JP2002259971A - 画像濃淡ムラ検出方法及びこの検査装置 - Google Patents
画像濃淡ムラ検出方法及びこの検査装置Info
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Abstract
する、特にサイズが大きく、濃度差の小さいムラの誤検
出を抑え高速にムラを検出する装置を提供する。 【解決手段】(a)照射光源1と、(b)検査対象物2
を撮像する撮像装置3と、(c)受光光量値データ、閾
値で2値化処理されたデータ、マッチングされたデータ
等を記憶するメモリ4aと、2値化処理手段4bと、面
積閾値以下のものが除外され2値化処理された縮小撮像
画像を、面積閾値以下のものが除外され2値化処理され
た原撮像画像に論理和としてマッピングするマッピング
手段4cと、これらを制御・管理するCPUとを具備す
る演算処理コンピュータ4と、(d)受光光量値閾値及
び面積閾値を入力する入力装置6と、(e)演算処理さ
れた画像を表示する表示装置7と、から構成されている
画像濃淡ムラ検出装置。
Description
において一定濃度であることが期待される検査対象物に
生じた部分的な濃淡ムラを撮像画像から解析、検出する
画像処理方法に関するものであり、特にカラーフィルタ
ーなどのムラ検査において用いられる画像処理方法に関
するものである。
フィルターやカラービデオカメラ等の色分解用カラーフ
ィルターの製品検査として画像解析装置を用いたムラの
検査が行われている。この画像解析装置は通常、画像入
力装置、コンピュータ、照明および付属装置類からな
り、カラーフィルターを透過光撮影することによって画
像データを得た後、コンピュータによって画像処理を行
い、ムラ領域を特定している。これに用いられる画像処
理方法としては、撮像画像データの1画素毎にデジタル
フィルタ、2次微分処理等を施した後、別途設定した閾
値と比較して閾値を越えた部分をムラ領域として特定す
るというものである。
ない要因からカラーフィルターには液ハネや粉塵に起因
する小さな点状のムラからレジストコーティング装置に
起因するスジ状、同心円状の大きなムラまで様々な大き
さのムラが発生するのが現実である。また、人間の視覚
特性上、サイズの大きなムラは輝度差が小さくても目立
ちやすくなることが解っている。
イズ、形状毎にデジタルフィルタを複数用意し、それら
を繰り返し適用することによってあらゆる種類のムラを
検出しようとするものであった。この場合特に大きいサ
イズのムラを検出するデジタルフィルタはマトリックス
のサイズも大きくなるため計算量が膨大となり、時間上
の制約からある程度以上のサイズのデジタルフィルタを
適用することは現実的ではなかった。また、サイズの大
きなムラは検出すべき輝度差が小さいため画像に重畳さ
れたノイズ等の影響を受け、誤検出が発生しがちであっ
た。
来の課題に鑑みなされたものであり、従来の技術で説明
した製品検査の画像処理部分に対する解決手段を提供す
るものである。本発明の目的とするところは、カラーフ
ィルターなどの検査に適用してあらゆるサイズのムラを
要求品質に合わせて感度良く検出すること、特にサイズ
が大きく、濃度差の小さいムラを誤検出を抑えつつ感度
良く高速に検出させることにある。
になされた請求項1に記載の発明は、検査対象物を撮影
して得られた2次元濃淡画像を解析し、部分的に濃度が
高いあるいは低い領域(ムラ領域)を特定する画像解析
において、(1)検査対象物を撮像装置で、原撮像画像
と原撮像画像に対し縮尺の異なる1つ以上の縮小撮像画
像とを作成する工程と、(2)原撮像画像および縮小撮
像画像のそれぞれに別途設定した受光光量値閾値との比
較結果に基づいて、閾値範囲外の受光光量値を持つ撮像
画像を構成するドットに図(例えば黒ドットとして
1)、それ以外のドットに背景(例えば白ドットとして
0)を割り当てて2値化処理をする工程と、(3)原撮
像画像及び縮小撮像画像の図(黒ドットとして1)であ
