，アンプ
３）とを備え、光源から出射される光量を記録周波数よ
り高い周波数のパルス列として光ディスク上に照射して
情報の記録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装置に
おいて、レーザパワー制御装置として、光源に第１レベ
ルの電流（Ｉｒ）を印加する電流印加手段（Ｉｒ電流源
１２）と、第１レベルの電流（Ｉｒ）に第２レベルの電
流（Ｉｅ）を重畳する第１電流重畳手段（Ｉｅ電流源
９）と、第１レベルの電流（Ｉｒ）に第３レベルの電流
（Ｉｐ）を重畳する第２電流重畳手段（Ｉｐ電流源５）
と、第２レベルの電流（Ｉｅ）を、記録情報（Ｄｉ）に
応じてオン／オフ制御する第１スイッチ手段（Ｉｅスイ
ッチ８）と、第３レベルの電流（Ｉｐ）を、記録情報
（Ｄｉ）に応じてパルス状にオン／オフ制御する第２ス
イッチ手段（Ｉｐスイッチ４）と、第３レベルの電流
（Ｉｐ）を非パルス状にオンにする第２制御信号（Ｓ
ｐ）を発生する第２タイミング制御手段（Ｐｐサンプル
タイミング回路１５）と、第１スイッチ手段（Ｉｅスイ
ッチ８）がオン期間中における出射光量検出手段（フォ
トディテクタ２，アンプ３）の出力（Ｖｄ）を保持する
第２サンプルホールド手段（Ｉｅサンプルホールド回路
１１）と、第２制御信号（Ｓｐ）の発生期間中における
出射光量検出手段（フォトディテクタ２，アンプ３）の
出力（Ｖｄ）を保持する第３サンプルホールド手段（Ｓ
ｐサンプルホールド回路７）と、第１サンプルホールド
手段（Ｓｒサンプルホールド回路１４）の出力に応じて
第１レベルの電流（Ｉｒ）を調整する第１調整手段（Ｓ
ｒ調整回路１３）と、第２サンプルホールド手段（Ｉｅ
サンプルホールド回路１１）の出力に応じて第２レベル
の電流（Ｉｅ）を調整する第２調整手段（Ｉｅ調整回路
１０）と、調整された第２レベルの電流（Ｉｅ）と、調
整された第３レベルの電流（Ｉｐ）との値に応じて第１
レベルの電流（Ｉｒ）を調整する第５調整手段（第５の
調整回路３２）とで構成している。

【００７０】第６の実施の形態 この第６の実施の形態は、請求項６の発明に対応してい
るが、先の請求項５の発明にも関連している。先の第５
の実施の形態では、結晶化レベル（Ｐｅ）と非晶質化レ
ベル（Ｐｐ）とをそれぞれ検出して、最適値に調整する
ことによって、自動的に最適な読み出しレベルＰｒを設
定する場合について説明した。ところが、図７に示した
光ディスク駆動装置では、図８のタイミングチャートの
Ｓｐに示したように、Ｄｉにで示した記録情報Ｄｉの
状態（レベル）とは関係なく、適宜、非晶質化レベル
（Ｐｐ）時のパルス信号をサンプリングするサンプル信
号Ｓｐを発生させている。そのため、図８のＳｐの発生
期間（「Ｈ」レベルの期間ｄ）中は、記録情報Ｄｉに対
応した情報を記録することができず（Ｄｉのに示す情
報）、光ディスク上に記録可能な情報容量が低下する。

【００７１】この第６の実施の形態では、第２制御信号
（Ｓｐ）の発生期間を、記録情報Ｄｉの状態に応じて非
晶質マークを形成すべき期間と一致させることによっ
て、第２制御信号（Ｓｐ）を情報の記録中に発生させる
点に特徴を有している。ハード構成は、先の図７と同様
である。

【００７２】図１０は、図７に示した光ディスク駆動装
置について、第６の実施の形態によるレーザの駆動動作
を説明するタイミングチャートである。図の各波形に付
けられた符号は図２と同様であり、図７の符号位置に対
応している。

