JPH05142138A - 粒子検出器 - Google Patents

粒子検出器

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JPH05142138A
JPH05142138A JP3331625A JP33162591A JPH05142138A JP H05142138 A JPH05142138 A JP H05142138A JP 3331625 A JP3331625 A JP 3331625A JP 33162591 A JP33162591 A JP 33162591A JP H05142138 A JPH05142138 A JP H05142138A
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JP
Japan
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laser light
laser beam
sheet
light
laser
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Pending
Application number
JP3331625A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigenori Nakada
重範 仲田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ushio Denki KK
Ushio Inc
Original Assignee
Ushio Denki KK
Ushio Inc
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Publication date
Application filed by Ushio Denki KK, Ushio Inc filed Critical Ushio Denki KK
Priority to JP3331625A priority Critical patent/JPH05142138A/ja
Publication of JPH05142138A publication Critical patent/JPH05142138A/ja
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 レーザ光発振部からの光を簡単な光学系でシ
ート状の光に変えて、また、レーザ光の直進方向におい
て、光量が不均一にならないようにして、さらには、レ
ーザ光発振部からの出射光を損失を少なくして効率良く
使うことができる粒子検出器を提供する。 【構成】 レーザ光発振部1と、このレーザ光発振部1
からのレーザ光をコリメートするコリメータレンズ群2
と、このコリメータレンズ群2の出射光をシート状に成
形するアナモルフィックプリズム3aよりなる光学系
と、このシート状のレーザ光を受けるビームストッパー
6と、粒子が、シート状のレーザ光の上を落ちたときに
発生する散乱光検出器5より構成している粒子検出器。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、粒子を検出する粒子
検出器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、真空中における粒子の検出装置と
しては、例えば米国特許第4804853号に開示して
いるものがある。この装置は、棒状のレーザ光を使っ
て、そこを横切る粒子を検出するものである。しかし、
この方法は、粒子を検出できる領域が非常に小さくなっ
てしまうという問題がある。
【0003】また、別の方法として、特開昭62−21
5843号に開示しているものがある。この方法は、棒
状のレーザ光を反射ミラーによって複数回往復させて、
ジクザグパターンの検出領域を作っている。この方法
は、検出領域は比較的広くなるが、反射ミラーが必要と
なり、この反射ミラーが、種々のガスによって腐食した
り、あるいは振動により位置ズレを起こすという問題が
ある。
【0004】さらには、このような問題を解決するため
に、棒状のレーザ光を、光学系によってシート状に変形
させる方法がある。この方法は、例えば、特開昭64−
53132号に示しているように、粒子の検出領域が広
くなり、また反射ミラーを使うこともない。
【0005】図3は、この方法を説明するための図であ
る。レーザ光発振部31から出射した棒状のレーザ光L
1は、ビームエクスパンダ32で拡大する。そして、拡
大したレーザ光L2は、鼓状の切り抜きを持つ空間フィ
ルタ33を通過する。空間フィルタ33を通ったレーザ
光L3は、鼓状になるが、これは、もともと棒状のレー
ザ光の光量がガウス分布をしているので、これを補正す
るためである。
【0006】空間フィルタ33を通ったレーザ光L3
は、円筒レンズ34によって、シート状のレーザ光L4
に変わる。ビームエクスパンダ32、空間フィルタ3
3、円筒レンズ34によって光学系38を構成してい
る。シート状のレーザ光L4には、粒子Rを検出するた
めの領域35がある。粒子Rは、落下してきて、この検
出領域35を横切るときに、散乱光を発生する。この散
乱光を受光器36で検出して、粒子の量を測定する。
【0007】ところが、この方法の場合は、棒状のレー
ザ光L1をシート状に変えるための光学系38が、非常
に大掛かりになってしまう。また、円筒レンズ34より
出射したシート状レーザ光L4は、円筒レンズ34の長
手方向では光量分布が均一であるが、直進方向に対して
は不均一である。このため検出領域35は、レーザ光の
直進方向において、極めて範囲が小さくなってしまう。
さらには、レーザ光発振部31からの出射光L1は、空
間フィルタ33を通過する時に損失を生じる。このため
光の利用率は、極めて悪い。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】そこで、この発明が解
決しようとする課題は、まず、棒状のレーザ光を、簡単
な構造の光学系で、シート状に変えることである。次
に、シート状のレーザ光は、直進方向において、光量が
不均一にならないようにすることである。さらには、レ
ーザ光発振部からの出射光を、損失を少なくして効率良
