JPH0511450Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0511450Y2
JPH0511450Y2 JP14600385U JP14600385U JPH0511450Y2 JP H0511450 Y2 JPH0511450 Y2 JP H0511450Y2 JP 14600385 U JP14600385 U JP 14600385U JP 14600385 U JP14600385 U JP 14600385U JP H0511450 Y2 JPH0511450 Y2 JP H0511450Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
receiving
optical system
receiving optical
optical fiber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP14600385U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6253311U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP14600385U priority Critical patent/JPH0511450Y2/ja
Publication of JPS6253311U publication Critical patent/JPS6253311U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0511450Y2 publication Critical patent/JPH0511450Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Switches Operated By Changes In Physical Conditions (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 [技術分野] 本考案は、投光手段から検知エリアに投光され
る光ビームの被検知物体による反射光を受光手段
にて受光し、受光手段出力に基いて検知エリア内
の被検知物体の有無を検知するようにした反射型
光電スイツチに関するものである。
[背景技術] 従来、この種の反射型光電スイツチとして、投
光手段から検知エリアに投光した光の被検知物体
による反射光を受光手段にて受光し、被検知物体
からの反射光量の大小によつて被検知物体の有無
を判定するようにしたものがあり、このような反
射型光電スイツチにあつては、被検知物体の後方
に高反射率の物体がある場合や被検知物体の反射
率が異なる場合などにおいて測距誤差が生じて誤
動作が発生(検知距離が変化)するという問題が
あつた。そこで、このような誤動作を防止するよ
うにした反射型光電スイツチとして、考案者らが
特願昭58−14163号として出願している三角測量
方式のものがある。すなわち、この反射型光電ス
イツチは第4図および第5図に示すようになつて
おり、被検知物体Xに対して光ビームPを投光す
る投光手段1は、投光タイミングを設定するクロ
ツクパルスを発生する発振回路10、投光用発光
素子12を駆動するドライブ回路11および凸レ
ンズよりなる投光用光学系13にて形成されてお
り、投光用発光素子12から発せられる光を投光
用光学手段13にて光ビームPに成形して検知エ
リアに投光するようになつている。この投光手段
1から所定距離l0をもつて側方に配設され被検知
物体Xによる光ビームPの反射光Rを集光する受
光用光学系2は凸レンズにて形成されている。こ
の受光用光学系2の集光面に配設され集光スポツ
トの位置(距離lに対応してm方向に移動する)
に対応した位置信号IA,IBを出力する位置検出手
段4は、例えば1次元位置検出素子(PSD)に
て形成されており、この出力信号は相反した信号
となつている。この位置検出手段4出力に基いて
被検知物体Xが所定の検知エリア内に存在するか
どうかを判別して出力回路6を制御する判別制御
手段5は、位置検出手段4から出力される位置信
号(相反する電流信号IA,IB)をそれぞれ増幅し
て電圧信号VA,VBに変換する受光回路21a,
21bと、受光回路21a,21b出力を対数増
幅する対数増幅回路22a,22bと、対数増幅
回路22a,22b出力lnVA,lnVBの差を演算
する減算回路23と、減算回路23出力lnVA
VBと距離設定用ボリユームVRにて設定される基
準電圧Vsとを比較して、減算回路23出力
lnVA/VBが第7図に示すように基準電圧Vs以下
のとき(被検知物体Xが検知エリア内に存在する
とき)に出力が“H”レベルとなる電圧コンパレ
ータよりなる比較回路24と、比較回路24出力
を発振回路10出力に基いてチエツク(クロツク
パルスに同期してレベルを判定)することにより
誤動作を防止する信号処理回路25とで形成され
ており、上記信号処理回路25から物体検知信号
が出力されたとき、出力回路6が駆動されるよう
になつている。なお、第6図a,b,cは、それ
ぞれ被検知物体Xまでの距離がl1、l2,l3である
場合における位置検出手段4上の集光スポツトS
の位置をそれぞれ示している。また、上述の1次
元位置検出素子に代えて2個のフオトダイオード
をm方向(集光スポツトSの移動方向)に連設し
たものを位置検出手段4として用いても良いこと
は言うまでもない。
ところで、従来、このような反射型光電スイツ
チを狭いスペースに配設し易くするために、第8
図および第9図に示すように、光学ブロツクAと
回路ブロツクBとを光フアイバー7,8a,8b
を使用して光学的に接続したものがあつた。ここ
に、投光用光フアイバー7は投光用光学系13と
投光用発光素子13との間を光学的に接続してお
り、受光用光フアイバー8a,8bは受光用光学
系2と位置検出手段4との間を光学的に接続して
おり、光フアイバー7,8a,8bの光学ブロツ
ク側の端部はフアイバーホルダー30にて一体的
に保持されている。第10図は受光用光フアイバ
ー8a,8bの受光端面における集光スポツトS
の移動状態を示す図(第6図に対応する図)であ
り、第11図は受光用光フアイバー8a,8bと
位置検出手段4たる1次元位置検出素子との光結
合例を示しており、両受光用光フアイバー8a,
8bの結合位置の間隔yを変えることにより検知
特性を変化させることができるようになつてい
る。
なお、2個のフオトダイオードにて位置検出手
段4を形成するものにあつては、各フオトダイオ
ードを受光用光フアイバー8a,8bの出光端面
にそれぞれ光結合し、各フオトダイオード出力を
受光回路21a,21bに入力すれば良い。
ところで、このように光学ブロツクAと回路ブ
ロツクBとを光フアイバー7,8a,8bを用い
て分離した従来例にあつては、測距可能距離すな
わち検知可能距離を長くして検知エリアの設定可
能範囲を広くしたい場合において、被検知物体X
による反射光Rが弱くなつても検知可能とするた
めに位置検出手段4の受光量を大きくする必要が
あり、太い径の受光用光フアイバー8a,8bを
使用しなければならなかつた。しかしながら、受
光用光フアイバー8a,8bの径を太くした場合
には、光学ブロツクAが大型化することになつ
て、光学ブロツクAを狭いスペースに配設できな