るドットが互いに隣接してなる領域を求めて各領域の面
積を演算する工程と(4)さらに前記(3)に記載する
工程で算出した原撮影画像及び縮小撮像画像の各領域の
面積が、別途設定した面積閾値以下のものは除外して、
背景(例えば白として0)とする2値化処理をする工程
と、(5)(4)の工程で面積閾値以下のものが除外さ
れ2値化処理された縮小撮像画像を、面積閾値以下のも
のが除外され2値化処理された原撮像画像に論理和とし
てマッピングする工程と、(6)マッピングして得られ
る2値画像において図(黒ドットとして1)である領域
をムラ領域であるとする工程と、を少なくとも有するこ
とを特徴とする画像濃淡ムラ検出方法である。
および縮小撮像画像のそれぞれにデジタルフィルタ等の
画像処理を適用した後、請求項1に記載した処理工程を
行なうことを特徴とする画像濃淡ムラ検出方法である。
この方法は、必要に応じて撮像画像にノイズ除去、アン
シャープ、強調処理等の画像処理を施し、目的とするム
ラのコントラストを高めておくことで後の処理がし易く
なる。
対象物を照射する光源と、(b)透過光或いは反射光で
検査対象物を撮像する撮像装置と、(c)撮像装置から
得られた受光光量値データ、受光光量値閾値及び面積閾
値で2値化処理されたデータ、マッチングされたデータ
等をそれぞれ記憶するメモリと、これらのデータを2値
化処理する2値化処理手段と、面積閾値以下のものが除
外され2値化処理された縮小撮像画像を、面積閾値以下
のものが除外され2値化処理された原撮像画像に論理和
としてマッピングするマッピング手段と、これらを制御
・管理するCPUとを少なくとも具備する演算処理コン
ピュータと、(d)受光光量値閾値及び面積閾値を入力
する入力装置と(e)演算処理された画像を表示する表
示装置と、から構成されていることを特徴とする画像濃
淡ムラ検出装置である。
細に説明する。図1は、2個の撮像倍率の異なる撮像画
像において、画像濃度ムラ検出方法を示すフローチャー
トであり、図2〜図5は、この方法によって処理・表示
される画像を示す平面図である。
像と縮小撮像画像を得る。(step1) 図2は原撮像画像を原寸(等)倍率、縮小撮像画像を縮
小倍率60%で検査対象物を撮像した画像であり、
(a)は原寸(等)倍率の原撮像画像、(b)は縮小撮
像画像をそれぞれ示す平面図である。図2(a)に示す
如く、原撮像画像(10)には、濃度が高く面積が大き
い領域(11a)、濃度が高く面積が小さい領域(11
b)、濃度が低く面積が大きい領域(12a、13)、
濃度が低く面積が小さい領域(12b)が混在した画像
が得られたとする。同様に、図2(b)に示す如く、縮
小撮像画像(20)にも、それそれが縮小された状態
で、濃度が高く面積が大きい領域(21a)、濃度が高
く面積が小さい領域(21b)、濃度が低く面積が大き
い領域(22a、23)、濃度が低く面積が小さい領域
(22b)が混在した画像が得られる。
ト)受光光量値を、設定された下限及び上限の受光光量
値閾値で2値化する。(step2) 図6に示すように検査対象物を透過光で撮像すると、濃
度の高い領域は受光光量値が小さく、反対に濃度の低い
領域は受光光量値が大きくなる。この撮像して得られた
受光光量値を前記閾値で2値化すると、図3(a)
(b)に示すように上限の閾値より濃度の高い領域(1
1a、11b、21a、21b)及び下限の閾値より濃
度の低い領域(12a、12b、22a、22b、1
3)に対応するドッドが図(以下1−ドットと記す)と
なり、これ以外の領域に対応するドッドが背景(以下0
−ドットと記す)となる。
値で2値化された1―ドットの領域(11a、11b、
12a、12b、13,21a、21b、22a、22
b、23)でドットが互いに隣接している領域の面積を
演算し算出する。(step3)
力された面積閾値より小さい領域を0−ドットに割り当
て2値化し、背景として消去する。(step4) この背景として消去した画像が図4(a)、(b)であ
る。図4(a)において、図3(a)に示した面積閾値
