JPH05165959A - 均一粒状物質の個数判定法 - Google Patents
均一粒状物質の個数判定法Info
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- JPH05165959A JPH05165959A JP3335015A JP33501591A JPH05165959A JP H05165959 A JPH05165959 A JP H05165959A JP 3335015 A JP3335015 A JP 3335015A JP 33501591 A JP33501591 A JP 33501591A JP H05165959 A JPH05165959 A JP H05165959A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 任意に分散して存在する均一粒状物質の個数
を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判
定する方法を提供すること。 【構成】 画像中の各パターンの輪郭構成画素の位置情
報を基に各パターンの内部の黒及び白画素の画素数を計
測し、白画素数が第１の規定値以下ならば、そのパター
ンを異物と判定し、黒画素数が第２の規定値以上なら
ば、そのパターンは粒子が接着しているものと判定し
て、それら白及び／又は黒の画素数をその対象の予め設
定しておいた白及び／又は黒の基準画素数で除算するこ
とにより接着パターンの粒子個数を求め、白画素数が第
１の規定値超え、かつ黒画素数が第２の規定値未満なら
ば、粒子が接着せずに単独で存在していると判定するこ
ととなり、任意に分散して存在する均一粒状物質の個数
を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判
定するようにしたものである。
を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判
定する方法を提供すること。 【構成】 画像中の各パターンの輪郭構成画素の位置情
報を基に各パターンの内部の黒及び白画素の画素数を計
測し、白画素数が第１の規定値以下ならば、そのパター
ンを異物と判定し、黒画素数が第２の規定値以上なら
ば、そのパターンは粒子が接着しているものと判定し
て、それら白及び／又は黒の画素数をその対象の予め設
定しておいた白及び／又は黒の基準画素数で除算するこ
とにより接着パターンの粒子個数を求め、白画素数が第
１の規定値超え、かつ黒画素数が第２の規定値未満なら
ば、粒子が接着せずに単独で存在していると判定するこ
ととなり、任意に分散して存在する均一粒状物質の個数
を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判
定するようにしたものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プラスチック製均一粒
状物質の個数をその外観から判定する、均一粒状物質の
個数判定法に関する。
状物質の個数をその外観から判定する、均一粒状物質の
個数判定法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、文字、図形等のパターンマッチン
グ装置において、入力されたパターンと予め記憶した標
準パターンとのマッチングを行なう方法がある（特開平
1-169583）。
グ装置において、入力されたパターンと予め記憶した標
準パターンとのマッチングを行なう方法がある（特開平
1-169583）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来方法は、対象画像
を基準画像によってパターンマッチングする方法である
が、対象画像を基準画像に対して数画素移動させながら
次々とその類似度を求めて判定する必要があるため、処
理に時間がかかるという問題がある。また、接着して存
在する物質の個数を判定できない。
を基準画像によってパターンマッチングする方法である
が、対象画像を基準画像に対して数画素移動させながら
次々とその類似度を求めて判定する必要があるため、処
理に時間がかかるという問題がある。また、接着して存
在する物質の個数を判定できない。
【０００４】本発明は、任意に分散して存在する均一粒
状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精
度で確実に判定する方法を提供することを目的とする。
