JPH09288840A - 光ディスク駆動装置のレーザパワー制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検出帯域が比較的狭くて安価な出射光量検出
器を使用した簡単な構成によって、出射光量を安定化さ
せることにより、情報の信頼性の高い光ディスク駆動装
置を提供する。 【解決手段】 光源からの光を記録周波数より高い周波
数のパルス列によりディスクに情報の記録等を行う光デ
ィスク装置のレーザパワー制御装置として、第１レベル
電流Ｉｒの印加部、電流Ｉｒに第２／第３レベル電流Ｉ
ｅ／電流Ｉｐを重畳する第１／第２重畳部、電流Ｉｅ／
電流Ｉｐをオン／オフする第１／第２スイッチ、第２ス
イッチのパルス状オン／オフ期間のローパスフィルタ出
力を保持する第１保持部、第１スイッチのオン期間中に
光量検出部の出力を保持する第２保持部、第１／第２保
持部の出力に応じて電流Ｉｒ／Ｉｅを調整する第１／第
２調整部、電流Ｉｐを電流Ｉｅに比例した値に調整する
第３調整部を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、光源から出射さ
れる光量を記録周波数より高い周波数のパルス列として
光ディスク上に照射して情報の記録、消去、初期化を行
う光ディスク駆動装置に係り、特に、光源のレーザダイ
オード（半導体レーザ）の発光パワーを制御するレーザ
パワー制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】相変化型光ディスクは、高密度記録が可
能なディスクであり、情報の記録方法についても、各種
の方式が提案されている。例えば、ディスク上に非晶質
化マークを形成するために、レーザビームを短い単一ま
たは複数のパルスで照射したり（特開昭６３−２６６６
３２号公報）、結晶化するために高い周波数のパルス列
でレーザビームを照射する（特開平１−１１９９２１号
公報）などの記録方法が知られている。ここで、相変化
型光ディスクにおける記録方法について、簡単に説明す
る。

【０００３】図８は、相変化型光ディスクにおける記録
方法の原理を説明する図で、(1) は記録情報とレーザパ
ワーとの関係、(2) は記録情報に対応するトラック上の
記録状態を示す。図において、Ｐｐは非晶質化レベル、
Ｐｅは結晶化レベル、Ｐｒは読み出しレベルを示す。

【０００４】相変化型光ディスクの場合には、情報の記
録に際しては、ディスクのトラック上にレーザスポット
を照射して、レーザパワーを記録情報に応じて変化させ
ることにより、ディスクの記録膜上に結晶化領域と非晶
質化したマークを形成することによって行われる。この
状態を、図８(1) に示しており、記録情報の「０」のレ
ベルに対応して、レーザパワーを結晶化レベルＰｅとす
ることにより、記録膜が結晶化されて、結晶化領域が形
成される。

【０００５】これに対して、記録情報の「１」のレベル
に対応して、レーザパワーを非晶質化レベルＰｐと読み
出しレベルＰｒとの間で、パルス状に変化させることに
より、記録膜が非晶質化されて、非晶質化マークが形成
される。このような記録動作によって、図８(2) に示し
たように、トラック上に記録情報の「１」のレベルに対
応する非晶質化マークが形成される。ここで、３つのレ
ベルの関係は、Ｐｐ（非晶質化レベル）＞Ｐｅ（結晶化
レベル）＞Ｐｒ（読み出しレベル）である。

【０００６】このようにして、相変化型光ディスクに
は、記録情報の「０」のレベルに対応する結晶化領域
と、記録情報の「１」のレベルに対応する非晶質化マー
クとが形成される。そのため、レーザパワーとしては、
記録情報の「０」のレベルに対応する（中間の）結晶化
レベルＰｅと、記録情報の「１」のレベルを形成するた
めの（最高の）非晶質化レベルＰｐと、（最低の）読み
出しレベルＰｒ、の計３つのレベルで制御する必要があ
る。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】相変化型光ディスクの
ように、レーザスポットを高い周波数のパルス列として
光ディスク上に照射して情報の記録あるいは消去、初期
化を行う光ディスク駆動装置においては、レーザパワー
の変化も高周波である。そのため、検出帯域の限られた
出射光量検出器を使用すると、正確な出射光量を検出す
ることが困難になる。このように不正確に検出された出
射光量に基いて出射光量を調整しても、正確な調整は難
かしいので、安定化させることも困難である。その結
果、情報の記録、消去、初期化等の処理が不完全なもの
になる、というケースが生じる。また、正確な出射光量
を検出するために、広帯域の出射光量検出器を使用する
と、高価な受光素子やアンプ等を必要とするのでコスト
アップになる。このような不都合を解決する一つの方法
として、この出願の発明者は、安価で簡単な構成によっ
て、レーザダイオードの出射光量を安定化させることに
より、情報の信頼性の高い光ディスク駆動装置を提案し
た（特願平７−３４９６９１号の「光ディスク駆動装置
のレーザパワー制御装置」）。この光ディスク駆動装置
のレーザパワー制御装置では、光源を非パルス状に駆動
する期間を設け、この期間中にレーザの発光パワーを検
出して、発光パワーを制御するようにしている。このよ
うに発光パワーを制御すれば、検出帯域の限られた出射
光量検出器を使用しても、正確な出射光量の検出が可能
である。しかし、レーザダイオードの発光パワーの検出
において、非パルス状の期間のレーザダイオードは記録
パワー（前記の非晶質化レベル：Ｐｐ）であり、このよ
うに高い発光パワーを光ディスクに照射して発光パワー
の制御を行うと、光ディスクが劣化する、という問題が
ある。より詳しくいえば、相変化型光ディスクにおいて
は、非パルス状の光の記録パワーによる照射は、光ディ
スクの特性を著しく劣化させるので、情報の信頼性の高
いデータの記録、再生あるいは消去が行えない、という
問題を生じる。この発明では、このような問題を解決
し、レーザスポットを記録周波数より高い周波数のパル
ス列として光ディスク上に照射して情報の記録、再生、
消去あるいは初期化を行う光ディスク装置においても、
安価で簡単な構成によって、レーザダイオードの出射光
量を安定化させると共に、光ディスクの劣化も生じない
ようにして、信頼性の高い情報の記録、再生あるいは消
去が行う光ディスク装置を得ることを課題にしている
（請求項１から請求項３の発明）。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１の光ディスク駆
動装置では、半導体レーザ等の光源を備え、光源から出
射される光量を記録周波数より高い周波数のパルス列と
して光ディスク上に照射して情報の記録、消去、初期化
を行う光ディスク駆動装置において、レーザパワー制御
装置として、光源の出射光量を検出する出射光量検出手
段と、光源に第１レベルの電流（Ｉｒ）を印加する電流
印加手段と、第１レベルの電流（Ｉｒ）に第２レベルの
電流（Ｉｅ）を重畳する第１電流重畳手段と、第１レベ
ルの電流（Ｉｒ）に第３レベルの電流（Ｉｐ）を重畳す
る第２電流重畳手段と、第２レベルの電流（Ｉｅ）を、
記録情報に応じてオン／オフ制御する第１スイッチ手段
と、第３レベルの電流（Ｉｐ）を、記録情報に応じてパ
ルス状にオン／オフ制御する第２スイッチ手段と、出射
光量検出手段の出力を平滑化するローパスフィルタと、
第２スイッチ手段のパルス状オン／オフ期間におけるロ
ーパスフィルタの出力を保持する第１サンプルホールド
手段と、第１スイッチ手段のオン期間中における出射光
量検出手段の出力を保持する第２サンプルホールド手段
と、第１サンプルホールド手段の出力に応じて第１レベ
ルの電流（Ｉｒ）を調整する第１調整手段と、第２サン
プルホールド手段の出力に応じて第２レベルの電流（Ｉ
ｅ）を調整する第２調整手段と、第３レベルの電流（Ｉ
ｐ）が第２レベルの電流（Ｉｅ）に比例した値となるよ
うに調整する第３調整手段とを設けている。

