JPH09198658A

JPH09198658A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH09198658A
Application number: JP8026096A
Authority: JP
Inventors: Tatsuaki Sakurai; 樹明桜井
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1996-01-20
Filing date: 1996-01-20
Publication date: 1997-07-31
Anticipated expiration: 2016-01-20
Also published as: JP3299434B2

Abstract

(57)【要約】【課題】レーザスポットを記録周波数より高い周波数
のパルス列として光ディスク上に照射して情報の記録、
再生、消去あるいは初期化を行う光ディスク装置におい
ても、安価で簡単な構成によって、レーザダイオードの
出射光量を安定化させると共に、光ディスクの劣化も生
じないようにして、信頼性の高い情報の記録、再生ある
いは消去を行う光ディスク装置を得る。【解決手段】光源から出射される光量を記録周波数よ
り高い周波数のパルス列として光ディスク上に照射して
情報の記録、再生、消去あるいは初期化を行う光ディス
ク装置において、光源への電流供給が可変な電流供給手
段と、光源の発光パワー検出手段と、演算手段とを備
え、光源を非パルス状に駆動する期間の光量を通常の記
録に要する発光パワーより低い発光パワーとなる電流を
設定して、パワーの検出および制御を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、光源から出射さ
れる光量を記録周波数より高い周波数のパルス列として
光ディスク上に照射して情報の記録、再生、消去、初期
化を行う光ディスク装置に係り、特に、光源のレーザダ
イオード（半導体レーザ）の発光パワーを制御するレー
ザパワー制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】相変化型光ディスクは、高密度記録が可
能なディスクであり、情報の記録方法についても、各種
の方式が提案されている。例えば、ディスク上に非晶質
化マークを形成するために、レーザビームを短い単一ま
たは複数のパルスで照射したり（特開昭６３−２６６６
３２号公報）、結晶化するために高い周波数のパルス列
でレーザビームを照射する（特開平１−１１９９２１号
公報）などの記録方法が知られている。ここで、相変化
型光ディスクにおける記録方法について、簡単に説明す
る。

【０００３】図１０は、相変化型光ディスクにおける記
録方法の原理を説明する図で、(1)は記録情報とレーザ
パワーとの関係、(2) は記録情報に対応するトラック上
の記録状態を示す。図において、Ｐｐは非晶質化レベ
ル、Ｐｅは結晶化レベル、Ｐｒは読み出しレベルを示
す。

【０００４】相変化型光ディスクの場合には、情報の記
録に際しては、ディスクのトラック上にレーザスポット
を照射して、レーザダイオードの発光パワーを記録情報
に応じて変化させることにより、ディスクの記録膜上に
結晶化領域と非晶質化したマークを形成することによっ
て行われる。この状態を、図１０(1) に示しており、記
録情報の「０」のレベルに対応して、レーザパワーを結
晶化レベル（Ｐｅ）とすることにより、記録膜が結晶化
されて、結晶化領域が形成される。

【０００５】これに対して、記録情報の「１」のレベル
に対応して、レーザパワーを非晶質化レベル（Ｐｐ）と
読み出しレベル（Ｐｒ）との間で、パルス状に変化させ
ることにより、記録膜が非晶質化されて、非晶質化マー
クが形成される。このような記録動作によって、図１０
(2) に示したように、トラック上に記録情報の「１」の
レベルに対応する非晶質化マークが形成される。ここ
で、３つのレベルの関係は、Ｐｐ（非晶質化レベル）＞
Ｐｅ（結晶化レベル）＞Ｐｒ（読み出しレベル）であ
る。