より小さい領域(11b)は消去されており、図4
(b)において、図3(b)に示した面積閾値より小さ
い領域(21b、23)は消去されている。このよう
に、図4(a)と、図(b)とは、相似形にならない現
象は、上記の受光光量値閾値、面積閾値をムラとして検
出する感度に応じて、(すなわち、どの程度の濃度差を
ムラとするのか、どの位の大きさをムラとするのか、要
求される製品の品質基準に応じて)、撮像画像毎に設定
されるために起こり得ることである。この例では、図4
(a)で図3(a)の1−ドッドである13の領域が残
り、図4(b)では、図3(b)の23の領域が消去さ
れているが、当然のことながら閾値の設定によっては反
対に図4(a)の13の領域が消去され、図4(b)の
23の領域が残ることもある。
(b)の2値化された画像を論理和としてマッピングす
る。(step5) すなわち、図4(b)の縮小撮像画像を図4(a)の原
撮像画像の大きさに拡大し、両者を重ね合わせで、図5
に示すように論理和が1−ドット(黒)となる領域がム
ラであると検出されることになる。(step6)
作成することにより画像に重畳したノイズも同時に縮小
され、ノイズ成分を減少させることが可能となる。ま
た、1つ以上ある縮小画像のうち、発生したムラのサイ
ズに適合した縮小率の縮小画像においてはムラ部分のコ
ントラストを向上させることが可能になるが、この作用
は縮小率が高い画像、すなわちサイズの大きなムラに関
して特に効果が大きい。続いて原撮像画像および各縮小
撮像画像についてそれぞれ2値化を行ない、しかる後に
面積閾値以下の領域を除外することによってさらにノイ
ズの誤検出を減少させることが可能となる。最後に原撮
像2値化画像および各縮小撮像2値化画像の論理和をと
ることによってあらゆるサイズのムラを感度良く検出す
ることが可能となる。また、縮小撮像画像を作成し、そ
の縮小撮像画像に対して処理を行なうことにより計算の
負荷が少なく、高速な処理が可能となる。本発明の処理
方法は上記各作用の結果として、あらゆるサイズのムラ
を感度良く検出すること、特にサイズが大きく、輝度差
の小さいムラを誤検出を抑えつつ感度良く高速に検出す
ることが可能になるという作用をもたらす。
をブロック図で示す。光源(1)から検査対象物(2)
に照射し、透過光或いは反射光によりCCD撮像素子、
フォトマル撮像素子等を用いた撮像装置(3)で受光光
量を電気信号に変換し、この受光光量値データを演算処
理コンピュータ(4)に入力し処理する。演算処理コン
ピュータ(4)には受光光量値データを例えば8ビッ
ト、256階調に変換してメモリ(4a)に記憶させ
る。この受光光量値データをキーボード等の入力装置
(6)で入力された受光光量値閾値(6a)によって、
受光光量値閾値の上限値より大きい受光光量値、及び下
限値より小さい受光光量値が1−ドット、これ以外の受
光光量値は0−ドットとする2値化手段(4b)によっ
て2値化されメモリ(4a)に記憶させる。
タを、入力装置(6)で入力された面積閾値(6b)よ
り小さい領域を0−ドット、面積閾値より大きい領域を
1−ドットとする2値化手段(4b)によって2値化さ
れメモリ(4a)に記憶させる。
縮小撮像画像を論理和としてマッピング手段(4c)で
マッピングしてメモリ(4a)に記憶させると同時に、
CRTや液晶ディスプレイ或いはプリンター等の表示手
段(7)で表示させる。
値に依存するので、検査対象物の要求品質によって変化
させれば良い。全く検査対象物にムラがなければ何も表
示されない。また、上記の説明では、縮小撮像画像が1
個であるが、検査対象物の要求品質によって2個以上で
あってもよい。縮小画像を得るにはレンズの拡大率、レ
ンズー被写体間の距離を変える方法や原画像の画像処理
によって縮小してもよい。
00ドット、256階調の原撮像画像(図7(a))、
及び図7(b)、(c)、(d)に示すように1/2縮
小(400×300ドット)、1/4縮小(200×1
