JPH10289460A - レーザ光のパワー制御方法、光ディスクのデータ記録方法及び光ディスク記録装置 - Google Patents

レーザ光のパワー制御方法、光ディスクのデータ記録方法及び光ディスク記録装置

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JPH10289460A
JPH10289460A JP9094208A JP9420897A JPH10289460A JP H10289460 A JPH10289460 A JP H10289460A JP 9094208 A JP9094208 A JP 9094208A JP 9420897 A JP9420897 A JP 9420897A JP H10289460 A JPH10289460 A JP H10289460A
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徹 長良
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明生 寺田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクに照射されて情報信号の記録に用
いられるレーザ光のパワーを最適化する方法、また、上
記情報信号のベリファイを行う方法を提供する。 【解決手段】 相変化光ディスクの記録面に情報信号を
記録するレーザ光が、マーク４を記録するパワーからス
ペース３を記録するパワーに変わる際に、上記レーザ光
の上記記録面からの反射光量にはアンダーシュートが生
じる。このアンダーシュートの量に基づいてレーザ光の
最適化を行う。また、上記アンダーシュートを所定のレ
ベルについて弁別することにより、記録された情報信号
のベリファイを行う。また、レベル弁別出力と情報信号
を比較することによりベリファイを行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、光ディスクに情
報信号の記録を行うレーザ光のパワーを制御するレーザ
光のパワー制御方法と、光ディスクに記録された情報信
号を確認する光ディスクのベリファイ方法と、レーザ光
のパワーを制御しつつ情報信号の記録を行う光ディスク
記録装置と、光ディスクに記録された情報信号のベリフ
ァイを行う光ディスク記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】レーザ光が照射されることにより情報信
号の記録再生が行われる相変化光ディスクが提供されて
いる。
【０００３】この相変化光ディスクは、ポリカーボネー
トの如きプラスチック等によって形成された透明基板の
主面に、相変化材料層を含む機能膜からなる多層膜が被
着形成されてなる。
【０００４】上記相変化光ディスクは、上記多層膜を記
録面として、上記相変化材料層における相変化材料の結
晶とアモルファスとの状態の反射率の相違を利用して、
情報信号の記録再生をなされる。
【０００５】すなわち、上記記録面のトラックに沿っ
て、制御されたレーザ光の照射によって、アモルファス
にて形成されるスペースと、結晶にて形成されるマーク
とのパターンにより情報信号が記録される。
【０００６】マークを書き込む場合には、上記記録面に
レーザ光を集光して照射し、レーザ光の集光スポットの
相変化材料層を融点以上の温度に加熱して溶融した後、
急冷してアモルファス状態を形成する。
【０００７】また、スペースを書き込む際には、上記記
録面にレーザ光を集光して照射し、レーザ光の集光スポ
ットの相変化材料層を結晶化温度以上で、しかも融点よ
り小さい温度まで加熱し、上記集光スポットの相変化材
料を結晶化する。
【０００８】再生の際にもレーザ光が照射され、スペー
スとマークとの反射光の戻り光量の相違により、この情
報信号を読み出される。
【０００９】このような相変化型光ディスクは、光磁気
ディスクとは異なり記録再生時に外部磁界を印加される
必要がないので、記録再生に磁気ヘッド等が不要である
等の特長を有し、次世代の情報記録媒体として研究が進
められている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記相変化
光ディスクの記録面にスペース及びマークを形成するに
は、上記記録面にスペース及びマークのそれぞれに対応
するパワーのレーザ光を照射する必要がある。
【００１１】従来は、上記レーザ光のパワーとしては、
予め設定されたパワーを用いていた。このため、上記相
変化光ディスクの相変化材料等の変化に対するシステム
マージンは小さかった。
【００１２】また、上記相変化光ディスクの記録面にス
ペースとマークとにて書き込まれた情報信号を確認する
いわゆるベリファイを行う場合がある。
【００１３】従来は、上記ベリファイは、一連の情報信
号の書き込みが終了した後に、別個の工程として行われ
ていた。このため、上記ベリファイに所定の時間を割か
ざるを得ず、データ転送のレートを低下させる要因の一
つとなっていた。
【００１４】この発明は、上述の実情に鑑みて提案され
るものであって、相変化光ディスクに情報信号を記録し
つつ上記レーザ光のパワーを最適化するレーザ光のパワ
ー制御方法、相変化光ディスクに情報信号を記録しつつ