【０００６】このようにして、相変化型光ディスクに
は、記録情報の「０」のレベルに対応する結晶化領域
と、記録情報の「１」のレベルに対応する非晶質化マー
クとが形成される。そのため、レーザパワーとしては、
記録情報の「０」のレベルに対応する（中間の）結晶化
レベル（Ｐｅ）と、記録情報の「１」のレベルを形成す
るための（最高の）非晶質化レベル（Ｐｐ）と、（最低
の）読み出しレベル（Ｐｒ）、の計３つのレベルで制御
する必要がある。以下の説明では、非晶質化レベル（Ｐ
ｐ）の発光パワーを記録パワー、結晶化レベル（Ｐｅ）
の発光パワーを消去パワー、読み出しレベル（Ｐｒ）の
発光パワーを再生パワーという。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】相変化型光ディスクの
ように、レーザスポットを高い周波数のパルス列として
光ディスク上に照射して情報の記録あるいは消去、初期
化を行う光ディスク装置においては、レーザパワーの変
化も高周波である。そのため、検出帯域の限られた出射
光量検出器を使用すると、正確な出射光量を検出するこ
とが困難になる。このように不正確に検出された出射光
量に基いて出射光量を調整しても、正確な調整は難かし
いので、安定化させることも困難である。その結果、情
報の記録、消去、初期化等の処理が不完全なものにな
る、というケースが生じる。

【０００８】また、正確な出射光量を検出するために、
広帯域の出射光量検出器を使用すると、高価な受光素子
やアンプ等を必要とするのでコストアップになる。この
ような不都合を解決する一つの方法として、この出願人
は、安価で簡単な構成によって、レーザダイオードの出
射光量を安定化させることにより、情報の信頼性の高い
光ディスク駆動装置を提案した（平成７年１２月２０日
付特許出願の「光ディスク駆動装置のレーザパワー制御
装置」）。この光ディスク駆動装置のレーザパワー制御
装置では、光源を非パルス状に駆動する期間を設け、こ
の期間中にレーザの発光パワーを検出して、発光パワー
を制御するようにしている。このように発光パワーを制
御すれば、検出帯域の限られた出射光量検出器を使用し
ても、正確な出射光量の検出が可能である。

【０００９】しかし、レーザダイオードの発光パワーの
検出に、非パルス状の期間のレーザダイオードは記録パ
ワー（前記の非晶質化レベル：Ｐｐ）であり、このよう
に高い発光パワーを光ディスクに照射して発光パワーの
制御を行うと、光ディスクが劣化する、という問題があ
る。より詳しくいえば、相変化型光ディスクにおいて
は、非パルス状の光の記録パワーによる照射は、光ディ
スクの特性を著しく劣化させるので、情報の信頼性の高
いデータの記録、再生あるいは消去が行えない、という
問題を生じる。この発明では、このような問題を解決
し、レーザスポットを記録周波数より高い周波数のパル
ス列として光ディスク上に照射して情報の記録、再生、
消去あるいは初期化を行う光ディスク装置においても、
安価で簡単な構成によって、レーザダイオードの出射光
量を安定化させると共に、光ディスクの劣化も生じない
ようにして、信頼性の高い情報の記録、再生あるいは消
去が行う光ディスク装置を得ることを課題にしている
（請求項１から請求項５の発明）。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１の光ディスク装
置では、光源から出射される光量を記録周波数より高い
周波数のパルス列として光ディスク上に照射して情報の
記録、再生、消去あるいは初期化を行う光ディスク装置
において、光源への電流供給が可変な電流供給手段と、
光源の発光パワー検出手段と、演算手段とを備え、光源
を非パルス状に駆動する期間の光量を、通常の記録に要
する発光パワーより低い発光パワーとなる電流を設定し
て、パワーの検出および制御を行うようにしている。

【００１１】請求項２の光ディスク装置では、光源から
出射される光量を記録周波数より高い周波数のパルス列
として光ディスク上に照射して情報の記録、再生、消去
あるいは初期化を行う光ディスク装置において、光源を
非パルス状に駆動する期間を設定する期間設定手段と、
制御タイミング信号を少なくとも２つ以上発生可能な制
御タイミング信号生成手段とを備え、光源の光量を調整
する場合に、光源を非パルス状に駆動する期間をランダ
ムに発生させるようにしている。

【００１２】請求項３の光ディスク装置では、請求項１
または請求項２の光ディスク装置において、温度検出手
段を備え、温度変化に応じて、光源を非パルス状に駆動
してレーザダイオードの発光パワーの検出および制御を
行うようにしている。

