JPH05168620A - Ｃｔスキャナ - Google Patents
ＣｔスキャナInfo
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- JPH05168620A JPH05168620A JP3343411A JP34341191A JPH05168620A JP H05168620 A JPH05168620 A JP H05168620A JP 3343411 A JP3343411 A JP 3343411A JP 34341191 A JP34341191 A JP 34341191A JP H05168620 A JPH05168620 A JP H05168620A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 27
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 4
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 3
- XDLMVUHYZWKMMD-UHFFFAOYSA-N 3-trimethoxysilylpropyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCOC(=O)C(C)=C XDLMVUHYZWKMMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 逐次近似法を利用して、良質の画像を短時間
で得ることができるＣＴスキャナを提供する。 【構成】 被検体に対して放射線を走査しながら被検体
を透過した放射線を検出し、この検出した各被検体透過
データをデータ収集装置１４で収集し、この収集した透
過データを再構成装置１５の前処理装置２０を介して逐
次近似装置２１に供給するとともに、該逐次近似装置２
１に初期画像メモリ２２から初期画像を供給し、該逐次
近似装置２１において透過データに対応する各透過放射
線通路に沿って初期画像を積分し、この積分値をそれぞ
れ対応する被検体透過データと比較し、両者の差または
比に基づいて初期画像を順次修正する処理を繰り返して
被検体の断面像を構成し、表示装置１６に表示する。
で得ることができるＣＴスキャナを提供する。 【構成】 被検体に対して放射線を走査しながら被検体
を透過した放射線を検出し、この検出した各被検体透過
データをデータ収集装置１４で収集し、この収集した透
過データを再構成装置１５の前処理装置２０を介して逐
次近似装置２１に供給するとともに、該逐次近似装置２
１に初期画像メモリ２２から初期画像を供給し、該逐次
近似装置２１において透過データに対応する各透過放射
線通路に沿って初期画像を積分し、この積分値をそれぞ
れ対応する被検体透過データと比較し、両者の差または
比に基づいて初期画像を順次修正する処理を繰り返して
被検体の断面像を構成し、表示装置１６に表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線を被検体に向け
て放射し、被検体を透過した放射線を検出し、この検出
した被検体透過データを収集して被検体の断面像を構成
するコンピュータ断層撮影装置、所謂ＣＴスキャナに関
する。
て放射し、被検体を透過した放射線を検出し、この検出
した被検体透過データを収集して被検体の断面像を構成
するコンピュータ断層撮影装置、所謂ＣＴスキャナに関
する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＴスキャナは、１９７１年にＥＭＩ社
がプロトタイプ１号機を試作したのが最初であるが、こ
の初期のＥＭＩ社のＣＴスキャナは、収集した被検体透
過データから被検体の断面像を再構成するのに逐次近似
法を利用している。
がプロトタイプ１号機を試作したのが最初であるが、こ
の初期のＥＭＩ社のＣＴスキャナは、収集した被検体透
過データから被検体の断面像を再構成するのに逐次近似
法を利用している。
【０００３】その後、世界中でＣＴスキャナの開発が行
われ、より数学的に厳密なフィルタードバックプロジェ
クション法（以下、ＦＢＰ法と略称する）が現在の主流
となっている。更に最近では、ＦＢＰ法よりも高速で処
理することができるＦＦＴ法が使用され始めている（Ｆ
ＢＰ法およびＦＦＴ法については、岩井喜典編「ＣＴス
キャナ」、コロナ社参照）。
われ、より数学的に厳密なフィルタードバックプロジェ
クション法（以下、ＦＢＰ法と略称する）が現在の主流
となっている。更に最近では、ＦＢＰ法よりも高速で処
理することができるＦＦＴ法が使用され始めている（Ｆ
ＢＰ法およびＦＦＴ法については、岩井喜典編「ＣＴス