記録された情報信号のベリファイを行う光ディスクのベ
リファイ方法を提供することを目的とする。
【００１５】また、この発明は、相変化光ディスクに情
報信号を記録しつつ上記レーザ光のパワーを最適化する
光ディスク記録装置、相変化光ディスクに情報信号を記
録しつつ記録された情報信号のベリファイを行う光ディ
スク記録装置を提供することを目的とする。
【００１６】
【発明を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに、この発明に係るレーザ光のパワー制御方法は、デ
ータ書き込み信号に応じて発光駆動されるレーザ光源か
ら発せられたレーザ光を光ディスクに照射する工程と、
上記光ディスクに照射された上記レーザ光の反射光を受
光する工程と、上記反射光の受光信号のアンダーシュー
トを検出し、このアンダーシュートの量に応じて上記レ
ーザ光のパワーを制御する工程とを有することとなされ
たものである。
【００１７】上記レーザ光のパワー制御方法は、データ
書き込み信号に応じてレーザ光を光ディスクに照射し、
上記レーザ光の上記光ディスクからの反射光のアンダー
シュートを受光信号から検出し、このアンダーシュート
の量に基づいて、上記レーザ光のパワーを制御するもの
である。
【００１８】また、上記課題を解決するために、この発
明に係るデータ記録方法は、データ書き込み信号に応じ
て発光駆動されるレーザ光源から発せられたレーザ光を
光ディスクに照射する工程と、上記光ディスクに照射さ
れた上記レーザ光の反射光を受光する工程と、上記反射
光の受光信号のアンダーシュートを検出し、このアンダ
ーシュートを所定の閾値にてレベル弁別する工程とを有
することとなされたものである。また、上記レベル弁別
の出力と上記データ書き込み信号とを比較することとな
されたものである。
【００１９】上記光ディスクのデータ記録方法は、デー
タ書き込み信号に応じてレーザ光を光ディスクに照射
し、上記レーザ光の上記光ディスクからの反射光のアン
ダーシュートを受光信号から検出し、このアンダーシュ
ートを所定の閾値にてレベル弁別することによりベリフ
ァイを行うものである。また、上記レベル弁別の出力と
上記データ書き込み信号とを比較することによりベリフ
ァイを行うものである。
【００２０】さらに、上記課題を解決するために、この
発明に係る光ディスク記録装置は、データ書き込み信号
に応じて光ディスクにレーザ光を照射する光照射部と、
上記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光す
る受光部と、上記受光部にて受光された上記反射光の受
光信号のアンダーシュートを検出するアンダーシュート
検出部とを有し、上記アンダーシュートの量によって光
照射部のパワーを制御することとなされたものである。
【００２１】上記光ディスク記録装置は、光照射部にて
データ書き込み信号に応じたパワーにてレーザ光を光デ
ィスクに照射し、受光部にて上記レーザ光の上記光ディ
スクからの反射光を受光し、アンダーシュート検出部に
て受光信号からアンダーシュートを検出し、このアンダ
ーシュートの量に基づいて、上記レーザ光のパワーを制
御するものである。
【００２２】そして、上記課題を解決するために、この
発明に係る光ディスク記録装置は、データ書き込み信号
に応じて光ディスクにレーザ光を照射する光照射部と、
上記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光す
る受光部と、上記受光部にて受光された上記反射光の受
光信号のアンダーシュートを検出するアンダーシュート
検出部とを有し、上記アンダーシュートを所定の閾値に
てレベル弁別することとなされたものである。また、上
記レベル弁別の出力を上記データ書き込み信号と比較す
ることとなされたものである。
【００２３】上記光ディスク記録装置は、光照射部にて
データ書き込み信号に応じたパワーにてレーザ光を光デ
ィスクに照射し、受光部にて上記レーザ光の上記光ディ
スクからの反射光を受光し、アンダーシュート検出部に
て受光信号のアンダーシュートを検出し、このアンダー
シュートを所定の閾値にてレベル弁別することによりベ
リファイを行うものである。また、上記レベル弁別の出
力を上記書き込み信号と比較することによりベリファイ
を行うものである。
【００２４】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態の一
例について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２５】図１（ａ）〜（ｃ）は、相変化光ディスク
の記録面のトラック沿って、スペース３及びマーク４の
パターンにて書き込まれた情報信号と、上記相変化光デ
ィスクの記録面に照射されて情報信号を記録するレーザ
光のレーザ光源を駆動するデータ書き込み信号と、上記
レーザ光の上記記録面からの反射光の戻り光量との関係
を示すタイミングチャートである。
【００２６】図１（ａ）は、相変化光ディスクの記録面
のトラックに沿ってスペース３とマーク４とのパターン
にて書き込まれた情報信号を示している。
【００２７】上述したように、上記スペース３に対応す