【０００９】請求項２の光ディスク駆動装置では、半導
体レーザ等の光源と、光源の駆動回路と、光源の出射光
量を検出する出射光量検出手段とを備え、光源から出射
される第３のレベルの光量（Ｐｐ）を記録周波数より高
い周波数のパルス列として光ディスク上に照射して情報
の記録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装置におい
て、レーザパワー制御装置として、光源を適宜第３のレ
ベルの光量（Ｐｐ）よりも低い第４のレベルの光量（Ｐ
ｔ）で非パルス状に駆動する期間を設定する期間設定手
段と、設定された期間中に出射光量検出手段によって検
出される出射光量に基いて第４のレベルの光量（Ｐｔ）
を調整する第１の光量調整手段と、第１の光量調整手段
の出力に基いて第３のレベルの光量（Ｐｐ）を調整する
第２の光量調整手段とを設けている。

【００１０】請求項３の光ディスク駆動装置では、半導
体レーザ等の光源と、光源の駆動回路とを備え、光源か
ら出射される光量を記録周波数より高い周波数のパルス
列として光ディスク上に照射して情報の記録、消去、初
期化を行う光ディスク駆動装置において、レーザパワー
制御装置として、光源の出射光量を検出する出射光量検
出手段と、光源に第１レベルの電流（Ｉｒ）を印加する
電流印加手段と、第１レベルの電流（Ｉｒ）に第２レベ
ルの電流（Ｉｅ）を重畳する第１電流重畳手段と、第１
レベルの電流（Ｉｒ）に第３レベルの電流（Ｉｐ）を重
畳する第２電流重畳手段と、第１レベルの電流（Ｉｒ）
に第４レベルの電流（Ｉｔ）を重畳する第３電流重畳手
段と、第２レベルの電流（Ｉｅ）を、記録情報に応じて
オン／オフ制御する第１スイッチ手段と、第３レベルの
電流（Ｉｐ）を、記録情報に応じてパルス状にオン／オ
フ制御する第２スイッチ手段と、第４レベルの電流（Ｉ
ｔ）を制御信号に応じてオン／オフ制御する第３スイッ
チ手段と、第４レベルの電流（Ｉｔ）をオンにする制御
信号を発生するタイミング手段と、第１スイッチ手段の
オン期間中における出射光量検出手段の出力を保持する
第１サンプルホールド手段と、制御信号の発生期間中に
おける出射光量検出手段の出力を保持する第２サンプル
ホールド手段と、第１サンプルホールド手段の出力に応
じて第２レベルの電流（Ｉｅ）を調整する第１調整手段
と、第２サンプルホールド手段の出力に応じて第４レベ
ルの電流（Ｉｔ）を調整する第２調整手段と、第３レベ
ルの電流（Ｉｐ）が、第４レベルの電流（Ｉｔ）に比例
し、かつ、第４レベルの電流（Ｉｔ）より大きい値とな
るように調整する第３調整手段と、調整された第２レベ
ルの電流（Ｉｅ）と、調整された第３レベルの電流（Ｉ
ｐ）または前記第４レベルの電流（Ｉｔ）との値に応じ
て前記第１レベルの電流（Ｉｒ）を調整する第４調整手
段とを設けている。

【００１１】

【発明の実施の形態】

第１の実施の形態 この第１の実施の形態は、請求項１の発明に対応してい
る。この第１の実施の形態では、検出帯域が比較的狭く
て安価な出射光量検出器を使用した簡単な構成によっ
て、レーザダイオードの出射光量を安定化させることに
より、情報の信頼性の高い光ディスク駆動装置を実現し
ている。そのために、出射光量検出手段の出力を平滑化
するローパスフィルタを設け、パルス状オン／オフ期間
におけるローパスフィルタの出力によって、記録パワー
（非晶質化レベルＰｐ）の制御を行う点に特徴を有して
いる。具体的にいえば、中間レベルの結晶化レベルＰｅ
のパワー制御（設定）は、記録情報が「０」の非パルス
状の期間に行って、最適な結晶化レベルＰｅの重畳電流
Ｉｅを検出し、最適な非晶質化レベルＰｐの重畳電流Ｉ
ｐは、非パルス状の期間に検出された結晶化レベルＰｅ
の重畳電流Ｉｅに比例した値の電流に調整することによ
り設定し、読み出しレベルＰｒの駆動電流Ｉｒは、ロー
パスフィルタによって平滑化された検出出力を使用し
て、非晶質化レベルＰｐと最も低い読み出しレベルＰｒ
との平均パワーレベルを検知することによって設定す
る。このように、パルス状オン／オフ期間におけるロー
パスフィルタの出力を検出して発光パワーを制御するこ
とによって、検出帯域が比較的狭くて安価な出射光量検
出器を使用しても、正確なパワー制御が可能になる。最
初に、全体の構成を説明する。

【００１２】図１は、この発明の光ディスク駆動装置に
ついて、そのレーザパワー制御装置の要部構成の実施の
形態の一例を示す機能ブロック図である。図において、
１はレーザダイオード、２はフォトディテクタ、３はア
ンプ、４はＩｐスイッチ、５はＩｐ電流源、６は増幅回
路、７はＩｅスイッチ、８はＩｅ電流源、９は第２の調
整回路、１０は第２のサンプルホールド回路、１１はＩ
ｒ電流源、１２は第１の調整回路、１３は第１のサンプ
ルホールド回路、１４はローパスフィルタ、１５はＩｐ
スイッチ制御回路、１６はＩｅスイッチ制御回路を示
し、Ｉｒは読み出しレベルＰｒの駆動電流、Ｉｅは結晶
化レベルＰｅとするために電流Ｉｒに重畳する電流で、
Ｉｅ′は電流Ｉｅがスイッチングされた電流、Ｉｐは非
晶質化レベルＰｐとするために電流Ｉｒに重畳する電流
で、Ｉｐ′は電流Ｉｐがスイッチングされた電流、Ｄｉ
は記録情報、ＤｐはＩｐスイッチ４のオン／オフ制御信
号、ＤｅはＩｅスイッチ７のオン／オフ制御信号、Ｖｄ
はアンプ３の出射光量検出電圧を示す。

【００１３】レーザダイオード１の出射光は、レンズに
より集光されてディスク上に照射されるが、この出射光
の一部は、フォトディテクタ２にも照射され、その出力
がアンプ３により増幅されて、出射光量の検出に用いら
れる。このレーザダイオード１には、３つの電流源（Ｉ
ｐ電流源５，Ｉｅ電流源８，Ｉｒ電流源１１）からの電
流が印加されるが、その内の２つの電流源（Ｉｐ電流源
５，Ｉｅ電流源８）からの電流は、Ｉｐスイッチ４とＩ
ｅスイッチ７によってオン／オフされる。

【００１４】まず、Ｉｒ電流源１１は、レーザダイオー
ド１に対して、レーザパワーを読み出しレベルＰｒにす
るために必要な電流Ｉｒを印加する（最低のレベル）。
一方、結晶化レベルＰｅの駆動時には、Ｉｅ電流源８か
らの電流Ｉｅが、Ｉｅスイッチ７によってオン／オフ制
御された電流Ｉｅ′として、読み出しレベルＰｒの電流
Ｉｒに重畳される形でレーザダイオード１に印加され
る。すなわち、Ｉｅスイッチ７の動作時には、レーザパ
ワーを結晶化レベルＰｅとするために必要な電流Ｉｒ＋
Ｉｅ′が、レーザダイオード１に印加される（中間のレ
ベル）。