状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精
度で確実に判定する方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の本発明
は、任意に分散して存在する均一な粒状物質の個数を判
定する、均一粒状物質の個数判定法であって、判定対象
の下方から投光してその透過光を２値画像として撮像
し、撮像された画像中の各パターンの境界を追跡してそ
の輪郭構成画素の位置情報を記憶し、その位置情報を基
に各パターンの内部の黒及び白画素の画素数を計測し、
白画素数が第１の規定値以下ならば、そのパターンを異
物と判定し、黒画素数が第２の規定値以上ならば、その
パターンは粒子が接着しているものと判定して、それら
白及び／又は黒の画素数をその対象の予め設定しておい
た白及び／又は黒の基準画素数で除算することにより接
着パターンの粒子個数を求め、白画素数が第１の規定値
超え、かつ黒画素数が第２の規定値未満ならば、粒子が
接着せずに単独で存在していると判定するようにしたも
のである。
は、任意に分散して存在する均一な粒状物質の個数を判
定する、均一粒状物質の個数判定法であって、判定対象
の下方から投光してその透過光を２値画像として撮像
し、撮像された画像中の各パターンの境界を追跡してそ
の輪郭構成画素の位置情報を記憶し、その位置情報を基
に各パターンの内部の黒及び白画素の画素数を計測し、
白画素数が第１の規定値以下ならば、そのパターンを異
物と判定し、黒画素数が第２の規定値以上ならば、その
パターンは粒子が接着しているものと判定して、それら
白及び／又は黒の画素数をその対象の予め設定しておい
た白及び／又は黒の基準画素数で除算することにより接
着パターンの粒子個数を求め、白画素数が第１の規定値
超え、かつ黒画素数が第２の規定値未満ならば、粒子が
接着せずに単独で存在していると判定するようにしたも
のである。
【０００６】請求項２に記載の本発明は、任意に分散し
て存在する均一な粒状物質の個数を判定する、均一粒状
物質の個数判定法であって、判定対象の下方から投光し
てその透過光を２値画像として撮像し、撮像された画像
中の各パターンに対してラベリング処理を行ない、ラベ
リングされた各パターンの画素数をカウントし、ラベリ
ングされた画素で囲まれたラベリングされなかった白画
素の画素数を計測し、白画素数が第１の規定値以下なら
ば、そのパターンを異物と判定し、黒画素数が第２の規
定値以上ならば、そのパターンは粒子が接着しているも
のと判定して、それら白及び／又は黒の画素数をその対
象の予め設定しておいた白及び／又は黒の基準画素数で
除算することにより接着パターンの粒子個数を求め、白
画素数が第１の規定値超え、かつ黒画素数が第２の規定
値未満ならば、粒子が接着せずに単独で存在していると
判定するようにしたものである。
て存在する均一な粒状物質の個数を判定する、均一粒状
物質の個数判定法であって、判定対象の下方から投光し
てその透過光を２値画像として撮像し、撮像された画像
中の各パターンに対してラベリング処理を行ない、ラベ
リングされた各パターンの画素数をカウントし、ラベリ
ングされた画素で囲まれたラベリングされなかった白画
素の画素数を計測し、白画素数が第１の規定値以下なら
ば、そのパターンを異物と判定し、黒画素数が第２の規
定値以上ならば、そのパターンは粒子が接着しているも
のと判定して、それら白及び／又は黒の画素数をその対
象の予め設定しておいた白及び／又は黒の基準画素数で
除算することにより接着パターンの粒子個数を求め、白
画素数が第１の規定値超え、かつ黒画素数が第２の規定
値未満ならば、粒子が接着せずに単独で存在していると
判定するようにしたものである。
【０００７】
【作用】請求項１に記載の本発明によれば、画像中の各
パターンの輪郭構成画素の位置情報を基に各パターンの
内部の黒及び白画素の画素数を計測し、白画素数が第１
の規定値以下ならば、そのパターンを異物と判定し、黒
画素数が第２の規定値以上ならば、そのパターンは粒子
が接着しているものと判定して、それら白及び／又は黒
の画素数をその対象の予め設定しておいた白及び／又は
黒の基準画素数で除算することにより接着パターンの粒
子個数を求め、白画素数が第１の規定値超え、かつ黒画
素数が第２の規定値未満ならば、粒子が接着せずに単独
で存在していると判定することとなり、任意に分散して
存在する均一粒状物質の個数を、接着の有無及びその個
数とともに高精度で確実に判定することができる。
パターンの輪郭構成画素の位置情報を基に各パターンの
