JPH05165958A - 均一粒状物質の個数判定法 - Google Patents
均一粒状物質の個数判定法Info
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- JPH05165958A JPH05165958A JP3335014A JP33501491A JPH05165958A JP H05165958 A JPH05165958 A JP H05165958A JP 3335014 A JP3335014 A JP 3335014A JP 33501491 A JP33501491 A JP 33501491A JP H05165958 A JPH05165958 A JP H05165958A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 任意に分散して存在する均一粒状物質の個数
を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判
定する方法を提供すること。 【構成】 画像中の各パターンのＸ方向の幅とＹ方向の
幅の両者が共に予め設定しておいた基準値以下ならば、
粒状物質が接着せずに単独で存在していると判定してそ
の個数を求めておき、各パターンのＸ方向の幅とＹ方向
の幅の少なくとも一方が上記基準値超えであれば、粒状
物質が接着していると判定して当該パターンの輪郭構成
画素の位置情報からその内部の画素数を求め、その画素
数を予め設定しておいた基準画素数で除算することで接
着パターンの粒子個数を判定するようにしたものであ
る。
を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判
定する方法を提供すること。 【構成】 画像中の各パターンのＸ方向の幅とＹ方向の
幅の両者が共に予め設定しておいた基準値以下ならば、
粒状物質が接着せずに単独で存在していると判定してそ
の個数を求めておき、各パターンのＸ方向の幅とＹ方向
の幅の少なくとも一方が上記基準値超えであれば、粒状
物質が接着していると判定して当該パターンの輪郭構成
画素の位置情報からその内部の画素数を求め、その画素
数を予め設定しておいた基準画素数で除算することで接
着パターンの粒子個数を判定するようにしたものであ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、均一粒状物質の個数を
その外観から判定する、均一粒状物質の個数判定法に関
する。
その外観から判定する、均一粒状物質の個数判定法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来、文字、図形等のパターンマッチン
グ装置において、入力されたパターンと予め記憶した標
準パターンとのマッチングを行なう方法がある（特開平
1-169583）。
グ装置において、入力されたパターンと予め記憶した標
準パターンとのマッチングを行なう方法がある（特開平
1-169583）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来方法は、対象画像
を基準画像によってパターンマッチングする方法である
が、対象画像を基準画像に対して数画素移動させながら
次々とその類似度を求めて判定する必要があるため、処
理に時間がかかるという問題がある。また、接着して存
在する物質の個数を判定できない。
を基準画像によってパターンマッチングする方法である
が、対象画像を基準画像に対して数画素移動させながら
次々とその類似度を求めて判定する必要があるため、処
理に時間がかかるという問題がある。また、接着して存
在する物質の個数を判定できない。
【０００４】本発明は、任意に分散して存在する均一粒
状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精
度で確実に判定する方法を提供することを目的とする。
状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精
度で確実に判定する方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、任意に分散し
て存在する均一な粒状物質の個数を判定する、均一粒状
物質の個数判定法であって、判定対象の下方から投光し
てその透過光を２値画像として撮像し、撮像された画像
中の各パターンの境界を追跡してその輪郭構成画素の位
置情報を記憶し、その位置情報を基に各パターンのＸ及
びＹ方向の最大・最小位置の差から当該パターンのＸ及
びＹ方向の幅を求め、各パターンのＸ方向の幅とＹ方向
の幅の両者が共に予め設定しておいた基準値以下なら
ば、粒状物質が接着せずに単独で存在していると判定し
てその個数を求めておき、各パターンのＸ方向の幅とＹ
方向の幅の少なくとも一方が上記基準値超えであれば、
粒状物質が接着していると判定して当該パターンの輪郭
構成画素の位置情報からその内部の画素数を求め、その
画素数を予め設定しておいた基準画素数で除算すること
で接着パターンの粒子個数を判定するようにしたもので
ある。
て存在する均一な粒状物質の個数を判定する、均一粒状
物質の個数判定法であって、判定対象の下方から投光し
てその透過光を２値画像として撮像し、撮像された画像
中の各パターンの境界を追跡してその輪郭構成画素の位
置情報を記憶し、その位置情報を基に各パターンのＸ及
びＹ方向の最大・最小位置の差から当該パターンのＸ及
びＹ方向の幅を求め、各パターンのＸ方向の幅とＹ方向