くなつてしまうという問題があつた。
[考案の目的] 本考案は上記の点に鑑みて為されたものであ
り、その目的とするところは、受光用光フアイバ
ー径を太くすることなく検知可能距離を長くする
ことができ、光学ブロツクを大型化せずに検知エ
リアの設定可能範囲を広げることができる反射型
光電スイツチを提供することにある。
[考案の開示] (実施例) 第1図および第2図は本考案一実施例を示すも
ので、受光用光学系2の集光面であつて集光スポ
ツトSの移動方向に一対の受光用光フアイバー8
a,8bの受光端面を隣接して配設した前記従来
例と同様の反射型光電スイツチにおいて、各受光
用光フアイバー8a,8bの受光端部にラツパ状
の拡径部9を形成して受光端面を広くしたもので
ある。ここに、実施例にあつては、投、受光用光
フアイバー7,8a,8bは、フアイバーホルダ
ー30にて所定間隔で保持されるようになつてお
り、凸レンズよりなる投、受光用光学系13,2
は、光学ブロツクケース31を構成するケース本
体31aの前面に形成された投、受光用開口部3
2a,32bに取着されており、フアイバーホル
ダー30をケース本体31aの所定位置に嵌合し
てケースカバー31bを覆着することにより光学
ブロツクAが形成されている。なお、投、受光用
開口部32a,32bにはレンズ保護を兼ねるフ
イルター33a,33bが取着されており、受光
用光学系2と受光用光フアイバー8a,8bの受
光面との間の光路の側方には、光電スイツチの直
近の不感領域をなくすためのV字状反射板34が
配設されている。
第3図は受光用光フアイバー8a,8bの受光
端部に拡径部9を形成する成形過程の一例を示す
図であり、フアイバーホルダー30の受光端部の
保持部分に円錐状の凹所35を穿設しておき、こ
の凹所35の底面に穿孔された貫通孔36にプラ
スチツク製の受光用光フアイバー8a,8bを挿
通して端部を所定量dだけ突出させ、この突出部
分37を加熱溶融して凹所35内に押し込むこと
により凹所35の形状と同じようなラツパ状の拡
径部9が形成されるようになつている。この場
合、突出量dは凹所の体積に応じて適当な長さに
設定される。すなわち、加熱溶融したときに両受
光用光フアイバー8a,8bの拡径部9の端面が
フイアバーホルダー35の前面と面一になるよう
に設定される。また、加熱溶融された両受光用光
フアイバー8a,8bの受光端面は楕円形とな
り、その接合部分は直線状になつており、受光用
光学系2にて集光された集光スポツトSはこの接
合部分を含むように移動することになるので、従
来例のように受光端面が円形の受光用光フアイバ
ー8a,8bを隣接させた第10図の場合に比べ
て受光効率を良くすることができるようになつて
いる。また、加熱溶融によつて端面加工を行うこ
とにより、熟練を要せず短時間で処理を行えるこ
とになる。なお、フアイバーホルダー30の投光
用光フアイバー7の出光端部が挿入される挿入孔
38の前面開口には光源を小さくするためのアパ
ーチヤ39が設けられている。
いま、実施例にあつては、受光用光学系2にて
集光された集光スポツトSは、受光用光フアイバ
ー8a,8bの受光端部に設けられた拡径部9の
端面を移動することになり、受光用光フアイバー
8a,8bの受光面積が広くなつて光フアイバー
による伝送効率が高くなる。したがつて、受光用
光フアイバー8a,8bを介して位置検出手段4
に入射する光量が多くなり、受光用光フアイバー
8a,8bの径を太くすることなく検知可能距離
を長くすることができ、光学ブロツクを大型化せ
ずに検知エリアの設定可能範囲を広げることがで
きるようになつている。
[考案の効果] 本考案は上述のように、投光用発光素子から発
する光を投光用光学系にて光ビームに成形して検
知エリアに投光する投光手段と、投光手段の側方
に所定距離をもつて配設され被検知物体による光
ビームの反射光を集光する受光用光学系と、受光
用光学系の集光面に配設され被検知物体までの距
離に応じて集光面内で移動する集光スポツトの位
置に対応した位置信号を出力する位置検出手段
と、位置検出手段出力に基いて被検知物体が所定
の検知エリア内に存在するかどうかを判別して出
力回路を制御する判別制御手段とを具備し、投光
用光学系および受光用光学系よりなる光学ブロツ
クと投光用発光素子および位置検出手段を含む回
路ブロツクとの間を光フアイバーにて光学的に接
続して成る反射型光電スイツチにおいて、受光用
光学系の集光面であつて集光スポツトの移動方向
に一対の受光用光フアイバーの受光面を隣接して
配設し、各受光用光フアイバーの受光端部にラツ
パ状の拡径部を形成して受光端面を広くしたもの
であり、受光用光フアイバーの受光端部に拡径部
を設けることにより光フアイバーによる伝送効率
を高くして位置検出手段の受光量を多くしている
ので、受光用光フアイバーの径を太くすることな
く検知可能距離を長くすることができ、光学ブロ
ツクを大型化せずに検知エリアの設定可能範囲を
広げることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案一実施例の要部分解斜視図、第
2図aは同上の要部正面図、第2図bは同上の要
部断面図、第3図は同上の成形過程を示す断面
図、第4図は本考案に係る反射型光電スイツチの
基本例の要部概略構成図、第5図は同上のブロツ
ク回路図、第6図および第7図は同上の動作説明
図、第8図は従来例の概略構成図、第9図aは同
上の要部正面図、第9図bは同上の要部断面図、
第10図および第11図は同上の動作説明図であ
る。 1は投光手段、2は受光用光学系、4は位置検
出手段、5は判別制御手段、6は出力回路、7,
8a,8bは光フアイバー、9は拡径部、12は
投光用発光素子、13は投光用光学系である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 投光用発光素子から発する光を投光用光学系に
    て光ビームに形成して検知エリアに投光する投光
    手段と、投光手段の側方に所定距離をもつて配設
    され被検知物体による光ビームの反射光を集光す
    る受光用光学系と、受光用光学系の集光面に配設
    され被検知物体までの距離に応じて集光面内で移
    動する集光スポツトの位置に対応した位置信号を
    出力する位置検出手段と、位置検出手段出力に基
    いて被検知物体が所定の検知エリア内に存在する
    かどうかを判別して出力回路を制御する判別制御
    手段とを具備し、投光用光学系および受光用光学
    系よりなる光学ブロツクと投光用発光素子および
    位置検出手段を含む回路ブロツクとの間を光フア
    イバーにて光学的に接続して成る反射型光電スイ
    ツチにおいて、受光用光学系の集光面であつて集
    光スポツトの移動方向に一対の受光用光フアイバ
    ーの受光端面を隣接して配設し、各受光用光フア
    イバーの受光端部にラツパ状の拡径部を形成して
    受光端面を広くしたことを特徴とする反射型光電
    スイツチ。
JP14600385U 1985-09-25 1985-09-25 Expired - Lifetime JPH0511450Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14600385U JPH0511450Y2 (ja) 1985-09-25 1985-09-25