内部の黒及び白画素の画素数を計測し、白画素数が第１
の規定値以下ならば、そのパターンを異物と判定し、黒
画素数が第２の規定値以上ならば、そのパターンは粒子
が接着しているものと判定して、それら白及び／又は黒
の画素数をその対象の予め設定しておいた白及び／又は
黒の基準画素数で除算することにより接着パターンの粒
子個数を求め、白画素数が第１の規定値超え、かつ黒画
素数が第２の規定値未満ならば、粒子が接着せずに単独
で存在していると判定することとなり、任意に分散して
存在する均一粒状物質の個数を、接着の有無及びその個
数とともに高精度で確実に判定することができる。
【０００８】請求項２に記載の本発明によれば、画像中
のラベリングされた各パターンの画素数をカウントし、
ラベリングされた画素で囲まれたラベリングされなかっ
た白画素の画素数を計測し、白画素数が第１の規定値以
下ならば、そのパターンを異物と判定し、黒画素数が第
２の規定値以上ならば、そのパターンは粒子が接着して
いるものと判定して、それら白及び／又は黒の画素数を
その対象の予め設定しておいた白及び／又は黒の基準画
素数で除算することにより接着パターンの粒子個数を求
め、白画素数が第１の規定値超え、かつ黒画素数が第２
の規定値未満ならば、粒子が接着せずに単独で存在して
いると判定することとなり、任意に分散して存在する均
一粒状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに
高精度で確実に判定することができる。
のラベリングされた各パターンの画素数をカウントし、
ラベリングされた画素で囲まれたラベリングされなかっ
た白画素の画素数を計測し、白画素数が第１の規定値以
下ならば、そのパターンを異物と判定し、黒画素数が第
２の規定値以上ならば、そのパターンは粒子が接着して
いるものと判定して、それら白及び／又は黒の画素数を
その対象の予め設定しておいた白及び／又は黒の基準画
素数で除算することにより接着パターンの粒子個数を求
め、白画素数が第１の規定値超え、かつ黒画素数が第２
の規定値未満ならば、粒子が接着せずに単独で存在して
いると判定することとなり、任意に分散して存在する均
一粒状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに
高精度で確実に判定することができる。
【０００９】尚、本発明において、「ラベリング処理」
とは、同じ連結成分に属する全ての画素に同じラベル
（番号）を割り当て、異なった連結成分には異なったラ
ベルを割り当てる操作である。
とは、同じ連結成分に属する全ての画素に同じラベル
（番号）を割り当て、異なった連結成分には異なったラ
ベルを割り当てる操作である。
【００１０】
【実施例】図１は本発明に係る判定方法の第１実施例を
実施するための装置の一例を示す模式図、図２は判定方
法のアルゴリズムを示すフローチャート、図３は入力画
像の一例を示す模式図、図４はパターンの内部及び外部
の画素数を説明する模式図、図５は本発明に係る判定方
法の第２実施例を実施するための装置の一例を示す模式
図、図６は判定方法のアルゴリズムを示すフローチャー
ト、図７は入力画像の一例を示す模式図、図８はパター
ンの内部及び外部の画素数を説明する模式図である。
実施するための装置の一例を示す模式図、図２は判定方
法のアルゴリズムを示すフローチャート、図３は入力画
像の一例を示す模式図、図４はパターンの内部及び外部
の画素数を説明する模式図、図５は本発明に係る判定方
法の第２実施例を実施するための装置の一例を示す模式
図、図６は判定方法のアルゴリズムを示すフローチャー
ト、図７は入力画像の一例を示す模式図、図８はパター
ンの内部及び外部の画素数を説明する模式図である。
【００１１】（第１実施例）（図１〜図４参照） 図１の判定装置１００の撮像部１０において、１２は硝
子上に分散された液晶パネル用スペーサ等の対象物であ
り、照明装置１１により照射されている。その透過光
を、ここでは示していないが顕微鏡を介したＣＣＤカメ
ラ１３で撮像し、その画像信号が処理装置２０に入力さ
れる。この粒子を下方から投光すると、粒子の中心部は
透過率が高いのに対し、球体であるため周辺部は光が屈
折することにより影となる。
子上に分散された液晶パネル用スペーサ等の対象物であ
り、照明装置１１により照射されている。その透過光
を、ここでは示していないが顕微鏡を介したＣＣＤカメ
ラ１３で撮像し、その画像信号が処理装置２０に入力さ
れる。この粒子を下方から投光すると、粒子の中心部は
透過率が高いのに対し、球体であるため周辺部は光が屈
折することにより影となる。
