JPH05215663A - 均一粒状物質中の大粒子識別法 - Google Patents
均一粒状物質中の大粒子識別法Info
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- JPH05215663A JPH05215663A JP4021102A JP2110292A JPH05215663A JP H05215663 A JPH05215663 A JP H05215663A JP 4021102 A JP4021102 A JP 4021102A JP 2110292 A JP2110292 A JP 2110292A JP H05215663 A JPH05215663 A JP H05215663A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 任意に分散して存在する均一粒状物質中に混
入する大粒子を、接着して存在する粒子と識別してその
有無及び大きさを判定すること。 【構成】 画像中の各パターンのその位置情報の平均値
を求めてそれを各パターンの重心として定義し、重心位
置から任意方向における、輪郭構成画素までの距離を数
個求め、それらの値が全て同一ならば粒子が接着せずに
単独で存在しているとし、かつその値が規定値を越えて
いるならばそのパターンは大粒子であると判定してその
大きさを出力するものである。
入する大粒子を、接着して存在する粒子と識別してその
有無及び大きさを判定すること。 【構成】 画像中の各パターンのその位置情報の平均値
を求めてそれを各パターンの重心として定義し、重心位
置から任意方向における、輪郭構成画素までの距離を数
個求め、それらの値が全て同一ならば粒子が接着せずに
単独で存在しているとし、かつその値が規定値を越えて
いるならばそのパターンは大粒子であると判定してその
大きさを出力するものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プラスチック等の均一
粒状物質中における大粒子の混入の有無をその外観から
判定する均一粒状物質中の大粒子識別法に関する。
粒状物質中における大粒子の混入の有無をその外観から
判定する均一粒状物質中の大粒子識別法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、文字、図形等のパターンマッチン
グ装置において、入力されたパターンと予め記憶した標
準パターンとのマッチングを行なう方法がある（特開平
1-169583）。
グ装置において、入力されたパターンと予め記憶した標
準パターンとのマッチングを行なう方法がある（特開平
1-169583）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来方法は、対象画像
を基準画像によってパターンマッチングする方法である
が、対象画像を基準画像に対して数画素移動させながら
次々とその類似度を求めて判定する必要があるため、処
理に時間がかかるという問題がある。
を基準画像によってパターンマッチングする方法である
が、対象画像を基準画像に対して数画素移動させながら
次々とその類似度を求めて判定する必要があるため、処
理に時間がかかるという問題がある。
【０００４】本発明は、任意に分散して存在する均一粒
状物質中に混入する大粒子を、接着して存在する粒子と
識別してその有無及び大きさを判定することを目的とす
る。
状物質中に混入する大粒子を、接着して存在する粒子と
識別してその有無及び大きさを判定することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、任意に分散し
て存在する均一な粒状物質中に含まれる大粒子の有無を
判定する、均一粒状物質中の大粒子識別法であって、判
定対象の下方から投光してその透過光を２値画像として
撮像し、撮像された画像中の各パターンの境界を追跡し
てその輪郭構成画素の位置情報を記憶し、各パターンの
その位置情報の平均値を求めてそれを各パターンの重心
と定義し、重心位置から任意方向における、輪郭構成画
素までの距離を数個求め、それらの値が全て同一ならば
粒子が接着せずに単独で存在しているとし、かつその値
が規定値を越えているならばそのパターンは大粒子であ
ると判定してその大きさを出力するようにしたものであ
る。
て存在する均一な粒状物質中に含まれる大粒子の有無を
判定する、均一粒状物質中の大粒子識別法であって、判
定対象の下方から投光してその透過光を２値画像として
撮像し、撮像された画像中の各パターンの境界を追跡し
てその輪郭構成画素の位置情報を記憶し、各パターンの
その位置情報の平均値を求めてそれを各パターンの重心
と定義し、重心位置から任意方向における、輪郭構成画
素までの距離を数個求め、それらの値が全て同一ならば
粒子が接着せずに単独で存在しているとし、かつその値
が規定値を越えているならばそのパターンは大粒子であ
ると判定してその大きさを出力するようにしたものであ
る。
【０００６】
【作用】本発明によれば、画像中の各パターンのその位
置情報の平均値を求めてそれを各パターンの重心として
定義し、重心位置から任意方向における、輪郭構成画素
までの距離を数個求め、それらの値が全て同一ならば粒
子が接着せずに単独で存在しているとし、かつその値が