【００７３】この第６の実施の形態では、Ｐｐサンプル
タイミング回路１５は、記録情報Ｄｉの「１」のレベル
の期間（図１０の期間ｄ）に限り、適宜、非晶質化レベ
ル（Ｐｐ）時のパルス信号をサンプリングするサンプル
信号Ｓｐを発生する。この場合、図１０のＳｐの期間ｄ
では、非パルス状に発生されているが、レーザパワー
は、非晶質化レベルＰｐとなるので、記録情報Ｄｉに対
応して非晶質マークがディスク上に形成される。したが
って、この図１０の場合には、いずれの期間でも、情報
の記録が可能になる。すなわち、先の第５の実施の形態
（図８の場合）では、期間ｄには、記録情報Ｄｉに対応
した情報の記録が行えなかったが、この第６の実施の形
態（図１０の場合）によれば、いずれの期間でも、情報
を記録することが可能になる。その結果、レーザパワー
の調整時においても、光ディスク上に記録可能な情報容
量が低下する、という不都合は生じない。

【００７４】

【発明の効果】請求項１の光ディスク駆動装置では、光
源が非パルス状に駆動される期間内に出射光量の検出を
行っている。したがって、検出帯域の限られた出射光量
検出器を使用しても、出射光量の正確な検出が可能にな
る。そして、この検出された出射光量に基いて出射光量
を最適値に調整すれば、光源が安定化される。しかも、
簡単な構成であるから、低コストの手段によって、情報
の信頼性の高い装置が得られる。

【００７５】請求項２の光ディスク駆動装置によれば、
請求項１の光ディスク駆動装置による効果に加えて、結
晶化レベル（Ｐｅ）だけでなく、レーザパワーの非晶質
化レベル（Ｐｐ）や読み出しレベル（Ｐｒ）の安定化も
可能になる。

【００７６】請求項３の光ディスク駆動装置では、請求
項２の光ディスク駆動装置において、第２制御信号（Ｓ
ｐ）の発生期間を、記録情報（Ｄｉ）の状態に応じて、
非晶質マークを形成すべき期間と一致させているので、
第２制御信号（Ｓｐ）の発生が情報の記録中になる。し
たがって、情報の記録が行えない期間は、第１制御信号
（Ｓｒ）の発生中だけとなり、請求項２の光ディスク駆
動装置に比べて、光ディスク上に記録可能な情報容量の
低下を減少させることができる。

【００７７】請求項４の光ディスク駆動装置によれば、
請求項１の光ディスク駆動装置に比べて、回路構成が簡
略化される。したがって、請求項１の光ディスク駆動装
置による効果に加えて、より安価な装置が得られる。

【００７８】請求項５の光ディスク駆動装置では、予め
重畳電流ＩｐとＩｅの比率を、最適な駆動電流Ｉｒの値
が得られるような所定値に設定しておき、結晶化レベル
（Ｐｅ）と非晶質化レベル（Ｐｐ）とをそれぞれ検出し
て、最適値に調整することにより、自動的に最適な駆動
電流Ｉｒの値に設定されて、最適な読み出しレベルＰｒ
が得られるようにしている。したがって、請求項１の光
ディスク駆動装置による効果に加えて、より安価な装置
が得られる。

【００７９】請求項６の光ディスク駆動装置では、請求
項５の光ディスク駆動装置において、第２制御信号（Ｓ
ｐ）の発生期間を、記録情報（Ｄｉ）の状態に応じて、
非晶質マークを形成すべき期間と一致させているので、
第２制御信号（Ｓｐ）の発生が情報の記録中になる。し
たがって、ディスク上に記録可能な情報容量の低下なし
に、安価な構成で、情報の信頼性の高い装置が得られ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光ディスク駆動装置について、その
レーザパワー制御装置の要部構成の実施の形態の一例を
示す機能ブロック図である。