【００１２】処理装置２０内のＡ／Ｄ変換回路２１で、
入力された画像信号がデジタル信号に変換され、更に２
値化回路２２において所定のレベルにより２値信号に変
換され、ＣＰＵ２４を介して画像メモリ２３に送られ
る。ＲＡＭ２５は、作業用のメモリとして用いられる。
入力された画像信号がデジタル信号に変換され、更に２
値化回路２２において所定のレベルにより２値信号に変
換され、ＣＰＵ２４を介して画像メモリ２３に送られ
る。ＲＡＭ２５は、作業用のメモリとして用いられる。
【００１３】処理装置２０にて処理された結果は、モニ
ター等の出力部３０に送られ、対象物１２の全粒子数及
び接着している粒子数が出力される。
ター等の出力部３０に送られ、対象物１２の全粒子数及
び接着している粒子数が出力される。
【００１４】以下、処理装置２０内の処理手順を図２に
示すフローチャートに基づき、図３の入力画像を例とし
て説明する。
示すフローチャートに基づき、図３の入力画像を例とし
て説明する。
【００１５】(1) ２値画像をラスタ走査し、未処理パタ
ーンをみつけ、その境界を追跡してその輪郭構成画素の
位置情報をＲＡＭに格納する。
ーンをみつけ、その境界を追跡してその輪郭構成画素の
位置情報をＲＡＭに格納する。
【００１６】(2) 各パターンに対してその位置情報から
パターンの内部の黒画素Ｎb(i)（粒子の周辺部に相当）
及び白画素Ｎw(i)（粒子の中央部に相当）の画素数を計
測する（図４参照）。
パターンの内部の黒画素Ｎb(i)（粒子の周辺部に相当）
及び白画素Ｎw(i)（粒子の中央部に相当）の画素数を計
測する（図４参照）。
【００１７】(3) このＮb(i)、Ｎw(i)を用いて、下記パ
ターンを単独で存在、接着して存在、異物の 3種類に分
類する。 Ｎw(i)≦第１の規定値 ： 異物 …(1) Ｎb(i)≧第２の規定値 ： 接着して存在 …(2) その他 ： 単独で存在 …(3)
ターンを単独で存在、接着して存在、異物の 3種類に分
類する。 Ｎw(i)≦第１の規定値 ： 異物 …(1) Ｎb(i)≧第２の規定値 ： 接着して存在 …(2) その他 ： 単独で存在 …(3)
【００１８】パターンに異物が混在していたとしても、
異物には暗部分で囲まれた明部分が存在しないため、異
物を分離できる。
異物には暗部分で囲まれた明部分が存在しないため、異
物を分離できる。
【００１９】また、接着しているパターンの個数は次の
ようにしてその個数を判定する。 ｎ1(i)＝Ｎw(i)／Ｓw …(4) ｎ2(i)＝Ｎb(i)／Ｓb …(5)
ようにしてその個数を判定する。 ｎ1(i)＝Ｎw(i)／Ｓw …(4) ｎ2(i)＝Ｎb(i)／Ｓb …(5)
【００２０】但し、Ｓw 、Ｓb はそれぞれ対象の基準パ
ターンにおいて予め設定した白及び黒の基準画素数であ
る。 ｎ(i) ＝（ｎ1(i)＋ｎ2(i)）／2 …(6) もしくは ｎ(i) ＝（ｎ1(i)・ｎ2(i)）1/2 …(7)
ターンにおいて予め設定した白及び黒の基準画素数であ
る。 ｎ(i) ＝（ｎ1(i)＋ｎ2(i)）／2 …(6) もしくは ｎ(i) ＝（ｎ1(i)・ｎ2(i)）1/2 …(7)
【００２１】尚、接着パターンの粒子個数ｎ(i) は、下
記(8) 式又は(9) 式によって判定しても良い。 ｎ(i) ＝Ｎw(i)／Ｓw …(8) ｎ(i) ＝Ｎb(i)／Ｓb …(9)
記(8) 式又は(9) 式によって判定しても良い。 ｎ(i) ＝Ｎw(i)／Ｓw …(8) ｎ(i) ＝Ｎb(i)／Ｓb …(9)
【００２２】上記(1) 〜(3) により、図３の入力画像に
対し、表１の出力結果を得た。
対し、表１の出力結果を得た。
【表１】
【００２３】（第２実施例）（図５〜図８参照） 図５の判定装置２００の撮像部１１０において、１１２
は硝子上に分散された液晶パネル用スペーサ等の対象物
であり、照明装置１１１により照射されている。その透
過光を、ここでは示していないが顕微鏡を介したＣＣＤ
カメラ１１３で撮像し、その画像信号が処理装置１２０
に入力される。この粒子を下方から投光すると、粒子の
中心部は透過率が高いのに対し、球体であるため周辺部
は光が屈折することにより影となる。
は硝子上に分散された液晶パネル用スペーサ等の対象物
であり、照明装置１１１により照射されている。その透
過光を、ここでは示していないが顕微鏡を介したＣＣＤ
カメラ１１３で撮像し、その画像信号が処理装置１２０
に入力される。この粒子を下方から投光すると、粒子の
中心部は透過率が高いのに対し、球体であるため周辺部
は光が屈折することにより影となる。