【００１３】請求項４の光ディスク装置では、請求項１
から請求項３の光ディスク装置であり、かつ、パケット
ライト方式を採用する光ディスク装置において、光源を
非パルス状に駆動する期間は、パケットとパケットの間
のリンキング部分で行うようにしている。

【００１４】請求項５の光ディスク装置では、請求項１
から請求項３の光ディスク装置において、特殊記号の書
き込み中は、光源を非パルス状に駆動しないようにして
いる。

【００１５】

【発明の実施の形態】

第１の実施の形態この第１の実施の形態は、請求項１の発明に対応してい
るが、請求項３から請求項５の発明にも関連している。
この第１の実施の形態では、光源を非パルス状に駆動す
る期間の光量を、通常の記録に要する発光パワーより低
い発光パワーとなる電流を設定して、パワーの検出およ
び制御を行うことにより、パワー制御時における光ディ
スクの劣化を抑制する点に特徴を有している。

【００１６】図１は、この発明の光ディスク装置につい
て、そのレーザパワー制御部の要部構成の実施の形態の
一例を示す機能ブロック図である。図において、１はレ
ーザダイオード、２は受光素子、３はアンプ、４はＩｒ
電流源、５はＩｅ電流源、６はＩｅスイッチ、７はＩｐ
電流源、８はＩｐスイッチ、９はＰｒ制御回路、１０は
Ｐｒサンプルホールド回路、１１はＰｅ制御回路、１２
はＰｅサンプルホールド回路、１３はＤ／Ａ変換器、１
４はＣＰＵ、１５はＡ／Ｄ変換器、１６はＰｐサンプル
ホールド回路、１７はタイミング信号生成回路を示し、
Ｄｉは記録信号、Ｇweは記録／消去の期間を指示するゲ
ート信号、Ｉｒは再生パワー（読み出しレベル：Ｐｒ）
の駆動電流、Ｉｅは消去パワー（結晶化レベル：Ｐｅ）
時の電流、Ｉｅ′は電流Ｉｅがスイッチングされた電
流、Ｉｐは記録パワー（非晶質化レベル：Ｐｐ）時の電
流、Ｉｐ′は電流Ｉｐがスイッチングされた電流、Ｖｄ
はアンプ３の出力を示す。

【００１７】レーザダイオード１の出射光は、対物レン
ズ（図示されない）により集光されて相変化型ディスク
（図示されない）上に照射される。また、出射光の一部
は、受光素子２にも照射され、その出力がアンプ３によ
り増幅されて、出射光量の検出に使用される。このレー
ザダイオード１には、３つの電流源（Ｉｒ電流源４，Ｉ
ｅ電流源５，Ｉｐ電流源７）から電流が供給されるが、
その内の２つの電流源（Ｉｅ電流源５とＩｐ電流源７）
からの電流は、Ｉｅスイッチ６とＩｐスイッチ８によっ
てオン／オフされる。

【００１８】まず、Ｉｒ電流源４は、レーザダイオード
１に対して、レーザパワーを再生パワーＰｒにするため
に必要な電流Ｉｒを印加する（最低のレベル）。一方、
消去パワーＰｅの駆動時には、Ｉｅ電流源５からの電流
Ｉｅが、Ｉｅスイッチ６によってオン／オフ制御された
電流Ｉｅ′として、再生パワーＰｒの電流Ｉｒに重畳さ
れる形でレーザダイオード１に供給される。すなわち、
Ｉｅスイッチ６の動作時には、レーザパワーを消去パワ
ーＰｅとするために必要な電流Ｉｒ＋Ｉｅ′が、レーザ
ダイオード１に供給される（中間のレベル）。

【００１９】そのため、レーザダイオード１の発光パワ
ーは、消去パワーＰｅとなり、ディスク上の記録膜を結
晶化させることができる。他方、記録パワーＰｐの駆動
時には、Ｉｐ電流源７からの電流が、Ｉｐスイッチ８に
よってオンオフされたスイッチング電流Ｉｐ′として、
再生パワーＰｒの電流Ｉｒに重畳される形でレーザダイ
オード１に供給される。すなわち、Ｉｐスイッチ８のオ
ン時には、レーザパワーを記録パワーＰｐとするために
必要な電流Ｉｒ＋Ｉｐ′が、レーザダイオード１に供給
される（最高のレベル）。

【００２０】その結果、レーザダイオード１の発光パワ
ーは、記録パワーＰｐとなり、ディスク上の記録膜を非
晶質化させる。タイミング信号生成回路１７は、記録信
号Ｄｉと、記録あるいは消去の期間を指示するゲート信
号Ｇweに応じて、Ｐｒサンプル信号、Ｉｅスイッチ信
号、Ｐｐサンプル信号、Ｉｐスイッチ信号を出力する。
次に、図１に示した光ディスク装置について、その動作
を説明する。

【００２１】図２は、図１に示した光ディスク装置につ
いて、その動作を説明するタイミングチャートである。
図の各波形に付けた符号は図１の符号位置に対応してお
り、Ｉは実際にレーザダイオード１に供給される電流、
Ｐは電流Ｉによるレーザダイオード１の発光パワー、ａ
は記録信号Ｄｉの「０」のレベルの期間、ｂは記録信号
Ｄｉの「１」のレベルの期間、ｃはＰｒサンプル信号の
発生期間、ｄはＰｐサンプル信号の発生期間、とは
記録信号Ｄｉの記録されない信号を示す。

【００２２】図１のＩｅスイッチ６は、次のような動作
を行う。記録信号Ｄｉが「Ｌ」のとき（図２の期間ａ）
は、Ｉｅスイッチ信号は「Ｈ」になるので、Ｉｅスイッ
チ６が切り替わり、レーザダイオード１には、図２にＩ
で示したように、電流Ｉｒ＋Ｉｅが流れる。また、記録
信号Ｄｉが「Ｈ」のとき（図２の期間ｂ）は、Ｉｅスイ
ッチ信号は「Ｌ」になるので、Ｉｅスイッチ６は、レー
ザダイオード１に電流Ｉｅを供給しない。

【００２３】次に、Ｉｐスイッチ８は、次のような動作
を行う。記録信号Ｄｉが「Ｌ」のとき（図２の期間ａ）
は、Ｉｐスイッチ信号は「Ｌ」になるので、Ｉｐスイッ
チ８は、レーザダイオード１に電流Ｉｐを流さない。記
録信号Ｄｉが「Ｈ」のとき（図２の期間ｂ）は、Ｉｐス
イッチ信号は、パルス状に変化する信号になるので、レ
ーザダイオード１には、図２にＩで示したように、パル
ス状の電流Ｉｒ＋Ｉｐが流れる。その結果、レーザダイ
オード１は、図２にＰで示したように、電流ＩｒとＩｒ
＋Ｉｐとに応じた発光量で点灯される。

【００２４】このような動作により、レーザダイオード
１は、記録信号Ｄｉに応じて、再生パワー（読み出しレ
ベル）Ｐｒ、記録パワー（非晶質化レベル）Ｐｐ、消去
パワー（結晶化レベル）Ｐｅでそれぞれ点灯される。こ
の場合に、先に述べたように、レーザダイオード１の発
光パワーは、受光素子２とアンプ３によって検出される
（検出信号Ｖｄ）。レーザダイオード１が非パルス状に
点灯している期間（図２の期間ａとｃ）は、正確にパワ
ーの検出が行われる。そこで、この図２の期間ａにおい
ては、消去パワーＰｅを示すアンプ３の信号（検出信号
Ｖｄ）を、Ｐｅサンプルホールド回路１２によってサン
プルホールドし、Ｐｅ制御回路１１によって消去パワー
Ｐｅを制御する。

【００２５】また、図２の期間ｃにおいては、再生パワ
ーＰｒを示すアンプ３の信号（検出信号Ｖｄ）を、Ｐｒ
サンプルホールド回路１０によってサンプルホールド
し、Ｐｒ制御回路９によって再生パワーＰｒを制御す
る。なお、この図２の期間ｃは、本来ならば記録パワー
Ｐｐで点灯すべき期間であるが、この発明の光ディスク
装置では、パワー制御のために、タイミング信号生成回
路１７からＩｐスイッチ信号を出力して、再生パワーＰ
ｒで点灯するようにＩｐスイッチ８をコントロールして
いる。

【００２６】同様に、図２の期間ｄにおいても、正確な
発光パワーの検出が可能であるが、この発明の光ディス
ク装置では、ＣＰＵ１４からＤ／Ａ変換器１３に対して
データを設定して、Ｉｐ電流源７からレーザダイオード
１へ供給する電流（Ｉｐ１）を制御する。ここで、記録
パワー時の電流Ｉｐと、設定された電流Ｉｐ１との関係
を、Ｉｐ＞Ｉｐ１のように、実際の記録パワーＰｐより
低い発光パワーＰｐ１で発光されるように設定する。

【００２７】そして、このときの発光パワーを、受光素
子２とアンプ３によって検出し（検出信号Ｖｄ）、Ｐｐ
サンプルホールド回路１６においてＰｐサンプル信号に
より発光パワーＰｐ１に応じた出力をサンプルホールド
する。サンプルホールドされた信号は、Ａ／Ｄ変換器１
５によってデジタル信号に変換されて、ＣＰＵ１４へ与
えられる。

【００２８】ＣＰＵ１４では、レーザダイオード１に流
した電流Ｉｐ１と検出された発光量（Ｐｐ１）とに基い
て、記録パワーＰｐで発光させるための電流を演算し、
Ｄ／Ａ変換器１３に対してデータを再設定することによ
り、所望の記録パワーＰｐが得られるようにパワー制御
を行う。次に、以上に述べた記録パワーＰｐの制御にお
けるＣＰＵ１４の動作をフローに示す。

【００２９】図３は、この発明の光ディスク装置につい
て、記録パワーＰｐの制御時における主要な処理の流れ
を示すフローチャートである。図において、＃１〜＃４
はステップを示す。

【００３０】ステップ＃１で、Ｄ／Ａ変換器１３に対し
て、電流Ｉｐ１が得られるようにデータを設定する。次
のステップ＃２で、Ａ／Ｄ変換器１５からデータＰｐ１
を読み込む。ステップ＃３で、Ｉｐ＝Ｉｐ１＊（Ｐｐ−
Ｐｒ）／（Ｐｐ１−Ｐｒ）を算出する。

【００３１】ステップ＃４で、電流の設定データＩｐを
Ｄ／Ａ変換器１３に設定する。以上の処理によって、記
録パワーＰｐの制御が行われ、また、記録パワーＰｐの
制御時には、記録パワー相当のＰｐまでは発光パワーを
上げないので、光ディスクの劣化も生じないパワー制御
が実現される。

【００３２】第２の実施の形態この第２の実施の形態は、請求項２の発明に対応してい
るが、請求項３から請求項５の発明にも関連している。
先の第１の実施の形態では、図２のタイミングチャート
に示したように、所定の記録信号Ｄｉの全ての期間に、
記録パワーＰｐの制御を行うので、レーザダイオード１
は、常に電流Ｉｐ１（＜Ｉｐ）が流れて点灯状態にされ
ている。

【００３３】この第２の実施の形態では、このレーザダ
イオード１に流す電流Ｉｐ１（＜Ｉｐ）のタイミング
を、記録信号Ｄｉのタイミングより短くしたり、遅らせ
たりする種々のパターンで制御期間を設定することによ
って、パワー制御時における光ディスクの劣化を抑制す
る点に特徴を有している。ハード構成は、先の図１と同
様である。また、その動作も、基本的には、図２のタイ
ミングチャートを前提するが、一部の点で異なっている
ので、要部を拡大図で説明する。

【００３４】図４は、図２に示した光ディスク装置の動
作を説明するタイミングチャートの要部拡大図と、第２
の実施の形態によるタイミングチャートで、(1) は図２
の要部拡大図、(2) と(3) はそれぞれ第２の実施の形態
によるタイミングチャートである。図の各波形に付けた
符号は図２と同様である。

【００３５】図４(1) は、先の図２における期間ｄの拡
大図で、Ｐｐサンプル信号の発生期間ｄのタイミングチ
ャートである。この図４(1) では、記録信号Ｄｉの記録
されない信号の発生期間と、Ｐｐサンプル信号の発生
期間ｄとが一致している。したがって、この記録信号Ｄ
ｉが「１」のレベルの期間中、レーザダイオード１が点
灯されることになる。

【００３６】これに対して、図４(2) の場合には、Ｐｐ
サンプル信号の発生期間ｄは、記録信号Ｄｉの「１」の
発生期間より短くされており、その前半のタイミングに
設定されている。図４(3) の場合に同様であるが、Ｐｐ
サンプル信号の発生期間ｄは、記録信号Ｄｉの後半のタ
イミングに設定されている。このように、Ｐｐサンプル
信号の発生期間ｄを、記録信号Ｄｉの「１」の発生期間
より短く設定し、ランダムに非パルス状の光を照射する
ことによって、特に高いレベルの記録パワーによる照射
が、光ディスク上の特定の位置に集中されないようにし
て、その劣化を低減させる。

【００３７】なお、図４(2) と(3) には、Ｐｐサンプル
信号の発生期間ｄを、記録信号Ｄｉの「１」の発生期間
の前半と後半の２つに設定する場合を示したが、その発
生期間ｄは、記録パワーの制御に必要な時間幅が確保で
きれば十分である。そこで、このようなＰｐサンプル信
号の発生期間ｄを種々に設定して、ランダムに選択する
ことにより、非パルス状の光が光ディスク上の特定の位
置に集中して照射されないようにすることが可能にな
る。

【００３８】第３の実施の形態この第３の実施の形態は、請求項３の発明に対応してい
るが、請求項１と請求項２の発明にも関連している。先
の第１と第２の実施の形態で説明した装置では、レーザ
ダイオード１の発光パワーの制御について、特に時期の
制限を設けていない。この第３の実施の形態では、可能
な限り光ディスクへの非パルス状の光の照射回数を少な
くすることによって、光ディスクの劣化の押えるように
しており、温度が所定値以上に変化した場合に限って、
発光パワーの制御を行う点に特徴を有している。

【００３９】図５は、この発明の光ディスク装置の第３
の実施の形態について、そのレーザパワー制御部の要部
構成の一例を示す機能ブロック図である。図における符
号は図１と同様であり、１８は温度センサを示す。

【００４０】この図５に示す装置は、先の図１の装置に
温度センサ１８が付加されている点が異なっている。こ
の場合にも、ＣＰＵ１４が制御を司る。

【００４１】図６は、この発明の光ディスク装置の第３
の実施の形態について、記録パワーＰｐの制御時におけ
る主要な処理の流れを示すフローチャートである。図に
おいて、＃１１〜＃１４はステップを示す。

【００４２】ステップ＃１１で、ＣＰＵ１４が記録パワ
ーの制御を行う（先の図３に示した処理）。ステップ＃
１２で、ＣＰＵ１４は、温度センサ１８からのデータ
（温度データＴ１）を読み込んで、ワークメモリ等に記
憶する。次のステップ＃１３で、ＣＰＵ１４は、再度温
度センサ１８からのデータ（温度データＴ２）を読み込
んで、ワークメモリ等に記憶する。

【００４３】ステップ＃１４で、２回の計測による温度
差、すなわち、｜Ｔ２−Ｔ１｜が所定の値（ε）を超え
たかどうかチェックする。もし、所定の値（ε）より小
さいときは、再び先のステップ＃１３へ戻り、同様の処
理を行う。この場合の処理は、所定の時間が経過した後
に行う。

【００４４】また、所定の値（ε）より大きいときは、
再び先のステップ＃１１へ戻り、記録パワーの制御をや
り直す。以上のように、周囲温度が所定の値（ε）を超
えたとき（大きな温度変化があったとき）だけ、記録パ
ワーの制御を行うことによって、不必要なタイミングで
の記録パワーの制御が行われないので、光ディスクの劣
化を抑制することが可能になる。

【００４５】第４の実施の形態この第４の実施の形態は、請求項４の発明に対応してい
るが、請求項１から請求項３の発明にも関連している。
この第４の実施の形態は、パケットライト方式を採用す
る光ディスク装置の場合であり、発光パワーの制御をパ
ケットとパケットの間のリンキング部分で行う点に特徴
を有している。

【００４６】図７は、パケットライト方式の光ディスク
について、そのフォーマットの一例を概念的に示す図で
ある。

【００４７】この図７には、光ディスクの全周が１００
パケットに分割されている場合を示している。そして、
各パケットの間には、例えば、パケット２とパケット３
とパケット４の一部を拡大図で示したように、リンキン
グ部が付加されている。この第４の実施の形態では、先
に第１から第３の実施の形態で述べた記録パワーの制御
のタイミングを、このリンキング部で行う。このリンキ
ング部は、各パケット毎の書き込み位置のズレなどを吸
収するもので、ユーザデータが記録されている領域では
ない。

【００４８】したがって、データとしての重要度は低
く、書き込み信号の一部に欠落があっても、メディアの
劣化は許容される領域である。このように、発光パワー
の制御をパケットとパケットの間のリンキング部分で行
うことによって、データ部にはレーザダイオード１の発
光パワーの制御のための非パルス状の光の発光期間が発
生されないので、正確なデータの記録が可能になる。

【００４９】第５の実施の形態この第５の実施の形態は、請求項５の発明に対応してい
るが、請求項１から請求項３の発明にも関連している。
この第５の実施の形態は、特殊記号の書き込み中は、光
源を非パルス状に駆動しない点に特徴を有している。

【００５０】図８は、光ディスクのフォーマットの一例
を示す図である。

【００５１】図９は、図８に示したフォーマットの説明
を示す図である。

【００５２】この図８と図９において、例えばデータと
データの間に埋め込まれた同期信号（図９のＳｙｎｃ）
は、再生時の同期を取るための重要な信号である。も
し、この同期信号のように、エラー訂正ができない部分
を使用して書き込み中の記録パワーの制御を行うと、光
ディスクの劣化によってデータ再生それ自体が不能にな
ったりする虞がある。そこで、このような特殊信号の記
録時には、記録パワーの制御を禁止することによって、
特殊信号の書き込みを正確に行うことが可能となり、再
生時の信頼性の高い記録を行うことができる。

【００５３】

【発明の効果】請求項１の光ディスク装置では、光源を
非パルス状に駆動する期間中は、レーザダイオードの発
光パワーを通常の記録を行う発光パワーより低くしてい
る。したがって、光ディスク上に照射して情報の記録、
再生、消去、初期化を行う光ディスク装置において、非
パルス状の光の照射による光ディスクの劣化が減少さ
れ、信頼性の高い情報の記録、再生、消去、初期化を行
うことができる。

【００５４】請求項２の光ディスク装置では、非パルス
状の光による照射が、光ディスク上の特定の位置に集中
しないようにしている。したがって、非パルス状の光の
照射による光ディスクの劣化が減少され、請求項１の光
ディスク装置と同様に、信頼性の高い情報の記録、再
生、消去、初期化を行うことができる。

【００５５】請求項３の光ディスク装置では、請求項１
または請求項２の光ディスク装置において、温度変化が
生じたときのみ、光源を非パルス状に駆動してレーザダ
イオードの発光パワーの検出および制御を行うようにし
ている。したがって、請求項１または請求項２の光ディ
スク装置の効果に加えて、可能な限りレーザダイオード
の非パルス状の光の光ディスクへの照射の回数を押える
ことができ、劣化が減少される。

【００５６】請求項４の光ディスク装置では、請求項１
から請求項３の光ディスク装置であり、かつ、パケット
ライト方式を採用する光ディスク装置において、パケッ
トとパケットの間のリンキング部分で、光源を非パルス
状に駆動している。したがって、請求項１から請求項３
の光ディスク装置の効果に加えて、データ部における非
パルス状の光の照射による光ディスクの劣化が生じる虞
なしに、レーザダイオードの出射光量の制御が可能にな
り、信頼性の高い情報の記録、再生、消去を行うことが
できる。

【００５７】請求項５の光ディスク装置では、請求項１
から請求項３の光ディスク装置において、特殊信号の記
録動作中には、光源を非パルス状に駆動しないようにし
ている。したがって、請求項１から請求項３の光ディス
ク装置の効果に加えて、特殊信号の書き込みを正確に行
うことが可能となり、再生時の信頼性の低下を低減する
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光ディスク装置について、そのレー
ザパワー制御部の要部構成の実施の形態の一例を示す機
能ブロック図である。

【図２】図１に示した光ディスク装置について、その動
作を説明するタイミングチャートである。

【図３】この発明の光ディスク装置について、記録パワ
ーＰｐの制御時における主要な処理の流れを示すフロー
チャートである。

【図４】図２に示した光ディスク装置の動作を説明する
タイミングチャートの要部拡大図と、第２の実施の形態
によるタイミングチャートである。

【図５】この発明の光ディスク装置の第３の実施の形態
について、そのレーザパワー制御部の要部構成の一例を
示す機能ブロック図である。

【図６】この発明の光ディスク装置の第３の実施の形態
について、記録パワーＰｐの制御時における主要な処理
の流れを示すフローチャートである。

【図７】パケットライト方式の光ディスクについて、そ
のフォーマットの一例を概念的に示す図である。

【図８】光ディスクのフォーマットの一例を示す図であ
る。

【図９】図８に示したフォーマットの説明を示す図であ
る。

【図１０】相変化型光ディスクにおける記録方法の原理
を説明する図である。

【符号の説明】

１レーザダイオード２受光素子３アンプ４Ｉｒ電流源５Ｉｅ電流源６Ｉｅスイッチ７Ｉｐ電流源８Ｉｐスイッチ９Ｐｒ制御回路１０Ｐｒサンプルホールド回路１１Ｐｅ制御回路１２Ｐｅサンプルホールド回路１３Ｄ／Ａ変換器１４ＣＰＵ１５Ａ／Ｄ変換器１６Ｐｐサンプルホールド回路１７タイミング信号生成回路１８温度センサ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源から出射される光量を記録周波数よ
り高い周波数のパルス列として光ディスク上に照射して
情報の記録、再生、消去あるいは初期化を行う光ディス
ク装置において、光源への電流供給が可変な電流供給手段と、光源の発光パワー検出手段と、演算手段、とを備え、前記光源を非パルス状に駆動する期間の光量を、通常の
記録に要する発光パワーより低い発光パワーとなる電流
を設定して、パワーの検出および制御を行うことを特徴
とする光ディスク装置。
【請求項２】光源から出射される光量を記録周波数よ
り高い周波数のパルス列として光ディスク上に照射して
情報の記録、再生、消去あるいは初期化を行う光ディス
ク装置において、前記光源を非パルス状に駆動する期間を設定する期間設
定手段と、制御タイミング信号を少なくとも２つ以上発生可能な制
御タイミング信号生成手段、とを備え、前記光源の光量を調整する場合に、前記光源を非パルス
状に駆動する期間をランダムに発生させることを特徴と
する光ディスク装置。
【請求項３】請求項１または請求項２の光ディスク装
置において、温度検出手段を備え、温度変化に応じて、光源を非パルス状に駆動してレーザ
ダイオードの発光パワーの検出および制御を行うことを
特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】請求項１から請求項３の光ディスク装置
であり、かつ、パケットライト方式を採用する光ディス
ク装置において、光源を非パルス状に駆動する期間は、パケットとパケッ
トの間のリンキング部分で行うことを特徴とする光ディ
スク装置。
【請求項５】請求項１から請求項３の光ディスク装置
において、特殊記号の書き込み中は、光源を非パルス状に駆動しな
いことを特徴とする光ディスク装置。