【図２】図１に示した光ディスク駆動装置について、そ
の動作を説明するタイミングチャートである。

【図３】図１に示した光ディスク駆動装置について、第
３の実施の形態によるレーザの駆動動作を説明するタイ
ミングチャートである。

【図４】この発明の光ディスク駆動装置について、その
要部構成の第４の実施の形態の一例を示す機能ブロック
図である。

【図５】図４に示した光ディスク駆動装置について、第
４の実施の形態によるレーザの駆動動作を説明するタイ
ミングチャートである。

【図６】図４に示した光ディスク駆動装置について、第
４の実施の形態によるレーザダイオード１の電流Ｉとレ
ーザパワーＰとの関係を示す特性図である。

【図７】この発明の光ディスク駆動装置について、その
要部構成の第５の実施の形態の一例を示す機能ブロック
図である。

【図８】図７に示した光ディスク駆動装置について、第
５の実施の形態によるレーザの駆動動作を説明するタイ
ミングチャートである。

【図９】図７に示した光ディスク駆動装置について、第
５の実施の形態によるレーザダイオード１の電流Ｉとレ
ーザパワーＰとの関係を示す特性図である。

【図１０】図７に示した光ディスク駆動装置について、
第６の実施の形態によるレーザの駆動動作を説明するタ
イミングチャートである。

【図１１】相変化型光ディスクにおける記録方法の原理
を説明する図である。

【符号の説明】

１ レーザダイオード ２ フォトディテクタ ３ アンプ ４ Ｉｐスイッチ ５ Ｉｐ電流源 ６ Ｓｐ調整回路 ７ Ｓｐサンプルホールド回路 ８ Ｉｅスイッチ ９ Ｉｅ電流源 １０ Ｉｅ調整回路 １１ Ｉｅサンプルホールド回路 １２ Ｉｒ電流源 １３ Ｓｒ調整回路 １４ Ｓｒサンプルホールド回路 １５ Ｐｐサンプルタイミング回路 １６ Ｐｒサンプルタイミング回路 １７ Ｉｐスイッチ制御回路 １８ Ｉｅスイッチ制御回路

