JPH0513552A - 集積回路チツプ位置決め装置 - Google Patents

集積回路チツプ位置決め装置

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JPH0513552A
JPH0513552A JP3161609A JP16160991A JPH0513552A JP H0513552 A JPH0513552 A JP H0513552A JP 3161609 A JP3161609 A JP 3161609A JP 16160991 A JP16160991 A JP 16160991A JP H0513552 A JPH0513552 A JP H0513552A
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JP
Japan
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stage
chip
integrated circuit
circuit chip
image
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JP3161609A
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Junichi Ishida
淳一 石田
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高精度であって汎用性の高いICチップの位
置決めを実施する。 【構成】 第1,第2撮像位置決定部15,16は、IC
チップの異なるチップ角近傍がCCDカメラ1の撮像領
域に入るようにするためのステージ制御信号を出力す
る。第1,第2画像処理部13,14は、ICチップの画
像に基づいてマスクパターンの外辺から得られる2つの
直線の交点から成る基準点の座標を求める。位置決め部
10は、2つの基準点の座標からICチップの座標上の
位置と座標軸に対する角度を求めてICチップを正しい
位置に移動するためのステージ制御信号を出力する。ス
テージ駆動部9は、第1,第2撮像位置決定部15,16
あるいは位置決め部10からのステージ制御信号に基づ
いてθステージ4あるいはXYステージ5を駆動する。
こうして、2直線の交点を求めるというICチップに因
らない簡単で高精度な処理によって汎用性の高い位置決
めを行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、高精度の位置決めが
要求される集積回路(以下、ICと略称する)チップのボ
ンディング装置や外観検査装置に用いられるICチップ
位置決め装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ICの高密度化によってICチッ
プのパターンは益々細かくなり、それに伴ってボンディ
ングや外観検査の際により高精度の位置決めが要求され
るようになってきている。また、ICの利用範囲の拡大
によって、ICチップの形状も多種多様化が進んでいる
ため汎用性のある位置決め方法が望まれている。
【0003】従来、高精度の画像を用いたICチップの
位置決め装置が提案されている。このようなICチップ
の位置決め装置として、ICチップ上のアライメントマ
ークやパッド等の特定のパターンを含むICチップの画
像に基づいて位置決めを行うものがある。また、ICチ
ップの外形を方形パターンとして検出して位置決めを行
うものがある。
【0004】上述のアライメントマークや特定のパター
ンを含むICチップの画像を用いるものには、さらに類
似度を用いるものと特徴抽出によるものとがある。上記
類似度を用いるものは、次のようにしてICチップの位
置決めを行う。すなわち、特定のアライメントマークや
パッドを含むICチップの座標上の種々の位置における
画像情報のパターンを標準パターンとして予めメモリに
記憶しておく。そして、撮像されたアライメントマーク
やパッドを含む当該ICチップの画像情報のパターンと
上記メモリに記憶された標準パターンとの類似度を算出
し、最も類似度の高い標準パターンに係る位置を当該I