50ドット)、1/8縮小(100×75ドット)の縮
小撮像画像を作成した。
撮像画像に対して下限50、上限205、1/2縮小撮
像画像に対して、下限65、上限190、1/4縮小撮
像画像に対して、下限80、上限175、1/8縮小撮
像画像に対して、下限95、上限160をそれぞれ設定
し2値化処理を行なった。この2値化処理された画像を
図8にそれぞれ示す。
撮像画像に対して面積閾値3ドット、1/2縮小撮像画
像に対して面積閾値10ドット、1/8縮小撮像画像に
対して面積閾値20ドット、1/8縮小撮像画像に対し
て面積閾値30ドットを設定し、それそれ閾値以下の面
積を持つ領域を除外した。この面積閾値で2値化した画
像を図9に示す。
された図9に示す各縮小撮像2値化画像を原撮像2値化
画像に論理和をとってマッピングした結果が図10であ
り、黒く表示された部分がムラであると判定されたこと
になる。
フィルタをかけた画像に対して、上記の実施例1のごと
き処理を行ない、各縮小撮像2値化画像を原撮像2値化
画像に論理和をとってマッピングすることによりムラを
検出してもよい。
理によれば、縮小画像を作成することにより画像に重畳
したノイズを減少させることが可能となるという効果が
得られる。また、1つ以上ある縮小画像のうち、発生し
たムラのサイズに適合した縮小率の縮小画像においては
ムラ部分のコントラストを向上させることが可能になる
という効果が得られるが、この作用は縮小率が高い画
像、すなわちサイズの大きなムラに関して特に高い効果
を奏する。続いて原画像および各縮小画像についてそれ
ぞれ2値化を行ない、しかる後に面積閾値以下の領域を
除外することによってさらにノイズの誤検出を減少させ
ることが可能となるという効果が得られる。最後に原撮
像2値化画像および各縮小撮像2値化画像の論理和をと
ることによってあらゆるサイズのムラを感度良く検出す
ることが可能となるという効果が得られる。また、縮小
撮像画像を作成し、その縮小画像に対して処理を行なう
ことにより計算の負荷が少なく、高速な処理が可能とな
るという効果も得られる。本発明の処理方法は上記各効
果の結果として、あらゆるサイズのムラを要求品質に応
じて感度良く検出すること、特にサイズが大きく、輝度
差の小さいムラを誤検出を抑えつつ感度良く高速に検出
することが可能になるという効果を奏する。
ャートである。
(a)は原撮像画像、(b)は1/2縮小画像、(c)
は1/4縮小画像、(d)は1/8縮小画像を、それぞ
れ示す。
(a)は原撮像画像、(b)は1/2縮小画像、(c)
は1/4縮小画像、(d)は1/8縮小画像を、それぞ
れ受光光量値で2値化した図である。
は原撮像画像、(b)は1/2縮小画像、(c)は1/
4縮小画像、(d)は1/8縮小画像を、それぞれ面積
閾値で2値化した図である。
る。
象物 3…撮像装置 4…演算処
理コンピュータ 4a…メモリ 4b…2値化
手段 4c…マッピング手段 5…CPU 6…入力装置 6a…受光光
量値閾値 6b…面積閾値 7…表示装
置 10…原撮像画像 11a…濃度が高く面積が大きいムラ領域 11b…濃度が高く面積が小さいムラ領域 12a…濃度が低く面積が大きいムラ領域 12b…濃度が低く面積が小さいムラ領域 13…濃度が高く面積が大きいムラ領域 20…縮小撮像画像 21a…濃度が高く面積が大きいムラ領域 21b…濃度が高く面積が小さいムラ領域 22a…濃度が低く面積が大きいムラ領域 22b…濃度が低く面積が小さいムラ領域 23…濃度が高く面積が大きいムラ領域 30…ムラ表示画面
Claims (3)
- 【請求項1】検査対象物を撮影して得られた2次元濃淡
画像を解析し、部分的に濃度が高いあるいは低い領域
(ムラ領域)を特定する画像解析において、 (1)検査対象物を撮像装置で、原撮像画像と原撮像画
像に対し縮尺の異なる1つ以上の縮小撮像画像とを作成
する工程と、 (2)原撮像画像および縮小撮像画像のそれぞれに別途
設定した受光光量値閾値との比較結果に基づいて、閾値