の幅の両者が共に予め設定しておいた基準値以下なら
ば、粒状物質が接着せずに単独で存在していると判定し
てその個数を求めておき、各パターンのＸ方向の幅とＹ
方向の幅の少なくとも一方が上記基準値超えであれば、
粒状物質が接着していると判定して当該パターンの輪郭
構成画素の位置情報からその内部の画素数を求め、その
画素数を予め設定しておいた基準画素数で除算すること
で接着パターンの粒子個数を判定するようにしたもので
ある。
【０００６】
【作用】本発明によれば、画像中の各パターンのＸ方向
の幅とＹ方向の幅の両者が共に予め設定しておいた基準
値以下ならば、粒状物質が接着せずに単独で存在してい
ると判定してその個数を求めておき、各パターンのＸ方
向の幅とＹ方向の幅の少なくとも一方が上記基準値超え
であれば、粒状物質が接着していると判定して当該パタ
ーンの輪郭構成画素の位置情報からその内部の画素数を
求め、その画素数を予め設定しておいた基準画素数で除
算することで接着パターンの粒子個数を判定することと
なり、任意に分散して存在する均一粒状物質の個数を、
接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判定す
ることができる。
の幅とＹ方向の幅の両者が共に予め設定しておいた基準
値以下ならば、粒状物質が接着せずに単独で存在してい
ると判定してその個数を求めておき、各パターンのＸ方
向の幅とＹ方向の幅の少なくとも一方が上記基準値超え
であれば、粒状物質が接着していると判定して当該パタ
ーンの輪郭構成画素の位置情報からその内部の画素数を
求め、その画素数を予め設定しておいた基準画素数で除
算することで接着パターンの粒子個数を判定することと
なり、任意に分散して存在する均一粒状物質の個数を、
接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判定す
ることができる。
【０００７】
【実施例】図１は本発明に係る判定方法を実施するため
の装置の一例を示す模式図、図２は判定方法のアルゴリ
ズムを示すフローチャート、図３は入力画像の一例を示
す模式図、図４は境界追跡の位置情報から幅を求める手
段を説明する模式図である。
の装置の一例を示す模式図、図２は判定方法のアルゴリ
ズムを示すフローチャート、図３は入力画像の一例を示
す模式図、図４は境界追跡の位置情報から幅を求める手
段を説明する模式図である。
【０００８】図１の判定装置１００の撮像部１０におい
て、１２は硝子上に分散された液晶パネル用スペーサ等
の対象物であり、照明装置１１により照射されている。
その透過光を、ここでは示していないが顕微鏡を介した
ＣＣＤカメラ１３で撮像し、その画像信号が処理装置２
０に入力される。
て、１２は硝子上に分散された液晶パネル用スペーサ等
の対象物であり、照明装置１１により照射されている。
その透過光を、ここでは示していないが顕微鏡を介した
ＣＣＤカメラ１３で撮像し、その画像信号が処理装置２
０に入力される。
【０００９】処理装置２０内のＡ／Ｄ変換回路２１で、
入力された画像信号がデジタル信号に変換され、更に２
値化回路２２において所定のレベルにより２値信号に変
換され、ＣＰＵ２４を介して画像メモリ２３に送られ
る。ＲＡＭ２５は、作業用のメモリとして用いられる。
入力された画像信号がデジタル信号に変換され、更に２
値化回路２２において所定のレベルにより２値信号に変
換され、ＣＰＵ２４を介して画像メモリ２３に送られ
る。ＲＡＭ２５は、作業用のメモリとして用いられる。
【００１０】処理装置２０にて処理された結果は、モニ
ター等の出力部３０に送られ、対象物１２の全粒子数及
び接着している粒子数が出力される。
ター等の出力部３０に送られ、対象物１２の全粒子数及
び接着している粒子数が出力される。
【００１１】以下、処理装置２０内の処理手順を図２に
示すフローチャートに基づき、図３の入力画像を例とし
て説明する。
示すフローチャートに基づき、図３の入力画像を例とし
て説明する。
【００１２】(1) ２値画像をラスタ走査し、未処理パタ
ーンをみつけ、その境界を追跡してその輪郭構成画素の
位置情報をＲＡＭに格納する。
ーンをみつけ、その境界を追跡してその輪郭構成画素の
位置情報をＲＡＭに格納する。
【００１３】(2) 各パターンに対してその位置情報から
Ｘ及びＹ方向の最大・最小位置Ｘma x(i)、Ｘmin(i)、Ｙ
max(i)、Ｙmin(i)を計算し（図４参照）、そのＸ方向及
びＹ方向の幅Ｗx(i)、Ｗy(i)を求める。 Ｗx(i)＝Ｘmax(i)−Ｘmin(i) Ｗy(i)＝Ｙmax(i)−Ｙmin(i)
Ｘ及びＹ方向の最大・最小位置Ｘma x(i)、Ｘmin(i)、Ｙ
max(i)、Ｙmin(i)を計算し（図４参照）、そのＸ方向及
びＹ方向の幅Ｗx(i)、Ｗy(i)を求める。 Ｗx(i)＝Ｘmax(i)−Ｘmin(i) Ｗy(i)＝Ｙmax(i)−Ｙmin(i)
【００１４】(3) Ｗx(i)、Ｗy(i)を予め定めておいた基
準値Ｔw と比較し、両者が共に基準値Ｔw 以下ならば粒
状物質が接着せずに単独で存在している粒子と判定し、
個数を 1個カウントする。即ち、ｎ(i) ＝1 とする。
準値Ｔw と比較し、両者が共に基準値Ｔw 以下ならば粒
状物質が接着せずに単独で存在している粒子と判定し、
個数を 1個カウントする。即ち、ｎ(i) ＝1 とする。
【００１５】(4) Ｗx(i)、Ｗy(i)の一方でも基準値Ｔw
を超えているならば、粒子が複数個接着して存在してい
ると判定して当該パターンの輪郭構成画素の位置情報か
らその内部の画素数（＝面積）Ｓ(i) を求め、その画素
数Ｓ(i) を予め定めておいた基準画素数Ｔs で除算しそ
の値を接着しているパターンの粒子個数として個数をカ
ウントする。即ち、ｎ(i) ＝Ｓ(i) ／Ｔs とする。
を超えているならば、粒子が複数個接着して存在してい
ると判定して当該パターンの輪郭構成画素の位置情報か
らその内部の画素数（＝面積）Ｓ(i) を求め、その画素
数Ｓ(i) を予め定めておいた基準画素数Ｔs で除算しそ
の値を接着しているパターンの粒子個数として個数をカ
ウントする。即ち、ｎ(i) ＝Ｓ(i) ／Ｔs とする。
【００１６】尚、上述の基準値Ｔw は、測定対象となる
粒子について予め求めた粒子 1個の平均幅より少し大き
めの値にて定められる。
粒子について予め求めた粒子 1個の平均幅より少し大き
めの値にて定められる。
【００１７】また、上述の基準画素数Ｔs は、測定対象
となる粒子について予め求めた粒子1個の平均画素数
（＝平均面積）にて定められる。
となる粒子について予め求めた粒子1個の平均画素数
（＝平均面積）にて定められる。
【００１８】上記(1) 〜(4) により、図３の入力画像に
対し、表１の出力結果を得た。
対し、表１の出力結果を得た。
【表１】
【００１９】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、任意に分
散して存在する均一粒状物質の個数を、接着の有無及び
その個数とともに高精度で確実に判定することができ
る。
散して存在する均一粒状物質の個数を、接着の有無及び
その個数とともに高精度で確実に判定することができ
る。
【図１】図１は本発明に係る判定方法を実施するための
装置の一例を示す模式図である。
装置の一例を示す模式図である。
【図２】図２は判定方法のアルゴリズムを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図３】図３は入力画像の一例を示す模式図である。
【図４】図４は境界追跡の位置情報から幅を求める手段
を説明する模式図である。
を説明する模式図である。
１００ 判定装置 １０ 撮像部 １１ 照明装置 １２ 対象物 １３ ＣＣＤカメラ ２０ 処理装置 ２１ Ａ／Ｄ変換回路 ２２ ２値化回路 ２３ 画像メモリ ２４ ＣＰＵ ２５ ＲＡＭ ３０ 出力部
Claims (1)
- 【請求項１】 任意に分散して存在する均一な粒状物質
の個数を判定する、均一粒状物質の個数判定法であっ
て、判定対象の下方から投光してその透過光を２値画像
として撮像し、撮像された画像中の各パターンの境界を
追跡してその輪郭構成画素の位置情報を記憶し、その位
置情報を基に各パターンのＸ及びＹ方向の最大・最小位
置の差から当該パターンのＸ及びＹ方向の幅を求め、各
パターンのＸ方向の幅とＹ方向の幅の両者が共に予め設
定しておいた基準値以下ならば、粒状物質が接着せずに
単独で存在していると判定してその個数を求めておき、
各パターンのＸ方向の幅とＹ方向の幅の少なくとも一方
が上記基準値超えであれば、粒状物質が接着していると
判定して当該パターンの輪郭構成画素の位置情報からそ
の内部の画素数を求め、その画素数を予め設定しておい
た基準画素数で除算することで接着パターンの粒子個数
を判定することを特徴とする均一粒状物質の個数判定
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3335014A JPH05165958A (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 均一粒状物質の個数判定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3335014A JPH05165958A (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 均一粒状物質の個数判定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05165958A true JPH05165958A (ja) | 1993-07-02 |
Family
ID=18283776
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3335014A Pending JPH05165958A (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 均一粒状物質の個数判定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05165958A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020086753A (ja) * | 2018-11-21 | 2020-06-04 | マイクロコントロールシステムズ株式会社 | 対象物計数プログラム、装置及び方法、並びに対象物管理プログラム |
-
1991
- 1991-12-18 JP JP3335014A patent/JPH05165958A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020086753A (ja) * | 2018-11-21 | 2020-06-04 | マイクロコントロールシステムズ株式会社 | 対象物計数プログラム、装置及び方法、並びに対象物管理プログラム |
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