Cチップの座標上の位置として検出する。そして、この
検出された当該ICチップの位置に基づいて当該ICチ
ップの位置の正しい位置に対するずれを検出し、このず
れを補正してICチップの位置を決めるのである。
【0005】また、上記特徴抽出によるものは、次のよ
うにしてICチップの位置決めを行う。すなわち、予め
ICチップ上にこのICチップ表面の模様と区別できる
特徴パターンを付加する。そして、ICチップの表面画
像から上記付加された特徴パターンを抽出し、この抽出
された特徴パターンの座標上の位置に基づいて当該IC
チップの座標上の位置を検出するのである。そして、上
述の場合と同様にして当該ICチップの位置の正しい位
置に対するずれを検出し、このずれを補正するようにI
Cチップの位置を決めるのである。
【0006】また、ICチップの外形を用いるものは、
次のようにしてICチップの位置決めを行う。すなわ
ち、ICチップが撮像された画像の明暗情報を所定の閾
値によって2値化して、“0"の領域と“1"の領域との
境界より当該ICチップの外形を検出する。そして、当
該ICチップの外形をある決まった大きさを有する方形
のパターンあるいはその一部のパターンとして認識す
る。そして、この認識された方形パターンの角の座標上
の位置に基づいて、当該ICチップの座標上の位置を検
出するのである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
アライメントマークや特定のパターンを用いるICチッ
プの位置決め方法には、次のような問題がある。すなわ
ち、上記アライメントマークやパッドの形状,色,大きさ
等は各ICチップ毎に異なっている。したがって、汎用
的な位置決めを実施しようとすれば、総てのICチップ
のアライメントマークや特定パターンに対して汎用的な
類似度算出方法や特徴抽出方法を設定することが必要で
ある。ところが、このような汎用的な類似度算出方法や
特徴抽出方法を設定することは非常に困難であるという
問題がある。また、予めメモリに格納しておく標準パタ
ーンの数も非常に多くなるという問題もある。
【0008】また、上記ICチップの外形を用いる方法
には次のような問題がある。すなわち、ICチップに
は、ウエハからICチップをダイシングする際の切断部
であるダイシングエリアが残っており、その幅は一定で
はない。したがって、ICチップ画像を2値化して得ら
れるICチップの外形寸法の精度は、ダイシングの際に
おける切断精度以下となる。つまり、ICチップの外形
に基づく位置決めの精度はICチップの切断精度以上に
はできないという問題がある。
【0009】そこで、この発明の目的は、高精度であっ
て汎用性の高い位置決めを実施できるICチップ位置決
め装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、第1の発明は、移動可能なステージ上に搭載された
集積回路チップの表面を撮像手段によって撮像してこの
撮像された集積回路チップの表面画像に基づいて集積回
路チップの標準位置に対する位置および標準線に対する
角度を検出し、この検出された位置および角度に基づい
て上記集積回路チップの位置決めを行う集積回路チップ
位置決め装置において、上記撮像手段による撮像領域内
に上記集積回路チップの角を含む撮像位置が入るように
するための上記ステージの移動量を求めてこのステージ
移動量を表すステージ制御信号を出力する撮像位置決定
手段と、上記撮像手段によって撮像された当該集積回路
チップの角を含む画像の画像情報を取り込んで、この取
り込んだ画像情報に基づいて当該集積回路チップのマス
クパターンの2つの外辺から得られる2つの直線の交点
で成る基準点の標準位置に対する位置を求めて上記基準
点の位置を表す位置信号を出力する位置検出手段と、上
記位置検出手段から出力された位置信号に基づく上記基
準点の位置を用いて当該集積回路チップの標準位置に対
する位置および標準線に対する角度を求め、この求めら
れた位置および角度に基づいて当該集積回路チップを所
定の位置へ移動させるための上記ステージの移動量を求
めてこのステージ移動量を表すステージ制御信号を出力
する位置決め手段と、上記撮像位置決定手段からのステ