【００１５】また、非晶質化レベルＰｐの駆動時には、
Ｉｐ電流源５からの電流が、Ｉｐスイッチ４によってオ
ン／オフ制御されたスイッチング電流Ｉｐ′として、読
み出しレベルＰｒの電流Ｉｒに重畳される形でレーザダ
イオード１に印加される。すなわち、Ｉｐスイッチ４の
オン時には、レーザパワーを非晶質化レベルＰｐとする
ために必要な電流Ｉｒ＋Ｉｐ′が、レーザダイオード１
に印加される（最高のレベル）。すでに述べたように、
この第１の実施の形態では、レーザパワーの制御、特に
最も高いレベルの非晶質化レベルＰｐの発光パワーの調
整時に、光ディスクの記録膜に局所的な劣化が生じない
レベルの光量を照射するようにしている。次に、第１の
実施の形態による動作をタイミングチャートで説明す
る。

【００１６】図２は、図１に示した光ディスク駆動装置
について、その動作を説明するタイミングチャートであ
る。図の各波形に付けられた符号は図１の符号位置に対
応しており、Ｉは実際にレーザダイオード１に印加され
る電流、Ｐは電流Ｉによるレーザパワー、ＬＰＦ出力は
ローパスフィルタ１４の出力信号、ａは記録情報Ｄｉの
「０」のレベルの期間、ｂは記録情報Ｄｉの「１」のレ
ベルの期間、Ｐａは読み出しレベルＰｒと非晶質化レベ
ルＰｐの平均パワーレベルを示す。

【００１７】この図２に示したＩｒは、レーザパワーを
読み出しレベルＰｒにするために必要な電流Ｉｒで、一
定レベルの電流である。結晶化レベルＰｅの駆動時に
は、Ｉｅ′に示すように、Ｉｅ電流源８からの電流Ｉｅ
がＩｅスイッチ７によりオン／オフされて、スイッチン
グ電流Ｉｅ′が発生される。このような結晶化レベルＰ
ｅ時のスイッチング動作を行うために、図１のＩｅスイ
ッチ制御回路１６は、情報記録時に、記録情報Ｄｉのレ
ベルに応じてＩｅスイッチ７のオン／オフ制御信号Ｄｅ
を出力する。

【００１８】このＩｅスイッチ７のオン／オフ制御信号
Ｄｅは、記録情報Ｄｉが「０」のとき（図２の期間ａ）
は、「Ｈ」レベルで出力されるので、Ｉｅスイッチ７が
オンになる。他方、記録情報Ｄｉが「１」のとき（図２
の期間ｂ）は、Ｉｅスイッチ７のオン／オフ制御信号Ｄ
ｅが「Ｌ」レベルで出力されるので、Ｉｅスイッチ７は
オフになる。このようなオン／オフ制御により、Ｉｅ電
流源８からの電流ＩｅがＩｅスイッチ７によりオン／オ
フされて、図２にＩｅ′で示したように、スイッチング
電流Ｉｅ′が発生される。

【００１９】すなわち、レーザダイオード１には、図２
にＩで示したように、電流Ｉｒ＋Ｉｅが印加されること
になる。その結果、図２にＰで示したように、記録情報
Ｄｉが「０」の期間ａには、結晶化レベルＰｅのレーザ
パワーが得られる。したがって、この期間ａには、先の
図８(2) で説明したように、記録膜が結晶化されて結晶
化領域が形成される。

【００２０】これに対して、非晶質化レベルＰｐの駆動
時には、図２のＩｐ′に示したように、Ｉｐ電流源５か
らの電流がＩｐスイッチ４によりオン／オフされて、ス
イッチング電流Ｉｐ′が発生される。この非晶質化レベ
ルＰｐ時のスイッチング動作を行うために、Ｉｐスイッ
チ制御回路１５は、情報記録時に、記録情報Ｄｉのレベ
ルに応じてＩｐスイッチ４のオン／オフ制御信号Ｄｐを
出力する。このＩｐスイッチ４のオン／オフ制御信号Ｄ
ｐは、記録情報Ｄｉが「０」のとき（図２の期間ａ）
に、「Ｌ」レベルとなり、Ｉｐスイッチ４はオフにな
る。

【００２１】他方、記録情報Ｄｉが「１」のとき（図２
の期間ｂ）には、Ｉｐスイッチ４のオン／オフ制御信号
Ｄｐはパルス状に変化する。そのため、Ｉｐスイッチ４
は、パルス状にオン／オフされることになり、この期間
ｂには、レーザダイオード１に、図２にＩで示したよう
に、電流Ｉｒと電流Ｉｒ＋Ｉｐとの間のレベルで変化す
るパルス状の電流が印加される。その結果、図２にＰで
示したように、記録情報Ｄｉが「１」の期間ｂは、非晶
質化レベルＰｐと読み出しレベルＰｒとの間でパルス状
に変化されるパワーレベルが得られる。したがって、こ
の期間ｂには、先の図８(2) で説明したように、記録情
報Ｄｉの「１」に対応する非晶質化マークが形成され
る。

【００２２】以上のように、レーザダイオード１の駆動
電流は、記録情報Ｄｉの「０」レベルに対応して、レー
ザパワーは結晶化レベルＰｅとなり、また、記録情報Ｄ
ｉの「１」レベルに対応して、レーザパワーは非晶質化
レベルＰｐと読み出しレベルＰｒとの間でパルス状に変
化されるパワーレベルに制御される。この場合に、図１
に示した光ディスク駆動装置では、レーザダイオード１
の出射光の一部が、フォトディテクタ２により検出さ
れ、その出力がアンプ３によって増幅されるので、アン
プ３の出射光量検出電圧Ｖｄは、レーザパワーに比例し
た値となる。

【００２３】ところが、すでに述べたように、フォトデ
ィテクタ２とアンプ３の応答帯域が限られているとき
は、図２のＤｉに示した期間ｂに対応するパルス状の発
光部では、正確な光量検出ができない。この状態の波形
は、図２のＶｄに示したように、小さな波状の変化を繰
り返えしている。これに対して、図２のＤｉに示した期
間ａでは、レーザパワーは結晶化レベルＰｅで非パルス
状であるから、出射光量検出電圧Ｖｄは、図２のＶｄに
示したように、結晶化レベルＰｅに比例した値になる。

【００２４】そこで、このレーザパワーが安定したレベ
ル（図２の期間ａ）のとき、出射光量検出電圧Ｖｄを取
り込んで、レーザパワーの制御を行う。図１の光ディス
ク駆動装置では、第２のサンプルホールド回路１０によ
って、記録情報Ｄｉが「０」で、Ｉｅスイッチ７のオン
／オフ制御信号Ｄｅが「Ｈ」レベルのとき（図２の期間
ａ）に、出射光量検出電圧Ｖｄをサンプリングする。し
たがって、この第２のサンプルホールド回路１０の出力
には、常に結晶化レベルＰｅに比例した検出電圧が得ら
れる。第２の調整回路９は、この検出電圧に基いて、レ
ーザパワーＰを、結晶化レベルＰｅの最適な値となるよ
うに、Ｉｅ電流源８を調整する。以上が、レーザパワー
の結晶化レベルＰｅの調整動作であり、この結晶化レベ
ルＰｅを最適値に調整することによって、最適な重畳電
流Ｉｅに設定される。

【００２５】高いレベルの非晶質化レベルＰｐの調整に
は、予め結晶化レベルＰｅを最適値に設定する重畳電流
Ｉｅと、非晶質化レベルＰｐを最適値に設定する重畳電
流Ｉｐとの比率を設定しておき、結晶化レベルＰｅの重
畳電流Ｉｅに比例した非晶質化レベルＰｐの重畳電流Ｉ
ｐを印加するように調整する。また、読み出しレベルＰ
ｒの最適値の設定には、パルス状の発光期間に、非晶質
化レベルＰｐと読み出しレベルＰｒとの平均レベル（Ｐ
ａとする）を検出して調整する。先の図２の期間ｂで
は、レーザパワーＰは、非晶質化レベルＰｐと読み出し
レベルＰｒとの間でパルス状に変化する。