キャナ」、コロナ社参照）。
【０００４】ところで、初期のＥＭＩ社のＣＴスキャナ
に利用されていた逐次近似法は、初期画像をＸ線通路に
沿って積分して、測定データと比較し、誤差分をその通
路に沿って差し引くことにより画像に逐次修正を加え、
すべてのＸ線通路について繰り返し修正し、正しい断面
像を得る方法である。なお、逐次近似法はＥＭＩ社のハ
ウンスフィールドの発明であり、特公昭５２−１２７４
（原出願は１９６８年８月２３日英国）、またはGordo
n,R.et al著「Algebraic Reconstruction Techniques
(ART) for Three-dimensional Electron Microscopy an
d X-ray Photograph」,J.Fheor.Biol.,29,pp.471-481
（1070）、またはGordon著「Atutorial on ART」,IEEE
Trans.Nucl.Sci.,Ns-21,p.21」等に詳細に記載されてい
る。
に利用されていた逐次近似法は、初期画像をＸ線通路に
沿って積分して、測定データと比較し、誤差分をその通
路に沿って差し引くことにより画像に逐次修正を加え、
すべてのＸ線通路について繰り返し修正し、正しい断面
像を得る方法である。なお、逐次近似法はＥＭＩ社のハ
ウンスフィールドの発明であり、特公昭５２−１２７４
（原出願は１９６８年８月２３日英国）、またはGordo
n,R.et al著「Algebraic Reconstruction Techniques
(ART) for Three-dimensional Electron Microscopy an
d X-ray Photograph」,J.Fheor.Biol.,29,pp.471-481
（1070）、またはGordon著「Atutorial on ART」,IEEE
Trans.Nucl.Sci.,Ns-21,p.21」等に詳細に記載されてい
る。
【０００５】逐次近似法は、擬像の少ない良質の画像が
得られるが、処理時間が長いため、ＦＢＰ法が主流にな
っていたが、近年計算の収束時間を短縮し、画質も向上
させる方法（栗田、油田、中島著「量子雑音を含む投影
データからの断層像再構成法」、電子通信学会論文
誌、’84,1,Vol.J67-D,No.1,p.17-24,G.T.Herman著「Ma
thematical Optimization Versus Practical Performan
ce:A Case Study Based onthe Maximum Entropy Criter
ion in Image Reconstruction」,Mathematical Program
ming Study 20（1982）,p.96-112 参照）が研究されて
おり、コンピュータの進歩に伴い、逐次近似法が見直さ
れている。
得られるが、処理時間が長いため、ＦＢＰ法が主流にな
っていたが、近年計算の収束時間を短縮し、画質も向上
させる方法（栗田、油田、中島著「量子雑音を含む投影
データからの断層像再構成法」、電子通信学会論文
誌、’84,1,Vol.J67-D,No.1,p.17-24,G.T.Herman著「Ma
thematical Optimization Versus Practical Performan
ce:A Case Study Based onthe Maximum Entropy Criter
ion in Image Reconstruction」,Mathematical Program
ming Study 20（1982）,p.96-112 参照）が研究されて
おり、コンピュータの進歩に伴い、逐次近似法が見直さ
れている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、逐次
近似法は、良質の画像をえることができるが、再構成処
理の時間が長いという問題がある。
近似法は、良質の画像をえることができるが、再構成処
理の時間が長いという問題がある。
【０００７】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、逐次近似法を利用して、良質
の画像を短時間で得ることができるＣＴスキャナを提供
することにある。
その目的とするところは、逐次近似法を利用して、良質
の画像を短時間で得ることができるＣＴスキャナを提供
することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のＣＴスキャナは、放射線を被検体に向けて
放射する放射線源と、被検体を透過した放射線を検出す
る検出手段と、被検体に対する放射線の透過位置を逐次