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 半導体レーザ等の光源と、前記光源の駆
   動回路と、前記光源の出射光量を検出する出射光量検出
   手段とを備え、前記光源から出射される光量を記録周波
   数より高い周波数のパルス列として光ディスク上に照射
   して情報の記録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装
   置において、 レーザパワー制御装置として、 前記光源を適宜、非パルス状に駆動する期間を設定する
   期間設定手段と、 設定された期間中に前記出射光量検出手段によって検出
   される出射光量に基いて光源の光量を調整する光量調整
   手段、とを備えたことを特徴とする光ディスク駆動装
   置。
2. 【請求項２】 半導体レーザ等の光源と、前記光源の駆
   動回路と、前記光源の出射光量を検出する出射光量検出
   手段とを備え、前記光源から出射される光量を記録周波
   数より高い周波数のパルス列として光ディスク上に照射
   して情報の記録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装
   置において、 レーザパワー制御装置として、 前記光源に第１レベルの電流を印加する電流印加手段
   と、 前記第１レベルの電流に第２レベルの電流を重畳する第
   １電流重畳手段と、 前記第１レベルの電流に第３レベルの電流を重畳する第
   ２電流重畳手段と、 前記第２レベルの電流を、記録情報に応じてオン／オフ
   制御する第１スイッチ手段と、 前記第３レベルの電流を、記録情報に応じてパルス状に
   オン／オフ制御する第２スイッチ手段と、 前記第３レベルの電流をオフにする第１制御信号を発生
   する第１タイミング制御手段と、 前記第３レベルの電流を非パルス状にオンにする第２制
   御信号を発生する第２タイミング制御手段と、 前記第１制御信号の発生期間中における前記出射光量検
   出手段の出力を保持する第１サンプルホールド手段と、 前記第１スイッチ手段がオン期間中における前記出射光
   量検出手段の出力を保持する第２サンプルホールド手段
   と、 前記第２制御信号の発生期間中における前記出射光量検
   出手段の出力を保持する第３サンプルホールド手段と、 前記第１サンプルホールド手段の出力に応じて前記第１
   レベルの電流を調整する第１調整手段と、 前記第２サンプルホールド手段の出力に応じて前記第２
   レベルの電流を調整する第２調整手段と、 前記第３サンプルホールド手段の出力に応じて前記第３
   レベルの電流を調整する第３調整手段、 と備えたことを特徴とする光ディスク駆動装置。
3. 【請求項３】 請求項２の光ディスク駆動装置におい
   て、 第２制御信号の発生期間を、記録情報の状態に応じた期
   間内とすることを特徴とする光ディスク駆動装置。
4. 【請求項４】 半導体レーザ等の光源と、前記光源の駆
   動回路と、前記光源の出射光量を検出する出射光量検出
   手段とを備え、前記光源から出射される光量を記録周波
   数より高い周波数のパルス列として光ディスク上に照射
   して情報の記録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装
   置において、 レーザパワー制御装置として、 前記光源に第１レベルの電流を印加する電流印加手段
   と、 前記第１レベルの電流に第２レベルの電流を重畳する第
   １電流重畳手段と、 前記第１レベルの電流に第３レベルの電流を重畳する第
   ２電流重畳手段と、 前記第２レベルの電流を、記録情報に応じてオン／オフ
   制御する第１スイッチ手段と、 前記第３レベルの電流を、記録情報に応じてパルス状に
   オン／オフ制御する第２スイッチ手段と、 前記第３レベルの電流をオフにする第１制御信号を発生
   する第１タイミング制御手段と、 前記第１制御信号の発生期間中における前記出射光量検
   出手段の出力を保持する第１サンプルホールド手段と、 前記第１スイッチ手段がオン期間中における前記出射光
   量検出手段の出力を保持する第２サンプルホールド手段
   と、 前記第１サンプルホールド手段の出力に応じて前記第１
   レベルの電流を調整する第１調整手段と、 前記第２サンプルホールド手段の出力に応じて前記第２
   レベルの電流を調整する第２調整手段と、 前記第３レベルの電流が、前記第２レベルの電流に比例
   した値となるように調整する第４調整手段、とを備えた
   ことを特徴とする光ディスク駆動装置。
5. 【請求項５】 半導体レーザ等の光源と、前記光源の駆
   動回路と、前記光源の出射光量を検出する出射光量検出
   手段とを備え、前記光源から出射される光量を記録周波
   数より高い周波数のパルス列として光ディスク上に照射
   して情報の記録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装
   置において、 レーザパワー制御装置として、 前記光源に第１レベルの電流を印加する電流印加手段
   と、 前記第１レベルの電流に第２レベルの電流を重畳する第
   １電流重畳手段と、 前記第１レベルの電流に第３レベルの電流を重畳する第
   ２電流重畳手段と、 前記第２レベルの電流を、記録情報に応じてオン／オフ
   制御する第１スイッチ手段と、 前記第３レベルの電流を、記録情報に応じてパルス状に
   オン／オフ制御する第２スイッチ手段と、 前記第３レベルの電流を非パルス状にオンにする第２制
   御信号を発生する第２タイミング制御手段と、 前記第１スイッチ手段がオン期間中における前記出射光
   量検出手段の出力を保持する第２サンプルホールド手段
   と、 前記第２制御信号の発生期間中における前記出射光量検
   出手段の出力を保持する第３サンプルホールド手段と、 前記第２サンプルホールド手段の出力に応じて前記第２
   レベルの電流を調整する第２調整手段と、 前記第３サンプルホールド手段の出力に応じて前記第３
   レベルの電流を調整する第３調整手段と、 調整された前記第２レベルの電流と、調整された前記第
   ３レベルの電流との値に応じて前記第１レベルの電流を
   調整する第５調整手段、と備えたことを特徴とする光デ
   ィスク駆動装置。
6. 【請求項６】 請求項５の光ディスク駆動装置におい
   て、 第２制御信号の発生期間を、記録情報の状態に応じた期
   間内とすることを特徴とする光ディスク駆動装置。