【００２６】そこで、アンプ３の出射光量検出電圧Ｖｄ
をローパスフィルタ１４によって平滑化する。その結
果、ローパスフィルタ１４の出力は、この期間ｂでは、
非晶質化レベルＰｐと読み出しレベルＰｒとの平均パワ
ーに比例したレベル（図２のＰに示したＰａのレベル）
になる。第１のサンプルホールド回路１３は、記録情報
Ｄｉが「１」のとき（図２の期間ｂ）に、ローパスフィ
ルタ１４の出力をサンプリングする。したがって、第１
のサンプルホールド回路１３の出力には、常に非晶質化
レベルＰｐと読み出しレベルＰｒとの平均パワーレベル
Ｐａに比例した検出電圧が得られることになる。

【００２７】読み出しレベルＰｒの最適な駆動電流Ｉｒ
は、この平均パワーレベルＰａに比例した検出電圧によ
って設定される。この場合に、増幅回路６は、第２の調
整回路９の出力（結晶化レベルＰｅが最適な値となるよ
うにＩｅ電流源８を調整する重畳電流Ｉｅの制御信号）
を一定ゲインで増幅し、Ｉｐ電流源５から出力される重
畳電流Ｉｐの値を調整する。その結果、非晶質化レベル
Ｐｐとするために電流Ｉｒに重畳する電流Ｉｐは、結晶
化レベルＰｅとするために電流Ｉｒに重畳する電流Ｉｅ
に対して、常に一定の比率に調整されることになり、非
晶質化レベルＰｐを最適値に設定するためのパワーの検
出は行わない。

【００２８】ここで、レーザダイオード１に流れる電流
Ｉ（図２のＩ）と、レーザパワーＰ（図２のＰ）との関
係を説明する。図２の期間ｂでは、レーザパワーＰは、
非晶質化レベルＰｐと読み出しレベルＰｒとの間でパル
ス状に変化する。すなわち、レーザダイオード１に流れ
る電流Ｉ（図２のＩ）は、読み出しレベルＰｒの駆動電
流Ｉｒと、非晶質化レベルＰｐとするために重畳される
電流Ｉｐであり、この電流Ｉに対応して、レーザパワー
Ｐ（図２のＰ）が得られる。

【００２９】図３は、図１に示した光ディスク駆動装置
について、第１の実施の形態によるレーザダイオード１
の電流ＩとレーザパワーＰとの関係を示す特性図であ
る。図の横軸はレーザダイオード１の電流Ｉ、縦軸はレ
ーザパワーＰであり、ＡとＢはそれぞれ異なる特性曲
線、Ｉth１とＩth２は電流のしきい値を示す。

【００３０】この図３に示すように、レーザダイオード
１の電流ＩとパワーＰの特性は、周囲温度等の影響によ
って、特性曲線ＡやＢのように変化する。しかし、しき
い値電流Ｉth１，Ｉth２以上では、ほぼ直線的な特性で
ある。そのため、特性曲線の傾きが変化しても、非晶質
化レベルＰｐと読み出しレベルＰｒとの差、すなわち、
Ｐｐ−Ｐｒと、結晶化レベルＰｅと読み出しレベルＰｒ
との差、すなわち、Ｐｅ−Ｐｒとの比率は常に一定で、
この比率は、非晶質化レベルＰｐとするために電流Ｉｒ
に重畳する電流Ｉｐと、結晶化レベルＰｅとするために
電流Ｉｒに重畳する電流Ｉｅとの比率と同じである。こ
こで、この比率をＫとすれば、 Ｋ＝Ｉｐ／Ｉｅ＝（Ｐｐ−Ｐｒ）／（Ｐｅ−Ｐｒ） の関係がある。一方、すでに述べたように、図１の第１
のサンプルホールド回路１３の出力には、非晶質化レベ
ルＰｐと読み出しレベルＰｒとの平均パワーレベルＰａ
に比例した検出電圧が得られており、平均パワーレベル
Ｐａは、 Ｐａ＝（Ｐｐ＋Ｐｒ）／２ である。

【００３１】そこで、第１の調整回路１２は、第１のサ
ンプルホールド回路１３の出力が所望の値となるよう
に、Ｉｒ電流源１１を調整する（読み出しレベルＰｒの
最適な駆動電流Ｉｒが設定される）。ここで、非晶質化
レベルＰｐの所望の値をＰpo、読み出しレベルＰｒの所
望の値をＰroとし、また、このときの平均パワーレベル
をＰaoとする。なお、この平均パワーレベルの所望の値
は、Ｐao＝（Ｐpo＋Ｐro）／２である。詳しくいえば、
第１の調整回路１２は、第１のサンプルホールド回路１
３の出力によって検出される非晶質化レベルＰｐと読み
出しレベルＰｒとの平均パワーレベルＰａが、その所望
の値Ｐaoよりも小さい場合（Ｐａ＜Ｐaoのとき）には、
駆動電流Ｉｒを減少させ、平均パワーレベルＰａが、そ
の所望の値Ｐaoよりも大きい場合（Ｐａ＞Ｐaoのとき）
には、駆動電流Ｉｒを増加させるように、Ｉｒ電流源１
１を調整する。この関係を、次の図４によって説明す
る。

【００３２】図４は、図１に示した光ディスク駆動装置
について、第１の実施の形態によるレーザダイオード１
の電流Ｉに対応するレーザパワーＰの変化を説明する特
性図で、(1) はＰａ＜Ｐaoの場合、(2) はＰａ＝Ｐaoの
場合、(3) はＰａ＞Ｐaoの場合を示す。図の横軸はレー
ザダイオード１の電流Ｉ、縦軸はレーザパワーＰであ
る。

【００３３】この図４(1) 〜(3) には、レーザダイオー
ド１の電流Ｉに対するレーザパワーＰの関係を示してお
り、平均パワーレベルＰａと所望の値Ｐaoとの大小関係
によって、駆動電流Ｉｒによる読み出しレベルＰｒに対
して、結晶化レベルＰｅと非晶質化レベルＰｐとが変化
する状態を示している。なお、先の図２のタイミングチ
ャートにおいて、Ｄｉに示したように、記録情報Ｄｉが
「０」で、Ｉｅスイッチ７のオン／オフ制御信号Ｄｅが
「Ｈ」レベルのとき（図２の期間ａ）に、光量検出電圧
Ｖｄをサンプリングして、レーザパワーＰが結晶化レベ
ルＰｅの最適な値となるように、Ｉｅ電流源８を調整し
ているので、最適な重畳電流Ｉｅが出力されている。し
たがって、図４(1) と(3) においては、重畳電流Ｉｅ
は、同じレベルになっている。また、この結晶化レベル
Ｐｅの重畳電流Ｉｅと、非晶質化レベルＰｐの重畳電流
Ｉｐとの比率は、いずれも、最適な結晶化レベルＰｅと
非晶質化レベルＰｐが得られるような値に調整されてい
る。

【００３４】まず、図４(1) のように、Ｐａ＜Ｐaoの場
合には、駆動電流Ｉｒの値が過大であるから、読み出し
レベルＰｒは最適値より大きい。この場合には、図１の
第１の調整回路１２がＩｒ電流源１１を調整して、駆動
電流Ｉｒを減少させる。また、第２の調整回路９は、結
晶化レベルＰｅが最適値となるように、Ｉｅ電流源８を
調整して、重畳電流Ｉｅを出力させる。さらに、非晶質
化レベルＰｐの重畳電流Ｉｐは、この結晶化レベルＰｅ
の重畳電流Ｉｅに対して一定比率の値となるように調整
されている。したがって、最終的には、各部の電流値Ｉ
ｒ，Ｉｅ，Ｉｐが最適値に調整されて、図４(2) に示し
たような最適なレーザパワーＰが得られる。