変更するように被検体に対して放射線を走査させる走査
手段と、初期画像を設定する初期画像設定手段と、前記
初期画像を前記検出手段で検出した各被検体透過データ
に対応した各透過放射線通路に沿って積分し、この積分
値をそれぞれ対応する被検体透過データと比較し、両者
の差または比に基づいて前記初期画像を順次修正する処
理を繰り返して被検体の断面像を構成する逐次近似手段
とを有することを要旨とする。
め、本発明のＣＴスキャナは、放射線を被検体に向けて
放射する放射線源と、被検体を透過した放射線を検出す
る検出手段と、被検体に対する放射線の透過位置を逐次
変更するように被検体に対して放射線を走査させる走査
手段と、初期画像を設定する初期画像設定手段と、前記
初期画像を前記検出手段で検出した各被検体透過データ
に対応した各透過放射線通路に沿って積分し、この積分
値をそれぞれ対応する被検体透過データと比較し、両者
の差または比に基づいて前記初期画像を順次修正する処
理を繰り返して被検体の断面像を構成する逐次近似手段
とを有することを要旨とする。
【０００９】
【作用】本発明のＣＴスキャナでは、被検体に対して放
射線を走査しながら被検体を透過した放射線を検出し、
この検出した各被検体透過データに対応する各透過放射
線通路に沿って初期画像を積分し、この積分値をそれぞ
れ対応する被検体透過データと比較し、両者の差または
比に基づいて初期画像を順次修正する処理を繰り返して
被検体の断面像を構成している。
射線を走査しながら被検体を透過した放射線を検出し、
この検出した各被検体透過データに対応する各透過放射
線通路に沿って初期画像を積分し、この積分値をそれぞ
れ対応する被検体透過データと比較し、両者の差または
比に基づいて初期画像を順次修正する処理を繰り返して
被検体の断面像を構成している。
【００１０】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。
る。
【００１１】図１は、本発明の一実施例に係わるＣＴス
キャナの構成を示す図である。同図において、Ｘ線管１
から放射されるＸ線はコリメータ２を通ってＸ線ファン
ビーム３として被検体９を透過し、例えば約８０チャン
ネルの多チャンネル検出器４で検出される。Ｘ線管１、
コリメータ２および検出器４は、コの字状に形成された
上下動フレーム５に固定され、該上下動フレーム５が固
定フレーム７に連結支持された上下動機構６によって上
下動すると、この上下動によってＸ線管１、コリメータ
２および検出器４は一緒に上下動するようになってい
る。
キャナの構成を示す図である。同図において、Ｘ線管１
から放射されるＸ線はコリメータ２を通ってＸ線ファン
ビーム３として被検体９を透過し、例えば約８０チャン
ネルの多チャンネル検出器４で検出される。Ｘ線管１、
コリメータ２および検出器４は、コの字状に形成された
上下動フレーム５に固定され、該上下動フレーム５が固
定フレーム７に連結支持された上下動機構６によって上
下動すると、この上下動によってＸ線管１、コリメータ
２および検出器４は一緒に上下動するようになってい
る。
【００１２】また、被検体９は回転テーブル８の上に設
けられ、該回転テーブル８は回転機構を有するトラバー
スフレーム１０によって回転中心Ｃの周りを回転し、こ
れにより被検体９も一緒に回転するようになっている。
けられ、該回転テーブル８は回転機構を有するトラバー
スフレーム１０によって回転中心Ｃの周りを回転し、こ
れにより被検体９も一緒に回転するようになっている。
【００１３】更に、前記トラバースフレーム１０はトラ
バース機構１１に連結され、これにより被検体９はトラ
バースフレーム１０とともに矢印１８で示す方向に移動
し得るようになっている。
バース機構１１に連結され、これにより被検体９はトラ
バースフレーム１０とともに矢印１８で示す方向に移動
し得るようになっている。
【００１４】前記上下動機構６、トラバースフレーム１
０およびトラバース機構１１の動作は機構制御装置１２
によって制御され、これにより被検体９に対して上下
動、回転、矢印１８の方向への移動を与えることができ
るようになっている。Ｘ線管１はＸ線制御装置１３によ
って制御され、検出器４で検出されたデータおよび機構
制御装置１２からの制御信号はデータ収集装置１４に供
給されるようになっている。データ収集装置１４は検出
器４からの検出データを収集し、この収集したデータを
再構成装置１５に供給し、断面像を再構成し、表示装置
１６に表示するようになっている。また、機構制御装置
１２および再構成装置１５には操作パネル１７が接続さ
れ、該操作パネル１７から手動で機構制御装置１２を介
して上下動フレーム５に動作指令を与えて、Ｘ線ファン
ビーム３を照射する被検体９の所望の断面位置（スライ