範囲外の受光光量値を持つ撮像画像を構成するドットに
図(例えば黒ドットとして1)、それ以外のドットに背
景(例えば白ドットとして0)を割り当てて2値化処理
をする工程と、 (3)原撮像画像及び縮小撮像画像の図(黒ドットとし
て1)であるドットが互いに隣接してなる領域を求めて
各領域の面積を演算する工程と (4)さらに前記(3)に記載する工程で算出した原撮
影画像及び縮小撮像画像の各領域の面積が、別途設定し
た面積閾値以下のものは除外して、背景(例えば白とし
て0)とする2値化処理をする工程と、 (5)(4)の工程で面積閾値以下のものが除外され2
値化処理された縮小撮像画像を、面積閾値以下のものが
除外され2値化処理された原撮像画像に論理和としてマ
ッピングする工程と、 (6)マッピングして得られる2値画像において図(黒
ドットとして1)である領域をムラ領域であるとする工
程と、を少なくとも有することを特徴とする画像濃淡ム
ラ検出方法。 - 【請求項2】原撮像画像および縮小撮像画像のそれぞれ
にデジタルフィルタ等の画像処理を適用した後、請求項
1に記載した処理工程を行なうことを特徴とする画像濃
淡ムラ検出方法。 - 【請求項3】(a)検査対象物を照射する光源と、
(b)透過光或いは反射光で検査対象物を撮像する撮像
装置と、 (c)撮像装置から得られた受光光量値データ、受光光
量値閾値及び面積閾値で2値化処理されたデータ、及び
マッチングされたデータ等をそれぞれ記憶するメモリ
と、これらのデータを2値化処理する2値化処理手段
と、面積閾値以下のものが除外され2値化処理された縮
小撮像画像を、面積閾値以下のものが除外され2値化処
理された原撮像画像に論理和としてマッピングするマッ
ピング手段と、これらを制御・管理するCPUとを少な
くとも具備する演算処理コンピュータと、 (d)受光光量値閾値及び面積閾値を入力する入力装置
と (e)演算処理された画像を表示する表示装置と、 から構成されていることを特徴とする画像濃淡ムラ検出
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001054908A JP3941403B2 (ja) | 2001-02-28 | 2001-02-28 | 画像濃淡ムラ検出方法及びこの検査装置 |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP3941403B2 JP3941403B2 (ja) | 2007-07-04 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011196827A (ja) * | 2010-03-19 | 2011-10-06 | Lasertec Corp | 欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びパターン基板の製造方法 |
CN104297258A (zh) * | 2014-09-18 | 2015-01-21 | 景德镇陶瓷学院 | 一种圆形日用陶瓷器件的缺口检测方法 |
CN107807135A (zh) * | 2017-07-31 | 2018-03-16 | 水利部交通运输部国家能源局南京水利科学研究院 | 一种透明材料内置裂纹起裂预警及扩展实时监测的方法 |
-
2001
- 2001-02-28 JP JP2001054908A patent/JP3941403B2/ja not_active Expired - Fee Related
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CN107807135B (zh) * | 2017-07-31 | 2020-05-01 | 水利部交通运输部国家能源局南京水利科学研究院 | 一种透明材料内置裂纹起裂预警及扩展实时监测的方法 |
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