【００３５】すなわち、結晶化レベルＰｅは最適値Ｐeo
に、また、平均パワーレベルＰａも所望値Ｐaoに調整さ
れて、結果的に、非晶質化レベルＰｐと読み出しレベル
Ｐｒもそれぞれ所望のレベルＰpo、Ｐroに調整される。
そして、図４(2) に示したように、Ｐａ＝Ｐaoの場合
に、最適なレーザパワーＰ、すなわち、Ｐｒ，Ｐｅ，Ｐ
ｐが得られる。他方、図４(3) のように、Ｐａ＞Ｐaoの
場合には、駆動電流Ｉｒの値が不足しているので、読み
出しレベルＰｒは最適値より小さい。この場合には、第
１の調整回路１２によってＩｒ電流源１１を調整し、逆
に駆動電流Ｉｒを増加させる。したがって、先の場合と
同様に、最終的には、各部の電流値Ｉｒ，Ｉｅ，Ｉｐが
最適値に調整されて、図４(2) に示したような最適なレ
ーザパワーＰが得られる。

【００３６】以上のように、この第１の実施の形態で
は、重畳電流ＩｐとＩｅの比率を、それぞれ最適値な重
畳電流ＩｐとＩｅの値が得られるように、予め所定の値
に設定しておく（図１の増幅回路６は、この比率Ｋの増
幅を行う）。そして、レーザパワーが中間のレベルで、
安定した非パルス状の結晶化レベルＰｅを検出し、その
最適な重畳電流Ｉｅが得られるように、第２の調整回路
９によってＩｅ電流源８を調整する。同時に、この重畳
電流Ｉｅに比例した非晶質化レベルＰｐ時の重畳電流Ｉ
ｐを印加することによって、非晶質化レベルＰｐを最適
値に調整する。さらに、図２に示したパルス状の発光期
間（図２の期間ｂ）において、ローパスフィルタ１４の
出力をサンプリングして、非晶質化レベルＰｐと読み出
しレベルＰｒとの平均パワーレベルＰａを検出して、読
み出しレベルＰｒを最適な値に設定する。したがって、
検出帯域が比較的狭くて安価な出射光量検出器を使用し
ても、正確なパワー制御が可能になる。

【００３７】ここで、この第１の実施の形態（請求項１
の発明）の光ディスク駆動装置を、図１の装置と対照す
ると、次のようになる。半導体レーザ等の光源（図１の
レーザダイオード１）を備え、前記光源から出射される
光量を記録周波数より高い周波数のパルス列として光デ
ィスク上に照射して情報の記録、消去、初期化を行う光
ディスク駆動装置において、レーザパワー制御装置とし
て、前記光源（レーザダイオード１）の出射光量を検出
する出射光量検出手段（フォトディテクタ２，アンプ
３）と、前記光源（レーザダイオード１）に第１レベル
の電流（Ｉｒ）を印加する電流印加手段（Ｉｒ電流源１
１）と、第１レベルの電流（Ｉｒ）に第２レベルの電流
（Ｉｅ）を重畳する第１電流重畳手段（Ｉｅ電流源８）
と、前記第１レベルの電流（Ｉｒ）に第３レベルの電流
（Ｉｐ）を重畳する第２電流重畳手段（Ｉｐ電流源５）
と、前記第２レベルの電流（Ｉｅ）を、記録情報（Ｄ
ｉ）に応じてオン／オフ制御する第１スイッチ手段（Ｉ
ｅスイッチ７）と、前記第３レベルの電流（Ｉｐ）を、
記録情報（Ｄｉ）に応じてパルス状にオン／オフ制御す
る第２スイッチ手段（Ｉｐスイッチ４）と、前記出射光
量検出手段（フォトディテクタ２，アンプ３）の出力
（Ｖｄ）を平滑化するローパスフィルタ（１４）と、前
記第２スイッチ手段（Ｉｐスイッチ４）のパルス状オン
／オフ期間における前記ローパスフィルタ（１４）の出
力を保持する第１サンプルホールド手段（第１のサンプ
ルホールド回路１３）と、前記第１スイッチ手段（Ｉｅ
スイッチ７）のオン期間中における前記出射光量検出手
段（フォトディテクタ２，アンプ３）の出力（Ｖｄ）を
保持する第２サンプルホールド手段（第２のサンプルホ
ールド回路１０）と、前記第１サンプルホールド手段
（第１のサンプルホールド回路１３）の出力に応じて前
記第１レベルの電流（Ｉｒ）を調整する第１調整手段
（第１の調整回路１２）と、前記第２サンプルホールド
手段（第２のサンプルホールド回路１０）の出力に応じ
て前記第２レベルの電流（Ｉｅ）を調整する第２調整手
段（第２の調整回路９）と、前記第３レベルの電流（Ｉ
ｐ）が前記第２レベルの電流（Ｉｅ）に比例した値とな
るように調整する第３調整手段（増幅回路６）、とから
構成されている。

【００３８】以上のように、この第１の実施の形態で
は、光源が非パルス状に駆動される期間内に、結晶化レ
ベルＰｅを検出し、その最適な重畳電流Ｉｅが得られる
ようにＩｅ電流源８を調整する。また、予め設定した重
畳電流ＩｅとＩｐとの比率によって、最適な重畳電流Ｉ
ｅに比例した非晶質化レベルＰｐ時の重畳電流Ｉｐが印
加されるように、非晶質化レベルＰｐの重畳電流Ｉｐを
最適値に調整する。さらに、読み出しレベルＰｒの最適
な駆動電流Ｉｒは、パルス状発光期間（図２の期間ｂ）
において、ローパスフィルタ１４の出力から非晶質化レ
ベルＰｐと読み出しレベルＰｒとの平均パワーレベルＰ
ａを検出して設定する。

【００３９】したがって、限られた検出帯域の出射光量
検出器を使用しても、結晶化レベルＰｅ，非晶質化レベ
ルＰｐ，読み出しレベルＰｒの出射光量の正確な検出が
可能になる。そして、この検出された出射光量に基いて
各レベルの出射光量を最適値に調整すれば、光源が安定
化される。しかも、簡単な構成であるから、低コストの
手段によって、情報の信頼性の高い装置が得られる。

【００４０】第２の実施の形態 この第２の実施の形態は、請求項２と請求項３の発明に
対応している。この第２の実施の形態は、先に提案した
光ディスク駆動装置（特願平７−３４９６９１号の発
明）の改良である。先に提案した光ディスク駆動装置の
レーザパワー制御装置では、光源を非パルス状に駆動す
る期間を設け、この期間中にレーザの発光パワーを検出
して、発光パワーを制御するようにしている。このよう
な発光パワーの制御を行えば、検出帯域の限られた出射
光量検出器を使用しても、正確な出射光量の検出が可能
になるが、レーザダイオードの発光パワーの検出におい
て、非パルス状の期間のレーザダイオードは記録パワー
（非晶質化レベルＰｐ）であり、このように高い発光パ
ワーを光ディスクに照射して発光パワーの制御を行う
と、光ディスクが劣化する、という可能性がある。

【００４１】この第２の実施の形態においては、光ディ
スクの記録膜に局所的な劣化が生じないように、発光パ
ワーの制御（調整）時に、非晶質化レベルＰｐよりも低
いレベル（テストレベル）のレーザパワーで光ディスク
に照射する点に特徴を有している（請求項２と請求項３
の発明）。したがって、光ディスク駆動装置のレーザパ
ワー制御装置として、光源を適宜非パルス状に駆動する
期間を設定する期間設定手段を設け、この非パルス状の
駆動期間中に検出される出射光量に基いて光源の光量を
調整する点は、先に提案した光ディスク駆動装置と共通
している。そして、最初に、中間レベルの結晶化レベル
Ｐｅを検出して、最適なレベルとなる重畳電流Ｉｅに設
定する（この動作は、先の第１の実施の形態の場合と同
様である）。次に、最高レベルの非晶質化レベルＰｐよ
りも低いテストレベルＰｔを検出して、その電流Ｉｔを
所定値に調整し、この電流Ｉｔと非晶質化レベルＰｐの
重畳電流Ｉｐとの比率によって、重畳電流Ｉｐを最適値
に設定する。最後に、最適な結晶化レベルＰｅの重畳電
流Ｉｅと最適な非晶質化レベルＰｐの重畳電流Ｉｐとの
比率が所定値となるように調整することによって、読み
出しレベルＰｒの駆動電流Ｉｒを最適値に設定する。