ス位置）を設定したり、機構制御装置１２に機構部リセ
ット指令を与えて、トラバース機構１１および回転テー
ブル８を走査の始点に設定し得るようになっている。な
お、ＳはＸ線管１のＸ線焦点である。
０およびトラバース機構１１の動作は機構制御装置１２
によって制御され、これにより被検体９に対して上下
動、回転、矢印１８の方向への移動を与えることができ
るようになっている。Ｘ線管１はＸ線制御装置１３によ
って制御され、検出器４で検出されたデータおよび機構
制御装置１２からの制御信号はデータ収集装置１４に供
給されるようになっている。データ収集装置１４は検出
器４からの検出データを収集し、この収集したデータを
再構成装置１５に供給し、断面像を再構成し、表示装置
１６に表示するようになっている。また、機構制御装置
１２および再構成装置１５には操作パネル１７が接続さ
れ、該操作パネル１７から手動で機構制御装置１２を介
して上下動フレーム５に動作指令を与えて、Ｘ線ファン
ビーム３を照射する被検体９の所望の断面位置（スライ
ス位置）を設定したり、機構制御装置１２に機構部リセ
ット指令を与えて、トラバース機構１１および回転テー
ブル８を走査の始点に設定し得るようになっている。な
お、ＳはＸ線管１のＸ線焦点である。
【００１５】図２は、前記再構成装置１５の内部構成を
示すブロック図である。同図に示すように、再構成装置
１５は、データ収集装置１４に接続され、該データ収集
装置１４から被検体透過データを供給される前処理装置
２０、逐次近似装置２１、初期画像メモリ２２、カレン
ト画像メモリ２３、画像メモリ２４および初期画像設定
装置２５から構成されている。
示すブロック図である。同図に示すように、再構成装置
１５は、データ収集装置１４に接続され、該データ収集
装置１４から被検体透過データを供給される前処理装置
２０、逐次近似装置２１、初期画像メモリ２２、カレン
ト画像メモリ２３、画像メモリ２４および初期画像設定
装置２５から構成されている。
【００１６】前記初期画像設定装置２５は、図３に示す
ような操作パネルを有する。該操作パネルは、同図に示
すように、「ＣＵＲＲＥＮＴ」、「ＢＬＡＮＫ」、「Ｍ
ＥＭＯＲＩＺＥＤ」、「ＰＲＯＤＵＣＴ」、「ＳＬＩＣ
Ｅ」等の表示を有し、これらの表示を指示し得るように
なっているが、ＣＵＲＲＥＮＴ表示を指示した場合に
は、初期画像としてカレント画像を選択し、ＢＬＡＮＫ
表示を指示した場合には、初期画像として一定値画像を
選択し、ＭＥＭＯＲＩＺＥＤ表示を指示した場合には、
標準画像を選択するようになっている。また、ＭＥＭＯ
ＲＩＺＥＤ表示により標準画像が選択された場合には、
ＰＲＯＤＵＣＴ表示およびＳＬＩＣＥ表示を指定して、
品物およびスライス位置を選択できるようになってい
る。
ような操作パネルを有する。該操作パネルは、同図に示
すように、「ＣＵＲＲＥＮＴ」、「ＢＬＡＮＫ」、「Ｍ
ＥＭＯＲＩＺＥＤ」、「ＰＲＯＤＵＣＴ」、「ＳＬＩＣ
Ｅ」等の表示を有し、これらの表示を指示し得るように
なっているが、ＣＵＲＲＥＮＴ表示を指示した場合に
は、初期画像としてカレント画像を選択し、ＢＬＡＮＫ
表示を指示した場合には、初期画像として一定値画像を
選択し、ＭＥＭＯＲＩＺＥＤ表示を指示した場合には、
標準画像を選択するようになっている。また、ＭＥＭＯ
ＲＩＺＥＤ表示により標準画像が選択された場合には、
ＰＲＯＤＵＣＴ表示およびＳＬＩＣＥ表示を指定して、
品物およびスライス位置を選択できるようになってい
る。
【００１７】次に、以上のように構成されるＣＴスキャ
ナの作用を説明する。
ナの作用を説明する。
【００１８】まず、被検体９を回転テーブル８の上に設
置し、操作パネル１７から手動で機構制御装置１２を介
して上下動機構６に動作指令を与えて、被検体９が載置
されている上下動フレーム５を上下動させ、被検体９の
所望の断面位置にＸ線ファンビーム３の位置（スライス
位置）を合わせる。更に、操作パネル１７から機構制御
装置１２に機構部リセット指令を与え、トラバース機構
１１および回転テーブル８を走査の始点に設定する。
置し、操作パネル１７から手動で機構制御装置１２を介
して上下動機構６に動作指令を与えて、被検体９が載置
されている上下動フレーム５を上下動させ、被検体９の
所望の断面位置にＸ線ファンビーム３の位置（スライス
位置）を合わせる。更に、操作パネル１７から機構制御
装置１２に機構部リセット指令を与え、トラバース機構
１１および回転テーブル８を走査の始点に設定する。
【００１９】次に、操作パネル１７から走査開始指令を
与えると、機構制御装置１２はまずＸ線制御装置１３に
指令を与えて、Ｘ線管１を駆動し、Ｘ線照射を開始させ
るとともに、トラバース機構１１、トラバースフレーム