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14600385U JPH0511450Y2 (ja) 1985-09-25 1985-09-25

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6253311U JPS6253311U (ja) 1987-04-02
JPH0511450Y2 true JPH0511450Y2 (ja) 1993-03-22

Family

ID=31058061

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14600385U Expired - Lifetime JPH0511450Y2 (ja) 1985-09-25 1985-09-25

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0511450Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07113550B2 (ja) * 1988-12-19 1995-12-06 富士電機株式会社 光電装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6253311U (ja) 1987-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DK0384353T3 (da) Fotoelektrisk føler af reflektionstypen
JPH0324636B2 (ja)
JPH0511450Y2 (ja)
US4649270A (en) Photo-electric object detector having removable field stop means
US4926049A (en) Reflection type photoelectric switch
JPH0752104B2 (ja) 反射型光電スイッチ
JP2613655B2 (ja) 光電スイッチ
JPH0345192Y2 (ja)
JP2544733B2 (ja) 光電スイツチ
JPH0415884B2 (ja)
JPH086307Y2 (ja) 光センサ
JPH0418249B2 (ja)
JPS6225210A (ja) 距離検出装置
JPS5941557Y2 (ja) パルス信号処理回路
JPH0531584Y2 (ja)
JPH0314416U (ja)
JPH0236199Y2 (ja)
JPS639185B2 (ja)
JP2983182B2 (ja) 投受光センサ
JP3595861B2 (ja) 光電検出装置
JP3350826B2 (ja) 限定反射型光電センサ
JPH0536733B2 (ja)
JPS60227324A (ja) 光フアイバ型光電スイツチ
JPH06229822A (ja) 光電スイッチ
JPH06840Y2 (ja) 反射型ホトインタラプタ