【００４２】図５は、この発明の光ディスク駆動装置に
ついて、そのレーザパワー制御装置の要部構成の第２の
実施の形態の一例を示す機能ブロック図である。図にお
ける符号は図１と同様であり、２１はＩｔスイッチ、２
２はＩｔ電流源、２３は第３の調整回路、２４は第３の
サンプルホールド回路、２５は第４の調整回路、２６と
２７は第５の調整回路、２８はＰｔサンプルタイミング
回路、ＩｔはテストレベルＰｔとするために電流Ｉｒに
重畳する電流で、Ｉｔ′は電流Ｉｔがスイッチングされ
た電流、ＳｔはＰｔサンプル信号を示す。

【００４３】この図５に示す光ディスク駆動装置は、先
の図１の光ディスク駆動装置に比べて、レーザダイオー
ド１に印加されるＩｔ電流源２２が付加されて、計４つ
の電流源（Ｉｐ電流源５，Ｉｅ電流源８，Ｉｒ電流源１
１）が設けられている。この新たに付加されたＩｔ電流
源２２は、レーザダイオード１をテストレベルＰｔで発
光させるために、読み出しレベルＰｒの駆動電流Ｉｒに
重畳する電流Ｉｔを出力する。この重畳電流Ｉｔは、Ｐ
ｔサンプル信号Ｓｔによってオン／オフ制御されるＩｔ
スイッチ２１のオン時に、電流Ｉｔ′として読み出しレ
ベルＰｒの駆動電流Ｉｒに重畳される。したがって、光
源を適宜非パルス状に駆動する期間中には、このテスト
レベルＰｔで発光され、非晶質化レベルＰｐの強い発光
による照射は行われない。次に、図５の光ディスク駆動
装置について、その発光パワーの制御動作をタイミング
チャートで説明する。

【００４４】図６は、図５に示した光ディスク駆動装置
について、その動作を説明するタイミングチャートであ
る。図の各波形に付けられた符号は図５の符号位置に対
応しており、また、図における符号は図２と同様であ
り、ｃはテスト期間を示す。

【００４５】この図６のタイミングチャートにおいて、
Ｄｉに示すように、記録情報Ｄｉが「０」で、Ｉｅスイ
ッチ７のオン／オフ制御信号Ｄｅが「Ｈ」レベルのとき
（図６の期間ａ）に、光量検出電圧Ｖｄをサンプリング
して、レーザパワーＰが結晶化レベルＰｅの最適な値と
なるように、Ｉｅ電流源８を調整し、また、期間ｃにお
いて、Ｓｔに示したように、適宜、Ｓｔの発生期間
（「Ｈ」レベルの期間ｃ）に光量検出電圧Ｖｄをサンプ
リングして、レーザパワーＰが非晶質化レベルＰｐの最
適な値となるように、Ｉｐ電流源５を調整する。Ｉｅ電
流源８の調整は、図１の装置の動作と同様であり、Ｉｐ
電流源５の調整が、この第２の実施の形態に固有の動作
である。

【００４６】図５に示した光ディスク駆動装置では、Ｐ
ｔサンプルタイミング回路２８が、適宜Ｐｔサンプル信
号Ｓｔを発生する。例えば、図６のＳｔに示す期間ｃ
で、Ｐｔサンプル信号Ｓｔが発生される。このＰｔサン
プル信号Ｓｔの発生期間中、Ｉｔスイッチ２１がオンに
なる。そのため、この期間ｃには、図６のＩに示すよう
に、レーザダイオード１に電流Ｉｒ＋Ｉｔが印加され
る。したがって、レーザパワーＰは、図６のＰに示すよ
うに、テストレベルＰｔとなり、非パルス状である。す
なわち、この期間ｃでは、図５のアンプ３の出射光量検
出電圧Ｖｄは、テストレベルＰｔに比例した値となる。

【００４７】そして、第３のサンプルホールド回路２４
は、このＰｔサンプル信号Ｓｔの発生期間（図６の期間
ｃ）に、出射光量検出電圧Ｖｄをサンプリングする。そ
の結果、第３のサンプルホールド回路２４の出力には、
常にテストレベルＰｔに比例した検出電圧が得られるこ
とになる。第３の調整回路２３は、このテストレベルＰ
ｔに比例した検出電圧に基いて、テストレベルＰｔが所
定の値となるように、Ｉｔ電流源２２を調整する。した
がって、テストレベルＰｔが、所定の値となる最適な重
畳電流Ｉｔが得られる。

【００４８】ここで、非晶質化レベルＰｐの最適値をＰ
po、読み出しレベルＰｒの最適値をＰroとしたとき、テ
ストレベルＰｔの所定値Ｐtoを非晶質化レベルＰｐの最
適値Ｐpoよりも小さな値に設定し、かつ、非晶質化レベ
ルＰｐの最適値Ｐpoと読み出しレベルＰｒの最適値Ｐro
との差、すなわち、Ｐpo−Ｐroと、テストレベルＰｔの
所定値Ｐtoと読み出しレベルＰｒの最適値Ｐroとの差、
すなわち、Ｐto−Ｐroとの比率が一定値になるような関
係にしておく。そして、この比率をＬとすれば、 Ｌ＝（Ｐpo−Ｐro）／（Ｐto−Ｐro） が常に成立するようにする。なお、Ｌ＞１である。図５
の第４の調整回路２５は、第３の調整回路２３の出力に
基いて、Ｉｐ＝Ｌ×Ｉｔとなるように、Ｉｐ電流源５を
調整する。したがって、検出されたテストレベルＰｔの
最適な電流値Ｉｔから、非晶質化レベルＰｐの最適な電
流値Ｉｐが設定される。この場合にも、レーザダイオー
ド１の電流ＩとレーザパワーＰとの特性は、先の図３に
関連して説明したように、しきい値電流（Ｉth１，Ｉth
２）以上では直線的な特性であるから、図６の期間ｃ
に、第３の調整回路２３によってテストレベルＰｔが非
晶質化レベルＰｐの最適値Ｐpoよりも低い所定値Ｐtoと
なるように調整されていれば、期間ａにおいて、非晶質
化レベルＰｐとするために読み出し時の駆動電流Ｉｒに
重畳される電流Ｉｐが印加されたときのレーザパワーＰ
は、最適な非晶質化レベルＰpoとなる。

【００４９】次に、第５の調整回路２６と２７は、第２
の調整回路９と、第４の調整回路２５の各出力によっ
て、結晶化レベルＰｅとするために電流Ｉｒに重畳する
電流Ｉｅと非晶質化レベルＰｐとするために電流Ｉｒに
重畳する電流Ｉｐとの比率が所定の値となるように、Ｉ
ｒ電流源１１を調整する。具体的にいうと、所定の比率
をＫとすれば、Ｋ×Ｉｅ＞Ｉｐの場合には、駆動電流Ｉ
ｒを増加させ、Ｋ×Ｉｅ＜Ｉｐの場合には、駆動電流Ｉ
ｒを減少させるように、Ｉｒ電流源１１を調整する。こ
の関係を、次の図７によって説明する。

【００５０】図７は、図５に示した光ディスク駆動装置
について、第２の実施の形態によるレーザダイオード１
の電流Ｉに対応するレーザパワーＰの変化を説明する特
性図で、(1) はＫ×Ｉｅ＜Ｉｐの場合、(2) はＫ×Ｉｅ
＝Ｉｐの場合、(3) はＫ×Ｉｅ＞Ｉｐの場合を示す。図
の横軸はレーザダイオード１の電流Ｉ、縦軸はレーザパ
ワーＰである。