１０を駆動し、所定のシーケンスで機構部に走査を開始
させる。
与えると、機構制御装置１２はまずＸ線制御装置１３に
指令を与えて、Ｘ線管１を駆動し、Ｘ線照射を開始させ
るとともに、トラバース機構１１、トラバースフレーム
１０を駆動し、所定のシーケンスで機構部に走査を開始
させる。
【００２０】走査は、順方向に１回トラバースした後、
回転テーブル８をファン角度θだけステップ回転させ、
また逆方向に１回トラバースを行うという動作を同様に
トラバースとステップ回転の順で繰り返し行い、１８０
°／θ回のトラバースが終了するまで行い、走査終了と
ともにＸ線照射も終了する。なお、本実施例では、θ＝
１５°として、１２回のトラバースを行う。
回転テーブル８をファン角度θだけステップ回転させ、
また逆方向に１回トラバースを行うという動作を同様に
トラバースとステップ回転の順で繰り返し行い、１８０
°／θ回のトラバースが終了するまで行い、走査終了と
ともにＸ線照射も終了する。なお、本実施例では、θ＝
１５°として、１２回のトラバースを行う。
【００２１】また、トラバースの間に０．４mm進む毎に
１つの収集信号が機構制御装置１２からデータ収集装置
１４に供給され、この収集信号に応じてデータ収集装置
１４は検出器４の全チャンネル（約８０）から被検体透
過検出データを収集し、この収集データを次の収集信号
が供給されるまでにディジタル信号に変換し、再構成装
置１５に転送する。なお、１トラバースの間に約２００
０個のデータが収集される。
１つの収集信号が機構制御装置１２からデータ収集装置
１４に供給され、この収集信号に応じてデータ収集装置
１４は検出器４の全チャンネル（約８０）から被検体透
過検出データを収集し、この収集データを次の収集信号
が供給されるまでにディジタル信号に変換し、再構成装
置１５に転送する。なお、１トラバースの間に約２００
０個のデータが収集される。
【００２２】再構成装置１５は、データ収集装置１４か
ら被検体透過検出データ（純生データ）を受け取ると、
一旦前処理装置２０のバッファメモリに記憶していく。
そして、走査の進行とは無関係に先に受け取ったデータ
から処理を開始する。
ら被検体透過検出データ（純生データ）を受け取ると、
一旦前処理装置２０のバッファメモリに記憶していく。
そして、走査の進行とは無関係に先に受け取ったデータ
から処理を開始する。
【００２３】前処理装置２０では、オフセット補正、Ｒ
ＥＦ補正（Ｘ線源強度変動の補正）、空気補正（検出器
チャンネルのゲイン補正）およびＬＯＧ変換を行い、前
処理済みのデータ（生データ）を直ちに逐次近似装置２
１に供給する。
ＥＦ補正（Ｘ線源強度変動の補正）、空気補正（検出器
チャンネルのゲイン補正）およびＬＯＧ変換を行い、前
処理済みのデータ（生データ）を直ちに逐次近似装置２
１に供給する。
【００２４】逐次近似装置２１は、前処理装置２０から
受け取った前処理済みのデータを内部の生データメモリ
に記憶する。この生データは再構成処理が終了するまで
生データメモリに保持されている。
受け取った前処理済みのデータを内部の生データメモリ
に記憶する。この生データは再構成処理が終了するまで
生データメモリに保持されている。
【００２５】逐次近似装置２１は、初期画像設定装置２
５の設定処理により初期画像メモリ２２に記憶されてい
る初期画像を各生データに対応した各透過Ｘ線通路に沿
って積分し、この積分値をそれぞれ対応する生データと
比較し、その差に基づき初期画像に対して順次修正を加
え、具体的にはその差を前記対応する透過Ｘ線通路に沿
って差し引くことで初期画像に逐次修正を加え、そして
このような処理をすべてのＸ線通路について繰り返し行
って修正を加え、正しい断面像を再構成する。
５の設定処理により初期画像メモリ２２に記憶されてい
る初期画像を各生データに対応した各透過Ｘ線通路に沿
って積分し、この積分値をそれぞれ対応する生データと
比較し、その差に基づき初期画像に対して順次修正を加
え、具体的にはその差を前記対応する透過Ｘ線通路に沿
って差し引くことで初期画像に逐次修正を加え、そして
このような処理をすべてのＸ線通路について繰り返し行
って修正を加え、正しい断面像を再構成する。
【００２６】このようにして逐次近似装置２１において
構成された断面像はカレント画像メモリ２３に送られて
記憶され、該カレント画像メモリ２３から表示装置１６
に供給されて表示される。
構成された断面像はカレント画像メモリ２３に送られて
記憶され、該カレント画像メモリ２３から表示装置１６
に供給されて表示される。
【００２７】以上のようにして所望の断面像が得られた
後は、被検体の次の所望の断面像を得るために操作パネ
ル１７から手動で上下動フレーム５の動作指令を発生