る領域の相変化材料層は結晶状態であり、反射率は高
い。これに対し、上記マーク４に対応する領域の上記相
変化材料層はアモルファス状態であり、反射率は低い。
【００２８】ここで、上記トラック上の集光スポット５
は、上記記録面にレーザ光が集光されて照射される領域
を示す。上記記録面へのスペース３とマーク４との書き
込みは、上記集光スポット５に集光して照射されるレー
ザ光のパワーを切り換えることにより行われる。
【００２９】図１（ｂ）は、上記記録面に照射されてス
ペース３とマーク４とをそれぞれ記録するレーザ光のレ
ーザ光源を駆動するデータ書き込み信号の原理的な波形
を示している。
【００３０】上記記録面にスペース３を書き込む場合に
は、上記集光スポット５が結晶化温度よりも高く、融点
よりは低い温度に加熱される消去パワーＰEにてレーザ
光を照射する。このとき、上記集光スポットの領域の相
変化材料層は、反射率の高い結晶状態となり、スペース
３が形成される。
【００３１】上記記録面にマーク４を書き込む場合に
は、上記集光スポット５を書き込みパワーＰWにてレー
ザ光を照射する。このとき上記相変化材料層は融点以上
に加熱されて反射率の高い溶融状態となるが、上記集光
スポット５から離れるにつれ急冷されて反射率の低いア
モルファス状態となり、マーク４が形成される。
【００３２】なお、上記書き込みパワーＰWは、上記集
光スポット５を相変化材料の結晶化温度よりも高い融点
まで加熱するので、上記消去パワーＰEよりも大きいパ
ワーである。。
【００３３】図１（ｃ）は、上記相変化光ディスクから
のレーザ光の反射光の戻り光量の波形を示す。
【００３４】上記戻り光量は、過渡的な状態を除くと、
図１（ａ）のスペース３に対しては結晶の反射率を乗じ
た上記消去パワーＰEのレーザ光量に、マーク４に対し
ては溶融状態の反射率を乗じた上記書き込みパワーＰW
のレーザ光量ニに、それぞれ比例している。図による
と、上記戻り光量は、スペース３に対する光量よりも、
マーク４に対する光量が多い。
【００３５】上記相変化光ディスクの記録面に照射する
レーザ光のパワーが書き込みパワーＰWから消去パワー
ＰEに立ち下がる時点で、上記相変化光ディスクからの
反射光の戻り光量にはアンダーシュート６が見られる。
【００３６】このアンダーシュート６は、図１（ａ）に
示すように、消去パワーＰEのレーザ光にて照射される
上記集光スポット５が、直前に書き込まれた反射率の低
い上記マーク４に一時的に重なるために生じる。上記ア
ンダーシュート６は、上記立ち下がりの時点で最も大き
く、上記集光スポット５と上記マーク４との重複が消滅
するにつれ、速やかに消滅する。
【００３７】上記アンダーシュート６から、上記書き込
みパワーＰWのレーザ光の照射によって形成されたマー
ク４の状態を知ることができる。すなわち、アモルファ
スが十分に形成されている場合には反射率が低く、アン
ダーシュート６は大きくなるが、アモルファスが十分に
形成されていない場合には反射率が上と比較して高く、
アンダーシュート６は上と比較すると小さい。
【００３８】このことを利用して、上記アンダーシュー
ト６の量に基づいてレーザ光のパワーを調節するいわゆ
るＡＰＣ（オートパワーコントロール）を行うことがで
きる。
【００３９】例えば、マーク４のアモルファス化の度合
いに対応する上記アンダーシュート６の最低値ＶBを検
出し、この最低値ＶBが一定になるようにレーザ光の書
き込みパワーＰWを制御することができる。このとき、
上記記録面には一定の反射率のマーク４が形成される。
【００４０】この方法によると、上記アンダーシュート
６の変化に実時間で対応することができるので、システ
ムマージンを大きく取ることができる。
【００４１】また、上記アンダーシュート６がある閾値
ＶTを負側に越えた場合には、アモルファス化の度合い
は十分であると判断することにより、マーク４のベリフ
ァイを行うことができる。
【００４２】このベリファイ方法は、情報信号の記録と
同時に行うことができるので、記録とは別に行われる通
常のベリファイ方法に比較して、時間の短縮の面で特に
実益がある。したがって、上記ベリファイ方法を利用す
ることによりデータの転送レート等を向上させることが
できる。
【００４３】図２は、既に情報信号が書き込まれている
相変化光ディスクのトラックに、他の情報信号を上書き
する場合の各波形を示すタイミングチャートである。
【００４４】図２（ａ）は、上記相変化光ディスクのト
ラックに沿ってスペース３とマーク４によって記録され
ている情報信号のパターンである。図中“０”はスペー
ス３に、“１”はマーク４にそれぞれ対応している。
【００４５】図２（ｂ）は、上記相変化光ディスクに書
き込む情報信号である。上と同様に、“０”はスペース
３に、“１”はマーク４に対応している。
【００４６】図２（ｃ）は、図２（ａ）の情報信号を記
録された相変化光ディスク１のトラックの反射率を表示
している。“０”にて示されるスペース３の部分は結晶
であるので反射率は高いが、“１”にて示されるマーク
４の部分はアモルファスであるので反射率は低い。
【００４７】図２（ｄ）は、図２（ｂ）に示された情報
信号を記録するレーザ光のレーザ光源を駆動するデータ
書き込み信号である。図２（ｂ）の“０”のスペース３
の部分は消去パワーＰEに、“１”のマーク４の部分は