【００５１】この図７(1) 〜(3) には、レーザダイオー
ド１の電流Ｉに対するレーザパワーＰの関係を示してお
り、重畳電流ＩｅとＩｐ×Ｋの値との大小関係によっ
て、駆動電流Ｉｒによる読み出しレベルＰｒに対して、
結晶化レベルＰｅと非晶質化レベルＰｐとが変化する状
態を示している。この場合に、重畳電流ＩｅとＩｐは、
いずれも、最適な結晶化レベルＰｅと非晶質化レベルＰ
ｐが得られるような値に調整されているので、図７(1)
〜(3) においては、重畳電流ＩｅとＩｐは同じレベルに
なっている。

【００５２】まず、図７(3) に示すように、Ｋ×Ｉｅ＞
Ｉｐの場合には、駆動電流Ｉｒの値が不足しているの
で、読み出しレベルＰｒは最適値より小さい。この場合
には、図５の第５の調整回路２６，２７は、Ｉｒ電流源
１１を調整し、駆動電流Ｉｒを増加させる。したがっ
て、各電流値Ｉｅ，Ｉｐ，Ｉｒが最適値にされて、最終
的には、図７(2) にＫ×Ｉｅ＝Ｉｐとして示したよう
に、最適なレーザパワーＰ、すなわち、最適な結晶化レ
ベルＰｅ，非晶質化レベルＰｐ，読み出しレベルＰｒが
得られることになる。他方、図７(1) のように、Ｋ×Ｉ
ｅ＜Ｉｐの場合には、駆動電流Ｉｒの値が過大であるか
ら、読み出しレベルＰｒは最適値より大きい。この場合
には、図５の第５の調整回路２６，２７は、逆に、駆動
電流Ｉｒを減少させて、各電流値Ｉｅ，Ｉｐ，Ｉｒを最
適値にするので、最終的には、同様に、図７(2) に示し
たような最適なレーザパワーＰが得られる。

【００５３】以上のように、この第２の実施の形態で
は、最初に、結晶化レベルＰｅを検出して、最適値に調
整する。次に、非晶質化レベルＰｐよりも低いレベルの
テストレベルＰｔを検出して、最適値に調整する。そし
て、テストレベル電流Ｉｔ（＜Ｉｐ）に比例した非晶質
化レベルＰｐとするために駆動電流Ｉｒに重畳する電流
Ｉｐを印加することにより、非晶質化レベルＰｐも最適
値に調整される。最後に、重畳電流ＩｅとＩｐとの比率
が所定値となるように、駆動電流Ｉｒを調整することに
より、読み出しレベルＰｒも最適値になる。

【００５４】すでに述べたように、先の提案した光ディ
スク駆動装置では、非パルス状の駆動期間にレーザパワ
ーが非晶質化レベルＰｐで連続発光されるため、光ディ
スクの記録膜の局所的劣化が発生する可能性がある。し
かし、この第２の実施の形態によれば、光源が非パルス
状に駆動される期間内に、非晶質化レベルＰｐで連続発
光されることはない。したがって、光ディスクの記録膜
に局所的劣化が生じる虞がなくなり、光ディスクの寿命
が長くなると共に、情報の信頼性も高い光ディスク駆動
装置が得られる。

【００５５】ここで、請求項２の発明の光ディスク駆動
装置を、図５の装置と対照すると、次のようになる。半
導体レーザ等の光源（図５のレーザダイオード１）と、
光源の駆動回路（Ｉｐ電流源５，Ｉｐスイッチ４，Ｉｔ
電流源２２，Ｉｔスイッチ２１）と、光源の出射光量を
検出する出射光量検出手段（フォトディテクタ２，アン
プ３）とを備え、光源から出射される第３のレベルの光
量（Ｐｐ）を記録周波数より高い周波数のパルス列とし
て光ディスク上に照射して情報の記録、消去、初期化を
行う光ディスク駆動装置において、レーザパワー制御装
置として、前記光源（レーザダイオード１）を、適宜前
記第３のレベルの光量（Ｐｐ）よりも低い第４のレベル
の光量（Ｐｔ）で非パルス状に駆動する期間を設定する
期間設定手段（Ｐｔサンプルタイミング回路２８）と、
設定された期間中に前記出射光量検出手段（フォトディ
テクタ２，アンプ３）によって検出される出射光量に基
いて前記第４のレベルの光量（Ｐｔ）を調整する第１の
光量調整手段（第３の調整回路２３）と、前記第１の光
量調整手段（第３の調整回路２３）の出力に基いて前記
第３のレベルの光量（Ｐｐ）を調整する第２の光量調整
手段（第４の調整回路２５）とによって構成している。

【００５６】また、請求項３の発明の光ディスク駆動装
置は、次のとおりである。半導体レーザ等の光源（図５
のレーザダイオード１）と、光源の駆動回路（Ｉｐ電流
源５，Ｉｐスイッチ４）とを備え、光源から出射される
光量を記録周波数より高い周波数のパルス列として光デ
ィスク上に照射して情報の記録、消去、初期化を行う光
ディスク駆動装置において、レーザパワー制御装置とし
て、前記光源（レーザダイオード１）の出射光量を検出
する出射光量検出手段（フォトディテクタ２，アンプ
３）と、前記光源（レーザダイオード１）に第１レベル
の電流（Ｉｒ）を印加する電流印加手段（Ｉｒ電流源１
１）と、第１レベルの電流（Ｉｒ）に第２レベルの電流
（Ｉｅ）を重畳する第１電流重畳手段（Ｉｅ電流源８）
と、前記第１レベルの電流（Ｉｒ）に第３レベルの電流
（Ｉｐ）を重畳する第２電流重畳手段（Ｉｐ電流源５）
と、前記第１レベルの電流（Ｉｒ）に第４レベルの電流
（Ｉｔ）を重畳する第３電流重畳手段（Ｉｔ電流源２
２）と、前記第２レベルの電流（Ｉｅ）を、記録情報
（Ｄｉ）に応じてオン／オフ制御する第１スイッチ手段
（Ｉｅスイッチ７）と、前記第３レベルの電流（Ｉｐ）
を、記録情報（Ｄｉ）に応じてパルス状にオン／オフ制
御する第２スイッチ手段（Ｉｐスイッチ４）と、前記第
４レベルの電流（Ｉｔ）を制御信号（Ｓｔ）に応じてオ
ン／オフ制御する第３スイッチ手段（Ｉｔスイッチ２
１）と、前記第４レベルの電流（Ｉｔ）をオンにする制
御信号（Ｓｔ）を発生するタイミング手段（Ｐｔサンプ
ルタイミング回路２８）と、前記第１スイッチ手段（Ｉ
ｅスイッチ７）のオン期間中における前記出射光量検出
手段（フォトディテクタ２，アンプ３）の出力（Ｖｄ）
を保持する第１サンプルホールド手段（第２のサンプル
ホールド回路１０）と、前記制御信号（Ｓｔ）の発生期
間中における前記出射光量検出手段（フォトディテクタ
２，アンプ３）の出力（Ｖｄ）を保持する第２サンプル
ホールド手段（第３のサンプルホールド回路２４）と、
前記第１サンプルホールド手段（第２のサンプルホール
ド回路１０）の出力に応じて前記第２レベルの電流（Ｉ
ｅ）を調整する第１調整手段（第２の調整回路９）と、
前記第２サンプルホールド手段（第３のサンプルホール
ド回路２４）の出力に応じて前記第４レベルの電流（Ｉ
ｔ）を調整する第２調整手段（第３の調整回路２３）
と、前記第３レベルの電流（Ｉｐ）が、前記第４レベル
の電流（Ｉｔ）に比例し、かつ、第４レベルの電流（Ｉ
ｔ）より大きい値となるように調整する第３調整手段
（第４の調整回路２５）と、調整された前記第２レベル
の電流（Ｉｅ）と、調整された前記第３レベルの電流
（Ｉｐ）または前記第４レベルの電流（Ｉｔ）との値に
応じて前記第１レベルの電流（Ｉｒ）を調整する第４調
整手段（第５の調整回路２６，２７）とから構成してい
る。