規定値を越えているならばそのパターンは大粒子である
と判定してその大きさを出力する。
置情報の平均値を求めてそれを各パターンの重心として
定義し、重心位置から任意方向における、輪郭構成画素
までの距離を数個求め、それらの値が全て同一ならば粒
子が接着せずに単独で存在しているとし、かつその値が
規定値を越えているならばそのパターンは大粒子である
と判定してその大きさを出力する。
【０００７】従って、任意に分散して存在する均一粒状
物質中に混入する大粒子を、接着して存在する粒子と識
別してその有無及び大きさを判定することができる。
物質中に混入する大粒子を、接着して存在する粒子と識
別してその有無及び大きさを判定することができる。
【０００８】
【実施例】図１は本発明に係る判定方法を実施するため
の装置の一例を示す模式図、図２は判定方法のアルゴリ
ズムを示すフローチャート、図３は入力画像の一例を示
す模式図、図４はあるパターンについて重心と輪郭構成
画素との距離を求めた一例を示す模式図である。
の装置の一例を示す模式図、図２は判定方法のアルゴリ
ズムを示すフローチャート、図３は入力画像の一例を示
す模式図、図４はあるパターンについて重心と輪郭構成
画素との距離を求めた一例を示す模式図である。
【０００９】図１の判定装置１００の撮像部１０におい
て、１２は硝子上に分散された液晶パネル用スペーサ等
の対象物であり、照明装置１１により照射されている。
その透過光を、ここでは示していないが顕微鏡を介した
ＣＣＤカメラ１３で撮像し、その画像信号が処理装置２
０に入力される。この粒子を下方から投光すると、粒子
の中心部は透過率が高いのに対し、球体であるため周辺
部は光が屈折することにより影となる。これら粒子の大
きさは均一であるが、1000万個に１個程度の割合で大粒
子が混入することがある。
て、１２は硝子上に分散された液晶パネル用スペーサ等
の対象物であり、照明装置１１により照射されている。
その透過光を、ここでは示していないが顕微鏡を介した
ＣＣＤカメラ１３で撮像し、その画像信号が処理装置２
０に入力される。この粒子を下方から投光すると、粒子
の中心部は透過率が高いのに対し、球体であるため周辺
部は光が屈折することにより影となる。これら粒子の大
きさは均一であるが、1000万個に１個程度の割合で大粒
子が混入することがある。
【００１０】処理装置２０内のＡ／Ｄ変換回路２１で、
入力された画像信号がデジタル信号に変換され、更に２
値化回路２２において所定のレベルにより２値信号に変
換され、画像メモリ２３に送られる。ＲＡＭ２５は、Ｃ
ＰＵ２４の作業用のメモリとして用いられる。
入力された画像信号がデジタル信号に変換され、更に２
値化回路２２において所定のレベルにより２値信号に変
換され、画像メモリ２３に送られる。ＲＡＭ２５は、Ｃ
ＰＵ２４の作業用のメモリとして用いられる。
【００１１】処理装置２０にて処理された結果は、モニ
ター等の出力部３０に送られ、大粒子の有無及び大粒子
が存在したときはその大きさが出力される。
ター等の出力部３０に送られ、大粒子の有無及び大粒子
が存在したときはその大きさが出力される。
【００１２】以下、処理装置２０内の処理手順を図２に
示すフローチャートに基づき、図３の入力画像を例とし
て説明する。
示すフローチャートに基づき、図３の入力画像を例とし
て説明する。
【００１３】(1) ２値画像をラスタ走査し、未処理パタ
ーンをみつけ、その境界を追跡してその輪郭構成画素の
位置情報をＲＡＭ２５に格納する。
ーンをみつけ、その境界を追跡してその輪郭構成画素の
位置情報をＲＡＭ２５に格納する。
【００１４】(2) 各パターンに対してその位置情報の平
均値を求めてそれを各パターンの重心Ｇと定義する。
均値を求めてそれを各パターンの重心Ｇと定義する。
【００１５】(3) この重心位置から任意方向における、
輪郭構成画素までの距離Ｌi(j)を数個求めて、それらの
値が全て同一ならば粒子が接着せずに単独で存在してい
るとし、かつその値が対象粒子で決定される規定値Ｔを
越えているならばそのパターンは大粒子であると判断し
てその大きさを出力する。
輪郭構成画素までの距離Ｌi(j)を数個求めて、それらの
値が全て同一ならば粒子が接着せずに単独で存在してい
るとし、かつその値が対象粒子で決定される規定値Ｔを
越えているならばそのパターンは大粒子であると判断し
てその大きさを出力する。
【００１６】図４は、(a) 単独で存在している粒子、
(b) 接着して存在している粒子、そして(c) 混入した大
粒子、に対して重心位置から４方向の輪郭構成画素まで
の距離を求めた例である。粒子(a) 、(c) の場合は、単
独で存在しているためその輪郭構成画素の平均値はその
パターンの重心と位置する。従って、そこから任意方向
における輪郭構成画素までの距離は等しくなり、接着し
て存在する粒子(b) と識別が可能となる。
(b) 接着して存在している粒子、そして(c) 混入した大
粒子、に対して重心位置から４方向の輪郭構成画素まで
の距離を求めた例である。粒子(a) 、(c) の場合は、単
独で存在しているためその輪郭構成画素の平均値はその
パターンの重心と位置する。従って、そこから任意方向
における輪郭構成画素までの距離は等しくなり、接着し
て存在する粒子(b) と識別が可能となる。