く使うことである。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明による粒子検出
装置は、以上のような課題を解決するためのものであっ
て、次のようなものである。すなわち、レーザ光発振部
と、このレーザ光発振部からのレーザ光をコリメートす
るコリメータレンズ群と、このコリメータレンズ群の出
射光をシート面状に成形する、アナモルフィックプリズ
ムよりなる光学系と、このシート状のレーザ光を受ける
ビームストッパーと、粒子が、シート状のレーザ光の上
に落ちた時に発生する散乱光を検出する散乱光検出器よ
り構成されている。
【0010】
【作用】このような構成によれば、レーザ光発振部から
のレーザ光は、アナモルフィックプリズムよりなる光学
系で、簡単にシート状に変形することができる。
【0011】
【実施例】図1は、この発明の粒子検出装置の具体例を
示した概略図である。図1(a)は、装置全体を上から
見た図を示す。同図(b)は、図1(a)のa−a´の
断面図を示す。同図(c)は、図1(a)のb−b´の
断面図を示す。
【0012】レーザ光発振部1からは、例えば波長78
0nmの光L1を発振する。このレーザ光L1は、例え
ば外形0.5mm程度のものである。コリメータレンズ
群2の中には、幾つかのコリメータレンズが配置してい
る。光学系部3では、アナモルフィックピリズム3a,
3bをペアで使っていて、コリメータレンズ群2の出射
光L2をシート状に変形する。光学系部3の出射光L3
によって検出領域4ができる。この両側には散乱光検出
器5がある。シート状のレーザ光L3は、検出領域4を
通ったあとで、ビームストッパー6で受け止められる。
【0013】この装置では、粒子Rが、検出領域4に落
ちたときに、散乱光を発生して、その量によって、粒子
の量を検出するわけである。この粒子Rを、検出領域4
に落とすために、窓部材7がある。そして、シート状の
レーザ光L3は、例えば厚さが0.5mmで、幅(X)
は1〜10mm程度である。また、検出領域4における
レーザ光L3の直進方向における長さ(Y)は、例えば
40mmに設定できる。シート状のレーザ光L3は、ほ
ぼ同じ厚さのまま直進するため、検出領域4については
広く設置することができる。
【0014】光学系部3を構成するアナモルフィックピ
リズム3a,3bは、検出領域4において、幅方向Xの
み広げるものである。このため、厚み方向はレーザ光発
振部1の出射時の大きさと同じである。このため、ビー
ムエキスパンダーを使った場合に比べて、パワー密度の
低下ははるかに少なくなる。また、空間フィルタ等を使
っていないので、レーザ光の損失もなく、利用効率も非
常に良い。
【0015】一方、図1(b)に示すように粒子Rが検
出領域4に落下した時に、発生する散乱光Lは、散乱光
発生器5によって検知される。この散乱光発生器5は、
例えばシリコンホトダイオードで構成され、検知した光
を電流信号として処置する。検出領域4におけるレーザ
光L3は、図2に示すようになる。図2(a)は、レー
ザ光L3の断面図を示し、同図(b)は、その断面図に
対応した光量の分布を示している。この図より、レーザ
光L3は、形状こそシート状であるが、光量分布はガウ
ス分布であり、中心部(幅Xにおける中心)は光量が大
きく、両端が低くなっている。
【0016】一方、PSはスレッシュホールドレベルを
示す。このレベルを越える範囲が、検出可能になる。散
乱光検出器5を検出領域4の幅X方向では、左右対称の
検出感度を有して、検出位置によるバラツキをできるだ
け少なくさせている。ところが、検出領域4の幅X方向
で中心部と両端部は、感度がばらついてしまう。図2
(c)は、同図(a)に対応した検出領域4における検
知効率を示したものである。この図は、検出領域4にお
いて両端部は、散乱光検出器5に近いため広い立体角の
散乱光を検出できる。逆に散乱光検出器5から比較的遠
い中央部は検知効率は低い。このように、レーザ光L3
の光量分布の差をこの検出効率の差で補うようにして最
終的なセンサとして検出感度のばらつきをおさえてい
る。
【0017】このように散乱光検出器5を5a,5bと
2つ設けることにより、粒子の落下位置による検出感度
を均一に近づけることができる。
【0018】図4は、検出領域4と粒子の大きさの関係
を示した実験データである。実線は、この発明の粒子検
出器を示し、点線は、従来の棒状レーザ光の装置による
ものを示す。このグラフは、ある大きさの粒子が検出さ
れるためのレーザ光の有効検出面積を示している。図で
は、例えば、粒子の直径0.5μm以上の比較的大きな
粒子に対しては、この発明によりレーザ幅が広くなって
いるため、はるかに広い有効検出面積を示している。こ
れは大きな粒子の場合、散乱光強度も高いのでレーザの
幅を広げたことによる若干のレーザパワー密度の低下に
は、ほとんど影響なく広い検出面積が得られていること
を示す。
【0019】また、0.5μm以下の比較的小さな粒子
の場合は、散乱光強度はあまり強くないので、小さな粒
子になるほど、レーザパワー密度の低下の影響を受け
て、有効検出面積は低下する。しかし、レーザ光の厚み
方向は、一定の厚みのままであるのでレーザパワー密度
の低下は最小限ですみ、結果として小さな粒子に対する
検出面積低下もわずかである。
【0020】このように、この発明によれば、広い粒子
径範囲において、従来に比べて、有効検出面積が広く、
従ってより多くの粒子を検出できる優れた特性が得られ
る。
【0021】
【発明の効果】以上、説明したようにこの発明によれ
ば、簡単な光学系によって、シート状のレーザ光の直進
方向において光量が不均一にならないように、広い有効
検出面積を得ることができる。またレーザ光発振部から
の出射光を、損失を少なくして効率良く使うことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の粒子検出装置を示す。
【図2】この発明の粒子検出器による粒子の検出領域の
特性を示した図である。
【図3】従来の粒子検出器を示した図である。
【図4】この発明の粒子検出器による粒子径と有効検出
面積を示した図である。
【符号の説明】
1 レーザ光発振部 2 コリメータレンズ群 3 光学系部 3a アナモルフィックプリズム 3b アナモルフィックプリズム 4 検出領域 5 散乱光検出器 6 ビームストッパー