ージ制御信号あるいは上記位置決め手段からのステージ
制御信号に基づいて上記ステージを上記ステージ移動量
だけ移動させるステージ駆動手段を備えたことを特徴と
している。
【0011】また、第2の発明は、第1の発明の集積回
路チップ位置決め装置において、上記撮像位置決定手段
と位置検出手段との組を複数組有して、当該集積回路チ
ップにおける複数の角の夫々に係る撮像位置決定および
位置検出を異なる撮像位置決定手段と位置検出手段との
組によって実施することを特徴としている。
【0012】
【作用】第1の発明では、撮像位置決定手段によって、
上記撮像手段による撮像領域内にICチップの角を含む
撮像位置が入るようにするためのステージの移動量を表
すステージ制御信号が出力される。そして、ステージ駆
動手段によって上記ステージ制御信号に基づいてステー
ジが移動された後、上記ステージ上に搭載されたICチ
ップの角近傍が撮像手段によって撮像される。こうして
得られた当該ICチップの角を含む画像の画像情報が位
置検出手段に取り込まれ、この位置検出手段によって、
当該ICチップのマスクパターンの2つの外辺から得ら
れる2つの直線の交点で成る基準点の標準位置に対する
位置が得られる。
【0013】そうすると、位置決め手段によって、上記
位置検出手段で得られた上記基準点の位置を用いて当該
ICチップの標準位置に対する位置および標準線に対す
る角度が求められ、当該ICチップを所定の位置へ移動
させるための上記ステージの移動量が求められる。そし
て、ステージ移動量を表すステージ制御信号が出力され
る。その後、上記ステージ駆動手段によって、上記位置
決め手段からのステージ制御信号に基づいてステージが
移動されて、上記ステージ上に搭載されたICチップの
位置決めが行われるのである。
【0014】こうして、直線に近似可能なマスクパター
ンの外辺から得られた2直線の交点に基づいてICチッ
プの標準位置に対する位置および標準線に対する角度を
求めることによって、種々のICチップの標準位置に対
する位置および標準線に対する角度が高精度にかつ容易
に求められる。
【0015】第2の発明では、ICチップにおける複数
の角の夫々に係る撮像位置決定および位置検出が、異な
る撮像位置決定手段と位置検出手段との組によって実施
される。こうして、ICチップにおける各角に係る撮像
位置決定および位置検出が平行して実施されて、当該I
Cチップの位置決めが高速に行われる。
【0016】
【実施例】この発明は、ダイシングの際の切断精度に影
響されないマスクパーンの外辺に基づいてICチップの
座標上の位置および座標軸に対する角度を求めることに
よって、汎用性の高い高精度なICチップ位置決めを実
現するものである。以下、この発明を図示の実施例によ
り詳細に説明する。
【0017】図1は本実施例におけるICチップ位置決
め装置の概略ブロック図である。位置決めの対象となる
ICチップはステージ上のトレイ6に搭載され、ICチ
ップ吸着手段(図示せず)によって吸着されて保持されて
いる。上記ステージはθステージ4およびXYステージ
5から構成されている。そして、トレイ6上に搭載され
たICチップは、XYステージ5によってそのX軸方向
およびY軸方向への位置が変更される一方、θステージ
4によってある基準点を中心とした角度が変更されるよ
うになっている。その際に、上記θステージ4およびX
Yステージ5はステージ駆動部9によって駆動される。
【0018】上述のようにしてトレイ6上に保持されて
いるICチップの表面の拡大映像が顕微鏡2によって得
られる。そして、この顕微鏡2によって得られたICチ
ップの表面の拡大映像が顕微鏡2に接続されたCCDカ
メラ1によって撮像される。その際に、上記CCDカメ
ラ1によって得られる画像の明るさが、顕微鏡2に付設
された照明装置3の輝度を輝度変更部8によって変更す
ることによって修正できるようになっている。上記CC
Dカメラ1によって撮像されたICチップ表面画像の画
像情報は画像処理部7に取り込まれ、この画像処理部7
によってICチップの位置決めに必要なICチップ上に
おける基準点の位置情報が抽出される。こうして、抽出
された基準点の位置を表す位置信号は位置決め部10に
送出される。
【0019】上記位置決め部10は、ハードディスク1
2に格納されているICチップの正しい位置に関する種
々のデータを参照して、ICチップの座標上の位置およ
び座標軸に対する角度等を算出する。そして、算出され
たICチップの位置および角度が正しい位置および正し
い角度に対してずれている場合には、ステージを移動さ
せてICチップを正しい位置に移動させる際のステージ
移動量を算出する。そして、この算出したステージ移動
量を表すステージ制御信号をステージ駆動部9に対して
出力して、トレイ6上のICチップの位置を正しい位置
まで移動させるのである。また、上記位置決め部10
は、上記画像処理部7をアクセスして上記画像情報から
画像の輝度を検知する。そして、CCDカメラ1によっ
て得られた画像が暗過ぎたり明る過ぎたりする場合に
は、上記輝度変更部8に対して輝度制御信号を出力し
て、照明装置3の輝度が最適になるように変更するので
ある。
【0020】撮像位置決定部11は、ハードディスク1
2に格納されたデータに基づいて、上記CCDカメラ1
の撮像領域内にICチップの角を含む撮像位置が入るよ
うにステージを移動させる際のステージ移動量を算出す
る。そして、この算出したステージ移動量を表すステー
ジ制御信号をステージ駆動部9に対して出力し、ICチ
ップの角を含む撮像位置がCCDカメラ1の撮像領域に
入るようにステージを移動させるのである。
【0021】すなわち、CCDカメラ1および顕微鏡2
で上記撮像手段を構成し、画像処理部7で上記位置検出
手段を構成するのである。
【0022】上記構成のICチップ位置決め装置は、次
のようにしてICチップの位置決めを実施する。ここ
で、本実施例においては、上記基準点として、第1基準
点および第2基準点の2つの基準点を用いるものとす
る。また、上記画像処理部7を、上記第1基準点に係る
画像処理を実施する第1画像処理部13と上記第2基準
点に係る画像処理を実施する第2画像処理部14とで構
成する。さらに、上記撮像位置決定部11を、第1基準
点に係る撮像位置を決定する第1撮像位置決定部15と
第2基準点に係る撮像位置を決定する第2撮像位置決定
部16とで構成する。
【0023】まず、トレイ6上に設けられた枠とICチ
ップ周辺との当たりによって粗位置決めして、ICチッ
プをトレイ6上にセットする。そうすると、第1撮像位
置決定部15は、上記ハードディスク12に格納された
チップサイズを用いて、CCDカメラ1による撮像領域
の中にICチップの第1チップ角の近傍が入るようにト
レイ6を移動させるためのステージ移動量を求める。そ
して、このステージ移動量を表すステージ制御信号をス
テージ駆動部9に出力する。そうすると、上記第1撮像
位置決定部15から出力されたステージ制御信号に基づ
いて、ステージ駆動部9によってXYステージ5がX軸
方向あるいはY軸方向に移動される。さらに、θステー
ジ4が回転される。その結果、ICチップの第1チップ
角の近傍がCCDカメラ1の撮像領域内に入ることにな
る。こうして撮像された第1チップ角近傍の画像のディ
ジタル画像情報は、第1画像処理部13に内蔵された第
1画像メモリに格納される。
【0024】図2は、上述のようにして上記第1画像メ
モリに格納されたディジタル画像情報に基づく第1チッ
プ角近傍の画像を示す。上記第1画像処理部13は、図
2に示すような画像に基づいて以下に述べるような画像
処理を実施する。ここで、以下に述べるような画像処理
は実際にはディジタル処理によって行われるのである
が、分かり易くするためにアナログ的に説明する。ま
ず、得られた画像をX軸方向へ走査して、X軸方向への
輝度変化(例えば、図2中における一点鎖線(A)に沿っ
た輝度変化)を求める。その結果、図3に示すような輝
度曲線が得られたとする。
【0025】図3の輝度曲線において、最初に輝度値の
高い領域(a)はダイシングエリアであり、このダイシン
グエリア(a)から所定の区間を置いた更に輝度値の高い
領域(b)はパッド23のエリアである。図2に示すよう
に、ICチップの外周21の形状は切断精度が悪いため
に不安定である。したがって本実施例では、ダイシング
エリア(a)を除いたマスクパターンの外辺に基づいて基
準点の座標上の位置を求めるのである。上記第1画像処
理部13は、得られた輝度曲線における最初に輝度値が
高くなるダイシングエリア(a)の終了点の位置(イ)によ
って、マスクパターンの外辺上の点(以下、外辺点と言
う)22のXY座標を得ることができる。以下、同様の
処理をX軸方向への走査位置を変えて行い、複数の外辺
点のXY座標を得る。そうした後、得られたマスクパタ
ーンの複数の外辺点の連なりを直線で近似することによ
って、ICチップにおける略垂直方向に延びるマスクパ
ターン外辺垂直ライン(以下、単に外辺垂直ラインと言
う)25の式を求めるのである。また、同様にして、上
記CCDカメラ1によって得られた画像をY軸方向へ走
査してY軸方向への輝度変化を求め、このY軸方向への
輝度変化からマスクパターンの外辺点のXY座標を得
る。以下、同様の処理をY軸方向への走査位置を変えて
行い、複数の外辺点のXY座標を得る。そうした後、得
られたマスクパターンの外辺点の連なりを直線で近似し
て、ICチップにおける略水平方向に延びるマスクパタ
ーン外辺水平ライン(以下、単に外辺水平ラインと言う)
26の式を求める。
【0026】次に、上記第1画像処理部13は、上記外
辺垂直ライン25と外辺水平ライン26との交点24を
上記第1基準点として、第1基準点24のXY座標を求
めるのである。そして、得られた第1基準点24のXY
座標値を表す位置信号を位置決め部10に出力する。
【0027】本実施例においては、上記第1撮像位置決
定部15および第1画像処理部13によって第1基準点
24のXY座標値を求めている際に、平行して上記第2
基準点近傍の画像の撮像を実行するのである。すなわ
ち、上記第2撮像位置決定部16は、第1基準点近傍の
画像が上記第1画像メモリに格納されたことを確認する
と、CCDカメラ1による撮像領域の中にICチップの
第2チップ角の近傍が入るようにトレイ6を移動させる
ためのステージ制御信号をステージ駆動部9に出力す
る。そして、ICチップが移動されて、第2チップ角の
近傍の画像がCCDカメラ1によって撮像される。こう
して撮像された第2チップ角の近傍の画像のディジタル
画像情報は、第2画像処理部14に内蔵された第2画像
メモリに格納されるのである。
【0028】そうした後、上記第2画像処理部14は、
第2画像メモリに格納された第2チップ角の近傍の画像
に基づいて、上記第1画像処理部13と同様の処理を実
行して、第2基準点のXY座標値を求めるのである。そ
して、求められた第2基準点のXY座標値を表す位置信
号を位置決め部10に出力する。
【0029】次に、上記位置決め部10は、画像処理部
7からの第1基準点24のXY座標および第2基準点の
XY座標に基づいて、トレイ6上におけるICチップの
座標上の位置および座標軸に対する角度を求める。
【0030】そうした後、上記位置決め部10は、トレ
イ6上におけるICチップの座標上の位置および座標軸
に対する角度と、ハードディスク12に格納されたIC
チップの正しい情報とに基づいて、上記ICチップを正
しい位置に移動するために必要なXYステージ5の移動
量とθステージ4の移動量とを求める。そして、この求
められたXYステージ5の移動量およびθステージ4の
移動量を表すステージ制御信号をステージ駆動部9に出
力する。そして、ステージ駆動部9によってステージを
介してトレイ6を移動して、ICチップを正しい位置に
セットするのである。
【0031】このように、本実施例においては、第1撮
像位置決定部15および第2撮像位置決定部16から出
力されるステージ制御信号に基づいてθステージ4およ
びXYステージ5を移動して、トレイ6上に搭載された
ICチップの第1チップ角および第2チップ角の近傍の
画像を顕微鏡2およびCCDカメラ1で撮像する。そし
て、得られた第1チップ角近傍の画像の画像情報を第1
画像処理部13の第1画像メモリに格納する。一方、第
2チップ角近傍の画像の画像情報を第2画像処理部14
の第2画像メモリに格納する。そして、この第1チップ
角近傍の画像における輝度変化から、第1画像処理部1
3によって上記外辺垂直ライン25および外辺水平ライ
ン26の式を求め、両ライン25,26の交点から第1
基準点24のXY座標を求める。
【0032】同様にして、第2画像処理部14の第2画
像メモリに格納された第2チップ角近傍の画像における
輝度変化から、第2画像処理部14によって外辺垂直ラ
インおよび外辺水平ラインの式を求め、両ラインの交点
から第2基準点のXY座標を求める。
【0033】その後、位置決め部10は、上記第1基準
点24のXY座標値と第2基準点のXY座標値とに基づ
いて、トレイ6上のICチップの座標上の位置と座標軸
に対する角度を求める。そして、ICチップを正しい位
置にセットするために、θステージ4およびXYステー
ジ5を移動させるステージ制御信号をステージ駆動部9
に出力する。
【0034】このように、本実施例においては、より直
線に近いマスクパターンの外辺から得られる外辺垂直ラ
インと外辺水平ラインの2直線の交点を基準点とし、複
数の基準点の位置情報に基づいてICチップの位置決め
を行う。したがって、ICチップの位置決めを簡単に精
度良く実施できる。また、その際に用いるデータは、I
Cチップのチップサイズと正しい位置に在るICチップ
の基準点座標のみである。したがって、ICチップに関
する専門的知識を有しない操作者であってもCADデー
タとして簡単に入力/管理できる。また、上述のよう
に、ICチップの位置決めに用いるデータはチップサイ
ズと基準点座標のみであるから、種々のICチップに関
するチップサイズと基準点座標とを上記ハードディスク
12に格納しておけば、各種のICチップに関する位置
決めを容易に精度良く実施できるのである。また、上記
実施例においては、画像処理部7を第1画像処理部13
と第2画像処理部14とで構成し、撮像位置決定部11
を第1撮像位置決定部15と第2撮像位置決定部16と
で構成して、上記第1基準点24のXY座標値の算出と
第2基準点近傍の画像の撮像とを平行して実施するの
で、ICチップの位置決めを高速に実施できる。
【0035】すなわち、本実施例によれば、高速/高精
度であって、汎用性の高いICチップの位置決め装置を
提供できるのである。
【0036】上記実施例においては、第1基準点および
第2基準点の2つの基準点の位置情報によってICチッ
プの位置および角度を求めるようにしているが、基準点
の数は3以上であっても何等差し支えない。上記実施例
においては、上記撮像手段を顕微鏡2およびCCDカメ
ラ1によって構成しているが、この発明はこれに限定さ
れるものではない。上記実施例では、画像処理部7を2
つの画像処理部13,14で構成し、撮像位置決定部1
1を2つの撮像位置決定部15,16で構成している。
しかしながら、この発明はこれに限定されるものではな
い。
【0037】
【発明の効果】以上より明らかなように、第1の発明の
ICチップ位置決め装置は、撮像位置決定手段によっ
て、ICチップの角を含む撮像位置が撮像手段における
撮像領域に入るようにするためのステージ制御信号を出
力し、位置検出手段によって、撮像手段で撮像された当
該ICチップの角を含む画像におけるマスクパターンの
2つの外辺から得られる2つの直線の交点で成る基準点
の標準位置に対する位置を求め、位置決め手段によっ
て、上記位置検出手段で求められた上記基準点の位置に
基づいて当該ICチップの標準位置に対する位置および
標準線に対する角度を求めて当該ICチップを所定の位
置へ移動させるためのステージ制御信号を出力し、ステ
ージ駆動手段によって、上記撮像位置決定手段あるいは
位置決め手段からのステージ制御信号に基づいて上記ス
テージを移動させるようにしたので、ほぼ直線に近いマ
スクパターンの外辺から得られる2直線の交点を求める
というICチップの種類やICチップ上の特定パターン
形状やダイシングの際の切断精度等には影響されない比
較的簡単な処理によってICチップの標準位置に対する
位置および標準線に対する角度を正確に求めることがで
きる。したがって、この発明によれば、高精度であって
汎用性の高いICチップの位置決めを実施できる。
【0038】また、第2の発明のICチップ位置決め装
置は、ICチップにおける複数の角の夫々に係る撮像位
置決定および位置検出を異なる撮像位置決定手段と位置
検出手段との組によって実施するので、ICチップにお
ける各角に係る撮像位置決定および位置検出を平行して
実行できる。したがって、この発明によれば、高精度で
あって汎用性の高いICチップの位置決めを高速に実施
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明のICチップ位置決め装置における一
実施例を示す概略ブロック図である。
【図2】図1に示すICチップ位置決め装置によって撮
像された基準点近傍の画像の一例を示す図である。
【図3】図2中における一点鎖線(イ)に沿って走査した
場合に得られる輝度曲線の一例を示す図である。
【符号の説明】
1…CCDカメラ、 2…顕微鏡、3
…照明装置、 4…θステージ、5…XYステ
ージ、 6…トレイ、7…画像処理
部、 8…輝度変更部、9…ステー
ジ駆動部、 10…位置決め部、11…撮像位置
決定部、 12…ハードディスク、13…
第1画像処理部、 14…第2画像処理
部、15…第1撮像位置決定部、 16…第2
撮像位置決定部24…第1基準点、 25…外辺垂直
ライン、26…外辺水平ライン。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 移動可能なステージ上に搭載された集積
    回路チップの表面を撮像手段によって撮像し、この撮像
    された集積回路チップの表面画像に基づいて集積回路チ
    ップの標準位置に対する位置および標準線に対する角度
    を検出し、この検出された位置および角度に基づいて上
    記集積回路チップの位置決めを行う集積回路チップ位置
    決め装置において、 上記撮像手段による撮像領域内に上記集積回路チップの
    角を含む撮像位置が入るようにするための上記ステージ
    の移動量を求め、このステージ移動量を表すステージ制
    御信号を出力する撮像位置決定手段と、 上記撮像手段によって撮像された当該集積回路チップの
    角を含む画像の画像情報を取り込んで、この取り込んだ
    画像情報に基づいて当該集積回路チップのマスクパター
    ンの2つの外辺から得られる2つの直線の交点で成る基
    準点の標準位置に対する位置を求め、上記基準点の位置
    を表す位置信号を出力する位置検出手段と、 上記位置検出手段から出力された位置信号に基づく上記
    基準点の位置を用いて当該集積回路チップの標準位置に
    対する位置および標準線に対する角度を求め、この求め
    られた位置および角度に基づいて当該集積回路チップを
    所定の位置へ移動させるための上記ステージの移動量を
    求め、このステージ移動量を表すステージ制御信号を出
    力する位置決め手段と、 上記撮像位置決定手段からのステージ制御信号あるいは
    上記位置決め手段からのステージ制御信号に基づいて、
    上記ステージを上記ステージ移動量だけ移動させるステ
    ージ駆動手段を備えたことを特徴とする集積回路チップ
    位置決め装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の集積回路チップ位置決
    め装置において、 上記撮像位置決定手段と位置検出手段との組を複数組有
    して、当該集積回路チップにおける複数の角の夫々に係
    る撮像位置決定および位置検出を異なる撮像位置決定手
    段と位置検出手段との組によって実施することを特徴と
    する集積回路チップ位置決め装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011012971A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Toray Eng Co Ltd 外観検査方法およびその方法を用いて検査する外観検査装置

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JP2011012971A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Toray Eng Co Ltd 外観検査方法およびその方法を用いて検査する外観検査装置

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