【００１７】表１は出力結果の一例である。
【表１】
【００１８】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、任意に分
散して存在する均一粒状物質中に混入する大粒子を、接
着して存在する粒子と識別してその有無及び大きさを判
定することができる。
散して存在する均一粒状物質中に混入する大粒子を、接
着して存在する粒子と識別してその有無及び大きさを判
定することができる。
【図１】図１は本発明に係る判定方法を実施するための
装置の一例を示す模式図である。
装置の一例を示す模式図である。
【図２】図２は判定方法のアルゴリズムを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図３】図３は入力画像の一例を示す模式図である。
【図４】図４はあるパターンについて重心と輪郭構成画
素との距離を求めた一例を示す模式図である。
素との距離を求めた一例を示す模式図である。
１００ 判定装置 １０ 撮像部 １１ 照明装置 １２ 対象物 １３ ＣＣＤカメラ ２０ 処理装置 ２１ Ａ／Ｄ変換回路 ２２ ２値化回路 ２３ 画像メモリ ２４ ＣＰＵ ３０ 出力部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｆ 15/70 ３５０ Ｚ 9071−5Ｌ
Claims (1)
- 【請求項１】 任意に分散して存在する均一な粒状物質
中に含まれる大粒子の有無を判定する、均一粒状物質中
の大粒子識別法であって、 判定対象の下方から投光してその透過光を２値画像とし
て撮像し、 撮像された画像中の各パターンの境界を追跡してその輪
郭構成画素の位置情報を記憶し、 各パターンのその位置情報の平均値を求めてそれを各パ
ターンの重心と定義し、 重心位置から任意方向における、輪郭構成画素までの距
離を数個求め、それらの値が全て同一ならば粒子が接着
せずに単独で存在しているとし、かつその値が規定値を
越えているならばそのパターンは大粒子であると判定し
てその大きさを出力することを特徴とする均一粒状物質
中の大粒子識別法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4021102A JPH05215663A (ja) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | 均一粒状物質中の大粒子識別法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4021102A JPH05215663A (ja) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | 均一粒状物質中の大粒子識別法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05215663A true JPH05215663A (ja) | 1993-08-24 |
Family
ID=12045513
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4021102A Pending JPH05215663A (ja) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | 均一粒状物質中の大粒子識別法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05215663A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004348160A (ja) * | 2003-04-30 | 2004-12-09 | Catalysts & Chem Ind Co Ltd | スリット板およびこれを備えた光学顕微鏡 |
| JP2017072439A (ja) * | 2015-10-06 | 2017-04-13 | 株式会社日清製粉グループ本社 | 粗大粒子の測定方法および粗大粒子の測定装置 |
| CN112697658A (zh) * | 2019-10-23 | 2021-04-23 | 中国石油化工股份有限公司 | 存储器、电子显微镜颗粒几何性质测定方法、设备和装置 |
-
1992
- 1992-02-06 JP JP4021102A patent/JPH05215663A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004348160A (ja) * | 2003-04-30 | 2004-12-09 | Catalysts & Chem Ind Co Ltd | スリット板およびこれを備えた光学顕微鏡 |
| JP2017072439A (ja) * | 2015-10-06 | 2017-04-13 | 株式会社日清製粉グループ本社 | 粗大粒子の測定方法および粗大粒子の測定装置 |
| CN112697658A (zh) * | 2019-10-23 | 2021-04-23 | 中国石油化工股份有限公司 | 存储器、电子显微镜颗粒几何性质测定方法、设备和装置 |
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