【００５７】

【発明の効果】請求項１の光ディスク駆動装置では、出
射光量検出手段の出力を平滑化するローパスフィルタを
設け、発光パワーの制御（設定）時に、パルス状オン／
オフ期間におけるローパスフィルタの出力から非晶質化
レベルＰｐと読み出しレベルＰｒとの平均パワーレベル
Ｐａを検出して、非晶質化レベルＰｐの設定を行うよう
にしている。したがって、限られた検出帯域の出射光量
検出器を使用しても、結晶化レベルＰｅ，非晶質化レベ
ルＰｐ，読み出しレベルＰｒの出射光量の正確な検出が
可能になる。

【００５８】請求項２と請求項３の光ディスク駆動装置
では、発光パワーの制御（設定）時に、非晶質化レベル
Ｐｐよりも低いテストレベルの発光パワーで光ディスク
に照射する。したがって、光ディスクの記録膜に局所的
劣化が生じる虞がなくなり、光ディスクの寿命が長くな
ると共に、情報の信頼性も高い光ディスク駆動装置が得
られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光ディスク駆動装置について、その
レーザパワー制御装置の要部構成の実施の形態の一例を
示す機能ブロック図である。

【図２】図１に示した光ディスク駆動装置について、そ
の動作を説明するタイミングチャートである。

【図３】図１に示した光ディスク駆動装置について、第
１の実施の形態によるレーザダイオード１の電流Ｉとレ
ーザパワーＰとの関係を示す特性図である。

【図４】図１に示した光ディスク駆動装置について、第
１の実施の形態によるレーザダイオード１の電流Ｉに対
応するレーザパワーＰの変化を説明する特性図である。

【図５】この発明の光ディスク駆動装置について、その
レーザパワー制御装置の要部構成の第２の実施の形態の
一例を示す機能ブロック図である。

【図６】図５に示した光ディスク駆動装置について、そ
の動作を説明するタイミングチャートである。

【図７】図５に示した光ディスク駆動装置について、第
２の実施の形態によるレーザダイオード１の電流Ｉに対
応するレーザパワーＰの変化を説明する特性図である。

【図８】相変化型光ディスクにおける記録方法の原理を
説明する図である。

【符号の説明】

１ レーザダイオード ２ フォトディテクタ ３ アンプ ４ Ｉｐスイッチ ５ Ｉｐ電流源 ６ 増幅回路 ７ Ｉｅスイッチ ８ Ｉｅ電流源 ９ 第２の調整回路 １０ 第２のサンプルホールド回路 １１ Ｉｒ電流源 １２ 第１の調整回路 １３ 第１のサンプルホールド回路 １４ ローパスフィルタ １５ Ｉｐスイッチ制御回路 １６ Ｉｅスイッチ制御回路 ２１ Ｉｔスイッチ ２２ Ｉｔ電流源 ２３ 第３の調整回路 ２４ 第３のサンプルホールド回路 ２５ 第４の調整回路 ２６と２７ 第５の調整回路 ２８ Ｐｔサンプルタイミング回路

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 半導体レーザ等の光源を備え、前記光源
   から出射される光量を記録周波数より高い周波数のパル
   ス列として光ディスク上に照射して情報の記録、消去、
   初期化を行う光ディスク駆動装置において、 レーザパワー制御装置として、 前記光源の出射光量を検出する出射光量検出手段と、 前記光源に第１レベルの電流を印加する電流印加手段
   と、 前記第１レベルの電流に第２レベルの電流を重畳する第
   １電流重畳手段と、 前記第１レベルの電流に第３レベルの電流を重畳する第
   ２電流重畳手段と、 前記第２レベルの電流を、記録情報に応じてオン／オフ
   制御する第１スイッチ手段と、 前記第３レベルの電流を、記録情報に応じてパルス状に
   オン／オフ制御する第２スイッチ手段と、 前記出射光量検出手段の出力を平滑化するローパスフィ
   ルタと、 前記第２スイッチ手段のパルス状オン／オフ期間におけ
   る前記ローパスフィルタの出力を保持する第１サンプル
   ホールド手段と、 前記第１スイッチ手段のオン期間中における前記出射光
   量検出手段の出力を保持する第２サンプルホールド手段
   と、 前記第１サンプルホールド手段の出力に応じて前記第１
   レベルの電流を調整する第１調整手段と、 前記第２サンプルホールド手段の出力に応じて前記第２
   レベルの電流を調整する第２調整手段と、 前記第３レベルの電流が前記第２レベルの電流に比例し
   た値となるように調整する第３調整手段、と備えたこと
   を特徴とする光ディスク駆動装置。
2. 【請求項２】 半導体レーザ等の光源と、光源の駆動回
   路と、光源の出射光量を検出する出射光量検出手段とを
   備え、光源から出射される第３のレベルの光量を記録周
   波数より高い周波数のパルス列として光ディスク上に照
   射して情報の記録、消去、初期化を行う光ディスク駆動
   装置において、 レーザパワー制御装置として、 前記光源を適宜前記第３のレベルの光量よりも低い第４
   のレベルの光量で非パルス状に駆動する期間を設定する
   期間設定手段と、 設定された期間中に前記出射光量検出手段によって検出
   される出射光量に基いて前記第４のレベルの光量を調整
   する第１の光量調整手段と、 前記第１の光量調整手段の出力に基いて前記第３のレベ
   ルの光量を調整する第２の光量調整手段、とを備えたこ
   とを特徴とする光ディスク駆動装置。
3. 【請求項３】 半導体レーザ等の光源と、光源の駆動回
   路とを備え、光源から出射される光量を記録周波数より
   高い周波数のパルス列として光ディスク上に照射して情
   報の記録、消去、初期化を行う光ディスク駆動装置にお
   いて、 レーザパワー制御装置として、 前記光源の出射光量を検出する出射光量検出手段と、 前記光源に第１レベルの電流を印加する電流印加手段
   と、 第１レベルの電流に第２レベルの電流を重畳する第１電
   流重畳手段と、 前記第１レベルの電流に第３レベルの電流を重畳する第
   ２電流重畳手段と、 前記第１レベルの電流に第４レベルの電流を重畳する第
   ３電流重畳手段と、 前記第２レベルの電流を、記録情報に応じてオン／オフ
   制御する第１スイッチ手段と、 前記第３レベルの電流を、記録情報に応じてパルス状に
   オン／オフ制御する第２スイッチ手段と、 前記第４レベルの電流を制御信号に応じてオン／オフ制
   御する第３スイッチ手段と、 前記第４レベルの電流をオンにする制御信号を発生する
   タイミング手段と、 前記第１スイッチ手段のオン期間中における前記出射光
   量検出手段の出力を保持する第１サンプルホールド手段
   と、 前記制御信号の発生期間中における前記出射光量検出手
   段の出力を保持する第２サンプルホールド手段と、 前記第１サンプルホールド手段の出力に応じて前記第２
   レベルの電流を調整する第１調整手段と、 前記第２サンプルホールド手段の出力に応じて前記第４
   レベルの電流を調整する第２調整手段と、 前記前記第３レベルの電流が、前記第４レベルの電流に
   比例し、かつ、第４レベルの電流より大きい値となるよ
   うに調整する第３調整手段と、 調整された前記第２レベルの電流と、調整された前記第
   ３レベルの電流または前記第４レベルの電流との値に応
   じて前記第１レベルの電流を調整する第４調整手段、と
   を備えたことを特徴とする光ディスク駆動装置。