【００２４】処理装置１２０内のＡ／Ｄ変換回路１２１
で、入力された画像信号がデジタル信号に変換され、更
に２値化回路１２２において所定のレベルにより２値信
号に変換され、ＣＰＵ１２４を介して画像メモリ１２３
に送られる。ＲＡＭ１２５は、作業用のメモリとして用
いられる。
で、入力された画像信号がデジタル信号に変換され、更
に２値化回路１２２において所定のレベルにより２値信
号に変換され、ＣＰＵ１２４を介して画像メモリ１２３
に送られる。ＲＡＭ１２５は、作業用のメモリとして用
いられる。
【００２５】処理装置１２０にて処理された結果は、モ
ニター等の出力部１３０に送られ、対象物１１２の全粒
子数及び接着している粒子数が出力される。
ニター等の出力部１３０に送られ、対象物１１２の全粒
子数及び接着している粒子数が出力される。
【００２６】以下、処理装置１２０内の処理手順を図６
に示すフローチャートに基づき、図７の入力画像を例と
して説明する。
に示すフローチャートに基づき、図７の入力画像を例と
して説明する。
【００２７】(1) ２値画像をラスタ走査し、ラベリング
処理を行ない、ラベリングされた各パターンの画素数Ｎ
b(i)（粒子の周辺部に相当）を求める。
処理を行ない、ラベリングされた各パターンの画素数Ｎ
b(i)（粒子の周辺部に相当）を求める。
【００２８】(2) 各パターンに対してラベリングされた
画素で囲まれたラベリングされなかった白画素の画素数
Ｎw(i)（粒子の中央部に相当）を計測する（図４参
照）。
画素で囲まれたラベリングされなかった白画素の画素数
Ｎw(i)（粒子の中央部に相当）を計測する（図４参
照）。
【００２９】(3) このＮb(i)、Ｎw(i)を用いて、下記パ
ターンを単独で存在、接着して存在、異物の 3種類に分
類する。 Ｎw(i)≦第１の規定値 ： 異物 …(10) Ｎb(i)≧第２の規定値 ： 接着して存在 …(11) その他 ： 単独で存在 …(12)
ターンを単独で存在、接着して存在、異物の 3種類に分
類する。 Ｎw(i)≦第１の規定値 ： 異物 …(10) Ｎb(i)≧第２の規定値 ： 接着して存在 …(11) その他 ： 単独で存在 …(12)
【００３０】パターンに異物が混在していたとしても、
異物には暗部分で囲まれた明部分が存在しないため、異
物を分離できる。
異物には暗部分で囲まれた明部分が存在しないため、異
物を分離できる。
【００３１】また、接着しているパターンの個数は次の
ようにしてその個数を判定する。 ｎ1(i)＝Ｎw(i)／Ｓw …(13) ｎ2(i)＝Ｎb(i)／Ｓb …(14)
ようにしてその個数を判定する。 ｎ1(i)＝Ｎw(i)／Ｓw …(13) ｎ2(i)＝Ｎb(i)／Ｓb …(14)
【００３２】但し、Ｓw 、Ｓb はそれぞれ対象の基準パ
ターンにおいて予め設定した白及び黒の基準画素数であ
る。 ｎ(i) ＝（ｎ1(i)＋ｎ2(i)）／2 …(15) もしくは ｎ(i) ＝（ｎ1(i)・ｎ2(i)）1/2 …(16)
ターンにおいて予め設定した白及び黒の基準画素数であ
る。 ｎ(i) ＝（ｎ1(i)＋ｎ2(i)）／2 …(15) もしくは ｎ(i) ＝（ｎ1(i)・ｎ2(i)）1/2 …(16)
【００３３】尚、接着パターンの粒子個数ｎ(i) は、下
記(17)式又は(18)式によって判定しても良い。 ｎ(i) ＝Ｎw(i)／Ｓw …(17) ｎ(i) ＝Ｎb(i)／Ｓb …(18)
記(17)式又は(18)式によって判定しても良い。 ｎ(i) ＝Ｎw(i)／Ｓw …(17) ｎ(i) ＝Ｎb(i)／Ｓb …(18)
【００３４】上記(1) 〜(3) により、図７の入力画像に
対し、表２の出力結果を得た。
対し、表２の出力結果を得た。
【表２】
【００３５】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、任意に分
散して存在する均一粒状物質の個数を、異物が存在して
いたとしても接着の有無及びその個数とともに高精度で
確実に判定することができる。
散して存在する均一粒状物質の個数を、異物が存在して
いたとしても接着の有無及びその個数とともに高精度で
確実に判定することができる。
【図１】図１は本発明に係る判定方法の第１実施例を実
施するための装置の一例を示す模式図である。
施するための装置の一例を示す模式図である。
【図２】図２は判定方法のアルゴリズムを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図３】図３は入力画像の一例を示す模式図である。
【図４】図４はパターンの内部及び外部の画素数を説明