書き込みパワーＰWに、それぞれ対応している。
【００４８】図２（ｅ）は、図２（ｄ）の書き込みパル
スに従ってレーザ光を照射した場合に、記録がされなか
ったと仮定した仮想的な場合の、反射光の戻り光量を示
す。この戻り光量は、図２（ｄ）のデータ書き込み信号
によって制御されたレーザ光のパワーに従うが、図２
（ａ）の“１”にて示されるマーク４の部分は反射率が
低いので、“０”にて示されるスペース３の部分よりも
戻り光が少なくなっている。
【００４９】図２（ｆ）は、図２（ｄ）のデータ書き込
み信号に従って上記相変化光ディスクにレーザ光を照射
し、スペース３とマーク４にて情報信号を書き込んだ場
合の戻り光量である。図２（ｄ）において、書き込みパ
ルスが書き込みパワーＰWから消去パワーＰEに立ち下が
った際にアンダーシュート６が見られる。
【００５０】上述したように、上記アンダーシュート６
の量、例えば最低値ＶBを検出して利用することによ
り、レーザ光のパワーのＡＰＣを行うことができる。
【００５１】また、所定の閾値ＶTについての上記アン
ダーシュート６のレベル弁別によって、記録された情報
信号のベリファイを行うことができる。すなわち、所定
の閾値ＶTを負側に越えた場合には、マーク４において
アモルファスは十分に形成されているとみなすことがで
きる。
【００５２】さらに、戻り光量が適当に設定された閾値
ＶT2を正側に越えたか否かを弁別することにより、予め
書き込まれたマーク４が消去されてスペース３が形成さ
れたか否かのベリファイを行うこともできる。すなわ
ち、上記戻り光量が上記閾値をＶT2正側に越えた場合に
は、上記スペース３において結晶状態が十分に形成され
ているとみなすことができる。
【００５３】なお、上記アンダーシュート６の幅が異な
るのは、上記相変化光ディスク１に予め書き込まれてい
た情報信号がスペース３であるかマーク４であるかの相
違による。
【００５４】すなわち、予めマーク４が書き込まれてい
た場合には、マーク４の反射率は低いので、上書きする
マーク４は形成され易い。このため、このようなマーク
４の領域は予めスペース３が記録されていた場合のマー
ク４の領域に比較して大きくなるので、上記集光スポッ
トが時間の経過とともにトラックに沿って移動しても反
射率の低い領域は比較的長く続き、対応する上記アンダ
ーシュート６の幅は広くなることになる。
【００５５】図２（ｇ）は、図２（ｆ）に示した戻り光
量のアンダーシュート６が閾値ＶTを負側に越えた時間
を“１”、他の時間を“０”とする２値信号として表し
たものである。この信号の状態が“１”の場合には、マ
ーク４の記録が確認（ベリファイ）されたことになる。
なお、上記ベリファイとしては、上記“１”の状態のパ
ルスが発生していることにより、物理的な書き込みを確
認する方法がある。また、上記“１”の状態のタイミン
グと上記データ書き込み信号とを比較照合する方法があ
る。
【００５６】図３は、この発明に係る光ディスク記録装
置の実施の形態の一例の概略的な構成のブロック図であ
る。
【００５７】上記相変化光ディスク記録装置の実施の形
態の一例は、光検出部１０と、光照射部２０と、ＡＰＣ
３０と、アンダーシュート検出部４０と、比較部２とか
ら構成され、相変化光ディスク１を収納する。
【００５８】上記光検出部１０は、ビームスプリッタ１
１と、第一の受光部１２と、第２の受光部１３とからな
る。
【００５９】上記ビームスプリッタ１１は、上記書き込
み部２０から供給されるレーザ光の一部を反射して上記
第１の受光部１２に与え、他を透過させる。上記ビーム
スプリッタ１１を透過したレーザ光は、上記相変化光デ
ィスク１に照射され、その反射光は上記ビームスプリッ
タ１１にて反射されて上記第２の受光部１３に供給され
る。
【００６０】上記第１の受光部１２は、受光した光量を
電流に変換し、この電流を上記ＡＰＣ３０に与える。上
記第２の受光部１３は、受光した光量を電流に変換し、
この電流を上記アンダーシュート検出部４０と信号再生
系とに供給する。
【００６１】上記光照射部２０は、入力信号からデータ
書き込み信号を発生するデータ書き込み信号発生部２１
と、レーザ光を発生し上記光検出部１０のビームスプリ
ッタ１１を介して上記相変化光ディスク１に照射するレ
ーザ光源２２とから構成される。
【００６２】上記データ書き込み信号発生部２１は、デ
ータ書き込み信号を発生し、このデータ書き込み信号を
上記レーザ光源２２と、上記比較部２とに供給する。上
記レーザ光源２２は、上記ＡＰＣ３０の制御の下に、上
記データ書き込み信号発生部２１から供給される書き込
み制御信号に従ってレーザ光を発生する。
【００６３】上記ＡＰＣ３０は、上記光検出部１０の第
１の受光部１２にて受光した光量に対応する電流を、上
記アンダーシュート検出部４０からは上記アンダーシュ
ート６の最低値ＶBを与えられ、これらの量に基づい
て、上記最低値ＶBが所定値に保たれるように上記光照
射部２０のレーザ光源２２のパワーを制御する。
【００６４】上記アンダーシュート検出部４０は、上記
反射光の戻り光量に対応する電流を上記第２の受光部１
３から与えられ、これよりアンダーシュート６の最低値
ＶBを検出して上記ＡＰＣ３０に与える。また、上記ア
ンダーシュート６が閾値ＶTを負側に越えているか否か
を判別し、その結果を上記比較部２に与える。
【００６５】上記比較部２は、上記光照射部２０のデー
タ書き込み信号発生部２１からデータ書き込み信号のタ
イミングを、上記アンダーシュート検出部４０から上記
判別の結果を与えられ、これらを用いて記録した情報信
号のベリファイを行い、この結果をベリファイ結果とし
て出力する。
【００６６】図４には、この発明の実施の形態の一例の
アンダーシュート検出部４０の構成を示す。
【００６７】このアンダーシュート検出部４０は、Ｉ／
Ｖ変換部４１と、第１のホールド部４２と、第２のホー
ルド部４３と、第１の除算部４４と、第２の除算部４５
と、閾値発生部４６と、第一のコンパレータ４７と、第
２のコンパレータ４８と、平均部４９と、理想変調部５
０と、比較部５１と、制御部５２と、第１のスイッチＳ
Ｗ１〜第５のスイッチＳＷ５の５個のスイッチとから構
成される。
【００６８】上記Ｉ／Ｖ変換器４１は、上記第２の光検
出部１３から電流として与えられる受光した上記戻り光
量を、電圧に変換して次段に与える。
【００６９】上記第１のスイッチＳＷ１は、上記Ｉ／Ｖ
変換部４１と、上記第１のホールド部４２とを結ぶ回路
を開閉する。上記第２のスイッチＳＷ２は、上記Ｉ／Ｖ
変換部４１変換部と、上記第２のホールド部４３とを結
ぶ回路を開閉する。上記第３のスイッチＳＷ３は、上記
Ｉ／Ｖ変換回路４１と、上記第１の除算部４４及び第２
の除算部４５とを結ぶ回路の開閉をする。
【００７０】これらの第１のスイッチＳＷ１〜第３のＳ
Ｗ３は、上記制御部５２から供給されるタイミング等を
表す信号に基づいて開閉される。ここで、上記信号の経
路は、図中に破線にて示されている。
【００７１】上記相変化光ディスク１に書き込みパワー
ＰWのレーザ光が照射されている期間には、上記スイッ
チＳＷ１〜ＳＷ３は全て開き、上記Ｉ／Ｖ変換部４１か
らの出力は後段には供給されない。
【００７２】上記相変化光ディスク１に消去パワーのレ
ーザ光ＰEが照射されている期間には、第１のスイッチ
ＳＷ１及び第３のスイッチＳＷ３は閉じられ、上記第２
のスイッチＳＷ２は開かれる。そして、上記Ｉ／Ｖ変換
部４１からの出力は、上記第１のホールド部４２と、上
記第一の除算部４４と、上記第２の除算部４５とに供給
される。
【００７３】上記相変化光ディスク１に冷却パワーのレ
ーザ光が照射されている期間には、上記第１のスイッチ
ＳＷ１は開かれ、上記第２のスイッチＳＷ２及び上記第
３のスイッチは閉じられる。そして、上記Ｉ／Ｖ変換部
４１からの出力は、上記第２のホールド部４３と、上記
第一の除算部４４と、上記第２の除算部４５とに供給さ
れる。
【００７４】上記第１のホールド部４２は、上記Ｉ／Ｖ
変換部４１から第１のスイッチＳＷ１を介して供給され
る、上記相変化光ディスク１に消去パワーＰEのレーザ
光が照射された場合の戻り光量に対応する電圧をホール
ドして、消去パワーＰEの場合の基準値として上記第１
の除算部４４に供給する。
【００７５】上記第２のホールド部４３は、上記Ｉ／Ｖ
変換部４１から第２のスイッチＳＷ２を介して供給され
る、上記相変化光ディスク１に冷却パワーのレーザ光が
照射される場合の戻り光量に対応する電圧をホールドし
て、冷却パワーの場合の基準値として上記第２の除算部
４５に供給する。
【００７６】上記第１の除算部４４は、上記Ｉ／Ｖ変換
部４１から供給される消去パワーＰEの場合の上記相変
化光ディスク１からの反射光の戻り光量に対応する電圧
を、上記第１のホールド部４２から与えられる基準値に
て除算を施し、正規化をする。
【００７７】そして、この正規化された電圧を上記第１
のコンパレータ４７と、上記第５のスイッチＳＷ５を介
して上記平均部４９に与える。
【００７８】なお、上記第１の除算部４４からの出力
は、上記相変化光ディスク１に冷却パワーのレーザ光が
照射される期間には、第４のスイッチＳＷ４及び第５の
スイッチＳＷ５にて選択されないので、後段には関係し
ない。
【００７９】上記第２の除算部４５は、上記Ｉ／Ｖ変換
部４１から供給される冷却パワーの場合の上記相変化光
ディスク１からの反射光の戻り光量に対応する電圧を、
上記第２のホールド部４２から与えられる基準値にて除
算を施し、正規化をする。そして、この正規化された電
圧を上記第２のコンパレータ４８に与える。
【００８０】なお、上記第２の除算部４５からの出力
は、上記相変化光ディスク１に消去パワーのレーザ光が
照射される期間には、第４のスイッチＳＷ４にて選択さ
れないので、後段には関係しない。
【００８１】上記閾値発生部４６は閾値を発生して、上
記第一のコンパレータ４７と、上記第２のコンパレータ
４８とに供給する。この閾値は、例えば上掲の図１
（ｃ）における閾値ＶTに対応している。
【００８２】上記第１のコンパレータ４７は、上記第１
の除算器４４から正規化された消去パワーＰEの場合の
戻り光量に対応する電圧を受け取り、この電圧を上記閾
値発生部４６から供給される閾値の電圧と比較して、そ
の結果を出力する。
【００８３】なお、上記第１のコンパレータ４７からの
出力は、上記相変化光ディスク１に冷却パワーのレーザ
光が照射される場合には、上記第４のスイッチＳＷ４に
て選択されないので後段には関係しない。
【００８４】上記第２のコンパレータ４８は、上記第２
の除算器４５から、正規化された冷却パワーＰEの場合
の戻り光量に対応する電圧を受け取り、この電圧を上記
閾値発生部４６から供給される閾値の電圧と比較して、
その結果を出力する。
【００８５】なお、上記第２のコンパレータ４８からの
出力は、上記相変化光ディスク１に消去パワーＰEのレ
ーザ光が照射される期間には、上記第４のスイッチＳＷ
４にて選択されないので、後段には関係しない。
【００８６】上記第４のスイッチＳＷ４は、上記制御部
５２から供給される信号のタイミングにしたがって切り
換えられる。すなわち、上記相変化光ディスクに消去パ
ワーＰEのレーザ光が照射される場合には、上記第１の
コンパレータ４７からの出力を選択し、上記レーザ光が
冷却パワーの期間には、上記第２のコンパレータ４８か
らの出力を選択し、それぞれ選択した出力を上記比較部
２に出力する。なお、上記レーザ光が書き込みパワーＰ
Wの場合には、いずれも選択しない。
【００８７】上記第５のスイッチＳＷ５も、上記制御部
５２から供給される信号にしたがって切り換えられる。
すなわち、上記相変化光ディスク１の消去パワーＰEの
レーザ光が照射される場合には閉じて、上記第１の除算
部４４からもたらされる、上記戻り光量に対応する正規
化された電圧を上記平均部４９に与える。上記レーザ光
が冷却パワーの場合と、書き込みパワーＰWの期間に
は、上記第５のスイッチは開いて、上記第１の除算部４
４からの出力を次段に渡さない。
【００８８】上記平均部４９は、上記相変化光ディスク
に１照射されるレーザ光が消去パワーの場合に、上記第
１の除算部４４から与えられる戻り光量に対応する正規
化された電圧を平均し、この結果を上記比較部５１に与
える。
【００８９】上記理想変調部５０は、理想的な変調信号
を発生し、発生した信号を次段の比較部５１に与える。
上記比較部５１は、上記平均部４９と、上記理想変調器
５０とから与えられる信号を比較して、この比較の結果
を上記制御部５２に与える。
【００９０】上記制御部５２は、上記比較部５１から供
給される信号を基礎とし上記相変化光ディスク１に照射
されるレーザ光のパワーのタイミング等を表す信号を上
記第１のスイッチＳＷ１〜第５のスイッチＳＷ５に供給
する。各スイッチＳＷ１〜ＳＷ５は、この上記信号に基
づいて開閉の動作をする。
【００９１】また、上記制御部５２は、上記比較部５１
から与えられる信号を基礎として、上記アンダーシュー
ト６の最低値ＶBに関する信号をＡＰＣ３０に供給す
る。
【００９２】続いて、上記相変化光ディスク１に情報信
号を記録するレーザ光のレーザ光源を駆動するデータ書
き込み信号について詳細に説明する。
【００９３】まず、図５に基づいて、上記相変化光ディ
スク１への情報信号の記録に用いられる各信号の原理に
ついて説明する。ここで、図５（ａ）にはＮＲＺＩパル
ス、図５（ｂ）には書き込みパルス、図５（ｃ）にはバ
イアスパルス、図５（ｄ）には上書きパルスの各信号の
波形が表示されている。
【００９４】図５（ａ）のＮＲＺＩ（Non Return to Ze
ro Inverted）パルスは、ディジタル信号の値が“０”
の場合には“０”または“１”の状態は変えず、上記デ
ィジタル信号の値が“１”の場合には上記状態を相互に
変える、ディジタル信号の変調パルスである。
【００９５】図中で“０”の状態はスペース３に、
“１”の状態はマーク４に、それぞれ対応している。ま
た、ここでの単位周期はＴWとなっている。
【００９６】ここでは、ディジタルオーディオに用いら
れるＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）変調が既
に施されているので、上記ＮＲＺＩパルスにおいては、
“０”または“１”の連続する状態は３ＴW〜１１ＴWの
範囲にある。
【００９７】図５（ｂ）に示される書き込みパルスの波
形は、図５（ａ）のＮＲＺＩパルスにしたがって、この
ＮＲＺＩパルスの“１”状態を上掲の図１（ａ）に示し
たように、上記相変化光ディスク１の記録面にマーク４
として書き込む際に用いられる。
【００９８】図のように、複数単位周期に亘って連続す
る“１”状態に対応するマーク４を書き込む際には、周
期ＴW、幅ＴPの複数個のパルスからなる多重パルスが用
いられる。
【００９９】例えば、長さ１１ＴWの連続したマークを
書き込む場合には、幅ＴPのパルスを周期ＴWにて１０個
用いる。また、長さ３ＴWの連続したマークを書き込む
場合には、同様にして幅ＴPのパルスを２個用いる。
【０１００】図５（ｃ）のバイアスパルスは、レーザ光
を消去パワーにて照射して、溶融アモルファス状態であ
るマーク４を消去して結晶状態のスペース３に書き換え
る際に用いられる。
【０１０１】上記バイアスパルスは、上記レーザ光源２
２の消去パワーＰEに対応し、上記相変化光ディスク１
にスペース３を記録する際に用いられる。図のように、
上記バイアスパルスは図５（ａ）のＮＲＺＩパルスが
“０”状態に変化すると立ち上がり、上記書き込みパル
スが“１”状態に立ち上がると立ち下がる。
【０１０２】図５（ｄ）の上書きパルスは、図５（ｂ）
の書き込みパルスと図５（ｃ）のバイアスパルスとを組
み合わせたもので、図２（ａ）及び（ｂ）のように、ス
ペース３とマーク４にて情報信号が記録面に既に書き込
まれている相変化光ディスク１に、情報信号を上書きす
る際に用いられる。
【０１０３】すなわち、上記上書きパルスは、上記レー
ザ光源２２の書き込みパワーＰWと、消去パワーＰEと、
冷却パワーＰCに対応する３つのレベルを有する。そし
て、上記書き込みパワーＰWは図５（ｂ）の書き込みパ
ルスのパルスに対応し、上記バイアスパワーＰBは図５
（ｃ）のバイアスパルスのパワーに対応している。
【０１０４】上記冷却パワーＰCは、図５（ｂ）の書き
込みパルスと、図５（ｃ）のバイアスパルスとにおい
て、両方とも“１”でない状態に対応している。上記冷
却パワーＰCは、上記記録面を情報信号が記録される温
度には加熱しない。
【０１０５】次に、図６に基づいて実際の書き込みパル
スの波形について説明する。ここで、図６（ａ）の波形
は上述したＮＲＺＩパルス、図６（ｂ）の波形は書き込
みパルスである。
【０１０６】上述したように、上記ＮＲＺＩパルスはＥ
ＦＭ変調がなされているので、単位周期をＴWとして、
連続する“０”または“１”状態は、３ＴW〜１１ＴWの
範囲にある。そして、相変化光ディスク１の記録面にお
いては、“０”状態はスペース３に、“１”状態はマー
ク４に対応している。
【０１０７】図６（ｂ）には、上記ＮＲＺＩパルスに対
応して上記相変化光ディスク１に書き込みを行う、実際
の書き込みパルスの波形が示されている。
【０１０８】上掲の図５（ｂ）における周期ＴW、幅ＴP
の多重パルスとは異なり、ここでの書き込みパルスは、
幅３ＴW／２−ＴFMの初回のパルスと、これに続く周期
ＴW、幅ＴW／２の多重パルスから構成される。
【０１０９】例えば、図６（ａ）の幅１１ＴWのパルス
に対しては、このパルスの立ち上がりにＴFM遅れて、幅
３ＴW／２−ＴFMの図中ＦＰ（First Pulse）にて示され
る、初回のパルスが発せられる。そして、上記ＮＲＺＩ
パルスの立ち上がりから時間２ＴWから時間１０ＴWまで
の各単位時間ＴWの前半の時間ＴW／２が“１”となる、
幅ＴW／２の８個のパルスが連なる図中のＭＰＣ（Multi
-Pulse Chain）にて表される多重パルスが発せられる。
【０１１０】上記書き込みパルスは、図６（ａ）の幅５
ＴWのパルスに対しては、上と同様に、このパルスの立
ち上がりからＴFM遅れて幅３ＴW／２−ＴFMの初回のパ
ルスＦＰを発し、これに続いて、上記幅５ＴWの立ち上
がりから経過時間が２ＴWから４ＴWまでの範囲の、各単
位時間ＴWの前半ＴW／２がパルスとなる、２個の幅ＴW
／２のパルスが連なる多重パルスが発せられる。
【０１１１】上記書き込みパルスは、図６（ａ）の幅３
ＴWのパルスに対しては、上と同様に、このパルスの立
ち上がりからＴFM遅れて幅３ＴW／２−ＴFMの初回のパ
ルスＦＰを発する。この場合には、上記多重パルスは発
せられない。
【０１１２】続いて、図７によって実際の上書きパルス
について説明する。上記上書きパワーは、レーザ光のレ
ーザ光源を駆動するデータ書き込み信号に直接に対応す
る。
【０１１３】図中において、レーザ光のパワーのレベル
を、高いパワーから低いパワーまで順に挙げると、ピー
クパワーＰＰ（Peak Power）、第一のバイアスパワーＢ
Ｐ1（Bias Power）、第２のバイアスパワーＢＰ2（Bias
Power）、冷却パワーＣＰ（Cooling Power）、読み出
しパワーＲＰ（Read Power）となる。
【０１１４】また、図中ＴFPは上記初回のパルスの幅、
ＴMPは上記多重パルス（Multi Pulse）のパルスの一つ
の幅、ＴCPは冷却パルス（Cooling Pulse）の幅であ
る。
【０１１５】相変化光ディスク１の記録面にレーザ光を
集光して照射してスペース３とマーク４とのパターンに
よる情報信号を読み出すには、上記読み出しパワーＰＰ
が用いられる。
【０１１６】また、上記記録面へのマーク４の書き込み
には上記ピークパワーＰＰ、スペース３の形成には第１
のバイアスパワーＢＰ1が用いられる。ただし、上記初
回のパルスＦＰと多重パルスＭＰＣとの間、また、多重
パルスＭＰＣの各パルス間では第２のバイアスパワーＢ
Ｐ2が用いられ、上記多重パルスＭＰＣの終了後の所定
時間後には幅ＴCPの冷却パルスＣＰが発せられる。
【０１１７】図８には、相変化光ディスク１の記録面に
記録される各セクタの構成と、サンプル／ホールドのタ
イミングが示されている。
【０１１８】図８（ａ）に示されているように、相変化
光ディスク１のトラックに記録される情報信号は、セク
タから構成される。図中の第ｎセクタは、第ｎＡＰＣ引
き込みエリアＡｎと第ｎデータ書き込みエリアＤｎとか
ら構成される。そして、上記第ｎＡＰＣ引き込みエリア
Ａｎは、第ｎ冷却パワー引き込みエリアＣｎと、第ｎ消
去パワー引き込みエリアＥｎと、第ｎ書き込みパワー引
き込みエリアＷｎとからなる。
【０１１９】図８（ｂ）は、上記冷却パワー引き込みエ
リアＣｎに関するサンプル／ホールド信号である。図中
の“１”がサンプルで“０”がホールドであり（以下も
同様である。）、上記冷却パワー引き込みエリアＣｎに
情報信号を記録するタイミングにてサンプルを取り出し
ている。
【０１２０】図８（ｃ）は、上記消去パワー引き込みエ
リアＥｎに関するサンプル／ホールド信号である。上記
消去パワー引き込みエリアＥｎに情報信号を記録するタ
イミングにてサンプルを取り出している。
【０１２１】図８（ｄ）は、上記データ書き込みエリア
Ｄｎに関するサンプル／ホールド信号である。上記デー
タ書き込みエリアＤｎにおいては、所定間隔にてサンプ
ルを取り出している。
【０１２２】図９は、相変化光ディスクに上述のデータ
書き込み信号に応じたレーザ光にて情報信号を記録した
際の上記相変化光ディスク１からのからの反射光の戻り
光量の測定結果を示している。ここで、横軸は時間で目
盛り当たり５００ｎｓ、縦軸は電圧で目盛り当たり５０
０ｍＶである。
【０１２３】図中の戻り光量の波形には、各パルスの立
ち下がり時にアンダーシュート６が見られる。
【０１２４】
【発明の効果】上述のように、この発明に係るレーザ光
のパワー制御方法を用いると、光ディスクへ情報信号を
記録しながら、レーザ光のパワーの最適化を行うことが
できる。したがって、多様な特性の光ディスクに対応す
ることができ、また、システムマージンを大きく取るこ
とができる。
【０１２５】この発明に係る光ディスクのベリファイ方
法は、光ディスクへ情報信号を記録しながら、記録した
情報信号のベリファイを行うことができる。したがっ
て、ベリファイの工程を別個に設ける必要がなくなるの
で、データの転送レート等を向上させることができる。
【０１２６】この発明に係る光ディスク記録装置は、光
ディスクへの情報信号を記録しながら、レーザ光のパワ
ーの最適化を行い、同時に、記録した情報信号のベリフ
ァイを行う。したがって、上記光ディスク記録装置は、
データ処理が高速である。
【図面の簡単な説明】
【図１】光ディスクへ照射するレーザ光のパワーと反射
光との関係を表すタイミングチャートである。
【図２】情報信号が記録されたトラックに他の情報信号
を上書きする際の各信号の波形を示すタイミングチャー
トである。
【図３】光ディスク記録装置の実施の形態の一例の概略
的な構成を示すブロック図である。
【図４】上記実施の形態の一例のアンダーシュート検出
部の概略的な構成を示すブロック図である。
【図５】情報信号と各信号との関係を示すタイミングチ
ャートである。
【図６】情報信号と上書きパルスとの関係を示すタイミ
ングチャートである。
【図７】データ書き込み信号を示すタイミングチャート
である。
【図８】各セクタの記録エリアとサンプル／ホールド信
号とを示すタイミングチャートである。
【図９】光ディスクに照射されたレーザ光の反射光の測
定結果を示すグラフである。
【符号の説明】
１ 相変化光ディスク、５ 集光スポット、６ アンダ
ーシュート、１０ 光検出部、２０ 光照射部、３０
ＡＰＣ、４０ アンダーシュート検出部

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 データ書き込み信号に応じて発光駆動さ
    れるレーザ光源から発せられたレーザ光を光ディスクに
    照射する工程と、 上記光ディスクに照射された上記レーザ光の反射光を受
    光する工程と、 上記反射光の受光信号のアンダーシュートを検出し、こ
    のアンダーシュートの量に応じて上記レーザ光のパワー
    を制御する工程とを有することを特徴とするレーザ光の
    パワー制御方法。
  2. 【請求項２】 データ書き込み信号に応じて発光駆動さ
    れるレーザ光源から発せられたレーザ光を光ディスクに
    照射する工程と、 上記光ディスクに照射された上記レーザ光の反射光を受
    光する工程と、 上記反射光の受光信号のアンダーシュートを検出し、こ
    のアンダーシュートを所定の閾値にてレベル弁別する工
    程とを有することを特徴とする光ディスクのデータ記録
    方法。
  3. 【請求項３】 上記レベル弁別の出力と上記データ書き
    込み信号とを比較することを特徴とする請求項２記載の
    光ディスクのデータ記録方法。
  4. 【請求項４】 データ書き込み信号に応じて光ディスク
    にレーザ光を照射する光照射部と、 上記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光す
    る受光部と、 上記受光部にて受光された上記反射光の受光信号のアン
    ダーシュートを検出するアンダーシュート検出部とを有
    し、 上記アンダーシュートの量に基づいて上記レーザ光のパ
    ワーを制御することを特徴とする光ディスク記録装置。
  5. 【請求項５】 データ書き込み信号に応じて光ディスク
    にレーザ光を照射する光照射部と、 上記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光す
    る受光部と、 上記受光部にて受光された上記反射光の受光信号のアン
    ダーシュートを検出するアンダーシュート検出部とを有
    し、 上記アンダーシュートを所定の閾値にてレベル弁別する
    ことを特徴とする光ディスク記録装置。
  6. 【請求項６】 上記レベル弁別の出力と上記データ書き
    込み信号とを比較することを特徴とする請求項５記載の
    光ディスク記録装置。
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