し、所望の断面位置にスライス面を合わせる。それか
ら、走査を行う前に、図３に示す初期画像設定装置２５
のパネル面のダイヤルによって初期画像を選択するため
に、カレント画像を選択するにはダイヤルを「ＣＵＲＲ
ＮＴ」表示に、一定値画像を選択するには「ＢＬＡＮ
Ｋ」表示に、標準画像を選択するには「ＭＥＭＯＲＩＺ
ＥＤ」表示に合わせる。また、標準画像を選択した場合
には、更に別のダイヤルで「ＰＲＯＤＵＣＴ」表示およ
び「ＳＬＩＣＥ」表示を選択して、品物およびスライス
位置を選択する。
後は、被検体の次の所望の断面像を得るために操作パネ
ル１７から手動で上下動フレーム５の動作指令を発生
し、所望の断面位置にスライス面を合わせる。それか
ら、走査を行う前に、図３に示す初期画像設定装置２５
のパネル面のダイヤルによって初期画像を選択するため
に、カレント画像を選択するにはダイヤルを「ＣＵＲＲ
ＮＴ」表示に、一定値画像を選択するには「ＢＬＡＮ
Ｋ」表示に、標準画像を選択するには「ＭＥＭＯＲＩＺ
ＥＤ」表示に合わせる。また、標準画像を選択した場合
には、更に別のダイヤルで「ＰＲＯＤＵＣＴ」表示およ
び「ＳＬＩＣＥ」表示を選択して、品物およびスライス
位置を選択する。
【００２８】このように初期画像設定装置２５において
選択された画像は初期画像メモリ２２に記憶される。
「ＣＵＲＲＥＮＴ」表示が選択された場合には、カレン
ト画像メモリ２３に記憶されている直前の走査で得られ
た画像が設定され、「ＢＬＡＮＫ」表示が選択された場
合には、一定値が設定され、また「ＭＥＭＯＲＩＺＥ
Ｄ」表示で「ＰＲＯＤＵＣＴ」表示と「ＳＬＩＣＥ」表
示が特定された場合には、画像メモリ２４に予め記憶さ
れている画像が初期画像メモリ２２に記憶される。
選択された画像は初期画像メモリ２２に記憶される。
「ＣＵＲＲＥＮＴ」表示が選択された場合には、カレン
ト画像メモリ２３に記憶されている直前の走査で得られ
た画像が設定され、「ＢＬＡＮＫ」表示が選択された場
合には、一定値が設定され、また「ＭＥＭＯＲＩＺＥ
Ｄ」表示で「ＰＲＯＤＵＣＴ」表示と「ＳＬＩＣＥ」表
示が特定された場合には、画像メモリ２４に予め記憶さ
れている画像が初期画像メモリ２２に記憶される。
【００２９】このように初期画像が初期画像メモリ２２
に設定された後、走査が開始させられると、上述した処
理と同様の走査が行われる。
に設定された後、走査が開始させられると、上述した処
理と同様の走査が行われる。
【００３０】なお、以上は１回の走査開始指令で１回の
走査を行い、１つの断面像を得るシングルスライスモー
ドの場合であるが、この他にマルチスライスモードもあ
る。
走査を行い、１つの断面像を得るシングルスライスモー
ドの場合であるが、この他にマルチスライスモードもあ
る。
【００３１】このマルチスライスモードは、操作パネル
１７からマルチスライスモード、スライス枚数およびス
ライスピッチを指定して行われ、機構制御装置１２は走
査を自動的に続けて設定された枚数分だけ行うが、この
場合スライスと走査との間に上下動フレーム５を設定さ
れたスライスピッチ分動かして、スライス面を変更す
る。このようにして、スライスピッチ間隔で複数枚の断
面像を１回の走査開始指令で得ることができる。このよ
うなマルチスライスモードでは、近接したスライス面の
画像を初期画像に用いるので、良質の画像を短時間で得
ることができる。
１７からマルチスライスモード、スライス枚数およびス
ライスピッチを指定して行われ、機構制御装置１２は走
査を自動的に続けて設定された枚数分だけ行うが、この
場合スライスと走査との間に上下動フレーム５を設定さ
れたスライスピッチ分動かして、スライス面を変更す
る。このようにして、スライスピッチ間隔で複数枚の断
面像を１回の走査開始指令で得ることができる。このよ
うなマルチスライスモードでは、近接したスライス面の
画像を初期画像に用いるので、良質の画像を短時間で得
ることができる。
【００３２】また、工業製品の検査用として本ＣＴスキ
ャナを使用する場合、同一形状の量産品の各々について
走査を行う場合があるが、この場合にはまず１個の標準
サンプルについて走査を行い、その断面像を標準画像と
して記憶しておき、走査時に同一形状品の同一スライス
位置の標準画像を初期画像として選択すればよい。
ャナを使用する場合、同一形状の量産品の各々について
走査を行う場合があるが、この場合にはまず１個の標準
サンプルについて走査を行い、その断面像を標準画像と
して記憶しておき、走査時に同一形状品の同一スライス
位置の標準画像を初期画像として選択すればよい。
【００３３】図１および図２に示した実施例において、
前記再構成装置１５内に更に他の再構成法、例えばＦＢ
Ｐ法またはＦＦＴ法を使用した再構成部を設けておき、
データ収集装置１４からの生データはまずこのＦＢＰ法
またはＦＦＴ法を使用した再構成部で再構成し、この再
構成で得られた断面図を初期画像として使用して、逐次
近似装置２１で続けて再構成を行うことにより更に短時
間で良質の画像を得ることができる。
前記再構成装置１５内に更に他の再構成法、例えばＦＢ
Ｐ法またはＦＦＴ法を使用した再構成部を設けておき、
データ収集装置１４からの生データはまずこのＦＢＰ法
またはＦＦＴ法を使用した再構成部で再構成し、この再
構成で得られた断面図を初期画像として使用して、逐次
近似装置２１で続けて再構成を行うことにより更に短時
間で良質の画像を得ることができる。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検体に対して放射線を走査しながら被検体を透過した
放射線を検出し、この検出した各被検体透過データに対
応する各透過放射線通路に沿って初期画像を積分し、こ
の積分値をそれぞれ対応する被検体透過データと比較
し、両者の差または比に基づいて初期画像を順次修正す
る処理を繰り返して被検体の断面像を構成しているの
で、良質の断面像を短時間で得ることができる。
被検体に対して放射線を走査しながら被検体を透過した
放射線を検出し、この検出した各被検体透過データに対
応する各透過放射線通路に沿って初期画像を積分し、こ
の積分値をそれぞれ対応する被検体透過データと比較
し、両者の差または比に基づいて初期画像を順次修正す
る処理を繰り返して被検体の断面像を構成しているの
で、良質の断面像を短時間で得ることができる。
【図１】本発明の一実施例に係わるＣＴスキャナの構成
を示す図である。
を示す図である。
【図２】図１に示すＣＴスキャナに使用されている再構
成装置の詳細な構成を示すブロック図である。
成装置の詳細な構成を示すブロック図である。
【図３】図２に示す再構成装置に使用されている初期画
像設定装置の操作パネルを示す図である。
像設定装置の操作パネルを示す図である。
１ Ｘ線管 ３ Ｘ線ファンビーム ４ 検出器 ５ 上下動フレーム ６ 上下動機構 ８ 回転テーブル ９ 被検体 １１ トラバース機構 １２ 機構制御装置 １４ データ収集装置 １５ 再構成装置 ２１ 逐次近似装置 ２２ 初期画像メモリ
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線を被検体に向けて放射する放射線
源と、被検体を透過した放射線を検出する検出手段と、
被検体に対する放射線の透過位置を逐次変更するように
被検体に対して放射線を走査させる走査手段と、初期画
像を設定する初期画像設定手段と、前記初期画像を前記
検出手段で検出した各被検体透過データに対応した各透
過放射線通路に沿って積分し、この積分値をそれぞれ対
応する被検体透過データと比較し、両者の差または比に
基づいて前記初期画像を順次修正する処理を繰り返して
被検体の断面像を構成する逐次近似手段とを有すること
を特徴とするＣＴスキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3343411A JPH05168620A (ja) | 1991-12-25 | 1991-12-25 | Ｃｔスキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3343411A JPH05168620A (ja) | 1991-12-25 | 1991-12-25 | Ｃｔスキャナ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05168620A true JPH05168620A (ja) | 1993-07-02 |
Family
ID=18361307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3343411A Pending JPH05168620A (ja) | 1991-12-25 | 1991-12-25 | Ｃｔスキャナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05168620A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008515522A (ja) * | 2004-10-11 | 2008-05-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 高画質ｘ線投影像の生成のための画像化システム |
| JP2008516660A (ja) * | 2004-10-15 | 2008-05-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | コンピュータ断層撮影法 |
| JP2009519074A (ja) * | 2005-12-15 | 2009-05-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 複数繰り返しアルゴリズムの進行的な収束 |
| JP2010151653A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Hamamatsu Photonics Kk | 画像処理装置および３次元ｐｅｔ装置 |
| JP2010527741A (ja) * | 2007-05-31 | 2010-08-19 | ジェネラル エレクトリック カンパニー | 画像再構成において利得変動の補正を容易にする方法及びシステム |
| JP2011510757A (ja) * | 2008-01-30 | 2011-04-07 | ザ リージェンツ オブ ザ ユニヴァーシティー オブ カリフォルニア | 対象の周囲を動的な束縛として使用することによる、トモグラフィにおける放射線量低減および画質向上 |
| JP2013121449A (ja) * | 2011-12-12 | 2013-06-20 | Nemoto Kyorindo:Kk | 医療用画像処理システム |
| JP2013121450A (ja) * | 2011-12-12 | 2013-06-20 | Nemoto Kyorindo:Kk | 医用画像処理ネットワークシステム |
| JP2013121448A (ja) * | 2011-12-12 | 2013-06-20 | Nemoto Kyorindo:Kk | 医用画像処理システム |
| US11200709B2 (en) | 2016-12-27 | 2021-12-14 | Canon Medical Systems Corporation | Radiation image diagnostic apparatus and medical image processing apparatus |
-
1991
- 1991-12-25 JP JP3343411A patent/JPH05168620A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008515522A (ja) * | 2004-10-11 | 2008-05-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 高画質ｘ線投影像の生成のための画像化システム |
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| US8218715B2 (en) | 2007-05-31 | 2012-07-10 | General Electric Company | Methods and systems to facilitate correcting gain fluctuations in iterative image reconstruction |
| JP2011510757A (ja) * | 2008-01-30 | 2011-04-07 | ザ リージェンツ オブ ザ ユニヴァーシティー オブ カリフォルニア | 対象の周囲を動的な束縛として使用することによる、トモグラフィにおける放射線量低減および画質向上 |
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| JP2013121449A (ja) * | 2011-12-12 | 2013-06-20 | Nemoto Kyorindo:Kk | 医療用画像処理システム |
| JP2013121450A (ja) * | 2011-12-12 | 2013-06-20 | Nemoto Kyorindo:Kk | 医用画像処理ネットワークシステム |
| JP2013121448A (ja) * | 2011-12-12 | 2013-06-20 | Nemoto Kyorindo:Kk | 医用画像処理システム |
| US11200709B2 (en) | 2016-12-27 | 2021-12-14 | Canon Medical Systems Corporation | Radiation image diagnostic apparatus and medical image processing apparatus |
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