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光発振部と、 このレーザ光発振部からのレーザ光をコリメートするコ
    リメータレンズ群と、このコリメータレンズ群の出射光
    をシート面状に成形する、アナモルフィックプリズムよ
    りなる光学系部と、 このシート面状のレーザ光を受けるビームストッパー
    と、 粒子が、シート状のレーザ光の上に落ちた時に発生する
    散乱光を検出する散乱光検出器より構成されることを特
    徴とする粒子検出器。
JP3331625A 1991-11-21 1991-11-21 粒子検出器 Pending JPH05142138A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3331625A JPH05142138A (ja) 1991-11-21 1991-11-21 粒子検出器

Applications Claiming Priority (1)

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JP3331625A JPH05142138A (ja) 1991-11-21 1991-11-21 粒子検出器

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JPH05142138A true JPH05142138A (ja) 1993-06-08

Family

ID=18245752

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3331625A Pending JPH05142138A (ja) 1991-11-21 1991-11-21 粒子検出器

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JP (1) JPH05142138A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020027662A (ko) * 2000-10-04 2002-04-15 이종훈 레이저-프리즘센서를 이용한 염분오손도 자동측정방법 및장치
JP2012184739A (ja) * 2011-03-07 2012-09-27 Mitsubishi Heavy Ind Ltd ガスエンジンシステム

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