する模式図である。
する模式図である。
【図５】図５は本発明に係る判定方法の第２実施例を実
施するための装置の一例を示す模式図である。
施するための装置の一例を示す模式図である。
【図６】図６は判定方法のアルゴリズムを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図７】図７は入力画像の一例を示す模式図である。
【図８】図８はパターンの内部及び外部の画素数を説明
する模式図である。
する模式図である。
１００、２００ 判定装置 １０、１１０ 撮像部 １１、１１１ 照明装置 １２、１１２ 対象物 １３、１１３ ＣＣＤカメラ ２０、１２０ 処理装置 ２１、１２１ Ａ／Ｄ変換回路 ２２、１２２ ２値化回路 ２３、１２３ 画像メモリ ２４、１２４ ＣＰＵ ３０、１３０ 出力部
Claims (2)
- 【請求項１】 任意に分散して存在する均一な粒状物質
の個数を判定する、均一粒状物質の個数判定法であっ
て、判定対象の下方から投光してその透過光を２値画像
として撮像し、撮像された画像中の各パターンの境界を
追跡してその輪郭構成画素の位置情報を記憶し、その位
置情報を基に各パターンの内部の黒及び白画素の画素数
を計測し、白画素数が第１の規定値以下ならば、そのパ
ターンを異物と判定し、黒画素数が第２の規定値以上な
らば、そのパターンは粒子が接着しているものと判定し
て、それら白及び／又は黒の画素数をその対象の予め設
定しておいた白及び／又は黒の基準画素数で除算するこ
とにより接着パターンの粒子個数を求め、白画素数が第
１の規定値超え、かつ黒画素数が第２の規定値未満なら
ば、粒子が接着せずに単独で存在していると判定するこ
とを特徴とする均一粒状物質の個数判定法。 - 【請求項２】 任意に分散して存在する均一な粒状物質
の個数を判定する、均一粒状物質の個数判定法であっ
て、判定対象の下方から投光してその透過光を２値画像
として撮像し、撮像された画像中の各パターンに対して
ラベリング処理を行ない、ラベリングされた各パターン
の画素数をカウントし、ラベリングされた画素で囲まれ
たラベリングされなかった白画素の画素数を計測し、白
画素数が第１の規定値以下ならば、そのパターンを異物
と判定し、黒画素数が第２の規定値以上ならば、そのパ
ターンは粒子が接着しているものと判定して、それら白
及び／又は黒の画素数をその対象の予め設定しておいた
白及び／又は黒の基準画素数で除算することにより接着
パターンの粒子個数を求め、白画素数が第１の規定値超
え、かつ黒画素数が第２の規定値未満ならば、粒子が接
着せずに単独で存在していると判定することを特徴とす
る均一粒状物質の個数判定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3335015A JP3043156B2 (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 均一粒状物質の個数判定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3335015A JP3043156B2 (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 均一粒状物質の個数判定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05165959A true JPH05165959A (ja) | 1993-07-02 |
| JP3043156B2 JP3043156B2 (ja) | 2000-05-22 |
Family
ID=18283788
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3335015A Expired - Fee Related JP3043156B2 (ja) | 1991-12-18 | 1991-12-18 | 均一粒状物質の個数判定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3043156B2 (ja) |
-
1991
- 1991-12-18 JP JP3335015A patent/JP3043156B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3043156B2 (ja) | 2000-05-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |